JPS62236146A - Optical pick-up - Google Patents

Optical pick-up

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JPS62236146A
JPS62236146A JP61078938A JP7893886A JPS62236146A JP S62236146 A JPS62236146 A JP S62236146A JP 61078938 A JP61078938 A JP 61078938A JP 7893886 A JP7893886 A JP 7893886A JP S62236146 A JPS62236146 A JP S62236146A
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JP
Japan
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signal
light emitting
lens
light
semiconductor laser
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JP61078938A
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Japanese (ja)
Inventor
Yorifumi Inada
順史 稲田
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Sharp Corp
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Sharp Corp
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Abstract

PURPOSE:To easily detect the position dislocation direction of a lens for adjusting a focus by forming at least two light emitting parts at a semiconductor laser element, and setting these light emitting parts by making respective light emitting shafts mutually parallel and dislocating the position backward and forward on the light emitting shafts. CONSTITUTION:Laser light 10 and 11 are photodetected by photo diodes 8 and 9, and a high frequency signal (RF signal 1 and RF signal 2) to extract the alternating current component of the photodetected light signal is sent to an electronic circuit as a reading signal from the recording surface of a disk 5. When the code of the signal of the difference is confirmed by obtaining the difference signal between the RF signal 1 and the RF signal 2, it can be easily judged whether or not a lens 4 is dislocated and positioned to any backward and forward sides on the light emitting shaft. Consequently, in an optical pick-up 1, by making the difference signal into a focus error signal, a focus servo can be operated so as to correct the position location of the lens 4.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体レーザの自己結合効果を利用してディ
スク等から信号を読み取る方式の光ピックアップに関す
るものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an optical pickup that reads signals from a disk or the like by utilizing the self-coupling effect of a semiconductor laser.

〔従来技術〕[Prior art]

半導体レーザの自己結合効果を利用して信号の読み取り
を行う光ピンクアップは、一般に、5000P (Se
lf  Coupled  0ptical  Pic
kup)と称されている。
Optical pink-up, which uses the self-coupling effect of semiconductor lasers to read signals, is generally 5000P (Se
lf Coupled 0ptical Pic
kup).

この種の光ピックアップ21は、第5図に示すように、
1個の半導体レーザ素子22と記録媒体となるディスク
24との間に、レーザ光26を集光させるレンズ23が
このレーザ光の光軸方向に移動自在に配置されている。
This type of optical pickup 21, as shown in FIG.
A lens 23 that focuses laser light 26 is disposed between one semiconductor laser element 22 and a disk 24 serving as a recording medium so as to be movable in the optical axis direction of this laser light.

また半導体レーザ素子22の後側ミラー面の発光部には
、これと対向してホトダイオード25が配置されている
。上記の光ピックアップ21によってディスク24の記
録を読み取る場合、半導体レーザ素子22を定電流にて
動作させて、ディスク24に対しレーザ光26を半導体
レーザ素子22の発光部から投光させる。半導体レーザ
素子22から投光されたレーザ光26は、レンズ23に
よりディスク24の記録面上に集光したのち反射する。
Further, a photodiode 25 is arranged at the light emitting section of the rear mirror surface of the semiconductor laser element 22, facing the light emitting section thereof. When the optical pickup 21 described above reads the recording on the disk 24, the semiconductor laser element 22 is operated with a constant current, and the laser beam 26 is projected onto the disk 24 from the light emitting part of the semiconductor laser element 22. Laser light 26 projected from semiconductor laser element 22 is focused onto the recording surface of disk 24 by lens 23 and then reflected.

この反射したレーザ光26は、再びレンズ23により集
光されたのち、半導体レーザ素子22の発光部に入射す
る。
This reflected laser light 26 is again focused by the lens 23 and then enters the light emitting portion of the semiconductor laser element 22 .

