JPS6151820B2 - - Google Patents

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JPS6151820B2
JPS6151820B2 JP53074588A JP7458878A JPS6151820B2 JP S6151820 B2 JPS6151820 B2 JP S6151820B2 JP 53074588 A JP53074588 A JP 53074588A JP 7458878 A JP7458878 A JP 7458878A JP S6151820 B2 JPS6151820 B2 JP S6151820B2
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JP
Japan
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photoelectric conversion
diffuse reflection
section
white diffuse
optical information
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JP53074588A
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JPS551753A (en
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Toshuki Iguchi
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Ricoh Co Ltd
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Ricoh Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、シエーデイング補正装置に関する。[Detailed description of the invention] The present invention relates to a shading correction device.

従来のシエーデイング補正装置には、照明光を
複数個の遮蔽ブロツク片によつてシエーデイング
を補正する機械的構成のものと、走査区間を複数
個の小区間に分割し各区間のシエーデイング量に
対応する重み付け回路によつて制御する電気的構
成のものとが存在する。
Conventional shading correction devices include those with a mechanical configuration that corrects shading by using a plurality of shielding block pieces for illumination light, and those with a mechanical configuration that divides a scanning section into a plurality of small sections and corresponds to the amount of shading in each section. There are electrical configurations controlled by weighting circuits.

かかる従来装置は、区間毎の部分補正量を予め
設定し、これに基いて補正を行ういわゆるスタテ
イツクな補正方法であるから、シエーデイング補
正量が経時変化する場合や線光源による集光照明
を行う場合等に生じるコピー毎のあるいはコピー
中の比較的短時間のシエーデイング変動に応じた
補正をすることができないという問題点があつ
た。
Such a conventional device uses a so-called static correction method in which a partial correction amount for each section is set in advance and correction is made based on this, so it is difficult to use when the shedding correction amount changes over time or when condensed illumination is performed using a line light source. There has been a problem in that it is not possible to make corrections in response to relatively short-time shading fluctuations that occur for each copy or during copying.

本発明は、かかる従来の問題点を解決すべくな
されたもので、シエーデイング変動が経時的ある
いは瞬時的に生じても適当な補正を自動的になし
得る、換言すればダイナミツクな補正を行えるシ
エーデイング補正装置を提供することを目的とす
る。
The present invention has been made to solve these conventional problems, and is capable of automatically making appropriate corrections even when shedding fluctuations occur over time or instantaneously. In other words, it is a shedding correction method that can perform dynamic corrections. The purpose is to provide equipment.

この目的を達成するために、本発明は、固体ス
キヤナ照明系の被主走査ラインに近接して平行ラ
イン状に白色拡散反射部を設け、結像された被主
走査ラインの光情報および原稿とほぼ同じ光量分
布を有する白色拡散反射部からの光情報をそれぞ
れ光電変換部により検出し、両者の比または差の
関係を演算処理して実効読み取り信号を得るもの
である。
In order to achieve this object, the present invention provides a white diffuse reflection part in a parallel line close to the main scanning line of the solid-state scanner illumination system, and combines optical information of the imaged main scanning line and the document. Optical information from the white diffuse reflection sections having substantially the same light intensity distribution is detected by a photoelectric conversion section, and the ratio or difference between the two is calculated to obtain an effective read signal.

以下、添付図面を参照して本発明の実施例を説
明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

第1図および第2図は本発明によるシエーデイ
ング補正装置の一実施例の光学部を示す正面図お
よび平面図である。これらの図において、原稿0
が載置されるコンタクトガラス1の前方にはスリ
ツト2が配設され、スリツト2には第3図に示す
ように被主走査ライン部に近接して平行ライン状
に白色拡散反射部10が設けられている。原稿0
からの光情報は結像レンズ3を介して結像されハ
ーフミラー4を介して固体走査素子(CCD)5
により読み取られるようになつている。
1 and 2 are a front view and a plan view showing an optical section of an embodiment of a shading correction device according to the present invention. In these figures, manuscript 0
A slit 2 is disposed in front of the contact glass 1 on which the contact glass 1 is placed, and a white diffuse reflection section 10 is disposed in the slit 2 in a parallel line close to the main scanning line section as shown in FIG. It is being Manuscript 0
The optical information from
It is now readable by

