JPS6253800B2 - - Google Patents

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JPS6253800B2
JPS6253800B2 JP7810178A JP7810178A JPS6253800B2 JP S6253800 B2 JPS6253800 B2 JP S6253800B2 JP 7810178 A JP7810178 A JP 7810178A JP 7810178 A JP7810178 A JP 7810178A JP S6253800 B2 JPS6253800 B2 JP S6253800B2
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JP
Japan
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rays
screen
ray
intensity
energy
Prior art date
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JP7810178A
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Japanese (ja)
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JPS556230A (en
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Yoshio Fukuda
Sadao Nemoto
Akira Kusumoto
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Publication date
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、アイソトープ白色X線源に係り、特
に広帯域エネルギーレベルにおいて一様強度のX
線が得られるものに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to isotopic white
Regarding what lines are obtained.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

まず本発明の背景について説明する。X線を利
用して物体の応力を測定しうることは周知であ
る。この応力測定は、物体の結晶内に考えられる
原子面の間隔をdとし、波長λのX線がその面と
θなる角度で入射し散乱X線もその面とθなる角
をなすとき、それらの間に 2d・sinθ=n・λ(nは整数) なる関係が成立することを利用してなされるもの
である。この応力測定を行う方法として、波長λ
が一定(エネルギーが一定)のX線を用い、入射
角θを変化させて最大検出出力が得られる角度を
求め、その角度から面間隔dを求め、その面間隔
の値、又はある応力条件における面間隔d1と測定
される応力付加状態における面間隔d2との差から
応力を測定する方法と、入射角θを一定とし、X
線として白色X線を用い、最大検出出力から面間
隔d又は前記差から応力を求める方法がある。
First, the background of the present invention will be explained. It is well known that X-rays can be used to measure stress in objects. This stress measurement is performed when the distance between possible atomic planes in the crystal of an object is d, X-rays of wavelength λ are incident at an angle θ with that plane, and scattered X-rays also make an angle θ with that plane. This is done by taking advantage of the relationship that 2d・sinθ=n・λ (n is an integer). As a method to perform this stress measurement, the wavelength λ
Using X-rays with a constant (constant energy), change the incident angle θ to find the angle at which the maximum detection output is obtained, find the interplanar spacing d from that angle, and calculate the value of the interplanar spacing or under a certain stress condition. A method of measuring stress from the difference between the interplanar spacing d 1 and the interplanar spacing d 2 in the measured stress-applied state, and with the incident angle θ constant and X
There is a method of using white X-rays as the line and determining the stress from the surface distance d or the difference from the maximum detection output.

本発明は後者の応力測定において用いられるも
のである(ただし本発明はこの応力測定にのみ使
用されるものではない)ので、その応力測定の手
法と従来のX線源の問題点について次に説明す
る。第1図は白色X線源を用いる応力測定装置の
概略構成を示している。AはX線源であつて、原
子番号の大きな金属、例えばタングステンなどを
ターゲツトとし、これに大きな加速電圧により加
速された電子を衝突させて連続X線を発生させる
ものであつて、応力測定対象物Bに対するX線の
入射角θは一定となるように設置される。Cは対
象物Bの反射面から反射角θの位置に設置された
検出器であつて、この検出器に入射するX線をそ
れぞれ電気信号に変換して出力するものであり、
第2図に示すように、X線のエネルギーが大(波
長λが小)であれば検出出力は大である。Dは検
出器Cの検出出力、すなわち、第3図に示すよう
に、入力X線のエネルギーレベルに応じた検出出
力を入力し、予め設定されている検出レベルΔ
Li,ΔLj……のものが一定時間当り何個得られた
かを検出し、各レベルごとの数の信号を出力す
る。Eはレコーダであつて、第4図に示すよう
に、X線の各エネルギーレベルに対応するX線の
個数を曲線aに描く。この曲線aのピークから波
長λを求め、このλから前記面間隔dを求める。
Since the present invention is used for the latter stress measurement (however, the present invention is not used only for this stress measurement), the stress measurement method and problems with conventional X-ray sources will be explained next. do. FIG. 1 shows a schematic configuration of a stress measuring device using a white X-ray source. A is an X-ray source that targets a metal with a large atomic number, such as tungsten, and generates continuous X-rays by colliding electrons accelerated with a large accelerating voltage. The object B is installed so that the incident angle θ of the X-rays is constant. C is a detector installed at a reflection angle θ from the reflective surface of the object B, which converts each X-ray incident on this detector into an electric signal and outputs it,
As shown in FIG. 2, if the energy of the X-ray is large (the wavelength λ is small), the detection output is large. D is the detection output of the detector C, that is, as shown in FIG. 3, the detection output corresponding to the energy level of the input X-ray is input, and the detection level Δ is
It detects how many Li, ΔLj... are obtained per fixed time, and outputs a number signal for each level. E is a recorder, and as shown in FIG. 4, the number of X-rays corresponding to each energy level of X-rays is drawn on a curve a. The wavelength λ is determined from the peak of this curve a, and the interplanar distance d is determined from this λ.

