JPS62251676A - Data generation device for multicore cable test - Google Patents

Data generation device for multicore cable test

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JPS62251676A
JPS62251676A JP61096267A JP9626786A JPS62251676A JP S62251676 A JPS62251676 A JP S62251676A JP 61096267 A JP61096267 A JP 61096267A JP 9626786 A JP9626786 A JP 9626786A JP S62251676 A JPS62251676 A JP S62251676A
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terminal group
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Relating To Insulation (AREA)

Abstract

PURPOSE:To easily detect terminal group data on each core of a multicore cable and accurate characteristic data by providing an inspection signal output means, a terminal group detecting means, a recording means, a 1st time measuring means, a characteristic detecting means, a 2nd time measuring means, a margin value setting means, a test data generating means, etc. CONSTITUTION:The inspection signal output means 101 outputs an inspection signal to the multicore cable 100, each terminal group data on the cable is recorded as an index index item in the recording means 103 by the terminal group detecting means 102, and the time required for the acquisition of data is measured by the 1st time measuring means 104 and recorded in the means 103 by terminal group data. Further, the characteristic detecting means 105 detects characteristic data on respective cores and records them by the terminal group data in the means 103 and the time required for the acquisition of characteristic data is measured by the 2nd time measuring means 106 and stored in the means by the terminal group data. Further, the test data generating means 112 adds the degree of a margin from the margin value setting means 111 to respective data in the means 103 and records the resulting data on the test data recording means 113.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は多芯ケーブル試験用データ作成装置に係り、多
芯ケーブルの導通、絶縁、耐圧試験を行うケーブルテス
ターの構成に好適する多芯ケーブル試験用データ作成装
置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a data creation device for multi-core cable testing, and relates to a multi-core cable suitable for the configuration of a cable tester that conducts continuity, insulation, and voltage resistance tests of multi-core cables. Related to test data creation device.

〔従来の技術〕 現在、絶縁被覆した複数の芯線からなる多芯ケーブルが
通信伝送網に多用されている。
[Prior Art] Currently, multicore cables consisting of a plurality of insulated core wires are often used in communication transmission networks.

そして、この多芯ケーブルにあっては高い信頼性を確保
する観点から、各芯線の絶縁抵抗や耐圧漏れ電流を所定
の範囲内に極めて小さく抑えることが必要であるので、
予め設定した試験信号を各芯線毎に加えて絶縁抵抗や耐
圧漏れ電流を検出して絶縁特性および耐圧特性を測定し
ていた。
In order to ensure high reliability in this multi-core cable, it is necessary to keep the insulation resistance and withstand voltage leakage current of each core wire extremely small within a predetermined range.
Insulation characteristics and voltage resistance characteristics were measured by applying a preset test signal to each core wire to detect insulation resistance and voltage leakage current.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかしながら、多芯ケーブルの絶縁特性や耐圧特性は、
芯線に用いる導線や絶縁被覆の種類、多芯ケーブルに接
続されるコネクタ等の接続状態によって大きな影響を受
けるし、多芯ケーブルが長くなれば各芯線の抵抗、イン
ダクタンスおよび芯線間のキャパシタンスもそれら絶縁
特性および耐圧特性に影響を及ぼし易く、従来のように
予め設定した同一試験信号を多芯ケーブルの各芯線に加
えて試験するだけでは各芯線毎の正確な検出結果が得ら
れず、不十分であった。
However, the insulation characteristics and voltage resistance characteristics of multicore cables are
The type of conductor and insulating coating used for the core wire, the connection state of the connector connected to the multi-core cable, etc. have a large effect, and as the multi-core cable becomes longer, the resistance and inductance of each core wire, and the capacitance between the core wires will also be affected by the insulation. This tends to affect the characteristics and voltage resistance characteristics, and simply testing by adding the same preset test signal to each core wire of a multicore cable as in the past is insufficient because accurate detection results for each core wire cannot be obtained. there were.

さらに、多芯ケーブルは2両端における各芯線毎の端子
組を探すことが極めて煩雑であり高い習熟度も要求され
ているので、簡単で能率の良い端子組検出手法が望まれ
ている。
Furthermore, searching for terminal sets for each core wire at both ends of a multi-core cable is extremely complicated and requires a high degree of skill, so a simple and efficient method for detecting terminal sets is desired.

本発明はこのような状況の下になされたもので。The present invention was made under these circumstances.

多芯ケーブルの各芯線毎の端子組データの検出が容易で
、各芯線毎の正確な特性データも簡単に得られるととも
に、この特性データに基づいて余裕度を持たせた試験用
データが自動的に得られる多芯ケーブル試験用データ作
成装置の提供を目的とする。
Terminal set data for each core wire of a multi-core cable can be easily detected, accurate characteristic data for each core wire can be easily obtained, and test data with margins are automatically generated based on this characteristic data. The purpose is to provide a data creation device for multi-core cable testing that can be obtained.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

このような問題点を解決するために0本発明はクレーム
対応図である第1図に示すような構成を有している。
In order to solve these problems, the present invention has a configuration as shown in FIG. 1, which is a diagram corresponding to claims.

すなわち、検査信号出力手段101は複数の芯線を有す
る多芯ケーブル(サンプルケーブル)100に検査信号
を切り換え出力するものである。
That is, the test signal output means 101 switches and outputs a test signal to a multicore cable (sample cable) 100 having a plurality of core wires.

端子組検出手段102はその多芯ケーブル100の両端
における各芯線毎の対応する端子組データを検出するも
のである。
The terminal set detection means 102 detects terminal set data corresponding to each core wire at both ends of the multicore cable 100.