白色拡散反射部10からの光情報は結像レンズ
3により結像されハーフミラー4を介して光電変
換素子群6〜6nにより検出されるようになつ
ている。ハーフミラー4が設けられているのは、
原稿0からの光情報と白色拡散反射部10からの
光情報の結像位置が極めて近接した状態になるの
で、すなわち第4図に示すように固体走査素子5
の読取り用結像光束5Sと光電変換素子群6
6nの光量検知用結像光束6Sとが極めて近接し
た状態になるので、光路分離するためである。光
電変換素子群6〜6nは第5図に示すように固
体走査素子5の特定の主走査部分に対応するよう
に配置されている。
Optical information from the white diffuse reflection section 10 is imaged by the imaging lens 3, and detected by the photoelectric conversion element groups 61 to 6n via the half mirror 4. The half mirror 4 is provided because
Since the imaging positions of the optical information from the original 0 and the optical information from the white diffuse reflection unit 10 are extremely close to each other, that is, as shown in FIG.
The imaging light beam 5S for reading and the photoelectric conversion element group 6 1 ~
This is to separate the optical paths since the imaging light beam 6S for detecting the amount of light 6n will be in a state of being extremely close to each other. The photoelectric conversion element groups 6 1 to 6n are arranged so as to correspond to a specific main scanning portion of the solid state scanning element 5, as shown in FIG.

かかる構成の実施例によれば、白色拡散反射部
10と被主走査ライン部は近接して設けられてい
るので、照明系による原稿面照度分布が主走査方
向についてほぼ同一であり、また結像レンズ3に
対しても両者の周辺光量低下特性はほぼ同一とな
る。従つて、固体走査素子5の面のシエーデイン
グと光電変換素子6〜6nのシエーデイングと
はほぼ同一となる。
According to the embodiment with such a configuration, the white diffuse reflection section 10 and the main scanning line section are provided close to each other, so that the illuminance distribution on the document surface due to the illumination system is almost the same in the main scanning direction, and the imaging For lens 3 as well, the peripheral light amount reduction characteristics of both lenses are almost the same. Therefore, the shading of the surface of the solid state scanning element 5 and the shading of the photoelectric conversion elements 6 1 to 6n are almost the same.

また、上記実施例において、このままの状態で
読取りを行う場合、固体走査素子5の出力V1
第6図aに示すように原稿0の画像情報と上記シ
エーデイングの合成出力として得られ、光電変換
素子群6〜6nは白色均一反射光を検出するこ
ととなるので、第6図bに示すように上記シエー
デイングの各部分の平均出力の連なり(サンプル
ホールドされた状態)V2を出力することとな
る。
Furthermore, in the above embodiment, when reading is performed in this state, the output V 1 of the solid-state scanning element 5 is obtained as a composite output of the image information of the original 0 and the above-mentioned shading, as shown in FIG. Since the element groups 6 1 to 6 n will detect white uniform reflected light, they should output a series of average outputs (sample-held state) V 2 of each part of the above-mentioned shading, as shown in FIG. 6b. becomes.