このような応力測定装置において、X線源Aか
ら出射されるX線は、各エネルギーレベルのもの
の強度(X線は粒子とも把握されるから、強度は
各エネルギーレベルにおけるX線の個数と考える
ことができる)は一定でなければならない。仮
に、エネルギーレベルが大である程強度が大とな
るようなX線を出射するX線源を使用したとすれ
ば、レコーダEには、前記曲線aよりピークおよ
びエネルギーレベルが図面上若干右に偏位したよ
うな曲線bが得られる。反対にエネルギーレベル
が小である程強度が大であるようなものを使用す
ると曲線のピークは曲線aより図面上左に偏位す
る。従つて正しい波長λが得られなくなるので、
X線源としてはなるべく各エネルギーレベルの強
度が一定のものであることが望ましい。
In such a stress measuring device, the intensity of the X-rays emitted from the X-ray source A is determined at each energy level (since X-rays can also be understood as particles, the intensity can be considered as the number of X-rays at each energy level). ) must be constant. If we were to use an X-ray source that emits X-rays whose intensity increases as the energy level increases, recorder E would have a peak and an energy level that would be slightly to the right in the drawing compared to curve a. A curve b that appears to be deviated is obtained. On the other hand, if a curve is used in which the lower the energy level, the higher the intensity, the peak of the curve will deviate to the left in the drawing from curve a. Therefore, the correct wavelength λ cannot be obtained, so
As for the X-ray source, it is desirable that the intensity of each energy level is as constant as possible.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

このような広帯域のエネルギーレベルにおいて
一定強度を得る従来のX線源としては、金属に電
子を衝突させる構成のものが用いられている。し
かし、この従来のX線源は、管求、高電圧大容量
安定源装置、及び水冷却装置などが必要となり、
装置全体が非常に大がかりなものとなるという欠
点がある。装置をコンパクトかつ安価ならしめる
にはアイソトープを利用することが望ましいが、
アイソトープは一般にエネルギー強度が一定でな
い。
A conventional X-ray source that obtains a constant intensity over such a wide range of energy levels uses one configured to bombard metal with electrons. However, this conventional X-ray source requires a tube, a high-voltage large-capacity stable source device, a water cooling device, etc.
The disadvantage is that the entire device becomes very large-scale. It is desirable to use isotopes to make equipment compact and inexpensive, but
Isotopes generally do not have constant energy intensity.

本発明は上述の事情に鑑みて為されたもので、
所定の幅のエネルギーレベルの範囲においては一
定強度のX線が得られる、コンパクトな白色X線
源を得ることを目的とする。
The present invention was made in view of the above circumstances, and
The object is to obtain a compact white X-ray source that can obtain X-rays of constant intensity within a predetermined energy level range.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記の目的を達成するため、本発明のアイソト
ープ白色X線源は、エネルギーレベルが大となる
ほど強度が小さくなる連続エネルギースペクトル
を有する制動X線を自然放射するアイソトープ
と、上記制動X線を通過せしめるスクリーンによ
つて構成し、上記のスクリーンはエネルギーレベ
ルが大となるほど吸収係数が小さくなる物質によ
つて構成する。
To achieve the above object, the isotopic white X-ray source of the present invention has an isotope that spontaneously emits bremsstrahlung X-rays having a continuous energy spectrum whose intensity decreases as the energy level increases, and an isotope that allows the bremsstrahlung X-rays to pass through. The screen is made of a material whose absorption coefficient decreases as the energy level increases.

〔作 用〕[Effect]

上記のように構成すると、アイソトープのエネ
ルギースペクトルの強度が大となる低エネルギー
レベルではスクリーンによる吸収が多く、その反
対に、スペクトル強度が小となる高エネルギーレ
ベルでは吸収が少ないので、低エネルギー領域か
ら高エネルギー領域までの間、ほぼ均一な強度の
白色X線が得られる。
With the above configuration, at low energy levels where the isotope's energy spectrum intensity is high, there is a lot of absorption by the screen, and on the contrary, at high energy levels where the spectral intensity is low, there is little absorption, so White X-rays with substantially uniform intensity can be obtained up to the high energy region.

