JPS6153601A - Dustproof cover body for photomask reticule having high performance - Google Patents

Dustproof cover body for photomask reticule having high performance

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Publication number
JPS6153601A
JPS6153601A JP59174985A JP17498584A JPS6153601A JP S6153601 A JPS6153601 A JP S6153601A JP 59174985 A JP59174985 A JP 59174985A JP 17498584 A JP17498584 A JP 17498584A JP S6153601 A JPS6153601 A JP S6153601A
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JP
Japan
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film
membrane
cover body
dustproof cover
strength
Prior art date
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Application number
JP59174985A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasunori Fukumitsu
福光 保典
Mitsuo Kono
河野 満男
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Asahi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Chemical Industry Co Ltd filed Critical Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Publication of JPS6153601A publication Critical patent/JPS6153601A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/62Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof
    • G02B1/105
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B1/00Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
    • G02B1/10Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
    • G02B1/14Protective coatings, e.g. hard coatings

Abstract

PURPOSE:To provide high film strength and good uniformity of a film and to provide high performance of >=98% ray transmittance to a dustproof cover body by forming the multi-layered films constituting the main part of said body in a manner as to have the thickness of the core part film as large as 6-15mum and disposing antireflecting layers on both sides. CONSTITUTION:The antireflecting films 3 are formed by a casting method in dissolving various polymers in a solvent on both sides of the film 2 in the core part consistint of a polymer such as polyethylene terephthalate and having 6- 15mum thickness. The multi-layered films 1 which allow the passage of the certain predetermined light to be prevented of reflection at >=98% can be obtd. by forming the films having >=500g film strength in a method for testing the film strength to ascertain the load (g) at which the test film of 100mm. diameter fixed at the circumference ruptures when a semisphere of 8mm. radius is plunged at 10mm./min speed perpendicularly to the film as the film strength in the above- mentioned manner.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、フォトマスク−レチクル用防塵カバー体にあ
って、その要部をなす膜が両面に反射防止層を有する多
層膜であシ、該多層膜の芯部をなす腰の厚みが6〜15
μm と比較的厚く強度が強いとともに、露光に用いら
れる特定の波長の光を98チ以上透過させることが出来
る防塵カバー体に関する。
Detailed Description of the Invention (Industrial Field of Application) The present invention relates to a dustproof cover for a photomask-reticle, in which the main part of the cover is a multilayer film having antireflection layers on both sides. The thickness of the core of the multilayer film is 6 to 15.
The present invention relates to a dust-proof cover body that is relatively thick (μm) and has strong strength, and is capable of transmitting light of a specific wavelength of 98 inches or more used for exposure.

(従来の技術) 近年の半導体集積回路の高集積化により、そつ回路の画
線中も1〜3μm と極めて微11口となっておシ、こ
の画像をウェハ上に形成するリソグラフィー技術も、プ
ロジェクション方式からステッパ一方式へと移行しつつ
ある。
(Prior art) As semiconductor integrated circuits have become more highly integrated in recent years, the image lines of the circuits have become extremely small, measuring 1 to 3 μm. There is a transition from a single-type stepper type to a single-stepper type.

このリソグラフィ一工程において、フォトマスク・レチ
クル上にゴミが存在するとゴミも同時に結像されるため
、回路の短絡・欠損となシLSIの収率を低下させる。
In this lithography step, if dust is present on the photomask/reticle, the dust is also imaged at the same time, resulting in short circuits and defects in the circuit, reducing the yield of LSI.

特にステツノソーの場合には、レクチル上の数個の画像
をウェハ上に順次縮小投影させる為、レチクル上の1つ
のゴミが全てのI、SIを不良とすることもあシ、ゴミ
をゼロとすることか極めて重要となってきている。
Particularly in the case of a step saw, several images on the reticle are sequentially reduced and projected onto the wafer, so one piece of dust on the reticle may cause all I and SI to be defective, so the dust is set to zero. This is becoming extremely important.

そこでフォトマスク・レチクル(以下、マスクと略すこ
とあシ)の片面又は両面に透明な膜をある空間をとって
配置させることによシ、マスク上へのサミの付着を防止
する方法が提案されている(特公昭54−28716号
公報)。この方法によれば、ゴミはこの透明な膜上にし
か付着せず、投影の際にマスク上の画像にピントを合わ
せることにより、ゴミはアウト・オブ・フォーカスとな
シウエハ上に結像されずゴミによる不良を防止すること
が出来る。このゴミ除けのカバー体を、ここでは防塵カ
バー体と呼称する。
Therefore, a method has been proposed in which a transparent film is placed on one or both sides of a photomask reticle (hereinafter simply referred to as "mask") with a certain amount of space between them to prevent shavings from adhering to the mask. (Japanese Patent Publication No. 54-28716). According to this method, dust adheres only to this transparent film, and by focusing the image on the mask during projection, dust is not imaged out of focus on the wafer. It is possible to prevent defects caused by dust. This dust-proof cover body is referred to as a dust-proof cover body here.

