JPS62283302A - Optical multiplexer and demultiplexer - Google Patents

Optical multiplexer and demultiplexer

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JPS62283302A
JPS62283302A JP12582786A JP12582786A JPS62283302A JP S62283302 A JPS62283302 A JP S62283302A JP 12582786 A JP12582786 A JP 12582786A JP 12582786 A JP12582786 A JP 12582786A JP S62283302 A JPS62283302 A JP S62283302A
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JP
Japan
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semiconductor
waveguide
layer
demultiplexer
waveguides
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JP12582786A
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Japanese (ja)
Inventor
Fumihiko Ito
文彦 伊藤
Tadatoshi Tanifuji
谷藤 忠敏
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

PURPOSE:To form a simple and inexpensive optical multiplexer and demultiplexer by constituting the same of waveguides formed on a semiconductor substrate and an n-type doped layer which is formed in the waveguides by doping a donor impurity at a high concn. and has the refractive index different from the refractive index of the waveguide part. CONSTITUTION:The waveguides are formed of an intrinsic semiconductor core layer 1 and clad layer 4. The n<+> doped layer 2 exists within the plane having a half angle theta of an intersection angle 2theta. The semiconductor material includes GaAs or InP and mixed crystal of GaXAl1-xAs or mixed crystal of InxGa1- xAsyP1-y are used for the material of the clad layer 4. These materials are selected by the desired wavelength desired to be multiplexed and demultiplexed. The n<+> type doped layer 2 is formed by doping the donor impurity at a high concn. into the mixed crystal of the intrinsic semiconductor core layer 1.

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 (産業上の利用分野) 本発明は、光波長多重通信に用いる、合分波器に関する
ものである。
Detailed Description of the Invention 3. Detailed Description of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to a multiplexer/demultiplexer used in optical wavelength division multiplexing communication.

(従来の技術) 第8図は、分波器としてよく用いられてきた従来の一例
を示す。これは多重反射形干渉膜分波器と呼ばれるもの
である。第8図において、10aは入力光ファイバ、1
0bは特定の波長のみを取り出す出力光ファイバ、11
は誘電体多層膜、12はガラス1反である。
(Prior Art) FIG. 8 shows an example of a conventional duplexer that has been often used as a duplexer. This is called a multi-reflection interference film duplexer. In FIG. 8, 10a is an input optical fiber, 1
0b is an output optical fiber that extracts only a specific wavelength, 11
1 is a dielectric multilayer film, and 12 is a sheet of glass.

6箇所の誘電体多層膜11のそれぞれの部分が、ある特
定の波長の光だけを透過し、残りをすべて反射する性質
を持つ。誘電体多層膜は、透過させたい光の波長λに対
して、屈折率の高い物質(主にZn5)と屈折率の低い
物質(主にMgF z)を、λ/4厚ずつ、交互に約2
0層重ね合わせた構造を持つ。
Each of the six dielectric multilayer films 11 has the property of transmitting only light of a certain wavelength and reflecting all the rest. The dielectric multilayer film is made by alternating a material with a high refractive index (mainly Zn5) and a material with a low refractive index (mainly MgFz) at a thickness of approximately λ/4 for the wavelength λ of the light to be transmitted. 2
It has a structure with 0 layers stacked on top of each other.

この構造の合分波器は、各々の光フアイバ間の軸合わせ
を非常に高精度に行なう必要があり、そのため構造を精
密化せざるを得ないので、高価な−ものになっている。
A multiplexer/demultiplexer with this structure requires very high precision alignment of the axes between the optical fibers, which necessitates a more precise structure, making it expensive.

(発明が解決しようとする問題点) 本発明は、簡易にして、安価な光合分波器を提供するこ
とにある。
(Problems to be Solved by the Invention) An object of the present invention is to provide a simple and inexpensive optical multiplexer/demultiplexer.

(問題点を解決するための手段) 本発明は、半導体基板上に形成された導波路と、ドナー
不純物を高濃度にドープすることにより、。
(Means for Solving the Problems) The present invention includes a waveguide formed on a semiconductor substrate and doping with a donor impurity at a high concentration.

