JPS62209817A - Transfer system in clean room - Google Patents

Transfer system in clean room

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Publication number
JPS62209817A
JPS62209817A JP5205886A JP5205886A JPS62209817A JP S62209817 A JPS62209817 A JP S62209817A JP 5205886 A JP5205886 A JP 5205886A JP 5205886 A JP5205886 A JP 5205886A JP S62209817 A JPS62209817 A JP S62209817A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tube
semiconductor manufacturing
smif
vehicle
station
Prior art date
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Pending
Application number
JP5205886A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshiyuki Iwazawa
岩沢 祥行
Tsutomu Ishida
勉 石田
Hiroshi Harada
博司 原田
Shintaro Kobayashi
伸太郎 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimizu Construction Co Ltd
Original Assignee
Shimizu Construction Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Priority to US07/018,993 priority patent/US4826360A/en
Priority to EP87301888A priority patent/EP0239266A3/en
Priority to CA000531391A priority patent/CA1271271A/en
Priority to KR870002102A priority patent/KR870009446A/en
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Abstract

PURPOSE:To sharply reduce the cost of construction, equipment and maintenance of a clean room and further to save man power, by providing a plurality of semiconductor manufacturing apparatuses, a tube, a vehicle, stations, SMIF arms and blowers. CONSTITUTION:A plurality of semiconductor manufacturing apparatuses 20 whose upper part is covered with a sealing cover provided with a clean air supplying device, a tube 30 disposed between these apparatuses in a plurality, a vehicle 31 moving through the tube 30 while holding an SMIF pod 24, at least a pair of stations 32 and 33 branching from the tube 30, SMIF arms 23 interposed between these stations 32 and 33 and the semiconductor manufacturing apparatuses 20 and conducting delivery of wafer cassettes between the SMIF pod 24 and the semiconductor manufacturing apparatuses 20, and blowers 34 making the pressure in the tube 30 negative to transfer the vehicle 31 through the tube 30, are equipped. Thereby the cost of construction, equipment and maintenance of a clean room is reduced sharply, the room is automated to save man power, and a yield of products is increased.

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は、超LSI、■C等の半導体製造分野におい
て、半導体製造装置間のウェーハカセットの搬送に用い
るクリーンルーム内移送システムに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a clean room transfer system used for transporting wafer cassettes between semiconductor manufacturing apparatuses in the field of semiconductor manufacturing such as VLSI and ■C.

「従来の技術 1 周知のように、半導体装置の製造工程、とりわけ半導体
ウェーハ上に回路素子を形成する前工程、及び製造装置
相互間のウェーハの搬送時において塵埃は大数であり、
作業雰囲気における清浄度がそのまま製品歩留まりに結
び付く。
"Prior Art 1. As is well known, a large amount of dust is generated in the manufacturing process of semiconductor devices, especially in the pre-process of forming circuit elements on semiconductor wafers, and during the transfer of wafers between manufacturing equipment.
The cleanliness of the working atmosphere is directly linked to product yield.

一般に、この種の半導体装置の作業雰囲気の高清浄化を
図るために、第7図ないし第9図に示すような、部分層
流型のクリーンルームが使用されている事が多い。
Generally, in order to maintain a highly clean working atmosphere for this type of semiconductor device, a partially laminar flow clean room as shown in FIGS. 7 to 9 is often used.

第7図において、符号には全体を外隔壁lによって外界
と区画されクリーンルームであり、このクリーンルーム
の中央には中央通路部2が設けられ、この中央通路部2
の両側にはこれと直交する複数の通路部領域3,3.・
・・と装置保全領域4,4゜・・とがバックパネル5を
介して交互に配置され、通路部領域3.3.・・・内の
両側には半導体製造装置を設置する装置部領域3a、3
a・・・が設けられた、いイつゆる、「ペイ方式Jのレ
イアウトとなっている。
In FIG. 7, the reference numeral indicates a clean room that is separated from the outside world by an outer partition wall l, and a central passage section 2 is provided in the center of this clean room.
A plurality of passage areas 3, 3 .・
... and device maintenance areas 4, 4°... are arranged alternately through the back panel 5, and the passage area 3.3. . . . Equipment area 3a, 3 where semiconductor manufacturing equipment is installed on both sides of the interior.
It has a so-called ``pay method J'' layout, in which a... is provided.

中央通路部2の天井には、第8図に示すように、この通
路に沿って各装置部領域3a、3a、・・・に半導体ウ
ェハーを搬送する自動搬送装置6が設置されている。そ
して、装置部領域3a、3a・・・には、半導体の製造
工程毎に対応した半導体製造装置7,7.・・・が設置
され、半導体ウェハーか前記半導体装置7,7.・・・
で処理され、順次次の装置部領域3 a、 3 a、・
・・へ搬送されることにより、その製造工程も順次進行
されるようになっている。
As shown in FIG. 8, an automatic transport device 6 is installed on the ceiling of the central passageway 2 to transport semiconductor wafers along this passageway to each device area 3a, 3a, . . . . The device region 3a, 3a, . . . includes semiconductor manufacturing devices 7, 7, . . . corresponding to each semiconductor manufacturing process. ... are installed, and the semiconductor wafers or the semiconductor devices 7, 7. ...
The processing is performed in the sequential device area 3a, 3a, .
By being transported to ..., the manufacturing process is progressed sequentially.

