JPS62188336A - Method of automatic loading and unloading of wafer on susceptor - Google Patents

Method of automatic loading and unloading of wafer on susceptor

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JPS62188336A
JPS62188336A JP28093786A JP28093786A JPS62188336A JP S62188336 A JPS62188336 A JP S62188336A JP 28093786 A JP28093786 A JP 28093786A JP 28093786 A JP28093786 A JP 28093786A JP S62188336 A JPS62188336 A JP S62188336A
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JP
Japan
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wafer
susceptor
pick
station
arm
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Application number
JP28093786A
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Japanese (ja)
Inventor
チャールズ リー−トラン チャ
アルバート ダニエル コレンティ,シニア
ロバート マイケル エリックソン
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AT&T Corp
Original Assignee
American Telephone and Telegraph Co Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 狡街分界 本発明は、化学的気相成長即ちCVD用反応器に使用さ
れるサスセプタ上の半導体ウェハを自動的にローディン
グ及びアンローディングする方法及び装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method and apparatus for automatically loading and unloading semiconductor wafers on a susceptor used in a chemical vapor deposition or CVD reactor.

光里■青景 集積電子回路の製造工程中には、半導体ウェハ(例えば
シリコン)上に原子(例えばシリコン)の層をエピタキ
シャル成長し、P型及びn型導体領域を作るステップが
存在する。このエピタキシャル層の成長はSiH4を熱
分解してウェハ上にシリコン原子を化学的気相成長させ
ることによって行われる。この工程は、一般にかなり高
温(例えば、1100〜1200℃)の胴体状反応器内
で行われる。
During the manufacturing process of integrated electronic circuits, there is a step of epitaxially growing a layer of atoms (eg, silicon) on a semiconductor wafer (eg, silicon) to create P-type and n-type conductor regions. The epitaxial layer is grown by thermally decomposing SiH4 and chemical vapor deposition of silicon atoms onto the wafer. This process is generally carried out in a barrel reactor at fairly high temperatures (eg 1100-1200°C).

典型的な、エピタキシャル層成長用胴体反応器は、サス
セプタを収容するペルジャーを有し、このサスセプタは
側面を複数個有し、各側面には、半導体ウェハを載置す
る一個以上の浅いポケットが形成されている。このペル
ジャーの外周には熱源が設置され、ペルジャー内に導入
されたSiH4を熱分解する。このSiH4が分解する
につれて、サスセプタが回転され、これによって各ポケ
ットのウェハにシリコン原子が均一に成長する。
A typical body reactor for epitaxial layer growth has a pell jar containing a susceptor having multiple sides, each side forming one or more shallow pockets in which a semiconductor wafer is placed. has been done. A heat source is installed around the outer circumference of the Pel jar to thermally decompose the SiH4 introduced into the Pel jar. As this SiH4 decomposes, the susceptor is rotated, thereby uniformly growing silicon atoms on the wafer in each pocket.

従来は、サスセプタへのウェハのローディングやアンロ
ーディングはオペレータがピンセットでウェハを把持し
て手動操作によって行われていた。
Conventionally, loading and unloading of wafers onto and from a susceptor was performed manually by an operator holding the wafer with tweezers.

このため、この手動操作中にウェハに傷を付けたり、更
には落下事故などが起っていた。この為、製造歩留が悪
化しコストが上昇してしまう。
For this reason, during this manual operation, the wafer may be damaged or even fall accidents may occur. For this reason, manufacturing yield deteriorates and costs increase.

従って、サスセプタのウェハを自動的にローディング及
びアンローディングする方法が望まれていた。
Therefore, a method for automatically loading and unloading wafers on a susceptor is desired.

光浬Fυ糺絢 上述の問題は、サスセプタ上のウェハを自動的にローデ
ィング及びアンローディングする本発明によって実質的
に解決される。本発明に係る方法は、まず、ウェハ・ロ
ード・ステーションにあろウェハとピックアップ装置の
少なくとも一個の吸引手段とを係合させる。それから、
ピックアップ装置をウェハ・ロード・ステーションから
移動し、またサスセプタをピックアップ装置に隣接する
ように位置決めする。その後、ピックアップ装置をサス
セプタの方へ移動し、そのサスセプタにウェハを置く。
The above-mentioned problems are substantially solved by the present invention, which automatically loads and unloads wafers on a susceptor. The method according to the invention first involves engaging a wafer at a wafer loading station with at least one suction means of a pick-up device. after that,
The pickup device is moved from the wafer load station and the susceptor is positioned adjacent the pickup device. Thereafter, the pickup device is moved toward the susceptor, and the wafer is placed on the susceptor.

ウェハがサスセプタに置かれると、つ゛   エバとピ
ックアップ装置との係合が解除される。
Once the wafer is placed on the susceptor, the wafer is disengaged from the pick-up device.

また、本発明に基づく別の方法では、ウェハをサスセプ
タから自動的にアンローディングする。
Another method according to the invention automatically unloads the wafer from the susceptor.

このアンローディング方法は、まず吸引手段を有するピ
ックアップ装置に隣接するようにサスセプタを位置決め
する。次いで、ウェハと吸引手段とを係合させた後に、
ピックアップ装置をサスセプタからウェハ・アンロード
・ステーションに移動し、ここでウェハとピックアップ
装置との係合を解いてウェハ・アンロード・ステーショ
ンにウェハを収容する。
In this unloading method, a susceptor is first positioned adjacent to a pickup device having suction means. Then, after engaging the wafer and the suction means,
The pickup device is moved from the susceptor to a wafer unload station, where the wafer is disengaged from the pickup device and the wafer is loaded into the wafer unload station.

サスセプタのローディング及びアンローディングステッ
プは、本目的を達成する単一構造によって一緒に達成す
ることができる。
The susceptor loading and unloading steps can be accomplished together by a single structure that achieves this objective.

罷鞭f反班 途MjL吸 第1図はCVD (化学的気相成長)反応器10の側面
図であり、この反応器10は、好適実施例では、アメリ
カ合衆国カリフォルニア州すンタクララ(Santa 
C1ara )のアプライド マテリアルズ(Appl
ied Materials )社製の7810型反応
器から構成される。反応器10は容器11を具備し、こ
の容器11はその頂部に開口11aを有する。容器11
内においてCVD処理が行われて複数のウェハ12〜1
2の各々に原子の層をエピタキシャル成長させる。これ
らのウェハ12〜12は、ウェハ支持部材、即ちサスセ
プタ16上の互いに離間した複数のポケット14〜14
の各々に保持されている。このサスセプタ16は多側面
胴体であり、この胴体は典型的には6個の側面を有し、
各側面は鉛直方向に離間した2個のポケット14〜14
を有する。サスセプタ16は、通常RF(高周波)場に
感応し易すいグラファイト(黒鉛)の如き材料から作ら
れているので、容器ll内で誘導加熱される。尚、別の
方法によってサスセプり16を容器11内で加熱する場
合には、このサスセプタ16はRF場に感応しない材料
で作るようにしてもよい。
Figure 1 is a side view of a CVD (chemical vapor deposition) reactor 10, which in the preferred embodiment is located in Santa Clara, California, United States.
C1ara) Applied Materials (Appl
It consists of a 7810 type reactor manufactured by IED Materials. Reactor 10 comprises a vessel 11 which has an opening 11a at its top. Container 11
A plurality of wafers 12 to 1 are subjected to CVD processing within
A layer of atoms is epitaxially grown on each of the two. These wafers 12-12 are placed in a plurality of spaced apart pockets 14-14 on a wafer support member, i.e., a susceptor 16.
are held in each. The susceptor 16 is a multi-sided fuselage, typically having six sides;
Each side has two vertically spaced pockets 14-14.
has. The susceptor 16 is typically made of a material, such as graphite, which is sensitive to RF (radio frequency) fields, so that it is inductively heated within the vessel 11. Note that if the susceptor 16 is heated within the container 11 by another method, the susceptor 16 may be made of a material that is not sensitive to RF fields.

サスセプタ16はロッド20の下端に固着されており、
このロッド20の上端は、鉤(不図示)によって円盤2
2に着脱可能に取付けられている。
The susceptor 16 is fixed to the lower end of the rod 20,
The upper end of this rod 20 is attached to a disk 2 by a hook (not shown).
It is removably attached to 2.

この円盤22はアーム24に取付けられ、このアーム2
4は、反応器10に摺動可能に取付けられ、鉛直方向に
移動できる。反応器10内にはアーム24を昇降させる
手段(不図示)が設けられ、これによりサスセプタ16
は容器11の開口11a内に挿入され、かつそこから引
き出される。ロッド20の上端の円盤22は、アーム2
4が下降してサスセプタ16を容器11内に挿入した後
に容器11の開口11aをシールする。円盤部材22に
は、モータ(不図示)が設けられ、このモータはロッド
20とサスセプタ16とを回転させる。
This disk 22 is attached to an arm 24, and this arm 2
4 is slidably attached to the reactor 10 and can be moved in the vertical direction. A means (not shown) for raising and lowering the arm 24 is provided in the reactor 10, thereby raising and lowering the susceptor 16.
is inserted into the opening 11a of the container 11 and withdrawn therefrom. The disk 22 at the upper end of the rod 20 is connected to the arm 2
4 is lowered to insert the susceptor 16 into the container 11, and then seals the opening 11a of the container 11. A motor (not shown) is provided on the disk member 22, and this motor rotates the rod 20 and the susceptor 16.

従来は、ウェハ12〜12はピンセットを使用して手動
的にサスセプタ16の側面18〜18のポケット14〜
14に運ばれ、そこから取り出されていた。このように
ウェハ12〜12を人手により取扱うと、ウェハの大事
な表面を傷付けて、使いものにならないものにしてしま
うと共に、更にはウェハを落として損傷してしまうこと
もある。
Conventionally, wafers 12-12 are manually inserted into pockets 14-14 on sides 18-18 of susceptor 16 using tweezers.
14 and was taken out from there. Manual handling of the wafers 12-12 in this manner may damage the important surfaces of the wafers, rendering them unusable, and may even cause the wafers to be dropped and damaged.

このウェハ取扱中のウェハ損傷によって製造歩留が低下
し生産コストは上昇してしまう。
This wafer damage during wafer handling reduces manufacturing yield and increases production costs.

ウェハ12〜12をサスセプタ16に手動搬送すること
による損傷を避ける為に、ロード及びアンロード装置2
6が開発され、これによりウェハ取扱が自動化された。
In order to avoid damage caused by manually transferring the wafers 12-12 to the susceptor 16, a loading and unloading device 2 is installed.
6 was developed to automate wafer handling.

このロード及びアンロード装置26は運搬車28を有し
、この運搬車28は、形状が平行六面体であり、底部に
足車30〜30を有しているので、CVD反応器10へ
転動移動し、同様にそこから離れることができる。この
運搬車28の四隅からは、複数の柱32〜32が上方に
延びており、棚34を支持している。
This loading and unloading device 26 has a transport vehicle 28 which is parallelepiped in shape and has castors 30 to 30 at the bottom for rolling movement to the CVD reactor 10. And you can leave it as well. A plurality of pillars 32 - 32 extend upward from the four corners of this carrier 28 and support a shelf 34 .

この棚34は、高さが反応器10の反応器11よりもわ
ずかに高く、第1図及び第2図に示したように、棚34
からは水平方向外方に張出部35が一体に延びている。
This shelf 34 is slightly higher in height than the reactor 11 of the reactor 10, and as shown in FIGS.
A projecting portion 35 integrally extends outward in the horizontal direction.

この張出部35は、第2図に示したように先細り内側面
35aと外側部35bとを具備し、この内側部35aは
棚34に極く近接しており、外側面35bの長手方向縁
は互に平行である。また、張出部35の外側部35bは
反応容器11への開口11a (第1図)よりも大きく
定められている。サスセプタ16が反応容器11から引
き出されその後、第1図の如く張出部35が反応器10
の上に張出部するように運搬車28の位置が定められる
と、張出部の外側部35b(第2図参照)は反応容器へ
の開口11aの上に位置することになる。第2図に示す
ように、張出部35を支持する為に、3本の梁36〜3
6が棚34の下面から延在し張出部35の下面に当接し
ている。
As shown in FIG. 2, the overhanging portion 35 has a tapered inner surface 35a and an outer portion 35b. are parallel to each other. Further, the outer portion 35b of the overhang portion 35 is set larger than the opening 11a (FIG. 1) to the reaction vessel 11. After the susceptor 16 is pulled out from the reaction vessel 11, the overhang 35 is inserted into the reactor 10 as shown in FIG.
When the carriage 28 is positioned so as to overhang the overhang, the outer portion 35b of the overhang (see FIG. 2) will be located over the opening 11a to the reaction vessel. As shown in FIG. 2, three beams 36 to 3 are provided to support the overhang 35.
6 extends from the lower surface of the shelf 34 and is in contact with the lower surface of the overhang 35 .