記録手段103はその端子組検出手段102からの各端
子組データを見出し項目として記録するとともにこれら
各端子組データ毎にデータ記録領域を有している。
The recording means 103 records each terminal group data from the terminal group detecting means 102 as a heading item, and has a data recording area for each terminal group data.

第1の時間測定手段104は、上記検査信号出力時から
各端子組データが出力されるまでの各々の時間を測定し
、記録手段103のデータ記録領域へ各端子組データ毎
に対応させてそれら各測定時間を記録するものである。
The first time measuring means 104 measures each time from when the test signal is output to when each terminal set data is outputted, and stores the time in correspondence with each terminal set data in the data recording area of the recording means 103. Each measurement time is recorded.

特性検出手段105は記録手段103の各端子組データ
に基づいて各端子組毎の特性データを検出し、記録手段
103のデータ記録領域へ各端子組データ毎に対応させ
てそれら各特性データを記録するものである。
The characteristic detection means 105 detects characteristic data for each terminal group based on the terminal group data of the recording means 103, and records each characteristic data in correspondence with each terminal group data in the data recording area of the recording means 103. It is something to do.

第2の時間測定手段106は、上記検査信号出力時から
前記各端子組の特性データが出力されるまでの各々の時
間を測定し8記録手段103のデータ記録領域へ各端子
組データに対応させてそれら測定時間を記録するもので
ある。
The second time measuring means 106 measures each time from when the test signal is output to when the characteristic data of each terminal group is output, and stores the time in the data recording area of the recording means 103 corresponding to each terminal group data. and record the measurement times.

余裕値設定手段111は各端子組データに対応する検出
時間、特性データ、特性データ検出時間の少なくとも1
種類について余裕値を設定するものである。
The margin value setting means 111 sets at least one of the detection time, characteristic data, and characteristic data detection time corresponding to each terminal set data.
This is to set a margin value for each type.

試験用データ作成手段112は、記録手段103からの
各端子組データの検出時間、特性データもしくは特性デ
ータの検出時間に、余裕値設定手段111からの余裕値
を加えて試験用データを出力するものである。
The test data creation means 112 adds the margin value from the margin value setting means 111 to the detection time of each terminal set data, characteristic data, or characteristic data detection time from the recording means 103, and outputs test data. It is.

そして、試験用データ記録手段113は、試験用データ
作成手段112からの試験用データを記録するものであ
る。
The test data recording means 113 records the test data from the test data creation means 112.

さらに、−ヒ記特性検出手段105は絶縁特性検出手段
107もしくは耐圧特性検出手段109゜または絶縁特
性検出手段107および耐圧特性検出手段109で構成
され、上記第2の時間測定手段10Gが各絶縁特性の出
力されるまでの時間測定手段108および各耐圧特性の
出力されるまでの時間測定手段110から構成されてい
る。
Further, the characteristic detecting means 105 described in (h) is composed of an insulation characteristic detecting means 107 or a withstand voltage characteristic detecting means 109, or an insulation characteristic detecting means 107 and a withstand voltage characteristic detecting means 109, and the second time measuring means 10G is configured to detect each insulation characteristic. It is comprised of a time measuring means 108 until the output of each breakdown voltage characteristic and a time measuring means 110 until the output of each breakdown voltage characteristic.

〔作 用〕[For production]

このような本発明は、端子組検出手段102が多芯ケー
ブル100の各端子組データを記録手段103に見出し
項目として記録し、各端子組データが得られるまでの各
々の時間を第1の時間測定手段104が測定して記録手
11103内へ各端子組データ毎に記録し、記録手段1
03の各端子組データに基づいて特性検出手段105が
芯線毎の各特性データを検出して各端子組データ毎に記
録手段103に記録し、各特性データが得られるまでの
各々の時間を第2の時間測定手段106が測定して同様
に各端子組データ毎に記録手段103内に記録する。
According to the present invention, the terminal set detection means 102 records each terminal set data of the multicore cable 100 in the recording means 103 as a heading item, and each time until each terminal set data is obtained is recorded as a first time. The measuring means 104 measures and records each terminal set data in the recording hand 11103, and the recording means 1
The characteristic detection means 105 detects each characteristic data for each core wire based on each terminal group data of 03, records each terminal group data in the recording means 103, and records each time until each characteristic data is obtained. The time measurement means 106 of No. 2 measures and similarly records each terminal group data in the recording means 103.

さらに、試験用データ作成手段112が記録手段103
内の各特性データや各時間データに余裕値設定手段11
1からの余裕度を加えて試験用データを作成して試験用
データ記録手段113へ記録する。
Furthermore, the test data creation means 112 is connected to the recording means 103.
Margin value setting means 11 for each characteristic data and each time data in
Test data is created by adding the margin from 1 and recorded in the test data recording means 113.

〔実 施 例〕〔Example〕

以下本発明の詳細な説明する。 The present invention will be explained in detail below.

第2図は本発明に係る多芯ケーブル試験用データ作成装
置の一実施例を示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of the multi-core cable test data creation device according to the present invention.

まず8本発明の詳細な説明する前にその概略を説明する
First, before explaining the details of the present invention, its outline will be explained.

第2図において、複数の芯線を有する多芯ケーブル1の
両端には切換回路3が接続されており。
In FIG. 2, a switching circuit 3 is connected to both ends of a multicore cable 1 having a plurality of core wires.

この切換回路3には導通検出回路5.絶縁特性検出回路
13.耐圧特性検出回路17が切り換え接続されている
This switching circuit 3 includes a continuity detection circuit 5. Insulation property detection circuit 13. A breakdown voltage characteristic detection circuit 17 is switched and connected.

