JPS6212942A - Photomagnetic recording and reproducing device - Google Patents
Photomagnetic recording and reproducing deviceInfo
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- JPS6212942A JPS6212942A JP61062449A JP6244986A JPS6212942A JP S6212942 A JPS6212942 A JP S6212942A JP 61062449 A JP61062449 A JP 61062449A JP 6244986 A JP6244986 A JP 6244986A JP S6212942 A JPS6212942 A JP S6212942A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は磁気光学効果を用いた光磁気記録再生装置に関
する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (a) Field of Industrial Application The present invention relates to a magneto-optical recording and reproducing device using the magneto-optic effect.
(ロ)従来の技術
従来よりファラデー効果や磁気カー効果等の磁気光学効
果を応用し九情報の垂直磁気記録・再生の研究が進めら
れている。記録媒体としては一般にGa0o、GdFe
、TbFe等のアモ/L/7アス磁性膜が用いられてい
る。第2図は光磁気ディスクにおける記録・消去の原理
図である。記録の場合は予め全面にわたって一方向に磁
化させた記録媒体(1)に半導体レーザの光(2)4を
照射して局部的に記録媒体をキュリ一点付近まで上昇さ
せ、且つレーザ光照射部分を含む領域に記録媒体が磁化
されている向きと逆向きのバイアス磁界(3)をかけて
レーザ光照射部分にまわシと逆向きの磁化領域を作るこ
とにより記録が行なわれる。一方、消去の場合は記録時
とは逆向き、すなわち予め磁化した向きにバイアス磁界
をかけてレーザ光を連続的に照射すると記録時に磁化の
向きが反転した働域が元の向きに再び反転することによ
シ情報が消去されたことになる。(b) Conventional technology Research has been progressing in the past on perpendicular magnetic recording and reproduction of information by applying magneto-optical effects such as the Faraday effect and the magnetic Kerr effect. Generally, Ga0o, GdFe is used as a recording medium.
, TbFe or the like is used. FIG. 2 is a diagram showing the principle of recording and erasing on a magneto-optical disk. In the case of recording, a semiconductor laser beam (2) 4 is irradiated onto a recording medium (1) whose entire surface has been magnetized in one direction in advance to locally raise the recording medium to around the Curie point, and the area irradiated with the laser beam is Recording is performed by applying a bias magnetic field (3) in the direction opposite to the direction in which the recording medium is magnetized to the area included in the recording medium, thereby creating a magnetized area in the opposite direction to the direction in which the recording medium is irradiated. On the other hand, in the case of erasing, if a bias magnetic field is applied in the opposite direction to that during recording, that is, in the direction of magnetization in advance, and laser light is continuously irradiated, the working area whose magnetization direction was reversed during recording will be reversed again to the original direction. In particular, the information has been erased.
以上に述べたようにして光磁気ディスクの記録消去が行
なわれるが、単一のレーザビームではすでに記録されで
ある情報を書き換える場合、記録と消去ではバイアス磁
界の向きが異なるため1度前の情報を消去した後−e(
めて記録しなければならない。そこで記録・再生用ビー
ムと消去用ビームの2つのビームを用意し、それぞれの
ビームラ隣接する記録トラックに配置し、所定のトクッ
グ毎に外部磁場の向きを切り換えることによυすでに記
録されである情報を消去しながら再記録できる方法が提
案されている。(特開昭57−117106号参照)
し→ 発明が解決しようとする問題点
そして1本発明では上記従来技術における光学系を、更
に改良し、f磁気記録再生装置における記録、再生、消
去動作をよシ効果的に行なおうとするものである。Recording and erasing of magneto-optical disks is performed as described above, but when rewriting information that has already been recorded using a single laser beam, the direction of the bias magnetic field is different for recording and erasing, so the information that was previously recorded is After erasing -e(
must be recorded. Therefore, two beams, a recording/reproducing beam and an erasing beam, are prepared, and each beam is placed in an adjacent recording track, and the direction of the external magnetic field is switched for each predetermined torque. A method has been proposed that allows data to be re-recorded while being erased. (Refer to Japanese Unexamined Patent Publication No. 57-117106) → Problems to be Solved by the Invention And 1. In the present invention, the optical system in the above-mentioned prior art is further improved, and recording, reproducing, and erasing operations in an f magnetic recording and reproducing device are improved. The aim is to do this effectively.