第2図において互に離間した一対の位置合せ部材37.
37の各々は、外方に拡がるように反応器10の側面の
うち反対側のものに固設されている。これらの位置合せ
部材37.37は、張出部35の先細り内側部35aの
側部を捕捉して反応容器11への開口11a(第1図参
照)の上方に張出部の外側部35bを案内する働きをし
ている。
A pair of alignment members 37 spaced apart from each other in FIG.
37 are fixed to opposite sides of the reactor 10 so as to extend outward. These alignment members 37.37 capture the sides of the tapered inner part 35a of the overhang 35 and position the outer part 35b of the overhang above the opening 11a (see FIG. 1) to the reaction vessel 11. It serves as a guide.

一対の留め金38.38の各々は、張出部35の先細り
内側面部の別々の縁に取付けられ、各位置合せ部材37
.37から上方へ突出した一対のローラー39.39に
係合している。こうして運搬車28は、反応器10に確
実に係合した状態に保持される。
Each of the pair of clasps 38.38 is attached to a separate edge of the tapered inner surface of the overhang 35 and each of the alignment members 37.
.. It engages a pair of rollers 39 and 39 that protrude upward from 37. Carriage 28 is thus held securely engaged with reactor 10.

第1図において、プラットホーム40は流体シリコン4
4.44の夫々の軸42によって張出部35の上方に支
持され、これらのシリンダ44.44はプラットホーム
40に鉛直方向に取付けられている。プラントホーム4
0は、シリンダ44.44の軸42.42が第1図に示
すように伸ばされると張出部35かられずかな距離(例
えば1インチ)だけ持ち上げられる。第2図に示された
ように、張出部35の先細り内側部35aにはリミット
スイッチ45が取付けられ、このリミットスイッチ45
はプラットホーム40が上昇位置及び下降位置にあるこ
とを検出する。
In FIG. 1, platform 40 is a fluidic silicone 4
These cylinders 44,44 are mounted vertically on the platform 40, supported above the ledge 35 by respective shafts 42 of 44,44. plant home 4
0 is raised a small distance (e.g., 1 inch) from the ledge 35 when the shaft 42.42 of the cylinder 44.44 is extended as shown in FIG. As shown in FIG. 2, a limit switch 45 is attached to the tapered inner side 35a of the overhang 35.
detects that platform 40 is in the raised and lowered positions.

第1図及び第2図に示したように、プラントホ−ム40
はテーブル46を有し、このテーブル46はプラットホ
ーム40の上面に回転可能に軸支されている。サスセプ
タ16が容器11から引き出され、かつ運搬車28が反
応器11に隣接して張出部35が反応器11の上に位置
した状態では、テーブル46は、サスセプタ16の下に
存在する。第2図に示すようにテーブル46は歯車48
を有し、この歯車48は、プラットホーム40に取付け
られたモータ52に駆動チェーン50によって連結され
ている。テーブル46がモータ52によって回転される
と、プラットホーム40に取付けられたセンサ54はこ
のテーブル46の位置を検出する。
As shown in Figures 1 and 2, the plant home 40
has a table 46 rotatably supported on the upper surface of platform 40. When the susceptor 16 is pulled out from the container 11 and the carrier 28 is adjacent to the reactor 11 and the overhang 35 is positioned above the reactor 11, the table 46 is under the susceptor 16. As shown in FIG.
The gear 48 is connected by a drive chain 50 to a motor 52 mounted on the platform 40. A sensor 54 mounted on platform 40 detects the position of table 46 as it is rotated by motor 52.

テーブル46には、高さが夫々1〜2インチの一対の直
立ガイド56.56が配設され、サスセプタ16の一対
の側面の横方向の動きを制限している。サスセプタ16
は、円盤22に鉤で吊されているので容器11から引出
されたとき振子のように揺動してテーブル46を越える
恐れがあるが、上記ガイド5G、56はこのようなサス
セプタ16の揺動を防止している。テーブル46には、
高さが多少低い別の一対のガイド58.5Bが配設され
、これらのガイド58.58は、プラットホーム40が
持ち上げられてサスセプタ16の基部に接触すると、サ
スセプタ16の別の一対の側面に係合する。
A pair of upright guides 56,56, each 1 to 2 inches in height, are disposed on the table 46 to limit lateral movement of the pair of sides of the susceptor 16. Suscepta 16
is suspended from the disk 22 by a hook, so when it is pulled out from the container 11, there is a risk that it will swing like a pendulum and go over the table 46. is prevented. On table 46,
Another pair of guides 58.5B, which are somewhat lower in height, are arranged, and these guides 58.58 engage another pair of sides of the susceptor 16 when the platform 40 is lifted and contacts the base of the susceptor 16. match.

ロボット60 プラットホーム40上には、ロボット60が設けられ、
このロボット60はアーム62を有する。
Robot 60 A robot 60 is provided on the platform 40,
This robot 60 has an arm 62.

このアーム62は、プラットホームに固設された直立円
筒状基部64に回転可能に軸支されている。
The arm 62 is rotatably supported on an upright cylindrical base 64 that is fixed to the platform.

この基部64の、プラットホーム40への取付位置は次
のように定められている。即ち、アーム62が、テーブ
ル46の半径に対し同軸である半径を有する円弧(不図
示)に沿って回転するように定められている。アーム6
2は、第2図に示したようにテーブル46の半径と同軸
となる、即ち一直線となるとき、「基準位置」にあると
称する。
The attachment position of the base 64 to the platform 40 is determined as follows. That is, the arm 62 is configured to rotate along an arc (not shown) having a radius that is coaxial with the radius of the table 46. Arm 6
2 is said to be in the "reference position" when it is coaxial with the radius of table 46, that is, in a straight line, as shown in FIG.

第3図は、ロボット60を詳細に示したもので、了−ム
62は第1及び第2のアーム部66と68とを有し、両
アーム部は、質量を減する為に貫通孔が複数穿設された
棒から作られている。アーム部68の一端68aは成る
角度で切断されており、このアーム部68の一端68a
からは、アーム部の上部と底部との中程においてタブ6
9が外方へ延在しており、アーム部66の矢じり形状の
一端70aの最外方先端のスロット70に入り込んでい
る。
FIG. 3 shows the robot 60 in detail, with the arm 62 having first and second arm portions 66 and 68, both of which are provided with through holes to reduce mass. It is made from a rod with multiple holes. One end 68a of the arm portion 68 is cut at an angle, and one end 68a of the arm portion 68
From then on, there is a tab 6 located halfway between the top and bottom of the arm.
9 extends outward and enters a slot 70 at the outermost tip of one arrowhead-shaped end 70a of the arm portion 66.

旋回ピン71は、タブ69をスロット70に回転可能に
取付け、これによりアーム部68はアーム部66のまわ
りを回転し水平位置(実線で示した)と鉛直位置(想像
線で示した)との間を移動する。旋回ピン72は、アー
ム部68の一端68aの最上部に位置するタブ73を複
動式流体シリンダ75の軸部74に旋回可能に連結して
おり、このシリンダ75は水平方向に延在するようにア
ーム部66内に取付けられている。アーム部66にはリ
ミットスイッチ76aが取付けられ、このスイッチ76
aは軸部74がシリンダ75内に引込んだときにその軸
部74によって作動される。ア一ム部66の端70aに
は、タブ71の下方に別のリミットスイッチ76bが取
付られ、このリミットスイッチ76bはアーム部6Bが
鉛直位置に旋回した時に作動される。
Pivot pin 71 rotatably attaches tab 69 to slot 70 such that arm portion 68 rotates about arm portion 66 between a horizontal position (shown in solid lines) and a vertical position (shown in phantom lines). move between The pivot pin 72 pivotably connects a tab 73 located at the top of one end 68a of the arm portion 68 to a shaft portion 74 of a double-acting fluid cylinder 75, and this cylinder 75 is configured to extend horizontally. is attached within the arm portion 66. A limit switch 76a is attached to the arm portion 66, and this switch 76
a is actuated by the shaft portion 74 when the shaft portion 74 is retracted into the cylinder 75. Another limit switch 76b is attached to the end 70a of the arm section 66 below the tab 71, and this limit switch 76b is activated when the arm section 6B is pivoted to the vertical position.

了−上部66の底部には、その一端77aに極く接近し
て円形板77が取付けられ、この円形板77は基部64
の上端と一体のフランジ付部材78上で回転可能である
。アーム部66には鉛直軸80が固着され、この鉛直軸
80はアーム部66から下方に延び、円形板76はフラ
ンジ付部材78とを貫通して基部64内に入り込んでい
る。
- A circular plate 77 is attached to the bottom of the upper part 66 in close proximity to one end 77a, and this circular plate 77 is connected to the base 64.
It is rotatable on a flanged member 78 integral with the upper end of. A vertical shaft 80 is fixed to the arm portion 66 and extends downward from the arm portion 66, and the circular plate 76 penetrates the flanged member 78 and enters the base portion 64.

軸受82と84は、軸80を夫々フランジ78と基部6
4とに対して回転可能に支持している。軸80は、減速
機86を介してモータ88によって駆動され、このモー
タ88は基部64の底部に取付けられている。このモー
タ88には回転レゾルバ−(分解器)(不図示)が連結
され、このレゾルバ−はモータ軸の角度位置、従つてロ
ボットアーム62の角度位置を表わす信号を発生する。
Bearings 82 and 84 connect shaft 80 to flange 78 and base 6, respectively.
It is rotatably supported with respect to 4. The shaft 80 is driven by a motor 88 via a speed reducer 86, which motor 88 is mounted on the bottom of the base 64. A rotary resolver (not shown) is coupled to the motor 88 and generates a signal representative of the angular position of the motor shaft and, therefore, the angular position of the robot arm 62.

フランジ78には流体シリンダ90が取付けられ、この
シリンダ90の軸92は軸80に平行に上方に延びてい
る。シリンダ90が休止(非加圧)状態であるとき、軸
92は引込み板77に非係合であり、これによりアーム
62は回転可能となっている。軸92は、シリンダ90
から突出されると、板77の開口93に係合しアーム6
2の回転を係止する。
Attached to flange 78 is a fluid cylinder 90 whose axis 92 extends upwardly parallel to axis 80. When the cylinder 90 is at rest (non-pressurized), the shaft 92 is not engaged with the retraction plate 77, thereby allowing the arm 62 to rotate. The shaft 92 is a cylinder 90
When the arm 6 is projected from the plate 77, the arm 6 engages with the opening 93 in the plate 77.
Lock the rotation of 2.

皿九生l土 第3図のロボット60は、アーム部68の端68aの反
対側端95に端部作動体、即ち掴み体94を保持する。
The robot 60 shown in FIG. 3 holds an end effector, that is, a gripper 94, at an end 95 of the arm 68 opposite to the end 68a.

この掴み体94は鉛直棒96を有し、この鉛直棒96は
互に平行かつ離間した一対のピン9B、9Bを有する。
This gripping body 94 has a vertical rod 96, and this vertical rod 96 has a pair of pins 9B, 9B parallel to each other and spaced apart from each other.

これらのピン9B、98は、棒96から突出しアーム部
68の端95内に固定された一対のリニア軸受(不図示
)に夫々挿入されている。複動式流体シリンダ100は
、水平方向に延在するようにアーム部68内に取付けら
れ、このシリンダの軸(不図示)は、棒96に取付けら
れこの棒をアーム部68の方及びそこから離れる方向に
変位させる。アーム部68には、リミットスイッチ10
1が取付けられ、このリミットスイッチ101は、ピン
98.98がシリンダ100の軸の伸長により掴み体9
4と共に変位したときにピン98.98の上方のピンに
よって作動される。
These pins 9B and 98 are respectively inserted into a pair of linear bearings (not shown) that protrude from the rod 96 and are fixed within the end 95 of the arm portion 68. A double-acting fluid cylinder 100 is mounted horizontally extending within the arm 68 and has an axis (not shown) attached to a rod 96 that directs the rod toward and away from the arm 68. Displace it in the direction away from it. A limit switch 10 is attached to the arm portion 68.
1 is attached, and this limit switch 101 has pins 98 and 98 that are attached to the grip body 9 due to the extension of the axis of the cylinder 100.
4 is actuated by the upper pin of pin 98.98.

互に平行かつ離間した第1の対のロッド102.102
と同様の第2の対のロッド103.103とは夫々第1
、第2の対のリニア軸受(不図示)内に摺動可能に収容
され、棒96の上部と底部とを水平方向に貫通している
。各ロッド102.102と103.103の端102
a、103aの近傍には、止め部(不図示)が設けられ
、棒96の軸受内のロッドの移動を制限している。各対
のロッド102.102と103.103の端102b
と103bには、一対のスパイダ104.104が夫々
取付けられている。これらスパイダ104.104は夫
々第1の対のバネ106.106と第2の対のバネ10
7.107によって棒96から付勢されている。各バネ
106.106.107.107   。
a first pair of rods 102.102 parallel and spaced apart from each other;
A second pair of rods 103, 103 similar to
, is slidably housed within a second pair of linear bearings (not shown) and extends horizontally through the top and bottom of rod 96. End 102 of each rod 102.102 and 103.103
A stop portion (not shown) is provided near a and 103a to limit movement of the rod within the bearing of the rod 96. End 102b of each pair of rods 102.102 and 103.103
A pair of spiders 104 and 104 are attached to 103b and 103b, respectively. These spiders 104.104 are connected to a first pair of springs 106.106 and a second pair of springs 10, respectively.
7.107 from rod 96. Each spring 106.106.107.107.

