JPS6167149A - Test program selecting system of peripheral device - Google Patents
Test program selecting system of peripheral deviceInfo
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- JPS6167149A JPS6167149A JP59189121A JP18912184A JPS6167149A JP S6167149 A JPS6167149 A JP S6167149A JP 59189121 A JP59189121 A JP 59189121A JP 18912184 A JP18912184 A JP 18912184A JP S6167149 A JPS6167149 A JP S6167149A
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- peripheral
- peripheral device
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔匝業上の利用分野〕
本発明は、各種周辺装置、チャンネル制御装置、゛主記
憶装置および中央処理装置で構成されるデータ処理シス
テムに係り、特に周辺装置に対応した試験プログラムの
選択方式:二関する。[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a data processing system composed of various peripheral devices, a channel control device, a main storage device, and a central processing unit, and is particularly applicable to peripheral devices. Test program selection method: Two related.
従来、この種のデータ処理システム);おいては、周辺
装置試験プログラムを各種周辺装置1;対応してそれぞ
れ作成することが一般的であり、このため、周辺装置を
試験する場合その装置を対象とする試験プログラムの名
称を直接操作者が指示していた。Conventionally, in this type of data processing system, it is common to create peripheral device test programs for each type of peripheral device, and for this reason, when testing a peripheral device, it is common to The operator directly instructed the name of the test program to be used.
しかしながら、この方式では、操作者が希望する周辺装
置:二対する試験プログラムを予め承知しておかなけれ
ばならず、人手作業による操作性の低効率、さらC;は
試験プログラム名の誤認などによる操作ミス等を招きや
すい等の欠点があった。However, with this method, the operator must know in advance the test program for the desired peripheral device, resulting in low efficiency in manual operation, and C; It has drawbacks such as being prone to mistakes.
本発明の目的は、人手作業による前述の欠点を解消して
、操作者が希望する周辺装置(:対する試験プログラム
を自動的かつ迅速に選択する、周辺装置試験プログラム
選択方式を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a peripheral device test program selection method that eliminates the above-mentioned drawbacks of manual labor and automatically and quickly selects a test program for a peripheral device desired by an operator. .
本発明の周辺装置試験プログラム選択方式は、前記主記
憶装置に格納され、前記各周辺装置と装置種別の対応を
示す第1のテーブルおよび前記装置種別と前記試験プロ
グラムの対応を示す第2のテーブルと、操作者から与え
られた周辺装置名あるいはチャンネル番号から前記第1
のテーブルおよび前記第2のテーブルをサーチして当該
周辺装置:;対応した周辺装置試験プログラムを選択す
る手段とからなる。The peripheral device test program selection method of the present invention includes a first table that is stored in the main storage device and shows the correspondence between each of the peripheral devices and the device type, and a second table that shows the correspondence between the device type and the test program. and the first one from the peripheral device name or channel number given by the operator.
and means for searching the second table and selecting a peripheral device test program corresponding to the peripheral device concerned.
本発明の実施例について図面を参照しながら説明する。 Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明の周辺装置試験プログラム選択方式を適
用したデータ処理システムの一実施例を示す構成図であ
る。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a data processing system to which the peripheral device test program selection method of the present invention is applied.
複数の周辺装置11..11.、・・・、11!Iおよ
び対応する周辺制御装置10..10.、・・・、10
nがチャンネル制御装置3を介して中央処理装置1と主
記憶装置2に接続されている。Multiple peripheral devices 11. .. 11. ,..., 11! I and corresponding peripheral control device 10. .. 10. ,...,10
n is connected to the central processing unit 1 and the main storage device 2 via the channel control device 3.
主記憶装置2には装置種別に、 、 K、 、・・・、
に、毎の試験プログラムP11 P2 r・・・、pt
、表12表2(=それぞれ示すような周辺装fFi11
1+11t+・・・、ii、と対応する装置種別に、
、 K、 、・・・、 K−の表(これをシステム資源
テーブルと呼ぶ)と、装置種別Kl。The main storage device 2 has device types: , K, ,...
