JPS62131294A - Display inspector - Google Patents

Display inspector

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Publication number
JPS62131294A
JPS62131294A JP60272864A JP27286485A JPS62131294A JP S62131294 A JPS62131294 A JP S62131294A JP 60272864 A JP60272864 A JP 60272864A JP 27286485 A JP27286485 A JP 27286485A JP S62131294 A JPS62131294 A JP S62131294A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
mesh
generation circuit
dot matrix
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60272864A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
横井 貞明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP60272864A priority Critical patent/JPS62131294A/en
Publication of JPS62131294A publication Critical patent/JPS62131294A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Digital Computer Display Output (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Character Input (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光電変換スキャナで走査して読み出したドット
アトリクスタイプの液晶表示文字の検査を行なう表示検
査装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a display inspection device for inspecting dot matrix type liquid crystal display characters read out by scanning with a photoelectric conversion scanner.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来の技術とし−rは、例えば、H,A、GIucks
man”A Propagation pattern
 classifier’ IEEETrans、EC
−14pp434−443.1965に示されているよ
うに、伝達パターンによる識別法がある。この方法は、
切り出された文字枠から枠の情報を伝達させてゆき、文
字のストロークによっ°C伝わらなかった背景部分の面
積を求めて文字を識別する方法である。
Conventional technology - r is, for example, H, A, GIucks
man”A Propagation pattern
classifier' IEEE Trans, EC
14pp434-443.1965, there is a method of identification based on transmission patterns. This method is
This method transmits information about the frame from the cut out character frame, and then identifies the character by determining the area of the background that is not conveyed by the stroke of the character.

次に図面を参照して本方法について詳細hc駁明する。Next, the method will be explained in detail with reference to the drawings.

誹6図は、伝達パターンによる識別法の原理説明図であ
り、例えば1UIと1H“を区別する演算についての説
明図である。同図falに示されるように、先ず右観測
枠から左方に情報を伝達する。
Figure 6 is an explanatory diagram of the principle of the identification method based on transmission patterns, and is an explanatory diagram of the calculation for distinguishing between 1UI and 1H", for example. As shown in fal of the same figure, first, move from the right observation frame to the left. convey information;

この伝達は、文字に到達すると停止するため、文字によ
って影になる背影部分が残る。同様に、左側の観測枠か
らの伝達を行なうと同図fb)の様になり、上側の枠か
ら同様の演算を行なって同図(c)に示される様に影に
なる部分がなくなればI Ulと判定できる。他の文字
に対する識別もこれらの演算の組み合わせによって行な
うことができる。
This transmission stops when it reaches the characters, so a back shadow part that is shadowed by the characters remains. Similarly, if the transmission is performed from the left observation frame, the result will be as shown in figure fb), and if the same calculation is performed from the upper frame and the shadowed part disappears as shown in figure 3 (c), then I It can be determined that it is Ul. Identification of other characters can also be performed by combining these operations.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上述した従来の伝達パターンによる識別方法を用いて、
ドットアトリクスタイプの液晶表示文字の検査を行なう
方法では、ドツト間の間隔がある場合には、ストローク
が不連続になシ伝達パターンが文字に到達しても停止し
ないために、認識が不可能であり、また、従来の方法で
は、表示文字の紹識を行なって検査するため文字の良否
判定が可節であるが、不良ドツト箇所の検出は不可能で
あった。
Using the conventional transmission pattern identification method described above,
In the method of inspecting dot matrix type LCD display characters, if there are gaps between dots, the strokes are discontinuous and the transmission pattern does not stop even when it reaches the character, making recognition impossible. In addition, in the conventional method, since the displayed characters are introduced and inspected, it is possible to judge whether the characters are good or bad, but it is impossible to detect defective dot locations.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明の表示検査装置は、光電変換スキャナを走査して
読み出したドットアトリクスタイプの液晶表示文字を1
0“、111の2値化画像に変換する2値化回路と、前
記2値化画像より文字エリアを検出してドツト数に分割
するためのメツシュ発生回路と、前言己2値化画像のう
ち、メツシュ発生回路で分割した各メツシュ内の11″
のBit数をカウントしてこのカウント値と基準値との
比較をして各ドツトパターンの表示の有/無の判定を行
ない表示有シと判定された場合は111、表示無しと判
定された場合は10″としてのドツトマトリクスパター
ンを発生するパターン発生回路と、発生したドツトマト
リクスパターンをあらかじめ文字に対応して登録してお
いた標準パターンと比較し、一致しているかどうかの判
定を行なうパターン判定回路とを含んで構成される。
The display inspection device of the present invention scans and reads dot matrix type liquid crystal display characters with a photoelectric conversion scanner.
A binarization circuit that converts the text into a binarized image of 0", 111, a mesh generation circuit that detects a character area from the binarized image and divides it into the number of dots, and , 11″ in each mesh divided by the mesh generation circuit
The number of bits is counted and this count value is compared with the reference value to determine whether each dot pattern is displayed.If it is determined that the dot pattern is displayed, it is determined as 111, and if it is determined that it is not displayed, it is determined that the dot pattern is displayed. is a pattern generation circuit that generates a dot matrix pattern as 10'', and a pattern judgment that compares the generated dot matrix pattern with a standard pattern registered in advance corresponding to characters and determines whether or not they match. It consists of a circuit.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。
Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は本発明で提供する表示検査装置のブロック図を
示す訓図において、光電変換スキャナ31を走査して読
み出された入力画像32は2値化回路33で2値化画像
34に変換される。この2値化画像34は、パターン発
生回路37に入力され、さらに、メツシュ発生回路35
よシ出力されるメツ7ユ信号36によって分割された各
メツシュ内のBit数がカウントされ、カウント値に応
じて各メツシー内のドツトパターンが表示有りか無しか
の判定が行なわれて、ドツトマトリクスパターン38が
出力される。パターン判定回路39では前記ドツトマト
リクスパターン38とlJ準パターン41とが比較され
、一致しているかどうかの判定信号40が出力される。
FIG. 1 is a block diagram of a display inspection device provided by the present invention, in which an input image 32 read out by scanning a photoelectric conversion scanner 31 is converted into a binary image 34 by a binarization circuit 33. be done. This binarized image 34 is input to a pattern generation circuit 37, and is further input to a mesh generation circuit 35.
The number of bits in each mesh divided by the mesh signal 36 outputted from the mesh is counted, and it is determined whether the dot pattern in each mesh is displayed or not according to the count value, and a dot matrix is created. Pattern 38 is output. A pattern determination circuit 39 compares the dot matrix pattern 38 and the lJ quasi-pattern 41, and outputs a determination signal 40 indicating whether they match.