このとき、半導体レーザ素子22は自己結合効果により
、この入光したレーザ光26に基づいて半導体レーザ素
子22の後側ミラー面の発光部から出力するので、この
出力光27をホトダイオード25にて受光し、この受光
した光信号の交流成分を抽出した高周波信号(以下RF
倍信号称す)をディスク24の記録面からの読み取り信
号として、電子回路へ送出される。これにより、光ピッ
クアップ21はディスク24の記録を読み取ることにな
る。上記の5coop方式による信号読み取り方法とし
ては、その他、半導体レーザの前側ミラー面からの光出
力の変化を読み取る方法、或いは抵抗の変化を読み取る
方法などが知られている。
At this time, due to the self-coupling effect, the semiconductor laser element 22 outputs from the light emitting part on the rear mirror surface of the semiconductor laser element 22 based on the incident laser light 26, so this output light 27 is received by the photodiode 25. Then, a high frequency signal (hereinafter referred to as RF) is obtained by extracting the alternating current component of the received optical signal.
The double signal) is read from the recording surface of the disk 24 and sent to the electronic circuit as a read signal. As a result, the optical pickup 21 reads the recording on the disc 24. Other known signal reading methods using the 5-coop system include a method of reading a change in optical output from the front mirror surface of a semiconductor laser, a method of reading a change in resistance, and the like.

ところで、上記第5図に示した光ピックアップ21にお
いて、レンズ23の位置Zと、前述のRF倍信号振幅と
の関係は、第6図に示すようになる。この場合、RF倍
信号振幅のピークを示すレンズ23の位置Z0は、光ピ
ンクアップ21のジャストホーカス位置を示す。すなわ
ち、この20点にレンズ23が位置する場合には、半導
体レーザ素子22から発したレーザ光26がディスク2
4の記録面上に集光し、ディスク24からの反射光が半
導体レーザ素子22の発光点に丁度集光する状態となる
。このため、通常、RF倍信号最大となる20点にレン
ズ23が位置するように光学系が配置される。
Incidentally, in the optical pickup 21 shown in FIG. 5, the relationship between the position Z of the lens 23 and the above-mentioned RF multiplied signal amplitude is as shown in FIG. In this case, the position Z0 of the lens 23 indicating the peak of the RF multiplied signal amplitude indicates the just focus position of the optical pink-up 21. That is, when the lens 23 is located at these 20 points, the laser beam 26 emitted from the semiconductor laser element 22 is directed toward the disk 2.
The reflected light from the disk 24 is focused on the light emitting point of the semiconductor laser element 22. For this reason, the optical system is usually arranged so that the lens 23 is located at 20 points where the RF multiplied signal is maximum.

ところが、上記従来の構造では、レンズ23の位置が2
0点からずれて配置されていた場合、RF倍信号振幅が
ジャストホーカス状態より低下しているため、このRF
倍信号よりレンズ23の位置が20点からずれているこ
とは検知し得るものの、レンズ23の位置が20点の前
後いずれの側にずれているのかを検知することはできな
いことになる。そのため、レンズ23の位置を20点に
修正するためのフォーカシングサーボをいずれの向きに
動作させてよいか判断できないという欠点を有していた
However, in the conventional structure described above, the position of the lens 23 is
If the RF multiplication signal amplitude is shifted from the zero point, this RF
Although it is possible to detect from the multiplication signal that the position of the lens 23 has deviated from the 20th point, it is not possible to detect which side of the 20th point the position of the lens 23 has deviated from. Therefore, there was a drawback that it was impossible to determine in which direction the focusing servo for correcting the position of the lens 23 at 20 points should be operated.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は、上記従来の問題点を考慮して成されたもので
あって、半導体レーザの自己結合効果を利用して信号の
読み取りを行う光ピックアップにおいて、この光ピック
アップの読み取りにおける焦点調整用レンズの位置ずれ
方向を容易に検知することのできる光ピックアップの提
供を目的とするものである。
The present invention has been made in consideration of the above-mentioned conventional problems, and provides an optical pickup that uses the self-coupling effect of a semiconductor laser to read signals. The object of the present invention is to provide an optical pickup that can easily detect the direction of positional shift.

