JPS63117225A - 放射温度計等の校正装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野１ 本発明は、温度校正用ランプを用いて放射温度計の校正
を行う放射温度計等の校正装置に関するものである。

［従来の技術］ 従来、放射温度計の校正装置の照射源の形式としては、
黒体炉を用いる方法の他に、これと同等の放射輝度が得
られる電球を用いることが知られている。

簡単な校正を行う際には使い易さから電球が多く用いら
れ、電球を放射温度計の校正用輝度発生源として用いた
場合に、ランプのフィラメントに定電圧を印加しても放
射輝度に変動が生じてしまうので、例えばＪ　Ｉ　Ｓ−
２８７０６−１９８０光高温計による温度測定方法のよ
うに、定電流を供給することによってランプの放射輝度
の安定化を行っている。しかし、放射輝度の変動は周囲
温度の変化によっても発生し、この周囲温度による影響
はＪＩＳに表すように高い温度を校正するときには無視
できるが、低い温度では周囲温度による影響を無視でき
ない、特に、３００℃以下の校正温度をランプ輝度によ
って代行するときには、周囲温度によって大きい誤差を
生ずる。

［発明の目的〕 本発明の目的は、校正用ランプを用いて放射温度計の簡
便な校正を行う場合において、ランプの放射輝度が安定
した放射温度計等の校正装置を提供することにある。

［発明の概要］ 上述の目的を達成するための本発明の要旨は、校正用ラ
ンプのフィラメントに定電流を流し、その放射輝度によ
って放射温度計等の校正を行う装置において、周囲温度
に対して抵抗値変化が太きい抵抗と、抵抗値変化が小さ
い抵抗とを組合わせ、前記フィラメントに流れる定電流
値を補正することによって、周囲温度変化による前記フ
ィラメントの放射輝度変化を補償する電気回路を有する
ことを特徴とする放射温度計等の校正装置である。

［発明の実施例］ 本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。

第１図は放射温度計の校正装置の校正用ランプを作動さ
せる基本回路図であり、放射温度計の校正値の温度設定
電圧ＶＳが抵抗１を介して増幅器２の十入力端子に入力
されており、増幅器２の出力はトランジスタ３にベース
電流を供給している。

トランジスタ３のコレクタ端子には電流計４を介して校
正用ランプ５のフィラメント５ａが接続され、トランジ
スタ３のエミッタ端子には抵抗６及び例えばシリコン温
度センサ７が接続されている。増幅器２の一入力端子は
、ダイオード８を介して増幅器２の十入力端子に、また
ダイオード９を介して増幅器２の出力端子に、更にトラ
ンジスタ３のエミッタ端子に接続されている。

このような構成において、校正値の温度設定電圧ｖＳは
増幅器２によるボルテージフォロワ回路により、トラン
ジスタ３のベース端子に加わり、トランジスタ３のベー
ス・エミッタ端子間にベース電流を供給する。このベー
ス電流により、フィラメント５ａ及び電流計４を通して
トランジスタ３のコレクタ・エミッタ端子間にコレクタ
電流Ｉが流れ、このコレクタ電流工は抵抗６と温度セン
サ７にも流れ込み、抵抗６、温度センサ７の抵抗値をそ
れぞれｒｌ、　ｒ２とすると、コレクタ電流工は次式で
与えられる。

１　＝ＶＳ・（ｒｌ＋ｒ２）　／　（ｒｌ・ｒ２）抵抗
６は周囲温度に殆ど依存しない抵抗係数を有しており、
温度センサ７は例えば約＋７．５Ω／℃のＰＴＧ特性、
即ち周囲温度が上昇することにより抵抗値ｒ２が上昇す
る特性を有し、周囲温度が上昇するとフィラメン）５ａ
に流れる電流Ｉは減少する。従って、抵抗６の抵抗値ｒ
１と温度センサ７の抵抗値ｒ２を適宜設定することによ
り、周囲温度の校正用ランプ５に及ぼす輝度変化を補償
することができる。また、抵抗６の抵抗値ｒｌを可変と
することにより、周囲温度変化に対する電流Ｉの補正率
を任意に調整することができる。

第２図は更に具体的な電気回路図であり、電気回路と外
部を結ぶために６個の端子ａ−ｆが用意されており、端
子ａ−ｂ間には温度センサ７を、端子ｃ−ｃ１間には校
正用ランプ５のフィラメント５ａを接続し、端子ｅ−ｆ
間に外部から直流電圧を供給するようになっている。抵
抗Ｒ４、Ｒ５、Ｒ６は温度センサ７と並列に配置され、
ロータリスイッチＳｗによって抵抗Ｒ４〜Ｒ５のうちの
１個が温度センサ７と並列に接続される。また、ロータ
リスイッチＳＷは連動して増幅器Ａ１のフィードバック
抵抗を抵抗Ｒ１，Ｒ２、Ｒ３のうちから１個を選択する
ことも兼ねている。なお、ロータリスイッチＳＷの３つ
の接点は、例えば放射温度計での測定温度２３０℃、２
８０℃、３３０℃に対応する放射輝度を校正用ランプ５
が放射することと対応している。