はロッド102.102と103.103の夫々と同軸
状態になっている。
are coaxial with rods 102.102 and 103.103, respectively.

第4図は、面4−4に沿った第3図のロボット60の正
面図であり、各スパイダ104は、多数の開口が穿設さ
れた多開口リング部108を有する。このリング部10
8には一体に多開口アーム110〜110が設けられ、
これらの多開口アーム110〜110は、互に等間隔と
なるように放射状に延在している。スパイダ104の各
アーム110は真空吸引器(吸引カップ)112を有し
、この吸引器110はスパイダ104から(第4図の平
面から外へ)突出している。スパイダ104のリング部
108の中心Cと各真空吸引器112との半径方向の間
隔は、第1図及び第2図の各ウェハ12の半径よりわず
かに小さく定められている。吸引器112〜112の半
径方向距離は、上述のように定められているので、各吸
引器112は第3図のサスセプタ16に保持された各ウ
ェハ12〜12の前面の周辺部に係合することができる
FIG. 4 is a front view of the robot 60 of FIG. 3 taken along plane 4-4, with each spider 104 having a multi-aperture ring portion 108 with a number of apertures drilled therein. This ring part 10
8 is integrally provided with multi-opening arms 110 to 110,
These multi-opening arms 110-110 extend radially at regular intervals. Each arm 110 of spider 104 has a vacuum aspirator (suction cup) 112 that projects from spider 104 (out of the plane of FIG. 4). The radial distance between the center C of the ring portion 108 of the spider 104 and each vacuum suction device 112 is set to be slightly smaller than the radius of each wafer 12 in FIGS. 1 and 2. The radial distance of the suction devices 112-112 is determined as described above, so that each suction device 112 engages the front peripheral portion of each wafer 12-12 held in the susceptor 16 of FIG. be able to.

第5図において、各吸引器112は、円錐台形状の中空
上部116とこれと一体の円筒状中空下部118とを有
する。各吸引器112の円筒部118の直径は、端ぐり
(穴ぐり)119の直径よりもわずかに小さい。尚、こ
の孔119は、各アーム110の底に穿設されておりア
ーム110の開口119aと同軸関係にある。各吸引器
112の円筒部118は、切欠119bを有し、これに
より吸引器112が開口119aに係合することができ
る。端ぐり119は、メネジが刻設されており、突起付
の継手120の端部120aのオネジに螺合されている
。この継手120はホース121の端121aに係合し
ている。ホース121の反対側端121bは弁123を
介して真空ポンプ122に接続されている。
In FIG. 5, each suction device 112 has a truncated conical hollow upper part 116 and an integral cylindrical hollow lower part 118. The diameter of the cylindrical portion 118 of each aspirator 112 is slightly smaller than the diameter of the counterbore 119. Note that this hole 119 is bored in the bottom of each arm 110 and is coaxial with the opening 119a of the arm 110. The cylindrical portion 118 of each aspirator 112 has a notch 119b, which allows the aspirator 112 to engage the opening 119a. The counterbore 119 has a female thread carved therein, and is screwed into the male thread of the end 120a of the joint 120 with a protrusion. This joint 120 engages with an end 121a of a hose 121. The opposite end 121b of the hose 121 is connected to a vacuum pump 122 via a valve 123.

(silastic) Eシリコーンのような熱硬化性
シリコーン、エラストマーから作られている。この商標
のエラストマー・シリコーンは、化学的に非常に純粋で
あり、ウェハ12を汚染する恐れのあるNa” 、K”
 、(J−などのイオン汚染物質をほとんど含有してお
らず、更に非摩耗性であり、熱的に非常に安定であるの
で、吸引器112〜112の材料としては非常に有効で
ある。
(silastic) Made from thermoset silicone, elastomer, such as E-silicone. This branded elastomeric silicone is chemically very pure and free of Na'', K'' that could contaminate the wafer 12.
, (J-, etc.), is non-abrasive, and is very thermally stable, making it very effective as a material for the suction devices 112-112.

第3図において、吸引器112〜112は、ウェハ12
が存在しないサスセプタ16に接触すると、汚染される
恐れがある。そこでこの汚染を回避する為に、一対の検
出器123a、123bがアーム部68の端95の上部
と底部に取付けられ27301型スキヤナーが好ましく
、パルス光源(不図示)と光センサ(不図示)とを有し
ている。
In FIG. 3, the suction devices 112-112
If the susceptor 16 is not present, there is a risk of contamination. In order to avoid this contamination, a pair of detectors 123a and 123b are mounted at the top and bottom of the end 95 of the arm 68, preferably a 27301 type scanner, with a pulsed light source (not shown) and a light sensor (not shown). have.

ロボット60のアーム部68がサスセプタ16の割出さ
れた側面18に対向する位置にあると、各検出器123
aと123bは、サスセプタ・ポケット14〜14(第
1図参照)の夫々に対向する。
When the arm portion 68 of the robot 60 is in a position facing the indexed side surface 18 of the susceptor 16, each detector 123
a and 123b face each of the susceptor pockets 14-14 (see FIG. 1).

このとき、検出器123a又は123bの一方に対向す
るポケット14にウェハ12が存在する場合には、その
検出器から放射された光はウェハで反射され戻って来る
。ところが、サスセプタ・ポケット14にウェハ12が
存在しない場合には、ポケットの表面がマット面であり
入射光を散乱させるので、ポケットからの反射光は無い
At this time, if the wafer 12 is present in the pocket 14 facing one of the detectors 123a or 123b, the light emitted from the detector is reflected by the wafer and returns. However, when the wafer 12 is not present in the susceptor pocket 14, there is no reflected light from the pocket because the surface of the pocket is a matte surface and scatters the incident light.

ウェハ・ロード・ステーション124 第2図の棚34は、新しいウェハ12〜12を収容する
ウェハ・ロード・ステーション124を支持している。
Wafer Load Station 124 Shelf 34 in FIG. 2 supports a wafer load station 124 that receives new wafers 12-12.

第6図において、ウェハ・ロード・ステーション124
は、カセット昇降41126を有し、この昇降l112
6は、矩形開口128を貫通して棚34内に取付けられ
ている。昇降機から成り、この働きは、設置されたウェ
ハ・カセット・キャリヤ130を昇降することである。
In FIG. 6, wafer load station 124
has a cassette lift 41126, and this lift l112
6 is mounted within the shelf 34 through the rectangular opening 128. It consists of an elevator whose function is to raise and lower the installed wafer cassette carrier 130.

こキャリアを使用でき、このキャリヤは、多数のスロッ
ト131〜131を有し、この各スロット131は一枚
の新しいウェハ12〜12の縁を支持する。
This carrier can be used and has a number of slots 131-131, each slot 131 supporting the edge of one new wafer 12-12.

棚34上には、開口128に隣接して往復動(シャトル
)ロボット134が取付けられ、この往復動ロボット1
34は一対のウェハ12.12の各々をキャリヤ130
から次ぎ次ぎと取り出し、往復動板134に搬送する。
A reciprocating (shuttle) robot 134 is mounted on the shelf 34 adjacent to the opening 128, and the reciprocating robot 1
34 carries each of the pair of wafers 12.12 to the carrier 130.
They are taken out one after another and conveyed to the reciprocating plate 134.

往復動ロボット134は棚34に取付けられた基体13
6を有し、この基体136には、互に平行かつ離間した
一対の軸138.138 (一方の軸のみ図示されてい
る。)が固設され上方に突出している。これらの軸13
8.138の各々は、一対のブロック140と141の
各々に内蔵された一対のリニア軸受(不図示)の夫々を
貫通している。これらのブロック140.141は、積
み重ねられている。また、流体シリンダ142はブロッ
ク140に接続された本体部と、基体136に接続され
たシリンダ軸とを有し、そのブロック140を蒸射13
6の上方にわずかな距離(374インチ)だけ変位させ
る。流体シリンダ143は、本体がブロック140に取
付けられ、そのシリンダ軸がブロック141に取付けら
れ、このブロック141をブロック140の上方にわず
かに(例えば、0.020インチ)持ち上げる。
A reciprocating robot 134 has a base body 13 attached to a shelf 34.
6, and a pair of parallel and spaced apart shafts 138, 138 (only one shaft is shown) are fixed to the base body 136 and project upward. These axes 13
8.138 respectively pass through a pair of linear bearings (not shown) built into each of the pair of blocks 140 and 141. These blocks 140, 141 are stacked on top of each other. Further, the fluid cylinder 142 has a main body connected to the block 140 and a cylinder shaft connected to the base 136, and the fluid cylinder 142 has a main body connected to the block 140 and a cylinder shaft connected to the base 136.
6 by a small distance (374 inches). Fluid cylinder 143 has its body attached to block 140 and its cylinder axis attached to block 141 and raises block 141 slightly (eg, 0.020 inch) above block 140.

ブロック141は一対のリニア軸受(不図示)を有し、
これらのリニア軸受は互に離間し、ブロック141を水
平方向に貫通し、一対の柱体144.144を夫々摺動
可能に収容している。各柱体144.144の端のうち
ブロック141から離れた方の端は、水平アーム145
に取付けられている。このアーム145は、流体シリン
ダ146によって横方向に、即ちブロック141に近ず
いたり遠ざかるように変位される。このシリンダ146
は、本体がブロック141に接続され、シリンダ軸がア
ーム145に接続されている。
Block 141 has a pair of linear bearings (not shown),
These linear bearings are spaced apart from each other, extend horizontally through the block 141, and slidably house a pair of columns 144, 144, respectively. The end of each column 144.144 remote from the block 141 is connected to a horizontal arm 145.
installed on. This arm 145 is displaced laterally, ie toward or away from block 141, by a fluid cylinder 146. This cylinder 146
The main body is connected to the block 141, and the cylinder shaft is connected to the arm 145.

アーム145は、カセットキャリヤ130の方へ水平に
延びた薄へら体148を有する。第8図に示したように
、このへら体148の表面には開口149.149が複
数個穿孔されており、これらの開口149は、へら体1
48内を長手方向に延在する通路150に連通している
。この通路150は弁(不図示)を介して第5図の真空
ポンプ122に接続されている。
Arm 145 has a thin spatula 148 extending horizontally towards cassette carrier 130 . As shown in FIG. 8, a plurality of openings 149 and 149 are bored on the surface of the spatula body 148, and these openings 149
It communicates with a passageway 150 extending longitudinally within 48 . This passage 150 is connected to the vacuum pump 122 of FIG. 5 via a valve (not shown).

第7図において往復動板134は金属(例えばアルミニ
ウム)厚板から作られており、これは充分に研磨された
一体の軸151=151上を摺動する。これらの軸15
1.151は棚34のスロット152内に配設され、こ
れらは第2図に示したようにロボット60の基体64の
半径方向に一致している。第8図において、第1の流体
シリンダ154は、その本体が、往復動板134に連結
され、そのシリンダ軸が第2のシリンダ156の本体に
連結され、この第2シリンダ156の軸は棚34に固着
されている。上記シリンダ154の働きは、往復動板1
34を第2図の基体64から遠く離隔した原位置からス
ロソl−152(第7図)内の、基体64との中間位置
へ移動させることであり、シリンダ156の働きは、往
復動板134をスロッ)152 (第7図)の上記中間
位置から第2図の基体64に最も近いスロット端部へ移
動させることである。
In FIG. 7, the reciprocating plate 134 is made from a metal (for example aluminum) slab, which slides on a fully polished integral shaft 151=151. These axes 15
1.151 are disposed within the slots 152 of the shelf 34, which are aligned radially with the base body 64 of the robot 60 as shown in FIG. In FIG. 8, a first fluid cylinder 154 has its body connected to the reciprocating plate 134 and its cylinder axis connected to the body of a second cylinder 156, which has an axis connected to the shelf 34. is fixed to. The function of the cylinder 154 is that the reciprocating plate 1
34 from its original position far away from the base body 64 in FIG. from the intermediate position of the slot 152 (FIG. 7) to the slot end closest to the base 64 of FIG.

