JPS62257067A - 時間幅測定方法 - Google Patents
時間幅測定方法Info
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- JPS62257067A JPS62257067A JP9943386A JP9943386A JPS62257067A JP S62257067 A JPS62257067 A JP S62257067A JP 9943386 A JP9943386 A JP 9943386A JP 9943386 A JP9943386 A JP 9943386A JP S62257067 A JPS62257067 A JP S62257067A
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Links
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- 230000010354 integration Effects 0.000 claims abstract description 10
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims 1
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 12
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Landscapes
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はオッシロスコープの管面上に表示された波形の
2点間の時間間隔を測定する時間幅測定方法に関する。
2点間の時間間隔を測定する時間幅測定方法に関する。
(従来の技術)
従来、オッシロスコープにおいて、たとえば第4図(a
lに示す如き波形において、A点とB点との時間間隔を
測定したい場合、3つの方法が考えられる。
lに示す如き波形において、A点とB点との時間間隔を
測定したい場合、3つの方法が考えられる。
(イ)第4図(blに示す如く、第4図(a)に示す波
形を表示するための掃引波形のA点の電圧と、B点の電
圧との電位差を測定する。この値を鋸歯状態の傾きを利
用して換算する。
形を表示するための掃引波形のA点の電圧と、B点の電
圧との電位差を測定する。この値を鋸歯状態の傾きを利
用して換算する。
(o)第4図(alにおけるA点〜B点間、論理的出力
を高電位レベルにしたゲート信号を第4図(C)に示し
た如く作り、このゲート信号によりゲートが開いている
時に別途用意したクロックパルス数を計数する。
を高電位レベルにしたゲート信号を第4図(C)に示し
た如く作り、このゲート信号によりゲートが開いている
時に別途用意したクロックパルス数を計数する。
(ハ)管面上にカーソルを出してその間隔の長さを時間
差に換算する。
差に換算する。
(発明が解決しようとする問題点)
以上説明した従来技術によるときは、次の如き問題点が
あった。
あった。
(イ)においては、掃引波形に充分な直線性が無く、測
定精度は3〜5%位となり測定範囲や回路によって相当
具なるが一般的に非常によくない。
定精度は3〜5%位となり測定範囲や回路によって相当
具なるが一般的に非常によくない。
(El)においては、波形の変化が緩かなときやA点〜
B点間の間隔が広い場合は良いが、掃引が早くなった場
合にはゲート信号間に通過させることができるクロック
パルス数は少なくなって、特に波形の変化が高速時には
測定できなくなる。
B点間の間隔が広い場合は良いが、掃引が早くなった場
合にはゲート信号間に通過させることができるクロック
パルス数は少なくなって、特に波形の変化が高速時には
測定できなくなる。
(ハ)においては、実際の波形を測るのではなく、単純
に管面上に物指しを当てただけに過ぎなく、掃引波形、
CRTの管面硝子の歪の影宙を受けて精度は良くない。
に管面上に物指しを当てただけに過ぎなく、掃引波形、
CRTの管面硝子の歪の影宙を受けて精度は良くない。
本発明は上記の問題点を解消した時間幅測定方法を提供
することを目的とする。
することを目的とする。
(問題点を解決するための手段)
本発明は上記の問題点を解決するために、測定波形間の
2点間における掃引区間中ゲートを開き、ゲート開の期
間一定電圧を積分し、前記ゲート開の状態を複数回繰り
返させて、前記積分動作を複数回行なわせ、複数回の積
分動作終了時の積分電圧を時間幅に換算する。
2点間における掃引区間中ゲートを開き、ゲート開の期
間一定電圧を積分し、前記ゲート開の状態を複数回繰り
返させて、前記積分動作を複数回行なわせ、複数回の積
分動作終了時の積分電圧を時間幅に換算する。