以下に、図面を参照して、本実施例について、詳細に説
明する。
The present embodiment will be described in detail below with reference to the drawings.

第2図は、光電変換スキャナを走査して読み出したドッ
トマ) IJクスタイプの液晶表示文字の入力2値化画
像より表示文字エリアを検出してドツト数に分割するた
めのメツシュ発生回路の動作を説明するための図である
Figure 2 shows the operation of the mesh generation circuit that detects the display character area from the input binary image of an IJ box type liquid crystal display character and divides it into dots. It is a figure for explaining.

同図に示される様に、表示文字検査を行なう場合に、ま
ず、ドツトマトリクスのすべてのドツトが表示有シの状
態にして、光電変換スキャナを走査して入力2値化画像
1の取り込みを行ない、水平方向および垂直方向それぞ
れについての最初のドツトマトリクス上の画像をスター
ト位[12として検出する。さらに、前記スタート位f
2より、ドツトマトリクスの個数に対応した、あらかじ
め設定された間隔のメッ7:L3を発生させる。
As shown in the figure, when performing display character inspection, first, all dots in the dot matrix are set to a display state, and the input binary image 1 is captured by scanning the photoelectric conversion scanner. , the first image on the dot matrix in each of the horizontal and vertical directions is detected as the starting position [12]. Furthermore, the starting position f
2, messages 7:L3 are generated at preset intervals corresponding to the number of dot matrices.

第3図は前記メツシュ発生回路の構成図を示す。FIG. 3 shows a configuration diagram of the mesh generation circuit.

同図において、スタート位置信号6はスタート位置ラッ
チ信号5によってメツシュ位置ラッチ11にラッチされ
、メツシュ位置信号15としてコンパレーター12で走
査位置信号7と比較されてメツシュ信号9が出力される
。さらに、前記メツシュ位置信号15は加算部13でメ
ツシュ間隔信号8と加算されて、次のメツシュ位置を示
すメツシー変更データ16として、メツシュ位置ラッチ
11に再びラッチされて、次のメツシュ位置信号9が前
述と同様の処理によって出力される。このメッシー信号
9は、カウンタ14に入力されて、あらかじめ設定した
個数のメツシュ信号9が出力されたら、終了信号10を
出力する。
In the figure, a start position signal 6 is latched by a mesh position latch 11 by a start position latch signal 5, and compared with a scanning position signal 7 by a comparator 12 as a mesh position signal 15, and a mesh signal 9 is output. Further, the mesh position signal 15 is added to the mesh interval signal 8 in the adder 13, and is latched again in the mesh position latch 11 as mesh change data 16 indicating the next mesh position, and the next mesh position signal 9 is It is output using the same process as described above. This mesh signal 9 is input to a counter 14, and when a preset number of mesh signals 9 are output, an end signal 10 is output.

