JPS62174916A - Resist coating device - Google Patents

Resist coating device

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Publication number
JPS62174916A
JPS62174916A JP1724086A JP1724086A JPS62174916A JP S62174916 A JPS62174916 A JP S62174916A JP 1724086 A JP1724086 A JP 1724086A JP 1724086 A JP1724086 A JP 1724086A JP S62174916 A JPS62174916 A JP S62174916A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
resist
resist coating
coating device
liquid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1724086A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Tanaka
剛 田中
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Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rohm Co Ltd filed Critical Rohm Co Ltd
Priority to JP1724086A priority Critical patent/JPS62174916A/en
Publication of JPS62174916A publication Critical patent/JPS62174916A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To prevent the liquid resist spreading on the circumference of a wafer from creeping on the back of the wafer and adhering to the back side of the succeeding wafer by a method wherein a heating device, with which the circumferential part of the wafer will be heated up, is provided and the resist spread on the circumference of the wafer is dried up and hardened. CONSTITUTION:A heating device 10 is arranged on the part located upper than the upper surface of a wafer placing plate 25. A wafer 35 is fixed to the wafer placing plate 25, and the suitable quantity of liquid resist is fed to the center part of the surface of the wafer 35 from the exhaust hole 28 of a resist pipe 22. The circumferential part of the wafer 35 is heated up by the heating device 10 in the state wherein the liquid resist has been spread over the surface of the wafer 35. As a result, the liquid resist collected on the circumference of the wafer is dried up and hardened, and the resist is prevented from creeping on the back side of the wafer 35 and adhering to the back side of the succeeding wafer through the intermediary of the guide of a conveying device and the like.

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、ウェハーの表面にレジスト液を塗布するレジ
スト塗布装置に関ずろ。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial Application Field> The present invention relates to a resist coating apparatus for coating a resist liquid on the surface of a wafer.

〈従来の技術〉 従来から、ウェハーへのレジスト液の塗布は、第2図に
示すようなレジス]・塗布装置20によって行なわれて
いる。このレジスト塗布装置20は、ヂ、ドック21と
、レジストパイプ22と、レジスj・カップ23とから
’t:Q成されている。
<Prior Art> Conventionally, a resist solution is applied to a wafer using a resist coating device 20 as shown in FIG. This resist coating device 20 is composed of a dock 21, a resist pipe 22, and a resist j/cup 23.

このレジスト塗布装置20により、ウェハー35の表面
にレジスト液を塗布する場合は次のようにする。
When applying resist liquid to the surface of the wafer 35 using the resist coating device 20, the following procedure is performed.

まず、ウェハー35をチャック21の上面にセット口、
真空排気によりチャック21上に固定する。
First, set the wafer 35 on the upper surface of the chuck 21,
It is fixed on the chuck 21 by evacuation.

そして、レジストバイブ22からウェハー35の表面に
レジスト液を供給し、ウェハー35をチャック21とと
もに回転させる。ウェハー35の表面に供給されたレジ
スト液は、回転によってウェハー35の表面全面に広が
る。
Then, resist liquid is supplied from the resist vibrator 22 to the surface of the wafer 35, and the wafer 35 is rotated together with the chuck 21. The resist liquid supplied to the surface of the wafer 35 is spread over the entire surface of the wafer 35 by rotation.

このようにして、レジスト液が塗布されたウェハー35
はレジスト塗布装置20から取り出されて、次工程であ
るベーキング(乾燥)工程に送られる。
In this way, the wafer 35 coated with the resist solution
is taken out from the resist coating device 20 and sent to the next baking (drying) process.

〈発明が解決しJ:うとする問題点〉 ところで、レジス]・液が塗布されたウェハーをベーキ
ング工程に搬送したり、ベーキングベルトなどの装置に
載1δして搬送しながらベーキングを行う場合、次6よ
うな問題、薇がある。
<Problems to be Solved by the Invention> By the way, when carrying a wafer coated with a resist liquid to a baking process, or baking while carrying it on a device such as a baking belt, the following There are many problems like 6.

ずなイつち、ウェハーをレジスト塗布装置から取り出す
時点では、レジスト液は未乾燥であって、ウェハーの周
縁部まで広がって溜まっている。そして、その一部はウ
ェハーの裏面にまわりこむ。ウェハーの周縁部や裏面に
未乾燥状態で溜まっているレジスト液は、搬送の途中で
搬送装置のガイドやベルトに付着する。そして、ガイド
やベルトに付着しているレジスト液が転移し、後続のウ
ェハーの裏面に付着する。ところが、ウェハーの裏面に
レジス)・液が付着していると、ベーキング工程の後で
行なわれるウェハーの裏面に対するエッヂング工程で支
障をきたすことになる。
By the time the wafer is taken out from the resist coating device, the resist liquid is not yet dried and has spread to the periphery of the wafer and remains there. Then, some of it wraps around the back side of the wafer. Resist liquid that has accumulated in an undried state on the periphery or back surface of the wafer adheres to the guide or belt of the transport device during transport. Then, the resist liquid adhering to the guide or belt is transferred and adheres to the back surface of the subsequent wafer. However, if the resist solution adheres to the back surface of the wafer, it will interfere with the edging process for the back surface of the wafer, which is performed after the baking process.

