JPS6184742A - Interface board - Google Patents

Interface board

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JPS6184742A
JPS6184742A JP59204171A JP20417184A JPS6184742A JP S6184742 A JPS6184742 A JP S6184742A JP 59204171 A JP59204171 A JP 59204171A JP 20417184 A JP20417184 A JP 20417184A JP S6184742 A JPS6184742 A JP S6184742A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
computer
test
input
output
interface board
Prior art date
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Pending
Application number
JP59204171A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshinori Uchida
内田 吉則
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP59204171A priority Critical patent/JPS6184742A/en
Publication of JPS6184742A publication Critical patent/JPS6184742A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To test an electronic computer easily and to detect an abnormality efficiently by installing, at the computer, an interface board which is provided with an input/output connecting plug, a light emission diode for a signal monitor, test switch, etc. CONSTITUTION:An interface board 8 is fitted to a computer 1, and abnormalities occur at the computer 1 which a testing device is built in, and a system which is composed of the sub-system connected through a computer input/output connecting plug 4 to the computer, and the, the sub-system is temporarily removed. An output signal of the compute is monitored by a light emission diode 9, and by operating a test switch 10 suitably, the test signal of the testing device is inputted to the computer 1. Thus, abnormalities of the computer 1 can be detected.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は複数のサブシステムに接続された電算機(計算
機)に異常が発生した場合、電算機とサブシステムを切
り離し、電算機の試験を容易に行なうインターフェイス
ポードに関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] When an abnormality occurs in a computer connected to multiple subsystems, the present invention separates the computer from the subsystem and tests the computer. Concerning easy interface ports.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、第5図に示すように電算機(1)と複数のサブシ
ステム(2)から構成され、電算機(1)と複数のサブ
システム(2)が電算機入出力接栓(4)とサブシステ
ム入出力接栓(5) Kよって接U−Jれでいるシステ
ムにおいて、異常が発生した場合、電算機(1)とサブ
システム(2)のどちらに異常があるか判断できないと
@は、接栓(4)、 (5)を外し、ケーブル(7)を
介して試験装置(3)に接続された試験装置入出力接栓
(6)を電算機入出力接栓(4)またはサブシステム入
出力接栓(5)に接続し、試験を行なうようにしていた
Conventionally, as shown in Fig. 5, the computer was composed of a computer (1) and multiple subsystems (2), and the computer (1) and multiple subsystems (2) were connected to the computer input/output connector (4). Subsystem input/output connector (5) Therefore, if an error occurs in a system that connects U and J, it is impossible to determine whether the error is in the computer (1) or the subsystem (2). , remove the connectors (4) and (5), and connect the test equipment input/output connector (6) connected to the test equipment (3) via the cable (7) to the computer input/output connector (4) or the sub It was connected to the system input/output connector (5) and tested.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

かかる試験は、試験装置(3)の運搬、多数の接栓の取
り外し、多数の接栓の接続など試験の準備が繁雑である
という問題があった。また、試験装置(3)のケーブル
(7)ハ多心ケーブルである場合が多く、このような多
心ケーブルをフロアに多数這わせることは、試験作業上
危険であり、試@作業の能率を著しく低下させてしまう
という問題があった。
Such a test had a problem in that preparations for the test were complicated, such as transporting the test device (3), removing a large number of plugs, and connecting a large number of plugs. In addition, the cable (7) of the test equipment (3) is often a multi-core cable, and it is dangerous to run a large number of such multi-core cables on the floor, and it reduces the efficiency of the test work. There was a problem in that the performance was significantly lowered.