防塵カバー体はマスクに貼られ、露光機に装着される。The dustproof cover body is attached to the mask and attached to the exposure machine.

防塵カバー体の要部をなす膜は、露光光路中に配置され
る。
A film forming a main part of the dustproof cover body is arranged in the exposure optical path.

その為、膜は画像を歪み、乱れなく透過させる必要があ
り、膜の厚みの均一性、ゴミ・中ズの無いこと、内部歪
みが無いことが要求される。
Therefore, the film needs to transmit the image without distortion or disturbance, and the film is required to have a uniform thickness, be free of dust and particles, and be free of internal distortion.

又、膜の露光光線透過性も重要である。即ち1光の透過
性が低ければ、その分館光時間を長くする必要があシ、
スループットが悪化する。LSI製造は極めて多量生産
を行々うことが多い為、スループットの向上は重要であ
る。特に、ステツノソーの場合には、1ウニへ当シ数百
回もの露光を行なうことがある為、光の透過性の向上は
スループット向上に大きく寄与する。
Furthermore, the exposure light transmittance of the film is also important. In other words, if the transmittance of one light is low, it is necessary to lengthen the light time for that branch.
Throughput deteriorates. Since LSI manufacturing often involves extremely high volume production, improving throughput is important. In particular, in the case of a stucco saw, one sea urchin may be exposed several hundred times per day, so improving light transmittance greatly contributes to improving throughput.

一方、防塵カバー体は、ゴミをアウト・オブ・フォーカ
スにするとはいえ、50〜100μm以上の大きなゴミ
は投影されてしまうので、使用前、又は、使用中、ある
いは保管中にこの様なゴミが付着した場合には、エアー
ブロー、水洗等によりかかるゴミを除去する必要がある
。この除去作業に際して、膜が充分なる強度がないと破
れてしまうので、膜強度も重要なポイントとなる。特に
、一定回数使用した防塵カバー体の膜にあっては、露光
光線が紫外線であるが為、劣化しておシ・より破れ易く
なる。膜強度の設定には、この点をも考  1)。
On the other hand, although the dustproof cover body takes dust out of focus, large dust of 50 to 100 μm or more will be projected onto it, so it is necessary to prevent such dust from entering before, during use, or during storage. If it adheres, it is necessary to remove it by air blowing, washing with water, etc. During this removal work, the strength of the membrane is also an important point because if the membrane is not strong enough, it will break. In particular, the film of the dust-proof cover body that has been used a certain number of times deteriorates and becomes more easily torn because the exposure light is ultraviolet rays. Consider this point when setting the membrane strength 1).

慮する必要がある。need to be considered.

かかる防塵カバー体に関する従来の牧術は下己己のもの
がある。
Conventional techniques regarding such a dustproof cover body are of a lower level.

1つは、特公昭54−28716号公報に示される膜厚
み0.2〜6μmの透明薄庖を用いたものがある。
One type is disclosed in Japanese Patent Publication No. 54-28716, which uses a transparent thin film having a film thickness of 0.2 to 6 μm.

膜厚み6μmの限定は、防塵カッ々−を装着したことに
よる画像位置のシフト量が無視されうる厚みからであシ
、膜の均一性・光線透過性争膜強度についての記載はな
い。
The film thickness is limited to 6 μm because the shift amount of the image position due to the installation of the dustproof cover is negligible, and there is no description of the uniformity of the film or the strength of the film for light transmission.

他の1つは、特開昭58−196501号公報に示−1
する膜厚み0.5〜10 pm  のニトロセルロース
あるいは熱可塑性ポリマーからなる防塵カバー体に関す
るものがある。膜厚み0.5〜10μm の限定理由は
自己支持するに十分な強度を有するということで、エア
ーブロー等取扱い上の必要膜強度からの限定ではない。
The other one is shown in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 196501/1988-1
There is a dustproof cover made of nitrocellulose or thermoplastic polymer having a film thickness of 0.5 to 10 pm. The reason for limiting the film thickness to 0.5 to 10 μm is that it has sufficient strength to support itself, and is not limited by the film strength required for handling such as air blowing.

