JPS6217694A - Uf↓6ガスの濃縮度測定装置 - Google Patents

Uf↓6ガスの濃縮度測定装置

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JPS6217694A
JPS6217694A JP15517885A JP15517885A JPS6217694A JP S6217694 A JPS6217694 A JP S6217694A JP 15517885 A JP15517885 A JP 15517885A JP 15517885 A JP15517885 A JP 15517885A JP S6217694 A JPS6217694 A JP S6217694A
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Japan
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sampling
flow rate
gas
waste
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JP15517885A
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木田 康夫
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、 UF*ガス分離装置で回収されたUF、ガ
スの濃縮度測定装置に関する。
〔発明の技術的背景と問題点〕
従来のUF6ガス分離装置では、濃縮度を高められた製
品UF6ガス及び濃縮度が低くなった廃品UFmガスが
それぞれ製品捕集装置及び廃品捕集装置で捕集され、次
にシリンダに充填するためそれぞれ製品回収装置及び廃
品回収装置内のUF6シリンダで固化回収されるように
構成されている。
ところで、従来のUF6製品回収装置の製品シリンダで
は、その品質管理上からの要求によって液化混合され、
この製品シリンダからυF、をサンブリングしその濃縮
度が測定される。一方、従来のUF6ガス廃品回収装置
の廃品シリンダでは、上述のような品質管理上の要求は
ないので設備の経済性から廃品シリンダへ回収中に接続
配管から時々サンプリングし、その濃縮度を測定すると
いう方法が採られていた。
しかして、廃品回収系で回収されるUF6ガスの濃縮度
は一定でないため、上述したようなサンプリング測定方
法で、その精度を向上させるためにはサンプリング頻度
を多くする必要がある。しかしながら、 UF、ガスの
サンプリング及び濃縮度測定は、人力によるところが多
く、その頻度を多くすることは廃品回収系の運転の経済
性を損なうという不具合があった。
〔発明の目的〕
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目的
は、UF、ガス廃品回収装置における廃品シリンダ内の
UF、の濃縮度を簡易な装置で測定できるようにしたU
F6ガスの濃縮度測定装置を提供するこねにある。
〔発明の概要〕
本発明は、上記目的を達成するために、UF6ガス分離
装置と、このUF6ガス分離装置に配管接続される廃品
捕集装置と、この廃品捕集装置に流量調整弁を介して配
管接続される廃品回収装置と。
前記廃品捕集装置の出口配管から分岐し流量制限ノズル
を介して配管接続されるサンプリング装置と、前記廃品
回収装置へのUF6ガス回収流量と前記サンプリング装
置へのサンプリング流量の分配比を一定になるように前
記調節弁と前記流量制限ノズルを制御する流量制御装置
とから構成されたUF6ガスの濃縮度測定装置に関する
ものである。
そして、前記回収装置は、廃品回収槽とこの廃品回収槽
内に設置されたUF、回収シリンダと回収槽冷却器とか
ら構成されており、またサンプリング装置は、加熱冷却
装置を付設したサンプリングコールドトラップと、この
サンプリングコールドトラップ内のUF、  を全量ガ
ス化するに足る容積を有する容器と、この容器内のtl
F、の濃縮度測定用の放射線測定器とから構成されてい
る。
〔発明の実施例〕
本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
図は本発明の一実施例のブロック構成図を示すものであ
る。同図に示すように、UF、供給装置1からtlF、
ガスがガス分離装置2に供給される0次に、このガス分
離表M2において濃縮度が高められた製品UF6ガスは
製品捕集袋W13を経て製品回収装置4内の製品回収シ
リンダ(図示せず)に回収される。
また、これら製品回収シリンダの交換時には排気装置5
により配管内のUF、を排気機交換されるように構成さ
れている。
他方、ガス分離表!i12により分離された廃品OF。
ガスは、廃品捕集袋!!!6から接続配管7を経てOF
回収シリンダ13に回収される。しかして、この廃品捕
集袋w6からの接続配管7には圧力計8.流量調節弁9
、シリンダ入口弁IOおよび廃品回収装置!15が接続
されている。この廃品回収袋W115は回収槽冷却器1
4を付設した廃品回収槽12と、この廃品回収槽12内
に格納されたUF6回収シリンダ13とから構成されて
いる。
また、接続配管7から分岐された分岐配管にはサンプリ
ング装W125が接続されている。このサンプリング装
[25は排気時等の流動抵抗を減少させるための排気回
収弁21でバイパスされた流量制御ノズル22.サンプ
リングコールドトラップ人口弁23を経て接続される加
熱冷却袋[17を有するサンプリングコールドトラップ
16と、このサンプリングコールドトラップ16に弁2
4を介して接続される圧力計18及びγ線測定装置!!
