JPS62289996A - Semiconductor integrated circuit - Google Patents
Semiconductor integrated circuitInfo
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- JPS62289996A JPS62289996A JP61132555A JP13255586A JPS62289996A JP S62289996 A JPS62289996 A JP S62289996A JP 61132555 A JP61132555 A JP 61132555A JP 13255586 A JP13255586 A JP 13255586A JP S62289996 A JPS62289996 A JP S62289996A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
〔産業上の利用分野〕
本発明に半導体集積回路に関し、特に外部アドレス入力
信号の入力容量低減を図った半導体集積回路に関する。Detailed Description of the Invention 3. Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and particularly to a semiconductor integrated circuit in which the input capacitance of an external address input signal is reduced.
半導体メモIJHパターンの微細化により大容量化が進
んできている。その中でも高集積化が可能なlトランジ
スタ、1キヤパシタのメモリセル(以後ITセルと称す
る)で構成されたダイナミックランダムアクセスメモリ
(以後DRAMと称する)が主流となp1現在では25
6キロビツトの量産タイプから1メガビツトの14発タ
イプにまでその内容が拡大されている。Due to the miniaturization of semiconductor memory IJH patterns, capacity increases are progressing. Among these, dynamic random access memory (hereinafter referred to as DRAM), which is composed of one transistor and one capacitor memory cell (hereinafter referred to as IT cell), which can be highly integrated, is mainstream, and as of p1, 25
The content has been expanded from the 6 kilobit mass-produced type to the 1 megabit 14-shot type.
しかし、DRAMは、情報をキャパシタのみに頼ってい
るため時間とともに情報が失われてしまい、一定の時間
内にメモリセルへの再書き込み(以後リフレッシュと称
する)動作が必要であることが使い難い要因となってい
る。リフレッシュ動作の最も一般的な方法として、ロウ
アドレスのみ指定するRASオンリーリフL/ ッシュ
(On ly Refresh)があるが、外部からア
ドレスを指定する必要があるため、現在ではチップ内部
にリフレッシュアドレス指定用のカウンターk 内11
L、RA S (oウアドレスストロープ)とCAS
(カラムアドレスストローブ)の入力タイミングにより
リフレッシュアドレスカウンタを動作させシリアルにワ
ード線を選択するCA8ビフォア(Before)RA
Sリフレッシa、(几efresh)や、カウンタの他
にタイマーによりリフレッシュパルスを発生させるオー
トリフ v y V z (Auto Refresh
)等があるが、このようにチップ内部にリフレッシエア
ドレス指定用のカウンタをもったりフレッシェ動作を行
なう場合、アドレスバッファ回路は外部アドレス信号と
リフレッシュアドレスカウンタの出力信号を兼用してい
るのが一般的である。このように兼用化した場合、リフ
レッシュ用のアドレス端子の位置によってボンディング
及びアドレスの入力容量の関係上アドレスバッファ回路
及びリフレッシエアドレスカウンタのレイアウトが問題
となってくる。However, since DRAM relies solely on capacitors for information, information is lost over time, and the need to rewrite (hereinafter referred to as refresh) the memory cells within a certain period of time is a factor that makes them difficult to use. It becomes. The most common method of refresh operation is RAS only refresh (Only Refresh), which specifies only the row address. However, since it is necessary to specify the address externally, there is currently no refresh address specification internal to the chip. Counter k of 11
L, RA S (o address strop) and CAS
CA8 Before RA that operates the refresh address counter and serially selects the word line based on the input timing of the column address strobe.
In addition to the S refresh a, (几refresh) and the counter, there is also an auto refresh that generates a refresh pulse using a timer.
), but when a chip has a counter for specifying a refresher address or performs a refresher operation like this, the address buffer circuit generally uses both the external address signal and the output signal of the refresh address counter. It is true. In this case, the layout of the address buffer circuit and the refresher address counter becomes a problem due to bonding and address input capacitance depending on the position of the refresh address terminal.
第2(a)図は300ミル(mil)16ピyDIP(
Dual−In−Line−Package)の平面図
である。Figure 2(a) shows a 300 mil 16 py DIP (
FIG. 2 is a plan view of a dual-in-line package.