固体走査素子5が受ける原稿地肌からの反射結
像光および光電変換素子6〜6nが受ける白色
拡散反射部10からの反射結像光はともに白色光
であり、固体走査素子5および光電変換素子6
〜6nの受光面における主走査方向の光量分布は
白色レベルについて相似比例の関係があるので、
第5図に示すように、主走査ラインにおけるある
特定ビツトに対する固体走査素子5の出力を
V1i、このV1iに対応する光電変換素子6〜6n
のj番目の出力をV2j、出力V1iの最大値の連なり
をV1inaxとすると、 V=V1inax/V2j は一定となる。
The reflected imaging light from the background of the document received by the solid-state scanning element 5 and the reflected imaging light from the white diffuse reflection section 10 received by the photoelectric conversion elements 6 1 to 6n are both white light, and the solid-state scanning element 5 and the photoelectric conversion elements 6 1
The light intensity distribution in the main scanning direction on the light receiving surface of ~6n has a similar proportional relationship with respect to the white level, so
As shown in FIG. 5, the output of the solid-state scanning element 5 for a particular bit in the main scanning line is
V 1 i, photoelectric conversion elements 6 1 to 6n corresponding to this V 1 i
If the j-th output of is V 2 j and the series of maximum values of output V 1 i is V 1inax , then V=V 1inax /V 2j is constant.

このVを出力処理信号として適正な値とするた
めには、V2の直接演算ではなく、V3=αV2なる
値を用いればよい。このような処理においては、
V1の黒レベルは主走査位置に無関係に接地レベ
ル付近にあるが、このとき、V=V1/αV2はV2
(またはV3)の主走査位置の変化による出力の大
小に無関係に接地レベル付近の値となり、Vは全
体として第6図cのような波形となる。これによ
り、V2naxのレベルが均一のすなわちシエーデイ
ングが除去された出力に変換され、白色レベルは
補正され、黒レベルはそのまま接地レベル付近に
保持されることとなる。
In order to set this V to an appropriate value as an output processing signal, it is sufficient to use the value V 3 =αV 2 instead of directly calculating V 2 . In such processing,
The black level of V 1 is near the ground level regardless of the main scanning position, but at this time, V = V 1 / αV 2 is V 2
(or V 3 ) has a value near the ground level regardless of the magnitude of the output due to a change in the main scanning position, and V has a waveform as shown in FIG. 6c as a whole. As a result, the level of V 2nax is converted into an output with uniformity, that is, shading is removed, the white level is corrected, and the black level is maintained near the ground level.

1nax/V2なる値は局部的に光量変動が生じて
も一定なので、従来のように遮蔽片やブロツク毎
に行つてきた機械的シエーデイング補正方法や重
み付け回路を用いて利得制御する電気的方法に比
して、シエーデイング特性が経時的あるいは瞬時
的に変動しても、その変動状態に無関係に安定に
適正な補正をなし得る。
Since the value of V 1nax /V 2 remains constant even if there is a local variation in light intensity, it is no longer possible to use a mechanical shading correction method that was conventionally performed for each shielding piece or block, or an electrical method that uses a weighting circuit to control the gain. In contrast, even if the shading characteristic fluctuates over time or instantaneously, it is possible to stably and appropriately correct the shading characteristics regardless of the state of the fluctuation.

第7図は固体走査素子5および光電変換素子群
〜6nの駆動制御部と上記V1i,V2jの演算
処理部の一構成例を示す。この図において、駆動
計数回路71は固体走査素子5が所定のシーケン
スで原稿0からの光情報を読み取るように駆動制
御するとともにスイツチング回路72に計数信号
を送出する。スイツチング回路72は計数信号を
受けて固体走査素子5の走査箇所に対応する光電
変換素子6〜6nの1つを付勢し、この光電変
換素子が白色拡散反射部10からの光情報を受光
し電気信号に変換するようにする。信号出力処理
回路73は固体走査素子5の出力信号V1iの最大
値の連なりV1inaxを求め、これを合成信号処理回
路76に送出する。
FIG. 7 shows an example of the configuration of a drive control section for the solid-state scanning element 5 and the photoelectric conversion element groups 6 1 to 6n, and an arithmetic processing section for the above-mentioned V 1i and V 2j . In this figure, a drive counting circuit 71 drives and controls the solid-state scanning element 5 so that it reads optical information from a document 0 in a predetermined sequence, and sends a counting signal to a switching circuit 72. The switching circuit 72 receives the count signal and energizes one of the photoelectric conversion elements 6 1 to 6 n corresponding to the scanning location of the solid-state scanning element 5, and this photoelectric conversion element receives optical information from the white diffuse reflection section 10. and convert it into an electrical signal. The signal output processing circuit 73 determines a series of maximum values V 1inax of the output signal V 1i of the solid-state scanning element 5 and sends it to the composite signal processing circuit 76 .