さらに、中央通路部2から通路部領域3,3.・・・へ
の入口付近には、各装置部領域3 a、 3 a、・・
・間での工程待ちをしている半導体ウェハーを、一時的
に貯蔵しておくストッカー8と、このストッカー8と自
動搬送装置6との間で半導体ウェハの受け渡しを行うス
タッカークレーン9が設けられている。
Further, from the central passage section 2 to the passage section areas 3, 3 . Near the entrance to each device area 3a, 3a,...
- A stocker 8 for temporarily storing semiconductor wafers waiting for processing between them, and a stacker crane 9 for transferring semiconductor wafers between the stocker 8 and the automatic transfer device 6 are provided. There is.

また、通路部領域3内には、第9図に示すように、半導
体製造装置7.7.・・・に沿って敷設された軌道IO
上を移動する、ウェーハカセットの自動搬送ロボット1
1が配設されている。さらに、その天井には主空調機(
図示略)から延在する給気ダクト12と連通ずる空気供
給部14,14.14が配設され、そこからULPAフ
ィルタ(もしくはHE P Aフィルタ)13を介して
清浄化された空気が通路部領域3及び装置部領域3a内
に供給されるようになっている。そして、室内に供給さ
せた清浄空気は通路部領域3の床部分に設けた有孔床(
グレーチング等)15からフリーアクセスフロア16を
通って装置保全域4へ達し、次いで空調機17によって
再び給気供給部14へ循環するような構成とされること
により、室内を所定の清浄度に維持するようにしている
Furthermore, as shown in FIG. 9, semiconductor manufacturing equipment 7.7. Track IO laid along...
Automatic transfer robot 1 for wafer cassettes moving above
1 is arranged. Furthermore, the main air conditioner (
An air supply section 14, 14.14 is provided which communicates with the air supply duct 12 extending from the air supply duct 12 (not shown), from which purified air passes through the ULPA filter (or HEPA filter) 13 and flows into the passage section. It is supplied to the area 3 and the device area 3a. The clean air supplied indoors is then supplied to the perforated floor (
grating, etc.) 15, passes through the free access floor 16 to reach the equipment maintenance area 4, and is then circulated back to the supply air supply section 14 by the air conditioner 17, thereby maintaining the room at a predetermined level of cleanliness. I try to do that.

ところが、このような部分層流型のクリーンルームにお
いては、室内全体を清浄状態に保つ必要があるため、天
井部分に空気供給部を設けたり、・床部を有効床として
床下にフリーアクセスフロア等を設けたりするとともに
、半導体製造装置の配置も特殊な形状(例えばペイ方式
)となっており、そのため大きな室内空間を有する特殊
な建築物が必要であるとともに、クリーンルームの空気
清浄設備やウェーハカセットの搬送設備等の付帯設備が
大掛かりなものとなり、その建設費や設備費は膨大なも
のとなっていること、また、通路部領域や装置保領域内
に作業具が入って作業を行うようになっており、維持す
る清浄度にも限界があり製品の歩留まりを低下させる原
因となる等の問題があった。
However, in such partially laminar flow clean rooms, it is necessary to keep the entire room clean, so it is necessary to install an air supply section in the ceiling, or to use the floor as an effective floor and install a raised floor under the floor. At the same time, the layout of semiconductor manufacturing equipment has a special shape (for example, pay method), which requires a special building with a large indoor space, as well as clean room air purification equipment and wafer cassette transportation. Ancillary equipment such as equipment has become large-scale, and its construction and equipment costs have become enormous.Also, working tools have come to be carried out in passageways and equipment storage areas. However, there is a problem in that there is a limit to the cleanliness that can be maintained, leading to a decrease in product yield.

このような、問題点を解決するものとして、SMIFシ
ステムを用いたクリーンルームが知られている。
A clean room using an SMIF system is known as a solution to such problems.

このSMIFシステムはその要部が、第10図に示すよ
うに、半導体製造装置2oとその上部を覆う密閉カバー
21と、この密閉カバー21の上部に取り付けられた高
性能フィルターと送風機とを有する清浄空気供給装置2
2と、訪記半導体製造装置20内の所定の位置にウェー
ハカセットをセットするためのSMIFアーム23とが
らなっており、半導体製造装置2oにウェーハカセット
をセットする際には、ウェーハカセットに収納された所
定枚数のウェーハを外気から遮断するための密閉容器で
あるSMIFポッド24に入れた状聾で前記SMIFア
ーム23の上部に載置する、そうすると内部のウェーハ
カセットのみがS M IFアーム23内に取り込まれ
、次いで半導体製造装置20内ヘセツトされる。また、
半導体製造装置20内での処理工程が終了したウェーハ
はウェーハカセットに収納された後、SMIFアーム内
に取り込まれ、次いで、その上部に載置されているSM
IF’ポッド24内に外気に触れることなく収められる
。そして、前記SMIFポッド24は、作業員25によ
って次の製造工程の半導体製造装置(図示せず)まで運
ばれた後、再び半導体製造装置に併設されたSMIFア
ーム(図示せず)上に載置され、前述した工程と同様に
して半導体製造装置内でウェーハが処理されろ。
As shown in FIG. 10, the main parts of this SMIF system include a semiconductor manufacturing equipment 2o, an airtight cover 21 covering the top of the equipment, and a high-performance filter and a blower attached to the top of the airtight cover 21. Air supply device 2
2 and a SMIF arm 23 for setting the wafer cassette at a predetermined position in the visiting semiconductor manufacturing equipment 20, and when setting the wafer cassette in the semiconductor manufacturing equipment 2o, A predetermined number of wafers are placed in the SMIF pod 24, which is an airtight container to isolate them from the outside air, and placed on the top of the SMIF arm 23, with the wafer cassette inside being deafened. Then, it is set in the semiconductor manufacturing equipment 20. Also,
The wafer that has undergone the processing steps in the semiconductor manufacturing equipment 20 is stored in a wafer cassette, then taken into the SMIF arm, and then the SMIF arm placed on top of the wafer cassette.
It can be stored inside the IF' pod 24 without being exposed to outside air. Then, the SMIF pod 24 is carried by a worker 25 to a semiconductor manufacturing device (not shown) for the next manufacturing process, and then placed again on a SMIF arm (not shown) attached to the semiconductor manufacturing device. Then, the wafer is processed in the semiconductor manufacturing equipment in the same manner as the process described above.

