JPS6285804A - Automatic inspecting device for object to be inspected provided with punch hole - Google Patents

Automatic inspecting device for object to be inspected provided with punch hole

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Publication number
JPS6285804A
JPS6285804A JP22607985A JP22607985A JPS6285804A JP S6285804 A JPS6285804 A JP S6285804A JP 22607985 A JP22607985 A JP 22607985A JP 22607985 A JP22607985 A JP 22607985A JP S6285804 A JPS6285804 A JP S6285804A
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JP
Japan
Prior art keywords
arithmetic
measurement
program
inspected
teaching
Prior art date
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Pending
Application number
JP22607985A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Keita Yamada
慶太 山田
Fumitaka Watanabe
文隆 渡辺
Toru Oki
透 大木
Ryoichi Sakuma
佐久間 良一
Koji Suzuki
鈴木 甲二
Hitoshi Murakami
仁 村上
Sadaji Numao
沼尾 貞治
Kiminobu Hashimoto
橋本 公伸
Takao Saito
斎藤 隆夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asaka Riken Industrial Co Ltd
Original Assignee
Asaka Riken Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Asaka Riken Industrial Co Ltd filed Critical Asaka Riken Industrial Co Ltd
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Publication of JPS6285804A publication Critical patent/JPS6285804A/en
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  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

PURPOSE:To process arithmetic and measurement results with higher precision by providing a teaching program generating means, an arithmetic statistical program generating means, etc. CONSTITUTION:The teaching program (TP) generating means 21 generates a TP file for teaching the storage control means 17 of a CPU 14, a measurement procedure and a measurement point and the arithmetic statistical program (EP) generating means (keyboard) 24 generates an EP files for items as to measurement results to be processed which are connected to the means 15 and arithmetic statistical processing means 18 of the CPU 14 and also generates a statistical processing program file for items necessary for the statistical processing. Consequently, the TP file is generated before automatic measurement by operating the means 21 and controlling the driving of pulse motors 6 and 7 for the movement of a mount table 2. Further, the EP file is generated by operating the keyboard 24 according to the display on a CRT 25. Therefore, an arithmetic program, etc., is used to process arithmetic and measurement results at high level.

Description

【発明の詳細な説明】 〈従来の技術〉 一般にICのリードフレーム等のように打抜孔が設けら
れた精密加工部品(以下、被検査物と記す)の外観検査
及び寸法計測には万能投影機が使用され−Cいた。詳し
くは、被検査物を万能投影機の載物台に載せて、下方か
ら光を照射してその被検査物の形状をズームレンズで拡
大してスクリーン上に投影し、その投影された形状をス
クリーン上の十字線を使用して肉眼でもって外観検査及
び寸法計測が行われていた。
[Detailed Description of the Invention] <Prior Art> Generally, a universal projector is used for visual inspection and dimension measurement of precision machined parts (hereinafter referred to as inspected objects) provided with punched holes, such as IC lead frames. was used -C. Specifically, the object to be inspected is placed on the stage of a universal projector, the object is irradiated with light from below, the shape of the object is magnified with a zoom lens, and projected onto a screen, and the projected shape is Appearance inspection and dimension measurements were performed visually using crosshairs on a screen.

〈発明が解決しようとする問題点〉 上記の如き従来の万能投影機を利用した被検査物の外観
検査及び寸法計測に於ては、■その外観検査及び寸法計
測がスクリーン上の十字線を使用して肉眼で行われるの
で、読み取り誤差が生しろという問題点、■更には手動
により種々の計測が行われるので、被検査物の測定箇所
が多い場合には多大の測定時間を必要とし、しかもその
測定結果を予め設定された公差の許容範囲内にあるかど
うかの照合にも時間を要するという問題点、■しかもこ
れらの測定結果の統計処理が主に人手で行われているた
め、統計処理に費やされる時間が多大でコストがかかる
という問題点、■更には上記問題点■、■、■のため多
足の被検査物の外観検査及び寸法計測を所定時間内に行
うことが出来ないという問題点があった。
<Problems to be Solved by the Invention> In the appearance inspection and dimensional measurement of the inspected object using the conventional universal projector as described above, ■The appearance inspection and dimensional measurement use the crosshairs on the screen. This is done with the naked eye, so there is a problem with reading errors.Furthermore, various measurements are done manually, so if there are many measurement points on the object to be inspected, a large amount of measurement time is required. The problem is that it takes time to check whether the measurement results are within the tolerance range set in advance. Moreover, statistical processing of these measurement results is mainly done manually, so statistical processing is difficult. The problem is that it takes a lot of time and costs, and furthermore, due to the above problems, it is not possible to perform visual inspections and dimension measurements of many objects to be inspected within a specified time. There was a problem.