たとえば、256キロビツ)DRAMの標準パッケージ
としてはこの第2(a)図に示す16ビンの300m1
l DIP(Dual−In−Line−Packa
ge)があり、そのピン配置は互換性を保つために第2
Ca1図のように標準化されている。第3(a)図は第
2(a)図の300m1l 16ビンDIPのチップ
上における各ポンディングパッドのパッドレイアウト図
である。簡単なためにグランドパッドVssがある側ヲ
Vss側とすると、八〇”” A@のアドレスパッドの
うちA0〜AI、 A?はVDD側、A6. k@はV
ss側にレイアウトすることになる。もし、リフレッシ
ュサイクルt−256サイクルとするとmAo〜A1が
リフレッシュアドレス端子となff、Astiリフレッ
シェに関係ないアドレスであるため問題とならないが、
A6はリフレッシエアドレス端子となるため、アドレス
バッファ回路のみ1Vss 側に設置してVDDに設
置されたカウンタの出力を引き回すか、VDD[llに
バッファ回路とカウンタを設置してアドレス入力信号を
引き回すことになる。For example, a standard DRAM package (256 kilobits) is 300 m1 with 16 bins as shown in Figure 2(a).
l DIP (Dual-In-Line-Packa)
ge), whose pin configuration is the second one for compatibility.
It is standardized as shown in the Ca1 diagram. FIG. 3(a) is a pad layout diagram of each bonding pad on the chip of the 300 ml 16-bin DIP shown in FIG. 2(a). For simplicity, if we assume that the side where the ground pad Vss is located is the Vss side, then of the 80"" A@ address pads, A0 to AI, A? is on the VDD side, A6. k@ is V
It will be laid out on the ss side. If the refresh cycle is t-256 cycles, mAo to A1 will be the refresh address terminals.
Since A6 becomes the refresher address terminal, either install only the address buffer circuit on the 1Vss side and route the output of the counter installed on VDD, or install the buffer circuit and counter on VDD[ll and route the address input signal. become.
第2Φ)図は300m1l 18ピyDIP(D平面図
である。たとえば、1メガビットDRAMの標準パッケ
ージは第2(b)図に示すたとえば300m1118ビ
ンDIPであり、もしリフレッシュサイクル’!+1−
256サイクルとすればAO,A、のリフレ。2nd Φ) is a 300ml 18 pin DIP (D plan view. For example, a standard package of 1 megabit DRAM is a 300ml 1118 bin DIP shown in Figure 2(b), and if the refresh cycle '!+1-
If it is 256 cycles, it is a reflation of AO, A.
シェアドレス端子’1VDD側に設置することができる
が、センス増幅回路が4096個も必要となって消費電
流の大幅な増大を招くため、512リフレツシスサイク
ルが一般的となっている。そのため、リフレッシエアド
レス端子Ao−Asのうち、Ao又はA8のどちらかの
端子はVss側に設置しなければならない。Although it can be installed on the shared address terminal '1VDD side, as many as 4096 sense amplifier circuits are required, resulting in a significant increase in current consumption, so 512 reflex cycles are common. Therefore, among the refresher address terminals Ao-As, either terminal Ao or A8 must be installed on the Vss side.
第35)図は第2−)図の300m1l18ピyDIP
のチップ上における各ポンディングパッドのバッドレイ
アウト図である。第3伽)図に示すポンディングパッド
レイアウトの場合も第305)図によって説明したと同
様な問題が生ずる。Figure 35) is the 300ml 18 pin y DIP in Figure 2-)
FIG. 3 is a pad layout diagram of each bonding pad on the chip of FIG. In the case of the bonding pad layout shown in Fig. 3), the same problem as explained in Fig. 305) occurs.
前述したように、従来のりフレッシェアドレスカウンタ
を有するアドレスバッファ回路は、外部アドレス信号と
りフレッシェアドレスカウンタの出力信号を兼用した回
路となっているため、外部アドレス信号線を引き回して
VDD側にリフレッシュアドレスカウンタとアドレスバ
ッファ回路をレイアウトするか、もしくはアドレスバッ
ファ回路とりフレッシ為アドレスカウンタを分離してリ
フレッシエアドレスカウンタの出力信号を引き回す必要
があり、このためアドレス入力の入力容量の最大規格値
が満足できなくなったり、メモリの速度等の特性に大き
な影響を及ぼすという欠点がある。As mentioned above, the conventional address buffer circuit with a freshly shared address counter is a circuit that also serves as an external address signal and the output signal of the freshly shared address counter, so the external address signal line is routed and refreshed to the VDD side. It is necessary to layout the address counter and address buffer circuit, or to separate the address counter and route the output signal of the refresher address counter for the address buffer circuit and refresher, so that the maximum standard value of the input capacitance of the address input is satisfied. However, there are disadvantages in that it may become impossible to use, or it may have a large effect on characteristics such as memory speed.