導波路中に形成された導波路部分とは異なる屈折率をも
つn型ドープ層とにより構成する。
An n-type doped layer having a refractive index different from that of the waveguide portion formed in the waveguide.

すなわち例えば半導体基板上に設けられた真株主1生ユ
ヱl(またはno ′1 コア )とクラッド層とから
なる第1の半導体導波路と、該第1の半導体導波路と斜
めに交差する第2の半導体導波路と、前記第1および第
2の半導体導波路の交差角の半角をなす面内の導波路中
に玉m−プすることにより形成されたn3型ド一プ層(
または) された  −゛′)とにより構成する。
That is, for example, a first semiconductor waveguide consisting of a true shareholder core (or no '1 core) provided on a semiconductor substrate and a cladding layer, and a first semiconductor waveguide that diagonally intersects the first semiconductor waveguide. an n3-type doped layer (
or) is composed of −゛′).

この構造の合分波器は、従来の合分波器と異なり、光フ
アイバ同志の軸合わせを必要とせず、また半導体基板上
にモノリシックに集積できるので、小型にして安価なも
のを製造することができるところが異なる。
Unlike conventional multiplexers/demultiplexers, this structure of multiplexer/demultiplexer does not require alignment of the optical fibers and can be monolithically integrated on a semiconductor substrate, making it possible to manufacture small and inexpensive products. The difference is in what you can do.

第1図は本発明の一実施例を表わす2波長用光合分波器
の斜視図であって、■は真性半導体コア層、2は不純物
を高濃度にドープしたn゛型ドープ層、3は半導体基板
、4はクラッド層を表わす。
FIG. 1 is a perspective view of a two-wavelength optical multiplexer/demultiplexer representing an embodiment of the present invention. In the semiconductor substrate, 4 represents a cladding layer.

真性半導体コア層1およびクラフト層4で導波路が形成
される。n゛型ドープ層2は、第1図に示すように交差
角2θの半角θをなす面内にある。
The intrinsic semiconductor core layer 1 and the craft layer 4 form a waveguide. The n-type doped layer 2 lies within a plane forming a half angle θ of the intersection angle 2θ, as shown in FIG.

半導体材料としては、GaAs系またはInP系があり
、クラッド層4の材料としては、GaヶAI、□As系
の混晶またはInXGa+−XASYP l−y系の混
晶が用いられ、これらは合分波を行いたい所望の波長に
より、選択されるものである。
The semiconductor material is GaAs-based or InP-based, and the material for the cladding layer 4 is GaAl, □As-based mixed crystal, or InXGa+-XASYP-ly-based mixed crystal. The choice is made depending on the desired wavelength of the wave.

n゛型ドープ層2は真性半導体コア層1の混晶中にドナ
ー不純物を高濃度にドープすることにより形成される。
The n-type doped layer 2 is formed by doping donor impurities into the mixed crystal of the intrinsic semiconductor core layer 1 at a high concentration.

次に、この合分波器の動作原理について説明を行う。こ
こでは、前記導波路の材質としてGaAsおよびAI!
を用いたものについて説明する。
Next, the operating principle of this multiplexer/demultiplexer will be explained. Here, the material of the waveguide is GaAs and AI!
We will explain the method using .

第2図は真性GaAsおよびドナーを高濃度にドープし
たGaAsの吸収係数を示す図であって、図中、曲線a
は実験より得られた真性GaAsの吸収係数(α)であ
る。この吸収係数αは、複素電気感受率χ(ω)=χ′
(ω)−4χ−(ω)の虚部χ″(ω)と、次の関係に
ある。
FIG. 2 is a diagram showing the absorption coefficients of intrinsic GaAs and GaAs doped with a high concentration of donors, in which the curve a
is the absorption coefficient (α) of intrinsic GaAs obtained from experiments. This absorption coefficient α is the complex electric susceptibility χ(ω)=χ′
It has the following relationship with the imaginary part χ″(ω) of (ω)−4χ−(ω).

と ただし、Kは光の波数ベクトル、 εはω→(3)での誘電率である。and However, K is the wave number vector of light, ε is the dielectric constant at ω→(3).