く問題点を解決するための手段〉 上記従来の問題点を解決するために、本発明の被検査物
の自動検査装置は、 (,1打抜孔が設けられた被検査物を載置し且つパルス
モータの駆動により移動可能な載物台と、被検査物の測
定位置の前後を教え込むためのリニアスケールと、スク
リーンに拡大投影された被検査物のエツジを感知するた
めの光センサーとを具備ずろ万能投影機と、(b)上記
万能投影機のパルスモータに接続されている記憶制御手
段と、演算プログラムファイルの作成を行い且つ統計処
理プログラムファイルの作成を行うための演算統計処理
手段とからなる中央処理装置と、(c)入力側が上記万
能投影機の光センサーとリニアスケールに接続され且つ
出力側が上記中央処理装置の記憶制御手段に接続されて
いる被検査物の測定点の座標を決定するための測定点座
標決定手段と、(dl上記中央処理装置の記憶制御手段
に接続されている被検査物についての測定手順及び測定
箇所を教え込むためのティーチングプログラムファイル
の作成を行うためのティーチングプログラム作成手段と
、(e)上記中央処理装置の記憶制御手段と演算統計処
理手段とに接続されている測定結果の演算したい事項の
演算プログラムファイルの作成を行い且つ統計処理に必
要な事項の統計処理プログラムファイルの作成を行うた
めの演算統計プログラム作成手段と、(N上記中央処理
装置の記憶制御手段と演算統計処理手段とに接続されて
いるプログラム作成用表示手段と、(g)上記中央処理
装置の演算統計処理手段に接続されている演算及び統計
処理結果をプリントアウトするためのプリント手段とか
らなり、自動計測に先立ち上記ティーチングプログラム
ファイルの作成が、上記ティーチングプログラム作成手
段を操作して上記記憶制御手段により上記パルスモータ
の駆動を制御して上記載物台を移動させることにより行
われ、上記演算プログラムファイルの作成が、上記プロ
グラム作成用表示手段の表示に従って上記演算統計プロ
グラム作成手段を操作ずろことにより行オ〕れることを
特徴としている。
Means for Solving the Problems> In order to solve the above-mentioned conventional problems, an automatic inspection device for an object to be inspected according to the present invention has the following features: A stage that can be moved by the drive of a pulse motor, a linear scale for teaching the front and back of the measurement position of the object to be inspected, and an optical sensor for sensing the edges of the object to be inspected enlarged and projected on the screen. (b) a memory control means connected to the pulse motor of the universal projector, and an arithmetic and statistical processing means for creating an arithmetic program file and a statistical processing program file; (c) coordinates of a measurement point of the object to be inspected, the input side of which is connected to the optical sensor and linear scale of the universal projector, and the output side of which is connected to the storage control means of the central processing unit; measuring point coordinate determining means for determining the coordinates of the measuring point; A teaching program creating means, and (e) creating an arithmetic program file for the items to be calculated on the measurement results connected to the storage control means and the arithmetic and statistical processing means of the central processing unit, and for calculating the items necessary for statistical processing. (N) a calculation statistics program creation means for creating a statistical processing program file; (N) a program creation display means connected to the storage control means and the calculation statistics processing means of the central processing unit; It consists of a printing means for printing out the calculation and statistical processing results connected to the calculation and statistical processing means of the processing device, and the creation of the teaching program file is performed by operating the teaching program creation means prior to automatic measurement. The creation of the calculation program file is performed by controlling the drive of the pulse motor by the storage control means to move the writing table, and the creation of the calculation program file is performed by the calculation statistics program creation means in accordance with the display on the program creation display means. It is characterized by being able to perform operations in sequence.

く作 用〉 上記構成のため、自動計測に先立ち、ティーチングプロ
グラム作成手段により被検査物について予め測定手順及
び測定箇所を教え込むことができる。又プログラム作成
用表示手段の表示に従って演算統計プログラム作成手段
により演算及び統計処理したい項目の選択が可能となる
。そして自動計測された被検査物の測定点の座標は測定
点座標決定手段にて決定され、その座標を示す一信号が
中央処理装置の演算統計処理手段にて演算及び統計処理
されて、その結果がプリント手段にてプリントアウトさ
れる。尚自動計測時の演算結果はプログラム作成用表示
手段にも表示される。
Function> Due to the above configuration, the measurement procedure and measurement location can be taught in advance to the object to be inspected by the teaching program creation means prior to automatic measurement. Further, according to the display on the program creation display means, it is possible to select items to be calculated and statistically processed by the arithmetic and statistical program creation means. Then, the coordinates of the measurement point of the automatically measured object to be inspected are determined by the measurement point coordinate determination means, and a signal indicating the coordinates is calculated and statistically processed by the arithmetic and statistical processing means of the central processing unit. is printed out by the printing means. Note that the calculation results during automatic measurement are also displayed on the program creation display means.