本発明は、萌述の問題点に鑑みてなされたものであって
、レジスト液を塗布されたウェハーの搬送時にウェハー
の周縁部に広がっているレジスト液が、該ウェハーの裏
面にまわりこんだり、搬送装置のガイドなどを介して後
続のウェハーの裏面に何着することのないレジスト塗布
装置を提供することを目的としている。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and is such that when a wafer coated with a resist solution is transported, the resist solution that has spread around the periphery of the wafer gets around to the back surface of the wafer. It is an object of the present invention to provide a resist coating device that does not deposit any resist on the back side of subsequent wafers via a guide of a conveyance device or the like.

く問題点を解決するための手段〉 本発明は、上記の目的を達成するために、レジスト塗布
装置のチャック上面に保持されたウェハーの周縁部を加
熱するヒータ装置を、該チャックの上方に設けた。
Means for Solving Problems> In order to achieve the above object, the present invention provides a heater device that heats the peripheral edge of a wafer held on the upper surface of a chuck of a resist coating device, above the chuck. Ta.

〈作用〉 上記の構成によれば、ヒータ装置によってレジスト液が
塗布されたウェハーの周縁部が加熱され、周縁部に広が
っているレジスト液が乾燥し、硬化する。
<Operation> According to the above configuration, the peripheral edge of the wafer coated with the resist liquid is heated by the heater device, and the resist liquid spreading on the peripheral edge is dried and hardened.

〈実施例〉 第1図は本発明の一実施例に係るレジスト塗布装置の側
断面図である。本発明のレジスト塗布装置20は、ヒー
タ装置10を設けた以外は第2図の従来例と異ならない
。したがって、第1図において第2図と対応する部分に
は同一の符号を付している。
<Example> FIG. 1 is a side sectional view of a resist coating apparatus according to an example of the present invention. The resist coating device 20 of the present invention is the same as the conventional example shown in FIG. 2 except that the heater device 10 is provided. Therefore, parts in FIG. 1 that correspond to those in FIG. 2 are given the same reference numerals.

ずなイつち、このレジスト塗布装置20は、チャック2
1と、レジストパイプ22と、レジストカップ23とか
らも■成゛されている。チャック21は縦軸回りに回転
ず−る支持軸24を有し、該支持軸24の上部にはウェ
ハー載置台25が形成されている。
First, this resist coating device 20 has a chuck 2.
1, a resist pipe 22, and a resist cup 23. The chuck 21 has a support shaft 24 that rotates around a vertical axis, and a wafer mounting table 25 is formed above the support shaft 24.

ウェハー載置台25は、その上面に開口部26を有し、
該開口部26は支持軸24に形成された貫通孔27を通
じて図示しない真空排気装置に接続されている。また、
レジストパイプ22の吐出口28はウェハー載置台25
の上面中心部の上方に配置されている。一方、レジスト
カップ23は下129と上半部30とからなっている。
The wafer mounting table 25 has an opening 26 on its upper surface,
The opening 26 is connected to a vacuum evacuation device (not shown) through a through hole 27 formed in the support shaft 24. Also,
The discharge port 28 of the resist pipe 22 is connected to the wafer mounting table 25.
It is located above the center of the top surface. On the other hand, the resist cup 23 consists of a lower part 129 and an upper half part 30.

下半部29はその中心部に前記支持軸24が貫通ずる開
口部31が形成され、その周辺部には該中心部よりも低
い受液部32か形成されている。また、上半部30には
開口部33か形成されている。
The lower half 29 has an opening 31 formed in its center, through which the support shaft 24 passes, and a liquid receiving part 32 lower than the center formed in its periphery. Furthermore, an opening 33 is formed in the upper half 30.

ヒータ装置10はウェハー載置台25の上面よりら上方
に配置されている。このヒータ装置10は、その中心部
にレジストパイプ22の吐出口28が通過できる開口部
Ilを存する円盤状とされている。そして、ヒータ装置
10の周縁部にはウェハー35の周縁部を加熱するヒー
タ12が装着されている。第1図の実施例においてはヒ
ータ12の一例として、円輪状のフィルムヒータを示し
ている。このヒータ12は温度調節器i3を介して電源
14に接続されている。また、ヒータ装置10はレジス
ト塗布装置20の外部に固定された昇降手段I5によっ
て昇降可能に支持されている。
The heater device 10 is arranged above the top surface of the wafer mounting table 25. The heater device 10 has a disk shape with an opening Il in its center through which the discharge port 28 of the resist pipe 22 can pass. A heater 12 that heats the peripheral edge of the wafer 35 is attached to the peripheral edge of the heater device 10 . In the embodiment shown in FIG. 1, a circular film heater is shown as an example of the heater 12. This heater 12 is connected to a power source 14 via a temperature regulator i3. Further, the heater device 10 is supported so as to be movable up and down by a lifting means I5 fixed outside the resist coating device 20.