クラマーズ・クローニソヒの関係式 に式(1)を代入すると、 となる。周波数ωにおける屈折率n(ω)は複素誘電率
ε (ω)の実部の平方根であるから、χが小さいとき
には、 となり、吸収係数α(ω)がわがっていれば、屈折率n
(ω)を算出することができる。式(4)および第2図
に示すαより、真性GaAsの屈折率を求めた結果を第
3図に曲線aで示す。
Substituting equation (1) into the Kramers-Kronisohi relation gives the following equation. Since the refractive index n(ω) at the frequency ω is the square root of the real part of the complex permittivity ε (ω), when χ is small, the refractive index n(ω) becomes
(ω) can be calculated. The refractive index of intrinsic GaAs was determined from equation (4) and α shown in FIG. 2, and the result is shown by curve a in FIG.

次に、GaAs内にドナー不純物を高濃度にドープした
場合を考える。このとき吸収係数α(ω)は、第2図に
曲線すで示すように、バースタインシフトにより、約(
EF−EC−4KIT)だけ、高エネルギー側、すなわ
ち短波長側にシフトする。ただし、ErはドープしたG
aAsのフェルミ準位、E、は導電帯の底のエネルギー
、K、はボルツマン定数、Tは絶対温度である。
Next, consider the case where GaAs is doped with a donor impurity at a high concentration. At this time, the absorption coefficient α(ω) is approximately (
EF-EC-4KIT) to the high energy side, that is, to the short wavelength side. However, Er is a doped G
The Fermi level of aAs, E is the energy at the bottom of the conduction band, K is Boltzmann's constant, and T is the absolute temperature.

第4図は、GaAs中の伝導電子濃度と、バースタイン
シフト量の関係を示す図である。これによると、伝導電
子濃度を約8X10”/cm’程度にドープすれば、0
.1evのα(ω)のシフトが可能であることがわかる
。α(ω)が0.1ev短波長側にシフトしたn°型ト
ド−1層ついて、式(4)を用いて屈折率を計算した結
果を第3図に曲線すで示す。
FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the conduction electron concentration in GaAs and the amount of Burstein shift. According to this, if the conduction electron concentration is doped to about 8X10''/cm', 0
.. It can be seen that a shift of α(ω) of 1ev is possible. FIG. 3 shows the results of calculating the refractive index using equation (4) for an n° type Todo-1 layer in which α(ω) has been shifted by 0.1 ev to the shorter wavelength side.

さて第3図における波長λ2を持つ光が、導波路(屈折
率nえ2 )よりn゛型トド−1層屈折率nD2゜)に
入射した場合を考える(n、□ + n Da。
Now, let us consider the case in which light with wavelength λ2 in FIG. 3 enters the n-type Todo-1 layer refractive index nD2°) from the waveguide (refractive index n2°) (n, □ + n Da).

次に第3図における波長λ1を持った光が、導波路(屈
折率n、21)よりn゛型トド−1層入射し型ドープ層
において全反射させ、波長λ1の光を直進させることが
できる。例えば!1・0.83μm。
Next, the light with the wavelength λ1 in Fig. 3 enters the n゛ type doped layer from the waveguide (refractive index n, 21), is totally reflected in the type doped layer, and the light with the wavelength λ1 travels straight. can. for example! 1.0.83μm.

λz=0.85pmの光については、n  #3.41
.nDλ、λl =3..39. n、 =3.47.  nDλ2=3
.37となるので、6.2  °くθ< 13.8°と
すれば分波が可能である。
For light with λz=0.85pm, n #3.41
.. nDλ, λl =3. .. 39. n, =3.47. nDλ2=3
.. 37, so if 6.2° and θ<13.8°, demultiplexing is possible.

全く同様の方法により、λ、1 λ2を別々の導波路に
入射させれば、合波も可能となる。
If λ, 1 and λ2 are made incident on separate waveguides using exactly the same method, multiplexing is also possible.