本発明を実施する場合、アイソトープの連続ス
ペクトル特性と、スクリーン物質の吸収特性とを
マツチさせなければならないが、実際問題として
は、先ず前記のような傾向の放射特性を有するア
イソトープと、前記のような傾向の吸収特性を有
するスクリーン物質とを選定した後、エネルギー
スペクトル上のエネルギーνと同νとを設定
して、次記の計算によつてスクリーンの厚さを定
めると良い。
When carrying out the present invention, it is necessary to match the continuous spectral characteristics of the isotope with the absorption characteristics of the screen material, but as a practical matter, it is first necessary to match the isotope with the emission characteristics of the above-mentioned tendency and the above-mentioned one. After selecting a screen material having absorption characteristics with a similar tendency, it is preferable to set the energies ν 1 and ν 2 on the energy spectrum, and determine the thickness of the screen by the following calculation.

エネルギーがνの入射X線強度をI10、スク
リーンの線吸収係数をμ、スクリーン通過後の
透過X線強度をI1とすると、スクリーン厚さをx
として、 I1=I10・e-1X ……(1) 同様に、エネルギーがνの入射X線強度を
I20、スクリーンの線吸収係数をμ、スクリー
ン通過後の透過X線強度をI2とすると、 I2=I20・e-2X ……(2) ∴I1/I2=I10/I20-(1-2)X……(3) ここで、スクリーン通過後の透過X線強度I1
I2ならしめるには、上記(3)式の左辺I1/I2=1な
らしめれば良い。すなわち、 I10/I20=e(1-2)X ……(4) 上記(4)式から x=lnI10/I20/μ−μ
…(5) 上記の(5)式によつて求められるスクリーン厚さ
xとすることにより、エネルギーνと同ν
において透過X線強度が等しくなる。
If the incident X-ray intensity with energy ν 1 is I 10 , the linear absorption coefficient of the screen is μ 1 , and the transmitted X-ray intensity after passing through the screen is I 1 , then the screen thickness is x
As, I 1 = I 10・e -1X ...(1) Similarly, the incident X-ray intensity with energy ν 2 is
I 20 , the linear absorption coefficient of the screen is μ 2 , and the transmitted X-ray intensity after passing through the screen is I 2 , I 2 = I 20・e -2X ……(2) ∴I 1 /I 2 = I 10 /I 20 e -(1-2)X ...(3) Here, the transmitted X-ray intensity after passing through the screen I 1 =
In order to set I 2 , it is sufficient to set I 1 /I 2 = 1 on the left side of equation (3) above. That is , I 10 / I 20 = e (1-2 )
...(5) By setting the screen thickness x to be determined by the above equation (5), the transmitted X-ray intensity becomes equal at energy ν 1 and energy ν 2 .

ν、ν以外の点で、透過X線強度は厳密に
は一定とならないが、実用上一定と見做し得る程
度に均一となる。
Although the transmitted X-ray intensity is not strictly constant at points other than ν 1 and ν 2 , it is uniform to the extent that it can be considered constant in practical terms.

本発明において制動X線とは、放射性アイソト
ープから放射される、連続スペクトルを有するX
線をいい、この制動X線は、荷電粒子が、原子核
のクローン場などの強い電場を通過する際に負の
加速度を受けて発生するものである。
In the present invention, bremsstrahlung X-rays refer to X-rays emitted from radioisotopes and having a continuous spectrum.
Bremsstrahlung X-rays are generated when charged particles receive negative acceleration when passing through a strong electric field, such as the clone field of an atomic nucleus.

〔実施例〕〔Example〕

次に本発明の一実施例を第5図ないし第7図に
より説明する。第5図において、1は放射性アイ
ソトープ2を封入したX線遮へい体よりなる容
器、3は該容器の開口部を閉塞してアイソトープ
2の漏出を防ぐX線吸収率の小さい窓、4は容器
1の開口端面に当てて固定した遮へい体でなる板
材であり、該板材の中央には穴5が開けられ、該
穴5にはX線を一部吸収するスクリーン6が該穴
を閉塞するように固定されている。7はX線を平
行ビーム化するソーラスリツト8を内部に設けた
筒状遮へい体であり、その一端は遮へい体4の開
口部と合致するように固定されている。上記筒状
の遮へい体7及びソーラスリツト8の斜視図を第
10図に示す。この筒状遮へい体7は、X線の不
特定方向の散乱を防止するためのものである。
Next, one embodiment of the present invention will be explained with reference to FIGS. 5 to 7. In FIG. 5, 1 is a container made of an X-ray shield containing a radioactive isotope 2, 3 is a window with a small X-ray absorption rate that closes the opening of the container to prevent the isotope 2 from leaking, and 4 is a container 1 A hole 5 is made in the center of the plate, and a screen 6 that partially absorbs the X-rays is placed in the hole 5 to close the hole. Fixed. A cylindrical shield 7 is provided with a solar slit 8 for converting X-rays into a parallel beam, and one end of the shield is fixed so as to match the opening of the shield 4. A perspective view of the cylindrical shield 7 and solar slit 8 is shown in FIG. This cylindrical shield 7 is for preventing scattering of X-rays in unspecified directions.