一対の先細り円形凹部158.158(第7図参照)は
往復動板134の上面に位置し、その凹部の大きさは、
夫々ウェハ12.12を収容するとそのウェハ中心が凹
部158の中心に一致するように定められている。各凹
部158は水平スロワ)159 (第8図)の上方に位
置し、この水平スロット159は、アーム145に最も
近い前縁159aから往復動板134の中に延在してい
る。
A pair of tapered circular recesses 158, 158 (see FIG. 7) are located on the upper surface of the reciprocating plate 134, and the size of the recesses is as follows:
The centers of the wafers 12 and 12 are set to coincide with the center of the recess 158 when the wafers 12 and 12 are accommodated, respectively. Each recess 158 is located above a horizontal thrower 159 (FIG. 8) that extends into the reciprocating plate 134 from the leading edge 159a closest to the arm 145.

第7図において、両凹部158.158の夫々の中心C
,C間の距離は第4図のスパイダ104.104の夫々
の中心C,C間の距離にほぼ等しいので、スパイダ10
4.104の吸引器112.112は往復動板134に
収容されたウェハ12.12に係合することができる。
In FIG. 7, the respective centers C of both recesses 158 and 158
, C is approximately equal to the distance between the respective centers C and C of the spiders 104 and 104 in FIG.
The suction device 112.112 of 4.104 can engage the wafer 12.12 housed in the reciprocating plate 134.

各回部158内には、窪み160aが設けられ、この窪
み160aと凹部158の中心との距離りは、ウェハ1
2の半径より小さく定められている。各窪み160aは
、第3図の検出器123a、123bと同一の検出器1
60bを内蔵し、この検出器160bはウェハ12が凹
部158内に存在するか否かを検出する。
A recess 160a is provided in each circuit portion 158, and the distance between the recess 160a and the center of the recess 158 is equal to the distance between the wafer 1
The radius is set smaller than the radius of 2. Each recess 160a is connected to the same detector 1 as the detectors 123a, 123b in FIG.
60b is built in, and this detector 160b detects whether or not the wafer 12 is present in the recess 158.

往復動板134の前縁159aからは切欠部161が各
凹部158の内に延びており、この切欠部161の大き
さは、へら体148が切欠部161内に入り込めるよう
にへら体14Bよりもわずかに大きく定められている。
A notch 161 extends from the front edge 159a of the reciprocating plate 134 into each recess 158, and the size of the notch 161 is larger than the spatula body 14B so that the spatula body 148 can fit into the notch 161. It is set slightly larger.

第8図に示したように各切欠部161は往復動板134
のスロット159に連通している。第2の対の切欠部1
62.162の各々は、往復動板134の背後縁163
から凹部158.158の夫々の中に入り込んでいる。
As shown in FIG.
It communicates with the slot 159 of. Second pair of cutouts 1
62, 162 each represent the rear edge 163 of the reciprocating plate 134.
and into each of the recesses 158 and 158.

第7図において、双網車(プーリー)部材164と単網
車部材166は各切欠162内において互にわずかな距
離だけ離れ、往復動板134に回転可能に支持されてい
る。双網車部材164と単網車部材166のまわりには
ゴムベルl−168(例えばネオプレン)がループ状に
巻かれている。
In FIG. 7, a twin mesh pulley member 164 and a single mesh pulley member 166 are separated from each other by a small distance within each notch 162 and are rotatably supported by the reciprocating plate 134. A rubber bell l-168 (eg, neoprene) is wrapped in a loop around the twin mesh shear member 164 and the single mesh mesh mesh member 166.

各切欠162内の綱車部材164と166の高さは、次
のように定められている。即ちベルト168の一部が第
8図に示したように凹部158内のウェハ12(想像線
で示した。)の下面に摩擦接触するように上記高さが定
められている。
The height of the sheave members 164 and 166 within each notch 162 is determined as follows. That is, the height is determined so that a portion of the belt 168 comes into frictional contact with the lower surface of the wafer 12 (indicated by imaginary lines) within the recess 158, as shown in FIG.

第8図において、第2のゴムベルト17(l双綱軍部材
164と駆動網車172とのまわりにループ状に巻付け
られ、この駆動網車172は往復動板134に取付けら
れたモータ174によって駆動される。これによりモー
タ174は、他方の切欠162内の綱車164と166
とに巻かれたベルト168を第2ベル)170を介して
回転駆動する。
In FIG. 8, a second rubber belt 17 (l) is wound in a loop around a double-wire armature member 164 and a drive sheave 172, and this drive sheave 172 is driven by a motor 174 attached to a reciprocating plate 134. This causes the motor 174 to move the sheaves 164 and 166 in the other notch 162.
The belt 168 wound around the belt 168 is rotated via a second bell 170.

第7図において、往復動板134の各凹部158内には
円形窪み175が形成されている。この窪み175は、
凹部158の外周付近に位置しているので、ウェハの平
縁176が上に位置する時以外は、ウェハ12に被覆さ
れる。各凹部158内には、第3図の検出器123a、
123bと同一の検出器177が設けられ、この検出器
177は、平縁176が自身の上を通過した時点を検出
する。
In FIG. 7, a circular recess 175 is formed within each recess 158 of the reciprocating plate 134. As shown in FIG. This depression 175 is
Since it is located near the outer periphery of the recess 158, the wafer 12 is covered except when the flat edge 176 of the wafer is located above. Inside each recess 158, a detector 123a shown in FIG.
A detector 177 identical to 123b is provided, which detects when the flat edge 176 has passed over it.

胴JLIllu上ユ」− 第9図は制御回路178の概略図を示したもので、この
制御回路178は、一対の凹部158、158の一方に
収容されたウェハ12を回転させるモータ174を制御
する。これと同一の制御回路(不図示)が、他方の凹部
158内のウェハ12を回転させるモータを制御する為
に設けられている。制御回路178は、検出器177の
出力信号を増幅し、それを、一対のワン、ショット、マ
ルチバイブレーク(以下、ワン・ショット・マルチと称
する)184と186の入力に送るアンプ182を有す
る。このワン・ショット・マルチ184と186は夫々
アンプ182からの正入力パルスと負入力パルスに応じ
て出力パルスを発生する。
FIG. 9 shows a schematic diagram of a control circuit 178, which controls a motor 174 that rotates a wafer 12 housed in one of the pair of recesses 158, 158. . An identical control circuit (not shown) is provided to control the motor that rotates the wafer 12 in the other recess 158. The control circuit 178 includes an amplifier 182 that amplifies the output signal of the detector 177 and sends it to the inputs of a pair of one-shot multi-by-break (hereinafter referred to as one-shot multi) 184 and 186. The one-shot multis 184 and 186 generate output pulses in response to positive and negative input pulses from amplifier 182, respectively.

ワン・ショット・マルチ184の出力は、RSフリップ
フロップ188のリセット(R)入力に送られ、ワン・
ショット・マルチ186の出力はORゲート190の第
1人力に送られる。このORゲート190の第2人力に
はRSフリップフロップ188のQ出力が接続されてい
る。またORゲート190の出力はRSフリップフロッ
プ192のリセット(R)入力に接続されている。RS
フリップフロップ192のQ出力は第2のORゲート1
94の第1人力に接続され、このORゲート194の第
2人力はRSフリップフロップ188のQ出力に接続さ
れている。
The output of one shot multi 184 is sent to the reset (R) input of RS flip-flop 188,
The output of shot multi 186 is sent to the first input of OR gate 190. The Q output of the RS flip-flop 188 is connected to the second input of the OR gate 190. The output of OR gate 190 is also connected to the reset (R) input of RS flip-flop 192. R.S.
The Q output of flip-flop 192 is connected to the second OR gate 1
The second input of this OR gate 194 is connected to the Q output of the RS flip-flop 188.

ORゲート194の出力は、一対のRSフリップフロッ
プ196と198の各々のリセット(R)入力に夫々接
続されている。このフリップフロップ198のQ出力は
オプト(光)アイソレータ200の入力端子に接続され
、このアイソレータ200の接地端子は回路接地に接続
されている。
The output of OR gate 194 is connected to the reset (R) input of each of a pair of RS flip-flops 196 and 198, respectively. The Q output of flip-flop 198 is connected to the input terminal of opto-isolator 200, whose ground terminal is connected to circuit ground.

またアイソレータ200は、給電端子SがDC電圧供給
源(不図示)の正端子+Vに接続され、この電圧供給源
の負端子は回路接地に接続されている。電圧供給源の正
端子はまた、電圧降下用抵抗202を介してモータ17
4の一端子に接続され、このモータ174の他端子はオ
プトアイソレータ200の出力端子0に接続されている
Further, in the isolator 200, the power supply terminal S is connected to the positive terminal +V of a DC voltage supply source (not shown), and the negative terminal of this voltage supply source is connected to circuit ground. The positive terminal of the voltage supply is also connected to the motor 17 via a voltage dropping resistor 202.
The other terminal of the motor 174 is connected to the output terminal 0 of the opto-isolator 200.

ウェハ・アンロード・ステーション203第2図におい
て、棚34には、処理済のウェハを収容するウェハ・ア
ンロード・ステーション’IQ 203が取付けられている。第10図に示したように、
ウェハ・アンロード・ステーション203は一対のウェ
ハ・カセット昇降181204と2062660CP型
昇降機を使用することができる。
Wafer Unload Station 203 In FIG. 2, a wafer unload station 'IQ 203 is mounted on shelf 34 for storing processed wafers. As shown in Figure 10,
The wafer unload station 203 may use a pair of wafer cassette lifts 181204 and 2062660CP type lifts.

各カセット・昇降機204と206は棚34の一対の開
口を夫々貫通しており、これにより昇降機204.20
6は、第3図のアーム部68がアーム部66に対して垂
直に旋回された状態でアーム部66と共に回転された時
にアーム部68のスパイダ104.104が夫々描く円
弧内に位置している。
Each cassette elevator 204 and 206 passes through a pair of openings in shelf 34, thereby allowing elevators 204, 20
6 is located within the circular arc drawn by the spiders 104 and 104 of the arm portion 68 when the arm portion 68 in FIG. .

カセット昇降機204と206の各々は、コンベアを具
備し、このコンベアは所定高さのプラットホーム208
から構成され、このプラットホーム208は各長手方向
側部に回転可能に支持された一対のエンドレス・ゴムベ
ルト210.210を有する。各ベルト210.210
は、その一部がウェハ(不図示)を支持する為にプラッ
トホーム208より上方に位置している。モータ(不図
示)がベル)210,210を一体に駆動し、これによ
りベルト上のウェハ12をカセット・キャリヤ212内
に搬送する。尚、このキャリア212は昇降可能に昇降
機上に鉛直に載置されている。
Each of the cassette elevators 204 and 206 includes a conveyor that extends over a platform 208 at a predetermined height.
The platform 208 has a pair of endless rubber belts 210, 210 rotatably supported on each longitudinal side. Each belt 210.210
is located above platform 208, a portion of which supports a wafer (not shown). A motor (not shown) drives the bells 210 and 210 together, which transports the wafers 12 on the belts into the cassette carrier 212. Note that this carrier 212 is placed vertically on an elevator so that it can be raised and lowered.

第11図において、ウェハ・ロード及びアンロード・装
置26の全制御は、制御器216によって行われる。こ
の制御器216は、メモリ218を有し、このメモリ2
18はプロセッサ220が実行する制御プログラムを記
憶している。入出力インターフェース222はプロセッ
サ220をオペレータ操作表示パネル224に接続し、
これにより、ロード・アンロード装置26の状態の表示
に加えて、オペレータ・コマンド(指令)を手動が好ま
しい。入出力インターフェース222は、またプロセッ
サ220をリミットスイッチ45.76a 、76b、
101と検出器123 a 、123b、4 υ 160a、160bと回転センサ54とに接続している
ので、プロセッサ220は、これらの各回路からの入力
信号を受ける。
In FIG. 11, all control of wafer load and unload apparatus 26 is provided by controller 216. In FIG. The controller 216 has a memory 218 and
18 stores a control program executed by the processor 220. An input/output interface 222 connects the processor 220 to an operator control display panel 224;
Accordingly, in addition to displaying the status of the load/unload device 26, manual operator commands are preferred. The input/output interface 222 also connects the processor 220 to limit switches 45.76a, 76b,
101, detectors 123a, 123b, 4 υ 160a, 160b, and rotation sensor 54, processor 220 receives input signals from each of these circuits.

プロセッサ220は、入出力 インターフェース222
からの入力信号を受けると、メモリ218内のプログラ
ムに従って制御信号を発生する。これらの制御信号は、
プロセッサ220から入出カイ ン・ターフエース22
2を介してカセット昇降機130.204.206とモ
ータ52と88とに送られそれらの作動を制御する。プ
ロセッサ220は更に別の制御信号を発生し、これらの
信号は入出力 インターフェース222を介して弁12
3と、各弁226.227.228.230.231.
232.234.236.238に送られる。これに応
じて、これらの弁は、加圧流体供給源(不図示)からシ
リンダ142.143.146.154.156.90
.75.100及び42.42への加圧流体の流れを制
御する。
The processor 220 has an input/output interface 222
When it receives an input signal from the memory 218, it generates a control signal according to a program in memory 218. These control signals are
Input/output from processor 220 Cain surface 22
2 to cassette elevators 130, 204, 206 and motors 52 and 88 to control their operation. Processor 220 also generates further control signals that are communicated to valve 12 via input/output interface 222.
3 and each valve 226.227.228.230.231.
Sent to 232.234.236.238. Accordingly, these valves draw cylinders 142.143.146.154.156.90 from a pressurized fluid supply (not shown).
.. Controls the flow of pressurized fluid to 75.100 and 42.42.