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

本発明に係る光ピックアップは、上記の目的を達成する
ために、半導体レーザ素子の発光部から発した光を、発
光軸上に移動自在に配置されたレンズを介して光学的記
録媒体に集光させ、この記録媒体から反射した読み取り
信号となる光を再び上記レンズを介して半導体レーザ素
子の発光部に集光し、これに基づいて半導体レーザ素子
の後側ミラー面の発光部から読み取り信号となる出力光
を得る光ピックアップにおいて、上記半導体レーザ素子
に少なくとも2つの発光部を形成し、これら発光部を、
各発光軸が互いに平行で、かつ発光軸上を前後に位置ず
れさせて設定して、上記各発光部から発した光の光学的
記録媒体からの反射光を抽出した信号の振幅がそれぞれ
異なることを利用して、上記レンズの位置ずれ方向を検
知しうるように構成したことを特徴とするものである。
In order to achieve the above object, an optical pickup according to the present invention focuses light emitted from a light emitting part of a semiconductor laser element onto an optical recording medium via a lens movably disposed on a light emitting axis. The light reflected from this recording medium, which becomes a read signal, is again focused on the light emitting part of the semiconductor laser element through the lens, and based on this, the light that becomes a read signal is generated from the light emitting part of the rear mirror surface of the semiconductor laser element. In an optical pickup that obtains an output light of
The light emitting axes are set parallel to each other and shifted back and forth on the light emitting axes, so that the amplitudes of the signals extracted from the reflected light from the optical recording medium of the light emitted from each of the light emitting parts are different. The present invention is characterized in that the direction of positional shift of the lens can be detected using the following.

なお、光ピックアップには、本発明が提供する発光軸方
向のサーボ(いわゆるフォーカスサーボ)以外にも発光
軸に垂直な方向のサーボ(トラッキングサーボやタンジ
エンシアルサーボ)を必要とする。本発明の光ピックア
ップにおいても、この発光軸に垂直な方向のサーボには
ウオブリング法などの従来の方法を用いればよい。
In addition to the servo in the direction of the light emission axis (so-called focus servo) provided by the present invention, the optical pickup requires a servo in the direction perpendicular to the light emission axis (tracking servo or tangential servo). Also in the optical pickup of the present invention, a conventional method such as the wobbling method may be used for the servo in the direction perpendicular to the light emitting axis.

〔実施例〕〔Example〕

本発明の一実施例を第1図乃至第4図に基づいて説明す
れば、以下の通りである。
An embodiment of the present invention will be described below based on FIGS. 1 to 4.

光ピックアップ1は、第1図に示すように、2個の半導
体レーザ素子2・3と、記録媒体となるディスク5との
間における半導体レーザ素子2・3の発光軸線上に、半
導体レーザ素子2・3から発するレーザ光6・7を集束
させるレンズ4が、上記発光軸方向に移動自在となるよ
うに配置されている。上記2個の半導体レーザ素子2・
3は、互いの発光軸が平行を成し、かつ各発光部がこの
発光軸方向において前後に所定の距離aだけずれた位置
に配置されている。半導体レーザ素子2・3の後側ミラ
ー面の発光部には、これらと対向してそれぞれホトダイ
オード8・9が配置され、このホトダイオード8・9に
よって半導体レーザ素子2・3の後側ミラー面の発光部
からの出力光を検知し得るように構成されている。
As shown in FIG. 1, the optical pickup 1 has a semiconductor laser element 2 on the emission axis of the semiconductor laser elements 2 and 3 between the two semiconductor laser elements 2 and 3 and a disk 5 serving as a recording medium. - A lens 4 that focuses the laser beams 6 and 7 emitted from the lens 3 is arranged so as to be movable in the direction of the light emission axis. The above two semiconductor laser elements 2.
3, the light emitting axes are parallel to each other, and each light emitting part is arranged at a position shifted by a predetermined distance a back and forth in the direction of the light emitting axis. Photodiodes 8 and 9 are arranged in the light emitting portions of the rear mirror surfaces of the semiconductor laser elements 2 and 3, respectively, and are arranged opposite to them. It is configured to be able to detect the output light from the section.