したがって、このSMIFシステムにおいては、半導体
製造装置内での処理中や作業員による運搬中を問わず、
ウェーハは外気と遮断され、その表面は清浄な空気で覆
われており、クリーンルーム内の清浄度が1000ない
しtooooo程度のものであっても、製品の高い歩留
まりを維持することかできる。その結果、クリーンルー
ムは、大きな室内空間を有する特殊な建築物か不要とな
り、一般の工場建設物と同程度の室内においても施工可
能であるとと乙に、クリーンルームの付帯設備が簡易な
しのとなり、その建設費や設備費及び維持費を大幅に低
減することができる。また、作業員は普通の室内と同じ
ような状況で、また通常の作業着で作業に従事でき、従
来のクリーンルームに比べて快適に仕事をすることがで
きる。
Therefore, in this SMIF system, regardless of whether it is being processed within the semiconductor manufacturing equipment or being transported by workers,
The wafer is isolated from the outside air and its surface is covered with clean air, making it possible to maintain a high product yield even if the cleanliness level in the clean room is 1000 to too high. As a result, the clean room does not require a special building with a large indoor space, and it can be constructed in a room of the same size as a general factory building. The construction cost, equipment cost, and maintenance cost can be significantly reduced. Additionally, workers can work in conditions similar to those in a normal room, wearing normal work clothes, and are more comfortable than in conventional clean rooms.

「発明が解決しようとする問題点」 しかし、前述したSMIFシステムを用いたクリーンル
ームにおいては、半導体製造装置間のウェーハの搬送や
、SMIFアームへのSMIFポッドのセットを作業員
が行うようになっており、それらの完全自動化が待たれ
ていた。
``Problems to be solved by the invention'' However, in clean rooms using the aforementioned SMIF system, workers are now responsible for transporting wafers between semiconductor manufacturing equipment and setting SMIF pods on SMIF arms. Therefore, their complete automation has been awaited.

本発明は、前記要求を満足させるためになされた乙ので
、クリーンルームの建設費や設備費及び維持費を大幅に
低減し、さらに、半導体製造装置間のウェーハの移送や
SMIFポッドのセットを自動化することにより、人の
介在を無くして省人化を図り、かつ製品の歩留まりを高
めるとともに、SMIFシステムを効率良く稼動させて
、製品のコストダウンを実現することのできるクリーン
ルーム内移送システムを提供することを目的としている
The present invention has been made to satisfy the above requirements, and therefore significantly reduces the construction cost, equipment cost, and maintenance cost of a clean room, and further automates the transfer of wafers between semiconductor manufacturing equipment and the setting of SMIF pods. To provide a clean room transfer system capable of eliminating human intervention to save labor, increase product yield, and efficiently operate an SMIF system to reduce product costs. It is an object.

「問題点を解決するための手段」 本発明は、前記問題点を解決するために、清浄空気供給
装置を備えた密閉カバーで上部を覆った複数の半導体製
造装置と、前記複数の半導体製造装置間に配設されたチ
ューブと、このチューブ内をウェーハカセットの密閉容
器であるSMIFポッドを保持した状態で移動するビー
クルと、このビークルを前記チューブと半導体製造装置
との間で移送及び時機させるための前記チューブから分
岐する少なくとも一対のステーションと、このステーシ
ョンとiη記半導体製造装置との間に介在し前記SMI
Fボヅドと半導体製造装置の間でウェーハカセットの受
け渡しを行うSMIF’アームと、前記チューブ内を負
圧にすることによりビークルとを特徴とする。
"Means for Solving the Problems" In order to solve the problems described above, the present invention provides a plurality of semiconductor manufacturing apparatuses whose tops are covered with airtight covers equipped with clean air supply devices, and a plurality of semiconductor manufacturing apparatuses having A tube disposed between the tube, a vehicle that moves within the tube while holding an SMIF pod, which is a sealed container for a wafer cassette, and a vehicle for transferring and timing the vehicle between the tube and the semiconductor manufacturing equipment. at least a pair of stations branching from the tube, and intervening between the station and the semiconductor manufacturing equipment iη, the SMI
It is characterized by a SMIF' arm that transfers wafer cassettes between the F-board and semiconductor manufacturing equipment, and a vehicle that creates negative pressure in the tube.