第4図は、パターン発生回路の動作の説明するための図
である。同図(a)において入力2値化画像20はメツ
シー発生回路で発生したメツシュ21によシ分割され、
各メツシュ内の111のBit数をカウントして、その
カウント値より各メツシュ内のドツトパターンが表示有
/無の判定を行ない、表示有シと判定された場合は11
1、表示無しと判定された場合はIO“としての同図(
blに示されるドツトマトリクスパターンを発生スる。
FIG. 4 is a diagram for explaining the operation of the pattern generation circuit. In the figure (a), the input binarized image 20 is divided into meshes 21 generated by the mesh generation circuit,
The number of 111 bits in each mesh is counted, and based on the count value, it is determined whether the dot pattern in each mesh is displayed or not. If it is determined that the dot pattern is displayed, 111 bits are counted.
1. If it is determined that there is no display, the same figure as “IO” (
Generate the dot matrix pattern shown in bl.

第5図はパターン発生回路の構成図を示す。同図におい
て、2値化画像22はシフトレジスタ23に入力されさ
らに、シフトレジスタの出力信号は遅延回路24に入力
されてる構成になっていて、シフトレジスタ23の出力
としてai、j(i=1〜N、j=1〜M)のNXM 
 Bitのパラレル信号25が出力される。このパラレ
ル信号25はメツシュ信号30によって加算部2bで加
算され、メツシュ内のBit数27として出力される。
FIG. 5 shows a block diagram of the pattern generation circuit. In the figure, the binarized image 22 is input to a shift register 23, and the output signal of the shift register is input to a delay circuit 24, and the output signal of the shift register 23 is ai,j (i=1 ~N, j=1~M) NXM
A Bit parallel signal 25 is output. This parallel signal 25 is added by the mesh signal 30 in the adder 2b, and is output as the number of bits in the mesh, 27.

