JPS62228962A - Counting rate meter - Google Patents

Counting rate meter

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JPS62228962A
JPS62228962A JP7074386A JP7074386A JPS62228962A JP S62228962 A JPS62228962 A JP S62228962A JP 7074386 A JP7074386 A JP 7074386A JP 7074386 A JP7074386 A JP 7074386A JP S62228962 A JPS62228962 A JP S62228962A
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JP
Japan
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standard deviation
counting
value
count
rate
Prior art date
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JP7074386A
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Japanese (ja)
Inventor
Seiki Wakita
清貴 脇田
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Publication of JPS62228962A publication Critical patent/JPS62228962A/en
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Abstract

PURPOSE:To improve a response speed and accuracy by varying automatically a standard deviation according to variation in the difference between a radiation pulse counted value and a low counting rate limit value, calculating a time constant from the standard deviation, and determining a counting rate based on the time constant and an input counting value. CONSTITUTION:Radiation pulses from a radiation detector are counted by a counting means. A storage means is stored with a table wherein different standard deviations corresponding to various counting rates are stored. A standard deviation determining means finds a standard deviation in the table according to the difference between the input counted value and a low counting limit value. A counting rate arithmetic means finds the time constant from the determined standard deviation and calculates the counting the from the time constant and input counted value. This computed counting rate is outputted by an output means.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) この発明は、放射線計測装置に関し、特にデジタル式放
射線計数率計に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a radiation measuring device, and particularly to a digital radiation count rate meter.

(従来の技術) 原子力介7h所その他の原子力利用施設の放射線監視!
A置では、放射線検出器により検出される放射線パルス
を処理して一定時間ごとの計数値の平均値を出力する計
数率計が用いられている。このJ:つなM数率計として
従来は、クックV−ボ回路によるアナログ方式のものや
、放射線検出器にカウンタを接続し、一定時間毎にカウ
ンタの内容を読み込んで、その平均1aをとる方式や、
さらには、入カバスル計数値に応じて時定数を変化させ
、前回計数率計算値との乗算と、今回計数率との■1に
より計数率を求めるアナログ式計算方式等がとられてい
る。
(Conventional technology) Radiation monitoring of nuclear power stations and other nuclear facilities!
At position A, a count rate meter is used that processes the radiation pulses detected by the radiation detector and outputs the average value of counts at fixed time intervals. Conventionally, this J:Tuna M number rate meter is an analog type using a Cooke V-BO circuit, or a counter is connected to a radiation detector, and the contents of the counter are read at regular intervals and the average 1a is taken. The method and
Furthermore, an analog calculation method is used in which the time constant is changed according to the input capsule count value, and the counting rate is obtained by multiplying by the previous counting rate calculation value and (1) by multiplying it by the current counting rate.

ところが上記従来のアナログ方式の計数率計では、コン
デンサと抵抗による時定数が一義的に決定されているた
め、パルスの入力変動に対して柔軟な対応がとれない問
題がある。また平均値処理やアナログ式計算方式を用い
る計数率計においては、標準偏差と時定数との関係から
時定数の制約、計数時間の設定により、計数率の変動に
対づる応答性が鈍いといった問題がある。さらに、これ
らの計算方式をとる放射線監視装置では、計数率に対す
る標準偏差が一定のため、検出感度を保つ目的からバッ
クグラウンド(BG>レベルにおける検出感度に合せて
鉛遮蔽を厚くするといった手間のかかる対策をとらねば
ならなかった。
However, in the conventional analog counting rate meter described above, since the time constant is uniquely determined by the capacitor and the resistor, there is a problem in that it cannot respond flexibly to pulse input fluctuations. In addition, count rate meters that use average value processing or analog calculation methods have problems such as slow response to changes in the count rate due to time constant constraints and counting time settings due to the relationship between standard deviation and time constant. There is. Furthermore, in radiation monitoring equipment that uses these calculation methods, the standard deviation with respect to the count rate is constant, so in order to maintain detection sensitivity, it is difficult to increase the thickness of the lead shield to match the detection sensitivity at the background (BG > level). Measures had to be taken.