又、膜厚みの均一性としては、約2チ以下、好しくは1
チ以下であることが記載されている。一方、光線透過率
については、84〜99チの任意の値とすることが出来
るとしている。これは、該層の表裏面での反射光の干渉
現象を利用し、表と裏面の反射波が相殺される波長にお
いて99裂の光線透過率となるものである。しかし、実
際には、膜厚みが厚くなると、この最大光線透過率は低
下し、99%まで上昇しない。又、膜厚みの増大に伴な
い、この干渉現象に起因する干渉波はシャープとなる為
、ある特定の波長の光を99%あるいは98%以上透過
出来る様な厚みの膜を作ることは極めて困難である。 
 ′又、ニトロセルロースの18μmの朕に、反射防止
処理を行なった防塵カバー体も市販されている。
Also, the uniformity of the film thickness is about 2 inches or less, preferably 1 inch or less.
It is stated that it is less than or equal to H. On the other hand, the light transmittance can be set to any value from 84 to 99 inches. This utilizes the interference phenomenon of reflected light on the front and back surfaces of the layer, and provides a light transmittance of 99 times at wavelengths at which the reflected waves on the front and back surfaces cancel each other out. However, in reality, as the film thickness increases, this maximum light transmittance decreases and does not increase to 99%. Additionally, as the film thickness increases, the interference waves caused by this interference phenomenon become sharper, so it is extremely difficult to create a film thick enough to transmit more than 99% or 98% of light of a certain wavelength. It is.
'Also, a dustproof cover body made of nitrocellulose with a thickness of 18 μm and subjected to antireflection treatment is also commercially available.

このものは、膜の均一性、光線透過率については充分な
るものであるが、膜厚みが18μmと比較的薄い為、取
扱い上、特にゴミ除去のためのエアーブロー、水洗時等
に際し、膜強度が低いことが欠点となっている。
Although this product has sufficient film uniformity and light transmittance, the film thickness is relatively thin at 18 μm, so it is difficult to handle the film, especially during air blowing to remove dust, washing with water, etc. The disadvantage is that it is low.

(発明が解決しようとする問題点) 以上述べた通シ、従来技術による防塵力・々一体は1そ
の必要特性でおる膜の均一性、光D透過性。
(Problems to be Solved by the Invention) As stated above, the dustproof ability of the prior art is integral to one of its necessary characteristics: uniformity of the film and light D transmittance.

膜強度の3つを兼ね備えたものが得られなかった。It was not possible to obtain a membrane that had all three properties.

(問題点を解決するための手段) 本発明者らは、これら必要特性を全て満足すべき防塵カ
バー体を作るべく鋭意研究の結果、本発明を完成させた
ものでちる。
(Means for Solving the Problems) The present inventors have completed the present invention as a result of intensive research to create a dustproof cover body that satisfies all of these necessary characteristics.

即ち、本発明は、防塵カバー体の要部をなす膜が、両面
に反射防止層を有する多層膜であって、ある定められた
反射防止すべき光を9層係以上透過させるとともに、多
層膜の芯部をなす膜の厚みが6〜15μm であり、そ
の膜強度が下記試Ia法において5001以上であるこ
とを特徴とするフォトマスク・レチクル用防1皇カバー
体である。
That is, in the present invention, the film constituting the main part of the dustproof cover body is a multilayer film having an antireflection layer on both sides, and transmits light to be prevented from reflecting at least 9 layers. This is a cover body for a photomask/reticle, characterized in that the thickness of the film forming the core part is 6 to 15 μm, and the film strength is 5001 or more in the following test Ia method.

腎膜強度試験法 周囲を固定した100朋径の試験膜に、半径8mmの半
球を、膜に垂直に10朋/分の速度で突き刺した時の膜
の破壊する荷重(2)tl−膜蟻度とする。
Renal membrane strength test method: Load at which the membrane breaks when a hemisphere with a radius of 8 mm is pierced perpendicularly to the membrane at a speed of 10 mm/min (2) tl - Membrane ant degree.

以下、図面によυ本発明分説明する。Hereinafter, the present invention will be explained with reference to the drawings.

第1図は、本発明の膜の実施態様の講造を示すもので、
芯部の膜2の両面(反射防止層3が配置され、多層膜1
を形成する。芯部の膜2の厚さは6〜15μmである。
FIG. 1 shows the structure of an embodiment of the membrane of the present invention,
Both sides of the core film 2 (where the antireflection layer 3 is arranged and the multilayer film 1
form. The thickness of the core membrane 2 is 6 to 15 μm.

芯部の膜2の材質は、光の透過性、瞑強度、製造のし易
さ等からポリマーが適する。ポリマーとLl−jl、!
?リエチレンテレフタレート、セルロースエステル類1
.ホリカーーネート、ポリメタクリル酸メチル等を拳げ
ることか出来る。その中で、ニトロセルロースが光線透
過性、膜強度、製造上最も凝れたものである。不発明に
用いられるニトロセルロースは、JISK、−6703
に規定される工業用ニトロセルロースでらジ、窒素含量
10.7重量%〜LL2重凰チのものである。また、3
1合問は平均重合度として、30〜5OO1好1しくは
50〜300  である。重合度が30未満では膜強度
が低くなシ、本発明の目面とするものが得ら)七ない。
Polymer is suitable as the material for the core membrane 2 due to its light transmittance, strength, and ease of manufacture. Polymer and Ll-jl,!
? Liethylene terephthalate, cellulose esters 1
.. Polycarnate, polymethyl methacrylate, etc. can be produced. Among them, nitrocellulose is the most sophisticated in terms of light transmittance, film strength, and manufacturing. The nitrocellulose used in the invention is JISK, -6703
It is an industrial nitrocellulose with a nitrogen content of 10.7% by weight to LL2 double layer as defined in the following. Also, 3
One question is 30-5OO1 preferably 50-300 as an average degree of polymerization. If the degree of polymerization is less than 30, the film strength will be low and the object of the present invention cannot be obtained.