に)問題を解決するための手段
S偏光成分とP偏光成分に対する反射率が一方(第1偏
光成分)においてはtool勾反射の率であり、他方(
第2偏光成分)においてはより小さい反射率(例えば3
oチ)に設定された偏光ビームスプリフタを用いる。第
1の波長を有し、主として第1偏光成分を有する第1レ
ーザ光源が。) Means for solving the problem The reflectance for the S-polarized component and the P-polarized component is the ratio of the tool gradient reflection on the one hand (the first polarization component), and on the other hand (the first polarization component).
second polarization component), the reflectance is smaller (e.g. 3
Use a polarizing beam splitter set to a first laser light source having a first wavelength and primarily a first polarization component;
偏光ビームスプリッタを挾んで光磁気記録媒体に対向し
て配置される。又、第2の波長を有し、主として第1偏
光成分を有する第2レーザ光源が。It is placed facing the magneto-optical recording medium with the polarizing beam splitter in between. and a second laser light source having a second wavelength and primarily having a first polarization component.
偏光ビームスプリッタへの入射光が第1レーザ光称側に
反射される位置に設けられろ。The polarizing beam splitter should be provided at a position where the incident light to the polarizing beam splitter is reflected toward the first laser beam side.
偏光ビームスプリフタと第1レーザ光源の間には、第2
の波長に対するに波長板と、vllの波長のレーザ光は
透過させ第2の波長のレーザ光は反射させるフィルタ手
段と、第2波長板とが、偏光ビームスプリッタ側からこ
の順に配置されている。A second laser light source is provided between the polarizing beam splitter and the first laser light source.
A wavelength plate for a wavelength of , a filter means for transmitting a laser beam having a wavelength of vll and reflecting a laser beam having a second wavelength, and a second wavelength plate are arranged in this order from the polarizing beam splitter side.
そしてこれらの働きにより偏光ビームスプリフタに入射
されるときに、第1レーザ光源から出たレーザ光は主と
して第2偏光成分を有する様に変更される。Due to these functions, the laser beam emitted from the first laser light source is changed to mainly have the second polarization component when the laser beam is incident on the polarization beam splitter.
光磁気記録媒体からの反射光は、この偏光ビームスプリ
ッタで1度前されて検光子及び受光センサに供給される
。The reflected light from the magneto-optical recording medium is reflected once by this polarizing beam splitter and then supplied to an analyzer and a light receiving sensor.
第1レーザ光源及び第2レーザ光源はいずれか一方が記
録/再生用であり、他方が消去用に用いられる。One of the first laser light source and the second laser light source is used for recording/reproduction, and the other is used for erasing.
−)作 用
第1レーザ光源からのレーザ光は偏光ビームスグリツタ
に入射するときには第2偏光成分に変更されて、偏光ビ
ームスプリッタを通過する。父。-) Effect When the laser light from the first laser light source enters the polarizing beam splitter, it is changed into a second polarized light component and passes through the polarizing beam splitter. father.
第2レーザ光源からのレーデ光は一旦、偏光ビームスプ
リッタで反射された後、フィルタ手段で反射されて再び
偏光ビームスプリッタに入射されるが、に波長板を2度
通過することにょシ9o度偏光面が回転され、第2の偏
光成分となって、この偏光ビームスプリフタを通過する
。The Rade light from the second laser light source is once reflected by the polarizing beam splitter, then reflected by the filter means, and enters the polarizing beam splitter again. The plane is rotated and a second polarized component passes through the polarizing beam splitter.
一方1光磁気巳録媒体からの反射光はカー効果により偏
光面が回転されている場合、第1偏光成分をも含む様に
なっている。そして、偏光ビームスプリッタでは第1偏
光成分に対する反射率が高いので、検光子に導入される
光では見かけ上のカー回転角が増大しており、再生され
る信号のs/Nが向上する。On the other hand, when the plane of polarization of the reflected light from the first magneto-optical recording medium is rotated by the Kerr effect, it also includes the first polarization component. Since the polarizing beam splitter has a high reflectance for the first polarized light component, the apparent Kerr rotation angle of the light introduced into the analyzer increases, and the S/N of the reproduced signal improves.
