JPS63106536A - 分析機器用試料保持装置 - Google Patents

分析機器用試料保持装置

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JPS63106536A
JPS63106536A JP25122686A JP25122686A JPS63106536A JP S63106536 A JPS63106536 A JP S63106536A JP 25122686 A JP25122686 A JP 25122686A JP 25122686 A JP25122686 A JP 25122686A JP S63106536 A JPS63106536 A JP S63106536A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
specimen
metal piece
small metal
holding device
Prior art date
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Pending
Application number
JP25122686A
Other languages
English (en)
Inventor
Osamu Ishiwatari
石渡 統
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP25122686A priority Critical patent/JPS63106536A/ja
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Pending legal-status Critical Current

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  • Gripping Jigs, Holding Jigs, And Positioning Jigs (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 との発明は固体試料を分析機器に供給して分析を行なう
際の試料の保持装置に関する。
〔従来技術とその問題点〕
試料保持装置としては従来第4図または第5図に示すよ
うなものが用いられている。第4図に示すものは分析信
号取出し孔を設けたカバー1を試料台2に螺着して、平
坦な試料3または不定形の試料4を固定するものである
@ところがとのような試料保持装置では、平坦な試料3
は安定に固定できるが、平坦でな浪不定形の試料4は固
定が不安定であった。また第5図に示すような試料保持
装置では、バネ5を用いて試料3を固定するものである
がバネ5をピンセット等で起こしながら1ヶ宛操作する
ので試料の固定が面倒であった。
〔発明の目的〕
この発明は上記の点に鑑みてなされたものであシその目
的とするととろけ、試料の固定または取外しが容易でか
つ確実な試料保持装置を提供するにある。
〔発明の要点〕
この発明は試料を保持固定して分析機器に供するための
試料保持装置において、試料台に温度の上下により可逆
的な変形を生じる金属小片を備えた試料の固定手段を複
数個設け、温度の制御により該固定手段を動作させて試
料の固定または取外しを行なうのでその目的を達する。
すなわち温度の上下によシ金属材料に変形を生じさせ、
それによって試料の固定または取外しを行なわせようと
するものである。
〔発明の実施例〕
次にこの発明の実施例を図面にもとづいて説明する。ま
ず形状記憶合金の一般的性質を述べる。
通常の金属材料を弾性限界以上に変形すると、変形応力
をとシ除いても変形歪みは弾性変形分しかもとにもどら
ず、塑性歪みとして残留する。塑性歪みはすベシによっ
て起こシ、エネルギ的に安定であるため歪みをもとにも
どすには逆向きに塑性変形してやることが必要であるo
しかし形状記憶合金においては、降伏点をこえて変形し
、塑性変形を行なっても、熱を加えることによって変形
歪みがカくなυ変形前の形にもどる。これは次のように
考えられている。形状記憶合金は高温側の母相状態から
冷却すると、変態点以下の温度においてマルテンサイト
相になる。とのマルテンサイト相を加熱すると逆変態点
(変態点より若干高温側)で再び母相にもどるが応力が
加わっていないときは変態−逆変態によって形状が変化
することはかい。しかしながらマルテンサイト相に変形
応力を加えると、通常の金属材料のように応力の増大に
よう降伏現象がみられるが、この変形は通常のすベシで
はなく一種の双晶変形によっておこる見掛は上の塑性変
形である。そのためにこのような変形をおこしたマルテ
ンサイト相は加熱によって逆変態し母相にもどるとき変
形歪みがなくなって原形に復する。
これは一方向性の形状記憶合金であるが、これに特殊な
加工を施すと、高温側と低温側の両方の形状を記憶する
二方向性の形状記憶合金も得られる。
現在形状記憶合金としてNi Ti合金、CuZnAノ
合金などが知られておシ、いずれもその組成比によシ、
変態点が一50℃ないし100℃の範囲内に入るよう設
計することができる。
第1図はこの発明の第1実施例を示すもので、2は試料
台、3は試料、6はNi Ti等の形状記憶合金ででき
た試料3を固定するための金属小片である。
試料3の試料台2への固定、取はずしは以下のよ、KL
、−C行7ゎゎ、。(イ)k等。う状記憶。
金の金属小片6を変態1点以下の温度に保ち(要すれば
冷媒で冷却する)、試料3のない状態で金属小片6を第
1図(′b)のように折シ曲げる。このようにして、金
属小片6が変態点以下のマルテンサイト相でとるべき形
状が記憶される。(ロ)次に金属小片6の温度を逆変態
点以上の温度に上げる(要すればヒータによって加熱す
る)。このとき金属小片6の金属結晶組織は母相になっ
ている。この状態で金属小片6は母相でとるべき形状の
起立した状態にする。第1図(a)のようになる。(ハ
