JPS6228077Y2 - - Google Patents

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JPS6228077Y2
JPS6228077Y2 JP18609085U JP18609085U JPS6228077Y2 JP S6228077 Y2 JPS6228077 Y2 JP S6228077Y2 JP 18609085 U JP18609085 U JP 18609085U JP 18609085 U JP18609085 U JP 18609085U JP S6228077 Y2 JPS6228077 Y2 JP S6228077Y2
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socket
receptacle
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pin
implanted
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は電子管用ソケツト、特に低電圧大電流
が流入出する外部導入線(以下単にピンと称す
る)と外部導入線挿入部(以下単にレセプタクル
と称する)との接続部における電気的接触抵抗値
を極小に抑えた電子管用ソケツトに関するもので
ある。
[Detailed Description of the Invention] The present invention is intended for use in electron tube sockets, particularly at the connection portion between an external lead-in wire (hereinafter simply referred to as a pin) and an external lead-in wire insertion portion (hereinafter simply referred to as a receptacle) through which low voltage and large current flow in and out. This invention relates to an electron tube socket that minimizes electrical contact resistance.

一般にブラウン管などの電子管において、例え
ばヒータ、フラメントは、従来から他の電極部材
よりも比較的低電圧大電流の動作方式となつてい
るため、第1図a,bにその要部側面図、要部正
面図で示したように、ステム1に円形状に固設配
置された複数本のピン2のうち、ヒータ、フイラ
メント用のピンも他の電極用ピンと同様に同一寸
法形状で所定のピンサークルで固設して配列され
ている。一方、この電子管に用いるソケツトは、
第2図a,bおよび第3図a,bに、工業用およ
び装置、機器用のソケツトの要部側面図、要部正
面図で示したように全ての前記ピン2を同時に挿
入できる一体化構成となつており、そのソケツト
3内に植設されたレセプタクル4の構造も第4図
〜第6図a,bにその要部側面図、要部上面図で
示したように全て前記ピン2の形状に対応して同
一形状のものが用いられている。
In general, in electron tubes such as cathode ray tubes, heaters and filaments, for example, have traditionally operated at relatively lower voltages and higher currents than other electrode members. As shown in the front view, among the plurality of pins 2 fixedly arranged in a circular shape on the stem 1, the heater and filament pins have the same dimensions and shape as the other electrode pins, and are arranged in a predetermined pin circle. They are permanently installed and arranged. On the other hand, the socket used for this electron tube is
As shown in Fig. 2 a, b and Fig. 3 a, b, a side view of the main part and a front view of the main part of a socket for industrial use, equipment, and equipment, all the pins 2 can be inserted at the same time. The structure of the receptacle 4 implanted in the socket 3 is also completely connected to the pin 2, as shown in the side view and top view of the main part in FIGS. 4 to 6 a and b. The same shape is used corresponding to the shape of.