導通検出回路5にはCPUI 1および時間測定回路7
が、絶縁特性検出回路I3にはCPUI Iおよび時間
測定回路15が、耐圧特性検出回路17にはCPUII
および時間測定回路19が接続されており、それら時間
測定回路?、15.19は各々CPUI 1に接続され
ている。
The continuity detection circuit 5 includes a CPU 1 and a time measurement circuit 7.
However, the insulation characteristic detection circuit I3 includes the CPU I and the time measurement circuit 15, and the withstand voltage characteristic detection circuit 17 includes the CPU II.
and a time measurement circuit 19 are connected, and these time measurement circuits? , 15.19 are each connected to CPUI 1.

導通検出回路5.絶縁特性検出回路13.耐圧特性検出
回路17および時間測定回路15.19は共にCPUI
 1で制御された制御回路9によって制御されるととも
に、CPUIIからデータを入力可能に制御されている
Continuity detection circuit 5. Insulation property detection circuit 13. The withstand voltage characteristic detection circuit 17 and time measurement circuits 15 and 19 are both CPUUI
It is controlled by a control circuit 9 controlled by CPU II, and is also controlled so that data can be input from the CPU II.

CPUI 1には、メモリー21.出力端子23゜プリ
ンター 25a、CRTディスプレイ25b。
CPUI 1 has memory 21. Output terminal 23° printer 25a, CRT display 25b.

試験用データ作成回路27が接続され、試験用データ作
成回路27には余裕度設定回路29が接続されており、
余裕度設定回路29およびcputlにはキー入力回路
31が接続されている。
A test data creation circuit 27 is connected, and a margin setting circuit 29 is connected to the test data creation circuit 27.
A key input circuit 31 is connected to the margin setting circuit 29 and cputl.

次に9本発明に係る多芯ケーブル試験用データ作成装置
の詳細を説明する。
Next, details of the multi-core cable test data creation device according to the present invention will be explained.

多芯ケーブルlはサンプル用のものであり9例えば第3
図に示すように、端子]゛lと751を有する芯線1a
+端子T2とT52を有する芯線1b、端子T3.T5
3およびT54を有する芯線lc・・・からなっており
、各端子T1〜T54・・・は複数のスイッチ素子3A
〜3G・・・からなる切換回路3のそれらスイッチ素子
3A〜3G・・・の可動接点に接続されている。
The multicore cable l is for sample use.9 For example, the third
As shown in the figure, a core wire 1a having terminals ゛l and 751
+ core wire 1b having terminals T2 and T52, terminals T3. T5
3 and T54, and each terminal T1 to T54... has a plurality of switch elements 3A.
It is connected to the movable contacts of the switching elements 3A to 3G of the switching circuit 3 consisting of the switching elements 3A to 3G.

この切換回路3のスイッチ素子3A〜3G・・・は1回
路3接点構成のリレー回路で形成されており1例えば1
92個のスイッチ素子3A〜3G・・・を有している。
The switching elements 3A to 3G of this switching circuit 3 are formed of relay circuits with one circuit and three contacts.
It has 92 switch elements 3A to 3G...

切換回路3における各スイッチ素子3A〜3Gの3個の
固定接点は、各々導通検出口1/85.絶縁特性検出回
路13.耐圧特性検出回路17に接続されており、制御
回路9からの制御信号によって多芯ケーブル1の各端子
T1〜T54・・・が導通検出回路5.絶縁特性検出回
路13.耐圧特性検出回路17に切り換え接続されるよ
うになっている。
The three fixed contacts of each of the switching elements 3A to 3G in the switching circuit 3 each have a continuity detection port of 1/85. Insulation property detection circuit 13. The terminals T1 to T54 of the multicore cable 1 are connected to the withstand voltage characteristic detection circuit 17, and each terminal T1 to T54 of the multicore cable 1 is connected to the continuity detection circuit 5. Insulation property detection circuit 13. It is designed to be switched and connected to the breakdown voltage characteristic detection circuit 17.

第2図の導通検出回路5は、上述したスイッチ素子3A
〜3G・・・に対応する192個の単位検出回路33を
有して構成されている。この単位検出回路33は、第4
図に示すように、5v程度の直流電圧を検査信号として
出力するTTL直流増幅回路からなる信号発生回路35
と、この信号発生回路35に直列接続されコンパレータ
を有する受信回路37と、信号発生回路35と受信回路
37の接続点に接続された入出力兼用端子39とを有し
て形成されており、信号発生回路35および受信回路3
7には、これらを0N10FF制御する信号s、、s2
が入力可能になっている。
The continuity detection circuit 5 in FIG. 2 includes the above-mentioned switch element 3A.
It is configured with 192 unit detection circuits 33 corresponding to 3G, . . . This unit detection circuit 33
As shown in the figure, a signal generation circuit 35 consisting of a TTL DC amplifier circuit that outputs a DC voltage of approximately 5V as a test signal.
, a receiving circuit 37 connected in series to the signal generating circuit 35 and having a comparator, and an input/output terminal 39 connected to a connection point between the signal generating circuit 35 and the receiving circuit 37, Generation circuit 35 and reception circuit 3
7, signals s,, s2 for controlling these 0N10FF
is available for input.

各単位検出回路33の入出力兼用端子39は切換回路3
の各スイッチ回路3A〜3G・・・の固定接点に接続さ
れており1図中の符号DI +  D2は保護用ダイオ
ードである。
The input/output terminal 39 of each unit detection circuit 33 is connected to the switching circuit 3.
It is connected to the fixed contacts of each of the switch circuits 3A to 3G, etc., and the symbol DI+D2 in FIG. 1 is a protection diode.