19を有する容器20とから構成されている。この容器
20は、UF、シリンダ1本分の重量をWxg、サンプ
リング比を1/N、容器温度と圧力をそれぞれT″′に
とP、UF、の分子量をNとすれば、この容器20の容
積Vは下記0式で表わされる。
ここで、V、、P、、T、はそれぞれ標準状態での1モ
ル当りの体積、標準状態の圧力、温度を示す、Tおよび
PはUF6の3重点以下に設定し液化しないように選定
する。さらに、接続配管7は上記した廃品捕集装置i!
6のUF1 ガスの排気のために製晶LIF、ガスと同
様に弁26を介して排気装置5に接続されている。
次に、本実施例の作用について説明する。
ガス分離装置2で生産された廃品UF、ガスは、廃品捕
集袋[6で捕集され接続配管7を経て廃品回収装置15
内のUF、回収シリンダ13へ送られ回収される。
そこで、まず、UF6回収シリンダ13がUF6ガスを
回収中の場合のサンプリングについて説明する。
接続配管7の下流に接続されているUF、回収シリンダ
13は、冷却器14で冷却され、一方、サンプリングコ
ールドトラップ16も同様に加熱冷却器17で冷却され
ているので、UF、は固化回収できる状態にある。この
ときシリンダ入口弁10およびサンプリングコールドト
ラップ人口弁23は開であるが、その他の弁はすべて閉
にされている。ところで、サンプリングコールドトラッ
プ16の入口には既に説明したように流量制御ノズル2
2が設置されている。サンプリングコールドトラップ1
6は加熱冷却器17で十分冷却されており、接続配管7
のUF6ガス圧力に比して十分低い内圧となっている6
例えば加熱冷却器17の冷媒として液体窒素を用いると
UF、の蒸気圧は無視出来る程度に低くなる。
したがって、サンプリングコールドトラップ16へサン
プリング捕集される流量は、接続配管7の圧力即ち圧力
計8の測定圧力に比例する。一方、UF、回収シリンダ
13への流量は、圧力計8および流量制御装置11の測
定値により常にそのN倍の流量になるように流量調節弁
9で制御される0通常。
廃品捕集装置!6からのuF@ガスの移送は、この捕集
装置6を加熱し、その蒸気圧による圧力で行なわれ、流
量調節弁9の開度変化の影響は受けない。
ところで、上記流量制御装置11では以下の演算を行な
うものである。
すなわち、圧力計8の測定値とあらかじめ設定される流
量制御ノズル15の流社係数からサンプリング流量を求
め、その流量を回収流量にするためN倍する。一方1回
収流量を制御する流量調節弁9の開度と圧力と流量の関
係は、流量制御ノズル15と同様に事前に測定あるいは
判別しているので圧力計8の測定値とサンプル流量から
必要流量に相当する開度出力信号を流量m節弁9に与え
る。
このようにしてLIF、回収シリンダ13の回収を行な
い、充填規定重量に達した段階で廃品捕集袋e6から回
収を終れば、サンプリングコールドトラップ16には常
に一定の分配比でUF6が捕集されたことになる。
次に、回収を完了した回収シリンダ内のUF6の濃縮度
を測定するためのサンプリングコールドトラップ16内
のtlF、の濃縮度の測定について説明する。
対応する回収シリンダ13に対するサンプリングを終え
たサンプリングコールドトラップ16は加熱冷却器17
によりUF6の3重点より低い圧力Pになるように加熱
する。この場合はサンプリングコールドトラップ入口弁
23を閉、容器20への入口弁24を開とする。容器2
0は事前に排気装置5により真空に排気されている。こ
の状態で、サンプリングコールドトラップ16に捕集し
たUF、は全量加熱ガス化され、所定の圧力Pのガス状
態となる。容器20は上述したように、この状態のガス
を保有するのに十分な容積を有するように設定している
。さらに、容器20には圧力計18とγ線測定器19が
′8I!!されており、UF6中(7)”’ U ノy
 a(185kaV) ’it計測することにより対象
UFs ガスの濃縮度が計算される。
濃縮度計測後は弁10.21.23.24を通じてLI
F、ガスは回収シリンダ13に回収される。
以上詳述したように、本実施例によれば、UF。
を回収中の回収シリンダ13内へ流入するLIF、ガス
を常に一定比でサンプリングすることによりサンプリン
グされたUF6がUF6の回収シリンダ13内のUF6
と同一の濃縮度とすることが出来、また、サンプリング
υF6 をガス状で混合することにより平均濃縮度の測
定を放射線計測器で簡易に測定することによりUF、の
回収シリンダ内の平均濃縮度の測定が可能となる。した