(へ)実施例 以下図面に従い本発明の実施例を説明する。(f) Example Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
$1図は光学系(光学ヘッド6I])を示すブロック図
である。Figure $1 is a block diagram showing the optical system (optical head 6I).
第1図において、 (101は記録/消去(R/P)用
半導体し−4(第1レーザ光源)であシ、その波長は7
800Aで、後述の偏光ビームスプリッタaηに対して
、主としてS偏光成分を有する。(lzは第1のコリメ
ータレンズである。In Figure 1, (101 is a recording/erasing (R/P) semiconductor, -4 (first laser light source), and its wavelength is 7
800A, and mainly has an S polarization component for a polarization beam splitter aη described later. (lz is the first collimator lens.
(Illは消去用の半導体レーザ(第2レーザ光源)で
あって、波長が830OAである。父、後述のi+ビー
ムスプリッタαηに対して、主としてS偏光成分を有す
るものである。(13は第2のコリメータレンズである
。(Ill is a semiconductor laser (second laser light source) for erasing, and has a wavelength of 830OA. In contrast to the i+ beam splitter αη, which will be described later, it mainly has an S polarization component. This is the second collimator lens.
11?)は偏光ビームスプリッタであり、8偏光酸分(
′!J11偏光成分)に対する反射率が100%、P偏
光成分(!J2偏光成分)に対する反射率が30チとな
る様に膜(17a)が形成されている。この偏光ビーム
スプリッタ任ηは、R/P用半導体レーしellからの
レーザ光の直線偏光度を向上せしめるとともに、光磁気
記録媒体であるディスク(1)からの反射光の見かけ上
のカー回転角を増大せしめる機能を宵する。11? ) is a polarizing beam splitter, and 8 polarizing acids (
′! The film (17a) is formed so that the reflectance for the J11 polarized light component is 100% and the reflectance for the P polarized light component (!J2 polarized light component) is 30%. This polarizing beam splitter η improves the degree of linear polarization of the laser beam from the R/P semiconductor laser ELL, and also improves the apparent Kerr rotation angle of the reflected light from the disk (1), which is a magneto-optical recording medium. It has functions that increase
偏光ビームスプリッタQηと第1コリメータレンズσ2
の間には、8300A用のに波長板(lG、83ザ光は
全透過するフィルタロ5.第2の波長板a4が。Polarizing beam splitter Qη and first collimator lens σ2
In between is a wavelength plate for the 8300A (lG, 83, a filter that completely transmits the light) and a second wavelength plate a4.
偏光ビームスプリッタ側からこの順に配置されている。They are arranged in this order from the polarizing beam splitter side.
RZ P相半導体レーザ鵠からのレーザ光はこの波長板
fi41.フィルタα51,830OA用1/4波長板
(16)を通過することにより、90i、(i’m光面
が回転され、王としてP偏光成分を有することになる。The laser light from the RZ P-phase semiconductor laser passes through this wavelength plate fi41. By passing through the filter α51, 830OA quarter-wave plate (16), the light planes 90i, (i'm) are rotated and have a P-polarized component as the king.
この目的のために、波長板!141が挿入されている。For this purpose, a wave plate! 141 has been inserted.
住lは対物レンズであり、ディスク上に第1(7集元せ
しめる。尚、°後述の如(、R/Pビームと消去ビーム
の集光位置は異なる様に設定されている。Reference numeral 1 denotes an objective lens, which focuses the first (7) beams on the disk.As will be described later, the focusing positions of the R/P beam and the erase beam are set to be different.
囚はディスク(1)からの反射光で、偏光ビームスプリ
ッタαηによって反射され九レーザ光の偏光面を所定角
度回転せしめる%波長板である。#2Dは7−ザ光を透
過せしめるダイクロツクミラー、■は検光子の役目をす
る偏光ビームスプリッタ、 [231CI!4)は信号
再生用の第1.第2受元センサ(この部分は通常の検光
子と1個の受光センサで構成することもできる。)、ノ
はアドレス読み取り用(8300Aのレーザ光が照射さ
れる)の第3受光センサである。The light reflected from the disk (1) is reflected by the polarizing beam splitter αη, which is a wavelength plate that rotates the polarization plane of the laser beam by a predetermined angle. #2D is a dichroic mirror that transmits the 7-dimensional light, ■ is a polarizing beam splitter that serves as an analyzer, [231CI! 4) is the first one for signal reproduction. The second receiving sensor (this part can also be composed of a normal analyzer and one light receiving sensor), and the third receiving sensor for address reading (irradiated with 8300A laser light). .