しかしながら、上記構成による電子管用ソケツ
トにおいて、上記ソケツト3に、ヒータ、フイラ
メントに従来の電子管よりもさらに低い電圧でし
かも大電流の動作方式を用いた電子管を組合せて
使用した場合、上記ピン2とソケツト3内のレセ
プタクル4との間の電気的接触抵抗値によつて生
ずる電位降下が電子管の動作に対して極めて大き
な障害となつていた。すなわち、第7図に示した
等価回路を用いて説明すると、まず、ピン2とレ
セプタクル4間の接触抵抗値r1が存在すると、そ
の回路電流Iとの積であるI×r1の電位降下が生
じ、供給電圧E0からI×r1を減じた真の電位E1
電圧のみがヒータ、フイラメントに印加されるこ
とになる。そして、この接触抵抗r1は常時不安定
要因を有し、絶えず一定値を保つていないため、
当初からr1の値が存在すれば、時にはr1が零にな
つたり、あるいは数倍に増加したりして真の印加
電位E1はそれによつて増減する。また、当切はr1
が零であつたものが、時には増加したりすると、
真の印加電位E1は供給電圧E0になつたり、ある
いは、供給電圧E0より減少した値となる。そし
て、この接触抵抗の増減分が低電圧大電流方式に
なるほどその影響は大きくなる。例えば、電子管
のヒータ、フイラメントは規定の電圧を印加する
ことによつて加熱され、適正な陰極温度を得るこ
とによつて適正な熱電子放射を得て、かつ維持す
るので真の印加電圧E1が重要な役目を持つてい
る。したがつて、真の印加電圧E1よりも低かつ
たり逆に高かつたりした場合には、正常な機能お
よびその信頼性を損ねることになる。また、電子
管の製造過程および試験、検査過程においては、
1個のソケツトで多数個の電子管を対象にしてい
るので、摩耗および汚れによる接触不十分、接触
部の経時変化および偏差、などが生じ易く、電子
管を用いた装置、機器などのソケツトでは、大量
生産による接触抵抗値の偏差、振動衝撃および経
年変化による接触抵抗値の変化が存在している。
そして、この状況において、低電圧大電流方式の
電子管を取扱うときには従来のソケツト3のレセ
プタクル4の表面金属材質、加圧力を改善した程
度のことではこの問題は解放されなかつた。
However, in the electron tube socket having the above structure, when an electron tube whose heater and filament operate at a lower voltage and higher current than the conventional electron tube is used in combination with the socket 3, the pin 2 and the socket The potential drop caused by the electrical contact resistance between the electron tube 3 and the receptacle 4 has been an extremely large obstacle to the operation of the electron tube. That is, to explain using the equivalent circuit shown in FIG. 7, first, if there is a contact resistance value r 1 between pin 2 and receptacle 4, a potential drop of I × r 1 , which is the product of the circuit current I, will occur. occurs, and only the voltage of the true potential E 1 obtained by subtracting I×r 1 from the supply voltage E 0 is applied to the heater and filament. Since this contact resistance r 1 always has an unstable factor and does not keep a constant value,
If a value of r 1 exists from the beginning, sometimes r 1 becomes zero or increases several times, and the true applied potential E 1 increases or decreases accordingly. Also, the current amount is r 1
When something that was zero sometimes increases,
The true applied potential E 1 becomes the supply voltage E 0 or a value decreased from the supply voltage E 0 . The effect of this increase/decrease in contact resistance becomes greater as the voltage and current method becomes lower. For example, the heater or filament of an electron tube is heated by applying a specified voltage, and by obtaining and maintaining an appropriate thermionic emission by obtaining an appropriate cathode temperature, the true applied voltage E 1 has an important role. Therefore, if the applied voltage is lower than or higher than the true applied voltage E1 , the normal function and reliability thereof will be impaired. In addition, in the manufacturing process, testing, and inspection process of electron tubes,
Since one socket is used for a large number of electron tubes, it is easy to cause insufficient contact due to wear and contamination, and changes and deviations in the contact area over time. There are deviations in contact resistance values due to production, changes in contact resistance values due to vibration shock and aging.
In this situation, when dealing with low-voltage, high-current type electron tubes, this problem could not be solved by improving the surface metal material and pressing force of the receptacle 4 of the conventional socket 3.

したがつて、本考案の目的は上記の点に着目し
てなされたものであり、電子管のピンのうちで低
電圧大電流が流入出するピンとそのレセプタクル
との接続部のみを対象として接触抵抗値を極小と
することによつて信頼性を高くし、かつ保守を容
易に行えるようにした電子管用ソケツトを提供す
ることにある。
Therefore, the purpose of the present invention was to focus on the above points, and to calculate the contact resistance value only at the connection between the pin of the electron tube through which low voltage and large current flows and its receptacle. It is an object of the present invention to provide an electron tube socket which has high reliability and easy maintenance by minimizing .

このような目的を達成するために本考案による
電子管用ソケツトは、低電圧大電流が流入出する
ピンに対応するレセプタクルを他の部分よりも接
触抵抗値を低くしたものである。以下、図面を用
いて本考案による電子管用ソケツトについて詳細
に説明する。
In order to achieve this object, the electron tube socket according to the present invention has a receptacle corresponding to a pin through which a low voltage and large current flows in and out, and has a contact resistance value lower than that of other parts. Hereinafter, the electron tube socket according to the present invention will be explained in detail with reference to the drawings.