増幅回路74は、スイツチング回路72により
指定された光電変換素子6〜6nの出力信号V
2jを演算処理可能なレベルまで増幅し、出力信号
処理回路75は増幅されたV2jにαを乗じ合成信
号処理回路76に送出する。合成信号処理回路7
6は V=V1inax/V2j なる演算を行つて出力処理信号Vを出力する。
The amplifier circuit 74 receives the output signal V of the photoelectric conversion elements 6 1 to 6n designated by the switching circuit 72.
The output signal processing circuit 75 multiplies the amplified V 2j by α and sends it to the composite signal processing circuit 76. Combined signal processing circuit 7
6 performs the calculation V=V 1inax /V 2j and outputs the output processed signal V.

第8図は上述の実施例を実際の固体スキヤナに
適用した構成例を示す。この図において、原稿0
は照明ユニツト81によりコンタクトガラス1を
介して照射され原稿送りユニツト82により搬送
されるようになつている。スリツト2はコンタク
トガラス1に近接して配置され、上述の白色拡散
反射部10が形成されている。原稿0からの光情
報5Sと白色拡散反射部10からの光情報6Sの
光経路には複数の遮光スリツト83が設けられて
いる。
FIG. 8 shows a configuration example in which the above-described embodiment is applied to an actual solid-state scanner. In this figure, original 0
is irradiated by an illumination unit 81 through the contact glass 1 and transported by a document feed unit 82. The slit 2 is arranged close to the contact glass 1, and the above-mentioned white diffuse reflection section 10 is formed therein. A plurality of light shielding slits 83 are provided on the optical path of the optical information 5S from the original document 0 and the optical information 6S from the white diffuse reflection section 10.

ミラー84は原稿0および白色拡散反射部10
からの光を反射して結像ユニツト85に送るもの
である。結像ユニツト85はスキヤナベース86
に取り付けられ、原稿0からの光および白色拡散
反射部10からの光をハーフミラー4を介してそ
れぞれ固体走査素子5および光電変換素子6
6nの受光面に結像させるものである。固体走査
素子5はセンサボード87に固着され、また光電
変換素子6〜6nは第7図の増幅回路74、お
よび出力信号処理回路75等が装着される基板8
9に固着されている。光電変換素子6〜6nの
位置は位置調整ユニツト88により調整できるよ
うになつている。
The mirror 84 captures the original 0 and the white diffuse reflection section 10
It reflects the light from the mirror and sends it to the imaging unit 85. The imaging unit 85 is a scanner base 86.
The light from the document 0 and the light from the white diffuse reflection unit 10 are transmitted through the half mirror 4 to the solid-state scanning element 5 and the photoelectric conversion elements 6 1 to 6 , respectively.
The image is formed on the light receiving surface of 6n. The solid-state scanning element 5 is fixed to a sensor board 87, and the photoelectric conversion elements 6 1 to 6n are attached to a substrate 8 on which the amplifier circuit 74 and output signal processing circuit 75 shown in FIG. 7 are mounted.
It is fixed to 9. The positions of the photoelectric conversion elements 6 1 to 6 n can be adjusted by a position adjustment unit 88 .

かかる構成の固体スキヤナは上記第1図および
第7図の実施例の動作と同様に動作し、シエーデ
イング特性が経時的あるいは瞬時的に変動して
も、その変動状態に無関係に安定に適正な補正を
なし得る。
The solid-state scanner with such a configuration operates in the same manner as the embodiments shown in FIGS. 1 and 7 above, and even if the shedding characteristics fluctuate over time or instantaneously, it can stably and appropriately correct the shading characteristics regardless of the state of the fluctuations. can be done.

