JPS63132473A - Semiconductor rom cell - Google Patents
Semiconductor rom cellInfo
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- JPS63132473A JPS63132473A JP61277840A JP27784086A JPS63132473A JP S63132473 A JPS63132473 A JP S63132473A JP 61277840 A JP61277840 A JP 61277840A JP 27784086 A JP27784086 A JP 27784086A JP S63132473 A JPS63132473 A JP S63132473A
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- RYMZZMVNJRMUDD-HGQWONQESA-N simvastatin Chemical compound C([C@H]1[C@@H](C)C=CC2=C[C@H](C)C[C@@H]([C@H]12)OC(=O)C(C)(C)CC)C[C@@H]1C[C@@H](O)CC(=O)O1 RYMZZMVNJRMUDD-HGQWONQESA-N 0.000 description 1
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- G11C—STATIC STORES
- G11C15/00—Digital stores in which information comprising one or more characteristic parts is written into the store and in which information is read-out by searching for one or more of these characteristic parts, i.e. associative or content-addressed stores
- G11C15/04—Digital stores in which information comprising one or more characteristic parts is written into the store and in which information is read-out by searching for one or more of these characteristic parts, i.e. associative or content-addressed stores using semiconductor elements
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
不発8Aは、半導体ROMセルに関し、特に、 ROM
セルに書き込′!れている内容と探索すべきデータとの
一致を取ることができる機能を持つ半導体ROMセルに
関する。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] Misfire 8A relates to semiconductor ROM cells, particularly ROM
Write in cell′! The present invention relates to a semiconductor ROM cell having a function of matching the contents stored in the data with the data to be searched.
従来、 ROMセルに書き込まれている内容と、探索す
べき情報との一致を取るための機能を実現するためには
、アドレスデータを与えてROMセルに書かれているデ
ータを読み出すデータROMセルの他に、逆にデータを
与えてアドレスデータ全出力するテーブル・ルックアン
プROMセルが必要であり、必要に応じてデータROM
セル、テーブル、ルックアンプROMセルのアクセス全
切り替えて使用していた。このようなデータROMセル
回路全第2図に示す。以下、第2図のデータROMセル
回路の動作を説明する。Conventionally, in order to realize the function of matching the content written in the ROM cell with the information to be searched for, it was necessary to read the data written in the ROM cell by giving address data to the data ROM cell. In addition, a table/look amplifier ROM cell is required to supply data and output all address data, and data ROM can be used as needed.
Cell, table, and look amplifier ROM cell accesses were all switched and used. Such a data ROM cell circuit is shown in FIG. The operation of the data ROM cell circuit shown in FIG. 2 will be explained below.
第2図において、2−1.2−2はビット線。In FIG. 2, 2-1, 2-2 are bit lines.
2−3.2−4はワード線であり、トランジスタ2−5
M 2−6のケゞ−ト端子は、ワード線2−3へ接続
され、トランジスタ2−7.2−8のケ°−上端子はワ
ード線2−4へ接続されている。トランジスタ2−5.
2−6.2−7.2−8のソース端子はアースGNDへ
接続されている。さらにトランジスタ2−5.2−6.
2−7.2−8のドレイン端子はプログラマブルにビッ
ト線へ接続可能であシ、第2図の例では、トランジスタ
2−5゜2−8のドレイン端子がそれぞれビット線2−
1゜2−2へ接続され、これにより破線で囲1れたRO
Mセル2−11.2−14にば′1#レベル。2-3.2-4 is a word line, and transistor 2-5
The gate terminals of M2-6 are connected to word line 2-3, and the upper gate terminals of transistors 2-7, 2-8 are connected to word line 2-4. Transistor 2-5.
The source terminal of 2-6.2-7.2-8 is connected to earth GND. Furthermore, transistor 2-5.2-6.
The drain terminals of transistors 2-7 and 2-8 can be connected to the bit line in a programmable manner, and in the example of FIG.
1°2-2, thereby connecting the RO
M cell 2-11. 2-14 is at '1# level.
ROMセル2−12.2−13には“0#し扁ルが書き
込まれた状態となる。The ROM cell 2-12.2-13 is in a state where "0#" is written.