つまり、放射線監視装置の検出感度は次に示す式(1)
のようにBG計数率nβと標準偏差σに依存するため、
[3G :、f数率nβが上ると、検出感度Aが保てな
くなり、サンプラの交換、鉛遮蔽の増強あるいは計数率
計回路部の変更等によってBGレベルの上昇に対応しな
ければならなかったのである。
In other words, the detection sensitivity of the radiation monitoring device is expressed by the following formula (1):
Because it depends on the BG count rate nβ and the standard deviation σ,
[3G: When the f-number rate nβ increases, detection sensitivity A cannot be maintained, and it is necessary to respond to the increase in BG level by replacing the sampler, reinforcing lead shielding, or changing the count rate meter circuit. It is.

A=3(2n a a/7)= (1)nβ :BG計
数率 σ:標準偏差 η:検出効率 (発明が解決しようとする問題点) 上記したように従来の計数率計では、放射線検出器から
の放射線パルスの入力変動が大きい場合に柔軟な対応が
とれないことや、Sl数率の変動に対する応答性が鈍い
といった問題があった。また、平均値処理あるいはアナ
ログ式計算方式をとる計数率計を用いる放射線監視装置
では、計数率に対する標準偏差が一定のため、検出感度
を保つ目的からBGレベルにおける検出感度に合せて鉛
遮蔽を厚くする等の手間のかかる対策をとらねばならな
い問題らあった。
A=3(2n a a/7)= (1) nβ : BG count rate σ : Standard deviation η : Detection efficiency (problem to be solved by the invention) As mentioned above, in the conventional count rate meter, radiation detection There have been problems in that flexible responses cannot be taken when there are large fluctuations in the input radiation pulses from the device, and that responsiveness to fluctuations in the Sl number rate is slow. In addition, in radiation monitoring equipment that uses a count rate meter that uses average value processing or an analog calculation method, the standard deviation for the count rate is constant, so in order to maintain detection sensitivity, lead shielding is thickened to match the detection sensitivity at the BG level. There were also problems that required time-consuming measures such as

この発明は、このような従来の問題に鑑みてなされたも
のであって、マイクロコンピュータの演t7機能により
、放射線パルス計数値とBGレベル、または低計数率限
界設定値との差の変動に応じて標準偏差を自動的に変化
させ、その標準偏差から時定数を新たに決定し、計数率
を演算することにより、応答速度を向上させ、かつ一定
の精度で計測することができる計数率計を提供すること
を目的とする。
This invention was made in view of such conventional problems, and uses the operation T7 function of a microcomputer to respond to changes in the difference between the radiation pulse count value and the BG level or the low count rate limit setting value. By automatically changing the standard deviation based on the standard deviation, determining a new time constant from that standard deviation, and calculating the counting rate, we have developed a counting rate meter that can improve response speed and measure with a certain level of accuracy. The purpose is to provide.

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

(問題点を解決するための手段) この発明は第1図に示したように、放射線検出器からの
放射線パルス計数手段と、計数値入力、低計数率限界値
および種々の計数率に対応して異なった標準偏差を登録
したテーブルを格納する記憶手段と、前記入力計数値と
、低計数率限界値との差分に応じてテーブルから標準偏
差を決定する手段と、決定された標準偏差から時定数を
求め、この時定数と入力計数値から計数率を演算する手
段と、演算された計数率の出力手段とを備えた計数率計
を要旨とするものである。
(Means for Solving the Problems) As shown in FIG. 1, the present invention has a means for counting radiation pulses from a radiation detector, a count value input, a low count rate limit value, and various count rates. storage means for storing a table in which different standard deviations are registered; means for determining the standard deviation from the table according to the difference between the input count value and the low count rate limit value; The gist of this invention is a count rate meter comprising means for determining a constant and calculating a count rate from this time constant and an input count value, and means for outputting the calculated count rate.

(作用) この発明の計数率計においては、放射線パルス計数値と
低計数率限界値との差分の変動に応じて標準偏差を自動
的に変化させ、その決定された標準偏差から時定数を演
算し、得られた時定数と入力翳]数値とから割数率を決
定づる。
(Function) In the count rate meter of the present invention, the standard deviation is automatically changed according to the fluctuation of the difference between the radiation pulse count value and the low count rate limit value, and the time constant is calculated from the determined standard deviation. Then, the divisor rate is determined from the obtained time constant and the input value.

(実施例) 以下、この発明を図に示す実施例に基づいて詳説する。(Example) Hereinafter, this invention will be explained in detail based on embodiments shown in the drawings.