この単位検出回路33は、制御信号SL、S2によって
信号発生回路35がONされ受信回路37がOIパFさ
れると、信号発生回路35から入出力兼用端子39を介
して5vの直流電圧が検査信号として出力され、多芯ケ
ーブル1の端子′1゛l〜T54・・・のいずれかに印
加可能になっている。
When the signal generation circuit 35 is turned ON and the reception circuit 37 is turned on by the control signals SL and S2, the unit detection circuit 33 detects a 5V DC voltage from the signal generation circuit 35 via the input/output terminal 39. It is output as a signal and can be applied to any one of the terminals '1'1 to T54, . . . of the multicore cable 1.

他方、信号発生回路35がOFFに受信回路37がON
されることにより1人出力兼用端子39からの受信信号
が所定のレベル以上あれば受信回路37から信号が出力
されるようになっている。
On the other hand, the signal generating circuit 35 is OFF and the receiving circuit 37 is ON.
As a result, if the received signal from the single output terminal 39 is at a predetermined level or higher, the signal is output from the receiving circuit 37.

すなわち、単位検出回路33は検査信号の出力回路とし
て機能する一方、信号の検出回路としても機能する。
That is, the unit detection circuit 33 functions as a test signal output circuit, and also functions as a signal detection circuit.

そして、導通検出回路5は、制御回路9によって単位検
出回路33の1個を検査信号出力回路として機催させ、
残りの単位検出回路33を検査信号検出回路として機能
させるとともに、検出信号の出力回v3や検出回路とし
て機能させる単位検出回路33を順次切り換え制御され
ている。
The continuity detection circuit 5 causes the control circuit 9 to operate one of the unit detection circuits 33 as a test signal output circuit,
The remaining unit detection circuits 33 are made to function as test signal detection circuits, and the unit detection circuits 33 that are made to function as detection signal output times v3 and detection circuits are sequentially switched and controlled.

一方、CPU(中央処理装置)11は演算装置。On the other hand, the CPU (central processing unit) 11 is an arithmetic unit.

内部制御装置、内部記憶装置等を有し、内部記憶装置内
の所定のプログラムや外部からの手動コマンド入力に従
って順次処理動作するものであり。
It has an internal control device, an internal storage device, etc., and sequentially performs processing operations according to a predetermined program in the internal storage device or manual command input from the outside.

検査信号を出力する単位検出回路33に接続した芯線の
端子と、この検査信号の出力される単位検出回路33の
接続された端子とを端子組データとして作成するように
構成されている。
The core wire terminals connected to the unit detection circuits 33 that output test signals and the terminals connected to the unit detection circuits 33 to which the test signals are output are created as terminal set data.

例えば、制御回路9によって切換回路3を介して多芯ケ
ーブル1の端子TIに接続された単位検出回路33を検
査信号出力回路として機能させる一方、残りの端子T2
〜T54に接続された単位検出回路33を検出回路とし
て機能させ、信号が導通する端子T51をCP[Jll
によって検出するとともに端子T1と端子T51とを芯
線1aの端子組データとして作成する。芯線1b、芯線
IC・・・についても同様である。
For example, the control circuit 9 causes the unit detection circuit 33 connected to the terminal TI of the multicore cable 1 via the switching circuit 3 to function as a test signal output circuit, while the remaining terminal T2
The unit detection circuit 33 connected to ~T54 is made to function as a detection circuit, and the terminal T51 where the signal is conductive is connected to CP[Jll
At the same time, the terminal T1 and the terminal T51 are created as terminal set data of the core wire 1a. The same applies to the core wire 1b, the core wire IC, and so on.

このように、導通検出回路5.制御回路9およびCPU
11によって多芯ケーブル1における芯線のいずれの端
子が端子組となるかが検出され。
In this way, continuity detection circuit 5. Control circuit 9 and CPU
11 detects which terminals of the core wires in the multicore cable 1 form a terminal group.

CPUJIは端子組データをメモリー21に見出し項目
としてデータ記録領域へに記録するよう構成されている
The CPUJI is configured to record terminal set data in the memory 21 as a heading item in a data recording area.

メモリー21はcpuitによって書込みおよび読出し
制御された電子的な記録媒体であり1例えば一般的なフ
ロッピーデスクや内臓されたRAM型ICであり、第5
図に示すように、データ記録領域への各端子組データ毎
に所定のデータ記録領域B、 C,D、 E、 F、 
G、 H,I、  、J・・・を有している。
The memory 21 is an electronic recording medium whose writing and reading are controlled by CPU1, and is, for example, a general floppy disk or a built-in RAM type IC.
As shown in the figure, predetermined data recording areas B, C, D, E, F,
It has G, H, I, , J...

時間測定回II′37は制御回路9によって制御され。The time measuring circuit II'37 is controlled by the control circuit 9.

導通検出回路5内の1つの単位検出回路33から検査信
1・)が出力された後、各端子組データが得られるまで
の各々の所要時間を測定してCPUI 1へ出力するも
のであり、CPUIIはそれら各時間データをメモリー
21における各端子組データ毎にデータ記録領域Bへ記
録する機能を有している。
After the test signal 1.) is output from one unit detection circuit 33 in the continuity detection circuit 5, the time required until each terminal group data is obtained is measured and output to the CPUI 1. The CPU II has a function of recording each of these time data in the data recording area B for each terminal group data in the memory 21.

絶縁特性測定回路13は、第6図に示すように。The insulation characteristic measuring circuit 13 is as shown in FIG.