ROMの内容を読み出すには、アドレスデコーダ2−9
によりワード線2−3及び2−4のうちのどちらか一方
を選択し、ワード線にケ9−ト端子が接続されているト
ランジスタがオンすることによりビット線がオンしたト
ランジスタを通してアースGNDへ接続されたかどうか
をセンス回路2−10により検出して行なう。To read the contents of ROM, address decoder 2-9
selects one of the word lines 2-3 and 2-4, turns on the transistor whose gate terminal is connected to the word line, and connects the bit line to earth GND through the turned-on transistor. The sensing circuit 2-10 detects whether or not this has been done.
従来、このようなデータROMセル回路に書き込まれで
いる内容全探索するためには、データROMセル回路の
アドレス入力データk + ”j3’r Dテーブル・
ルックアンプROMセル回路に書き込ませておき。Conventionally, in order to search all the contents written in such a data ROM cell circuit, address input data k + "j3'r D table of the data ROM cell circuit
Write it into the look amplifier ROM cell circuit.
このテーブル・ルックアップROMセル回路を用いて探
索すべきデータのアドレスデータを得る構成となってい
る。従って、データROMセル回路とは別にテーブル・
ルックアップROMセル回路が必要となるばかりか、デ
ータROMセル回路及びテーブル・ルックアップROM
セル回路各々にアドレスデコーダ、センスアンプが必要
とな飢半導体チップの占有面積及び消費電力が増大する
という欠点があった。This table lookup ROM cell circuit is used to obtain address data of data to be searched. Therefore, the table and
Not only is a lookup ROM cell circuit required, but also a data ROM cell circuit and a table lookup ROM
Each cell circuit requires an address decoder and a sense amplifier, which increases the area occupied by the semiconductor chip and the power consumption.
本発明の目的は、アドレスデータを与えて、データを取
り出すための本来の使われ万全するデータROMセルと
、データROMセルに書がれている内容と探索すべきデ
ータとの一致をとることができるテーブル、ルックアッ
プROMセルとの両方の機能を、一つのROMセルで実
現した。アドレスデコーダやセンス回路の増加のない、
占有面積の小さい、消費電力の少ない半導体ROMセル
を提供することにある。An object of the present invention is to match the data to be searched with the data ROM cell that is originally used and perfect for giving address data and retrieving data, and the contents written in the data ROM cell. Both the table and lookup ROM cell functions are realized in one ROM cell. No need to increase address decoders or sense circuits.
It is an object of the present invention to provide a semiconductor ROM cell that occupies a small area and consumes little power.
〔問題点14決するための手段〕
本発明によれば、ビット′a(例えば、1−1)と、ワ
ード線(例えば、1−3)とを有する半導体ROMセル
(1−15)において、前記ゼット線及び前記ワード線
とは別に設けられた追加線(即ち、センス線1−5)i
有し、さらに、@記ビット線にダート端子が接続され、
基準電圧源(例えば、アース)にソース端子が接続され
た第1のトランジスタ(例えば、1−11)と、前記ワ
ード線にダート端子が接続され、前記追加線にソース端
子が接続され、ドレイン端子が前記第1のトランジスタ
のドレイン端子及び前記ビット線のうちのどちらか一方
にプログラマブルに接続された第2のトランジスタ(1
−7)とを有することに%徴とする半導体ROMセルが
得られる。[Means for Resolving Problem 14] According to the present invention, in a semiconductor ROM cell (1-15) having a bit 'a (for example, 1-1) and a word line (for example, 1-3), Additional lines (i.e., sense lines 1-5) provided separately from the Z line and the word line
furthermore, a dart terminal is connected to the @marked bit line,
a first transistor (e.g., 1-11) having a source terminal connected to a reference voltage source (e.g., ground), a dart terminal connected to the word line, a source terminal connected to the additional line, and a drain terminal; a second transistor (1) programmably connected to either the drain terminal of the first transistor and the bit line;
-7) A semiconductor ROM cell having the following properties is obtained.
