JPS6222430B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6222430B2
JPS6222430B2 JP7162479A JP7162479A JPS6222430B2 JP S6222430 B2 JPS6222430 B2 JP S6222430B2 JP 7162479 A JP7162479 A JP 7162479A JP 7162479 A JP7162479 A JP 7162479A JP S6222430 B2 JPS6222430 B2 JP S6222430B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
circuit
relay
test number
input
Prior art date
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Expired
Application number
JP7162479A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS55163466A (en
Inventor
Bunya Hirano
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS55163466A publication Critical patent/JPS55163466A/en
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は電子計算機に記憶された試験番号、
あるいは試験員の試験番号設定に応じて複数個の
リレーをオン(励磁)、オフ(開放)することに
より順次接点による試験回路の構成を切り換えて
行くリレー接点の切り換え試験回路チエツク方法
に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] This invention provides test numbers stored in an electronic computer,
Alternatively, it relates to a relay contact switching test circuit checking method in which the configuration of a test circuit using contacts is sequentially switched by turning on (energizing) and off (opening) multiple relays according to the test number setting by the tester. .

従来のリレー接点の切り換え試験回路チエツク
方法を第1図および第2図を用いて説明する。第
1図において1は電子計算機または試験員の試験
番号設定機能を有する操作盤である。2a〜2h
は発光ダイオードまたはランプなどの表示灯であ
り、これらの表示灯2a〜2hはリレーコイル3
a〜3hに並列に接続され、リレーコイル3a〜
3hがオン(励磁)されたとき点灯するものであ
る。
A conventional relay contact switching test circuit checking method will be described with reference to FIGS. 1 and 2. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a computer or an operation panel having a test number setting function for the examiner. 2a-2h
are indicator lights such as light emitting diodes or lamps, and these indicator lights 2a to 2h are connected to the relay coil 3.
connected in parallel to a~3h, relay coils 3a~
It lights up when 3h is turned on (excited).

リレーコイル3a〜3hは電子計算機または試
験員の試験番号設定により試験回路の構成を切り
換えていくためのリレーコイルである。そして、
4はリレーコイル3a〜3hのリレー接点により
構成され試験番号に対応して信号A,B,………
を計測器または被試験装置O,P,Q,………に
接続するようになつている。
The relay coils 3a to 3h are relay coils for switching the configuration of the test circuit according to the test number setting by the computer or the tester. and,
4 is composed of relay contacts of relay coils 3a to 3h, and signals A, B, ...... corresponding to the test number are provided.
are connected to the measuring instrument or equipment under test O, P, Q,...

一方、第2図は試験番号に対応してリレーコイ
ル3a〜3hのうちのどのリレーコイルがオン
(励磁)するかを例として示した図であり、この
第2図における「〇」印はリレーコイルがオン
(励磁)している場合を示す。
On the other hand, Fig. 2 is a diagram showing as an example which relay coil among the relay coils 3a to 3h is turned on (excited) corresponding to the test number. Indicates when the coil is on (excited).

この第1図、第2図において、試験番号1の場
合はリレーコイル3a,3b,3dが動作する。
その動作状態は表示灯2a,2b,2dにて確認
することができる。
In FIGS. 1 and 2, in the case of test number 1, relay coils 3a, 3b, and 3d operate.
Its operating state can be confirmed by indicator lights 2a, 2b, and 2d.

同様に試験番号2の場合は表示灯2a,2cに
て確認することができる。
Similarly, in the case of test number 2, it can be confirmed using indicator lights 2a and 2c.

しかしながらこのようなリレーの切り換え試験
回路チエツク方法は保守点検時、試験番号に対し
ていちいちリレーコイル3a〜3hの動作表示灯
2a〜2hを確認しなければならず、試験項目が
多くなればそれだけ時間の消費となり好ましくな
い。
However, in this relay switching test circuit check method, during maintenance and inspection, it is necessary to check the operation indicator lights 2a to 2h of the relay coils 3a to 3h for each test number, and the more test items there are, the more time it takes. consumption, which is not desirable.