また、4メガビツトまで300m目18ピンのパッケー
ジが使用されるとすれば、ケースに入る最大チップの短
辺方向のサイズは変わらないため必然的に長辺方向に伸
びざるを得す上記の問題は、さらに深刻化してくるとい
う欠点がある。Also, if an 18-pin package is used at the 300m point up to 4 megabits, the size of the largest chip that can fit in the case in the short side direction will not change, so the above problem will inevitably be solved. , the disadvantage is that it becomes even more serious.
本発明の半導体集積回路は、外部アドレス信号を入力と
する第1のアドレスバッファ回路と、リフレッシュアド
レス指定用のリフレッシエアドレスカウンタと、前記リ
フレッシュアドレスカウンタの出力信号を入力とする第
2のアドレスバッファ回路を具備し、前記第1のアドレ
スバッファ回路と第2のアドレスバッファ回路の出力と
をワイヤードOR接続した構造を備えて構成される。The semiconductor integrated circuit of the present invention includes a first address buffer circuit that receives an external address signal as an input, a refresher address counter for specifying a refresh address, and a second address buffer that receives an output signal of the refresh address counter as an input. The address buffer circuit has a structure in which the outputs of the first address buffer circuit and the second address buffer circuit are wired OR-connected.
次に本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.
第1図は、本発明の一実施例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.
第1図において、1はリフレッシュ制御回路、2はリフ
レッシエアドレスカウンタ、3,4はアドレスバッファ
回路、5はアドレス制御回路、6はデコーダ回路、Ai
(EXT)は外部アドレス信号、aはリフレッシュ制御
信号、a′はアドレスバッファ回路出力ハイインピーダ
ンス化信号、bi、biはリフレッシエアドレスカウン
タ出力信号、Ci、 Ci、 fi、 fitiアドレ
ス信号、dはアドレス制御信号である。In FIG. 1, 1 is a refresh control circuit, 2 is a refresher address counter, 3 and 4 are address buffer circuits, 5 is an address control circuit, 6 is a decoder circuit, and Ai
(EXT) is an external address signal, a is a refresh control signal, a' is an address buffer circuit output high-impedance signal, bi, bi are refresher address counter output signals, Ci, Ci, fi, fiti address signal, d is an address It is a control signal.
次に本実施例の動作について説明する。まず、通常の読
出し/書込みサイクルの場合、外部アドレスから入力さ
れた外部アドレス信号Ai(EXT)をアドレスバッフ
ァ回路4で増幅してデコーダ回路6に入力する。その時
アドレスバッファ回路4の出力するアドレス信号f t
* ” H、アドレスバッファ回路3の出力するアドレ
ス信号C+、Ciとデコーダ6t−介してワイヤードO
R接続となっているため、リフレッシュ用のアドレスバ
ッファ回路3の出力全ハイインピーダンス化する。また
、リフレッシ為サイクルの場合は、リフレッシエアドレ
スカウンタ2で指定されたりフレッシェアドレスカウン
タ出力信号bi、bit−アドレスバッファ回路3で増
幅してデコーダ回路6へ入力する。Next, the operation of this embodiment will be explained. First, in the case of a normal read/write cycle, an external address signal Ai (EXT) input from an external address is amplified by the address buffer circuit 4 and input to the decoder circuit 6. At that time, the address signal f t output from the address buffer circuit 4
*” H, address signals C+ and Ci output from the address buffer circuit 3 and wired O via the decoder 6t-
Since it is R-connected, all outputs of the refresh address buffer circuit 3 are made high impedance. Further, in the case of a refresh cycle, the refresher address counter output signal bi, which is specified by the refresher address counter 2, is amplified by the bit-address buffer circuit 3 and input to the decoder circuit 6.
この時はアドレスバッファ回路4の出力はハイインピー
ダンス化される。アドレスバッファ回路4の出力やハイ
インピーダンスにする手段は、リフレッシュ制御回路1
でリフレックエ動作か否かの判定するアドレスバッファ
回路出力ハイインピーダス化信%atによっていずれの
アドレスバッファ回路をハイインピーダンスにするか簡
単に制御することができる。At this time, the output of the address buffer circuit 4 is set to high impedance. The output of the address buffer circuit 4 and means for making it high impedance are provided by the refresh control circuit 1.
Which address buffer circuit is set to high impedance can be easily controlled by the address buffer circuit output high impedance signal %at used to determine whether or not the reflex operation is performed.
以上説明したように本発明は、外部アドレス指定用のア
ドレスバッファ回路とりフレッシェアドレスカウンタ指
定用のアドレスバッファ回路とを別別に設け、そ詐ぞれ
の出力をワイヤードOR接続することにより、アドレス
バッファ回路及びリフレッシエアドレスカウンタのレイ
アウトが容易になるとともに、アドレスの入力容量の低
減、配線の引き回しがなくなり、速度等の特性が大幅に
改善できる。As explained above, the present invention provides an address buffer circuit for external address designation and an address buffer circuit for fresh share address counter designation separately, and connects the outputs of each with a wired OR connection. The layout of the circuit and refresher address counter becomes easier, the address input capacitance is reduced, wiring is no longer necessary, and characteristics such as speed can be significantly improved.