検査信号として500V程度の直流電圧を出力する直流
信号発生部41と、その検査信号の印加に伴って多芯ケ
ーブルlから得られる直流電流を電圧変換しかつA/D
変換して得られる絶縁抵抗値をCPUIIおよび時間測
定回路15に出力する絶縁特性データ出力部43と、メ
モリー21の端子組データに基づいて切換回路3の1つ
のスイッチ素子3A〜3G・・・における固定接点のI
I囚に直流電圧を印加し、他のスイッチ素子3A〜3G
・・・の固定接点を共通接続するとともに絶縁特性デー
タ出力部43へ接続する切換部45からなっている。
A DC signal generator 41 that outputs a DC voltage of about 500V as a test signal, and an A/D converter that converts the DC current obtained from the multicore cable l in response to the application of the test signal.
An insulation characteristic data output section 43 outputs the insulation resistance value obtained by the conversion to the CPU II and the time measurement circuit 15, and one switch element 3A to 3G of the switching circuit 3 based on the terminal set data of the memory 21. Fixed contact I
Apply DC voltage to I, and switch to other switch elements 3A to 3G.
It consists of a switching section 45 that commonly connects the fixed contacts of .

なお、メモリー21の端子組データはcpuilによっ
て切換部45へ入力されるのは言うまでもない。
It goes without saying that the terminal set data in the memory 21 is input to the switching unit 45 by the CPU.

この絶縁特性測定回路13は、直流信号発生部41から
多芯ケーブル1の芯線の1本に500Vの直流電圧を印
加して残りの芯線を共通接続し。
This insulation characteristic measuring circuit 13 applies a DC voltage of 500 V to one of the core wires of the multicore cable 1 from the DC signal generator 41, and connects the remaining core wires in common.

この共通接続された芯線に流れる漏れ電流を絶縁特性デ
ータ出力部43へ加えて絶縁抵抗値を検出し、各芯線1
 a、  1 bt  1 c・・・毎に絶縁抵抗値を
CPUI lへ出力するものである。
The leakage current flowing through the commonly connected core wires is added to the insulation characteristic data output section 43 to detect the insulation resistance value, and each core wire 1
a, 1 bt 1 c..., the insulation resistance value is output to the CPU I.

時間測定回路15は、直流電圧を出力してから安定した
漏れ電流が得られるまでの各々の時間を測定してcpu
ttに出力する機能を有し、  CPu1tはそれら絶
縁゛抵抗値や測定時間を端子組データ毎にメモリー21
のデータ記録領域り、E(第5図参照)に記録する機能
を有している。
The time measuring circuit 15 measures each time from outputting a DC voltage until a stable leakage current is obtained, and
CPU1t has a function to output these insulation resistance values and measurement times to memory 21 for each terminal group data.
It has the function of recording data in the data recording area E (see FIG. 5).

耐圧特性測定回路17は、第7図に示すように。The breakdown voltage characteristic measuring circuit 17 is as shown in FIG.

検査信号として500V程度の交流電流を出力する交流
信号発生部47と、その検査信号の印加によって多芯ケ
ーブルlから得られる交流電流をA/D変換して得られ
る漏れ電流値をCPUI 1および時間測定回路15へ
出力する耐圧特性データ出力部49と、CPUIIによ
って入力されたメモリー21内の端子組データに基づい
て切換回路3の1つのスイッチ素子3A〜3G・・・の
固定接点の1つに交流電流を印加し、他のスイッチ素子
3A〜3G・・・の固定接点を共通接続するとともに耐
圧特性データ出力部43へ出力する切換部51からなっ
ている。
An AC signal generator 47 outputs an AC current of about 500 V as a test signal, and the leakage current value obtained by A/D converting the AC current obtained from the multicore cable l by applying the test signal is calculated by the CPU 1 and time. The withstand voltage characteristic data output section 49 outputs to the measurement circuit 15, and one of the fixed contacts of one of the switch elements 3A to 3G of the switching circuit 3 based on the terminal set data in the memory 21 inputted by the CPU II. It consists of a switching section 51 that applies an alternating current, commonly connects the fixed contacts of the other switching elements 3A to 3G, . . . , and outputs the data to the withstand voltage characteristic data output section 43.

この耐圧特性測定回路17は、交流信号発生部47から
多芯ケーブル1の芯線の1本に500Vの交流電流を流
し、共通接続された残りの芯線に流れる漏れ電流を耐圧
特性データ出力部49に加えて漏れ電流値を検出し、各
芯線1a、lb、IC・・・毎に耐圧特性として出力す
るものである。
This withstand voltage characteristic measuring circuit 17 causes an AC current of 500 V to flow from the AC signal generator 47 to one of the core wires of the multicore cable 1, and outputs a leakage current flowing through the remaining commonly connected core wires to the withstand voltage characteristic data output section 49. In addition, leakage current values are detected and outputted as breakdown voltage characteristics for each core wire 1a, lb, IC, . . . .

時間測定回路19は、各芯線1a、lb、lc・・・毎
に交流電流を出力してから安定した漏れ電流が得られる
までの各々の時間を測定してCPU11に出力する機能
を有し、cputtはそれら耐圧特性値や測定時間を端
子組データ毎にメモリー21のデータ記録領域H,I(
第5図参照)に記録する機能を有している。
The time measurement circuit 19 has a function of measuring each time from outputting an alternating current to each core wire 1a, lb, lc... until a stable leakage current is obtained, and outputting it to the CPU 11, cputt stores these voltage resistance characteristic values and measurement times for each terminal set data in the data recording areas H, I (
(See Figure 5).

余裕度設定回路29は、メモリー21に記録された端子
組データの検出所要時間、絶縁抵抗値。
The margin setting circuit 29 determines the detection time and insulation resistance value of the terminal set data recorded in the memory 21.

絶縁抵抗測定時間、耐圧特性の各々について余裕度を設
定する機能を有し、試験用データ作成回路27ではメモ
リー21の各々のデータに余裕度設定回路29からの余
裕度を加え各々試験用データを作成する機能を有してい
る。この余裕度は実施に検査する多芯ケーブル1の特性
のばらつきを考慮して決定される。
It has a function to set a margin for each of the insulation resistance measurement time and withstand voltage characteristics, and the test data creation circuit 27 adds the margin from the margin setting circuit 29 to each data in the memory 21 and creates each test data. It has the ability to create. This margin is determined in consideration of variations in the characteristics of the multicore cable 1 to be actually inspected.

