JPS6235990A - Pattern data processing device - Google Patents

Pattern data processing device

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Publication number
JPS6235990A
JPS6235990A JP60174254A JP17425485A JPS6235990A JP S6235990 A JPS6235990 A JP S6235990A JP 60174254 A JP60174254 A JP 60174254A JP 17425485 A JP17425485 A JP 17425485A JP S6235990 A JPS6235990 A JP S6235990A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
value
differential data
cumulative histogram
threshold
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60174254A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Terui
照井 弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Heavy Industries Ltd filed Critical Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority to JP60174254A priority Critical patent/JPS6235990A/en
Publication of JPS6235990A publication Critical patent/JPS6235990A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/20Image preprocessing
    • G06V10/26Segmentation of patterns in the image field; Cutting or merging of image elements to establish the pattern region, e.g. clustering-based techniques; Detection of occlusion
    • G06V10/273Segmentation of patterns in the image field; Cutting or merging of image elements to establish the pattern region, e.g. clustering-based techniques; Detection of occlusion removing elements interfering with the pattern to be recognised

Abstract

PURPOSE:To prevent a recognition error caused by a noise such as shadow etc. by removing a noise such as a shadow etc. produced in a picture image photographed by an ITV camera in advance. CONSTITUTION:Pattern data photographed by an ITV camera are differentiated by a shift register 2 and a comparator 3 and stored in a differentiated data memory 4. The differentiated data are compared with each value of comparators 51-5K, and prepared as a cumulative histogram and stored in a cumulative histogram memory 7. The histogram is compared with a predetermined value, and cumulative histogram value that becomes above predetermined value is detected. At this time, data of an address pointer 8 are stored in a register 10 and determined as a threshold value. The threshold value is compared with differentiated data by a comparator 11, and when the differentiated data are greater than the threshold value, differentiated data are outputted.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はパターン認識の場合に、影等の雑音によって生
ずる認識エラーを防止するためのパターンデータ処理装
置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a pattern data processing device for preventing recognition errors caused by noise such as shadows in pattern recognition.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

例えば、キーを備えたシャフト軸のキ一方向を認識する
場合、シャフト軸心の方向からITVカメラ等の撮像手
段によって、シャフト軸を撮像し、この画像を用いてパ
ターン認識によってキ一方向を認識している。ここで、
  ITVカメラで撮像されたシャフト軸の画像を第6
図に示す。
For example, when recognizing the key direction of a shaft shaft equipped with a key, the shaft axis is imaged from the direction of the shaft axis using an imaging means such as an ITV camera, and this image is used to recognize the key direction by pattern recognition. are doing. here,
The 6th image of the shaft axis taken by the ITV camera
As shown in the figure.

この画像はシャフト軸51(キー51a 全含む)に対
応する部分が暗点、他の部分が明点として示されており
、また、シャフト軸51以外に画像に生ずる影51b等
の雑音が暗点として示される場合がある。
In this image, the part corresponding to the shaft axis 51 (including all the keys 51a) is shown as a dark spot, and the other parts are shown as bright spots, and noise such as a shadow 51b that occurs in the image other than the shaft axis 51 is a dark spot. It may be indicated as

e冒−■;仝r1 〔発明が解決しようとする問題点〕 」−述のように、  TTVカメラで撮像したシャフト
軸の画像に影等の雑音が生じていると、この影の部分ニ
」二つてキ一方向の正しい認識を行うことができず、認
識エラーを引き起す可能性がある。
[Problem to be solved by the invention] - As mentioned above, if noise such as a shadow occurs in the image of the shaft axis taken with a TTV camera, the shadow part In this case, correct recognition in one direction cannot be performed, which may cause a recognition error.

本発明の目的は画像に生じる影等の雑音を事前に除去し
て、認識エラー全列き起すことのないパターンデータ処
理装置全提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a pattern data processing apparatus that eliminates noise such as shadows that occur in images in advance and prevents recognition errors from occurring.

〔問題点全解決するための手段〕[Means to solve all problems]

本発明は1次元のパターンデータが入力され。 In the present invention, one-dimensional pattern data is input.

このパターンデータを微分して微分データを作成するた
めの微分データ作成手段と、上記の微分データが入力さ
れ、この微分データから累積ヒストグラムを作成するた
めの累積ヒストグラム作成手段と、予め定められた値と
この累積ヒストグラムとを比較し、この予め定められた
値以上となる累積ヒストグラムの値を求め、この累積ヒ
ストグラムの値を閾値とする閾値決定手段と、上記の微
分データとこの閾値とを比較し。
A differential data creation means for differentiating this pattern data to create differential data, a cumulative histogram creation means for receiving the above differential data and creating a cumulative histogram from this differential data, and a predetermined value. and this cumulative histogram to find a value of the cumulative histogram that is equal to or greater than this predetermined value, and a threshold determining means that uses the value of this cumulative histogram as a threshold, and compares the differential data and this threshold. .