以下、本発明を第1図〜第7図に示された実施例に基づ
いて説明する。
The present invention will be explained below based on the embodiments shown in FIGS. 1 to 7.

第1図は本発明装置の概要を示すブロック図で、第1図
に於て1は万能投影機、11は測定点座標決定手段、1
4は中央処理装置、21はティーチングプログラム作成
手段、24は演算統計プログラム作成手段としてのキー
ボード、25はプログラム作成用表示手段としてのCR
Tディスプレイ、26はプリント手段を示す。測定点座
標決定手段1、1はカウンターエ2とCPUZ−801
3とからなり、中央処理装置14は記憶制御手段15と
演算統計処理手段18とからなっている。
FIG. 1 is a block diagram showing the outline of the apparatus of the present invention, in which 1 is a universal projector, 11 is a measurement point coordinate determining means, 1
4 is a central processing unit, 21 is a teaching program creation means, 24 is a keyboard as a calculation/statistics program creation means, and 25 is a CR as a display means for program creation.
T display, 26 indicates printing means. Measurement point coordinate determining means 1, 1 is counter 2 and CPUZ-801
3, and the central processing unit 14 consists of a storage control means 15 and an arithmetic and statistical processing means 18.

万能投影機1はX・テーブル2xとY、テーブル2yと
からなる載物台2と、リニアスケール3と、ズームレン
ズ4と、載物台2に載せられた被検査物の形状が光源(
図示せず)とズームレンズ4によって拡大投影されるス
クリーン5と、上記載物台のX・テーブル2xをx −
X座標軸のX軸方向に駆動させるパルスモータ6と、上
記載物台のY・テーブル2yをy軸方向に駆動させるパ
ルスモータ7と、スクリーン5の中心部に刻まれた十字
!II8と所定間隔を置いて設けられた光センサ−9と
を具備している。
The universal projector 1 includes a stage 2 consisting of an X/table 2x, a Y table 2y, a linear scale 3, a zoom lens 4, and a shape of the object to be inspected placed on the stage 2 as a light source (
(not shown), the screen 5 which is enlarged and projected by the zoom lens 4, and the X/table 2x of the document stand x -
A pulse motor 6 that drives the X-coordinate axis in the X-axis direction, a pulse motor 7 that drives the Y/table 2y of the document table in the Y-axis direction, and a cross carved in the center of the screen 5! II 8 and an optical sensor 9 provided at a predetermined interval.

リニアスケール3は第2図(A)、(B)、(C)に示
すように、X・リニアスケール3xとY・リニアスケー
ル3yとからなり、X・リニアスケール3xはx −X
座標軸のX軸方向に、Y・リニアスケール3yはy軸方
向に固定されている。
As shown in FIGS. 2(A), (B), and (C), the linear scale 3 consists of an X linear scale 3x and a Y linear scale 3y.
The Y-linear scale 3y is fixed in the X-axis direction of the coordinate axes, and the Y-linear scale 3y is fixed in the y-axis direction.

載物台のX・テーブル2Xの中心部は、第2図(A)に
示すように、被検査物をのせて光源からの光を照射出来
るように透明状のガラス10で形成されている。又パル
スモータ6及び7は中央処理装置14の記憶制御手段1
5により駆動制御される。
As shown in FIG. 2(A), the center of the X-table 2X is made of transparent glass 10 so that the object to be inspected can be placed on it and irradiated with light from a light source. Further, the pulse motors 6 and 7 are connected to the memory control means 1 of the central processing unit 14.
The drive is controlled by 5.

光センサ−9はスクリーン5上に拡大投影された被検査
物のエツジを明から暗又は暗から明の変化でとらえて、
その読みの信号(トリガ)をカウンター12へ送る。カ
ウンター12には)X゛テーブル2XY・テーブル2y
のX軸方向及びy軸方向の移動によって生じるX座標及
びX座標を示すパルス信号も入力されて、X座標値及び
X座標値が表示されるようになっている。CPUZ−8
013はカウンター12から出力される上記光センサ−
9からの読みの信号(トリガ)と上記パルス信号とを受
けて、リニアスケール3を読み込む作業をするとともに
、光センサ−9とリニアスケール3のコントロールも行
ってい、る。
The optical sensor 9 captures the edge of the object to be inspected enlarged and projected on the screen 5 as it changes from bright to dark or from dark to bright.
The reading signal (trigger) is sent to the counter 12. Counter 12 has)X table 2XY table 2y
A pulse signal indicating the X-coordinate and X-coordinate generated by the movement in the X-axis direction and the y-axis direction is also input, and the X-coordinate value and the X-coordinate value are displayed. CPUZ-8
013 is the optical sensor outputted from the counter 12.
In response to the reading signal (trigger) from 9 and the above-mentioned pulse signal, it reads the linear scale 3 and also controls the optical sensor 9 and the linear scale 3.