父、重合度が500を超えるものにあっては、膜製造が
著しく困以となる。
However, if the degree of polymerization exceeds 500, membrane production becomes extremely difficult.

芯部の膜の強度は前記の通シゴミ除去等取扱い時に重要
な特性であるが、その必要強度としては、前記試験法に
〃3いて500g以上でちればよい。
The strength of the core membrane is an important characteristic during handling such as the above-mentioned removal of dirt and dust, and the required strength is 500 g or more according to the above test method.

これ以下の強度では、エアーブロー、又は、水洗等の作
業で膜が破れることがある。+!fI/c長期使用され
たものKあっては、破膜の劣化(・ζよジ、工911破
れ易くなる。かかる膜強度を有する膜は・ニトロセルロ
ースのごとき強靭な換であっても6層球上を必要とし、
好ましくは7μm 以上でるる。
If the strength is lower than this, the membrane may be torn by air blowing or washing with water. +! fI/c If the product has been used for a long period of time, the rupture of the membrane deteriorates. Requires a sphere,
Preferably it is 7 μm or more.

又、膜強度を強める為に、膜厚みを15μm 以上とす
ることは実用上無意味であると同時に、かかる膜厚みの
膜を約1多以下の厚みムラに製造することは極めて困難
となる。製造上からよシ好ましい膜厚の上限は12μm
である。
In addition, it is practically meaningless to increase the film thickness to 15 μm or more in order to increase the film strength, and at the same time, it is extremely difficult to manufacture a film having such a thickness with a thickness unevenness of about 1 or less. From a manufacturing standpoint, the preferred upper limit of film thickness is 12 μm.
It is.

芯部の膜2の製造方法は、いかなる方法によっても1゛
ト1わない。熱可塑性ポリマーにあっては、溶融押出し
法が、セルロースエステル類等の非熱可塑性ポリマーに
ちっては溶液キャスト法が用いられる。溶液キャスト法
としては、回転塗布法、コーター法、浸漬引上げ法、流
体表面上への流延法等が用いられるが、膜厚精度・均一
性から回転塗布法が推奨される。
The method of manufacturing the core membrane 2 is not limited by any method. For thermoplastic polymers, the melt extrusion method is used, and for non-thermoplastic polymers such as cellulose esters, the solution casting method is used. As the solution casting method, a spin coating method, a coater method, an immersion pulling method, a casting method on a fluid surface, etc. are used, but the spin coating method is recommended from the viewpoint of film thickness accuracy and uniformity.

芯部の痕2の両面に配置される反射防止層3は、光線透
過率を9層多以上とする念め重要である。
The antireflection layers 3 disposed on both sides of the core mark 2 are important in order to achieve a light transmittance of nine layers or more.

膜2の厚みが6μm以上となると1もはや1膜2だけで
は透過率の最大値(干渉現象による干渉波の最大透過ホ
)は9層チ未満となシ、本発明の目的を迫成しえない。
When the thickness of the film 2 becomes 6 μm or more, the maximum value of transmittance (maximum transmission of interference waves due to interference phenomenon) with only one film 2 becomes less than 9 layers, and the object of the present invention cannot be achieved. do not have.

ところが、青<べきことに、この様な低い光線透過率の
膜にちっても、その両面に反射防止層を形成すると、そ
の光線透過率は9層チ以上となることを見出した。これ
は、HI/−1痕にあっては、膜の表・裏面に微小な荒
れが生じ、光線透過率が低下しているのに対し、反射防
止層を形成させることによシ、この荒れを無くした。結
果と考えられる。
However, it has been found that even with such a low light transmittance film, when antireflection layers are formed on both sides of the film, the light transmittance becomes 9 layers or more. This is because in the case of HI/-1 marks, minute roughness occurs on the front and back surfaces of the film, reducing the light transmittance, but by forming an antireflection layer, this roughness I lost it. This is considered to be the result.

又、本発明の防塵カバー体にちっては、特公昭54−2
8716号公報に指摘されている画イ2!位置のシフト
量は、よシ犬きくなるものの、実用上はほとんど無視し
うる量であシ、又、必要により、投影レンズとマスク間
距離を変更することにより、防塵カッマ一体によって発
生するわずがなフォーカスシフト、縮小倍率の変化を補
正することができる。
Furthermore, the dustproof cover body of the present invention is disclosed in Japanese Patent Publication No. 54-2
Picture A2 pointed out in Publication No. 8716! Although the amount of positional shift is quite large, it is almost negligible in practical terms.Also, if necessary, by changing the distance between the projection lens and the mask, the amount of shift caused by the integrated dustproof shield can be reduced. It is possible to correct for focus shift and changes in reduction magnification.