第12図は、メモリ218(第11図参照)に記憶され
たプログラムのフローチャートを示したもので、プロセ
ッサ220はこのプログラムを実行して第1図のサスセ
プタ16上のウェハ12〜12のローディング及びアン
ローディングを制御する。
FIG. 12 shows a flowchart of a program stored in the memory 218 (see FIG. 11), and the processor 220 executes this program to load the wafers 12 to 12 on the susceptor 16 of FIG. Control unloading.

算 ヒステ・プ(ステップ240) オペレータがオペレータ操作表示端末器224によって
コマンドを入力すると、メモリ218内のプログラムの
実行が開始され、まずステップ240が実行されてロー
ド・アンロード装置26が初期化されている。装置26
の作動開始時には、プラットホーム40が下降されてお
り、かつアーム部68が鉛直位置(即ちアーム部66に
垂直な位置)で掴み体94が引込んでいなければならな
い。また往復動ロボット132のアーム145は基体1
36から上昇され、かつカセット昇降機126から離間
されていなければならず、往復動板134の位置が基体
64から離れていなければならない。
Calculation Histep (Step 240) When the operator inputs a command through the operator operation display terminal 224, execution of the program in the memory 218 is started, and step 240 is first executed to initialize the load/unload device 26. ing. device 26
At the start of operation, the platform 40 must be lowered, the arm portion 68 must be in a vertical position (that is, the position perpendicular to the arm portion 66), and the gripping body 94 must be retracted. Further, the arm 145 of the reciprocating robot 132 is connected to the base 1.
36 and must be spaced apart from the cassette elevator 126, and the position of the reciprocating plate 134 must be away from the base body 64.

このステップ240の間に、各リミットスイッチ45.
76a、76b、101の状態がチェノりされて、第2
図のプラットホーム40とロボットアーム60の位置が
調べられる。往復動ロボット132と往復動板134の
位置を検出する別のリミットスイッチ(不図示)もチェ
ックされる。
During this step 240, each limit switch 45.
The states of 76a, 76b, and 101 are changed to the second state.
The positions of the platform 40 and robot arm 60 in the figure are examined. Another limit switch (not shown) that detects the position of the reciprocating robot 132 and reciprocating plate 134 is also checked.

もし、初期条件が所望の状態になっていない場合には、
装ff126が作動され所望の初期条件を達成する。ま
たこのステップ240の間に、プロセッサ220内のレ
ジスタはすべて記憶していた過去の不要データをクリア
する。
If the initial conditions are not the desired state,
ff 126 is activated to achieve the desired initial conditions. Also, during this step 240, all registers within the processor 220 are cleared of past unnecessary data.

テーブル46上でのサスセプ 16の  (ステップ2
42) ステップ240の後に、サスセプタ16は弁238 (
第11図)を作動してシリンダ42.42を加圧するこ
とによって、テーブル46に係合される(ステップ24
2)。これを詳述すると、シリンダ42.42の加圧に
よりプラントホーム40が上昇し、これによりテーブル
46(第2図)がサスセプタ16の基体に接触する。ガ
イド56.56と58.58がテーブル46上のサスセ
プタ16の側面18〜18の底を捕捉するので、サスセ
プタ16はロボット60に対して正確に位置決めされる
。このようにサスセプタ16をロボット60に対して正
確に位置決めすることは、ロボットを用いてサスセプタ
上のウェハ12〜12をローディングしたりアンローデ
ィングする場合に必須のステップである。
Suscept 16 on table 46 (step 2
42) After step 240, the susceptor 16 closes the valve 238 (
11) to pressurize cylinders 42, 42, table 46 is engaged (step 24).
2). In detail, the pressurization of the cylinders 42,42 causes the plant home 40 to rise, thereby bringing the table 46 (FIG. 2) into contact with the base of the susceptor 16. The guides 56.56 and 58.58 capture the bottom of the sides 18-18 of the susceptor 16 on the table 46 so that the susceptor 16 is accurately positioned relative to the robot 60. Accurately positioning the susceptor 16 with respect to the robot 60 in this manner is an essential step when using the robot to load and unload wafers 12-12 on the susceptor.

サスセブ 16の即  しくステップ244)サスセプ
タ16がテーブル46上に捕捉されると、このテーブル
46の割り出しが行われる(ステップ244)。こうし
てサスセプタ側面18〜18のうちの一側面が選択され
ると、この選択された側面は、基準位置にもたらされた
ロボットアーム62の掴み体94と位置的に一致するこ
とになる。プロセッサ220は、回転センサ54からの
信号に従ってモータ52に通電することによってテーブ
ル46の割出を行う。
Step 244) Once the susceptor 16 has been captured on the table 46, this table 46 is indexed (step 244). When one of the susceptor side surfaces 18 to 18 is selected in this manner, this selected side surface coincides in position with the gripping body 94 of the robot arm 62 brought to the reference position. Processor 220 indexes table 46 by energizing motor 52 in accordance with signals from rotation sensor 54 .

几 ゛ ウェハのアンローディング(ステップ246)
次に、ロボット60がプロセッサ220によって作動さ
れ、サスセプタ16の割出側面18上の処理済ウェハ1
2.12をアンロードしてアン口−ド・ステーション2
03(第10図)に搬送する(ステップ246)。これ
を詳述すると、まず、プロセッサ220は、一対のウェ
ハ12.12がサスセプタ16の割出側面18上に存在
するか否かを、検出器123aと123bの出力信号を
検知することによってチェックする。もしウェハ12.
12が全く存在しない。若しくはウェハが一枚だけしか
存在しない場合には、エラー・メツセージがオペレータ
操作表示パネル224に表示される。その後の作動はす
べて、オペレータが適宜正しい作動をとるまで中断され
る。他方、2枚のウェハー12.12が選択されたサス
セプタ側面18に存在する場合には、弁236がプロセ
ッサ220によって作動され、シリンダ100を加圧し
棒96(第3図参照)をアーム部68から外方へ変位さ
せる。
几゛ Wafer unloading (step 246)
Next, the robot 60 is activated by the processor 220 to move the processed wafer 1 onto the index side 18 of the susceptor 16.
2. Unload 12 and unload station 2
03 (FIG. 10) (step 246). To explain this in detail, first, the processor 220 checks whether the pair of wafers 12.12 are present on the index side surface 18 of the susceptor 16 by detecting the output signals of the detectors 123a and 123b. . If wafer 12.
12 does not exist at all. Alternatively, if only one wafer is present, an error message is displayed on operator control display panel 224. All subsequent actions are suspended until the operator takes the appropriate action. On the other hand, if two wafers 12.12 are present on the selected susceptor side 18, valve 236 is actuated by processor 220 to pressurize cylinder 100 and remove rod 96 (see FIG. 3) from arm 68. Displace outward.

この棒96が左方へ変位されると、掴み体94の各スパ
イダ104.104の吸引器112.112が選択サス
セプタ側面18上の各ウェハ12.12の前面外周にゆ
っくりと接触する。これと同時に弁123が作動され、
真空ポンプ122が各吸引器112.112を介して真
空吸引するとウェハ12.12が吸引器112.112
に係合される。ウェハ12.12が係合されると、シリ
ンダ100が加圧され掴み体94を引込めてウェハ12
.12を選択サスセプタ側面18がら取り出す。
When this rod 96 is displaced to the left, the suction device 112 . 112 of each spider 104 . 104 of the gripper 94 slowly contacts the front periphery of each wafer 12 . At the same time, the valve 123 is activated,
When the vacuum pump 122 draws vacuum through each aspirator 112.112, the wafer 12.12 is moved to the aspirator 112.112.
is engaged with. When wafer 12.12 is engaged, cylinder 100 is pressurized to retract gripper 94 and release wafer 12.
.. 12 from the selected susceptor side surface 18.

この時点になると、これまで作動状態であり、シリンダ
92を加圧しロボットアーム62を係止していた弁23
2が、非作動状態になるため、アーム62が回動可能と
なる。その後、モータ88が通電されると、アーム62
 (第2図参照)は、ウェハ・アンロード・ステーショ
ン203の方へ短い円弧距離だけ反時計方向に回転され
る。アーム62が停止すると、アーム部68は、弁23
4を作動しシリンダ75を加圧することによって、鉛直
位置に旋回される。
At this point, the valve 23, which has been in operation and pressurized the cylinder 92 and locked the robot arm 62, is activated.
Since the arm 62 becomes inactive, the arm 62 becomes rotatable. Thereafter, when the motor 88 is energized, the arm 62
(see FIG. 2) is rotated counterclockwise a short arc distance toward wafer unload station 203. When the arm 62 stops, the arm portion 68 closes the valve 23.
4 and pressurizes the cylinder 75, it is rotated to the vertical position.

このようにアーム部68が旋回されてアーム部66に対
して垂直になった後に、アーム62が再び時計方向に回
転して、掴み体94に保持された各ウェハ12.12を
、カセット昇降機204と206の一対のゴムベルト2
10.210の上方位置に夫々移動させる。ウェハ12
.12が上述の位置に達すると、シリンダ90が加圧さ
れアーム62を係止する。その後直ちに弁123が不作
動になり、各吸引器112.112の真空吸引が断たれ
る。こうして、掴み体94は一対のウェハ12.12を
夫々カセット・昇降機204.206上に載置する。
After the arm 68 has been pivoted to be perpendicular to the arm 66, the arm 62 is again rotated clockwise to lift each wafer 12, 12 held in the gripper 94 to the cassette elevator 204. and a pair of rubber belts 2 of 206
10.Move them to the upper position of 210 respectively. wafer 12
.. When 12 reaches the position described above, cylinder 90 is pressurized and locks arm 62. Immediately thereafter, the valve 123 is deactivated and the vacuum suction of each aspirator 112, 112 is cut off. The gripper 94 thus places a pair of wafers 12, 12 on the cassette elevators 204, 206, respectively.

ウェハ・アンロード・ステーション203の(ステップ
248) 上述のようにウェハ12が載置されると、これに応じて
、各カセット・昇降機204.206のモータ(不図示
)が昇降機コンベアのベルト210 。
Wafer Unload Station 203 (Step 248) Once the wafers 12 have been loaded as described above, the motors (not shown) of each cassette elevator 204, 206 are moved in response to the elevator conveyor belt 210.

210(第10図参照)を駆動し、ベルト上のウェハ(
不図示)をキャリア212内に送り、キャリヤの一番上
のスロットに収容する。その後、各昇降機204.20
6は夫々のカセット・キャリヤ212を上昇させて、次
のウェハ12をキャリヤの空スロットのうちの一番上の
スロットに収容する操作に備える。上述のように、処理
済の一対のウェハを、各昇降機204.206のカセッ
ト・キャリヤ212に夫々収容するように構成すること
は、複数のウェハを単一のキャリヤに収容する場合より
も一般に望ましいことである。以上のようにして、上部
及び下部のサスセプタ・ポケット14.14内のウェハ
12.12は互に離隔状態即ち別々の状態に保つことが
できる。
210 (see Fig. 10), and the wafer (
(not shown) into the carrier 212 and into the top slot of the carrier. Then each elevator 204.20
6 raises each cassette carrier 212 in preparation for loading the next wafer 12 into the uppermost empty slot of the carrier. As mentioned above, configuring a pair of processed wafers to be accommodated in a respective cassette carrier 212 of each elevator 204, 206 is generally more desirable than accommodating multiple wafers in a single carrier. That's true. In this way, the wafers 12.12 in the upper and lower susceptor pockets 14.14 can be kept spaced apart or separate from each other.

ロード・ステーション124におけるウェハ12、ユ」
(す1寡(ステップ250) ステップ248の間に、ウェハ・・ロード・ステーショ
ン124が作動され、新しい一対のウェハの取出用意を
する(ステップ250)。この一対のウェハの取出準備
は、一対のウェハの各々をカセット・キャリヤ130か
ら往復動板134に次ぎ次ぎに搬送することによって行
われる。また、ウェハ12.12は往復動板134の夫
々の凹部158.158に連続的に位置合せしなければ
ならない。初めは基体64(第2図参照)に近い方の往
復動板の凹部158がカセット昇降機126に丁度対向
する位置にあるので、ウェハはこの凹部に載置される。
Wafer 12 at load station 124,
(Step 250) During step 248, the wafer load station 124 is activated to prepare for unloading a new pair of wafers (step 250). This is done by sequentially transporting each of the wafers from the cassette carrier 130 to the reciprocating plate 134. The wafers 12.12 must also be successively aligned with respective recesses 158, 158 in the reciprocating plate 134. Initially, the recess 158 in the reciprocating plate closer to the substrate 64 (see FIG. 2) is located just opposite the cassette elevator 126, so that the wafer is placed in this recess.