微分データが閾値よりも大きいと、この微分データを出
力する閾値処理手段とを有し、この閾値処理手段の出力
からは上記のパターンデータに含まれる雑音が除去され
るようにしたこと全特徴とするパターンデータ処理装置
である。
A threshold processing means is provided for outputting the differential data when the differential data is larger than the threshold, and noise included in the pattern data is removed from the output of the threshold processing means. This is a pattern data processing device.

〔実施例〕〔Example〕

以下本発明について実施例VC,J:って説明する。 The present invention will be described below in Examples VC and J.

まず、第6図全参照して1回転機C例えば。First, referring to FIG. 6, for example, a one-rotation machine C.

減速機9図示せず)のキー51a f備えたシャフト軸
51をその軸方向からITVカメラ(図示せず)によっ
て撮像し、第6図に示す画像を得る(横軸I及び縦軸J
はそれぞれxy平面のX軸及びy@に対応し1画像の各
点はxy平面上の点として示される。)。シャフト軸5
1の画像の中心点Pから所定の半径rの円を描く(第6
図に破線で示す)。この半径rの田土の明暗点を円周上
の所定の位置からS分割(S= 0.1.2. ・Kl
The shaft shaft 51 equipped with the keys 51a f of the reducer 9 (not shown) is imaged from the axial direction by an ITV camera (not shown) to obtain the image shown in FIG. 6 (horizontal axis I and vertical axis J).
correspond to the X axis and y@ of the xy plane, respectively, and each point of one image is shown as a point on the xy plane. ). shaft axis 5
Draw a circle with a predetermined radius r from the center point P of the first image (6th
(indicated by dashed lines in the figure). This bright and dark spot in the rice field with radius r is divided into S from a predetermined position on the circumference (S = 0.1.2. ・Kl
.

円周上の各点は所定の位置と中心Pとを結ぶ線分と円周
上の各点と中心Pとを結ぶ線分とのなす角度をθとすれ
ば、θ−2π/KXSと示される)して、横軸をS、即
ち円周上の各点とし、縦軸に明度(ψB(s))を示せ
ば、このシャフト軸51の明度パターンは第5図に示さ
れる。この場合。
Each point on the circumference is expressed as θ-2π/KXS, where θ is the angle between the line segment connecting a given position and the center P and the line segment connecting each point on the circumference and the center P. If the horizontal axis is S, that is, each point on the circumference, and the vertical axis is the brightness (ψB(s)), then the brightness pattern of the shaft axis 51 is shown in FIG. in this case.

第6図に示すように、シャフト軸の画像に影51b等の
雑音が存在すると、その明度パターンには第5図に示す
ようにキー51aによる暗点と影51bによる暗点が現
われるととになる。
As shown in FIG. 6, when noise such as a shadow 51b is present in the image of the shaft axis, a scotoma due to the key 51a and a scotoma due to the shadow 51b appear in the brightness pattern, as shown in FIG. Become.

ここで、第1図を参照して、第5図に示す明度パターン
(ψB(8))は、パターンデータメモリ1に格納され
ており、パターンデータメモリ1に格納された明度パタ
ーンデータ(ψB(s))は順次(Sの値の順次増加さ
せて、)読み出され。
Here, referring to FIG. 1, the brightness pattern (ψB(8)) shown in FIG. s)) are read out sequentially (by increasing the value of S sequentially).

シフトレジスタ2及び比較器(微分器)3へ入力される
。シフトレジスタ2には最初ゼロカ格納されているから
、シフトレジスタ2はゼロを出力し、ψB (0) ”
格納する。比較器3ではψB (o)とゼロとの差(即
ち、Sの間隔を極めて小さくとればψB (0) ”微
分したことになる)を算出して。
It is input to a shift register 2 and a comparator (differentiator) 3. Since shift register 2 initially stores zero, shift register 2 outputs zero, and ψB (0) ”
Store. The comparator 3 calculates the difference between ψB (o) and zero (that is, if the interval of S is made extremely small, ψB (0) has been differentiated).