(作 用)
したがって測定波形間の2点間の間隔が短い場合におい
ても、積分動作が複数回行なわれるため、積分出力は増
加した状態になり、充分大きな電圧値となって測定精度
が向上させられる。
ても、積分動作が複数回行なわれるため、積分出力は増
加した状態になり、充分大きな電圧値となって測定精度
が向上させられる。
〈発明の実施例)
以下、本発明を実施例により説明する。
第1図は本発明の原理を示す波形図であり、第2図は本
発明の一実施例の構成を示すブロック図である。
発明の一実施例の構成を示すブロック図である。
第1図(alに示す如く、第4図(C1に示すゲート信
号が第4図(blに示した測定波形のA点〜B点が繰り
返される毎に現われる。ゲート信号が高電圧の期間、一
定電圧を積分する。したがって積分出力は第1図(bl
に示す如くになり、積分出力は増大する。この積分回数
は予め設定しである。
号が第4図(blに示した測定波形のA点〜B点が繰り
返される毎に現われる。ゲート信号が高電圧の期間、一
定電圧を積分する。したがって積分出力は第1図(bl
に示す如くになり、積分出力は増大する。この積分回数
は予め設定しである。
スタート信号(START)がクロックパルスとして入
力されるDフリップフロップl、Dフリップフロップ1
のQ出力と後記するDフリップフロップ3の百出力すな
わち設定回数の終了を示す閉止1言号(CLOSE)と
を入力とするアンドゲート2、アンドゲート2の出力に
より開閉されるスイッチ手段4、スイッチ手段4を介し
て電流源5からの電流で充電されるコンデンサ6、コン
デンサ6の充電電圧をディジタルデータに変換するアナ
ログ/ディジタル変換器7を備えている。なお、第1図
(alの信号が第3図(a)のスタート信号に対応して
いる。
力されるDフリップフロップl、Dフリップフロップ1
のQ出力と後記するDフリップフロップ3の百出力すな
わち設定回数の終了を示す閉止1言号(CLOSE)と
を入力とするアンドゲート2、アンドゲート2の出力に
より開閉されるスイッチ手段4、スイッチ手段4を介し
て電流源5からの電流で充電されるコンデンサ6、コン
デンサ6の充電電圧をディジタルデータに変換するアナ
ログ/ディジタル変換器7を備えている。なお、第1図
(alの信号が第3図(a)のスタート信号に対応して
いる。
一方、さらにまた、スタート信号の立下りにて生成され
た毎回の終了信号(ENI))と閉止信号)(CLOS
E)とを入力とするアンドゲート8、アンドゲート8か
らの出力パルスを計数するプログラマブル1/nカウン
タ9を備え、カウンタ9のnカウント時の出力はクロッ
クパルスとしてDフリップフロップ3に供給して、閉止
信号(CLOSE)を生成している。また、閉止信号(
CLOSE)の立上りはアナログ/ディジタル変換器7
に変換開始信号(STC)として与えである。
た毎回の終了信号(ENI))と閉止信号)(CLOS
E)とを入力とするアンドゲート8、アンドゲート8か
らの出力パルスを計数するプログラマブル1/nカウン
タ9を備え、カウンタ9のnカウント時の出力はクロッ
クパルスとしてDフリップフロップ3に供給して、閉止
信号(CLOSE)を生成している。また、閉止信号(
CLOSE)の立上りはアナログ/ディジタル変換器7
に変換開始信号(STC)として与えである。
なお、10は制御回路であって、アナログ/ディジタル
変換器7の変換終了信号(EOC)を受けて、アナログ
/ディジタル変換器7からの変換ディジタルデータを読
み込み、読み込んだデータを1/ (nk)した表示出
力を発生する。なおkは後述する定数である。さらに変
換終了後、コンデンサ6の電荷を放電させるスイッチ1
1を閉成して、放電を行ない、次の充電に備えさせる。
変換器7の変換終了信号(EOC)を受けて、アナログ
/ディジタル変換器7からの変換ディジタルデータを読
み込み、読み込んだデータを1/ (nk)した表示出
力を発生する。なおkは後述する定数である。さらに変
換終了後、コンデンサ6の電荷を放電させるスイッチ1
1を閉成して、放電を行ない、次の充電に備えさせる。
また、プログラマブル1/nカウンタ9に1 / nの
設定出力を供給する。
設定出力を供給する。
以下、3回の積分にて1回、コンデンサ6の電圧を測定
する場合、すなわちn=3の場合を例に説明する。
する場合、すなわちn=3の場合を例に説明する。
まず、測定したいA点〜B点間が高電位となるスタート
信号(START)がDフリップフロップ1に与えられ
、Dフリップフロップ1がトリガされる(第3図(a)
参照)。この結果、Dフリッププロップ1のQ出力は第
3図(blに示す如く、スタート信号と同一波形の信号
となり、アンドゲート2はそのゲートが開かれて、スイ
ッチ手段4はオン状態に制御され、コンデンサ6は電流
源5の出力電流にて充電される。この場合、スタート信