この発明は、上記従来の欠点を解消するために
なされたもので、試験番号に対応して動作するリ
レーの接点のアンドをとり、エンコードしたもの
をデイジタル表示または電子計算機にフイードバ
ツクし、試験員設定の試験番号との一致をとり試
験回路構成の完了、未完の2つの表示器で表示す
ることにより上記試験番号に対応したリレーの動
作が正常であるかどうかを瞬時に判定することが
出来るリレー接点の切り換え試験回路チエツク方
法を提供することを目的とするものである。
This invention was made in order to eliminate the above-mentioned drawbacks of the conventional technology, and it performs an AND operation on the contacts of a relay that operates in accordance with the test number, and feeds back the encoded result to a digital display or electronic computer, and then sends the result to the examiner's settings. A relay contact that can instantly determine whether or not the relay corresponding to the above test number is operating normally by checking the match with the test number and displaying the completed and incomplete test circuit configuration on two indicators. The object of the present invention is to provide a method for checking a switching test circuit.

以下、この発明のリレー接点の切り換え試験回
路チエツク方法の実施例について図面に基づき説
明する。第3図はその一実施例に適用される切り
換え試験回路チエツク装置を示す図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the relay contact switching test circuit checking method of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 3 is a diagram showing a switching test circuit check device applied to one embodiment of the present invention.

この第3図において、第1図、第2図と同一部
分または相当部分は同一符号を付して述べる。図
中の1は第1図と同様の操作盤であり、5は試験
項目番号をエンコードするためのエンコーダ、6
はエンコーダ5の出力を表示するためのデイジタ
ル表示器である。また、Tは電源端子である。
In FIG. 3, the same or equivalent parts as in FIGS. 1 and 2 will be described with the same reference numerals. 1 in the figure is an operation panel similar to that in Figure 1, 5 is an encoder for encoding the test item number, and 6 is an encoder for encoding the test item number.
is a digital display for displaying the output of the encoder 5. Further, T is a power supply terminal.

さらに、3A〜3Hはリレーの接点を示し、こ
れらの接点3A〜3Hの各一端は電源端子Tに接
続されている。
Further, 3A to 3H indicate relay contacts, and one end of each of these contacts 3A to 3H is connected to a power terminal T.

接点3Aの他端は3入力のアンド回路AND1
第1の入力端と2入力のアンド回路AND2の第1
の入力端に接続され、接点3Bの他の他端はアン
ド回路AND1の第2の入力端と3入力のアンド回
路AND3の第1の入力端、4入力のアンド回路
AND4の第1の入力端、2入力のアンド回路
AND5の第1の入力端に接続されている。
The other end of contact 3A is the first input end of the 3-input AND circuit AND 1 and the first input end of the 2-input AND circuit AND 2 .
The other end of contact 3B is connected to the second input end of the AND circuit AND 1 , the first input end of the 3-input AND circuit AND 3 , and the 4-input AND circuit.
First input terminal of AND 4 , 2-input AND circuit
Connected to the first input of AND 5 .

接点3Cの他端はアンド回路AND2の第2の入
力端、アンド回路AND4の第4の入力端、2入力
のアンド回路AND6の第2の入力端に接続されて
いる。
The other end of the contact 3C is connected to the second input terminal of the AND circuit AND2 , the fourth input terminal of the AND circuit AND4 , and the second input terminal of the two-input AND circuit AND6 .

接点3Dの他端はアンド回路AND1の第3の入
力端、アンド回路AND3の第2の入力端、アンド
回路AND4の第3の入力端、アンド回路AND5
第2の入力端に接続されている。
The other end of contact 3D is connected to the third input terminal of AND circuit AND 1 , the second input terminal of AND circuit AND 3 , the third input terminal of AND circuit AND 4 , and the second input terminal of AND circuit AND 5 . It is connected.

接点3Eの他端はアンド回路AND3第3の入力
端、アンド回路AND4の第2の入力端、アンド回
路AND6の第1の入力端に接続されている。接点
3Fの他端はアンド回路AND5の第3の入力端に
接続されている。
The other end of the contact 3E is connected to the third input end of the AND circuit AND3 , the second input end of the AND circuit AND4 , and the first input end of the AND circuit AND6 . The other end of contact 3F is connected to the third input end of AND circuit AND5 .

アンド回路AND1,AND2,………の各出力端
は上記エンコーダ5の入力端に接続されている。
Each output terminal of the AND circuits AND 1 , AND 2 , . . . is connected to the input terminal of the encoder 5.