カセット・キャリヤ130からのウェハ12を昇降機1
26に対向した凹部158に載せる為には、まず弁22
8が作動される。この結果、流体シリンダ146が加圧
されアーム145を横方向内側、即ちブロック141の
方へ変位させて、へら体148をカセット・キャリヤ1
30内の一番下のウェハ12の下に入れる。次いで、シ
リンダ143が加圧されブロック141をブロック14
0かられずかの量だけ上昇させ、これによりへら体14
8がウェハ12をキャリヤ130のスロット131〜1
31から持上げる。
The wafer 12 from the cassette carrier 130 is transferred to the elevator 1.
In order to place the valve 22 in the recess 158 facing the valve 26, first
8 is activated. As a result, the fluid cylinder 146 is pressurized, displacing the arm 145 laterally inward, that is, toward the block 141, and moving the spatula body 148 toward the cassette carrier 1.
30 under the lowest wafer 12. Next, the cylinder 143 is pressurized to move the block 141 into the block 14.
Raise it by an amount from 0 to 0, thereby increasing the spatula body 14
8 places the wafer 12 in the slots 131-1 of the carrier 130.
Lift from 31.

次に、シリンダ142と143が加圧され、ブロック1
40と141とを降下させ、これによってアーム145
を降下させる。こうして、アーム145が降下すると、
へら体148がカセット・キャリヤ130に対向した凹
部158の切欠161を通って変位してスロット159
内に入る。このへら体148がスロット159内に入る
と、通路150による真空吸着が断たれる。こうしてへ
ら体148がスロット159に入ると、へら体に吸着さ
れていたウェハ12はカセット昇降機126に対向した
凹部158に載置される。
Next, cylinders 142 and 143 are pressurized and block 1
40 and 141 are lowered, thereby arm 145
descend. In this way, when the arm 145 descends,
The spatula body 148 is displaced through the notch 161 of the recess 158 facing the cassette carrier 130 to form the slot 159.
Go inside. When this spatula body 148 enters the slot 159, the vacuum suction by the passage 150 is cut off. When the spatula body 148 enters the slot 159 in this manner, the wafer 12 that has been attracted to the spatula body is placed in the recess 158 facing the cassette elevator 126.

ウェハ12を凹部158に載置した後に、シリンダ15
4(第8図参照)が加圧され、往復動板134を変位さ
せて残りの空の凹部158をカセット昇降機125に位
置的に一致させる。へら体148に残りの空回部158
内の切欠161に位置合せされているので、このへら体
148と往復動板134との間には何ら干渉もない。従
ってへら体148を往復動板134から持上げることが
できる。
After placing the wafer 12 in the recess 158, the cylinder 15
4 (see FIG. 8) is pressurized to displace the reciprocating plate 134 to align the remaining empty recess 158 with the cassette elevator 125. The remaining idle part 158 in the spatula body 148
Since the spatula body 148 and the reciprocating plate 134 are aligned with the notch 161 inside, there is no interference at all between the spatula body 148 and the reciprocating plate 134. Therefore, the spatula body 148 can be lifted from the reciprocating plate 134.

往復動板134が上述のようにシリンダ154によって
変位されている間に、凹部15B 、158の一方に既
に載置されているウェハ12は、モータ174によって
回転され、ウェハのアライメントが行われる。モータ1
74の制御は、プロセッサ220からの信号(「スター
ト」)に応じて対応の制御回路178(第9図参照)に
よって行われ5す る。尚、上記信号は入出力インターフェース222を介
して各フリップフロップ188.192.198のセッ
ト入力に送られ、これらのフリップフロップをセットし
て、上記モータ174の制御を行う。フリップフロップ
198は、セットされると、論理「H」信号をオプトア
イソレータ200の入力■に送り、このアイソレーク2
00はこれに応じてモータ174に通電して凹部158
内のウェハ12を回転させる。
While the reciprocating plate 134 is being displaced by the cylinder 154 as described above, the wafer 12 already placed in one of the recesses 15B, 158 is rotated by the motor 174, and alignment of the wafer is performed. Motor 1
74 is controlled by a corresponding control circuit 178 (see FIG. 9) in response to a signal ("START") from processor 220. The above signal is sent to the set input of each flip-flop 188, 192, 198 via the input/output interface 222, and these flip-flops are set to control the motor 174. Flip-flop 198, when set, sends a logic "H" signal to the input of opto-isolator 200, which
00 energizes the motor 174 in response to this and moves the recess 158.
The wafer 12 inside is rotated.

ウェハ12が凹部158内で回転すると、検出器177
は、ウェハの平部176がこの検出器の上を通過する時
に、露呈される。この検出器177は、その露呈により
ウェハ12から検出器177へ戻る反射光が無くなるの
で、出力信号が論理rL(低)」から論理rH(高)」
に変化する。
As wafer 12 rotates within recess 158, detector 177
is exposed as the wafer flat 176 passes over this detector. The exposure of this detector 177 eliminates the reflected light returning from the wafer 12 to the detector 177, so that the output signal changes from logic rL (low) to logic rH (high).
Changes to

検出器177の出力がLからHに変化すると、ワン・シ
ョット・マルチ184がフリップフロップ188をリセ
ットする。
When the output of detector 177 changes from L to H, one shot multi 184 resets flip-flop 188.

フリップフロップ188がこのようにリセットされても
、フリップフロップ192が依然としてセント状態であ
るので、フリップフロップ196と198はセット状態
のままである。フリップフロップ198がセット状態の
ままである限り、オプトアイソレータ200はトリガー
状態のままであり、モータ174への通電が保たれウェ
ハ12の回転が続行される。ウェハ12が回転を続ける
と、ウェハの平部176による検出器177の露呈が終
了する。検出器177がウェハ12によって被覆される
と、この検出器の出力信号がHからLに変化し、ワン・
ショシト・マルチ186の出力信号を論理rHJから論
理rLJに変化させる。
Even though flip-flop 188 is thus reset, flip-flops 196 and 198 remain set because flip-flop 192 is still set. As long as flip-flop 198 remains set, optoisolator 200 remains triggered, motor 174 remains energized, and wafer 12 continues to rotate. As wafer 12 continues to rotate, exposure of detector 177 by wafer flat 176 ceases. When the detector 177 is covered by the wafer 12, the output signal of this detector changes from H to L and one
The output signal of the Shoshito Multi 186 is changed from logic rHJ to logic rLJ.

フリップフロップ188は、既にワン・ショット・マル
チ184によってリセットされているので、ワン・ショ
ット・マルチ186の出力信号の大きさが変化するとフ
リップフロップ198と196の両方ともリセットされ
る。フリップフロップ198がリセット状態になると、
オプトアイソレータ200はモータ174への通電を中
止する。こうして、ウェハ12の回転は、ウェハ平部1
76が検出器177を丁度通過した時点で停止する。フ
リップフロップ196は、リセット状態になると、凹部
158内のウェハ12が正しくアライメントされたこと
を示す論理rHJの信号をそのQ出力(DONE (終
了)信号として示されている。)に発生し、この信号は
プロセッサ220に供給される。凹部158の外周上で
の検出器177の角度位置を選定することによって、凹
部内のウェハ12についてアライメント位置を調整する
ことができる。
Since flip-flop 188 has already been reset by one-shot multi 184, a change in the magnitude of the output signal of one-shot multi 186 causes both flip-flops 198 and 196 to be reset. When the flip-flop 198 enters the reset state,
Optoisolator 200 stops energizing motor 174. In this way, the rotation of the wafer 12 is caused by the rotation of the wafer flat part 1.
76 just passes the detector 177. Flip-flop 196, when in its reset state, generates a logic rHJ signal at its Q output (shown as the DONE signal) indicating that wafer 12 in recess 158 is correctly aligned; The signal is provided to processor 220. By selecting the angular position of the detector 177 on the outer circumference of the recess 158, the alignment position can be adjusted for the wafer 12 within the recess.

板134に載置されたウェハ12のアライメントが終了
すると、昇降機126上のカセット・キャリヤ130は
降下される。すると往復動ロボット132が上述と全く
同じように作動され、キャリヤ130内の次のウェハ1
2を往復動板の空の凹部158に搬送する。その後、今
、載置されたウェハ12について上述と同一の方法でア
ライメントが行われる。こうして一対のウェハ12.1
2について連続的に凹部15B、15Bへのローディン
グが行われ、かつアライメントが終了すると、第8図の
シリンダ156が加圧され、往復動板134を第2図の
ロボッ1−60の基体64に近い方のスロット52の端
部まで移動する。
When the alignment of the wafer 12 placed on the plate 134 is completed, the cassette carrier 130 on the elevator 126 is lowered. The reciprocating robot 132 is then operated in exactly the same manner as described above to pick up the next wafer 1 in the carrier 130.
2 into the empty recess 158 of the reciprocating plate. Thereafter, the alignment of the wafer 12 currently placed is performed in the same manner as described above. In this way, a pair of wafers 12.1
2 is successively loaded into the recesses 15B, 15B, and when the alignment is completed, the cylinder 156 in FIG. Move to the end of the slot 52 nearer to you.

ロボット60によるサスセプタ14へのローディング(
ステップ252) 往復動板134が基体64の方へ移動されると、ロボッ
ト60は、往復動板のウェハ12.12をサスセプタ1
6に搭載、即ちローディングすることになる(ステップ
252)。往復動板134に載置されたウェハ12.1
2をサスセプタ161に搭載する為には、まずロボット
アーム62の係止を解く。この後、モータ88が通電さ
れ、アーム62を時計方向に回転してアンロード・ステ
ーション203からロード・ステーション124に移動
して、掴み体94を、往復動板134の凹部158.1
58内のウェハ12.12にアライメントする。
Loading onto the susceptor 14 by the robot 60 (
Step 252) When the reciprocating plate 134 is moved toward the substrate 64, the robot 60 moves the wafer 12.12 of the reciprocating plate onto the susceptor 1.
6 (step 252). Wafer 12.1 placed on reciprocating plate 134
2 on the susceptor 161, the robot arm 62 is first unlocked. Thereafter, the motor 88 is energized and rotates the arm 62 clockwise to move it from the unload station 203 to the load station 124 to move the gripper 94 into the recess 158.1 of the reciprocating plate 134.
Align wafer 12.12 in 58.

アーム62の回転に引き続いて、シリンダ9゜が加圧さ
れてアーム62を係止する。次にプロセッサ220が往
復動板134上の凹部158.158内の検出器15Q
a、160aの状態をチヱックして、両凹部のいずれか
が空であるか否かを調べる。もし、凹部158.158
のいずれかにウェハ12が存在しない場合には、掴み体
94をこれ以上作動させずにオペレータ操作表示パネル
224にエラー・メツセージを表示する。こうして、掴
み体94の吸引器112.112が往復動板134に直
接接解することによる汚染が回避される。
Following rotation of arm 62, cylinder 9° is pressurized to lock arm 62. Processor 220 then detects detector 15Q in recess 158, 158 on reciprocating plate 134.
Check the status of a and 160a to find out whether either of the recesses is empty. If the recess 158.158
If the wafer 12 is not present in any of the positions, the gripper 94 is not operated any further and an error message is displayed on the operator operation display panel 224. In this way, contamination due to direct contact of the suction devices 112, 112 of the gripping body 94 with the reciprocating plate 134 is avoided.

他方、各凹部158.158にウェハ12.12が入っ
ていた場合には、シリンダ100が加圧され掴み体94
を往復動板の方へ近ずける。これにより、スパイダ10
4.104の吸引器112.112が凹部158.15
8内のウェハ12.12に接触する。これと同時に弁1
23が作動され、各吸引器112.112を介して真空
吸着が行われ、ウェハ12.12の前面外周部を吸引器
に係合させる。
On the other hand, if a wafer 12.12 is placed in each recess 158.158, the cylinder 100 is pressurized and the gripping body 94
bring it closer to the reciprocating plate. This allows spider 10
4.104 suction device 112.112 is recessed part 158.15
Contact wafer 12.12 in 8. At the same time, valve 1
23 is actuated to provide vacuum suction via each aspirator 112.112, causing the front periphery of the wafer 12.12 to engage the aspirator.

ウェハ12.12が吸引器112.112によって係合
された後、シリンダ100を加圧して、掴み体94を引
込め、それからアーム67の係止を解く。次いでモータ
88が通電されると、これによりアーム62は、時計方
向に回転して、サスセプタ16に対向した基準位置から
少し離れた位置にもたらされる。
After the wafer 12.12 has been engaged by the suction device 112.112, the cylinder 100 is pressurized to retract the gripper 94 and then unlock the arm 67. Next, when the motor 88 is energized, the arm 62 is rotated clockwise and brought to a position slightly away from the reference position facing the susceptor 16 .

