JPS62178380U - - Google Patents

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JPS62178380U
JPS62178380U JP6644386U JP6644386U JPS62178380U JP S62178380 U JPS62178380 U JP S62178380U JP 6644386 U JP6644386 U JP 6644386U JP 6644386 U JP6644386 U JP 6644386U JP S62178380 U JPS62178380 U JP S62178380U
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の構成系統を示す説
明図である。第2図は第1図の実施例の装置を使
用した場合の装置配置例と空気の流れを示す説明
図である。 1……送風部、2……加熱部、3……ノズル部
、4……温度センサ、5……電子装置、6……ア
ラーム検出部、7……温度調節器、8……受電部
、9……制御部、10……空気、11……吸気、
12……排気。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試験されるべき電子装置が運転時に必要とする
    冷却用空気量と同等の空気量を供給することがで
    きる送風部と、前記送風部から送風された空気を
    加熱する加熱部と、前記加熱部で加熱された空気
    を前記電子装置のすべての各部に行き渡るよう供
    給するノズル部と、前記加熱された空気の温度を
    制御するための温度センサおよび温度調節器とを
    含むことを特徴とする電子装置用温度試験装置。
JP6644386U 1986-05-01 1986-05-01 電子装置用温度試験装置 Expired - Lifetime JPH0633429Y2 (ja)

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JP6644386U JPH0633429Y2 (ja) 1986-05-01 1986-05-01 電子装置用温度試験装置

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JPS62178380U true JPS62178380U (ja) 1987-11-12
JPH0633429Y2 JPH0633429Y2 (ja) 1994-08-31

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JP6644386U Expired - Lifetime JPH0633429Y2 (ja) 1986-05-01 1986-05-01 電子装置用温度試験装置

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JPH0633429Y2 (ja) 1994-08-31

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