上記の構成において、半導体レーザ素子2・3を定電流
にて動作させると、ディスク5に向けてそれぞれレーザ
光6・7が発光部から発する。このレーザ光6・7は、
レンズ4によりディスク5の記録面上に集束したのち、
反射する。ディスク5からの読み取り信号となる反射し
たレーザ光6・7は、再びレンズ4により集束して、半
導体レーザ素子2・3の発光部に入射する。この入射し
たレーザ光6・7に基づいて、半導体レーザ素子2・3
の後側ミラー面の発光部からレーザ光10・11が出力
される。このレーザ光10・11は、ホトダイオード8
・9にて受光され、この受光した光信号の交流成分を抽
出した高周波信号(以□下、RF信号1・RF信号2と
称す)を、ディスク5の記録面からの読み取り信号とし
て、電子回路へ送出される。
In the above configuration, when the semiconductor laser elements 2 and 3 are operated with a constant current, laser beams 6 and 7 are emitted from the light emitting parts toward the disk 5, respectively. These laser beams 6 and 7 are
After being focused onto the recording surface of the disk 5 by the lens 4,
reflect. The reflected laser beams 6 and 7 serving as read signals from the disk 5 are again focused by the lens 4 and enter the light emitting portions of the semiconductor laser elements 2 and 3. Based on the incident laser beams 6 and 7, the semiconductor laser elements 2 and 3
Laser beams 10 and 11 are output from the light emitting section on the rear mirror surface of the mirror. These laser beams 10 and 11 are transmitted through a photodiode 8
・The high frequency signals (hereinafter referred to as RF signal 1 and RF signal 2) obtained by extracting the alternating current components of the received optical signals are sent to the electronic circuit as signals read from the recording surface of the disk 5. sent to.

このように構成することによって、レンズ4の位置Zと
、RF信号1及びRF信号2との関係は、第2図(a)
に示すようになる。第2図(a)のグラフの縦軸はRF
信号1及びRF信号2の振幅を示し、横軸はレンズ4の
位置Zを示している。
With this configuration, the relationship between the position Z of the lens 4 and the RF signals 1 and 2 is as shown in FIG. 2(a).
It becomes as shown in . The vertical axis of the graph in Figure 2 (a) is RF
The amplitudes of the signal 1 and the RF signal 2 are shown, and the horizontal axis shows the position Z of the lens 4.