微分データメモリ4に格納する。次に比較器3はψB(
1)とψB (0)との差を算出して、同様に微分デー
タメモリ4に格納する。以後、同様にして比較器3はψ
B(s)−ψB(81)、 (ただしこの場合は8.=
1.2,3.・・・Kl−算出して、微分データメモリ
4に格納する(微分データメモリに[K個の微分データ
が格納されることになる)。そして、微分データメモリ
4には第4図に示す微分データ(ja (117))が
格納される。
The differential data is stored in the differential data memory 4. Next, comparator 3 outputs ψB(
1) and ψB (0) is calculated and similarly stored in the differential data memory 4. Thereafter, in the same way, comparator 3
B(s)−ψB(81), (in this case 8.=
1.2,3. ...Kl- is calculated and stored in the differential data memory 4 ([K differential data will be stored in the differential data memory). The differential data memory 4 stores differential data (ja (117)) shown in FIG.

微分データメモリ4に格納された微分データ(ψB(8
))は順次読み出され、比較器51〜5にへ入力される
。比較器51ではこの人力された微分データと1111
1とを比較し 11111以上であれば。
The differential data (ψB(8) stored in the differential data memory 4
)) are sequentially read out and input to comparators 51-5. The comparator 51 compares this manual differential data with 1111
1 and if it is 11111 or more.

累積ヒストグラムカウンタ6のカウンタ61全1力され
た微分デー≦b1′に′と全比較し、“K”以上であれ
ばカウンタ6に′fr:l増加する。その結果累積ヒス
トグラムカウンタ6(累積ヒストグラム’k H<(1
))で示す)Kは実質的に第3図に示す累積ヒストダラ
ムが作成される。なお、第6図において、横軸は明度(
ψB(、)’ 縦軸は累積ヒストグラム(H(ψ))ヲ
示す。そして、この累積ヒストダラム(H(ψ))は累
積ヒストグラムメモリ7に格納される。
The counter 61 of the cumulative histogram counter 6 is fully compared with the input differential data≦b1', and if it is greater than "K", the counter 6 is incremented by 'fr:l'. As a result, the cumulative histogram counter 6 (cumulative histogram 'k H<(1
)) K is substantially the cumulative histogram shown in FIG. 3. In addition, in Fig. 6, the horizontal axis represents the brightness (
ψB(,)' The vertical axis indicates the cumulative histogram (H(ψ)). Then, this cumulative histogram (H(ψ)) is stored in the cumulative histogram memory 7.

ところで、シャフト軸のキ一部分の微分値の累積度数は
一般に予め定められている(既知である)。即ちキ一部
分の累積度数は予め決定されている(例えばN、とする
)。累積ヒストグラムメモリ7はアドレスポインタ8で
指定されたアドレスに格納されている累積度数を読み出
し。
Incidentally, the cumulative frequency of the differential value of the key portion of the shaft axis is generally predetermined (known). That is, the cumulative frequency of the key portion is determined in advance (for example, N). The cumulative histogram memory 7 reads the cumulative frequency stored at the address specified by the address pointer 8.

これを比較器9に入力する。比較器9には上述したN、
」:りも多少小さい値II N 11が入力され。
This is input to the comparator 9. The comparator 9 has the above-mentioned N,
”: A slightly smaller value II N 11 is input.

この“′↑4°゛と累積度数とを比較して、累積度数メ
ツ が′IN1“以上となる値(Ml)が検出され、この時
By comparing this "'↑4°" and the cumulative frequency, a value (Ml) at which the cumulative frequency is equal to or greater than 'IN1' is detected, and at this time.

l/シスタ](l Kアドレスポインタ8のデータが格
納され、  l/レジスタ0の内容が閾値として決定さ
れる。々お、この時のアドレスポインタのデータは”M
l ” k示しており、即ち“M、”が閾値とガる。ま
た1図中“′M2”ね:累積度数′N1′°と対応する
値(微分値)を示す。
l/sister] (l The data of address pointer 8 is stored, and the contents of l/register 0 are determined as the threshold. At this time, the data of the address pointer is "M
In other words, "M" corresponds to the threshold value. Also, "'M2" in FIG. 1 indicates the value (differential value) corresponding to the cumulative frequency 'N1'°.

微分データメモリ4に格納された微分データは順次読み
出されて、比較器11及びデータセレクタ12に入力さ
れる。また、データセレクタ12にば0(ゼロ)が入力
されている。一方、レジスタ10に格納された閾値(M
、)が比較器11に入力される。比較器11で微分デー
タと閾値(Ml)とが比較され、閾値(Ml)≧微分デ
ータであれば。
The differential data stored in the differential data memory 4 is sequentially read out and input to the comparator 11 and data selector 12. Further, 0 (zero) is input to the data selector 12. On the other hand, the threshold value (M
, ) are input to the comparator 11. The comparator 11 compares the differential data with a threshold (Ml), and if the threshold (Ml)≧differential data.