つぎに、第1図に基づいてレジスト塗布装置20の動作
について説明する。
Next, the operation of the resist coating device 20 will be explained based on FIG.

レジスト液を塗布しようとするウェハー35をウェハー
載置台25上にセットする。貫通孔27を通じて真空排
気することにより、該ウェハー35をウェハー載置台2
5上に固定する。そして、レジストパイプ22の吐出口
28からウェハー35表面の中心部に適量のレジスト液
を供給する。つぎに、チャック21を塗布するレジスト
液の厚みに応じた高速度で回転さU゛る。回転による遠
心力により、供給されていたレジスト液かウェハー35
の表面全面に広がる。この時、余剰のレジスト液はレジ
ストカップ23の下半部29の受液部32にρ1まる。
A wafer 35 to be coated with a resist solution is set on a wafer mounting table 25. By evacuation through the through hole 27, the wafer 35 is placed on the wafer mounting table 2.
5. Fix it on top. Then, an appropriate amount of resist liquid is supplied from the discharge port 28 of the resist pipe 22 to the center of the surface of the wafer 35 . Next, the chuck 21 is rotated at a high speed corresponding to the thickness of the resist solution to be applied. Due to the centrifugal force caused by the rotation, the supplied resist solution or the wafer 35
spreads over the entire surface. At this time, the excess resist liquid reaches the liquid receiving portion 32 of the lower half 29 of the resist cup 23 by ρ1.

レジスト液がウェハー35の表面に広がった状態で、ヒ
ータ装置IOによりウェハー35の周縁部を一加熱する
。このようにして、ウェハー35の周縁部に溜まってい
るレジスト液が乾燥さ仕られ、硬化する。なお、ヒータ
装置IOは、昇降装置15によりウェハー35のセット
時および取り出し時のみ上昇さ口゛られる。
With the resist solution spread over the surface of the wafer 35, the peripheral edge of the wafer 35 is heated by the heater device IO. In this way, the resist liquid accumulated on the peripheral edge of the wafer 35 is dried and hardened. The heater device IO is raised by the lifting device 15 only when setting and taking out the wafer 35.

その周縁部に広がっているレジスト液が便化したウェハ
ー35を、レジスト塗布装置20から取り出し、次のベ
ーギング工程に搬送する。
The wafer 35 with the resist liquid spread around its periphery is taken out from the resist coating device 20 and transported to the next bagging step.

〈発明の効果〉 以上のように、本発明によれば、ヒータ装置によってウ
ェハーの周縁部に広がっているレジスト液が乾燥、便化
さU゛られるから、該ウェハーの裏面にまわりこんだり
、ウェハーの搬送時に搬送装置に付着して該搬送装置を
介して後続のウェハーの裏面に付着することがないとい
う効果が得られる。
<Effects of the Invention> As described above, according to the present invention, the resist liquid spreading around the periphery of the wafer is dried and evaporated by the heater device. An advantage is obtained that the wafer does not adhere to the transfer device during the transfer of the wafer, and does not adhere to the back surface of the subsequent wafer via the transfer device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例に係るレジスト塗布装置の側
断面図、第2図は従来例のレジスト塗布装置の側断面図
である。 IO・・・ヒータ装置、20・・・レジスト塗布装置、
21・・・ヂャック、35・・・ウェハー。 第2図
FIG. 1 is a side sectional view of a resist coating apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a side sectional view of a conventional resist coating apparatus. IO...heater device, 20...resist coating device,
21...Jack, 35...Wafer. Figure 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)縦軸回りに回転するチャックの上面に保持される
ウェハーにレジスト液を塗布するようにしたレジスト塗
布装置において、 前記チャックの上方に、該チャックにより保持されたウ
ェハーの周縁部を加熱するヒータ装置を設けたことを特
徴とするレジスト塗布装置。
(1) In a resist coating device that applies a resist solution to a wafer held on the upper surface of a chuck rotating around a vertical axis, the peripheral edge of the wafer held by the chuck is heated above the chuck. A resist coating device characterized by being equipped with a heater device.
JP1724086A 1986-01-28 1986-01-28 Resist coating device Pending JPS62174916A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1724086A JPS62174916A (en) 1986-01-28 1986-01-28 Resist coating device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1724086A JPS62174916A (en) 1986-01-28 1986-01-28 Resist coating device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62174916A true JPS62174916A (en) 1987-07-31

Family

ID=11938418

Family Applications (1)

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JP1724086A Pending JPS62174916A (en) 1986-01-28 1986-01-28 Resist coating device

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JP (1) JPS62174916A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0341715A (en) * 1989-07-07 1991-02-22 Toshiba Ceramics Co Ltd Spin coater

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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