第2図はこの発明の一実施例の回路ブロック図を示すも
のであり、放f)11ml監視装置に備えられている放
射線ダストリーンブラ1の鉛遮蔽物2内に設置された放
射線検出器3は、放射線レベルを検出し、lIi用線用
層パルス信号この発明の実施例に係る計数率計4に出力
している。
FIG. 2 shows a circuit block diagram of an embodiment of the present invention, and shows a radiation detector 3 installed in a lead shield 2 of a radiation dust cleaner 1 included in an 11ml radiation monitoring device. detects the radiation level and outputs a layer pulse signal for the IIi line to the count rate meter 4 according to the embodiment of the present invention.

計数率計4は、放射線検出器3からのカウントパルス信
号を受けて、計数値を出力するパルスカウントモジュー
ル5、このパルレスカウント七ジュール5からの計数値
出力を格納するメモリ6を備えている。メモリ6はさら
に、外部入力装置7により低計数率限界値および第3図
に示すような標準偏差テーブル8の格納も行なう。
The count rate meter 4 includes a pulse count module 5 that receives a count pulse signal from the radiation detector 3 and outputs a count value, and a memory 6 that stores the count value output from the pulseless count 7 joules 5. . The memory 6 also stores a low count rate limit value and a standard deviation table 8 as shown in FIG. 3 via an external input device 7.

計数率計4はさらに、マイクロプロセッサ9、クロック
発成器10を備えている。このマイクロプロセッサ9は
、−周期毎にメモリ6より放射線パルス計数値を読み出
し、同じくメモリ6に格納されている低計数率限界値と
の差分をとり、同じくメモリ6内に格納されている標準
偏差テーブル8から、第3図に示すように差分値の大き
さに応じて測定許容標準偏差値σiをとり出ず。そして
さらに、とり出した標準備差σiと前回計数率計算値と
より時定数を決定し、新たに計数率を算出する。
The counting rate meter 4 further includes a microprocessor 9 and a clock generator 10. This microprocessor 9 reads the radiation pulse count value from the memory 6 every period, calculates the difference from the low count rate limit value also stored in the memory 6, and calculates the standard deviation value also stored in the memory 6. From Table 8, as shown in FIG. 3, the measurement allowable standard deviation value σi is extracted according to the magnitude of the difference value. Furthermore, a time constant is determined from the extracted standard difference σi and the previous count rate calculation value, and a new count rate is calculated.

計数率計4にはまたさらに、出力インターフェース11
が備えられ、外部表示装置12および外部記録装置13
と接続されており、前記マイクロプロセッサ9により計
算された今回計数率がこの出力インターフェース11を
通して表示装置12および/または外部記録装置13に
出力される。
The counting rate meter 4 further includes an output interface 11.
is equipped with an external display device 12 and an external recording device 13.
The current counting rate calculated by the microprocessor 9 is outputted to the display device 12 and/or the external recording device 13 through the output interface 11.

前記標準偏差σ1を決定するための標準偏差テーブル8
および計数率限界値は外部入力装置7によりオペレータ
が外から更新することができる。
Standard deviation table 8 for determining the standard deviation σ1
The counting rate limit value can be updated by the operator from the outside using the external input device 7.

上記構成の計数率計による計数率演算動作を次に、第4
図に示すフローチャートを基に説明する。
Next, the count rate calculation operation by the count rate meter with the above configuration is performed in the fourth step.
This will be explained based on the flowchart shown in the figure.

マイクロプロセッサ9は、下記の計数率計算式(2)に
より計数率を計算する。
The microprocessor 9 calculates the counting rate using the following counting rate calculation formula (2).

RE =C+ (Rt −1−C) e −1/τ・・
・・・・(2) R【=今回計数率計算結果 Rt−1:前回計数率計算結果 C:計数値 τ:時定数 ここで、時定数では、次の式(3)に示すように、標準
偏差σと計数値Cにより変動する。
RE = C+ (Rt -1-C) e -1/τ...
...(2) R It varies depending on the standard deviation σ and the count value C.

τ=1/2σ2C・・・・・・(3) 従って、従来の計算方式では、標準偏差σを固定し、計
数値Cの変動だけで時定数τを変化させて計数率Rを求
めていたが、放射線パルス計数値等のランダム的な数値
は、統計学上ポアソン分布に従うことが知られており、
しかも標準偏差σとの間には次の式(4)が成り立つ。
τ = 1/2σ2C (3) Therefore, in the conventional calculation method, the standard deviation σ was fixed and the time constant τ was changed only by fluctuations in the count value C to obtain the counting rate R. However, it is known that random numbers such as radiation pulse counts follow a Poisson distribution statistically.
Moreover, the following equation (4) holds true between the standard deviation σ and the standard deviation σ.