また、2個のアドレスバッファ回路のうち、リフレッシ
エアドレスカウンタ指定用のアドレスバッファ回路は、
入力信号が電源電圧又はグランド電圧のレベルとなるた
め、外部アドレス指定用のアドレスバッファ回路に比べ
て簡単なバッファ回路で構成することができ、面積の増
大はさほど大きくはならなくてすむ。Of the two address buffer circuits, the address buffer circuit for specifying the refresher address counter is
Since the input signal is at the level of the power supply voltage or ground voltage, it can be configured with a simpler buffer circuit than an address buffer circuit for external address designation, and the area need not increase significantly.
さらに、1メガビットDRAMから4メガピツ)DRA
Mまでは、300m1l 18ビyDIPが使用され
る可能性がきくチップの長辺方向へ伸びるため、本発明
はさらに有効となるといり効果がある。In addition, from 1 megabit DRAM to 4 megabit) DRA
Up to M, there is a possibility that a 300ml 18by DIP may be used and it extends in the long side direction of the chip, so the present invention becomes even more effective.
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2(a
)図は300m1l 16ビンDIPの平面図、第2
俤)図t!300m1l 18ビンDIPの平面図、
第3(a1図は第2(−図の3oomtl 16ビyD
IPのパッドレイアウト図、第3Φ)図は第2(b)図
の300m1l18ピンDIPのパッドレイアウト図で
ある。
1・・・・・・リフレッシュ制御回路、2・・・・・・
リフレッシュアト0レスカウンタ、3・・・・・・アド
レスバッファ回路、4・・・・・・アドレスバッファ回
路、5・・・・・・アドレス制御回路、6・・・・−デ
コーダ回路。
寥1 旧
第2(幻現
察2渕田FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention, and FIG.
) The figure is a plan view of a 300ml 16-bin DIP, the second
俤)Figure t! Plan view of 300ml 18-bin DIP,
3rd (a1 figure is 2nd (- figure's 3oomtl 16biyD
Pad layout diagram of IP, Figure 3 Φ) is a pad layout diagram of the 300ml 18 pin DIP in Figure 2(b). 1... Refresh control circuit, 2...
Refresh address 0 counter, 3...address buffer circuit, 4...address buffer circuit, 5...address control circuit, 6...-decoder circuit.寥 1 Former 2nd (Gengensen 2 Fuchida
Claims (1)
回路と、リフレッシュアドレス指定用のリフレッシュア
ドレスカウンタと、前記リフレッシュアドレスカウンタ
の出力信号を入力とする第2のアドレスバッファ回路と
を具備し、前記第1のアドレスバッファ回路と第2のア
ドレスバッファ回路の出力とをワイヤードOR接続した
ことを特徴とする半導体集積回路。The first address buffer circuit includes a first address buffer circuit that receives an external address signal as an input, a refresh address counter for specifying a refresh address, and a second address buffer circuit that receives an output signal of the refresh address counter as an input. 1. A semiconductor integrated circuit characterized in that an address buffer circuit and an output of a second address buffer circuit are wired OR connected.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61132555A JPH0612614B2 (en) | 1986-06-06 | 1986-06-06 | Semiconductor integrated circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61132555A JPH0612614B2 (en) | 1986-06-06 | 1986-06-06 | Semiconductor integrated circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62289996A true JPS62289996A (en) | 1987-12-16 |
JPH0612614B2 JPH0612614B2 (en) | 1994-02-16 |
Family
ID=15084024
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61132555A Expired - Lifetime JPH0612614B2 (en) | 1986-06-06 | 1986-06-06 | Semiconductor integrated circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0612614B2 (en) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57147193A (en) * | 1981-03-05 | 1982-09-10 | Fujitsu Ltd | Address buffer |
JPS6142795A (en) * | 1984-08-03 | 1986-03-01 | Toshiba Corp | Row decoder system of semiconductor memory device |
-
1986
- 1986-06-06 JP JP61132555A patent/JPH0612614B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57147193A (en) * | 1981-03-05 | 1982-09-10 | Fujitsu Ltd | Address buffer |
JPS6142795A (en) * | 1984-08-03 | 1986-03-01 | Toshiba Corp | Row decoder system of semiconductor memory device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0612614B2 (en) | 1994-02-16 |
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