CPUIIはメモリー21に記録されたデータを試験用
データ作成回路27へ出力するとともに。
The CPU II outputs the data recorded in the memory 21 to the test data creation circuit 27.

試験用データ作成回路27で作成された試験用データを
再びメモリー21のデータ記録領域C,F。
The test data created by the test data creation circuit 27 is transferred to the data recording areas C and F of the memory 21 again.

G、  J (第5図参照)に記録するよう構成されて
いる。
G, J (see Figure 5).

なお、余裕度設定回路29における設定値は。Note that the setting value in the margin setting circuit 29 is as follows.

端子組データの検出所要時間、絶縁抵抗値、絶縁抵抗測
定時間、耐圧特性の1種類以上任意であり。
One or more of the following are optional: terminal assembly data detection time, insulation resistance value, insulation resistance measurement time, and withstand voltage characteristics.

しかもキー入力回路31で外部からも設定可能であり、
そのキー入力回路31はCPUI 1を直接制御可能に
もなっている。
Moreover, it can also be set externally using the key input circuit 31.
The key input circuit 31 is also capable of directly controlling the CPUI 1.

さらに、cputtは、メモリー21内のヰ仝出データ
や作成された試験用データを出力端子23から随時に出
力させたり、プリンター25aやCRTデスプレイ25
bに出力可能に個性されている。
Furthermore, cputt outputs the output data in the memory 21 and created test data from the output terminal 23 at any time,
It is individualized so that it can be output to b.

なお、上述したCPUIIを中心とする構成要素の動作
は、以下のフローチャートに基づく動作説明によって更
に明らかになるであろう。
Note that the operations of the components centering on the CPU II described above will be further clarified by the operation explanation based on the following flowchart.

次に、このように構成された本発明の多芯ケーブル試験
用データ作成装置の動作を、第8図のフローチャートを
用いて説明する。
Next, the operation of the multi-core cable test data creation device of the present invention configured as described above will be explained using the flowchart shown in FIG.

プログラムがスタートしてCPUIIや構成要素が動作
開始する。ステップ200にてサンプルとなる多芯ケー
ブル1を切換回路3に接続し、ステップ201にて導通
検出回路5および時間測定回路7から端子組データおよ
び所要時間を得た後。
The program starts and the CPU II and components start operating. After connecting the sample multicore cable 1 to the switching circuit 3 in step 200 and obtaining terminal set data and required time from the continuity detection circuit 5 and time measurement circuit 7 in step 201.

ステップ202にてそれら端子組データおよび所要時間
を第9図(1)のようにメモリー21内のデータ記録領
域A、 Bに記録する。
In step 202, the terminal set data and the required time are recorded in data recording areas A and B in the memory 21 as shown in FIG. 9(1).

ステップ203では多芯ケーブル1の未測定個所の有無
を判断し、YESの場合にはステップ201に戻って同
じ動作を繰り返えす。
In step 203, it is determined whether there are any unmeasured parts of the multicore cable 1, and if YES, the process returns to step 201 and the same operation is repeated.

全ての端子の検査が終了してステップ203がNoにな
った場合には、ステップ204にてメモリー21に記録
された端子組データに基づいて多芯ケーブル1の絶縁特
性検査端子を決定し、ステップ205にて絶縁特性検出
回路13および時間測定回路15から絶縁抵抗値および
検出所要時間を得て、ステップ206にてその絶縁抵抗
値および測定所要時間を第9図(2)のようにメモリー
21のデータ記録領域り、Eに記録する。
If all the terminals have been inspected and the result in step 203 is No, then in step 204 the insulation characteristic test terminals of the multi-core cable 1 are determined based on the terminal set data recorded in the memory 21, and the step In step 205, the insulation resistance value and the required detection time are obtained from the insulation characteristic detection circuit 13 and the time measurement circuit 15, and in step 206, the insulation resistance value and the required measurement time are stored in the memory 21 as shown in FIG. 9(2). The data is recorded in the data recording area E.

次に、ステップ207では未測定個所の有無を判断し、
YESの場合にはステップ204に戻って同じ動作を繰
り返す。
Next, in step 207, it is determined whether there are any unmeasured locations,
If YES, the process returns to step 204 and repeats the same operation.

ステップ207がNoになった場合には、ステップ20
Bにてメモリー21に記録された端子組データに基づい
て多芯ケーブル1の耐圧特性検査端子を決定し、ステッ
プ209にて耐圧特性検出回路13および時間測定回路
19から漏れ電流値および検出所要時間を得る。ステッ
プ210では漏れ電流値および測定所要時間を第9図(
3)のようにメモリー21のデータ記録領域H,fに記
録する。
If step 207 is No, step 20
At step B, the terminals for voltage resistance characteristic testing of the multicore cable 1 are determined based on the terminal set data recorded in the memory 21, and at step 209, the leakage current value and detection time are determined from the voltage resistance characteristic detection circuit 13 and the time measuring circuit 19. get. In step 210, the leakage current value and the measurement time required are shown in FIG.
3) is recorded in the data recording areas H and f of the memory 21.

そして、ステップ211では未測定個所の有無を判断し
、YESの場合にはステップ208に戻って同じ動作を
繰り返す。
Then, in step 211, it is determined whether there are any unmeasured parts, and if YES, the process returns to step 208 and the same operation is repeated.

ステ、プ211がNOの場合にはステップ212でメモ
リー21内の端子組データの得られる所要時間に余裕度
を付加して試験用データを作成し。
If step 211 is NO, test data is created by adding margin to the time required to obtain the terminal set data in memory 21 in step 212.