同図において、レンズ4の位置が21点のときRF信号
lは最大値となり、22点のときRF信号2が最大値と
なる。これは、半導体レーザ素子2・3の位置が発光軸
上で前後にずれているためであって、各半導体レーザ素
子2・3から発するレーザ光6・7をレンズ4によりデ
ィスク5の記録面上に最も集光させ得るレンズ4の位置
が異なることに起因する。これにより、上記最大値のず
れた2つの信号によって、レンズ4が上記発光軸上の前
後いずれの側にずれて位置しているかを検知することが
可能となる。具体的には、例えば第2図(b)に示すよ
うに、RF信号1とRF信号2との差信号を、電子回路
を通して得ることにより、この差の信号の符号を確認す
れば、レンズ4が発光軸上の前後いずれの側にずれて位
置しているかを容易に判断することができる。従って、
光ピックアップlにおいては、この差信号をフォーカス
エラー信号とすることにより、レンズ4の位置ずれを修
正するようにフォーカスサーボを作動させることができ
る。尚、レンズ4の位置は上記差信号がOとなる位置に
設定するのが最適であるが、この位置では、RF信号1
及びRF信号2のいずれも振幅が最大値とはならない。
In the figure, when the lens 4 is at the 21st point, the RF signal 1 has the maximum value, and when the lens 4 is at the 22nd point, the RF signal 2 has the maximum value. This is because the positions of the semiconductor laser elements 2 and 3 are shifted back and forth on the emission axis, and the laser beams 6 and 7 emitted from each semiconductor laser element 2 and 3 are directed onto the recording surface of the disk 5 by the lens 4. This is due to the difference in the position of the lens 4 that can best focus the light. This makes it possible to detect which side of the light emitting axis the lens 4 is deviated from, forward or backward, based on the two signals whose maximum values are deviated. Specifically, as shown in FIG. 2(b), for example, by obtaining a difference signal between RF signal 1 and RF signal 2 through an electronic circuit, and confirming the sign of this difference signal, the lens 4 It is possible to easily determine which side of the light-emitting axis the light-emitting axis is shifted from, forward or backward. Therefore,
In the optical pickup 1, by using this difference signal as a focus error signal, the focus servo can be operated to correct the positional deviation of the lens 4. It is best to set the position of the lens 4 at a position where the difference signal is O, but in this position, the RF signal 1
and RF signal 2 do not have the maximum amplitude.

しかし、上記差信号がOとなるレンズ4の位置において
、実用上、RF信号1及びRF信号2のいずれの振幅も
光ピックアップとして使用可能な振幅レベルに設定する
ことは、前述の半導体レーザ素子2・3の発光部におけ
る発光軸上の位置ずれ距離aを任意に選定することによ
り可能となる。
However, in practice, it is difficult to set the amplitudes of both the RF signal 1 and the RF signal 2 to an amplitude level that can be used as an optical pickup at the position of the lens 4 where the difference signal is O. - This can be achieved by arbitrarily selecting the positional deviation distance a on the light emitting axis of the light emitting section 3.