反射防止層3は、各種屈折率のものを1層あるいは2層
以上の層で構成されるが、本発明の目的とする98%以
上の高い光線透過率を得る為には、反射防止層が2層以
上よりなる、いわゆる多層反射防止法が必要となる。
The antireflection layer 3 is composed of one layer or two or more layers of various refractive indexes, but in order to obtain a high light transmittance of 98% or more, which is the objective of the present invention, the antireflection layer is A so-called multilayer antireflection method consisting of two or more layers is required.

防邦カバー体にあっては、200〜450パmの或^波
長のみを反射防止すれば充分であるので、反射防止層の
粁¥成は2〜3層である。
In the case of a cover body, it is sufficient to prevent reflection of only a certain wavelength of 200 to 450 pam, so the number of antireflection layers is 2 to 3 layers.

各反射防止層の構成は、2層反射防止にあっては、外側
の反射防止層の屈折率及び厚みをnl+dlとし、内側
の反射防止層’(c”nzed*とし、中心部をなす膜
の屈折率をR9とするとき、二の値がRとなるか、又は
近い値となる様なnl+n2  の値を持つ物質を選定
するとともに、それぞれの反射防止層の膜厚み’a: 
nt dt =nzdz = 4λ(λ;反射防止すべ
き光の波長)となる様にすることが必要である。
The structure of each antireflection layer is, in the case of two-layer antireflection, the refractive index and thickness of the outer antireflection layer are nl+dl, the inner antireflection layer is 'nzed*, and the refractive index and thickness of the inner antireflection layer are When the refractive index is R9, select a material with a value of nl+n2 such that the second value is R or a close value, and the film thickness of each antireflection layer 'a:
It is necessary to set nt dt = nzdz = 4λ (λ: wavelength of light to be prevented from reflecting).

又、3層反射防止にあっては、外側の反射防止層から順
に屈折率と厚みをnl g dl ; n冨* dz 
; R3hd3とし、中心部をなす膜の屈折率をxiと
するとき、二がmとなるか近い値をとシ、1ltdt:
!nz dz = R3d3 =−λ(λ: 反IM防
止す’l 光o波長)を満足する様な厚みとする必要が
ある。
In addition, in the case of three-layer anti-reflection, the refractive index and thickness of the outer anti-reflection layer are nl g dl;
; When R3hd3 and the refractive index of the film forming the center are xi, 2 is m or a close value, 1ltdt:
! It is necessary to have a thickness that satisfies the following: nz dz = R3d3 = -λ (λ: wavelength of light to prevent anti-IM).

又、かかる反射防止層は、膜2の片面だけに配置したの
では、反射防止効果は不充分で、98%以上の光線透過
率は得られないので、必ず両面に配置することが必要で
ある。
Furthermore, if such an antireflection layer is placed only on one side of the film 2, the antireflection effect will be insufficient and a light transmittance of 98% or more will not be obtained, so it is necessary to place it on both sides. .

反射防止層の形成方法としては、通7占用いられている
MgFz a Zr0z * k40s等の無機化合物
を真空蒸着、ス・ぐツタリング、イオンブレーティング
等で形成させる方法をとることも出来るが、各種ポリマ
ーを溶媒に溶解せしめ、キャスト法によシ形成させる方
法もとることができる。
As a method for forming the anti-reflection layer, it is also possible to form an inorganic compound such as MgFz a Zr0z * k40s, which is commonly used, by vacuum evaporation, suction ringing, ion blating, etc.; A method of dissolving the polymer in a solvent and forming it by a casting method can also be used.

無機化合物を真空蒸着等で反射防止層とする方法におい
ては、形成された反射防止層の性能が翫酸化・密度変化
等によ!ll変化することが多いので・この方法を用い
る場合には注意を要する。
In the method of forming an antireflection layer using an inorganic compound by vacuum deposition, etc., the performance of the formed antireflection layer may be affected by oxidation, density changes, etc. 1) Since there are many changes, care must be taken when using this method.

これに対し、ポリマー溶液のキャスト法による反射防止
層の形成にあっては、かかる変化がないので好しい方法
でちる。キャスト法としては、伍めて薄い層を梢庇艮く
形成させる必要がちるため回転塗布法を用いるのが好し
い。
On the other hand, forming an antireflection layer by casting a polymer solution is a preferable method since there is no such change. As the casting method, it is preferable to use a spin coating method since it is necessary to form a very thin layer over the top.

回転塗布法での反射防止層の形成は、ポリマー  )濃
度を0.5〜2重fa係とし、回転i 500〜300
0 rpmとすることで達成される。ポリマーとしては
、低屈折車のものとして弗素ポリマー、シリコン系ポリ
マー等が、高屈折本のものとして、ポリスチレン、ポリ
エーテルスルホン、ポリスルホン、ポリカーゼネート。
The antireflection layer is formed by the spin coating method with a polymer concentration of 0.5 to 2 double fa and a rotation i of 500 to 300.
This is achieved by setting the speed to 0 rpm. Examples of polymers include fluorine polymers and silicone polymers for low refractive index vehicles, and polystyrene, polyethersulfone, polysulfone, and polycarbonate for high refractive index vehicles.