, each test program P11 P2 r..., pt
, Table 12 Table 2 (=peripheral equipment fFi11 as shown respectively)
1+11t+..., ii, and the corresponding device type,
, K, , ..., K- table (this is called a system resource table) and the device type Kl.
K1.・・・、に、と対応する試験プログラム名p、、
p、。K1. . . . and the corresponding test program name p, .
p.
・・・、 Ptの表(これを試験プログラムテーブルと
呼ぶ)が予め格納されている。..., Pt table (this is called a test program table) is stored in advance.
表1 表2
さらに、主記憶装置2には、操作者から与えられた周辺
装置名ふら対応する試験プログラム名を表1、表2を検
索して求める試験プログラム検索プログラムが格納され
ており、操作者から周辺装置名が与えられると、この試
験プログラム検索プログラムが実行される。Table 1 Table 2 Furthermore, the main storage device 2 stores a test program search program that searches Tables 1 and 2 for the test program name corresponding to the peripheral device name given by the operator. When the peripheral device name is given by the person, this test program search program is executed.
次に、s1図のデータ処理システムにおける周辺装置試
験プログラム選択動作を第2図の試験プログラム検索プ
ログラムのフローチャートに基づいて説明する。Next, the peripheral device test program selection operation in the data processing system shown in FIG. s1 will be explained based on the flowchart of the test program search program shown in FIG.
操作者より与えられた周辺装置名を得る(処理101)
。この周辺装置名を表−1の周辺装置名と上から順に比
較しく処理102)、一致しているかどうかチェックす
る(処理103)。これらの処理102.103は周辺
装置名が一致するエントリーが見つかるまで繰返される
。周辺装置名が一致するエントリーが見つかると、この
エントリーから対応する装置種別を取出す(処理104
)。Obtain the peripheral device name given by the operator (process 101)
. This peripheral device name is compared with the peripheral device names in Table 1 from top to bottom (process 102), and it is checked whether they match (process 103). These processes 102 and 103 are repeated until an entry with a matching peripheral device name is found. When an entry with a matching peripheral device name is found, the corresponding device type is extracted from this entry (processing 104).
).
この装置種別を表−2の装置細別と上から順に比較しく
処理105)、一致しているかどうかチェックする(処
理106)。これらの処理105゜106は装置種別が
一致するエントリーが見つかるまで繰返される。装置種
別が一致するエントリーが見つかると、このエントリー
から対応する試験プログラム名を取出す(処理107)
。最後に。This device type is compared with the device details in Table 2 from top to bottom (process 105), and it is checked whether they match (process 106). These processes 105 and 106 are repeated until an entry with a matching device type is found. When an entry matching the device type is found, the corresponding test program name is extracted from this entry (process 107).
. lastly.
この試験プコグラム名の試験プログラムを起動する(処
理108)。The test program with this test program name is started (process 108).
このようにして、選択された試験プログラム(−起動が
かけられると中央処理装置1からチャンネル制御装置6
を経て、操作者が選んだ周辺装置の試験が行なわれる。In this way, when the selected test program (-) is activated, the central processing unit
After that, the peripheral device selected by the operator is tested.
本実施例は、操作者から指示されるものが装置名であっ
たが、チャンネル番号の場合でも表−1(=おいて装置
名のかわりにtヤ/ネル番号を登録しておけば、全く同
様に試験プログラムを選択することができる。In this embodiment, the device name was specified by the operator, but even in the case of the channel number, if you register the channel/channel number instead of the device name in Table 1 (=), you can Test programs can be selected as well.