第8図〜第11図は本考案による電子管用ソケ
ツトの実施例を示す要部上面図であり、第2図
a,b〜第3図a,bと同記号は同一要素となる
のでその説明は省略する。第8図、第9図におい
て、まず、ソケツト本体13の低電圧大電流が流
入出するに該当するレセプタクル4が植設される
その周辺部分を単独のピン2に対しては同図にA
で示したように1個所を、また隣接するピン2に
対しては同図にBで示したようにまとめて1個所
を、あるいはAおよびBを混在させてソケツト本
体13を貫通するバカ孔部13a,13bを設け
るか、あるいはまた第10図、第11図にA,B
で示したようにソケツト3を貫通する切欠孔部1
3c,13dを設けた構造に形成する。一方、こ
のバカ孔部13a,13bおよび切欠孔部13
c,13dの貫通孔に対しては、その寸法形状に
対応して第12図〜第14図に示したように、第
15図a,bに示した高接触面積、強いバネ性を
有する低接触抵抗の表面金属からなるレセプタク
ル5を植設してリード線6を事前あるいは事後に
取設した単独または一体化したコネクタ7,8,
9を係合する。レセプタクル5とピン2との接触
構造例を第16図に示す。すなわち、前記コネク
タ7,8,9に植設したレセプタクル5は、その
一例を前記第15図に示すように、前述したピン
2を挿入する孔部の先端部を細く形成し、かつ軸
方向に放射状の切込部を備えた構成としている。
8 to 11 are top views of main parts showing an embodiment of the electron tube socket according to the present invention, and the same symbols as in FIGS. 2a, b to 3 a, b are the same elements, so explanations thereof will be given is omitted. In FIGS. 8 and 9, first, the surrounding area of the socket body 13 where the receptacle 4 corresponding to the inflow and outflow of low voltage and large current is implanted is shown in FIG.
For the adjacent pins 2, as shown in FIG. 13a and 13b, or alternatively A and B in FIGS. 10 and 11.
A cutout hole 1 passing through the socket 3 as shown in
3c and 13d are formed. On the other hand, these blank holes 13a and 13b and the notch hole 13
For the through holes c and 13d, as shown in FIGS. 12 to 14, corresponding to the dimensions and shapes, the low Single or integrated connectors 7, 8, in which a receptacle 5 made of a surface metal with contact resistance is implanted and a lead wire 6 is attached before or after.
9. An example of the contact structure between the receptacle 5 and the pin 2 is shown in FIG. That is, as an example of the receptacle 5 implanted in the connectors 7, 8, and 9 is shown in FIG. 15, the tip of the hole into which the pin 2 is inserted is formed thin, and It has a configuration with radial notches.

このように構成された電子管用ソケツトにおい
ては、電子管にソケツト本体13を装着させると
き、電子管のステム1に上記第8図〜第11図に
示したソケツト本体13を挿入した後に、上記バ
カ孔部13a,13bまたは切欠孔部13c,1
3dの貫通孔に後方から第12図、第13図に示
したコネクタ7,8または一体化したコネクタ9
を挿入して装着させる。この場合、コネクタ7〜
9内に植設されたレセプタクル5は前述したよう
にピン2を挿入する孔部の先端部が細く、しかも
軸方向に放射状の切込部を備えた構成としたこと
からその中心軸方向に強いバネ性を有しているた
め、低電圧大電流のヒータ、フイラメントのピン
2の表面に形成された酸化膜を削り取るようにし
て挿入されて十分に圧接され、高接触面積で密着
されて低抵抗接触で上記ピン2に電気的に接続さ
れることになる。したがつて、低電圧大電流の流
入出に対して接触抵抗による電位降下を極小に抑
えることができる。
In the electron tube socket constructed in this manner, when the socket body 13 is attached to the electron tube, after inserting the socket body 13 shown in FIGS. 8 to 11 into the stem 1 of the electron tube, 13a, 13b or notch holes 13c, 1
Insert the connectors 7 and 8 or the integrated connector 9 shown in FIGS. 12 and 13 from the rear into the through hole 3d.
Insert and attach. In this case, connector 7~
As mentioned above, the receptacle 5 implanted in the receptacle 9 is strong in the direction of its central axis because the tip of the hole into which the pin 2 is inserted is thin and has radial notches in the axial direction. Because it has spring properties, it is inserted by scraping off the oxide film formed on the surface of pin 2 of the filament, a low-voltage, high-current heater, and is pressed into contact with the filament with sufficient pressure, resulting in low resistance due to the high contact area. It will be electrically connected to the pin 2 by contact. Therefore, potential drop due to contact resistance can be minimized with respect to the inflow and outflow of low voltage and large current.