消去用半環体レーザαBのからのしπザ光(8300λ
)は偏光ビームスプリッタσDに対して主としてS偏光
成分を有しているから、偏光ビームスプリッタaηによ
シ一旦R/P用半導体レーザα0側に反射される。そし
て8300A用に波長板α61を通過し、フィルタrl
Sにより全反射され、再び8300A用に波長板を通過
して偏光ビームスプリッタ117)に入射される。85
00 AFIA1/4波長板(11112度通過するこ
とから、8偏光酸分は90度回転せしめられ、P偏光成
分となっている。そこで、消去ビーム(8300Aレ一
ザ元)は偏光ビームスプリッタσηを透過し、ディスク
(1)に照射される。The emitted π laser beam (8300λ
) mainly has an S-polarized component with respect to the polarizing beam splitter σD, so it is once reflected by the polarizing beam splitter aη toward the R/P semiconductor laser α0 side. Then, it passes through the wave plate α61 for 8300A, and the filter rl
It is totally reflected by S, passes through the wavelength plate again for 8300A, and enters the polarizing beam splitter 117). 85
00 AFIA 1/4 wave plate (passes through 11112 degrees, so the 8 polarized light components are rotated 90 degrees and become the P polarized light component. Therefore, the erase beam (8300A laser source) passes through the polarization beam splitter ση. The light passes through and is irradiated onto the disk (1).
一方、R/P用半導体レーザ(101からのレーザ光(
7800A)は前述の様に波長板(141,フィルタ(
Is、81500A用に波長板αeを通過することによ
シ1日偏光成分からP偏光成分を主として有する様に回
転せしめられる。そして、偏光ビームスプリッタaηを
通過することにより、直線偏光度のすぐれたR/Pビー
ム(7800Aレーザ光)がディスク(1)上に集光さ
れることになる。On the other hand, the laser beam from the R/P semiconductor laser (101)
7800A) is equipped with a wave plate (141) and a filter (141) as described above.
By passing through the wavelength plate αe for Is and 81500A, the light is rotated from the daily polarized component to mainly have the P polarized component. Then, by passing through the polarizing beam splitter aη, the R/P beam (7800A laser beam) with an excellent degree of linear polarization is focused onto the disk (1).
偏光ビームスプリッタ(17)、8300A用1/4波
長板C161,フィルタ(15)は消去ビームの光路変
更に用いられている。この様な構成になっているので、
上記従来技術における「ビームスプリッタ[有]等」が
不用となっている。A polarizing beam splitter (17), a quarter wavelength plate C161 for 8300A, and a filter (15) are used to change the optical path of the erase beam. Since it is configured like this,
The "beam splitter [equipped], etc." in the above-mentioned conventional technology is no longer needed.
ディスク(1)からの反射光は7800Xのレーザ光も
8300Aのレーザ光もP偏光成分となっているので、
偏光ビームスプリッタ鼎によシ所定の反射率で反射され
る。そして、7800Aのレーザ光はダイクロツクミラ
ーQ11で反射され、検光子a0.第1受光センサ、第
2受光センサ(至)、(23に導入される。8300X
のレーザ光はダイクロツクミラー(21)を通過し、第
3受光センサ@に照射される。Since the reflected light from disk (1) is a P-polarized component for both the 7800X laser beam and the 8300A laser beam,
It is reflected by the polarizing beam splitter with a predetermined reflectance. Then, the 7800A laser beam is reflected by the dichroic mirror Q11, and the analyzer a0. First light receiving sensor, second light receiving sensor (to), (Introduced in 23.8300X
The laser beam passes through the dichroic mirror (21) and is irradiated onto the third light receiving sensor @.
第3図は、ディスク(1)の平面図である。(2)はデ
ィスク(1)の中心孔、(3)は光磁気磁化膜が形成さ
れた光磁気記録部分、(4)は凹凸のビットの形で記録
トラックのアドレスが記録されているアドレス領域であ
る。FIG. 3 is a plan view of the disk (1). (2) is the center hole of the disk (1), (3) is the magneto-optical recording part where the magneto-optical magnetization film is formed, and (4) is the address area where the address of the recording track is recorded in the form of uneven bits. It is.