中央処理装置14の記憶制御手段15はCPU8086
・8087 16とデータ収集用ディスク17とからな
り、演算統計処理手段18はcPtJ 8086・80
87 19とプログラム用ディスク20とからなってい
る。
The storage control means 15 of the central processing unit 14 is a CPU8086.
・Comprised of a cPtJ 8087 16 and a data collection disk 17, the arithmetic and statistical processing means 18 is a cPtJ 8086.80.
87 19 and a program disk 20.

記憶制御手段15はCPUZ−8013から送られてく
るリニアスケールの値を読み取り記憶するとともに、載
物台のX・テーブル2X及びY・テーブル2yを検査の
所定方向に移動させるために、パルスモータ6及び7に
制御信号を送るべく作動する。演算統計処理手段は予め
設定された演算プログラムに従って、記憶制御手段゛1
5に記憶された情報に基づいて被検査物の外観検査や寸
法計測の計算を行い、その演算結果及び該演算結果に基
づく統計処理結果をCRTディスプレイ25、プリンタ
ー27、X−Yプロッター28に表示するべき作動する
The storage control means 15 reads and stores the linear scale values sent from the CPUZ-8013, and also operates a pulse motor 6 to move the X/table 2X and Y/table 2y of the stage in a predetermined direction for inspection. and 7. The arithmetic and statistical processing means executes the storage control means (1) according to a preset arithmetic program.
Performs calculations for appearance inspection and dimensional measurement of the inspected object based on the information stored in 5, and displays the calculation results and statistical processing results based on the calculation results on the CRT display 25, printer 27, and X-Y plotter 28. To operate.

中央処理装置14には、プログラム用のディスク1枚と
データ収集用のディスク1枚の計2枚が用意されている
。プログラム用ディスクには被検査物について予め本装
置に測定手順、測定箇所を教え込むためのティーチング
プログラム(以下、MPFと記す)と、該ティーチング
プログラムに従って自動測定された測点値に基づいて被
検査物の外観形状や寸法の計算を行い且つ予め設定され
た公差との比較を行う演算プログラム(以下、MPPと
記す)と、測定及び演算結果を統計処理するための統計
処理プログラムが記憶されている。
The central processing unit 14 is provided with two disks, one disk for programs and one disk for data collection. The program disk contains a teaching program (hereinafter referred to as MPF) for teaching this device the measurement procedure and measurement points for the object to be inspected in advance, and a teaching program to teach the measurement procedure and measurement points of the object to be inspected based on the measurement point values automatically measured according to the teaching program. A calculation program (hereinafter referred to as MPP) that calculates the external shape and dimensions of an object and compares it with preset tolerances, and a statistical processing program that statistically processes the measurement and calculation results are stored. .

上記のMPFに教え込まれる測定箇所、は、点、円、長
円、角型、ピッチの五種類に限定し、後述するオペレー
ションターミナル22により入力が手元操作で行えるよ
うにしている。
The measurement points to be taught to the above-mentioned MPF are limited to five types: point, circle, ellipse, square shape, and pitch, and input can be performed by hand using an operation terminal 22, which will be described later.

又、上記MPPは、測定された上記五種類の測定箇所デ
ータを基に演算するもので、演算コマンドとして大別す
ると、座標、距離、角度、交差、線、分割、面積、接線
及びピッチ等が用意されており、これらを用いることに
より、被検査物の必要とするほとんどのあらゆる部分の
位置・寸法の算出が可能となる。
In addition, the above MPP performs calculations based on the data of the five types of measurement points, and can be broadly classified into calculation commands such as coordinates, distances, angles, intersections, lines, divisions, areas, tangents, pitches, etc. By using these, it is possible to calculate the position and dimensions of almost any part of the object to be inspected.

又、上記統計処理プログラムは、測定データX、平均数
又、標準偏差σ、測定データ範囲R1工程能力指数、管
理図、ヒストグラム及び確率密度分布、散布図が用意さ
れており、このことにより、よりきめこまかい品質管理
が可能になるとともに、現場への敏速な対応が可能とな
る。
In addition, the above statistical processing program is equipped with measurement data This makes it possible to perform fine-grained quality control and to respond quickly to the field.