ステップ213ではメモリー21内の絶縁抵抗値および
測定所要時間に余裕度を付加して試験用データを作成す
る。
In step 213, a margin is added to the insulation resistance value in the memory 21 and the time required for measurement to create test data.

さらに、ステップ214では漏れ電流値に余裕度を付加
して試験用データを作成し、ステップ2I5では、それ
ら試験用データを第9図(4)〜(6)のようにメモリ
ー21のデータ記録領域C9F、G、Jに試験用データ
として記録して終了する。
Further, in step 214, a margin is added to the leakage current value to create test data, and in step 2I5, the test data is stored in the data recording area of the memory 21 as shown in FIG. 9 (4) to (6). Record it as test data on C9F, G, and J and end.

なお、第9図は便宜上、各試験用データはその作成手順
に合わせて個別に示したが、記録状態は第5図のような
フォーマットで記録される。
Although FIG. 9 shows each test data individually according to its creation procedure for convenience, the recording state is recorded in a format as shown in FIG. 5.

ステップ211が終了した場合にメモリー21に記録さ
れた各種データを、ステップ216にて例えばプリンタ
25aを介して印刷出力可能であり、さらに図示はしな
いが随時に各種データをCRTディスプレイ25bに表
示可能である。
When step 211 is completed, the various data recorded in the memory 21 can be printed out in step 216 via, for example, the printer 25a, and furthermore, although not shown, various data can be displayed on the CRT display 25b at any time. be.

そして1本発明の多芯ケーブル試験用データ作成装置を
用いたケーブルテスターでは1例えば。
For example, in a cable tester using the multi-core cable test data creation device of the present invention.

上述したサンプル用多芯ケーブルlと同種類の被試験ケ
ーブルにおいて、メモリー21のデータ記録領域Gにあ
る試験用時間データに従って絶縁検査信号として直流電
圧を印加し、得られた絶縁抵抗値がデータ記録領域F内
の絶縁抵抗値の範囲内にあるか否かが検査され、またメ
モリー21内のデータ記録領域1の試験用時間データに
従って交流電流を印加し、得られた値がデータ記録領域
J内の値を越えていないかが検査される。
In the cable under test of the same type as the sample multicore cable l described above, a DC voltage is applied as an insulation test signal according to the test time data in the data recording area G of the memory 21, and the obtained insulation resistance value is recorded as data. It is tested whether the insulation resistance value is within the range of the insulation resistance value in the area F, and an alternating current is applied according to the test time data of the data recording area 1 in the memory 21, and the obtained value is within the range of the insulation resistance value in the data recording area J. is checked to see if it exceeds the value.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明の多芯ケーブル試験用データ
作成装置は、多芯ケーブルの各芯線の導通試験および端
子組データ取得が必要最小限の短時間で行えるし、各芯
線毎の正確名導通試験、高精度の絶縁および耐圧特性デ
ータ検出が短時間で可能であるとともに、それら得られ
た特性データから余裕度を付加した各芯線毎の試験用デ
ータを簡単に得られる利点を有する。
As explained above, the multi-core cable test data creation device of the present invention can conduct continuity tests for each core wire of a multi-core cable and acquire terminal set data in the minimum necessary time, and can accurately identify the continuity test for each core wire. It has the advantage that it is possible to test and detect highly accurate insulation and voltage resistance characteristic data in a short time, and that test data for each core wire with a margin added can be easily obtained from the obtained characteristic data.

従って1本発明の多芯ケーブル試験用データ作成装置を
ケーブルテスターに用いると、極めて検査能率が高くな
る。
Therefore, if the multi-core cable test data creation device of the present invention is used in a cable tester, the testing efficiency will be extremely high.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明に係る多芯ケーブル試験用データ作成装
置の構成を示すクレーム対応図、第2図は本発明の多芯
ケーブル試験用データ作成装置の一実施例を示すブロッ
ク図、第3図は第2図の多芯ケーブルおよび切換回路を
示す図、第4図は第2図の導通検出回路を構成する単位
検出回路を示す回路図、第5図は第2図に示すメモリー
内の記録領域を説明する図、第6図および第7図は第2
図に示す絶縁特性検出回路および耐圧特性検出回路を説
明する図、第8図は本発明の動作手−を示すフローチャ
ート、第9図は第8図の動作に従って変化するメモリー
内の記録状態を説明する図である。 1・・・・・・多芯ケーブル 3・・・・・・切換回路 5・・・・・・導通検出回路 7・・・・・・時間測定回路 9・・・・・・制御回路 11・・・・・・CPU 13・・・・・・絶縁特性検出回路 15.19・・・時間測定回路 17・・・・・・耐圧特性検出回路 21・・・・・・メモリー 27・・・・・・試験用データ作成回路29・・・・・
・余裕度設定回路 33・・・・・・単位検出回路 41・・・・・・直流信号発生部 43・・・・・・絶縁特性データ出力部45.51・・
・切換部 47・・・・・・交流信号発生部 49・・・・・・耐圧特性データ出力部100・・・・
・多芯ケーブル 101・・・・・検査信号出力手段 102・・・・・端子組検出手段 103・・・・・記録手段 104・・・・・第1の時間測定手段 105・・・・・特性検出手段 106・・・・・第2の時間測定手段 107・・・・・絶縁特性検出手段 108.110・時間測定手段
FIG. 1 is a claim correspondence diagram showing the configuration of the multi-core cable test data creation device according to the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of the multi-core cable test data creation device of the present invention, and FIG. The figure shows the multicore cable and switching circuit shown in Fig. 2, Fig. 4 is a circuit diagram showing the unit detection circuit that constitutes the continuity detection circuit shown in Fig. 2, and Fig. 5 shows the circuit diagram in the memory shown in Fig. 2. Figures 6 and 7 are diagrams explaining the recording area.
FIG. 8 is a flowchart showing the operation method of the present invention, and FIG. 9 explains the recording state in the memory that changes according to the operation shown in FIG. 8. This is a diagram. 1... Multi-core cable 3... Switching circuit 5... Continuity detection circuit 7... Time measurement circuit 9... Control circuit 11. ... CPU 13 ... Insulation property detection circuit 15.19 ... Time measurement circuit 17 ... Withstand voltage property detection circuit 21 ... Memory 27 ... ...Test data creation circuit 29...
- Margin setting circuit 33...Unit detection circuit 41...DC signal generation section 43...Insulation characteristic data output section 45.51...
・Switching unit 47...AC signal generation unit 49...Voltage characteristic data output unit 100...
・Multi-core cable 101...Test signal output means 102...Terminal assembly detection means 103...Recording means 104...First time measuring means 105... Characteristic detection means 106...Second time measurement means 107...Insulation property detection means 108, 110, time measurement means