次に1本発明について図面を参照して説明する。 Next, one embodiment of the present invention will be explained with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例の回路図である。第1図ば2
ワード×2ビツト構成の内容アドンスROMを示してい
る。第1図において、1−1.1、−2はビット線、1
−3.1−4はワード線、■−5,1−6はセンス線で
あり、トランジスタ1−7.1−8.1−9.1−10
は、それぞれのゲート端子がビット線1−1や1−2に
接続され。FIG. 1 is a circuit diagram of an embodiment of the present invention. 1st figure 2
This figure shows a content add-on ROM with a word x 2 bit configuration. In Figure 1, 1-1.1, -2 are bit lines, 1
-3.1-4 is a word line, -5,1-6 are sense lines, transistors 1-7.1-8.1-9.1-10
, each gate terminal is connected to bit line 1-1 or 1-2.
ソース端子がすべてアースGNDへ接続されている。All source terminals are connected to earth GND.
さらにトランジスタ1−11 、1−12 、1−13
゜■−14は、それぞれのケゞ−ト端子がワード線1−
3や1−4へ接続され、ソース端子がセンス線1−5や
1−6へ接続されている。トランジスタ□1−11.1
−14のドレイン端子はそれぞれビットMl−1,1−
2へ接続されている。トランジスタ1−12のドレイン
端子がトランジスタ1−8のドレイン端子へ接続され、
トランジスタ1−13のドレイン端子がトランジスタ1
−9のドレイン端子へ接続さ力、ている。ここで、トラ
ンジスタ1−11.1−12.1−13.1−14のド
レイン端子がビット線1−1又は1−2へ接続されるか
、トランジスタ1−7.1−8.1−9゜1−10のド
レイン端子へ接続されるかは、ゾログラマプルに特定の
配線層によって切替可能とする。第1図の例では破線で
四重れたROMセル1−15.1−18には1”が書き
込1 i 、 ROMセル1−16 、1−17にはn
onが書き込′1れでいる。Furthermore, transistors 1-11, 1-12, 1-13
゜■-14 has each gate terminal connected to the word line 1-
3 and 1-4, and its source terminal is connected to sense lines 1-5 and 1-6. Transistor □1-11.1
-14 drain terminals are bits Ml-1, 1-, respectively.
Connected to 2. a drain terminal of transistor 1-12 is connected to a drain terminal of transistor 1-8;
The drain terminal of transistors 1-13 is transistor 1
-9 is connected to the drain terminal. Here, the drain terminal of transistor 1-11.1-12.1-13.1-14 is connected to bit line 1-1 or 1-2, or transistor 1-7.1-8.1-9 Whether or not it is connected to the drain terminal of 1-10 can be switched by a specific wiring layer in the zologram sample. In the example of FIG. 1, 1" is written in ROM cells 1-15.
On is written '1'.
次に第1図のROMの動作につrて説明する。まず、
ROMセルの内容全貌み出す場合について説明する。こ
の時、アドレス検出回路1−21によりセンスi1.−
5.1−6はアースGNDへ落トス。Next, the operation of the ROM shown in FIG. 1 will be explained. first,
A case will be described in which the entire contents of a ROM cell are extracted. At this time, the address detection circuit 1-21 senses i1. −
5.1-6 is a dropped toss to earth GND.
アドレスデコーダ1−19によりワード線1−3が選択
された場合、トランジスタ1−11がオンしているため
、ビット線1−1からトランジスタ1−1.1 を通し
てセンス線1−5へ電流を流すことができるが、トラン
ジスタ1−14はオフしているため、ピノ)41−2か
らセンス線1−6へは h、電流の流れるノぐスがない
。これにより、ビット線1−1からは′1”の情報を、
ビット線1−2からは0”の情報を、ビット線に接続さ
れたセンス回路1−20によって検出することが可能と
なる。When word line 1-3 is selected by address decoder 1-19, transistor 1-11 is on, so current flows from bit line 1-1 to sense line 1-5 through transistor 1-1.1. However, since the transistor 1-14 is off, there is no current flowing from the pin 41-2 to the sense line 1-6. As a result, information of '1' is transmitted from bit line 1-1.