ディスク(1)上には、スパイクル状に案内溝が形成さ
れていて、これが記録トラックとなる。すなわち、第4
図(イ)の断面図に示す様に、案内溝(5a)が形成さ
れたポリカーボネイトやアクリル(PMMA)製の透明
プラスチック基板(スパイラル状の案内溝が形成されて
いる)(5)上に垂直磁化膜(6)をスパッタリング、
蒸着により作成する。そして、更に肪電体膜(7)が保
護等の目的で形成されている。垂直磁化膜(6)には、
希土類金属と遷移金属のアモルファス合金であるGdT
bFeやT′bFe□oが用いられる。A spike-shaped guide groove is formed on the disk (1), and this becomes a recording track. That is, the fourth
As shown in the cross-sectional view of Figure (a), a transparent plastic substrate made of polycarbonate or acrylic (PMMA) (with a spiral guide groove formed) (5) on which a guide groove (5a) is formed is vertically disposed. Sputtering the magnetized film (6),
Created by vapor deposition. Furthermore, a fatty electrolyte film (7) is formed for the purpose of protection and the like. The perpendicular magnetization film (6) has
GdT, an amorphous alloy of rare earth metals and transition metals
bFe and T'bFe□o are used.
そして、第3図に示したアドレス領域(4)には。And in the address area (4) shown in FIG.
第4図−1の如く、案内溝(5a)に連続して記録トラ
ック(5a)のアドレスを示すアドレス情報が、案内溝
(5&)と同時に形成されている。このアドレス情報の
記録は、前述の様に凹凸のビット(8)の形で行なわれ
、コンパクトディスクと同シようにして読み出すことが
できる。 ゛ディスク上における消去ビームスポット
c111と記録再生ビームスボッ)C’13との関係は
第4図に示されている。つまり、消去ビームスポットC
3Dが記録再生ビームスポットC4aよりも1トラック
分先行する様に配置されている。更に、消去ビームの波
長(asooi)がR/ P用ビームの波長(780o
X)よυも大きいことから、そして対物レンズ(19及
び第1.第2コリメータレンズσ21(131の開口率
(NA)は同じであることから、消去ビームスポットQ
l)の方がR/P用ビームスポットよシ大きくなってい
る。これによシ、消去ビームによる消去が確実になると
ともにR/p用ビームスポットc3ツが小さくなって記
録密度を向上することができる。As shown in FIG. 4-1, address information indicating the address of the recording track (5a) continuous to the guide groove (5a) is formed simultaneously with the guide groove (5&). This address information is recorded in the form of uneven bits (8) as described above, and can be read out in the same manner as a compact disc. The relationship between the erasing beam spot c111 and the recording/reproducing beam spot C'13 on the disk is shown in FIG. In other words, the erasure beam spot C
3D is arranged so that it precedes the recording/reproducing beam spot C4a by one track. Furthermore, the wavelength of the erase beam (asooi) is the same as the wavelength of the R/P beam (780o
Since the objective lens (19) and the first and second collimator lenses σ21 (131) have the same numerical aperture (NA), the erased beam spot Q
l) is larger than the R/P beam spot. As a result, erasing by the erasing beam is ensured, and the R/p beam spot c3 becomes smaller, thereby improving the recording density.
尚、コリメータレンズ(121(131の開口率(NA
)t”R/P用(13ヲ消去用a3よりも大きく設定す
ること又は以上の組み合せ(開口率と波長の組み合せ)
により、消去ビームスポットc111をFl/P用ビー
ムスポットOaよシも大きくする方法も考えられる。In addition, the collimator lens (121 (131 aperture ratio (NA)
) t” for R/P (set larger than 13 for erasing a3 or a combination of the above (combination of aperture ratio and wavelength)
Therefore, a method of making the erasing beam spot c111 larger than the Fl/P beam spot Oa can also be considered.
次に、消去動作と記録動作が同時に行なわれる様子を説
明する(特開昭57−t17t06号公報にも説明され
ている)。記録時においてRZP用半導体レーザ(11
は記録すべき情報信号(デジタル信号)に応じて強度変
調されているが、消去用半導体レーザa1Jは一定の強
度で駆動されている。Next, a description will be given of how the erasing operation and the recording operation are performed simultaneously (this is also explained in Japanese Patent Laid-Open No. 57-t17t06). During recording, the RZP semiconductor laser (11
is intensity-modulated according to the information signal (digital signal) to be recorded, but the erasing semiconductor laser a1J is driven with a constant intensity.