X線を発生するアイソトープ2としては、白色
X線として使用されるエネルギー範囲及び半減期
(長いもの程安定線源として使用できる)の観点
からKr85(半減期10.4年)が最も適しており、第
6図にそのエネルギースペクトラムを示す。この
図に示すように、Kr85から放射される制動X線は
エネルギーレベルが大となる程強度が小となる。
しかしスクリーン6において吸収されるX線の量
は低エネルギーのもの程大きい。即ち、スクリー
ン6を通過した後のX線強度はスクリーンの材料
及び厚さを適当に選ぶことによつて平坦化され
る。スクリーンの材料として、アルミニウム箔を
選択した場合、アルミニウムのX線吸収係数は第
7図のようになるから、X線応力測定に必要な10
〜100keVのX線の平坦化を図る場合には約0.2mm
のアルミニウムの箔でスクリーンを作れば平坦な
白色X線を得ることができる。
As isotope 2 that generates X-rays, Kr 85 (half-life 10.4 years) is most suitable from the viewpoint of the energy range used as white X-rays and half-life (the longer it is, the more stable it can be used as a radiation source). Figure 6 shows the energy spectrum. As shown in this figure, the intensity of the bremsstrahlung X-rays emitted from Kr 85 decreases as the energy level increases.
However, the amount of X-rays absorbed by the screen 6 is greater as the energy decreases. That is, the X-ray intensity after passing through the screen 6 is flattened by appropriately selecting the material and thickness of the screen. When aluminum foil is selected as the screen material, the X-ray absorption coefficient of aluminum is as shown in Figure 7, so the 10
Approximately 0.2mm when flattening ~100keV X-rays
If you make a screen out of aluminum foil, you can get flat white X-rays.

第8図はアイソトープとして、常温において気
体ではなく固体のもの9を用いた本発明の他の実
施例である。固体のアイソトープは半減期の長い
核種がないために安定した強度の線源は得難いと
いう一面はあるが、密封が容易であるから製作が
しやすいという利点がある。
FIG. 8 shows another embodiment of the present invention in which the isotope 9 is not a gas but a solid at room temperature. Although solid isotopes do not have nuclides with long half-lives, so it is difficult to obtain a radiation source with stable intensity, they have the advantage of being easy to manufacture because they are easy to seal.

上記実施例においては、X線を一部吸収する物
質がアルミニウム箔である場合について述べたが
たとえばすず箔等の他の金属箔を用いることもで
きる。しかし、Kr85と組合わせた場合、アルミニ
ウム箔を用いたものが出力X線として強度の一様
のものが得られる。その理由は、すず箔等の他の
金属の場合は、エネルギーレベルの低い領域にお
けるX線の吸収係数が急激に大となるからであ
る。
In the above embodiments, the case was described in which the substance that partially absorbs X-rays is aluminum foil, but other metal foils such as tin foil may also be used. However, when combined with Kr 85 , the use of aluminum foil provides output X-rays with uniform intensity. The reason for this is that in the case of other metals such as tin foil, the absorption coefficient of X-rays increases rapidly in a region with a low energy level.

また、アルミニウム箔等の金属の代りに、液体
又は気体を用いることができる。液体又は気体の
場合は、X線の吸収係数が金属に比べて小さいか
ら、第9図の実施例に示すように、X線吸収用の
液体10は金属を用いる場合の厚さよりも長い吸
収経路が形成されるようなものとしなければなら
ない。液体又は気体を用いる場合は、その吸収係
数がエネルギーレベルが小となるに従つて大とな
る度合は、金属の場合に比べて小であり、エネル
ギーレベルの変化に対する吸収係数の変化はほぼ
一次関係で表現されるから、より低エネルギーレ
ベルにわたるX線が得られる。
Moreover, a liquid or gas can be used instead of metal such as aluminum foil. In the case of a liquid or gas, the absorption coefficient of X-rays is smaller than that of metals, so as shown in the embodiment of FIG. 9, the absorption path of the liquid 10 for X-ray absorption is longer than the thickness when using metals. must be created in such a way that When using liquids or gases, the degree to which their absorption coefficient increases as the energy level decreases is smaller than that of metals, and the change in absorption coefficient with respect to changes in energy level has an approximately linear relationship. Therefore, X-rays covering lower energy levels can be obtained.