がって、従来υF、を回収シリンダ13に回収中に頻度
を多く行なう必要があったサンプリング作業及びサンプ
ルの濃縮度測定が不要になったので、廃品回収装置の運
転の省力化、経済的向上を図ることができる。
なお、本発明は、上記実施例に限定されるものではなく
1例えば1個の回収シリンダに対し複数のサンプリング
装置を設け、廃品UF6回収の途中段階での濃縮度測定
を行なうことあるいはサンプリング装置等を複数個にす
ることにより、個々の機器を小形化することも可能とな
る。また、上記実施例では濃縮度の測定にγ線を用いた
が、#Uの中性子の非同時(アンチコインシデンス)′
MJA定でもよく、さらに回収シリンダへの流量制御に
調節弁を用いる代りにサンプリング側の流量制御ノズル
のN倍の流量係数を有する流量制御ノズルを用いても分
配比を各種変更する必要がない場合には上記実施例と同
様な効果が得られる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明のUF、ガスの濃縮度測定
装置によれば、サンプリング容器内への捕集υF1重量
と廃品回収シリンダ内への回収UF6重量の比がUF6
回収中常に一定に保たれるためサンプリング容器内のU
F、の平均濃縮度が廃品回収シリンダ内のUF6の平均
濃縮度となるので、従来確定困難であった廃品回収シリ
ンダ内のUF6の濃縮度の測定を可能としたものである
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例のブロック構成図である。 1・・・UF、供給装置 2・・・υF、ガス分離装置 6・・・廃品捕集装置 12・・・廃品回収槽 13・・・UFi回収シリンダ 15・・・廃品回収装置 16・・・サンプリング容器 17・・・サンプリングコールドトラップ冷却器25・
・・サンプリング装置 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同  三俣弘文

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、UF_6ガス分離装置と、このUF_6ガス分
    離装置に配管接続される廃品捕集装置と、この廃品捕集
    装置に流量調整弁を介して配管接続される廃品回収装置
    と、前記廃品捕集装置の出口配管から分岐し流量制限ノ
    ズルを介して配管接続されるサンプリング装置と、前記
    廃品回収装置へのUF_6ガス回収流量と前記サンプリ
    ング装置へのサンプリング流量の分配比を一定になるよ
    うに前記調節弁と前記流量制限ノズルを制御する流量制
    御装置とから構成されたことを特徴とするUF_6ガス
    の濃縮度測定装置。
  2. (2)、廃品回収装置は、廃品回収槽とこの廃品回収槽
    内に設置されたUF_6回収シリンダと回収槽冷却器と
    から構成されている特許請求の範囲第1項記載のUF_
    6ガスの濃縮度測定装置。
  3. (3)、サンプリング装置は、加熱冷却装置を付設した
    サンプリングコールドトラップと、このサンプリングコ
    ールドトラップ内のUF_6を全量ガス化するに足る容
    積を有する容器と、この容器内のUF_6の濃縮度測定
    用の放射線測定器とから構成されている特許請求の範囲
    第1項記載のUF_6ガスの濃縮度測定装置。
JP15517885A 1985-07-16 1985-07-16 Uf↓6ガスの濃縮度測定装置 Pending JPS6217694A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5394736A (en) * 1993-07-14 1995-03-07 Barnett; Buddy G. Glycol testing unit
WO2001058810A1 (fr) * 2000-02-11 2001-08-16 Societe Franco-Belge De Fabrication De Combustible - Fbfc Procede et dispositif de determination de l'evolution d'une reaction chimique dans un four et de reglage de la reaction

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