第5図は本発明の他の実施例の2波長用合分波器の斜視
図であり、形状は第1図と同じであって、3は半導体基
板、5はドナー不純物を高濃度にドープしたn゛゛半導
体コア層、6はn゛゛半導体コア層中にプロトン等を注
入し、キャリアを補償した高抵抗半導体層である。n°
°半導体コア層はドナー濃度が大きいほど低世失である
ので、高抵抗半導体層から遠いところのコア層には、高
抵抗半導体層付近のコア層よりも多量にドープする。
FIG. 5 is a perspective view of a two-wavelength multiplexer/demultiplexer according to another embodiment of the present invention, and the shape is the same as that in FIG. The n゛゛ semiconductor core layer 6 is a high resistance semiconductor layer in which protons and the like are injected into the n゛゛ semiconductor core layer to compensate carriers. n°
° Since the higher the donor concentration of the semiconductor core layer, the lower the level of deterioration, the core layer located far from the high-resistance semiconductor layer is doped more heavily than the core layer near the high-resistance semiconductor layer.

この場合には、第3図において曲線aが高抵抗半導体N
6の屈折率を表わし、曲線すがn゛゛半導体コアN5の
屈折率を表わすことになる。この光を高抵抗し層におい
て全反射させ、波長λ、の光を直進させることが可能で
ある。例えばλ。=0.81μm1 λ、 =0.83
μmの光については、nλ。
In this case, in FIG. 3, the curve a is the high resistance semiconductor N
6, and the curve represents the refractive index of the semiconductor core N5. This light is totally reflected in a layer with high resistance, and it is possible to cause light with a wavelength of λ to travel straight. For example, λ. =0.81μm1λ, =0.83
For μm light, nλ.

=3.35 、  nDλo=3.425 、  nλ
1=3.41 、 nDλ、=3.39となり、6.2
  °〈θ<12.0’とすれば、これら2波の光が分
波できる。
=3.35, nDλo=3.425, nλ
1=3.41, nDλ,=3.39, 6.2
If °<θ<12.0', these two waves of light can be separated.

第6図は本発明の別の実施例であり、第1図に示す実施
例をもとに、3波長用光分波器を構成した例を示す。第
1図と同一の符号は同一のものである。2bは2aより
もさらに高濃度にドープされたn゛型トド−1層ある。
FIG. 6 shows another embodiment of the present invention, and shows an example in which a three-wavelength optical demultiplexer is constructed based on the embodiment shown in FIG. The same reference numerals as in FIG. 1 are the same. 2b is an n-type TODO-1 layer doped more highly than 2a.

n゛型トド−1層2aコア層1との全反射側の境界は、
急峻な屈折率変化を持つようにn゛型トド−1層2a形
成されているが、反対側の境界(第6図斜線部)はゆる
やかな屈折重度化をもつように形成される。この理由は
後に述べる。
The boundary between the n-type Todo-1 layer 2a and the core layer 1 on the total reflection side is
The n-type TODO-1 layer 2a is formed to have a steep refractive index change, but the boundary on the opposite side (the shaded area in FIG. 6) is formed to have a gradual increase in refractive index. The reason for this will be explained later.

第7図において、曲線aは真性半導体コア層1の屈折率
を示し、曲線すはn゛型ドープN2aの屈折率を示し、
曲線Cはさらに高濃度なn゛型ドープJiJ2bの屈折
率を示す。
In FIG. 7, a curve a represents the refractive index of the intrinsic semiconductor core layer 1, a curve a represents the refractive index of the n-type doped N2a,
Curve C shows the refractive index of even higher concentration n-type doped JiJ2b.

さて、第7図に示すようにλ3.λ2.λゴが(λ、く
λ2くλ、)がn°型ドープ層2aに入射すると、λ、
は2aにおいて全反射し、λ1.λ2は直進する。その
ためには第6図におけるθ1を、次のように設定すれば
よい。
Now, as shown in FIG. 7, λ3. λ2. When λ (λ, λ2 × λ,) is incident on the n° type doped layer 2a, λ,
is totally reflected at 2a, and λ1. λ2 goes straight. To achieve this, θ1 in FIG. 6 may be set as follows.

このときに、n°型ドープ層2aと真性半導体コア層1
との透過側の境界は屈折率をなだらかに変化させなけれ
ばならない。なぜなら、透過側の境界が急峻な屈折率変
化を持つと、波長λ、の光が、この透過側の境界で全反
射してしまうからである。
At this time, the n° type doped layer 2a and the intrinsic semiconductor core layer 1
The refractive index must change smoothly at the boundary on the transmission side. This is because if the boundary on the transmission side has a steep refractive index change, light with a wavelength λ will be totally reflected at the boundary on the transmission side.