本発明は上記問題点を解決するためになされたもので、
電算機と多数のザブシステムから構成されるシステムに
異常が発生した場合、電算機とサブシステムを切υ離し
、電算機の試験を安易に行ない得るインターフェイスボ
ードを提供することを目的とする。
The present invention has been made to solve the above problems,
The purpose of the present invention is to provide an interface board that can easily test the computer by disconnecting the computer and subsystems when an abnormality occurs in a system consisting of a computer and many subsystems.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

そこで本発明では、電算機に試、検装置を内蔵するとと
もに、電算機と複数のサブシステムを接続する成算機人
山力接栓、を算機の出力信号をモニタするモニタ手段お
よび電算機に試験装置のテスト信号を入力する入力手段
とを具えたインターフェイスボードを電算機に取り付け
ろ。
Therefore, in the present invention, a test and inspection device is built into the computer, and a power plug for connecting the computer and a plurality of subsystems is used as a monitor means for monitoring the output signal of the computer and as a monitor means for monitoring the output signal of the computer. Attach an interface board to the computer, which is equipped with input means for inputting test signals from the test equipment.

〔作 用〕[For production]

上記構成のインターフェイスボードが取り付けられた電
算機と複数のサブシステムから構成されたシステムに異
常が発生した場合、電算機入出力接栓に接続されたサブ
システムを外し、モニタ手段によって電算機の出力信号
をモニタするとともに、入力手段を介して電算機に試験
装置のテスト信号を入力し、電算機の異常を検出する。
If an abnormality occurs in a system consisting of a computer to which an interface board with the above configuration is installed and multiple subsystems, disconnect the subsystem connected to the computer input/output connector, and use a monitor to monitor the computer's output. While monitoring the signal, a test signal from the testing device is input to the computer via the input means to detect an abnormality in the computer.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の一実施例を添付図面を参照して詳細VC
説明する。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
explain.

第1図は本発明に係るインターフェイスボードの概略図
である。第1図において、電g機(1)内には試験装置
(図示せず)が内イされている。また、電算機(1)の
筐体背酊:Cげ、r江3′γrii人出力接栓(1)、
電算機(1)の出力信号をモニタするモニタ手段として
の複数の発光ダイオード(9)および電算機(1)K試
験装置のテスト信号を入力する入力手段としての複数の
テストスイッチ(10を具えたインターフェイスボード
(8)が取り付けられている。
FIG. 1 is a schematic diagram of an interface board according to the present invention. In FIG. 1, a test device (not shown) is housed in an electric machine (1). In addition, the computer (1) case back:
A plurality of light emitting diodes (9) as monitor means for monitoring the output signal of the computer (1) and a plurality of test switches (10) as input means for inputting test signals of the computer (1) K test device. An interface board (8) is attached.

次に、第2図は第1図に示したインター7エイスホート
(8)の部分拡大図である。このインターフェイスボー
ド(8)げ予め電算機の出力信号と該出力信号とによっ
て点灯すべき発光ダイオード(9)との対応関係が定め
られてち・す、電算機(1)の出力信号の状態をモニタ
できるようKなっている。また、予めテストスイッチ叫
、試験装置のテスト信号および電算機(1)との対応関
係が定められており、テストスイッチαQのオンオフに
より電算機(1)に所望のテスト信号と加えらγしるよ
うVCなっている。
Next, FIG. 2 is a partially enlarged view of the Inter 7 Eighth Horde (8) shown in FIG. 1. This interface board (8) determines in advance the correspondence between the output signal of the computer and the light emitting diode (9) to be lit based on the output signal. It is set to K so that it can be monitored. In addition, the correspondence relationship between the test switch output, the test signal of the test device, and the computer (1) is determined in advance, and the desired test signal is applied to the computer (1) by turning on and off the test switch αQ. It has become a VC.