この場合、前記ステーションと前記ブロアとを電磁弁を
介して配管で連通させたり、前記チューブのステーショ
ンとの分岐部付近に転倒自在にストッパを設けたり、前
記ステーションに前記ビークルをステーションとSMI
Fアームとの間で昇降させるための昇降装置を設けたり
することが望ましい。
In this case, the station and the blower may be connected to each other by piping via a solenoid valve, a stopper may be provided near the branching part of the tube from the station, and the vehicle may be connected to the station by connecting the vehicle to the station and the SMI.
It is desirable to provide a lifting device for raising and lowering between the F-arm and the F-arm.

「実施例」 以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。第1図
ないし第5図及び第10図は、本発明の一実施例を示す
ものであり、これらの図において、前記第1O図に示し
たSMIFシステムにおける構成要素と同一の要素につ
いては同一符号を付し、その説明を省略する。
"Example" Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Figures 1 to 5 and Figure 10 show an embodiment of the present invention, and in these figures, the same elements as those in the SMIF system shown in Figure 1O are designated by the same reference numerals. , and the explanation thereof will be omitted.

第1図は本発明のクリーンルーム内移送システムの概要
を示す平面図であり、図において符号20は清浄空気供
給装置22を備えた密閉カバー21で上部を覆った各種
工程毎の半導体製造装置で本l]−そり、^の叩2こは
茜色新面の壬、−ブ30が設置されている。このチュー
ブ30内ではSMfFポッド24を保持した状態(第4
図参照)で、ビークル31が移動するようになっており
、チューブ30と各種半導体製造装置20との間には前
記ビークル31をその間で移送したり、待機させるため
のロード側のステーション32及びアンロード側のステ
ーション33とがチューブ30から直角に分岐して設け
られており、さらに、このステージ式ン32.33と半
導体製造装置20との間にはSMIFポッド24と半導
体製造装置20との間でウェーハカセットの受け渡しを
行うSMIFアーム23が配設されている。また、チュ
ーブ30の両端部にはチューブ30内を負圧にすること
によりビークル3Iをチューブ30内で移動させるブロ
ア34が取り付けられているとともに、このブロア34
と前記ステーション32.33との間は電磁弁35を介
して配管35aで連通されている。また、チューブ30
とステーション32゜33との境界面には、開閉自在な
仕切板36が取り付けられている。
FIG. 1 is a plan view showing an outline of the clean room transfer system of the present invention, and in the figure, reference numeral 20 denotes semiconductor manufacturing equipment for each of various processes, the upper part of which is covered with an airtight cover 21 equipped with a clean air supply device 22. l]-Sled, 2nd place of ^ has a new madder red mask, -bu 30 installed. Inside this tube 30, the SMfF pod 24 is held (fourth
(see figure), a vehicle 31 is designed to move, and between the tube 30 and various semiconductor manufacturing equipment 20 there is a load-side station 32 and an unloading station for transporting the vehicle 31 therebetween or making it standby. A load side station 33 is provided branching off from the tube 30 at right angles, and a station 33 on the load side is provided between the stage type station 32 and the semiconductor manufacturing equipment 20. A SMIF arm 23 is provided for transferring wafer cassettes. Further, a blower 34 is attached to both ends of the tube 30 to move the vehicle 3I within the tube 30 by creating a negative pressure inside the tube 30.
and the stations 32 and 33 are communicated via a solenoid valve 35 and a pipe 35a. Also, tube 30
A partition plate 36 that can be opened and closed is attached to the interface between the station 32 and the stations 32 and 33.

チューブ30の側部の所定の位置(各ステーションと対
応した位置)には、第2図に示すように、ビークル31
の通過を検知する検知器30aが取り付けられていると
ともに、底部には各ステーション32.33との分岐部
付近に、転倒自在な一対のストッパ37が設けである。
At a predetermined position on the side of the tube 30 (position corresponding to each station), as shown in FIG.
A detector 30a is attached to detect the passage of the station, and a pair of stoppers 37 that can be tipped over are provided at the bottom near the branching points with the stations 32 and 33.

さらに、ステーション33の上部にはビークル3Iをス
テーション33とSMIFアーム23との間で昇降させ
るためのフック式の昇降装置38が設けられ、ステーシ
ョン33の底部にはSMTFアーム23と対応した位置
に開閉自在の底蓋39が取り付けら、この底蓋39の両
側には転倒自在なストッパ37が設けられている。
Furthermore, a hook-type lifting device 38 is provided at the top of the station 33 to raise and lower the vehicle 3I between the station 33 and the SMIF arm 23, and a hook-type lifting device 38 is provided at the bottom of the station 33 at a position corresponding to the SMTF arm 23. A freely adjustable bottom cover 39 is attached, and stoppers 37 are provided on both sides of the bottom cover 39 to allow it to fall over.