Information of 0'' can be detected from the bit line 1-2 by the sense circuit 1-20 connected to the bit line.
次に、ビット線1 ””1 t 1−2からデータを入
力して、1.−15.1−16.1−17.1−18の
各ROMセルの内容との一致を取る場合について説明す
る。ROMの内容との一致を取る場合、アドレスデコー
ダ1−19により、ワード線1−3゜1−4はすべて選
ばれ、トランジスタ1−11゜1−12.1−13.1
−14をすべてオン状態とし、アドレス検出回路1−2
1によりセンス線1−5及びl−6は1”レベルヘプリ
チャージしておく。ビット線バッファ1−20よυビッ
ト線へ一致を取りたい内容、たとえば、ビット線1−1
へROMセル1−15の内容と一致する“1″レベルヲ
、ビット線1−2へROM セル1−16ノ内容と一致
する1101jレベルを入力すると、 ROMセル1−
15においては、ビット線1−1は″1#レベル、セン
ス、11−5も”l“レベル、トランジスタ1−11は
オンしているから、センス線1−5ば°”1”Vベル状
態を保ち、′!!た80Mセル1−16においてもビッ
ト線1−2はNO#レベルであるからトランジスタ1−
8はオフとなり、センス線1−5は“1ルベル状態全保
つため、アドレス検出回路1−21により一致したとい
う情報が検出される。Next, data is input from bit line 1 ``''1 t 1-2, and 1. -15.1-16.1-17.1-18 The case of matching the contents of each ROM cell will be explained. When matching the contents of the ROM, all word lines 1-3゜1-4 are selected by the address decoder 1-19, and transistors 1-11゜1-12.1-13.1 are selected.
-14 are all turned on, and address detection circuits 1-2 are turned on.
1, the sense lines 1-5 and l-6 are precharged to the 1" level. The bit line buffer 1-20 and the content to be matched to the bit line, for example, the bit line 1-1.
When inputting the "1" level that matches the content of ROM cell 1-15 to bit line 1-2 and the 1101j level that matches the content of ROM cell 1-16 to bit line 1-2, ROM cell 1-
At 15, the bit line 1-1 is at the "1# level" and the sense line 11-5 is also at the "1" level, and the transistor 1-11 is on, so the sense line 1-5 is in the "1" V level state. Even in the 80M cell 1-16, where bit line 1-2 is at NO# level, transistor 1-
8 is turned off, and the sense line 1-5 maintains the "1 level" state, so the address detection circuit 1-21 detects information that there is a match.
一方、ROMセル1−17においては、ビット線】−1
が°′1”レベルであるので、トランジスタ1−9 f
tオン、トランジスタ1−13もオンのため、センス線
1−6は、トランジスタ1−9.1−13を通じてGN
Dへ接続され、″′IMレベルかう” o ”レベルへ
f 化−する。またROMセル1−18においても、ビ
ット線1−2が″′0#レベルであるので、トランジス
タ1−14’を通じてセンス1l−6のレベルは+11
31から0#へ変化する。したがって、ワード線上のR
OMセルの内容とビット線からの情報が1つでも不一致
であれば。On the other hand, in ROM cells 1-17, the bit line ]-1
is at the °′1” level, so transistors 1-9 f
t on, the transistor 1-13 is also on, so the sense line 1-6 is connected to GN through the transistor 1-9.1-13.
The bit line 1-2 in the ROM cell 1-18 is also at the ``0#'' level, so the bit line 1-2 is connected to the ``0'' level in the ROM cell 1-18. The level of sense 1l-6 is +11
Changes from 31 to 0#. Therefore, R on the word line
If there is even one mismatch between the contents of the OM cell and the information from the bit line.
センス線は“0″ルベルへ遷移し、不一致の情報がアド
レス検出口路1−21により検出される。The sense line transitions to the "0" level and mismatched information is detected by address detection port 1-21.