を
アドレスnからmまでの情報の書き換えpなうとき(第
5図参照) 、 RZ P用半導体レーザα1及び消去
用半導体レーザttnの出力は、fず、低出力状態に設
定され、ディスク(1)に記録されている情報を損なう
ことなく、光学ヘッドl!IGが所定位置に移送される
。そしてアドレスnが消去ビーム(51)によって検出
されると、このアドレスに対応したバイアス磁界の向き
(あらかじめ定1っている。例えば第1図11)方向)
がバイアス磁界付与手段(53)によって設定されると
共に、消去用半導体レーデQDの出力が所定値まで高め
られろ。そして消去ビームとバイアス磁界によりアドレ
スnのトラックは(イ1方向の磁化の向きにそろえられ
る。When the information from addresses n to m is rewritten (see Figure 5), the outputs of the RZ P semiconductor laser α1 and the erasing semiconductor laser ttn are set to a low output state, and the disk (1 ) without damaging the information recorded on the optical head l! The IG is transported to a predetermined location. When address n is detected by the erase beam (51), the direction of the bias magnetic field corresponding to this address (predetermined 1, for example, the direction shown in FIG. 1, 11))
is set by the bias magnetic field applying means (53), and the output of the erasing semiconductor radar QD is increased to a predetermined value. Then, the track at address n is aligned in the direction of magnetization in the (A1 direction) by the erase beam and the bias magnetic field.
このとき、アドレスn −1をトレースするR/Pビー
ム(52)によっては何も行なわれない。At this time, nothing is done by the R/P beam (52) tracing address n-1.
次に、消去ビーム(51)がアドレスn+1を検出する
と、バイアス磁界の向きが反転され(例えば(口1方向
)、R/P用半導体レーしαQの出力が高められ、そし
てこのR/ P出生導体し−ザαQが記録すべき情報に
より変調される。そこで、アドレスn+1のトラックは
(ロ)方向の磁化の向きにそろ見られ、アドレスnのト
ラックが(c7)方向のバイアス磁界で記録されること
になる。Next, when the erase beam (51) detects address n+1, the direction of the bias magnetic field is reversed (for example (toward 1), the output of the R/P semiconductor laser αQ is increased, and the output of the R/P semiconductor laser αQ is increased. The conductor αQ is modulated by the information to be recorded.Therefore, the track at address n+1 is aligned with the direction of magnetization in the (b) direction, and the track at address n is recorded with a bias magnetic field in the (c7) direction. That will happen.
消去ビームが次のアドレスn−1−2を検出すると再び
バイアス磁界が反転され、アドレスn+2のトラックは
k)方向に磁化がそろえられ、アドレスn+1のトラッ
クは6S方向のバイアス磁界のもとで記録される。そし
て以後同様の動作が繰)返される。When the erase beam detects the next address n-1-2, the bias magnetic field is reversed again, and the track at address n+2 is magnetized in the k) direction, and the track at address n+1 is recorded under the bias magnetic field in the 6S direction. be done. Thereafter, the same operation is repeated.
消去ビームがアドレスm+1を検出すると、バイアス磁
界は反転されるが、消去用半導体レーザ(111の出力
は低下せしめられてアドレスm+1のトラックは消去さ
れない。そしてアドレスmのトラックに情報が記録され
る。次に消去ビームがアドレスm+21検出するとR/
P相半導体し−ザααの出力が低下し、記録動作が終
了する。When the erase beam detects address m+1, the bias magnetic field is reversed, but the output of the erase semiconductor laser (111) is lowered so that the track at address m+1 is not erased. Information is then recorded in the track at address m. Next, when the erase beam detects address m+21, R/
The output of the P-phase semiconductor sensor αα decreases, and the recording operation ends.
以上の動作はスパイラル状に形成されたトラックtR/
Pビームによりトラッキング制御を行なって光学ヘッド
を周知の手段で移送することにより行なわれる。The above operation is performed on the spirally formed track tR/
This is accomplished by performing tracking control using a P beam and moving the optical head using known means.