ポリフェニレンエーテル等を挙げることができる。Examples include polyphenylene ether.

第2図において、多層膜1以外の部分の構成は括本的に
は従来のものと同じである。防塵カバー体は、支持枠4
に、多層膜1を接着層5等によシシワ・タルミなく固着
させ、支持枠4の他の面には粘着層6、及び、その上に
離をフィルム7を有した構造となっている。支持枠4の
大きさは、使用するフォトマスク又はレチクルの寸法に
対応して、1〜6インチ程度のもの、又は、1〜6イン
チ角程度でちる。支持枠4の扁さけ、アウト・オブ・フ
ォーカスとするゴミの大きさによって、2〜IQm−程
鹿となる。又、支持枠4の材質は、ゴミ付着性が少なく
、軽景で、強度のあるものとして、アルミ合金、硬質プ
ラスチック等を用いる。
In FIG. 2, the structure of the parts other than the multilayer film 1 is basically the same as the conventional one. The dustproof cover body is attached to the support frame 4
The structure is such that the multilayer film 1 is fixed to an adhesive layer 5 or the like without wrinkling or sagging, and the support frame 4 has an adhesive layer 6 on the other surface and a release film 7 thereon. The size of the support frame 4 is approximately 1 to 6 inches or approximately 1 to 6 inches square, depending on the dimensions of the photomask or reticle used. Depending on the width of the support frame 4 and the size of the debris to be taken out of focus, the distance will vary from 2 to IQm-. Further, the material of the support frame 4 is aluminum alloy, hard plastic, etc., as it has less dust adhesion, is light in appearance, and has strength.

防塵カバー体は使用に供されるまで、清浄なケースに収
納され、ゴミの付着を防止する。使用に除しては、第2
図の離捜フィルム7を剥離し、第3図の様にフォトマス
ク又はレクチル8に形成された画像9をカバーすべく、
防塵力・々一体を装着する。ステッパーに用いられるレ
チクルにあっては、コミの影響が極めて鋭敏に現われる
為、レチクル8の画像9側だけでなく、他の面にも防塵
カバー体を装着する。
The dustproof cover body is stored in a clean case until it is ready for use to prevent dust from adhering to it. Except for use, the second
In order to peel off the separation film 7 shown in the figure and cover the image 9 formed on the photomask or reticle 8 as shown in FIG.
Attach dustproof protection. Since the reticle used in the stepper is extremely sensitive to dust, a dustproof cover is attached not only to the image 9 side of the reticle 8 but also to other surfaces.

(実施例) 実施例1 ニトロセルロース(無化成工業(掬製、H−/)を乳酸
エチルに溶解させ、25重fix m 、72Lとした
。又、ポリエーテルスルホン(ICI製、P−2000
゜np=L63)’r 1 、 L 、 2 、2−テ
トラクロルエタンに溶解させ、0.75重′kk%の溶
液とした。一方、テトラフロロエチレン(rFE)/ヘ
キサフロロプロピレン(HFP)/弗化ビニリデン(V
dF)共重合ポリマー(TFE=37.6重縫チ、I(
FP=17.91i%、vdp=44.5 重量% 、
nD=tar)eパー7シリコンウエハ(125朋ダの
板)ヲスピンコータ−(回転Ql 布4晟)にセットし
、ニトロセルロース溶aを(商下し、12QOrpmで
回転させた後、赤外11−実ランプで乾燥させることに
より、ウェハ上にニトロセルロースの塗膜を形成させた
。この上に、ポリエーテルスルホン溶液を滴下し、60
0rpmで回転させ、乾燥させ、更に、その上にT F
 E/)(F PlVdF 共重合H51Jマ一溶液t
500rpmで塗布し、乾燥させグこ。
(Example) Example 1 Nitrocellulose (manufactured by Mukasei Kogyo Co., Ltd., manufactured by Kiki, H-/) was dissolved in ethyl lactate to make a 25-ply fix m, 72 L. Also, polyether sulfone (manufactured by ICI, P-2000) was dissolved in ethyl lactate.
゜np=L63)'r 1 , L , 2 , It was dissolved in 2-tetrachloroethane to make a 0.75 wt'kk% solution. On the other hand, tetrafluoroethylene (rFE)/hexafluoropropylene (HFP)/vinylidene fluoride (V
dF) copolymer polymer (TFE=37.6 double stitches, I(
FP=17.91i%, vdp=44.5% by weight,
nD=tar) e Par 7 silicon wafer (125 mm plate) was set in a spin coater (rotation Ql, cloth 4 pm), and nitrocellulose solution a (commercially sold) was rotated at 12 Q Orpm, and infrared 11 - A coating film of nitrocellulose was formed on the wafer by drying with a real lamp.A polyether sulfone solution was dropped onto this, and
Rotate at 0 rpm, dry, and then apply T F
E/) (F PlVdF copolymer H51J mai solution t
Apply at 500 rpm and let dry.