以上説明したように本発明は、従来のROMセルに1つ
のトランジスタ及び追加線(センス線)を加えることに
より、 ROM内容とビット線から供給される外部デー
タとの一致を取ることが可能となり、アドレスデコーダ
や最も電力を消費するセンス回路を増やすことなしに占
有面積の小さいかつ消費電力の少ない半導体ROMセル
を提供できる。As explained above, in the present invention, by adding one transistor and an additional line (sense line) to a conventional ROM cell, it is possible to match the ROM contents with external data supplied from a bit line. A semiconductor ROM cell that occupies a small area and consumes less power can be provided without increasing address decoders or sense circuits that consume the most power.
第1図は本発明の一実施例による半導体ROMセルの回
路図、第2図は従来のデータROMセルの回路図である
。
1−1 + 1−2 e 2−1. t 2−2・・・
ビット線。
1−3.1−4.2−3.2−4・・・ワード線、1−
5.1−6・・・センス線、1−7.1−8.1−9.
1−10.1−11.1−12.1−13゜1−14.
2−5.2−6.2−7.2−8・・・トラン・ゾスタ
、1−15.1−16.1−17.1−18・・・本発
明のROMセル#2−112−12゜2−13.2−1
4・・・従来のROMセル、1−19゜2−9・・・ア
ドレスデコーダ、1−20・・・センス回路/ピノl−
線バッファ、2−10・・・センス回路。
1−21・・・アドレス検出回路。FIG. 1 is a circuit diagram of a semiconductor ROM cell according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a circuit diagram of a conventional data ROM cell. 1-1 + 1-2 e 2-1. t 2-2...
bit line. 1-3.1-4.2-3.2-4...word line, 1-
5.1-6...Sense line, 1-7.1-8.1-9.
1-10.1-11.1-12.1-13゜1-14.
2-5.2-6.2-7.2-8...Tran Zosta, 1-15.1-16.1-17.1-18...ROM cell #2-112- of the present invention 12゜2-13.2-1
4... Conventional ROM cell, 1-19° 2-9... Address decoder, 1-20... Sense circuit/Pino l-
Line buffer, 2-10...Sense circuit. 1-21...Address detection circuit.
Claims (1)
において、前記ビット線及び前記ワード線とは別に設け
られた追加線を有し、さらに、前記ビット線にゲート端
子が接続され、基準電圧源にソース端子が接続された第
1のトランジスタと、前記ワード線にゲート端子が接続
され、前記追加線にソース端子が接続され、ドレイン端
子が前記第1のトランジスタのドレイン端子及び前記ビ
ット線のうちのどちらか一方にプログラマブルに接続さ
れた第2のトランジスタとを有することを特徴とする半
導体ROMセル。1. A semiconductor ROM cell having a bit line and a word line, which has an additional line provided separately from the bit line and the word line, and further has a gate terminal connected to the bit line, and a reference voltage source. a first transistor having a source terminal connected to the drain terminal of the first transistor and the bit line; a gate terminal connected to the word line; a source terminal connected to the additional line; and a drain terminal connected to the drain terminal of the first transistor and the bit line. and a second transistor programmably connected to either one of the semiconductor ROM cells.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61277840A JPS63132473A (en) | 1986-11-22 | 1986-11-22 | Semiconductor rom cell |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61277840A JPS63132473A (en) | 1986-11-22 | 1986-11-22 | Semiconductor rom cell |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63132473A true JPS63132473A (en) | 1988-06-04 |
Family
ID=17588996
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61277840A Pending JPS63132473A (en) | 1986-11-22 | 1986-11-22 | Semiconductor rom cell |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63132473A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010212305A (en) * | 2009-03-06 | 2010-09-24 | Fujitsu Semiconductor Ltd | Lookup table, semiconductor integrated circuit, method for manufacturing lookup table, and method for manufacturing semiconductor integrated circuit |
-
1986
- 1986-11-22 JP JP61277840A patent/JPS63132473A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010212305A (en) * | 2009-03-06 | 2010-09-24 | Fujitsu Semiconductor Ltd | Lookup table, semiconductor integrated circuit, method for manufacturing lookup table, and method for manufacturing semiconductor integrated circuit |
US8581623B2 (en) | 2009-03-06 | 2013-11-12 | Fujitsu Semiconductor Limited | Lookup table, semiconductor integrated circuit, method for making lookup table and method for making semiconductor integrated circuit |
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