なお、本発明は上記した2個の半導体レーザ素子2・3
を用いる構成に限らず、例えば第3図に示すように、1
個の半導体レーザ素子12の発光部に凸部13と凹部1
4を形成し、これにより発光軸方向に対し前後に位置ず
れした2つの発光部を形成して、この凸部13と凹部1
4からそれぞれレーザ光を発するように構成した所謂レ
ーザアレイを用いることもできる。また、第4図に示す
ように、1つの半導体レーザ素子15に形成された2つ
の発光部16a・16bのうち、一方の発光部16bの
前方に、ガラス板などの屈折率の異なる透明体17を配
置して、発光部16aと16bから発するレーザ光が光
学的に位置ずれを生じるように構成してもよい。
Note that the present invention applies to the two semiconductor laser elements 2 and 3 described above.
For example, as shown in FIG.
A convex portion 13 and a concave portion 1 are formed in the light emitting portion of the semiconductor laser device 12.
4 is formed, thereby forming two light emitting parts that are shifted forward and backward with respect to the light emitting axis direction, and the convex part 13 and the concave part 1
It is also possible to use a so-called laser array configured to emit laser light from each of the four laser beams. Further, as shown in FIG. 4, a transparent body 17 having a different refractive index, such as a glass plate, is placed in front of one of the two light emitting parts 16a and 16b formed in one semiconductor laser element 15. may be arranged so that the laser beams emitted from the light emitting sections 16a and 16b are optically shifted in position.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明の光ピックアップは、以上のように、半導体レー
ザ素子に少なくとも2つの発光部を形成し、これら発光
部を、各発光軸が互いに平行で、かつ発光軸上を前後に
位置ずれさせて設定した構成である。これにより、半導
体レーザ素子と光学的記録媒体との間に配置されたレン
ズの位置が、ジャストホーカス位置からずれていた場合
でも、発光位置が発光軸上の前後に位置ずれした少なく
とも2つの発光部によって、読み取り信号から抽出され
た信号によりレンズの位置ずれ方向を検知することが可
能となる。従って、上記の抽出された信号をフォーカス
エラー信号として、上記レンズ位置を修正するためのフ
ォーカスサーボを的確に作動させることができるという
嬶果を奏する。
As described above, in the optical pickup of the present invention, at least two light emitting parts are formed in a semiconductor laser element, and these light emitting parts are set so that their light emitting axes are parallel to each other and are shifted back and forth on the light emitting axis. This is the configuration. As a result, even if the position of the lens disposed between the semiconductor laser element and the optical recording medium deviates from the just focus position, at least two light emitting parts whose light emission positions are deviated back and forth on the light emission axis can be used. This makes it possible to detect the direction of lens displacement using the signal extracted from the read signal. Therefore, it is possible to accurately operate the focus servo for correcting the lens position by using the extracted signal as a focus error signal.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図乃至第2図は本発明の一実施例を示すものであっ
て、第1図は光ピックアップの概略構成を示す説明図、
第2図(a)及び(b)は読み取り信号の振幅とレンズ
位置との関係を示すグラフ、第3図及び第4図は半導体
レーザ素子における発光部の他の実施例を示す概略説明
図、第5図及び第6図は従来例を示すものであって、第
5図は光ピックアップの概略構成を示す説明図、第6図
は読み取り信号の振幅とレンズ位置との関係を示すグラ
フである。 lは光ピックアップ、2・3・12・15は半導体レー
ザ素子、4はレンズ、5はディスク(光学的記録媒体)
、8・9はホトダイオードである。 第1図        、 P$2図(a) 図 、\ 第5図 フー
1 and 2 show an embodiment of the present invention, and FIG. 1 is an explanatory diagram showing the schematic configuration of an optical pickup;
FIGS. 2(a) and (b) are graphs showing the relationship between the amplitude of the read signal and the lens position, FIGS. 3 and 4 are schematic explanatory diagrams showing other embodiments of the light emitting part in the semiconductor laser device, 5 and 6 show a conventional example, in which FIG. 5 is an explanatory diagram showing the schematic configuration of an optical pickup, and FIG. 6 is a graph showing the relationship between the amplitude of the read signal and the lens position. . 1 is an optical pickup, 2, 3, 12, and 15 are semiconductor laser elements, 4 is a lens, and 5 is a disk (optical recording medium).
, 8 and 9 are photodiodes. Figure 1, P$2 (a) Figure, \ Figure 5 Fu

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、半導体レーザ素子の発光部から発した光を、発光軸
上に移動自在に配置されたレンズを介して光学的記録媒
体に集光させ、この記録媒体から反射した読み取り信号
となる光を再び上記レンズを介して半導体レーザ素子の
発光部に集光し、これに基づいて半導体レーザ素子の後
側ミラー部の発光部から読み取り信号となる出力光を得
る光ピックアップにおいて、上記半導体レーザ素子に少
なくとも2つの発光部を形成し、これら発光部を、各発
光軸が互いに平行で、かつ発光軸上を前後に位置ずれさ
せて設定したことを特徴とする光ピックアップ。
1. The light emitted from the light emitting part of the semiconductor laser element is focused on an optical recording medium through a lens movably placed on the light emitting axis, and the light reflected from this recording medium, which becomes a read signal, is collected again. In the optical pickup, the light is focused on the light emitting part of the semiconductor laser element through the lens, and based on this, output light is obtained as a read signal from the light emitting part of the rear mirror part of the semiconductor laser element. An optical pickup characterized in that two light emitting sections are formed, and these light emitting sections are set so that their light emitting axes are parallel to each other and are shifted back and forth on the light emitting axis.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010068998A (en) * 2008-09-18 2010-04-02 Fuji Xerox Co Ltd Measuring apparatus
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