CRTディスクプレイ25は中央処理装置14の記憶制
御手段15と演算統計処理手段18とに接続されており
、ジヲブの選択の条件、ティーチングのデータ、ダイレ
クトモードのデータ、統計処理のデータ及び自動計測時
(実行モード)の演算結果のデータ等を表示する。特に
注目すべき乙とは、測定結果が公差(社内規格或いは社
外規格)をはずれた場合には、その旨を示す警告表示(
例えば、規格内のものは白色表示、交差の許容範囲内に
あるものは黄色表示、公差の許容範囲外にあるものは赤
色表示という具合に)が画面になされることである。
The CRT display 25 is connected to the storage control means 15 and the arithmetic and statistical processing means 18 of the central processing unit 14, and displays the conditions for job selection, teaching data, direct mode data, statistical processing data, and automatic measurement. (Execution mode) Displays calculation result data, etc. Particularly noteworthy is B: if the measurement result is outside the tolerance (internal standard or external standard), a warning display (
For example, items that are within the standard are displayed in white, items that are within the acceptable tolerance range are displayed in yellow, and items that are outside the acceptable tolerance range are displayed in red, etc.).

プリンター27は中央処理装置14の演算統計処理手段
18に接続されており、自動計測時の演算結果、統計処
理結果、検査表及び演算プログラム等をプリントアウト
する。
The printer 27 is connected to the arithmetic and statistical processing means 18 of the central processing unit 14, and prints out arithmetic results during automatic measurement, statistical processing results, inspection tables, arithmetic programs, and the like.

x−Yプロッター28は作図を必要とする統計処理に使
用される。
The x-y plotter 28 is used for statistical processing requiring plotting.

ティーチング操作を行うためのオペレーションターミナ
ル22は、中央処理装置の記憶制御手段15に接続され
ており、その概略が第3図に示されている。即ちオペレ
ーションターミナル22は載物台2を移動させるための
ジョイステック22aと、液晶表示部22bと、ティー
チングプログラムに教え込まれた測定箇所の項目の選択
(例えば点、線、円、長円等の選択)を行うためのター
ムスイッチ22cと、載物台2の移動速度を制御するた
めの速度制御スイッチ22dとからなっている。そして
実際のティーチング操作はCRTディスプレイ25の表
示を見なくても、液晶表示部22bの表示に従って行わ
れる。
The operation terminal 22 for performing teaching operations is connected to the storage control means 15 of the central processing unit, and its outline is shown in FIG. That is, the operation terminal 22 includes a joystick 22a for moving the workpiece table 2, a liquid crystal display section 22b, and a selection of measurement point items taught in the teaching program (for example, points, lines, circles, ellipses, etc.). It consists of a term switch 22c for performing selection) and a speed control switch 22d for controlling the moving speed of the stage 2. The actual teaching operation is performed according to the display on the liquid crystal display section 22b without looking at the display on the CRT display 25.

又、デジタイザー23は中央処理装置の記憶制御手段1
5に接続されており、ティーチング作業を行う時に図面
をデジタイザーにセットし、タッチペンにて図面より測
定に必要な測定点を挾む始点及び終点を入力させること
ができろ。
Further, the digitizer 23 is connected to the storage control means 1 of the central processing unit.
5, and when performing teaching work, you can set the drawing on the digitizer and use the touch pen to input the starting and ending points between the measurement points necessary for measurement from the drawing.

キーボード24は中央処理装置の記憶制御手段15と演
算統計処理手段19とに接続されており、ティーチング
プログラムのファイル名の打ち込み、演算プログラムの
ファイル作製、統計処理及びジヲブメニューの選択に際
して使用されろ。
The keyboard 24 is connected to the memory control means 15 and the arithmetic and statistical processing means 19 of the central processing unit, and is used to input the file name of the teaching program, create the arithmetic program file, perform statistical processing, and select the job menu.

被検査物の計測実行にあたっては、まず被検査物を万能
投影PIk1の載物台2のX・テーブル2xのガラス面
10に、被検査物の一辺(例えば、長方形の被検査物の
ときには、その長手軸)がほぼ平行になるように載せる
。この場合、本装置では自動的にサーチし、座標を決定
してゆくので、正確に(平行に)置く必要はない。この
ようにして置かれた被検査物の計測実行は、第4図に示
された計測フローチャート図に従って行われる。
When measuring an object to be inspected, first place the object to be inspected on the glass surface 10 of the X/table 2x of the mounting stage 2 of the universal projection PIk1. Place it so that its long axis (longitudinal axis) is almost parallel. In this case, since this device automatically searches and determines the coordinates, it is not necessary to place them accurately (in parallel). Measurement of the object to be inspected placed in this way is carried out according to the measurement flowchart shown in FIG.