前記、底蓋39は各種半導体製造装置毎にS MIFポ
ッド24の向きを変える必要があることから、第5図に
示すように、ターンテーブルの機能を備えており、底蓋
本体39aと、その中央部に形成された回転台39bと
、これを底蓋本体39aに回転自在に支持する支持部3
9cと、回転台39bを回転ギア39dを介して駆動す
る駆動部39eとを主な構成要素としている。なお、前
記昇降装置38の吊糸が、ステーション33の上面を貫
通する部分は十分なシール性を有した構造とするか、又
は、昇降装置38をステーション33内の天井部分に設
けるようにしてもよい。
Since the orientation of the SMIF pod 24 needs to be changed for each type of semiconductor manufacturing equipment, the bottom cover 39 has a turntable function as shown in FIG. A rotary table 39b formed in the center and a support section 3 that rotatably supports the rotary table 39b on the bottom cover body 39a.
9c and a drive unit 39e that drives the rotating table 39b via a rotating gear 39d. Note that the part where the hanging line of the lifting device 38 passes through the upper surface of the station 33 may have a structure with sufficient sealing properties, or the lifting device 38 may be provided on the ceiling inside the station 33. good.

つぎに、第3図ないし第5図は、ウェーハを収納したウ
ェーハカセットを外気から遮断するための容器であるS
MIFポッド24と、それを内部に載せてチューブ30
内を移送するビークル31を示すものである。SMIF
ポッド24はウェーハカセットを載せる底板部分とそれ
を覆う本体(カバー)部分とからなっており、それらは
移送時には互いに固定されている。ビークル3!は底部
に開口部40を設けた折状容器であり、その外面にはチ
ューブ30の内部を円滑に移動するための複数のローラ
4【が取り付けられ、上部には前記昇降装置38のフッ
クと係合する吊り金具(図示せず)が設けられ、開口部
40付近にはSMrPポッド24の底部を支持する楔4
2と、それを吊持すている。そして、SMIT’アーム
23の上面にビークル31が載置された時に、SMIF
アーム23の上面に設けられた楔42の着脱装置(図示
せず)によって楔42を上下させることにより、SM 
I Fポッド24とビークル31を固定したり、解放し
たりするようにしている。
Next, FIGS. 3 to 5 show S, which is a container for shielding a wafer cassette containing wafers from the outside air.
MIF pod 24 and tube 30 with it placed inside
3 shows a vehicle 31 transporting the interior. SMIF
The pod 24 consists of a bottom plate portion on which a wafer cassette is placed and a main body (cover) portion that covers it, which are fixed to each other during transportation. Vehicle 3! is a folded container with an opening 40 at the bottom, a plurality of rollers 4 are attached to the outer surface of the container for smooth movement inside the tube 30, and the upper part is connected to the hook of the lifting device 38. A matching hanging fitting (not shown) is provided, and a wedge 4 supporting the bottom of the SMrP pod 24 is provided near the opening 40.
2 and holding it. Then, when the vehicle 31 is placed on the upper surface of the SMIT' arm 23, the SMIF
By moving the wedge 42 up and down with a detachable device (not shown) provided on the upper surface of the arm 23,
The IF pod 24 and vehicle 31 are fixed or released.

つぎに、前・記りリーンルーム内移送システムの使用方
法をについて説明する。
Next, how to use the lean room transfer system described above will be explained.

(1)  まず、ブロア34を稼動させてチューブ30
内を負圧にし、ウェーバウェーバカセットを収納したS
 M I Fポッド24を載せたビークル31を移動さ
せる。そして、ビークル31が所定の半導体製造装置2
0付近の検知器30a部分を通過したことを検知すると
、ブロア34の機能を調節してビークル31を減速させ
るとと乙に、一対のストッパ37の円移動するビークル
31から遠い方のストッパ37を起こす。そうすること
により、ビークル31はストッパ31によって前記半導
体製造装置20のロード側のステーション33の前箱づ
ハ小士スジふす、1−I出小マL +lパq7元p−す
ことによってチューブ30内を移動不可能な状態で摺動
自在に挟まれる。
(1) First, operate the blower 34 and blow the tube 30
S with negative pressure inside and a Weber cassette stored.
The vehicle 31 carrying the MIF pod 24 is moved. Then, the vehicle 31 is connected to a predetermined semiconductor manufacturing apparatus 2.
When it is detected that the vehicle 31 has passed through the detector 30a near 0, the function of the blower 34 is adjusted to decelerate the vehicle 31. wake up By doing so, the vehicle 31 stops the tube 30 by using the stopper 31 to stop the front box of the load side station 33 of the semiconductor manufacturing apparatus 20. It is slidably sandwiched inside, making it impossible to move.

(2)つぎに、ブロア34を稼動させるとともに、電磁
弁35を切換して前記ステーション33内を負圧状態と
した後、仕切板37を開放しビークル31をステーショ
ン33内に取り込み、次いでストッパ37によってビー
クル31を底蓋39上の所定の位置にセットさせた後、
ブロア34を停止させる。
(2) Next, after operating the blower 34 and switching the solenoid valve 35 to create a negative pressure state in the station 33, the partition plate 37 is opened to take the vehicle 31 into the station 33, and then the stopper 37 After setting the vehicle 31 at a predetermined position on the bottom cover 39,
Blower 34 is stopped.

(3)つぎに、ビークル31をフック式の昇降装置38
で吊持した後、底蓋39を開放し、次第にSMIFアー
ム23の上面に降ろして載置する。
(3) Next, move the vehicle 31 to the hook-type lifting device 38.
After suspending it, the bottom cover 39 is opened, and it is gradually lowered and placed on the upper surface of the SMIF arm 23.

その際、楔42が外れビークル31からSMIFポッド
24が離脱してSMTPアーム23上面の所定に場所に
載置される。
At this time, the wedge 42 comes off, and the SMIF pod 24 is detached from the vehicle 31 and placed at a predetermined position on the upper surface of the SMTP arm 23.