次に、第3図によりこの発明のリレー接点の切
り換え試験回路チエツク方法について説明する。
第3図においてアンド回路AND1は第2図の試験
番号1に対するリレーの接点3a,3b,3dの
アンドをとるものであり、アンド回路AND2は試
験番号2に対する接点3a,3cのアンドをと
り、アンド回路AND3〜AND6も同様である。
Next, a method for checking a relay contact switching test circuit according to the present invention will be explained with reference to FIG.
In Fig. 3, the AND circuit AND 1 takes the AND of relay contacts 3a, 3b, and 3d for test number 1 in Fig. 2, and the AND circuit AND 2 takes the AND of contacts 3a and 3c for test number 2. , and the AND circuits AND 3 to AND 6 as well.

これらのアンド回路AND1〜AND6の出力をエ
ンコーダ5でエンコードし、その出力をデイジタ
ル表示器6に表示する。たとえば試験番号が3で
あれば3と表示する。
The outputs of these AND circuits AND1 to AND6 are encoded by an encoder 5, and the outputs are displayed on a digital display 6. For example, if the test number is 3, it will be displayed as 3.

また、エンコーダ5の出力を電子計算機1にフ
イードバツクすることにより指令した試験番号と
照合し、試験回路構成の完了、未完の2つの表示
器で表示することにより試験番号に対応したリレ
ーの動作が正しいかどうかを判定する。
In addition, the output of the encoder 5 is fed back to the computer 1 to check it with the commanded test number, and the relay operation corresponding to the test number is confirmed to be correct by displaying two indicators indicating whether the test circuit configuration is completed or not. Determine whether or not.

以上のように、この発明のリレー接点の切り換
え試験回路チエツク方法によると、試験番号に対
応して動作するリレーの接点のアンドをとり、そ
の出力をエンコードしたものをデイジタル表示器
または電子計算機にフイードバツクし試験回路構
成の完了、未完の2つの表示器で表示するので瞬
時にリレーの切り換え試験回路の動作チエツクが
可能である。したがつて機器のメンテナンスが大
巾に軽減される。
As described above, according to the relay contact switching test circuit check method of the present invention, the contacts of the relays operating corresponding to the test number are ANDed, and the encoded output is fed back to a digital display or computer. Since the completion and incompleteness of the test circuit configuration are displayed on two indicators, it is possible to instantly switch the relay and check the operation of the test circuit. Therefore, maintenance of the equipment is greatly reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来のリレー接点の切り換え試験回路
チエツク方法に適用される切り換え試験回路のブ
ロツク図、第2図は同上リレー接点の切り換え試
験回路チエツク方法における試験番号に対応した
リレーの動作状態を示す図、第3図はこの発明の
リレー接点の切り換え試験回路チエツク方法に適
用される切り換え試験回路チエツク装置の一実施
例を示すブロツク図である。 1……操作盤、5……エンコーダ、6……デイ
ジタル表示器、3A〜3H……接点、AND1
AND8……アンド回路。なお、図中同一符号は同
一部分または相当部分を示す。
Figure 1 is a block diagram of a switching test circuit applied to the conventional relay contact switching test circuit check method, and Figure 2 shows the operating status of the relay corresponding to the test number in the same relay contact switching test circuit check method. 3 are block diagrams showing an embodiment of a switching test circuit checking device applied to the relay contact switching test circuit checking method of the present invention. 1...Operation panel, 5...Encoder, 6...Digital display, 3A~3H...Contact, AND 1 ~
AND 8 ……AND circuit. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or equivalent parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 電子計算機に記憶された試験番号あるいは試
験員の試験番号設定に応じて複数個のリレーを励
磁、開放することにより順次接点による試験回路
の構成を切り換えて行く試験装置において、上記
試験番号に対応して動作する上記リレーの接点の
動作のアンドをとつてエンコードし、このエンコ
ードしたデータをデイジタル表示器または電子計
算機にフイードバツクし、上記試験員が設定した
試験番号との一致をとつて試験回路構成の完了、
未完の2つの表示器で表示することを特徴とする
リレー接点の切り換え試験回路チエツク方法。
1 In a test device that sequentially switches the configuration of a test circuit using contacts by energizing and opening multiple relays in accordance with the test number stored in the computer or the test number setting by the tester, the test number corresponds to the above test number. The encoded data is fed back to a digital display or computer, and the test circuit is configured by matching the test number set by the tester. completion of
A relay contact switching test circuit check method characterized by displaying on two incomplete indicators.
JP7162479A 1979-06-06 1979-06-06 Checking method for relay contact transfer testing circuit Granted JPS55163466A (en)

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JPS55163466A JPS55163466A (en) 1980-12-19
JPS6222430B2 true JPS6222430B2 (en) 1987-05-18

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS55163466A (en) 1980-12-19

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