アーム62の回転が停止した後に、アーム部68がアー
ム部66と一直線になるように旋回される。それから、
アーム62の回転が再開され、掴み体94に保持された
ウェハ12.12をサスセプタ16の割出側面18のポ
ケット14.14に対向させる。ウェハ12.12が選
択されたサスセプタ側面16に対向すると、アーム62
が係止される。
After the arm 62 stops rotating, the arm portion 68 is pivoted to be aligned with the arm portion 66. after that,
Rotation of the arm 62 is resumed, bringing the wafer 12.12 held in the gripper 94 opposite the pocket 14.14 of the indexing side 18 of the susceptor 16. When the wafer 12.12 faces the selected susceptor side 16, the arm 62
is locked.

次に、シリンダ100が加圧され、掴み体94をアーム
部68からサスセプタ16の方へ変位させて、掴み体9
4に保持されたウェハ12.12を、割出サスセプタ側
面18のポケット(第1図参照)内に着座させる。次い
で吸引器112.112の真空吸着が中止されウェハ1
2.12から吸引器を離す。ウェハ12.12がサスセ
プタ16上に搭載された後に、掴み体94がアーム部6
8から引込められてロード動作が完了する。このロード
動作の完了時に、プロセッサ220は、「ロード・ステ
ップ」レジスタと呼ばれる内部レジスタを1だけ増加さ
せる。
Next, the cylinder 100 is pressurized, displacing the gripping body 94 from the arm portion 68 toward the susceptor 16, and displacing the gripping body 94 toward the susceptor 16.
The wafer 12.12 held at 4 is seated in a pocket (see FIG. 1) in the indexing susceptor side 18. Then, the vacuum suction of the suction device 112 is stopped and the wafer 1 is removed.
2. Remove the suction device from 12. After the wafer 12.12 is mounted on the susceptor 16, the gripping body 94 is attached to the arm 6.
8, the loading operation is completed. Upon completion of this load operation, processor 220 increments by one an internal register called the "load step" register.

ローディング びアンローディングの6 チェツークー
(ステップ254) ロード動作の完了後、プロセッサ220は、サスセプタ
16が完全にアンロードされ、新しいウェハ12.12
がサスセプタ16に再搭載されているか否かを調べる。
Loading and Unloading (Step 254) After the loading operation is complete, the processor 220 determines that the susceptor 16 has been completely unloaded and that the new wafer 12.
It is checked whether or not it has been remounted on the susceptor 16.

この為に、プロセッサ220は、上記ロード・ステップ
・レジスタに記憶された値をサスセプタ16の側面18
.18の数と比較する。もしロード・ステップ・レジス
タ内の記憶値が側面18.18の数に等しい場合には、
プロセッサ220は、プログラムの実行の終止(ステッ
プ258)前に、ローディング及びアンローディングの
終了(ステップ256)をオペレータ制御パネル224
に知らせる。この場合以外には、サスセプタ16の各側
面18.18がアンロードされそこから新しいウェハ1
2.12の再ロープィングが完了するまで、ステップ2
44〜252が繰り返される。
To this end, processor 220 transfers the value stored in the load step register to side 18 of susceptor 16.
.. Compare with the number 18. If the stored value in the load step register is equal to the number of sides 18.18, then
Processor 220 controls the operator control panel 224 to terminate loading and unloading (step 256) before terminating execution of the program (step 258).
Let me know. Otherwise, each side 18.18 of the susceptor 16 is unloaded and a new wafer 1 is removed therefrom.
Step 2 until the re-roping of 2.12 is completed.
44-252 are repeated.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、胴体型反応器の多側面型サスセプタ上のウェ
ハをローディング及びアンローディングする本発明によ
る装置の側面図、 第2図は第1図のローディング及びアンローティング装
置の平面図、 第3図は、第2図のローディング及びアンローディング
装置のロボットを一部断面で詳細に示した側面図、 第4図は、第3図のロボットのスパイダを示した正面図
、 第5図は、第4図のスパイダの真空吸引器を詳細に示し
た、第4図の面5−5に沿った断面図、第6図は、第1
図のローディング及びアンローディング装置のウェハ・
ロード・ステーションの一部を詳細に示した斜視図、 第7図は、第6図のウェハ・ロード・ステーションの往
復動板を詳細に示した平面図、第8図は、第7図の面8
−8に沿った断面図、第9図は、第7図及び第8図の往
復動板のウェハをアライメントするウェハ・アライメン
ト・システムの一部を構成する制御装置の電気ブロック
図、 第1O図は、第1図のローディング及びアンローディン
グ装置のウェハ・アンロード・ステーションの一部を詳
細に示した斜視図、 第11図は、第1図のローディング及びアンローディン
グ装置を制御する主制御装置を示したブロック図、 第12図は、第1図のローディング及びアンローディン
グ装置を制御する第11図の制御装置によって実行され
るプログラムのフロー・チャート図である。 1−・−−−−−−−−・−・−ウェハ、     1
4 −−−−−−−−−ポケット、16−・−サスセプ
タ、   1 B  −−−−一・〜側面、40−・−
・プラントホーム、46−・−−−−−テーブル、56
.58・−・−・ガイド、   60−−−−−−−−
−一ロボット、112−・−真空吸引器、 124−−−−−−・−・ウェハ・ロード・ステーショ
ン、130 −・・−・−ウェハ・カセット・キャリヤ
、203 ・−・−−−−−−ウェハ・アンロード・ス
テーション。 出願人 : アメリカン テレフォン アンドテレグラ
フ カムバニー 一面の浄書(内容(こ変更なし)、 5υ     50
1 is a side view of an apparatus according to the invention for loading and unloading wafers on a multi-sided susceptor of a barrel reactor; FIG. 2 is a plan view of the loading and unloading apparatus of FIG. 1; The figure is a side view showing the robot of the loading and unloading device shown in Fig. 2 in detail with a partial cross section. Fig. 4 is a front view showing the spider of the robot shown in Fig. 3. 4 is a cross-sectional view taken along plane 5--5 of FIG.
Diagram of wafer loading and unloading equipment
FIG. 7 is a detailed perspective view of a portion of the loading station; FIG. 7 is a plan view of the reciprocating plate of the wafer loading station of FIG. 6; and FIG. 8
9 is an electrical block diagram of a control device forming part of the wafer alignment system for aligning the wafers on the reciprocating plate of FIGS. 7 and 8; FIG. 1 is a detailed perspective view of a portion of the wafer unloading station of the loading and unloading apparatus of FIG. 1; FIG. The illustrated block diagram, FIG. 12, is a flow chart diagram of a program executed by the control device of FIG. 11 for controlling the loading and unloading device of FIG. 1−・−−−−−−−−・−・−wafer, 1
4 ----------Pocket, 16-・-susceptor, 1 B----1・~side, 40-・-
・Plant home, 46-・----table, 56
.. 58--Guide, 60--------
- one robot, 112-- vacuum suction device, 124-- wafer load station, 130-- wafer cassette carrier, 203-- -Wafer unload station. Applicant: American Telephone and Telegraph Cambunny full-page engraving (contents (no changes), 5υ 50