なお、上記実施例では、スリツト2に白色拡散
反射部10を設けているが、第9図に示すよう
に、コンタクトガラス1の上面(または裏面)に
白色拡散させるためのコーデイングを施して白色
拡散反射部10′を形成してもよい。
In the above embodiment, the white diffuse reflection part 10 is provided in the slit 2, but as shown in FIG. A diffuse reflection section 10' may also be formed.

また、上記実施例においては、V1とαV2(=
V3)との比をとることによりシエーデイング補正
を行つたが、V2naxの特性を利用し、α′V2を2
値化のための基準レベル(第6図aのVRef)と
してもよい。(ここで、α′はVRefに適するV3′を
与える係数である。)この場合、第7図の合成信
号処理回路76は例えば第10図に示すように非
反転入力端子にてV1を受け、反転入力端子にて
V3′を受け、各ブロツク毎の比較基準値Vを出力
する比較器100により構成することが好まし
い。
Furthermore, in the above embodiment, V 1 and αV 2 (=
Although the shedding correction was performed by taking the ratio with V 3 ), by using the characteristics of V 2nax , α′V
It may also be used as a reference level for value conversion (V Ref in FIG. 6a). (Here, α' is a coefficient that gives V 3 ' suitable for V Ref .) In this case, the composite signal processing circuit 76 of FIG. 7 outputs V 1 at the non-inverting input terminal as shown in FIG. is received at the inverting input terminal.
Preferably, the comparator 100 receives V 3 ' and outputs a comparison reference value V for each block.

また、光電変換素子6〜6nすなわち基準用
光検知素子としてはフオトダイオード等のほか低
密度固体走査素子により構成してもよい。
Further, the photoelectric conversion elements 6 1 to 6n, that is, the reference photodetection elements, may be constructed from a low-density solid-state scanning element in addition to a photodiode or the like.