また、X線吸収物質としては、1種類のみでな
く、複数種類のものを組合わせて使用することに
より、強度がより一様化するようにすることも可
能である。
Moreover, by using not only one type of X-ray absorbing substance but a combination of multiple types, it is also possible to make the intensity more uniform.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上述べたように、本発明は、アイソトープと
吸収物質との組合わせにより広帯域エネルギーの
白色X線を得ることが出来、しかも、従来装置で
必要とされていた管球、高電圧大容量安定電源装
置、及び水冷却装置が不要となるので、非常に小
形に製作しうる。また、小形化により、複雑な形
状の被測定物あるいは大形構造物のX線応力測定
が容易となる。
As described above, the present invention makes it possible to obtain white X-rays with broadband energy by combining an isotope and an absorbing substance. Since a device and a water cooling device are not required, it can be manufactured very compactly. Moreover, the miniaturization facilitates X-ray stress measurement of complex-shaped objects to be measured or large structures.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の適用対象の一つであるX線応
力測定装置の一例を示す構成図、第2図は第1図
の検出器におけるX線のエネルギーと検出出力と
の関係を示す図、第3図は第1図の検出器の出力
を示す図、第4図は第1図のレコーダにおける記
録例を示す図、第5図は本発明による白色X線源
の一実施例を示す断面図、第6図はKr85のX線エ
ネルギースペクトラム、第7図はアルミニウムの
X線吸収係数、第8図は本発明による白色X線源
の他の実施例を示す断面図、第9図は本発明によ
る白色X線源のさらに別の実施例を示す断面図で
ある。第10図は、ソーラスリツトを備えた筒状
の遮へい体の斜視図である。 1……容器、2……アイソトープ(気体)、3
……窓、6……スクリーン、8……ソーラスリツ
ト、9……アイソトープ(固体)、10……スク
リーン(液体)。
Fig. 1 is a configuration diagram showing an example of an X-ray stress measuring device to which the present invention is applied, and Fig. 2 is a diagram showing the relationship between X-ray energy and detection output in the detector shown in Fig. 1. , FIG. 3 is a diagram showing the output of the detector of FIG. 1, FIG. 4 is a diagram showing an example of recording in the recorder of FIG. 1, and FIG. 5 is a diagram showing an embodiment of the white X-ray source according to the present invention. 6 is the X-ray energy spectrum of Kr 85 , FIG. 7 is the X-ray absorption coefficient of aluminum, FIG. 8 is a sectional view showing another embodiment of the white X-ray source according to the present invention, and FIG. 9 FIG. 2 is a cross-sectional view showing yet another embodiment of the white X-ray source according to the present invention. FIG. 10 is a perspective view of a cylindrical shield with solar slits. 1... Container, 2... Isotope (gas), 3
... window, 6 ... screen, 8 ... solar slit, 9 ... isotope (solid), 10 ... screen (liquid).

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 エネルギーレベルが大となるほど強度が小さ
くなる連続エネルギースペクトルを有する制動X
線を自然放射するアイソトープと、上記制動X線
を通過せしめるスクリーンとよりなり、上記スク
リーンはエネルギーレベルが大となるほど吸収係
数が小さくなる物質によつて構成されたものであ
ることを特徴とするアイソトープ白色X線源。 2 前記アイソトープがKr85であり、かつ前記ス
クリーンがアルミニウム箔であることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載のアイソトープ白色
X線源。
[Claims] 1. Braking X having a continuous energy spectrum in which the intensity decreases as the energy level increases.
An isotope comprising an isotope that spontaneously emits radiation, and a screen that allows the bremsstrahlung X-rays to pass through, the screen being composed of a substance whose absorption coefficient decreases as the energy level increases. White X-ray source. 2. The isotopic white X-ray source according to claim 1, wherein the isotope is Kr 85 and the screen is aluminum foil.
JP7810178A 1978-06-29 1978-06-29 Isotope white xxray source Granted JPS556230A (en)

Priority Applications (1)

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JPS51146236A (en) * 1975-06-10 1976-12-15 Konishiroku Photo Ind Co Ltd Auxiliary radiation process in cleaning of electrography copying machi ne

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JPS556230A (en) 1980-01-17

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