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、ウェハをサスセプタに自動的にローディングする方
法において、 ロード・ステーションにおいてウェハをピックアップ装
置の少なくとも一個の吸引手段に係合するステップと、 ウェハが上記ピックアップ装置に係合した状態で上記ピ
ックアップ装置を上記ウェハ・ロード・ステーションか
ら移動させるステップと、上記ピックアップ装置の近傍
に上記サスセプタを位置決めするステップと、 上記ピックアップ装置を上記サスセプタの方へ移動して
上記ウェハを上記サスセプタ上に置くステップと、 上記ウェハが上記サスセプタに置かれた後に上記ピック
アップ装置と上記ウェハとの係合を解くステップと、 を具備することを特徴とする方法。 2、上記サスセプタは複数の側面を具備し、これらの側
面の各々は複数のポケットを有し、上記位置決めステッ
プは、上記サスセプタを割り出してその選定した側面を
基準位置の上記ピックアップ装置に隣接させるステップ
を含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の
方法。 3、ウェハをサスセプタから自動的にアンロードする方
法において、 少なくとも一個の吸引手段を有するピックアップ装置に
隣接するように上記サスセプタを位置決めするステップ
と、 上記サスセプタ上のウェハと上記吸引手段とを係合させ
るステップと、 上記ウェハが上記ピックアップ装置に係合した状態で、
上記ピックアップ装置を上記サスセプタからウェハ・ア
ンロード・ステーションに移動させるステップと、 上記アンロード・ステーションにおいて、上記ウェハと
上記ピックアップ装置との係合を解除するステップと、 を具備することを特徴とするう方法。 4、上記サスセプタは複数の側面を有し、この各側面は
複数のウェハ保持用ポケットを有し、上記係合及び位置
決めステップは、上記サスセプタを割り出して、その選
定した側面を上記ピックアップ装置に隣接させるステッ
プを含むことを特徴とする特許請求の範囲第3項に記載
の方法。 5、サスセプタ上のウェハの自動アンローディング及び
ローディング方法において、 上記サスセプタ上のウェハが、少なくとも一個の吸引手
段を有するピックアップ装置に隣接するように上記サス
セプタを位置決めするステップと、 上記ウェハと上記吸引手段とを係合させるステップと、 上記ピックアップ装置を上記サスセプタからウェハ・ア
ンロード・ステーションに移動させて、このウェハ・ア
ンロード・ステーションにおいて上記ウェハを解放し収
容するステップと、上記ピックアップ装置を上記ウェハ
・アンロード・ステーションから新しいウェハを収容し
ているウェハ・ロード・ステーションに移動させるステ
ップと、 上記ロード・ステーションの上記ウェハを上記吸引手段
に係合させるステップと、 上記ピックアップ装置を上記ウェハ・ロードステーショ
ンから上記サスセプタへ移動させて、この上記サスセプ
タにおいて上記ウェハを、上記吸引手段からの解放時に
上記サスセプタに搭載するステップと、 とを具備することを特徴とする方法。 6、上記サスセプタは複数のウェハを有し、上記各ステ
ップは、上記サスセプタ上のウェハが上記アンロード・
ステーションに搬送され、かつ上記ウェハ・ロード・ス
テーションからの新しいウェハと置換されるまで、繰り
返されることを特徴とする特許請求の範囲第5項に記載
の方法。 7、上記サスセプタは複数の側面を有し、 上記サスセプタ位置決めステップは、上記サスセプタの
側面が割出可能テーブルの複数の直立ガイドの間で保持
されるように、上記テーブル上の上記サスセプタの底を
捕捉するステップと、上記テーブルを割り出して上記サ
スセプタの選定された側面を上記ピックアップ装置に隣
接させるステップとを具備することを特徴とする特許請
求の範囲第6項に記載の方法。 8、上記ウェハ・サスセプタ係合ステップは、上記ウェ
ハの前面外周を上記ピックアップ装置の吸引手段に接触
させるステップと、上記吸引手段によって真空吸着する
ステップとを含むことを特徴とする特許請求の範囲第6
項に記載の方法。 9、上記ウェハ・吸引手段係合ステップは、上記ウェハ
の前面外周を上記ピックアップ装置の吸引手段に接触さ
せるステップと、上記吸引手段によって真空吸着するス
テップとを含むことを特徴とする特許請求の範囲第6項
に記載の方法。 10、上記ロード・ステーションで上記ピックアップ装
置に係合されたウェハは、そのアライメントがピックア
ップの前に行われることを特徴とする特許請求の範囲第
6項に記載の方法。 11、多側面サスセプタ上のウェハのローディング及び
アンローディング方法において、割出可能テーブル上の
複数の直立ガイドの間に上記サスセプタの側面下部を捕
捉するステップと、 上記テーブルを割り出して、そのサスセプタの選択され
た側面を、ロボットアームの端に摺動可能に取付けられ
た吸引器保持ピックアップ装置に隣接させるステップと
、 上記ピックアップ装置を上記ロボットアームから外方に
突出させて上記サスセプタの選択側面上の各ウェハを上
記吸引器に接触させ上記吸引器で真空吸着しながら上記
ウェハを上記吸引器に係合させるステップと、 上記ピックアップ装置を上記ロボットアームの方へ引込
めるステップと、 上記ロボットアームを上記サスセプタから第1の方向に
回転させて、上記ピックアップ装置をウェハ・アンロー
ド・ステーションの方へ変位させ、このアンロード・ス
テーションで上記吸引器の真空吸着を中止し上記ウェハ
を離しそれを上記アンロード・ステーションに収容する
ステップと、 上記ロボットアームを更に第1方向に回転させて、上記
ピックアップ装置を上記ウェハ・アンロード・ステーシ
ョンから新しいウェハを収容するウェハ・ロード・ステ
ーションへ移動させるステップと、 上記ピックアップ装置を上記ロボットアームから外方へ
突出させて上記ウェハ・ロード・ステーションの複数の
ウェハの各々と上記ピックアップ装置の真空吸引状態の
吸引器とをゆっくり接触させてウェハを係合させるステ
ップと、上記ピックアップ装置を上記ロボットアームの
方に引込めるステップと、 上記ロボットアームを更に上記第1方向に回転させて、
上記ピックアップ装置を上記サスセプタの割出側面に隣
接させるステップと、 上記ピックアップ装置を上記ロボットアームから上記サ
スセプタの方へ突出させて、上記ピックアップ装置に保
持されたウェハを上記サスセプタ上に搭載してから上記
吸引器による真空吸引を中止するステップと、 上記ピックアップ装置を上記ロボットアームの方へ引込
めるステップと、 を具備することを特徴とする方法。 12、上記サスセプタの選択側面上の各ウェハの前面外
周部は、上記ピックアップ装置の上記真空吸引器に穏や
かに接触されることを特徴とする特許請求の範囲第11
項に記載の方法。 13、上記ピックアップ装置に係合された、上記ロード
・ステーションの複数のウェハは、ピックアップ前に連
続的に回転されてアライメントが行われることを特徴と
する特許請求の範囲第11項に記載の方法。 14、サスセプタ上のウェハのローディング及びアンロ
ーディング装置において、 基準位置を含む円弧内を回転可能に基体に軸支されたロ
ボットアームと、 上記ロボットアームの端に摺動可能に取付けられ、ウェ
ハ係合用吸引手段を有するピックアップ装置と、 上記ピックアップ装置を上記ロボットアームに対して突
出させ、及び引込める手段と、 上記ロボットアームが横切る上記円弧内に位置し、新し
いウェハを収容するウェハ・ロード・ステーションと、 上記ロボットアームが横切る上記円弧内に位置し処理済
のウェハを収容するウェハ・アンロード・ステーション
と、 上記ロボットアームが基準位置にあるとき、サスセプタ
を上記ピックアップ装置に隣接するように位置決めする
手段と、 上記ロボットアームを、(a)上記基準位置から上記ア
ンロード・ステーションに移動して上記ピックアップ装
置が上記サスセプタ上のウェハを上記アンロード・ステ
ーションに搬送してそこに収容可能とし、(b)上記ウ
ェハ・アンロード・ステーションから上記ウェハ・ロー
ド・ステーションに移動し、更に(c)上記ウェハ・ロ
ード・ステーションから上記サスセプタへ移動して上記
ピックアップ装置が、ウェハを上記ロード・ステーショ
ンから上記サスセプタに搬送可能にする手段と、 を具備することを特徴とする装置。 15、上記サスセプタは多数の側面を有し、上記サスセ
プタ位置決め手段は、 上記サスセプタの下方に配置され、ほぼ上記サスセプタ
側面の間隔だけ離間した複数の直立ガイドを有する割出
可能テーブルと、 上記割出可能テーブルを回転可能に軸支するプラットホ
ームと、 上記プラットホームを上昇させて、上記割出可能テーブ
ルを、上記サスセプタの底面に接触させ、上記テーブル
の上記ガイドによって上記サスセプタの側面を捕捉する
手段と、 を含むことを特徴とする特許請求の範囲第14項に記載
の装置。 16、上記ロボットのアームは、 水平面内円弧を描くように上記基体に回転可能に軸支さ
れた第1アーム部と、 上記第1アーム部と同軸状態になる第1位置と上記第1
アーム部に対して垂直になる第2位置との間を旋回可能
に上記第1アーム部の端に取付けられた第2アーム部と
、 上記第2アームを上記第1及び第2位置の間で旋回させ
る手段と、 を含むこと特徴とする特許請求の範囲第14項に記載の
装置。 17、上記ウェハ・アンロード・ステーションは、少な
くとも一個のカセット昇降機を含み、この昇降機は、上
記ピックアップ装置の吸引器に接触されたウェハを受領
し収容するカセット・キャリアを保持することを特徴と
する特許請求の範囲第14項に記載の装置。18、上記
ウェハ・ロード・ステーションは、複数の新しいウェハ
を内蔵するカセット・キャリアを保持するカセット・昇
降機と、 上記ピックアップ装置によってピックアップ可能なよう
にウェハを載置する少なくとも一個の凹部を有する往復
動板と、 ウェハを、上記カセット昇降機上の上記カセット・キャ
リアから上記往復動板内の凹部へ搬送する手段と、 を含むことを特徴とする特許請求の範囲第14項に記載
の装置。 19、上記往復動板の各凹部には、そこに載置されたウ
ェハをアライメントする手段が設けられていることを特
徴とする特許請求の範囲第18項に記載の装置。 20、上記ウェハのアライメントを行う手段は、各凹部
内のウェハを回転する手段と、 上記凹部内のウェハが所定のアライメント状態にある時
点を検出する手段と、 上記検出手段に応じて上記回転手段を制御する制御手段
と、 を含むことを特徴とする特許請求の範囲第19項に記載
の装置。 21、平部を持つ半導体ウェハを回転してその平部を所
定のアライメント位置に位置決めする装置において、 上記ウェハを収容しかつその中心出しが可能な大きさの
凹部を有する板と、 上記凹部内のウェハと一部が接触するように上記凹部内
に回転可能に支持されたエラストマー・ベルトと、 上記ベルトを駆動して上記ウェハを回転駆動する手段と
、 上記ウェハの外周部の下に位置するように上記凹部内に
取付けられた検出器と、 上記検出器の出力信号に応じて上記駆動手段を制御する
制御手段と、 を具備し、上記検出器の上記出力信号の振幅は上記ウェ
ハの平部が上記検出器を横切った時に変化することを特
徴とする装置。
[Claims] 1. A method for automatically loading a wafer into a susceptor, comprising the steps of: engaging the wafer with at least one suction means of a pick-up device at a loading station; and the wafer being engaged with the pick-up device. positioning the susceptor in the vicinity of the pickup device; and moving the pickup device toward the susceptor to place the wafer on the susceptor. and disengaging the pickup device from the wafer after the wafer is placed on the susceptor. 2. The susceptor has a plurality of side surfaces, each of which has a plurality of pockets, and the positioning step includes determining the susceptor and positioning the selected side surface adjacent to the pickup device at a reference position. A method according to claim 1, characterized in that the method comprises: 3. A method for automatically unloading a wafer from a susceptor, comprising: positioning the susceptor adjacent to a pick-up device having at least one suction means; and engaging the wafer on the susceptor with the suction means. with the wafer engaged with the pick-up device;
The method further comprises the steps of: moving the pickup device from the susceptor to a wafer unload station; and disengaging the wafer from the pickup device at the unload station. How to do it. 4. The susceptor has a plurality of side surfaces, each side having a plurality of wafer holding pockets, and the engaging and positioning step includes indexing the susceptor and positioning the selected side surface adjacent to the pickup device. 4. The method of claim 3, further comprising the step of: 5. A method for automatically unloading and loading a wafer on a susceptor, comprising: positioning the susceptor so that the wafer on the susceptor is adjacent to a pickup device having at least one suction means; and the wafer and the suction means. moving the pick-up device from the susceptor to a wafer unload station to release and receive the wafer at the wafer unload station; moving the wafer from an unload station to a wafer load station containing a new wafer; engaging the wafer at the load station with the suction means; and moving the pick-up device to the wafer load station. A method comprising the steps of: transferring the wafer from a station to the susceptor and loading the wafer thereon upon release from the suction means. 6. The susceptor has a plurality of wafers, and each step includes the unloading and unloading of the wafers on the susceptor.
6. The method of claim 5, wherein the method is repeated until the wafer is transferred to a wafer loading station and replaced with a new wafer from the wafer loading station. 7. The susceptor has a plurality of sides, and the step of positioning the susceptor includes positioning a bottom of the susceptor on the table such that the sides of the susceptor are held between a plurality of upright guides on an indexable table. 7. The method of claim 6, further comprising the steps of: capturing; and determining the table to position selected sides of the susceptor adjacent the pickup device. 8. The wafer susceptor engaging step includes the steps of bringing the front outer periphery of the wafer into contact with suction means of the pickup device, and vacuum suction by the suction means. 6
The method described in section. 9. The wafer/suction means engaging step includes the steps of bringing the front outer periphery of the wafer into contact with the suction means of the pickup device, and vacuum suction by the suction means. The method described in Section 6. 10. The method of claim 6, wherein the wafer engaged by the pick-up device at the load station is aligned prior to pick-up. 11. A method for loading and unloading a wafer on a multi-sided susceptor, comprising the steps of: capturing the lower side of the susceptor between a plurality of upright guides on an indexable table; and indexing the table to select the susceptor. adjoining the selected side surfaces of the susceptor to an aspirator holding pick-up device slidably mounted on the end of the robot arm; bringing the wafer into contact with the suction device and engaging the wafer with the suction device while vacuum suctioning the wafer; retracting the pickup device toward the robot arm; and moving the robot arm into the susceptor. and displacing the pickup device toward a wafer unload station, where the vacuum suction of the aspirator is discontinued, the wafer is released, and the wafer is unloaded. further rotating the robot arm in a first direction to move the pick-up device from the wafer unload station to a wafer load station for receiving a new wafer; protruding a pick-up device outwardly from the robot arm to slowly bring each of the plurality of wafers of the wafer load station into contact with a vacuum suction device of the pick-up device to engage the wafers; retracting the pickup device toward the robot arm; further rotating the robot arm in the first direction;
placing the pickup device adjacent to the indexing side of the susceptor; protruding the pickup device from the robot arm toward the susceptor to mount the wafer held by the pickup device onto the susceptor; A method comprising: ceasing vacuum suction by the aspirator; and retracting the pick-up device toward the robot arm. 12. The front outer periphery of each wafer on a selected side of the susceptor is gently contacted by the vacuum suction device of the pickup device.
The method described in section. 13. The method of claim 11, wherein the plurality of wafers at the load station engaged with the pick-up device are sequentially rotated for alignment prior to pick-up. . 14. A device for loading and unloading wafers on a susceptor, including a robot arm that is rotatably supported on a base body in a circular arc that includes a reference position, and a robot arm that is slidably attached to the end of the robot arm and is used for engaging the wafer. a pick-up device having suction means; means for projecting and retracting the pick-up device with respect to the robot arm; and a wafer loading station located within the arc traversed by the robot arm to receive new wafers. , a wafer unload station located within the arc traversed by the robot arm and accommodating processed wafers; and means for positioning the susceptor adjacent to the pick-up device when the robot arm is in a reference position. (a) moving the robot arm from the reference position to the unloading station so that the pickup device can transport the wafer on the susceptor to the unloading station and storing it there; and (b) ) the wafer is moved from the wafer unload station to the wafer load station, and (c) the wafer is moved from the wafer load station to the susceptor, and the pickup device transfers the wafer from the load station to the susceptor. 1. A device comprising: a means for enabling transportation; 15. The susceptor has a plurality of sides, and the susceptor positioning means includes an indexable table having a plurality of upright guides disposed below the susceptor and spaced apart by approximately the spacing of the susceptor sides; a platform for rotatably supporting an indexable table; and means for raising the platform to bring the indexable table into contact with a bottom surface of the susceptor and capturing a side surface of the susceptor by the guide of the table; 15. A device according to claim 14, characterized in that it comprises: 16. The arm of the robot includes: a first arm rotatably supported on the base body so as to draw an arc in a horizontal plane; a first position where the arm is coaxial with the first arm;
a second arm attached to an end of the first arm so as to be pivotable between a second position perpendicular to the arm; and a second arm that is pivotable between the first and second positions. 15. A device according to claim 14, characterized in that it comprises means for pivoting. 17. The wafer unloading station includes at least one cassette elevator, the elevator holding a cassette carrier for receiving and storing the wafer that has been contacted by the suction device of the pickup device. Apparatus according to claim 14. 18. The wafer loading station is a reciprocating machine having a cassette elevator for holding a cassette carrier containing a plurality of new wafers, and at least one recess for placing a wafer for pick-up by the pick-up device. 15. The apparatus of claim 14, comprising: a plate; and means for transporting wafers from the cassette carrier on the cassette elevator to a recess in the reciprocating plate. 19. The apparatus according to claim 18, wherein each recess of the reciprocating plate is provided with means for aligning a wafer placed therein. 20. The means for aligning the wafers includes means for rotating the wafer in each recess, means for detecting when the wafer in the recess is in a predetermined alignment state, and the rotating means in accordance with the detection means. 20. The apparatus according to claim 19, further comprising: control means for controlling. 21. A device for rotating a semiconductor wafer having a flat portion and positioning the flat portion at a predetermined alignment position, comprising: a plate having a recess large enough to accommodate the wafer and center the wafer; an elastomeric belt rotatably supported within the recess so as to be in partial contact with the wafer; means for driving the belt to rotationally drive the wafer; a detector installed in the recess, and control means for controlling the drive means in accordance with an output signal of the detector, wherein the amplitude of the output signal of the detector is set to a level of the wafer. A device characterized in that the area changes when the area crosses the detector.
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