以上説明したように本考案による電子管用ソケ
ツトによれば、ピンとこのピンを挿入接触させる
レセプタクル間を低接触抵抗形としたことによつ
て、この両者間に障害となつていた電位降下を極
小に抑えることができるため、電子管の信頼性を
向上させることができるとともに、電子管の製造
試験、検査過程において摩耗などによつて交換す
る場合もそのコネクタ部のみで済むという保守性
を容易とすることができる極めて優れた効果が得
られる。
As explained above, according to the electron tube socket of the present invention, by making the contact resistance type between the pin and the receptacle into which the pin is inserted into contact, the potential drop that was an obstacle between the two can be minimized. This makes it possible to improve the reliability of the electron tube, and also facilitates maintenance in that only the connector part needs to be replaced when it is replaced due to wear during the manufacturing test or inspection process of the electron tube. You can get extremely good results.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図a,bは電子管ステム部に固設されたピ
ン、そのピンの従来の口金の一例を示す要部側面
図、要部正面図、第2図a,bは従来の工業用の
電子管用ソケツトの一例を示す要部側面図、要部
正面図、第3図a,bは従来の装置および機器用
の電子管ソケツトの一例を示す要部側面図、要部
正面図、第4図a,b〜第6図a,bは従来のレ
セプタクルの一例を示す要部側面図、要部上面
図、第7図はピンとレセプタクルとの接続部の電
気的等価回路図、第8図、第9図は本考案による
電子管用ソケツトの一例を示す要部上面図、第1
0図、第11図は本考案による電子管ソケツトの
他の実施例を示す要部上面図、第12図〜第14
図は本考案による電子管ソケツトに挿入するコネ
クタの一例を示す要部斜視図、第15図は上記コ
ネクタに植設されたレセプタクルの一例を示す要
部側面図、要部上面図、第16図はレセプタクル
とピンとの接触構造を示す断面図である。 1……ステム、2……ピン、3……ソケツト、
13a,13b……バカ孔部、13c,13d…
…切欠孔部、4……レセプタクル、5……レセプ
タクル、13……ソケツト本体。
Figures 1a and b show a pin fixed to the electron tube stem, a side view of the main part and a front view of the main part showing an example of a conventional cap for the pin, and Figs. 2a and b show a conventional industrial electronic A side view of a main part and a front view of a main part showing an example of a tube socket; FIGS. , b to Fig. 6 a and b are a side view and a top view of the main part showing an example of a conventional receptacle, Fig. 7 is an electrical equivalent circuit diagram of the connection part between the pin and the receptacle, and Figs. 8 and 9. The figure is a top view of main parts showing an example of an electron tube socket according to the present invention.
0 and 11 are top views of essential parts showing other embodiments of the electron tube socket according to the present invention, and FIGS. 12 to 14
The figure is a perspective view of a main part showing an example of a connector to be inserted into an electron tube socket according to the present invention, FIG. FIG. 3 is a cross-sectional view showing a contact structure between a receptacle and a pin. 1...Stem, 2...Pin, 3...Socket,
13a, 13b...bum hole, 13c, 13d...
...Notch hole, 4... Receptacle, 5... Receptacle, 13... Socket body.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model claims] 電子管のステムに円形状に固設して配列された
複数本のピンに、このピンの配列に対応してレセ
プタクルを植設したソケツトを挿入接触させるこ
とによつて電気的に接続させる電子管用ソケツト
において、該ソケツトはソケツト本体と、このソ
ケツト本体を貫通するバカ孔部あるいは切欠孔部
に係合して前記ソケツトを構成する1個もしくは
複数個のコネクタとを含む構成からなり、かつ前
記コネクタに植設されたレセプタクルは、前記ピ
ンを挿入する孔部の先端部を細く形成し、かつ軸
方向に放射状の切込部を備え前記ソケツト本体に
植設されたレセプタクルに比べ前記ピンとの接触
抵抗値が小となる接触構造としたことを特徴とす
る電子管用ソケツト。
A socket for an electron tube that is electrically connected by inserting and contacting a plurality of pins fixedly arranged in a circular shape on the stem of an electron tube with a socket in which a receptacle is implanted corresponding to the arrangement of the pins. In the socket, the socket has a structure including a socket body and one or more connectors that constitute the socket by engaging with a hole or a notch passing through the socket body, and The implanted receptacle has a hole into which the pin is inserted, and has a narrow tip and has radial notches in the axial direction, and has a lower contact resistance with the pin than a receptacle implanted in the socket body. A socket for an electron tube characterized by having a contact structure with a small contact angle.
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