この加算されたBit数27はコンパレーター28によ
り基準値29と比較され、各メツシー内のドツトパター
ンが表示有シか無しかの判定信号44が出力される。
This added bit number 27 is compared with a reference value 29 by a comparator 28, and a determination signal 44 indicating whether the dot pattern in each mesh is displayed or not is output.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明の表示検査装置は、ドットアトリクスタイプの液
晶表示文字をドツト数に対応するメツシュに分割し、さ
らに、各メツシュ内の111のBit数をカウントして
各ドツトパターンの表示有/無の判定を行なって、ドツ
トマトリクスパターンを発生し、さらに標準パターンと
の比較を行なう方法を用いているため、従来の方法での
欠点である表示文字が不連続であっても認識可能であり
、また、不良なドツト位置の検出も可能となっている。
The display inspection device of the present invention divides a dot matrix type liquid crystal display character into meshes corresponding to the number of dots, and further counts the number of 111 bits in each mesh to determine whether each dot pattern is displayed. Since the method uses a method that performs judgment, generates a dot matrix pattern, and then compares it with a standard pattern, it is possible to recognize discontinuous displayed characters, which is a drawback of conventional methods. It is also possible to detect defective dot positions.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す表示検査装置のブロッ
ク図、第2図はメツシュ発生回路の動作説明図、第3図
はメツシュ発生回路の構成図、第4図fa) 、 (b
)はパターン発生回路の動作説明図、第5関はパターン
発生回路の構成図、第6図(al 、 (bl 。 (clは、伝達パターンによる識別法の原理説明図であ
る。 1・・・・・・2値化画像、2・・・・・・スタート位
置、3・・・・・・メツシュ、4・・・・・・撮像エリ
ア、5・・・・・・スタート位置ラッチ信号、6・・・
・・・スタート位置信号、7・・・・・・走査位置信号
、8・・・・・・メツシュ間隔信号、9・・・・・・メ
ツシュ信号、10・・・・・・終了信号、11・・・・
・・メツシュ位置ラッチ、12・・・・・・コンパレー
ター、13・・・・・・加算部、14・・・・・・カウ
ンタ、15・・・・・・メツシュ位置信号、16・・・
・・・メツシュ変更データ、20・・・・・・2値化画
像、21・・・・・・メツシュ、22・・・・・・2値
化画像、23・・・・・・シフトレジスタ、24・・・
・・・遅延回路、25・・・・・・パラレル信号、26
・・・・・・加X部、zs・・・・・・コンパレーター
、29・・・・・・基準値、30・・・・・・メツシュ
信号、31・・・・・・光電変換スキャナ、32・・・
・・・入力画像、33・・・・・・2値化回路、34・
・・・・・2値化画像、35・・・・・・メツシュ発生
回路、36・・・・・・メツシュ信号、37・・・・・
・パターン発生回路、38・・・・・・ドツトマトリク
スパターン、39・・・・・・パターン判定回路、40
・・・・・・判定信号、41・・・°°°標準Ap−y
・44°°°°°°判定信号・   、、/−−−〜、
代理人 弁理士  内 原   晋 \2・ 第 1 図 3/−−一 光電夛機スキャナ 33−24ざイ、と、IjT、?各 、35− ・ メツシュ発生回了各 37°−八°ターン発生回Σ各 39−−−ノv7−ン判メ乙回路 牙 3  図 //−m−メツシュス立石夕、7チ /2−−− コンノYL−グー /3− 加算部 、乙ブー カウンタ 茅4 面 $ 5  図 2z 24−・−浬μIli]路 2z・・−力of名? 23・−−−ゴンハルダー *、<  図
Fig. 1 is a block diagram of a display inspection device showing an embodiment of the present invention, Fig. 2 is an explanatory diagram of the operation of a mesh generation circuit, Fig. 3 is a configuration diagram of the mesh generation circuit, and Fig. 4 fa), (b).
) is an explanatory diagram of the operation of the pattern generation circuit, the fifth section is a configuration diagram of the pattern generation circuit, and FIG. ... Binarized image, 2 ... Start position, 3 ... Mesh, 4 ... Imaging area, 5 ... Start position latch signal, 6 ...
...Start position signal, 7...Scanning position signal, 8...Mesh interval signal, 9...Mesh signal, 10...End signal, 11・・・・・・
...Mesh position latch, 12...Comparator, 13...Adder, 14...Counter, 15...Mesh position signal, 16...
...mesh change data, 20...binarized image, 21...mesh, 22...binarized image, 23...shift register, 24...
...Delay circuit, 25...Parallel signal, 26
...Additional X section, zs...Comparator, 29...Reference value, 30...Mesh signal, 31...Photoelectric conversion scanner , 32...
...Input image, 33...Binarization circuit, 34.
...Binarized image, 35...Mesh generation circuit, 36...Mesh signal, 37...
・Pattern generation circuit, 38...Dot matrix pattern, 39...Pattern judgment circuit, 40
...Judgment signal, 41...°°° standard Ap-y
・44°°°°°°judgment signal・ ,,/---~,
Agent Patent Attorney Susumu Uchihara \2, No. 1 Figure 3/--1 Photoelectric scanner 33-24, IJT, ? Each, 35-・Mesh generation times each 37°-8° turn occurrence times ΣEach 39-----V7-n size main circuit fan 3 Figure//-m-Metshusu Tateishi Yu, 7chi/2-- - Konno YL-Goo/3- Addition section, Otsubo Counter 4 side $5 Figure 2z 24-・-浬μIli] 路2z...-Power of name? 23・---Gonhalder*,<Fig.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 光電変換スキャナを走査して読み出したドットアトリク
スタイプの液晶表示文字を‘0’、‘1’の2値化画像
に変換する2値化回路と、前記2値化画像より表示文字
エリアを検出してドット数に分割するためのメッシュ発
生回路と、前記2値化画像のうち、メッシュ発生回路で
分割した各メッシュ内の‘1’のBit数をカウントし
て、このカウント値と基準値との比較をして、各ドット
パターンの表示有/無の判定を行ない、表示有りと判定
された場合は‘1’、‘0’としてのドットマトリクス
パターンを発生するパターン発生回路と発生したドット
マトリクスパターンをあらかじめ文字に対応して登録し
ておいた標準パターンと比較し、一致しているかどうか
の判定を行なうパターン判定回路とを含むことを特徴と
する表示検査装置。
A binarization circuit that converts dot matrix type liquid crystal display characters read out by scanning with a photoelectric conversion scanner into a binary image of '0' and '1', and a display character area is detected from the binary image. and a mesh generation circuit for dividing the binarized image into the number of dots, and counting the number of '1' bits in each mesh divided by the mesh generation circuit in the binarized image, and comparing this count value with a reference value. A pattern generation circuit generates a dot matrix pattern as '1' and '0' if it is determined that each dot pattern is displayed, and the generated dot matrix. A display inspection device comprising: a pattern determination circuit that compares a pattern with a standard pattern registered in advance corresponding to a character and determines whether or not they match.
JP60272864A 1985-12-03 1985-12-03 Display inspector Pending JPS62131294A (en)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5571926A (en) * 1978-11-24 1980-05-30 Hitachi Ltd Inspection of liquid crystal indicator
JPS5799693A (en) * 1980-12-11 1982-06-21 Suwa Seikosha Kk Liquid crystal display

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