まずオペレーションターミナル22の液晶表示部22b
の日本語表示(もしくはCRTディスプレイ25の日本
語表示)に従って、ティーチングプログラムのファイル
(MPFファイル)の作成を行う (第4図ステップ■
)。このMPFフィルの作成作業は、まずスクリーン上
に拡大投影された被検査物の図面に番号を付け、この番
号に従って万能投影機1の載物台2をオペレーションタ
ーミナル22のシフイスチック22aにて移動させて各
測定点を入力する。このティーチング作業は光センサ−
9で被検査物のエツジの明暗を判別しながら第5図に示
すように、測定点aを挾む始点す及び終点Cをリニアス
ケール3の読みでMPFファイルに保存する。同様にし
て測定に、必要な数だけ入力を行い、このティーチング
作業が終了すると自動的に中央処理装置のデータ収集用
ディスク17に記憶される。
First, the liquid crystal display section 22b of the operation terminal 22
Create a teaching program file (MPF file) according to the Japanese display (or the Japanese display on the CRT display 25) (Figure 4 Step ■
). To create this MPF file, first number the drawing of the object to be inspected enlarged and projected on the screen, and move the stage 2 of the universal projector 1 using the shift stick 22a of the operation terminal 22 according to the number. Enter each measurement point. This teaching work is done using optical sensors.
At step 9, while determining the brightness and darkness of the edges of the object to be inspected, as shown in FIG. Similarly, the required number of inputs are made for measurement, and when this teaching work is completed, the information is automatically stored in the data collection disk 17 of the central processing unit.

次に演算プログラムのファイル(MPPファイル)の作
成が、上記ステップ■に於てティーチングをした測定点
を演算コマンドにより必要な測定結果が得られるようプ
ログラムを組むことにより行われる。乙のMPPファイ
ル作成作業はCRTディスプレイ25に表示された項目
に従ってキーボード24を作動させて行う。
Next, a calculation program file (MPP file) is created by programming the measurement points taught in step (2) above to obtain the necessary measurement results using calculation commands. B's MPP file creation work is performed by operating the keyboard 24 according to the items displayed on the CRT display 25.

例えば第6図に示されるような被検査物の場合、円10
1と円102と中心間の距MA、線(点103、点10
4)と円102の中心との距glB1円101の半径C
を求めるMPPファイルは第7図に示されるようなプロ
グラムになる。この第7図に示されたプログラムに於て
、KOUSA、1゜CIR,LENG、LINE103
. 104.EN、SEN、LENG、DIA、  1
01.RAD。
For example, in the case of the object to be inspected as shown in FIG.
1, the distance MA between the circle 102 and the center, the line (point 103, point 10
4) Distance between center of circle 102 glB1 Radius of circle 101 C
The MPP file for obtaining the following is a program as shown in FIG. In the program shown in FIG. 7, KOUSA, 1°CIR, LENG, LINE103
.. 104. EN, SEN, LENG, DIA, 1
01. R.A.D.

101はラベル名、TOLEは公差コマンド、LENG
は距離を求めるコマンド、101P及び102Pは各4
円101及び円102の中心座標、LINEは線を求め
るコマンドを示している。
101 is the label name, TOLE is the tolerance command, LENG
is the command to find the distance, 101P and 102P are each 4
The center coordinates of circles 101 and 102, and LINE indicate a command to obtain a line.

上記の如< MPFファイルの作成とMPPファイルの
作成が完了したら、このMPFファイルとMPPファイ
ルとを中央処理装置14にてコンパイルしてオブジェク
トプログラムを作成する(第4図ステップ■)。
When the creation of the MPF file and the MPP file are completed as described above, the MPF file and the MPP file are compiled by the central processing unit 14 to create an object program (step 4 in FIG. 4).

次に上記のオブジェクトプログラムを起動させ、上記ス
テップ■のMPFの通りに本装置が作動して測定が正し
く行われているかどうかを確認しく第4図ステップ■)
、装置が所定通りに作動して測定が正しく行われていれ
ば、はじめて被検査物の自動計測が実行される(第4図
ステップ■)。
Next, start the above object program and check whether the device operates and the measurements are performed correctly according to the MPF in step ① above (Step ① in Figure 4).
If the device operates as specified and the measurement is performed correctly, automatic measurement of the object to be inspected is performed for the first time (Step 4 in FIG. 4).

MPFに従って自動計測された測定値は中央処理装置の
演算統計処理手段18でMPPに従って処理され、その
測定結果がCRTディスクプレイ25に表示されるとと
もに公差照合も行われて、プリンター27にプリントア
ウトされる(第4図ステップ■)。そして測定したデー
タファイルをもとに統計処理を行うが、この統計処理作
業は、統計処理に必要な事項がCRTディスクプレイ2
5に表示されるので、それに従ってキーボード24を操
作するだけでよく、これにより一般統計処理、更に(よ
特殊統計処理も行うことができる(第4図ステップ■)
。そして上記のステップ■で統計処理されたデータはC
RTディスブレテ25へ表示されるとともにプリンター
27へプリントアウトされる(第4図ステップ■)。又
、作図を必要とする統計処理については、その処理結果
がX−Yプロッター28にプリントアウトされる。
The measurement values automatically measured according to the MPF are processed according to the MPP by the arithmetic and statistical processing means 18 of the central processing unit, the measurement results are displayed on the CRT display 25, tolerance verification is also performed, and the results are printed out on the printer 27. (Step ■ in Figure 4). Then, statistical processing is performed based on the measured data file, but the items necessary for statistical processing are
5, so all you have to do is operate the keyboard 24 accordingly, and by doing so, you can perform general statistical processing as well as special statistical processing (Step ■ in Figure 4).
. The data statistically processed in step ① above is C
It is displayed on the RT display recorder 25 and printed out on the printer 27 (step ■ in FIG. 4). Furthermore, for statistical processing that requires plotting, the processing results are printed out on the X-Y plotter 28.