残りのλ9.λ2の分波は前述の2波長用分波器をその
まま使用すればよい。
The remaining λ9. For demultiplexing λ2, the aforementioned two-wavelength demultiplexer may be used as is.

このとき、第6図におけるθ2は次のように設3波長用
光分波器であるが、これと同様に第5図に示した実施例
をもとにした3波長用光分波器の構成ももち論可能であ
る。さらにここでは分波を例に説明したが、合波につい
ても逆方向の動作により可能である。
At this time, θ2 in FIG. 6 is a three-wavelength optical demultiplexer as shown below; similarly, a three-wavelength optical demultiplexer based on the embodiment shown in FIG. The composition is also possible. Furthermore, although demultiplexing has been explained here as an example, multiplexing is also possible by operating in the opposite direction.

(発明の効果) 以上説明したように、本発明により簡易にして安価な光
合分波器を構成することが可能となる。
(Effects of the Invention) As explained above, the present invention makes it possible to construct a simple and inexpensive optical multiplexer/demultiplexer.

またこの合分波器によれば非常に近接した2波長を合分
波できる。
Furthermore, this multiplexer/demultiplexer can multiplex/demultiplex two wavelengths that are very close to each other.

従って、これを光波長多重通信に応用することにより、
安価な通信網を提供できる利点がある。
Therefore, by applying this to optical wavelength division multiplexing communication,
It has the advantage of providing an inexpensive communication network.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を表わす2波長用光合分波器
の斜視図、 第2図は真性GaAsおよびドナーを高濃度にドープし
たGaAsの吸収係数を示す図、 第3図は第2図の曲線a、bで示す真性GaAsおよび
n゛型GaAsの屈折率を示す図、第4図はGaAsの
キャリア(電子)濃度とバースタインシフト量の関係を
示す図、 第5図は本発明の他の実施例の2波長用合分波器の斜視
図、 第6図は本発明の別の実施例の3波長用合分波器の平面
図、 第7図は真性GaAsの屈折率(曲線a)およびドナー
を高濃度にドープしたGaAsの屈折率(曲線a。 b)を示す図、第8図は従来実用に供されてきた多重反
射形干渉膜分波器を示す図である。 1・・・真性半導体コア層 2、2a 、 2b−−・n”型ドープ層3・・・半導
体基板 4・・・クラッド層 5・・・n゛型半導体コア層 6・・・高抵抗半導体層 第4図 キャリア(電子)濃度 (cm−”) 屈折率n 第6図 入7.入2.入ヨ ■ 2a、2b−−n+型F°−ブA 第7図
FIG. 1 is a perspective view of a two-wavelength optical multiplexer/demultiplexer representing an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram showing the absorption coefficients of intrinsic GaAs and GaAs doped with a high concentration of donors. Figure 2 shows the refractive index of intrinsic GaAs and n-type GaAs shown by curves a and b in Figure 2. Figure 4 shows the relationship between the carrier (electron) concentration of GaAs and the amount of Burstein shift. A perspective view of a two-wavelength multiplexer/demultiplexer according to another embodiment of the invention, FIG. 6 is a plan view of a three-wavelength multiplexer/demultiplexer according to another embodiment of the present invention, and FIG. 7 shows the refractive index of intrinsic GaAs. (Curve a) and the refractive index of GaAs doped with a high concentration of donors (Curves a and b). Figure 8 is a diagram showing a multi-reflection interference film duplexer that has been put into practical use in the past. . 1... Intrinsic semiconductor core layer 2, 2a, 2b--N'' type doped layer 3... Semiconductor substrate 4... Clad layer 5... N'' type semiconductor core layer 6... High resistance semiconductor Layer Fig. 4 Carrier (electron) concentration (cm-'') Refractive index n Fig. 6 7. Enter 2. Input ■ 2a, 2b--n+ type F°-bu A Fig. 7