再生時にはR/P用半導体レーザ(1G+のみが再生状
態の低出力で駆動される。そして偏光ビームスプリッタ
αDを通過したP偏光成分のレーザ光はディスク(1)
で反射されることによりディスク(1)の磁化の向きに
応じて、偏光面が回転され、S偏光成分を有する様にな
る。そして偏光ビームスプリッタσので反射されること
によシP偏光成分が相対的に誠少しく反射率が30%だ
から)、偏光面の回転角が大きくなったことと等しくな
る。During reproduction, only the R/P semiconductor laser (1G+) is driven at low output in the reproduction state.Then, the P-polarized laser beam that has passed through the polarization beam splitter αD is sent to the disk (1).
As a result, the plane of polarization is rotated according to the direction of magnetization of the disk (1), so that it has an S-polarized component. Since the P polarized light component is reflected by the polarizing beam splitter σ (because the reflectance is 30%), this is equivalent to an increase in the rotation angle of the polarization plane.
偏光ビームスプリッタ17)による反射光はHe長板■
で偏光面を所定角度回転せしめられ、ダイクロプグミラ
ーc!Dで全反射され、検光子の役目をする第2の偏光
ビームスプリッタαaに入射される。The light reflected by the polarizing beam splitter 17) is reflected by a long He plate■
The plane of polarization is rotated by a predetermined angle, and the diklopug mirror c! It is totally reflected at D and is incident on the second polarizing beam splitter αa which serves as an analyzer.
第2の偏光ビームスプリッタα稀ではP偏光成分とS偏
光成分に分離され、各受光センサ圏04に照射される。The second polarization beam splitter α separates the light into a P polarization component and an S polarization component, and irradiates each light receiving sensor area 04.
各受光センサ[有]Q4の出力の差を差動増幅器(ハ)
で導出すると光磁気ディスクの再生出力が端子(至)に
得られる。コンパクトディスクを再生する場合には、非
差動増幅器(ハ)を用いる。A differential amplifier (c) calculates the difference in the output of each light receiving sensor [with] Q4.
When derived from , the reproduction output of the magneto-optical disk is obtained at the terminal (to). When playing a compact disc, a non-differential amplifier (c) is used.
尚、アドレス検出は消去ビームを用いて行なわれるが、
第3受光センサのの出力変化が増幅器Q7)を介して制
御回路(図示省略)へ印加される。この制御回路は上記
の動作(バイアス磁界付与手段(53)の動作、各半導
体レーザの動作等)を制御する。Note that address detection is performed using an erase beam,
A change in the output of the third light receiving sensor is applied to a control circuit (not shown) via an amplifier Q7). This control circuit controls the above operations (operation of the bias magnetic field applying means (53), operation of each semiconductor laser, etc.).
光学ヘッド(5(lにおいて、半導体レーザαCとaυ
の入れ換よ(に波長板(lG、フィルタ手段tt51.
第2波長板[41の変更も含む)を行なっても、同様に
使用することができる。In the optical head (5(l), semiconductor lasers αC and aυ
Replace the wave plate (lG, filter means tt51.
Even if a second wave plate (including modification of 41) is used, it can be used in the same way.
又、上記従来例(特開昭57−117106号)では再
生時トラック毎に再生信号の極性を切換えているが1本
実施例の様に記録、再生される信号がOD(コンパクト
ディスク)の7−j−マットである場合は不要である。Furthermore, in the conventional example (Japanese Patent Application Laid-open No. 117106/1983), the polarity of the reproduction signal is switched for each track during reproduction, but in this embodiment, the signal recorded and reproduced is OD (Compact Disk) 7. -j- Not necessary if matte.
(ト) 発明の効果
以上述べた様に本発明によれば優れたS / Nでもっ
て光磁気記録媒体の記録を再生することができるととも
に記録/再生用レーザ光と消去用レーザ光を共通の光学
ヘッドにおいて実現することができるので、効果がある
。(g) Effects of the Invention As described above, according to the present invention, it is possible to reproduce recordings on a magneto-optical recording medium with excellent S/N, and it is possible to use a common laser beam for recording/reproducing and erasing laser beam. This is effective because it can be realized in an optical head.