号(START)の立下りから生成された終了信号面)
は第3図fdlに示す如くである。スイッチ手段4はス
タート信号(START)が高電位の期間のみオン状態
になされ、この間において積分がなされて、コンデンサ
6の端子電圧は第3図(e)に示す如く、増加していく
。
信号(START)がDフリップフロップ1に与えられ
、Dフリップフロップ1がトリガされる(第3図(a)
参照)。この結果、Dフリッププロップ1のQ出力は第
3図(blに示す如く、スタート信号と同一波形の信号
となり、アンドゲート2はそのゲートが開かれて、スイ
ッチ手段4はオン状態に制御され、コンデンサ6は電流
源5の出力電流にて充電される。この場合、スタート信
号(START)の立下りから生成された終了信号面)
は第3図fdlに示す如くである。スイッチ手段4はス
タート信号(START)が高電位の期間のみオン状態
になされ、この間において積分がなされて、コンデンサ
6の端子電圧は第3図(e)に示す如く、増加していく
。
ここで終了信号(END)と閉止信号(CLOSE)と
を受けたアンドゲート8の出力はプログラマブルカウン
タ9にて計数され1.アンドゲート8の出力を3個計数
したとき、プログラマブルl/nカウンタ9は出力を発
生し、Dフリップフロップ3の百出力すなわち閉止信号
(CLOSE)は第3図(e)に示す如く、低電位にな
され、この間コンデンサ6は3回の積分を行なう。閉止
信号の立下り信号がアナログ/ディジタル変換器7に第
3図(「)に示す変換開始信号(5TC)として供給さ
れ、このときのコンデンサ6の端子電圧がディジタルデ
ータに変換される。アナログ/ディジタル変換が終了し
たときは第3図(glに示す変換終了信号(EOC)を
受けて、制御回路10はアナログ/ディジタル変換器7
の変換データを読み込み、読み込んだディジタルデータ
を1/(3k) L、表示出力として出力する。
を受けたアンドゲート8の出力はプログラマブルカウン
タ9にて計数され1.アンドゲート8の出力を3個計数
したとき、プログラマブルl/nカウンタ9は出力を発
生し、Dフリップフロップ3の百出力すなわち閉止信号
(CLOSE)は第3図(e)に示す如く、低電位にな
され、この間コンデンサ6は3回の積分を行なう。閉止
信号の立下り信号がアナログ/ディジタル変換器7に第
3図(「)に示す変換開始信号(5TC)として供給さ
れ、このときのコンデンサ6の端子電圧がディジタルデ
ータに変換される。アナログ/ディジタル変換が終了し
たときは第3図(glに示す変換終了信号(EOC)を
受けて、制御回路10はアナログ/ディジタル変換器7
の変換データを読み込み、読み込んだディジタルデータ
を1/(3k) L、表示出力として出力する。
同時に制御回路10からスイッチ手段11をオン状態に
制御する第3図(h)に示した駆動信号が供給され、ス
イッチ手段11によってコンデンサ6の電荷が放電され
、次の測定に供えることになる。終了信号(EOC)と
スイッチ手段11がオン状態になされるまでの期間Pに
てアナログ/ディジタル変換器7の変換データが取り込
まれる。
制御する第3図(h)に示した駆動信号が供給され、ス
イッチ手段11によってコンデンサ6の電荷が放電され
、次の測定に供えることになる。終了信号(EOC)と
スイッチ手段11がオン状態になされるまでの期間Pに
てアナログ/ディジタル変換器7の変換データが取り込
まれる。
いま、スタート信号(START)と終了信号(END
)との間隔がt秒であったとすれば、コンデンサ6の端
子電圧V。UTはV。uy=nktとなる。ここでkは
コンデンサ6の容量と電流源5とにより定まる定数であ
り、これがディジタル値に変換のうえ、実質的に平均値
がとられる。したがって時間幅りは、 t=V品/(n k ) となる。ここでV。UTはディジタル値に変換された値
を示している。またプログラマブル1/nカウンタ9の
設定値nは、時間幅りが小さく分解能が充分に上げられ
ないときには大きな値に設定すればよい。
)との間隔がt秒であったとすれば、コンデンサ6の端
子電圧V。UTはV。uy=nktとなる。ここでkは
コンデンサ6の容量と電流源5とにより定まる定数であ
り、これがディジタル値に変換のうえ、実質的に平均値
がとられる。したがって時間幅りは、 t=V品/(n k ) となる。ここでV。UTはディジタル値に変換された値
を示している。またプログラマブル1/nカウンタ9の
設定値nは、時間幅りが小さく分解能が充分に上げられ
ないときには大きな値に設定すればよい。
(発明の効果)
以上説明した如く本発明によれば、測定波形の2点間に
対応する掃引期間中ゲート手段のゲートを開状態にし、
この開状態の期間中、一定電圧を積分し、このゲート手
段のゲート間状態を予め定めた複数回繰り返させて、前