(4)  SMIFアーム23の上面にSMIFポッド
24が載置されると、SMIFポッド24の底板は内部
のウェーハカセットを載せた状態で、SM I Fアー
ム23内に取り込まれ、次いでウェーハカセットのみが
半導体製造装置20にセットされる。その時、本体部分
(カバ一部分)はS M I Fアーム23の上面を覆
うような状態で残ったたままとなっており、ウェーハカ
セットかS M I Fアーム23内に取り込まれろ際
に、S M I Fアーム23内へ塵埃が侵入してウェ
ーハを汚染することがない。
(4) When the SMIF pod 24 is placed on the top surface of the SMIF arm 23, the bottom plate of the SMIF pod 24 with the internal wafer cassette placed thereon is taken into the SMIF arm 23, and then only the wafer cassette is removed. It is set in the semiconductor manufacturing equipment 20. At that time, the main body part (part of the cover) remained in a state covering the upper surface of the SMI F arm 23, and when the wafer was taken into the wafer cassette or the S M I F arm 23, the S M Dust does not enter into the IF arm 23 and contaminate the wafer.

(5)ウェーハカセットが半導体製造装置20内ヘセツ
トされると、ウェーハカセットからウェーハが一枚ずつ
取り出されて半導体製造装置20内で処理された後、半
導体製造装置20のアンロード側に設けられたウェーハ
カセットに収められ、今度はアンロード側のS M I
 Fアーム23によって、前記(3X4 )の工程を逆
に行うことにより、S M I Fポッド24を載せた
ビークル31をアンロード側のステーション32に取り
込む。その際、ウェーハを半導体製造装置20内で処理
する間に、空のウェーハカセットを収納したS M I
 Fポッド24を載せたビークル31を、次ぎに進むべ
き半導体製造装置のアンロード側のSMIFアーム23
に移動させた後、SMIFアームによって空のウェーハ
カセットを半導体製造装置20のアンロード位置にセッ
トしておく。
(5) When the wafer cassette is set in the semiconductor manufacturing equipment 20, the wafers are taken out one by one from the wafer cassette and processed in the semiconductor manufacturing equipment 20. The SMI is stored in the wafer cassette and is now on the unloading side.
By performing the above (3×4) process in reverse using the F arm 23, the vehicle 31 carrying the SMI F pod 24 is taken into the unloading station 32. At that time, while the wafers are being processed in the semiconductor manufacturing equipment 20, the SMI containing the empty wafer cassettes is
The vehicle 31 carrying the F-pod 24 is moved to the SMIF arm 23 on the unloading side of the semiconductor manufacturing equipment to which it should proceed next.
After moving the empty wafer cassette to the unload position of the semiconductor manufacturing apparatus 20, the SMIF arm sets the empty wafer cassette to the unload position of the semiconductor manufacturing apparatus 20.

(6)処理の終わったウェーハを収めたウェーハカセッ
トを収納したSMIFポッド24と一体となったビーク
ル31がアンロード側のステーション32に取り込まれ
ると、つぎに、ブロア34を稼動させてチューブ30内
を負圧にするとともに、仕切板36を開放し、ビークル
31をチューブ30内に移動させた後、前記(1)ない
しく5)の工程を繰り返すことにより、逐次次の工程の
半導体製造装置20に移送し、ウェーハの処理を行い製
品を完成させる。
(6) When the vehicle 31 integrated with the SMIF pod 24 containing the wafer cassette containing processed wafers is taken into the unloading station 32, the blower 34 is operated to move the inside of the tube 30. is made negative pressure, the partition plate 36 is opened, and the vehicle 31 is moved into the tube 30, and then the steps (1) to 5) are repeated, whereby the semiconductor manufacturing apparatus 20 in the successive steps is The wafers are transferred to the wafer and processed to complete the product.

上述したように、ウェーハカセット内に収納されたウェ
ーハはチューブ30及びステーション32.33内を移
動する間にも、SMrFポッド24内に収められて外気
と遮断されているため、チューブ30やステーション3
2.33内は通常の室内と同程度の清浄度でもよく、さ
らに、チューブ30内に少量の外気が侵入したり、チュ
ーブ30の肉面シビー々ルq1のロー−7A I 、L
−のり坑に上うてチューブ30内に塵埃が発生した場合
にも、ウェーハが汚染されることがない。そのため、チ
ューブ30は高価な材料を使用したり、密閉度や内面仕
上のために高精度の加工を施す必要がなく、その製作費
を低減さけることができる。また、チューブ30に検知
器30aとストッパ37とを設けたことにより、ビーク
ル31を任意のステーションの前で停止させることがで
きることになり、ブロア34はチューブ30の両端部に
設けるだけでよく、ウェーハカセットの連続移送が可能
となる。
As mentioned above, while the wafers housed in the wafer cassette are moving within the tube 30 and stations 32 and 33, they are housed in the SMrF pod 24 and isolated from the outside air.
2.3 The inside of the tube 30 may be as clean as a normal room, and furthermore, a small amount of outside air may enter the tube 30, or the flesh surface of the tube 30 may be severely damaged.
- The wafer will not be contaminated even if dust is generated inside the tube 30 by climbing up the slope. Therefore, the tube 30 does not require the use of expensive materials or high-precision machining to improve the degree of sealing and internal finish, and the manufacturing cost can be reduced. Further, by providing the detector 30a and the stopper 37 on the tube 30, the vehicle 31 can be stopped in front of any station, and the blower 34 only needs to be provided at both ends of the tube 30, and the wafer Continuous transport of cassettes becomes possible.