以上、本発明装置の作動状況を第4図の計測フローチャ
ート図に基づいて説明したが、被検査物の測定箇所に変
更がある場合には、その測定箇所に応じて上記ステップ
■のMPFファイル、上記ステップ■のMPPファイル
の変更を行えばよい。
The operating status of the apparatus of the present invention has been explained above based on the measurement flowchart shown in FIG. All you have to do is change the MPP file in step (2) above.

尚、本発明の詳細な説明するに当たって、明確を期する
ために特定の用語を使用したが、本発明はこれらの用語
に制限されるものではなく、同様な目的を達成するため
に同じ態様で作動するすべての技術的等価物を含むもの
と解すべきである。
In the detailed description of the present invention, specific terms have been used for clarity; however, the present invention is not limited to these terms and may be applied in the same manner to achieve the same purpose. shall be understood to include all operative technical equivalents.

く効 果〉 上述の如く、本発明の万能投影機による自動検査装置は
、■自am定のために必要と゛するプログラミングがコ
ンピューターに不慣れな人でも容易に行えるようになっ
ていること、■ある程度の実行迄は、万能投影機のスク
リーンと手元の操作スイッチのみで行えること、■演算
プログラム、統計処理プログラムを駆使することにより
、より高度な演算・測定結果の処理が可能であること、
■光センサーにて被検査物のエツジを検出することによ
り測定が行われているので、測定の際に読み取り誤差が
生じなしiこと、■更にはコンピュータ数値制御化(C
NC)することにより、測定速度が上昇して省力化が計
れること、■更には被検査物の測定中に公差照合が出来
るので、不良品があった場合には、CRTディスプレイ
にその旨を示す警告が表れろとともにトリガーが出力さ
れるので、工程管理上最適であること、■更には上記■
〜■の理由により、現場での検査装置として生産ライン
への組込みが容易に行えること、■そして位置、寸法の
精度を要求されるハイテク分野や各種工業の分骨での測
定や、品質管理に敵する装置であること等の効果を有し
ている。
Effects> As mentioned above, the automatic inspection device using the universal projector of the present invention has the following advantages: ■ The programming required for self-determination can be easily performed even by a person who is not familiar with computers; .It is possible to perform more advanced calculations and process measurement results by making full use of calculation programs and statistical processing programs.
■Measurement is performed by detecting the edge of the object to be inspected with an optical sensor, so there is no reading error during measurement. ■Furthermore, computer numerical control (C
(NC) increases the measurement speed and saves labor; ■Furthermore, tolerance verification can be performed while measuring the inspected item, so if there is a defective item, it will be indicated on the CRT display. Since a trigger is output when a warning appears, it is optimal for process control.
For reasons of ~ ■, it can be easily incorporated into production lines as an on-site inspection device, and ■ it is suitable for in-depth measurements and quality control in high-tech fields and various industries that require positional and dimensional accuracy. It has the effect of being an enemy device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明装置の概要を示すブロック図、第2図(
A)、CB)及び(C)は各々載物台とリニアスケール
の位置関係を示す平面図、正面図及び側面図、第3図は
オベレーシンンターミナルの構成を示す平面図、第4図
は本発明装置を作動させるための計測フ胃−チヤード図
、第5図はティーチング作業に際し被検査物の測定点を
挾む始点及び終点を示す図、第6図は検査されるべき被
検査物の一実施例を示す平面図、第7図はMPPファイ
ルの一例を示すプログラムを示す。 l−・万能投影機、2・・・載物台、 3 リニアスケール、5−・スクリーン、6.7 ・パ
ルスモータ、9 光センサ−,11・測定点座標決定手
段、 14 中央処理装置、15 記憶制御手段、18・演算
統計処理手段、 21・・ティーチングプログラム作成手段、24・演算
統計プログラム作成手段、 25・・CRTディスクプレイ (プログラム作成用表
示手段)、26 プリント手段 特許出願人  アサカ理研工業株式会社代理人 弁理士
  佐 藤 英 昭 第2図 p3団
Figure 1 is a block diagram showing an overview of the device of the present invention, and Figure 2 (
A), CB), and (C) are a plan view, front view, and side view showing the positional relationship between the stage and the linear scale, respectively. Fig. 3 is a plan view showing the configuration of the oberesin terminal, and Fig. 4 is a plan view showing the positional relationship between the stage and the linear scale. A measurement diagram for operating the device of the present invention, Fig. 5 is a diagram showing the starting point and end point between the measurement points of the object to be inspected during teaching work, and Fig. 6 is a diagram showing the measurement point of the object to be inspected. FIG. 7, a plan view showing one embodiment, shows a program showing an example of an MPP file. l- Universal projector, 2... Stage, 3 Linear scale, 5- Screen, 6.7 Pulse motor, 9 Optical sensor, 11 Measurement point coordinate determining means, 14 Central processing unit, 15 Memory control means, 18. Arithmetic and statistical processing means, 21.. Teaching program creation means, 24. Arithmetic and statistical program creation means, 25.. CRT disk play (display means for program creation), 26. Printing means patent applicant Asaka Riken Kogyo. Agent Co., Ltd. Patent Attorney Hideaki Sato Group 2, P3