ついで、内径100門ダ、外径105m1p、高さ6門
のアルミリングの一方の端面に粘着フィルム(住友スリ
ーエム(4’ll’ 21 %スコッチー1?−]5T
−416)及び?S型フィルム(ぼりエステルフィルム
)を張った。
Next, an adhesive film (Sumitomo 3M (4'll' 21% Scotch 1?-) 5T was applied to one end of an aluminum ring with an inner diameter of 100 gates, an outer diameter of 105 m1p, and a height of 6 gates.
-416) and? An S-type film (Boriester film) was applied.

又、他の端面にはエポキシ樹脂を塗布し、上記ウェハ上
の塗膜と重ね合せて工ゐ?キシを硬化させることによシ
、工膜とアルミリングを面沿させた。
Also, apply epoxy resin to the other end face and overlap it with the coating film on the wafer. By curing the coating, the coating film and the aluminum ring were made flush with each other.

このものを水の中に浸漬し、30分放置後、つ:  エ
バと説を分離し、水中よりアルミリングに固着された膜
を回収した。風乾後、再度スピンコーターに肌面が上と
なる様、膜が固着され北アルミリングをセットし、ポリ
エーテルスルホン、TFE/HFP/VdF 共重合ポ
IJ −+r−の順で腰を形成させることによシ、第2
図に示した構造の防塵カバー体を作成した。
This product was immersed in water, and after being left for 30 minutes, the membrane was separated from the aluminum ring, and the membrane fixed to the aluminum ring was recovered from the water. After air-drying, place the film firmly on the spin coater again with the skin side up, set the northern aluminum ring, and form the waist in the order of polyether sulfone and TFE/HFP/VdF copolymer poIJ -+r-. Yoshi, 2nd
A dustproof cover body with the structure shown in the figure was created.

得られた防塵カッζ一体の分光支持性(島津製作所■製
、UV−240にて測定)は、第4図に示す通υでおり
、436聾での光線透過率は99.7チであった。
The spectral support of the resulting dust-proof cup ζ (manufactured by Shimadzu Corporation, measured with UV-240) was as shown in Figure 4, and the light transmittance at 436 deafness was 99.7 cm. Ta.

一方、ニトロセルロース膜のみからなる防塵カバー体を
上記方法と同様に、かつニトロセルロース膜の形成条件
を同一にして作成した。この防塵カッz一体tvニトロ
七ルロース膜の厚みを膜の分光特性測定から下記の式よ
シ算出した。
On the other hand, a dust-proof cover body consisting only of a nitrocellulose membrane was created in the same manner as the above method and under the same conditions for forming the nitrocellulose membrane. The thickness of this dust-proof Kaz-integrated TV nitro-7-lulose film was calculated from the measurement of the spectral characteristics of the film using the following formula.

2n(λ亀 −λ工) d:膜厚み鍾工) λ1:D@付近(s 87.6M)の干渉波のピーク波
長(−ry)λに:λ1よシに番目のピーク波長(へへ
)         1n:ニトロセルロースのno 
(=1.51 )その結果、膜厚みは6.30±0.0
1μmであり、反射防止層を有する本?ミ廁例のニトロ
セルロース膜の厚みも同一と考えられる。
2n (λ turtle - λ engineering) d: Film thickness engineering) λ1: Peak wavelength of interference wave (-ry) near D@ (s 87.6M) To λ: λ1 to si-th peak wavelength (hehe ) 1n: No of nitrocellulose
(=1.51) As a result, the film thickness is 6.30±0.0
A book that is 1 μm and has an anti-reflection layer? It is believed that the thickness of the nitrocellulose membrane in the two examples is also the same.

ついで、膜強度につき、前記方法にて測定したところ5
30Iと強いものであった。
Then, the film strength was measured using the above method and was found to be 5.
It was a strong 30I.

比較例1 ニトロセルロースの濃度を20重量%とし、t4oor
pmで塗布した以外は実施例1と同様にして防塵カバー
体を作成した。
Comparative Example 1 The concentration of nitrocellulose was 20% by weight, and t4oor
A dustproof cover body was produced in the same manner as in Example 1 except that the coating was performed using pm.

このものは、膜厚み?−95±0.01μmでちり、4
36nm  の光線透過率は99.8%であシ、膜強度
は245j7と弱いものであった。
What is the film thickness of this thing? Dust at -95±0.01μm, 4
The light transmittance at 36 nm was 99.8%, and the film strength was weak at 245J7.

実施例2及び比較例2 ニトロセルロースの濃度を27重量%とし、ポリエーテ
ルスルホンのかわシにポリスルホン(8産化学(K! 
、 P−3500、no−L63 )とした以外は、実
施例1と同様な方法にて防塵カバー体を作成した(実施
例2)。
Example 2 and Comparative Example 2 The concentration of nitrocellulose was 27% by weight, and polysulfone (Yasan Kagaku (K!
, P-3500, no-L63)) A dustproof cover body was created in the same manner as in Example 1 (Example 2).