第1図は実施例のブロック図、?32図は原理説明図、
第3図、第4図は光磁気ディスクを示す図。
第5図は動作説明図である。
αG・・・R/ P用半導体レーザ、nil・・・消去
用半導体。
レーザ、 (141・・・第2波長板、a!9・・・フ
ィルタ手段、 ue・・・%波長板、αD・・・偏光ビ
ームスプリブタ、αト・・検光子(第2偏光ビームスプ
リツタ)、CI!11・・・グイグロッグミラー、[有
]r24)・・・受光センサ。Figure 1 is a block diagram of the embodiment. Figure 32 is a diagram explaining the principle.
FIG. 3 and FIG. 4 are diagrams showing magneto-optical disks. FIG. 5 is an explanatory diagram of the operation. αG...Semiconductor laser for R/P, nil...Semiconductor for erasure. Laser, (141...second wavelength plate, a!9...filter means, ue...% wavelength plate, αD...polarized beam splitter, αto...analyzer (second polarized beam splitter) Ivy), CI!11...GuiGrog Mirror, R24)...Light receiving sensor.
Claims (1)
第1偏光成分に対してよりも他方の第2偏光成分に対し
てより小さく設定された偏光ビームスプリッタと、 この偏光ビームスプリッタを挾んで光磁気記録媒体と対
向する位置に設けられ、第1の波長を有し、主として前
記第1偏光成分を有する第1レーザ光源と、 第2の波長を有し主として前記第1偏光成分を有してい
て、前記偏光ビームスプリッタへの入射光が前記第1レ
ーザ光源側に反射される位置に設けられた第2レーザ光
源とを備えており、 前記偏光ビームスプリッタと、前記第1レーザ光源との
間には前記第2の波長に対する1/4波長板と、前記第
1の波長のレーザ光は透過せしめ前記第2の波長のレー
ザ光を反射するフィルタ手段と、第2の波長板とが、前
記偏光ビームスプリッタ側からこの順に配置され、 前記光磁気記録媒体からの反射光は前記偏光ビームスプ
リッタで反射されてから信号再生用の検光子、受光セン
サに印加されてなる光磁気記録再生装置。(1) A polarizing beam splitter in which the reflectance for the S-polarized light component and the P-polarized light component is set smaller for the other second polarized light component than for the first polarized light component, and this polarized beam splitter is sandwiched. a first laser light source, which is provided at a position facing the magneto-optical recording medium, has a first wavelength and mainly has the first polarization component; and a first laser light source has a second wavelength and mainly has the first polarization component; and a second laser light source provided at a position where light incident on the polarizing beam splitter is reflected toward the first laser light source, the polarizing beam splitter and the first laser light source A quarter wavelength plate for the second wavelength, a filter means for transmitting the laser light of the first wavelength and reflecting the laser light of the second wavelength, and a second wavelength plate are provided between the filter means. , are arranged in this order from the polarizing beam splitter side, and the reflected light from the magneto-optical recording medium is reflected by the polarizing beam splitter and then applied to an analyzer for signal reproduction and a light receiving sensor. .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61062449A JPS6212942A (en) | 1986-03-19 | 1986-03-19 | Photomagnetic recording and reproducing device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61062449A JPS6212942A (en) | 1986-03-19 | 1986-03-19 | Photomagnetic recording and reproducing device |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15194185A Division JPS6212956A (en) | 1985-07-10 | 1985-07-10 | Recording device for disc-shaped recording medium |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6212942A true JPS6212942A (en) | 1987-01-21 |
Family
ID=13200528
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61062449A Pending JPS6212942A (en) | 1986-03-19 | 1986-03-19 | Photomagnetic recording and reproducing device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6212942A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4965780A (en) * | 1987-08-12 | 1990-10-23 | Digital Equipment Corporation | Magneto-optical data recording device using a wavelength and polarization-sensitive splitter |
JPH06111329A (en) * | 1992-08-24 | 1994-04-22 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Laser electric power control system for optical device |
-
1986
- 1986-03-19 JP JP61062449A patent/JPS6212942A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4965780A (en) * | 1987-08-12 | 1990-10-23 | Digital Equipment Corporation | Magneto-optical data recording device using a wavelength and polarization-sensitive splitter |
JPH06111329A (en) * | 1992-08-24 | 1994-04-22 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Laser electric power control system for optical device |
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