以上の説明から明らかなように、本発明は、固
体スキヤナ照明系の被主走査ラインに近接して平
行ライン状に白色拡散反射部を設け、この白色拡
散反射部からの光電変換出力と走査出力との関係
を求めて実効読み取り信号を得るものであるか
ら、シエーデイング変動が経時的あるいは瞬時的
に生じても自動的に補正を行うことができる効果
がある。
As is clear from the above description, the present invention provides a white diffuse reflection section in a parallel line close to the main scanning line of a solid-state scanner illumination system, and outputs a photoelectric conversion output and a scanning output from this white diffuse reflection section. Since the effective read signal is obtained by determining the relationship between the two, even if shedding fluctuations occur over time or instantaneously, they can be automatically corrected.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図および第2図は本発明によるシエーデイ
ング補正装置の光学系の実施例を示す正面図およ
び平面図、第3図は第1図および第2図のスリツ
ト2を示す拡大図、第4図は第1図および第2図
のコンタクトガラス1とスリツトの配置関係およ
び光情報の光路を示す説明図、第5図は第1図お
よび第2図の固体走査素子5と光電変換素子6
〜6nの対応関係を示す説明図、第6図は固体走
査信号5と光電変換素子6〜6nの出力信号お
よびこれらの信号を処理して得られる信号を示す
波形図、第7図は本発明によるシエーデイング補
正装置の駆動制御部および演算処理部の一実施例
を示すブロツク図、第8図は第1図および第7図
の実施例を実際の固体スキヤナに組み込んだ状態
を示す概略構成図、第9図は白色拡散反射部の別
の構成例を示す説明図、第10図は第7図の合成
信号処理回路76の別の構成例を示すブロツク図
である。 1…コンタクトガラス、2…スリツト、3…結
像レンズ、4…ハーフミラー、5…固体走査素
子、6〜6n…光電変換素子、10,10′…
白色拡散反射部、71…駆動計数回路、72…ス
イツチング回路、73…信号出力処理回路、74
…増幅回路、75…出力信号処理回路、76…合
成信号処理回路。
1 and 2 are a front view and a plan view showing an embodiment of the optical system of the shedding correction device according to the present invention, FIG. 3 is an enlarged view showing the slit 2 in FIGS. 1 and 2, and FIG. is an explanatory diagram showing the arrangement relationship between the contact glass 1 and the slit in FIGS. 1 and 2 and the optical path of optical information, and FIG .
6n is an explanatory diagram showing the correspondence between the solid-state scanning signal 5 and the photoelectric conversion elements 6 1 to 6n, and a waveform diagram showing the output signals of the photoelectric conversion elements 6 1 to 6n and the signals obtained by processing these signals. A block diagram showing one embodiment of the drive control section and the arithmetic processing section of the shedding correction device according to the invention, and FIG. 8 is a schematic configuration diagram showing the state in which the embodiments of FIGS. 1 and 7 are incorporated into an actual solid-state scanner. , FIG. 9 is an explanatory diagram showing another example of the structure of the white diffuse reflection section, and FIG. 10 is a block diagram showing another example of the structure of the composite signal processing circuit 76 of FIG. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...Contact glass, 2...Slit, 3...Imaging lens, 4...Half mirror, 5...Solid scanning element, 61-6n ...Photoelectric conversion element, 10, 10'...
White diffuse reflection section, 71... Drive counting circuit, 72... Switching circuit, 73... Signal output processing circuit, 74
...Amplification circuit, 75...Output signal processing circuit, 76...Composition signal processing circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 原稿をその主走査ライン全長にわたつてスリ
ツトおよびコンタクトガラスを介して照射する照
明係と、 前記原稿の主走査ライン各部分の光情報、およ
び前記原稿の主走査ラインに近接して平行ライン
状に配置されかつ前記原稿とほぼ同じ光量分布を
有する基準白色拡散反射部からの光情報をそれぞ
れ伝達する光学系と、 前記原稿の光情報を検出する第1の光電変換部
と、 前記基準白色拡散反射部の光情報を検出する第
2の光電変換部と、 前記第1および第2の光電変換部の出力信号を
入力し、これらの差または所定比を基準として前
記第1の光電変換部の出力信号を補正する演算処
理回路とを備えたシエーデイング補正装置。 2 基準白色拡散反射部がスリツト上に形成され
たものである特許請求の範囲第1項記載のシエー
デイング補正装置。 3 基準白色拡散反射部がコンタクトガラス上に
形成されたものである特許請求の範囲第1項記載
のシエーデイングの補正装置。
[Scope of Claims] 1. An illumination unit that illuminates a document over the entire length of its main scanning line through a slit and a contact glass; an optical system that transmits optical information from reference white diffuse reflection sections that are arranged in parallel lines in close proximity and that have substantially the same light intensity distribution as the original; and a first photoelectric conversion section that detects optical information of the original. and a second photoelectric conversion section that detects optical information of the reference white diffuse reflection section; inputting the output signals of the first and second photoelectric conversion sections, and converting the output signals of the first and second photoelectric conversion sections using the difference or a predetermined ratio as a reference. A shading correction device comprising an arithmetic processing circuit for correcting an output signal of a photoelectric conversion unit. 2. The shedding correction device according to claim 1, wherein the reference white diffuse reflection section is formed on a slit. 3. The shading correction device according to claim 1, wherein the reference white diffuse reflection section is formed on a contact glass.
JP7458878A 1978-06-20 1978-06-20 Shading correction unit Granted JPS551753A (en)

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JPS55108080A (en) * 1979-02-14 1980-08-19 Hitachi Ltd Photo electric conversion unit
JPS572159A (en) * 1980-06-05 1982-01-07 Canon Inc Reading device

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