増幅器Ａ１の出力は抵抗ＲＩＯを介して増幅器Ａ２に入
力され、その出力は抵抗Ｒ１１を介してＦＥＴ　ｈラン
ジスタロ１のゲート端子に入力される。なお、ここでは
ＦＥＴ　トランジスタＱｌのソース端子にフィラメント
５ａ及びトランジスタＱ２のコレクタ端子が接続され、
　ＦＥＴ　トランジスタＱ１のドレイン端子にはトラン
ジスタＱ２のベース端子が接続されるダーリントン接続
がなされている。

抵抗Ｒ１２とツェナダイオードＤ１によって作られた定
電圧をロータリスイッチＳＷによって、抵抗Ｒ４〜Ｒ６
の中から選択された抵抗と温度センサ７との並列合成抵
抗と抵抗Ｒ８で分圧し、この分圧した電圧を増幅器ＡＩ
に入力する。この入力電圧はロータリスイッチＳＷによ
って、抵抗Ｒ１〜Ｒ３、Ｒ４−Ｒ８、ＶＲＩ　ＮＶＲ３
の中から選択された抵抗と抵抗Ｒ８、Ｒ９によって決ま
る増幅度で増幅される増幅器Ａ１の出力となり、この出
力は増幅器Ａ２に入力される。ＦＥＴトランジスタＱ１
とトランジスタＱ２とはダーリントン接続されており、
増幅器Ａ２の出力はＦＥＴ　トランジスタＱ１のゲート
端子に入力されている。このため、温度センサ７の抵抗
値が周囲温度上昇によって増加するとフィラメント５ａ
に佼れる電流が減少し、周囲温度の下降によって温度セ
ンサ７の抵抗値が減少すると、フィラメン）５ａに流れ
る電流が増加して、周囲温度の変化による校正用ランプ
５の放射輝度の狂いが補正される。

また、フィラメント５ａに流れる電流をＦＥＴトランジ
スタＱ１を用いたダーリントン接続の第１段目に供給し
ているため、定電流値設定側の回路への負担が低減され
、より安定な校正用ランプ５の放射輝度の制御が可能と
なっている。更に、ロータリスイッチＳＷによって校正
用ランプ５に加えるエネルギレベル設定用の抵抗Ｒ４〜
Ｒ６の中から１個を選択することと、校正用ランプ５の
周囲温度依存性に対応した抵抗Ｒ１〜Ｒ３の中から１個
を選択することを同時に行うことができるため便利であ
る。

なお、この校正装置は赤外パワーメータの校正、熱伝導
率装置測定装置の放射輝度を用いた校正等に応用するこ
とも可能である。

［発明の効果］ 以上説明したように本発明に係る放射温度計等の校正装
置は、周囲温度の変化による校正用ランプの放射輝度の
変化が少なく、安定性を有し実用上問題のない校正を行
うことができる。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明に係る放射温度計等の校正装置の実施例を
示すものであり、第１図は基本回路図、第２図は具体的
な電気回路図である。 符号２は増幅器、３はトランジスタ、４は電流計、５は
校正用ランプ、６は抵抗、７は温度検出センサ、ＳＷは
ロータリスイッチ、Ｄｌはツェナダイオード、Ａｔ、　
Ａ２は増幅器、ＱｌはＦＥＴ　トランジスタ、Ｑ２はト
ランジスタである。 特許出願人　　　株式会社二レコ 第１図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、校正用ランプのフィラメントに定電流を流し、その
   放射輝度によって放射温度計等の校正を行う装置におい
   て、周囲温度に対して抵抗値変化が大きい抵抗と、抵抗
   値変化が小さい抵抗とを組合わせ、前記フィラメントに
   流れる定電流値を補正することによって、周囲温度変化
   による前記フィラメントの放射輝度変化を補償する電気
   回路を有することを特徴とする放射温度計等の校正装置
   。 ２、複数段階の放射輝度を設定でき、各放射輝度に対応
   して前記フィラメントに流れる定電流値を設定する抵抗
   と周囲温度特性に対応した補正抵抗とを連動して切換え
   、周囲温度検出センサを各放射輝度に対して共通なもの
   とした特許請求の範囲第１項に記載の放射温度計等の校
   正装置。 ３、前記周囲温度に対して抵抗値変化が大きい抵抗は半
   導体とした放射温度計等の校正装置。 ４、前記フィラメントにＦＥＴトランジスタをダーリン
   トン接続して定電流を加えるようにした特許請求の範囲
   第１項に記載の放射温度計等の校正装置。