σ=1/Fじ鰐・・・・・・(3) この式(4)から、計数値Cが大きいほどその計数値自
体の持つ標準偏差σは小さく、逆に計数mcが小さいほ
ど、つまり低計数率の場合はど標準偏差σが大きくなる
ことが明らかである。
σ=1/Fjiwani (3) From this formula (4), the larger the count value C, the smaller the standard deviation σ of the count value itself, and conversely, the smaller the count value mc, that is, It is clear that the standard deviation σ increases when the count rate is low.

従って、放射線監視装置の最高検出感度を保証するため
に、計数率演算時の標準偏差を最小1=準偏差に固定化
するための計数率レベルとして初期BGレベル等を用い
て低計数率限界値を定める。
Therefore, in order to guarantee the highest detection sensitivity of radiation monitoring equipment, the initial BG level, etc. is used as the count rate level to fix the standard deviation during count rate calculation to a minimum of 1 = standard deviation, and the low count rate limit value is set. Establish.

そして、それ以下の計数値が計測されたときには標準偏
差を一定にし、上記式(2)および式(3)より計数率
を計算するが、それ以上の計数値が計測された場合には
標準偏差を計数値に応じて変動させ、計数畠を演算する
When a count value less than that is measured, the standard deviation is kept constant and the counting rate is calculated from the above equations (2) and (3), but when a count value greater than that is measured, the standard deviation is varied according to the count value, and the counting field is calculated.

この演算のフローを第4図に基づいて説明すると、プロ
セッサ9はクロック発、振器10からのクロック信号を
受け、一定周期毎にメモリ6内の放射線パルス計数値C
を読み込む一ステップ21゜続いて、この計数値Cをメ
モリ6に格納されている低計数率限界値ROと比較し、
入力計数値Cの方が大きい場合には入力計数値Cと低計
数率限界値ROとの差分Δを計算し、第3図に示したよ
うにその差分値Δを基に、登録テーブル8から対応する
標準偏差σiを求める一ステップ22−24゜ 前記ステップ22における比較において、計数値Cが低
計数率限界値ROより小さい場合、標準偏差は自動的に
最小標準偏差σ0にセットされる一ステップ25゜ こうして決定された標準偏差σ1と入力計数値Cより時
定数τを上記式(3)に基づいて計算するーステップ2
6゜ 続いて、算出された時定数でと入力計数値Cより計数率
Rtが、上記式(2)に基づいて計算されるーステップ
27゜ このようにして算出された新たなR【は、メモリ6に前
回計数率結果Rt−1として格納され、同時に表示装置
12および/または外部記録装置13に出力されるース
テップ28゜ このようにして、入力計数値Cと低計数値限界値ROと
の差分Δを求め、その差分Δの大きさによりメモリ6に
格納されている標準偏差登録テーブル8から標準偏差σ
iを捜し出し、この新たに設定される標準偏差σ1に基
づいて時定数τを求め、新たな計数率R[を計算するの
である。この標準偏差σ1は差分値Δによって異なり、
差分Δが大きくなるほど、つまり高計数率になるほど大
きな値となる。これは式(4)より明らかなように、高
計数率になるほど、それ自体が持つ標準偏差が小さくな
り、計測標準偏差σ1を大きくしても検出感度への影響
がほとんどないことを考慮したためである。
The flow of this calculation will be explained based on FIG.
Step 21: Then, this count value C is compared with the low count rate limit value RO stored in the memory 6,
If the input count value C is larger, the difference Δ between the input count value C and the low count rate limit value RO is calculated, and as shown in FIG. One step of determining the corresponding standard deviation σi 22-24゜ In the comparison in step 22, if the count value C is smaller than the low count rate limit value RO, one step in which the standard deviation is automatically set to the minimum standard deviation σ0 25゜ Calculate the time constant τ from the standard deviation σ1 thus determined and the input count value C based on the above formula (3) - Step 2
6゜Next, the counting rate Rt is calculated based on the above formula (2) using the calculated time constant and the input count value C - Step 27゜The new R [calculated in this way is stored in the memory. 6 is stored as the previous count rate result Rt-1 and simultaneously output to the display device 12 and/or external recording device 13 - step 28. In this way, the difference between the input count value C and the low count value limit value RO is Δ is calculated, and the standard deviation σ is calculated from the standard deviation registration table 8 stored in the memory 6 based on the size of the difference Δ.
i is found, the time constant τ is determined based on this newly set standard deviation σ1, and a new counting rate R[ is calculated. This standard deviation σ1 varies depending on the difference value Δ,
The larger the difference Δ, that is, the higher the counting rate, the larger the value. This is because, as is clear from equation (4), the higher the counting rate, the smaller its own standard deviation becomes, and even if the measurement standard deviation σ1 is increased, there is almost no effect on detection sensitivity. be.