また、チューブ30には、清浄装置等の付帯設備が不要
であるので、半導体製造装置20は室内で自由に、かつ
、安価にレイアウトすることができる。
Further, since the tube 30 does not require additional equipment such as a cleaning device, the semiconductor manufacturing apparatus 20 can be laid out freely and inexpensively indoors.

その結果、本発明のシステムを用いるクリーンルームは
、大きな室内空間を有する特殊な建築物が不要となり、
一般の工場建物と同程度の室内においても施工可能であ
るとともに、クリーンルームの付帯設備が簡易なものと
なり、その建設費や設備費及び維持費を大幅に低減する
ことができる。
As a result, a clean room using the system of the present invention does not require a special building with a large indoor space.
It can be constructed even in an indoor room of the same size as a general factory building, and the incidental equipment of the clean room can be simplified, making it possible to significantly reduce the construction cost, equipment cost, and maintenance cost.

さらに、半導体製造装置間のウェーハの移送やSMIF
ポッドのセットを自動化したことにより、人の介在を無
くして省人化を図ることができ、かつ、製品の歩留まり
をSMIFポッドを人力で運ぶ場合よりらなお一層高め
るとともに、SMrFシステムを効率良く稼動さけて、
製品のコストダウンを実現することができる。
Furthermore, wafer transfer between semiconductor manufacturing equipment and SMIF
By automating the setting of pods, it is possible to save labor by eliminating human intervention, and also to increase the product yield even more than when transporting SMIF pods manually, and to operate the SMrF system efficiently. Avoid,
Product costs can be reduced.

なお、前記実施例では、チューブ30内でつ工−ハを移
動させる際、SMl、Fポッド24をビークル3Iに載
せて移動させるようにしているが、第6図に示すように
、ビークル31を用いずSMIFポッド24の外面に直
接ローラ41を取り付けて移動させるようにしてもよい
。また、SMIFポッド24をステーション32.33
とSMIFアーム23との間で移動させる際に、その安
定を図るため又はその向きを変化させるためにステーシ
ョン32.33とSMIFアーム23との間にガイドを
設けるようにしてもよい。
In the above embodiment, when moving the tool within the tube 30, the SML and F pod 24 are mounted on the vehicle 3I, but as shown in FIG. Instead, rollers 41 may be directly attached to the outer surface of the SMIF pod 24 to move it. Additionally, SMIF pod 24 was installed at station 32.33.
A guide may be provided between the station 32, 33 and the SMIF arm 23 in order to stabilize the station 32, 33 or to change its orientation when moving between the station 32, 33 and the SMIF arm 23.

「発明の効果」 以上説明したように本発明は、複数の半導体製造装置と
、この半導体製造装置間に配設されたチューブと、この
チューブ内をSMIFポッドを保持した状態で移動する
ビークルと、このビークルをチューブと半導体製造装置
との間で移送及び待機させるためのステーションと、S
MIFポッドと半導体製造装置の間でウェーハカセット
の受け渡しを行うSMIFアームと、ビークルをチュー
ブ内で移動させるブロアとを備えたものであるので、ク
リーンルームは大きな室内空間を有する特殊な建築物が
不要となり、半導体製造装置の配置が自由になり、一般
の工場建物と同程度の室内においても施工可能となると
ともに、付帯設備が簡易なものとなり、建設費や設備費
及び維持費が大幅に低減され、さらに、人の介在が少な
くなり省人化が図れ、かつ製品の歩留まりが高まるとと
らに、SMIFシステムを効率良く稼動させて、製品の
コストダウンを実現することができる。
"Effects of the Invention" As explained above, the present invention includes a plurality of semiconductor manufacturing devices, a tube disposed between the semiconductor manufacturing devices, a vehicle that moves within the tube while holding an SMIF pod, A station for transferring and waiting this vehicle between the tube and the semiconductor manufacturing equipment, and an S
The clean room is equipped with an SMIF arm that transfers wafer cassettes between the MIF pod and semiconductor manufacturing equipment, and a blower that moves the vehicle within the tube, eliminating the need for a special building with a large interior space. , semiconductor manufacturing equipment can be placed freely, construction can be carried out indoors on the same scale as in a general factory building, ancillary equipment is simplified, construction costs, equipment costs and maintenance costs are significantly reduced. Furthermore, it is possible to reduce human intervention, save labor, and increase product yield, as well as efficiently operate the SMIF system and reduce product costs.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図ないし第5図は、本発明の一実施例を示すもので
、第1図は本発明のクリーンルーム内移送システムの概
要を示す平面図、第2図はステーション付近を示す斜視
図を、第3図はビークルの斜視図、第4図はビークルに
SMIFポッドを載せた状態を示す一部断面をした正面
図、第5図はステーションの底蓋の詳細を示す側断面図
、第6図は他の実施例を示し直接ローラを付けた状態S
MIFポッドの斜視図、第7図ないし第9図は従来の部
分層流型のクリーンルームを示す図であり、第7図はペ
イ方式のレイアウトのクリーンルームの平面図、第8図
は中央通路部分から通路部領域を見たところの斜視図、
第9図は半導体製造装置が設置された通路部領域の斜視
図、第1O図は従来及び本実施例の一部に用いるSMI
Fシステムのクリーンルームを示す斜視図である。 20・・・・・・半導体製造装置、2!・・・・・・密
閉カバー、22・・・・・・清浄空気供給装置、23・
・・・・・SMIFアーム、24・・・・・・SMIF
ポッド、30・・・・・・チューブ、31・・・・・・
ビークル、32.33・・・・・・ステー−l−りりC
−−−−−、帝tIfイトウにa・・・・・・配管、3
7・・・・・・ストッパ、38・・・・・・昇降装置。 第8図 第6図 第4図 り4 第5図
1 to 5 show an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a plan view showing an overview of the clean room transfer system of the present invention, and FIG. 2 is a perspective view showing the vicinity of the station. Figure 3 is a perspective view of the vehicle, Figure 4 is a partially sectional front view showing the SMIF pod mounted on the vehicle, Figure 5 is a side sectional view showing details of the bottom cover of the station, and Figure 6. shows another embodiment and shows a state S in which a roller is directly attached.
Perspective views of the MIF pod, Figures 7 to 9 are diagrams showing conventional partially laminar flow clean rooms, Figure 7 is a plan view of a clean room with a pay-type layout, and Figure 8 is a view from the central passageway. A perspective view of the passageway area;
FIG. 9 is a perspective view of the passage area where the semiconductor manufacturing equipment is installed, and FIG. 1O is the SMI used in the conventional and part of this embodiment.
It is a perspective view showing a clean room of F system. 20... Semiconductor manufacturing equipment, 2! ... Seat cover, 22 ... Clean air supply device, 23.
...SMIF arm, 24...SMIF
Pod, 30...Tube, 31...
Vehicle, 32.33...Stay-L-RiriC
------, Teitou ni a... Piping, 3
7...stopper, 38...lifting device. Figure 8 Figure 6 Figure 4 Diagram 4 Figure 5