記積分動作を複数回行なわせ、この複数回終了時の積分
電圧を検出するようにしたため、積分出力電圧は増加し
、前記2点間の時間間隔を高精度で測定できる。
対応する掃引期間中ゲート手段のゲートを開状態にし、
この開状態の期間中、一定電圧を積分し、このゲート手
段のゲート間状態を予め定めた複数回繰り返させて、前
記積分動作を複数回行なわせ、この複数回終了時の積分
電圧を検出するようにしたため、積分出力電圧は増加し
、前記2点間の時間間隔を高精度で測定できる。
第1図は本発明の原理を示す波形図。
第2図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図。
第3図は本発明の詳細な説明に供するタイミングおよび
波形図。 第4図は従来方法の説明に供する線図。 1および3・・・Dフリップフロップ、4および11・
・・スイッチ手段、5・・・電流源、6・・・コンデン
サ、7・・・アナログ/ディジタル変換器、9・・・プ
ログラマブル1/nカウンタ、10・・・制御回路。 ′@1図 第2図
波形図。 第4図は従来方法の説明に供する線図。 1および3・・・Dフリップフロップ、4および11・
・・スイッチ手段、5・・・電流源、6・・・コンデン
サ、7・・・アナログ/ディジタル変換器、9・・・プ
ログラマブル1/nカウンタ、10・・・制御回路。 ′@1図 第2図
Claims (1)
- オッシロスコープの管面上に表示された波形の2点間の
時間間隔を測定する時間幅測定方法において、前記2点
間に対応する掃引期間中ゲート手段のゲートを開状態に
し、この開状態の期間中、一定電圧を積分し、前記ゲー
ト手段のゲート開状態を予め定めた複数回繰り返させて
、前記積分動作を複数回行なわせ、前記複数回の積分動
作終了時の積分電圧を検出して、この積分電圧値を時間
幅に換算することを特徴とする時間幅測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9943386A JPS62257067A (ja) | 1986-05-01 | 1986-05-01 | 時間幅測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9943386A JPS62257067A (ja) | 1986-05-01 | 1986-05-01 | 時間幅測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62257067A true JPS62257067A (ja) | 1987-11-09 |
Family
ID=14247301
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9943386A Pending JPS62257067A (ja) | 1986-05-01 | 1986-05-01 | 時間幅測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62257067A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0662650A2 (de) * | 1994-01-10 | 1995-07-12 | Landis & Gyr Technology Innovation AG (Landis & Gyr Technology Innovation SA) (Landis & Gyr Technology Innovation Corp.) | Einrichtung zur Messung kleiner Zeitintervalle |
-
1986
- 1986-05-01 JP JP9943386A patent/JPS62257067A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0662650A2 (de) * | 1994-01-10 | 1995-07-12 | Landis & Gyr Technology Innovation AG (Landis & Gyr Technology Innovation SA) (Landis & Gyr Technology Innovation Corp.) | Einrichtung zur Messung kleiner Zeitintervalle |
EP0662650A3 (de) * | 1994-01-10 | 1997-04-02 | Landis & Gyr Tech Innovat | Einrichtung zur Messung kleiner Zeitintervalle. |
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