又、ニトロセルロースの濃度27重量%の溶液からのみ
作成したニトロセルロース単/f5Mよシ成る防塵カバ
ー体を作成しfc(比較例2)。
Further, a dustproof cover body made of nitrocellulose mono/f5M made only from a solution of nitrocellulose having a concentration of 27% by weight was prepared fc (Comparative Example 2).

比較例2の分光特性から、実施例2.比較例2のニトロ
セルロース膜の厚みは約9.5μmで、1、膜強度はい
ずれも800・yと強いものであった。
From the spectral characteristics of Comparative Example 2, Example 2. The thickness of the nitrocellulose membrane of Comparative Example 2 was approximately 9.5 μm, and the membrane strength was both 800·y and strong.

一方、分光特性は実施列2については第5図。On the other hand, the spectral characteristics are shown in FIG. 5 for implementation row 2.

比較例2については第゛6図に示す1tTu)でちゃ、
実施例2にあっては、436朋付近での光線透過率は9
9.5憾であるのに対し、比較例2にあっては、をなす
多層膜を、芯部膜の厚みが6〜15μmと厚く、反射防
止層を両面に配置しているため、膜強度が強く、膜の均
一性もよく、しかも光線透過率98%以上と高性能でら
る。
For Comparative Example 2, 1tTu) shown in Figure 6 is used.
In Example 2, the light transmittance near 436 mm was 9
9.5 μm, whereas in Comparative Example 2, the multilayer film with It has strong coating properties, good film uniformity, and high performance with a light transmittance of 98% or more.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明の防塵カバー体に用いられる多層膜の
一例を示す拡大断面図、第2図は本発明防塵カバー体の
断面図、第3図は不発EjAを使用する態様の断面図、
第4図は実施例1の波長と光線透過率の関係を示すグラ
フ、第5図は実施例2の波長と光線透過率の関係を示す
グラフ、第6図は比較例2の波長と光線透過率の関係を
示すグラフであるウ ド・・・・・反射防止層を両面に有する多層膜、2・・
・・・・芯部の膜、3・・・・・・反射防止層、4・・
・・・・枠、5・・・・・・接着層、6・・・・・・粘
着層、7・・・・・・離現フィルム、8・・・・・・フ
ォトマスク又はレチクル、9・・・・・・画像。 特許出願人 旭化成工業株式会社 第1図 第2図 第3図
FIG. 1 is an enlarged cross-sectional view showing an example of a multilayer film used in the dust-proof cover body of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view of the dust-proof cover body of the present invention, and FIG. 3 is a cross-sectional view of an embodiment using unexploded EjA. ,
Figure 4 is a graph showing the relationship between wavelength and light transmittance in Example 1, Figure 5 is a graph showing the relationship between wavelength and light transmittance in Example 2, and Figure 6 is a graph showing the relationship between wavelength and light transmittance in Comparative Example 2. A graph showing the relationship between ratios...Multilayer film with antireflection layers on both sides, 2...
... Core film, 3 ... Antireflection layer, 4 ...
... Frame, 5 ... Adhesive layer, 6 ... Adhesive layer, 7 ... Release film, 8 ... Photomask or reticle, 9 ······image. Patent applicant: Asahi Kasei Industries, Ltd. Figure 1 Figure 2 Figure 3

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、防塵カバー体の要部をなす膜が、両面に反射防止層
を有する多層膜であつて、ある定められた反射防止すべ
き光を98%以上通過させるとともに多層膜の芯部をな
す膜の厚みが6〜15μmであり、その膜強度が下記試
験法において500g以上であることを特徴とするフォ
トマスク・レチクル用防塵カバー体 (膜強度試験法) 周囲を固定した100mm径の試験膜に、半径8mmの
半球を膜に乗直に10mm/分の速度で突き刺した時の
膜の破壊する荷重(g)を膜強度とする。 2、芯部をなす膜が、ニトロセルロース膜であることを
特徴とする特許請求の範囲の第1項記載の防塵カバー体
[Scope of Claims] 1. The film constituting the main part of the dustproof cover is a multilayer film having antireflection layers on both sides, which transmits 98% or more of a certain light to be prevented from reflecting, and is a multilayer film. A dustproof cover for a photomask/reticle (film strength test method) characterized in that the film forming the core of the film has a thickness of 6 to 15 μm and a film strength of 500 g or more in the following test method. The membrane strength is defined as the load (g) at which the membrane breaks when a hemisphere with a radius of 8 mm is pierced perpendicularly to the membrane at a speed of 10 mm/min to a test membrane with a diameter of 100 mm. 2. The dustproof cover body according to claim 1, wherein the membrane forming the core is a nitrocellulose membrane.
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