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)清浄空気供給装置を備えた密閉カバーで上部を覆
った複数の半導体製造装置と、前記複数の半導体製造装
置間に配設されたチューブと、このチューブ内をウェー
ハカセットの密閉容器であるSMIFポッドを保持した
状態で移動するビークルと、このビークルを前記チュー
ブと半導体製造装置との間で移送及び待機させるための
前記チューブから分岐する少なくとも一対のステーショ
ンと、このステーションと前記半導体製造装置との間に
介在し前記SMIFポッドと半導体製造装置の間でウェ
ーハカセットの受け渡しを行うSMIFアームと、前記
チューブ内を負圧にすることによりビークルをチューブ
内で移動させるブロアとを具備したことを特徴とするク
リーンルーム内移送システム。
(1) A plurality of semiconductor manufacturing equipment whose upper portions are covered with airtight covers equipped with clean air supply devices, a tube disposed between the plurality of semiconductor manufacturing equipment, and a sealed container for wafer cassettes inside the tube. a vehicle that moves while holding a SMIF pod; at least a pair of stations branching from the tube for transferring and waiting the vehicle between the tube and the semiconductor manufacturing equipment; and a station and the semiconductor manufacturing equipment. A SMIF arm is provided between the SMIF pod and the semiconductor manufacturing equipment to transfer wafer cassettes between the SMIF pod and the semiconductor manufacturing equipment, and a blower is provided to move a vehicle within the tube by creating a negative pressure inside the tube. Clean room transfer system.
(2)前記ステーションと前記ブロアとを電磁弁を介し
て配管で連通させたことを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載のクリーンルーム内移送システム。
(2) The clean room transfer system according to claim 1, wherein the station and the blower are communicated with each other by piping via a solenoid valve.
(3)前記チューブとステーションとの分岐部付近に転
倒自在にストッパを設けたことを特徴とする特許請求の
範囲第1項又は第2項記載のクリーンルーム内移送シス
テム。
(3) The clean room transfer system according to claim 1 or 2, characterized in that a stopper is provided near the branching point between the tube and the station so as to be able to fall freely.
(4)前記ステーションに前記ビークルをステーション
とSMIFアームとの間で昇降させるための昇降装置を
設けたことを特徴とする特許請求の範囲第1項ないし第
3項記載のクリーンルーム内移送システム。
(4) The clean room transfer system according to any one of claims 1 to 3, wherein the station is provided with a lifting device for raising and lowering the vehicle between the station and the SMIF arm.
JP5205886A 1986-03-10 1986-03-10 Transfer system in clean room Pending JPS62209817A (en)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5205886A JPS62209817A (en) 1986-03-10 1986-03-10 Transfer system in clean room
US07/018,993 US4826360A (en) 1986-03-10 1987-02-25 Transfer system in a clean room
EP87301888A EP0239266A3 (en) 1986-03-10 1987-03-04 Transfer system in a clean room
CA000531391A CA1271271A (en) 1986-03-10 1987-03-06 Semiconductor wafer transport system in a clean room
KR870002102A KR870009446A (en) 1986-03-10 1987-03-09 Transport system in clean room

Applications Claiming Priority (1)

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JP (1) JPS62209817A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011257018A (en) * 2010-06-05 2011-12-22 Takenaka Komuten Co Ltd Clean room facility and zoning method thereof

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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