そして、このようにして求めた標準偏差σ1より求めら
れる時定数では逆に、標t$隔差σiが大きくなるほど
小さくなり、その結果、高計数率に対する応答性は速く
なる。
Conversely, the time constant determined from the standard deviation σ1 determined in this manner becomes smaller as the standard t$ interval difference σi increases, and as a result, the response to a high count rate becomes faster.

なお、上記実施例では限界値を外部入力装置7によりオ
ペレータが変更する方式としていたが、この低計数率限
界値ROの設定を自動的に行なうようにすることも可能
でる。その場合には、定期的にナンプラ1へ清浄水また
はパージガスを流して8Gレベルを計測し、その平均値
を低計数率限界値に適用することにより、8Gレベルの
変動に対しても自動的に対応できるものとなる。
In the above embodiment, the limit value is changed by the operator using the external input device 7, but it is also possible to set the low count rate limit value RO automatically. In that case, by periodically flowing clean water or purge gas to Nampura 1 and measuring the 8G level, and applying the average value to the low count rate limit value, it will automatically respond to fluctuations in the 8G level. It becomes something that can be handled.

またさらに、標準偏差登録テーブル8をオペレータが外
部入力装置7により変更する方式をとっていたが、BG
レベルを定期的に計測し、その日Gレベルが前回より規
定幅以上に高くなった場合には自動的に凛準偏差登録テ
ーブルの変更を行ない、常に検出感度以上の計測ができ
るようにすることも可能である。つまり、第5図に示す
ように、検出器3によりBGレベルを計測し、マイクロ
プロセッサ9によりBGレベルの計数率を演算し、その
平均値を算出するーステップ31.32゜続いて、前回
BG計数率の平均値と今回BG計数率との差をとり、そ
の差が規定幅を超えたかどか比較するーステップ33,
34゜ この比較において、差分が規定幅を超えた場合、上記式
(1)を変形した次の式(5)に基づき新たに最小標準
偏着σβを算出し、この新たな最小標1t!i(Q差σ
βに合せて標準偏差登録テーブル8の内容を変更する。
Furthermore, although the standard deviation registration table 8 was changed by the operator using the external input device 7, the BG
The level is measured regularly, and if the G level on that day becomes higher than the specified range from the previous time, the Rin standard deviation registration table is automatically changed to ensure that measurements always exceed the detection sensitivity. It is possible. That is, as shown in FIG. 5, the detector 3 measures the BG level, the microprocessor 9 calculates the counting rate of the BG level, and calculates the average value - step 31.32. Calculate the difference between the average value of the rate and the current BG count rate and compare whether the difference exceeds the specified range - Step 33.
34° In this comparison, if the difference exceeds the specified range, the minimum standard deviation σβ is newly calculated based on the following equation (5), which is a modification of the above equation (1), and this new minimum standard 1t! i(Q difference σ
The contents of the standard deviation registration table 8 are changed according to β.

−ステップ35.36゜上記ステップ34における比較
において、差分が規定幅を超えない場合には、前回BG
計数率平均値および標準偏差テーブルをそのまま用いる
一ステップ37゜ このようにして得られた新たな最小標!1!偏停および
標準偏差登録テーブルはメモリ6に格納され、計数率の
′tJ算に利用するーステップ38゜このようにして、
自動的に低計数率限界値および標準偏差登録テーブルを
変更することにより、BGレベルが上背してぎても、鉛
遮蔽その他によりサンプラ1のBGレベルをさげずども
常に検出感度以上に計測ができ、サンプラの長寿命化が
図れるものとなる。
- Step 35.36゜In the comparison in step 34 above, if the difference does not exceed the specified width, the previous BG
One step 37° using the count rate average value and standard deviation table as is.New minimum target obtained in this way! 1! The eccentric stop and standard deviation registration table is stored in the memory 6 and used for calculating the counting rate 'tJ - step 38. In this way,
By automatically changing the low count rate limit value and standard deviation registration table, even if the BG level is too high, measurements can always be made above the detection sensitivity even if the BG level of sampler 1 is not lowered due to lead shielding or other reasons. This makes it possible to extend the life of the sampler.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