次に、第6図は第1図および第2図に示した犠光ダイオ
ード(9)の駆動回路図である。電算機(1)は出力回
路としてのトランジスタαυがインター7エイスボード
(8)の接続端子(J 32)およびリレー回路(K 
H)を介して電算機入出力接栓(4)の出力側に接続さ
れている。電算機(1)から出力信号が出力されると、
トランジスタ(Lηがオンとなり、リレー回路(KH)
のコイル(C1が励磁され、接点(C1)および(C2
)が閉じる。接点(C1)が閉じることにより発光ダイ
オード” (9)が点灯し、接点(C2)が閉じること
によりt算機入出力接栓(4)に接続されているサブシ
ステム(2)の出力信号の出力が知らされる。発光ダイ
オード(9) ?″ttサブシステム)の接続状態にか
かわらず出力信号の出力により点灯するので、’tj 
D F2とサブシステムから構成されるシステムVr−
異常が発生した場合、電算機からサブレ□ ステムを取
り外し、電算機の出力信号をモニタできる。
Next, FIG. 6 is a driving circuit diagram of the sacrificial photodiode (9) shown in FIGS. 1 and 2. The computer (1) has a transistor αυ as an output circuit connected to the connecting terminal (J32) of the Inter 7/8 board (8) and the relay circuit (K
H) to the output side of the computer input/output connector (4). When the output signal is output from the computer (1),
Transistor (Lη turns on, relay circuit (KH)
The coil (C1) is energized, and the contacts (C1) and (C2
) closes. When the contact (C1) closes, the light emitting diode (9) lights up, and when the contact (C2) closes, the output signal of the subsystem (2) connected to the computer input/output connector (4) is turned on. The output is notified. Regardless of the connection status of the light emitting diode (9)?"tt subsystem), it lights up due to the output of the output signal, so 'tj
D System Vr- consisting of F2 and subsystems
If an abnormality occurs, the sub-system can be removed from the computer and the output signal of the computer can be monitored.

次に、第4図は第1図および第2図に示したナストヌイ
ノグー叫の接続図である。電算機(1)は入力回路とし
てのフォトカプラへカがインターフェイスボード(8)
の接続端子(J 48)を介して電算機入出力接栓(4
)の入力側に接続されてお9、さらに入出力接栓(4ン
にサブシステム人出力接栓(図示せず)を介してサブシ
ステム(2)の出力回路(6)が接続されている。また
、接続端子(J48)FCiテストスイッチαQが並列
に接続されている。電算機(IJ K”6出力回路(2
)が閉じられることi・こよってサブシステム(2)の
信号が入力されるようになでおり、異常時にはサブシス
テム(2)を電算機入出力接栓から取り外し、テストス
イッチ叫を閉じることにより、試験装置のテスト信号が
入力されるようになっている。
Next, FIG. 4 is a connection diagram of the Nastnuinogoo scream shown in FIGS. 1 and 2. The computer (1) has an interface board (8) to the photocoupler as an input circuit.
Connect the computer input/output plug (4) through the connection terminal (J48) of
) is connected to the input side of the subsystem (2), and the output circuit (6) of the subsystem (2) is further connected to the input/output connector (4) via a subsystem human output connector (not shown). In addition, connection terminal (J48) FCi test switch αQ is connected in parallel. Computer (IJ K"6 output circuit (2
) is closed so that the signal from subsystem (2) is input, and in the event of an abnormality, the subsystem (2) is removed from the computer input/output connector and the test switch is closed. , the test signal of the test equipment is input.

次に、本発明に係るインター7エイ゛スボードの全体の
動作について説明する。本発明によるインターフェイス
ボード(8)が取り付けられ、試験装置が内蔵された電
算機(1)と電算機入出力接栓(4)を介して該電算機
に接続されたサブシステムから構成されるシステムに異
常が発生した場合、電算機入出力接栓(4)に接続され
たサブシステムを取り外し、発光ダイオード(9)によ
って電算機(1)の出力信号をモニタするとともに、テ
ストスイッチαQの適宜の操作によって試験装置のテス
ト信号を電算機(1)VC入力することにより、電算機
(1)の異常を検出する。
Next, the overall operation of the interface board according to the present invention will be explained. A system consisting of a computer (1) to which an interface board (8) according to the present invention is attached and a built-in test device, and a subsystem connected to the computer via a computer input/output connector (4). If an abnormality occurs, remove the subsystem connected to the computer input/output connector (4), monitor the output signal of the computer (1) using the light emitting diode (9), and turn the test switch αQ as appropriate. An abnormality in the computer (1) is detected by inputting the test signal of the test device to the computer (1) VC by operation.