)試料3を試料台2の上に載置する。に)金属小片6の
温度を変態点以下にする(要すれば冷媒で冷却する)。
金属小片6は母相よシマルチンサイト相へともどシなが
ら自らくつ曲し、マルテンサイト相における形状となる
。このように金属小片6が自動的にくつ曲することによ
シ、試料3は試料台2にしっかシと固定される第1図(
b) o試料3が不定形のときは、その形状にしたがっ
て金属小片6がくっ曲する。試料はこのような形で分析
機器にかけられる。分析が終了すると(=)Kもどって
金属小片6を起立させ試料3をとカはすす。以下上述の
行程を繰シ返し、異なった試料の分析を続けることがで
きる。
この発明の第2実施例を第2図に示す08は形状記憶合
金からなる金属小片で、9はコイルバネ、10は試料押
さえ、4は不定形若しくは破損しゃすい試料、2は試料
台、7はヒータである。金属小片8は第1実施例と同様
に機能するが寸法が短かく試料4を押さえることはしな
い。第1実施例の金属小片6は、これが直接的に試料3
を押さえるけれども、第2実施例の試料4は不定形若し
くは仮損しやすいので直接的に形状記憶合金の金属小片
で固定するととはしない。この場合はコイルバネ9を介
して、試料押さえ10によ〕試料4を固定する。このよ
うにコイルバネ9を介して試料4を固定するときは、そ
の緩衝作用により試料押さえ10は試料4の形状にした
がい位置し、また試料4が破損しやすいときは、ゆるや
かに試料を固定することができる。金属小片8.コイル
バネ9、試料押さえ10が試料固定手段となっている〇
第3図はこの発明q第3実施例を示すもので、試料台2
に溝11を設け、この溝の底部に形状記憶合金からなる
金属小片6を設けている◎3は試料、2は試料台、7は
ヒータである0この場合は金属小片6は変態点以下の低
温側にしてくつ曲させるとき4本の金属小片6により第
3図のように試料3を固定する。このように固定すると
、試料3は金属小片6で遮蔽される部分が少なく、試料
面積の大部分を有効に機器分析に供す・ることかできる
以上の例においては温度の上下による金属小片6または
8の変形を垂直方向におころようにしているが、厚さの
ある試料の場合はこの変形を水平の方向におこるように
して水平方向で試料をはさむようKすることもできる。
また上述の例では高温側で金属小片6.8の記憶形状が
ストレートであるがその逆に高温側がくつ曲低温側でス
トレートにしても良い0との場合も垂直変形と水平変形
の両様があル得る。
〔発明の効果〕
この発明によれば、試料を保持固定して分析機器に供す
るための試料保持装置において、試料台に温度の上下に
より可逆的な変形を生じる金属小片を備えた試料の固定
手段を複数個設け、温度の制御によシ該固定手段を動作
させて試料の固定または取外しを行なうので、温度の上
下によシ複数個の固定手段の同時的な開閉動作がおこり
、その結果試料の固定、取外しが容易かつ確実となった
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の第1実施例の斜視図で、(a)は試
料をと)はずした状態、(′b)は試料を固定した状態
を示す0第2図はこの発明の第2実施例を示す斜視図、
第3図はこの発明の第3実施例を示す斜視図、第4図は
従来の試料保持装置を示し、(a)は定形の試料を保持
した状態の断面図、伽)は不定形の試料を保持したとき
の断面図、(C)は斜視図、第5図は従来の板バネで固
定する試料保持装置を示す断面図である。 2・・・・・・試料台、3.4・・・・・・試料、6,
8・・・・・・金属小片、7・・・・・・ヒータ、9・
・・・・・コイルバネ、10・・・・・・試料押さえ。 (Q)           (b) s1図 第2図 第3図 (Q)              (b)(C) 第4図 第5図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)試料を保持固定して分析機器に供するための試料保
    持装置において、試料台に温度の上下により可逆的な変
    形を生じる金属小片を備えた試料の固定手段を複数個設
    け、温度の制御により該固定手段を動作させて試料の固
    定または取外しを行なうことを特徴とする分析機器用試
    料保持装置。 2)特許請求の範囲第1項記載の試料保持装置において
    、金属の小片は形状記憶合金であることを特徴とする分
    析機器用試料保持装置。 3)特許請求の範囲第1項または第2項記載の試料保持
    装置において、試料の固定手段として形状記憶合金の金
    属小片にコイルバネと試料押さえを付設したものを用い
    ることを特徴とする分析機器用試料保持装置。
JP25122686A 1986-10-22 1986-10-22 分析機器用試料保持装置 Pending JPS63106536A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25122686A JPS63106536A (ja) 1986-10-22 1986-10-22 分析機器用試料保持装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP25122686A JPS63106536A (ja) 1986-10-22 1986-10-22 分析機器用試料保持装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63106536A true JPS63106536A (ja) 1988-05-11

Family

ID=17219582

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25122686A Pending JPS63106536A (ja) 1986-10-22 1986-10-22 分析機器用試料保持装置

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