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、半導体基板上に設けられた真性半導体コア層とクラ
ッド層とからなる第1の半導体導波路と、該第1の半導
体導波路と斜めに交差する第2の半導体導波路と、前記
第1および第2の半導体導波路の交差角の半角をなす面
内の導波路中に不純物をドープすることにより形成され
たn^+型ドープ層とにより構成されたことを特徴とす
る光合分波器。 2、半導体基板上に設けられたn^+型半導体コア層と
クラッド層とからなる第1の半導体導波路と、該第1の
半導体導波路と斜めに交差する第2の半導体導波路と、
前記第1および第2の半導体導波路の交差角の半角をな
す面内の導波路中に形成された高抵抗半導体層とにより
構成されたことを特徴とする光合分波器。 3、半導体基板上に設けられた真性半導体コア層とクラ
ッド層とからなる第1の半導体導波路と、該第1の半導
体導波路と斜めに交差する第2の半導体導波路と、前記
交差する位置とは別の位置で交差する第3の半導体導波
路と、前記第1および第2の半導体導波路の交差角の半
角をなす面内の導波路中に不純物をドープすることによ
り形成された第1のn^+型ドープ層と、前記第1およ
び第3の半導体導波路の交差角の半角をなす面内の導波
路中に不純物をドープすることにより形成された第2の
n^+型ドープ層とにより構成されることを特徴とする
光合分波器。 4、半導体基板上に設けられたn^+型半導体コア層と
クラッド層とからなる第1の半導体導波路と、該第1の
半導体導波路と斜めに交差する第2の半導体導波路と、
前記交差する位置とは別の位置で交差する第3の半導体
導波路と、前記第1および第2の半導体導波路の交差角
の半角をなす面内の導波路中に形成された第1の高抵抗
半導体層と、前記第1および第3の半導体導波路の交差
角の半角をなす面内の導波路中に形成された第2の高抵
抗半導体層とにより構成されることを特徴とする光合分
波器。
[Claims] 1. A first semiconductor waveguide formed of an intrinsic semiconductor core layer and a cladding layer provided on a semiconductor substrate, and a second semiconductor waveguide diagonally intersecting the first semiconductor waveguide. It is characterized by being constituted by a waveguide and an n^+ type doped layer formed by doping an impurity into the waveguide in a plane forming a half angle of the intersection angle of the first and second semiconductor waveguides. Optical multiplexer/demultiplexer. 2. A first semiconductor waveguide comprising an n^+ type semiconductor core layer and a cladding layer provided on a semiconductor substrate, and a second semiconductor waveguide diagonally intersecting the first semiconductor waveguide;
An optical multiplexer/demultiplexer comprising: a high-resistance semiconductor layer formed in a waveguide in a plane forming a half angle of the intersection angle of the first and second semiconductor waveguides. 3. A first semiconductor waveguide formed of an intrinsic semiconductor core layer and a cladding layer provided on a semiconductor substrate, a second semiconductor waveguide that diagonally intersects the first semiconductor waveguide, and a second semiconductor waveguide that intersects the first semiconductor waveguide obliquely; A third semiconductor waveguide that intersects at a different position from the first and second semiconductor waveguides is formed by doping impurities into the waveguide in a plane that forms a half angle of the intersection angle of the first and second semiconductor waveguides. A second n^+ type doped layer formed by doping an impurity into the waveguide in a plane forming a half angle of the intersection angle between the first n^+ type doped layer and the first and third semiconductor waveguides. An optical multiplexer/demultiplexer comprising a doped layer. 4. A first semiconductor waveguide comprising an n^+ type semiconductor core layer and a cladding layer provided on a semiconductor substrate, and a second semiconductor waveguide diagonally intersecting the first semiconductor waveguide;
a third semiconductor waveguide that intersects at a different position from the intersecting position; and a first waveguide formed in a plane that forms a half angle of the intersection angle of the first and second semiconductor waveguides. It is characterized by being composed of a high-resistance semiconductor layer and a second high-resistance semiconductor layer formed in the waveguide in a plane forming a half angle of the intersection angle of the first and third semiconductor waveguides. Optical multiplexer/demultiplexer.
JP12582786A 1986-06-02 1986-06-02 Optical multiplexer and demultiplexer Pending JPS62283302A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0235105U (en) * 1988-08-30 1990-03-07

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JPH0235105U (en) * 1988-08-30 1990-03-07

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