なお、電算機(1)の出力信号をモータするモニタ手段
は本実施例の発光ダイオード(9) VC限定されるこ
とlぐ、出力信号の状態をモニタできるものであればよ
い。
Note that the monitoring means for motoring the output signal of the computer (1) is not limited to the light emitting diode (9) VC of this embodiment, but may be any device that can monitor the state of the output signal.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明によれば、電算機に試験装置
を内蔵するとともに、電算機と複数のサブシステムを接
続する電算機入出力接栓、電算機の出力信号をモニタす
るモニタ手段および電算機に試験装置のテスト信号を入
力する入力手段を具えたインター7エイスボードfTH
,算機に取)付けることにより、電算機とサブシステム
の切り離しを容易に行ない、試験装置のケーブルをフロ
アに這わせることなく電算機の出力信号をモニタでさ。
As explained above, according to the present invention, a test device is built into a computer, a computer input/output connector connects the computer to a plurality of subsystems, a monitor means for monitoring output signals of the computer, and a computer Inter 7 Eighth Board fTH equipped with an input means for inputting test signals of the test equipment to the machine
By attaching it to a computer, you can easily separate the computer from the subsystem and monitor the computer output signal without having to run test equipment cables across the floor.

かつ電算機に試験装置のテスト信号を入力できるので、
電算機の異常′f:能力良く検出でさる。
In addition, the test signal of the test equipment can be input into the computer, so
Computer abnormalities'f: Detectable with good ability.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係るインターフェイスポードの概略図
、第2図は第1図に示したインターフェイスボードの部
分拡大図、第6図に第1図および第2図に示した発光ダ
イオードのらス動回路図、縞4図は第1図および第2図
に示したテヌトスインテの接続図、第5図は電子計算・
泉とサブシステムから構成される従来のシステムの概略
図である。 1・・・電算機、2・・・サブシステム、6・・・試験
装置、4・・・電算機入出力接栓、5・・・サブンステ
ム人出力接栓、6・・・試験装置入出力接栓、7・・・
ケーブル、8・・・インター7エイスポード、9・・・
電算機の出力信号をモニタするモニタ手段としての発光
ダイオード、10−・電算機に試験装置のテスト信号を
入力する入力手段としてのテストスインテ。 なお、図中同一符号は各々同−又は相当部品を示す。
FIG. 1 is a schematic diagram of an interface board according to the present invention, FIG. 2 is a partially enlarged view of the interface board shown in FIG. 1, and FIG. 6 is a diagram of the light emitting diode shown in FIGS. The dynamic circuit diagram and stripe diagram 4 are the connection diagrams of the tenuto inte shown in Figures 1 and 2, and Figure 5 is the electronic calculation
1 is a schematic diagram of a conventional system consisting of a fountain and subsystems. 1...Computer, 2...Subsystem, 6...Test equipment, 4...Computer input/output connector, 5...Subunstem human output connector, 6...Test equipment input/output Plug, 7...
Cable, 8... Inter 7 Acepod, 9...
A light emitting diode as a monitor means for monitoring an output signal of a computer, 10--A test integer as an input means for inputting a test signal from a test device to a computer. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or equivalent parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 試験装置を内蔵した電算機に取り付けられ、電算機と複
数のサブシステムを接続する電算機入出力接栓と、電算
機の出力信号をモニタするモニタ手段と、電算機に試験
装置のテスト信号を入力する入力手段とを具えたことを
特徴とするインターフエイスボード。
A computer input/output connector that is attached to a computer with a built-in test device and connects the computer to multiple subsystems, a monitor means that monitors the output signal of the computer, and a computer that transmits the test signal of the test device to the computer. An interface board characterized by comprising an input means for inputting information.
JP59204171A 1984-10-01 1984-10-01 Interface board Pending JPS6184742A (en)

Priority Applications (1)

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JP59204171A JPS6184742A (en) 1984-10-01 1984-10-01 Interface board

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JPS6184742A true JPS6184742A (en) 1986-04-30

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ID=16486008

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