本発明は1以上説明したように、枠台主記憶装置に格納
され、壽材各周辺装置と装置種別の対応を示す第1のテ
ーブルおよび前記装置種別と##試躾プログラムの対応
を示す第2のテーブルと、操作者から与えられた周辺装
置名あるいはチャンネル番号から前記第1のテーブルお
よび前記第2のテーブルをサーチして当該周辺装置に対
応した周辺装置試験プログラムを選択する手段とを備え
ているので、所望の周辺装置試験プログラムを自動的、
かつ迅速(=選択でき、したがって試験プログラムを迅
速に起動することができる。As described above, the present invention includes a first table that is stored in the frame main memory and shows the correspondence between each peripheral device and the device type, and a second table that shows the correspondence between the device type and the ##trial training program. table, and means for searching the first table and the second table based on the peripheral device name or channel number given by the operator to select a peripheral device test program corresponding to the peripheral device. so the desired peripheral device test program can be automatically run,
and quickly (=can be selected, therefore the test program can be started quickly).
第1図は本発明の周辺装置試験プログラム選択方式が適
用されたデータ処理システムの一実施例を示す構成図、
第2図は第1図の中央処理装置1で実行される、試験プ
ログラム検索・起動の手順を示すフローチャードである
。
1・・・中央処理装置、
2・・・主記憶装置、
6・・・チャンネル制御装置、
10、 、10. 、・・・、10tl・・・周辺制御
装置、11+、11t、・・・、11.・・・周辺装置
、101〜108・・・中央処理装置1で実行される試
験プログラム検索起動の手順の動作
ステップ。
第1図FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of a data processing system to which the peripheral device test program selection method of the present invention is applied;
FIG. 2 is a flowchart showing the procedure for searching and starting a test program, which is executed by the central processing unit 1 shown in FIG. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...Central processing unit, 2...Main storage device, 6...Channel control device, 10, ,10. ,..., 10tl...peripheral control device, 11+, 11t,..., 11. . . . Peripheral devices, 101 to 108 . . . Operation steps of the test program search and startup procedure executed by the central processing unit 1. Figure 1
Claims (1)
中央処理装置で構成され、前記中央処理装置から前記各
周辺装置に対して実行される周辺装置試験プログラムを
前記主記憶装置に格納したデータ処理システムにおいて
、前記主記憶装置に格納され、前記各周辺装置と装置種
別の対応を示す第1のテーブルおよび前記装置種別と前
記試験プログラムの対応を示す第2のテーブルと、操作
者から与えられた周辺装置名あるいはチャンネル番号か
ら前記第1のテーブルおよび前記第2のテーブルをサー
チして当該周辺装置に対応した周辺装置試験プログラム
を選択する手段とからなることを特徴とする周辺装置試
験プログラム選択方式。In a data processing system comprising various peripheral devices, a channel control device, a main storage device, and a central processing unit, the main storage device stores a peripheral device test program that is executed from the central processing device to each of the peripheral devices. , a first table that is stored in the main memory and shows the correspondence between each of the peripheral devices and the device type; a second table that shows the correspondence between the device type and the test program; and a peripheral device given by the operator. 1. A peripheral device test program selection method comprising: means for searching said first table and said second table based on a name or a channel number to select a peripheral device test program corresponding to said peripheral device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59189121A JPS6167149A (en) | 1984-09-10 | 1984-09-10 | Test program selecting system of peripheral device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59189121A JPS6167149A (en) | 1984-09-10 | 1984-09-10 | Test program selecting system of peripheral device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6167149A true JPS6167149A (en) | 1986-04-07 |
Family
ID=16235737
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59189121A Pending JPS6167149A (en) | 1984-09-10 | 1984-09-10 | Test program selecting system of peripheral device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6167149A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20200123083A (en) * | 2018-02-21 | 2020-10-28 | 액츄에이터 오와이 | Digital lock |
-
1984
- 1984-09-10 JP JP59189121A patent/JPS6167149A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20200123083A (en) * | 2018-02-21 | 2020-10-28 | 액츄에이터 오와이 | Digital lock |
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