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (a)打抜孔が設けられた被検査物を載置し且つパルス
モータの駆動により移動可能な載物台と、被検査物の測
定位置の前後を教え込むためのリニアスケールと、スク
リーンに拡大投影された被検査物のエッジを感知するた
めの光センサーとを具備する万能投影機と、 (b)上記万能投影機のパルスモータに接続されている
記憶制御手段と、演算プログラムファイルの作成を行い
且つ統計処理プログラムファイルの作成を行うための演
算統計処理手段とからなる中央処理装置と、 (c)入力側が上記万能投影機の光センサーとリニアス
ケールに接続され且つ出力側が上記中央処理装置の記憶
制御手段に接続されている被検査物の測定点の座標を決
定するための測定点座標決定手段と、 (d)上記中央処理装置の記憶制御手段に接続されてい
る被検査物についての測定手順及び測定箇所を教え込む
ためのティーチングプログラムファイルの作成を行うた
めのティーチングプログラム作成手段と、 (e)上記中央処理装置の記憶制御手段と演算統計処理
手段とに接続されている測定結果の演算したい事項の演
算プログラムファイルの作成を行い且つ統計処理に必要
な事項の統計処理プログラムファイルの作成を行うため
の演算統計プログラム作成手段と、 (f)上記中央処理装置の記憶制御手段と演算統計処理
手段とに接続されているプログラム作成用表示手段と、 (g)上記中央処理装置の演算統計処理手段に接続され
ている演算及び統計処理結果をプリントアウトするため
のプリント手段と からなり、自動計測に先立ち上記ティーチングプログラ
ムファイルの作成が、上記ティーチングプログラム作成
手段を操作して上記記憶制御手段により上記パルスモー
タの駆動を制御して上記載物台を移動させることにより
行われ、上記演算プログラムファイルの作成が上記プロ
グラム作成用表示手段の表示に従って上記演算統計プロ
グラム作成手段を操作することにより行われることを特
徴とする打抜孔が設けられた被検査物の自動検査装置。
[Scope of Claims] (a) A stage on which an object to be inspected having a punched hole is placed and movable by the drive of a pulse motor, and a linear system for teaching the front and back of the measurement position of the object to be inspected. (b) a memory control means connected to a pulse motor of the universal projector; (c) a central processing unit comprising an arithmetic and statistical processing means for creating an arithmetic program file and a statistical processing program file; (d) measurement point coordinate determination means for determining the coordinates of a measurement point of the object to be inspected, the side being connected to the storage control means of the central processing unit; (e) a teaching program creation means for creating a teaching program file for teaching measurement procedures and measurement points for the object to be inspected; (e) connected to the storage control means and the arithmetic and statistical processing means of the central processing unit; (f) a memory of the central processing unit; and (f) a memory of the central processing unit. (g) a display means for creating a program connected to the control means and the arithmetic and statistical processing means; and (g) a printing means for printing out the results of arithmetic and statistical processing, which is connected to the arithmetic and statistical processing means of the central processing unit. The teaching program file is created prior to automatic measurement by operating the teaching program creation means and controlling the drive of the pulse motor by the storage control means to move the writing stage. . An automatic inspection device for an object to be inspected provided with punched holes, characterized in that the creation of the calculation program file is performed by operating the calculation statistics program creation means in accordance with the display of the program creation display means.
JP22607985A 1985-10-11 1985-10-11 Automatic inspecting device for object to be inspected provided with punch hole Pending JPS6285804A (en)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5250750A (en) * 1975-10-20 1977-04-23 Sangamo Weston Method of and apparatus for measuring parts dimensions
JPS5774608A (en) * 1980-10-28 1982-05-10 Mitsutoyo Mfg Co Ltd Automatic measuring method and apparatus for planar contour

Patent Citations (2)

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