比較器11から信号によって、データセレクタ12け0
(ゼロ)全選択し、パターンデータメモリ13に出力す
る。一方、閾値(Ml)<微分データであれば、比較器
11からの信号によって、データセレクタ12は微分デ
ータを選択し、パターンデータメモリ13に出力する。
A signal from the comparator 11 causes the data selector 12 to be set to 0.
(Zero) Select all and output to pattern data memory 13. On the other hand, if the threshold value (Ml)<differential data, the data selector 12 selects the differential data based on the signal from the comparator 11 and outputs it to the pattern data memory 13.

パターンデータメモリ13には第2図に示す微分デ・−
タ(ψB(8))が格納されることになり、この微分デ
ータ(ψB(、))からは影等による雑音が除去されて
いるから。
The pattern data memory 13 stores the differential data shown in FIG.
This is because noise due to shadows, etc. has been removed from this differential data (ψB(,)).

このデータk ハターン認識によって処理すれば。If this data k is processed by Hatern recognition.

認識エラーを生じることはない。No recognition errors occur.

pll全余 白発明の効果〕 以−1−説明したように本発明によれば、影等の雑音を
事前に除去しているから、シャフト軸のキ一方向を認識
する場合、認識エラーが生じるとどかない。
[Effects of the PLL All Margin Invention] As explained below, according to the present invention, noise such as shadows is removed in advance, so when recognizing one direction of the shaft axis, it is possible to avoid recognition errors. do not have.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明によるパターンデータ処理装置の一実施
例を示すブロック図、第2図はパターンデータメモリ1
3に格納されているデータを示す図、第6図は累積ヒス
トグラムメモリ7に格納されているデータを示す図、第
4図は微分データメモリ4に格納されているデータを示
す図、第5図はパターンデータメモリ1に格納されてい
るデータケ示す図、第6図は撮像手段によって撮像され
たシャフト軸の画像を示す図である。 1・・・パターンデータメモリ、2・・・シフトレジス
タ、3・・・比較器(微分器)、 4・・・微分データ
メモリ、5・・・比較器、6・・・累積ヒストダラムヵ
ウンタ、7・・・累積ヒストグラムメモリ、8・・・ア
ドレスポインタ、9・・・比較器、10・・・レジスタ
。 11・・・比較器、12・・・データセレクタ、13・
・・パターンデータメモリ。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a pattern data processing device according to the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing a pattern data memory 1.
3, FIG. 6 is a diagram showing data stored in cumulative histogram memory 7, FIG. 4 is a diagram showing data stored in differential data memory 4, and FIG. 5 is a diagram showing data stored in differential data memory 4. 6 is a diagram showing data stored in the pattern data memory 1, and FIG. 6 is a diagram showing an image of the shaft axis taken by the imaging means. 1... Pattern data memory, 2... Shift register, 3... Comparator (differentiator), 4... Differential data memory, 5... Comparator, 6... Cumulative histogram counter , 7... Cumulative histogram memory, 8... Address pointer, 9... Comparator, 10... Register. 11... Comparator, 12... Data selector, 13.
...Pattern data memory.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1. 1次元のパターンデータが入力され,該パターン
データを微分して微分データを作成するための微分デー
タ作成手段と,前記微分データが入力され,該微分デー
タから累積ヒストグラムを作成するための累積ヒストグ
ラム作成手段と,予め定められた値と前記累積ヒストグ
ラム値とを比較し,該予め定められた値以上となる該累
積ヒストグラムの値を求め,該累積ヒストグラムの値を
閾値とする閾値決定手段と,前記微分データと該閾値と
を比較し,該微分データが前記閾値よりも大きいと,該
微分データを出力する閾値処理手段とを有し,該閾値処
理手段の出力からは前記パターンデータに含まれる雑音
が除去されるようにしたことを特徴とするパターンデー
タ処理装置。
1. A differential data creation means for receiving one-dimensional pattern data and differentiating the pattern data to create differential data; and a cumulative histogram creation unit for receiving the differential data and creating a cumulative histogram from the differential data. means, a threshold determining means for comparing a predetermined value with the cumulative histogram value, determining a value of the cumulative histogram that is equal to or greater than the predetermined value, and setting the value of the cumulative histogram as a threshold; threshold processing means for comparing the differential data with the threshold value and outputting the differential data when the differential data is larger than the threshold value, and detecting noise included in the pattern data from the output of the threshold processing means. A pattern data processing device characterized in that: is removed.
JP60174254A 1985-08-09 1985-08-09 Pattern data processing device Pending JPS6235990A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100370428C (en) * 2004-11-12 2008-02-20 国际商业机器公司 High frequency circuit capable of error detection and correction of code patterns running at full speed and method thereof
CN103793892A (en) * 2012-11-01 2014-05-14 富士通株式会社 Image processing apparatus and image processing method

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