この発明は上記の構成を有するため、放射線レベルが高
くなったときには標準(Iai差を変動させ、時定数を
短くすることができ、応答性を向上させることができる
。また、入力計数値の変動に応じて自動的に標準偏差を
変動させるため、精度の良い計数率の計測が行なえる。
Since this invention has the above configuration, when the radiation level becomes high, it is possible to change the standard (Iai difference), shorten the time constant, and improve responsiveness. Since the standard deviation is automatically changed according to the change in the standard deviation, it is possible to measure the counting rate with high accuracy.

さらにまた、8Gレベルの変動に応じて標準偏差登録テ
ーブルの最小標準偏差も自動的に変更するように構成す
るならば、BGレベルが上界ツるような場合でも、放射
線監視装置の鉛遮蔽を厚くしたり、計数率計の回路構成
に変更を加えるといった手間のかかる対応をする必要が
なく、装置の長Xf命化が図れるものである。
Furthermore, if the configuration is configured to automatically change the minimum standard deviation in the standard deviation registration table according to fluctuations in the 8G level, even if the BG level exceeds the upper limit, the lead shielding of the radiation monitoring device can be improved. There is no need to take time-consuming measures such as increasing the thickness or changing the circuit configuration of the count rate meter, and the life of the device can be extended.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明のクレーム対応図、第2図はこの発明
の一実施例のブロック図、第3図は上記実施例の動作説
明図、第4図は上記実施例の動作を説明ザるフローチャ
ート、第5図はこの発明の他の実施例のBGレベルの変
動によるJ!y、準偏差最小値の自動補正動作を示すフ
ローチャートである。 1・・・サンプラ 3・・・検出器 4・・・計数率計 5・・・パルスカウントモジュール 6・・・メモリ 7・・・外部人力装置 8・・・標準偏差テーブル 9・・・マイクロプロセッサ 10・・・クロック発振器 11・・・出力イクターフェース 12・・・表示装置 13・・・外部記録装置 久毘友升押τ 剣近穣痴 り         シ       ニイ芙−δt\
文第4図 第5図
Fig. 1 is a diagram corresponding to the claims of this invention, Fig. 2 is a block diagram of an embodiment of this invention, Fig. 3 is an explanatory diagram of the operation of the above embodiment, and Fig. 4 is an explanation of the operation of the above embodiment. The flowchart in FIG. 5 shows the J! y is a flowchart showing an automatic correction operation of the minimum standard deviation value. 1... Sampler 3... Detector 4... Count rate meter 5... Pulse count module 6... Memory 7... External human power device 8... Standard deviation table 9... Microprocessor 10...Clock oscillator 11...Output output face 12...Display device 13...External recording device
Text Figure 4 Figure 5

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)放射線パルスを計数し、その計数率を出力する計
数率計において、放射線パルスの計数手段と、この計数
手段による計数値を格納し、低計数率限界値を格納し、
また種々の計数値に応じて異なった標準偏差を登録した
テーブルを格納する記憶手段と、前記計数手段からの入
力計数値と前記低計数率限界値との差分値に応じて前記
テーブルから標準偏差を決定する手段と、この決定され
た標準偏差から時定数を求めると共に、この時定数と前
記入力計数値から計数率を演算する手段と、この計数率
の演算結果の出力手段とを備えて成る計数率計。
(1) A count rate meter that counts radiation pulses and outputs the counting rate, which includes a radiation pulse counting means, a count value by the counting means, and a low count rate limit value;
and storage means for storing a table in which different standard deviations are registered according to various count values, and a storage means for storing a table in which different standard deviations are registered according to various count values; a means for determining a time constant from the determined standard deviation, a means for calculating a counting rate from this time constant and the input count value, and a means for outputting the calculation result of the counting rate. Count rate meter.
JP7074386A 1986-03-31 1986-03-31 Counting rate meter Pending JPS62228962A (en)

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JP7074386A JPS62228962A (en) 1986-03-31 1986-03-31 Counting rate meter

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