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)複数の芯線を有する多芯ケーブルに検査信号を切
り換え出力する検査信号出力手段と、前記多芯ケーブル
の両端における前記各芯線毎の端子組データを検出する
端子組検出手段と、この端子組検出手段からの前記各端
子組データを見出し項目として記録しかつこれら各端子
組データ毎にデータ記録領域を有する記録手段と、前記
検査信号出力手段からの検査信号出力時から前記各端子
組データが前記検査信号出力手段から出力されるまでの
各々の時間を測定し、前記記録手段の前記データ記録領
域へ前記各端子組データに対応させてそれら測定時間を
記録する第1の時間測定手段と、 前記記録手段の各端子組データに基づいて前記各端子組
毎の特性データを検出し、前記記録手段の前記データ記
録領域へ前記各端子組データに対応させて前記各特性デ
ータを記録する特性検出手段と、 前記検査信号出力手段からの検査信号出力時から前記各
特性データが前記特性検出手段から出力されるまでの各
々の時間を測定し、前記記録手段の前記データ記録領域
へ前記各端子組データに対応させてそれら測定時間を記
録する第2の時間測定手段と、 前記各端子組データの検出時間、前記各特性データ、前
記各特性データの検出時間の少なくとも1種類について
余裕値を設定する余裕値設定手段と、 前記記録手段からの各端子組データの検出時間、前記各
特性データもしくは各特性データの検出時間に、前記余
裕値設定手段からの余裕値を加えて試験用データを出力
する試験用データ作成手段と、を具備してなることを特
徴とする多芯ケーブル試験用データ作成装置。
(1) Test signal output means for switching and outputting a test signal to a multi-core cable having a plurality of core wires, terminal set detection means for detecting terminal set data for each core wire at both ends of the multi-core cable, and this terminal recording means for recording each terminal group data from the group detecting means as a heading item and having a data recording area for each terminal group data; a first time measuring means for measuring each time until the test signal is outputted from the test signal outputting means, and recording the measured times in the data recording area of the recording means in correspondence with the respective terminal group data; , a characteristic of detecting characteristic data for each terminal group based on each terminal group data of the recording means, and recording each of the characteristic data in the data recording area of the recording means in correspondence with the respective terminal group data. a detecting means, measuring each time from when a test signal is output from the test signal output means until each of the characteristic data is output from the characteristic detecting means, and recording each of the terminals to the data recording area of the recording means; a second time measuring means for recording measurement times corresponding to the set data; and setting a margin value for at least one of the detection time of each terminal set data, the each characteristic data, and the detection time of each characteristic data. margin value setting means for adding the margin value from the margin value setting means to the detection time of each terminal group data, the detection time of each characteristic data or the detection time of each characteristic data from the recording means, and outputting test data. 1. A multicore cable test data creation device, comprising: test data creation means for testing.
(2)前記特性検出手段が絶縁特性検出手段であり、前
記第2の時間測定手段が各絶縁特性の出力されるまでの
時間測定手段である特許請求の範囲第1項記載の多芯ケ
ーブル試験用データ作成装置。
(2) The multicore cable test according to claim 1, wherein the characteristic detecting means is an insulation characteristic detecting means, and the second time measuring means is a time measuring means until each insulation characteristic is output. data creation device.
(3)前記特性検出手段が耐圧特性検出手段であり、前
記第2の時間測定手段が各耐圧特性の出力されるまでの
時間測定手段である特許請求の範囲第1項記載の多芯ケ
ーブル試験用データ作成装置。
(3) The multi-core cable test according to claim 1, wherein the characteristic detecting means is a withstand voltage characteristic detecting means, and the second time measuring means is a time measuring means until each withstand voltage characteristic is output. data creation device.
(4)前記特性検出手段が絶縁特性検出手段および耐圧
特性検出手段からなり、 前記第2の時間測定手段が各絶縁特性の出力されるまで
の時間測定手段および各耐圧特性の出力されるまでの時
間測定手段である特許請求の範囲第1項記載の多芯ケー
ブル試験用データ作成装置。
(4) The characteristic detecting means includes an insulation characteristic detecting means and a withstand voltage characteristic detecting means, and the second time measuring means comprises a time measuring means until each insulation characteristic is output and a time until each withstand voltage characteristic is output. The multicore cable test data creation device according to claim 1, which is a time measuring means.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05307063A (en) * 1992-04-28 1993-11-19 Nippon Avionics Co Ltd Cable withstand voltage tester and testing method

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JPH05307063A (en) * 1992-04-28 1993-11-19 Nippon Avionics Co Ltd Cable withstand voltage tester and testing method

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