JPS61226915A - Device for identifying wafer - Google Patents

Device for identifying wafer

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JPS61226915A
JPS61226915A JP6781285A JP6781285A JPS61226915A JP S61226915 A JPS61226915 A JP S61226915A JP 6781285 A JP6781285 A JP 6781285A JP 6781285 A JP6781285 A JP 6781285A JP S61226915 A JPS61226915 A JP S61226915A
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JP
Japan
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wafer
wave
antenna
sweep
resonator
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JP6781285A
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Japanese (ja)
Inventor
Sumio Yabe
矢部 純夫
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof

Abstract

PURPOSE:To realize high-speed identification of wafer, by mounting resonators and a loop coil by corresponding to wafers, and composing an antenna which transmits a sweep frequency wave to it and a detecting part which separates an information signal from a reflected wave. CONSTITUTION:A sweep wave on a medium band, which is generated in a sweep oscillator 310, is amplified in an amplifier 320, reaching a transmitting antenna 210. When an ID card 100 comes close to the transmitting antenna 210, ceramic resonators, with the sweep wave taken by a loop coil nearly becoming the resonance frequency wave, enter a resonant state, reflecting energy at the peak of the resonant state at the resonant frequency, and a reflected wave is reflected at the loop coil. This reflected wave is detected by a receiving antenna 220, however, its amount being extremely slight. Hence, use of a ringing detection method causes the ceramic resonators to successively resonate to generate a ringing, and the ringing signal is synchronized and detected by a detector 250 so as to take effective information at an amplifying-shaping device 330 in which a matched filter is used.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はウェーハの識別装置に関するもので、特に半導
体装置の製造におGJる自動化ラインに使用されるもの
である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a wafer identification device, and is particularly used in an automated line in a GJ for manufacturing semiconductor devices.

〔発明の技術的背頽〕[Technical background of the invention]

半導体装置の製造においてはウェーハを中位どして各■
程が行われるため、各工程の製造装置問でつ■−ハの搬
送が行われる。このつ]−−ハの搬送においでtit複
数のつJ−ハを収納しkI′)I−ハカレツ1〜あるい
はつJ−ハ収納箱を搬送)幾横を用いて移送りるように
して43す、自動搬送設置16 ’b IIIいられて
いる。
In the manufacturing of semiconductor devices, wafers are placed in the middle and each
As the process is carried out, transportation of (1) to (3) is performed between the manufacturing equipment of each process. When transporting multiple pieces, store multiple pieces and transport them using several sides. Automatic transport installation 16'b III is required.

このようイ「つ■−ハの搬送1111には搬送対象つ[
−ハの識別が車装であり、つJ−へカレッI〜やこれを
jハ載して移動づる搬送台にバー」−ド、文字等の識別
標識を設(J、これを光学的に検出するJ、うにしてい
る。
In this case, the transport object 1111 is
The identification of the car is installed in the vehicle, and identification signs such as bars and letters are installed on the transport platform on which it is loaded and moved (J). Detect J, sea urchin.

第2図はウェーハ搬送システムどして有名4丁パリアン
相の゛’、d−1−1−ラック″シスデムにお(Jるつ
I−ハ識別機構の概要を示り゛一部切欠き斜視図Cある
。これによれば、複数のウェーハ6を収納したつ、■−
ハカレッh 5を載置した搬送用台車4が直行り−るレ
ール3 Exおよび3bの上を移動するJ、うに>rっ
ており、これらの交差部には搬送用台車4の移動方向を
回転により90°変化させるターンテーブル10が設置
−Jられている。これらはカバー1a、1bにより被わ
れて塵埃を防止しており、全体は台足2により床面上方
に支えられている。ターンテーブル10の(l近のレー
ル3aの側方には搬送用台中4の側面に設【Jられたバ
ーコード9を読み取る光学的読取装置7が設【プられて
いる。バーコード9の読取を正確に行うため搬送用台車
4の端部を検出しその検出信号で搬送機構の駆動を停止
させるための停止用センサ8が読取装置7に隣接して設
けられている。
Figure 2 shows an overview of the identification mechanism of the famous 4-rack Parian phase wafer transfer system (partially cut away and shown in perspective). There is a figure C. According to this, when a plurality of wafers 6 are stored,
The transport trolley 4 on which the transport trolley 4 is mounted runs directly on the rails 3 Ex and 3b. A turntable 10 is installed which can be rotated by 90 degrees. These are covered with covers 1a and 1b to prevent dust, and the whole is supported above the floor by pedestals 2. On the side of the rail 3a near the turntable 10, an optical reading device 7 is installed to read the barcode 9 marked on the side of the conveyance table 4. In order to accurately perform this, a stop sensor 8 is provided adjacent to the reading device 7 to detect the end of the transport carriage 4 and stop the drive of the transport mechanism based on the detection signal.

この搬送システムではレール3aを移動してレール交差
部にさしかかった搬送用台車4は停止用センサ−8によ
り駆動が停止されるため所定の読取位置でバーコード9
が読み取られる。この読み取られたバーコード情報に基
づき制御装置(図示lず)はいずれの搬送先に搬送する
かを定め、駆動機構およびターンテーブル10の制御が
行われる。
In this conveyance system, when the conveyance cart 4 moves along the rails 3a and approaches a rail intersection, its drive is stopped by the stop sensor 8, so the barcode 9 is read at a predetermined reading position.
is read. Based on the read barcode information, a control device (not shown) determines to which destination the material is to be transported, and controls the drive mechanism and turntable 10.

〔背景技術の問題点〕[Problems with background technology]

しかしながら、このような搬送システムにおいては検出
器である読取装置等に対しバーコード等の識別標識の停
止位置あるいは移動速度を高精度に維持しな【ノればな
らず、機構が複雑かつ高価なものど4Tるという問題が
ある。
However, in such a conveyance system, it is necessary to maintain the stop position or movement speed of identification marks such as barcodes with high precision for the reader, which is a detector, and the mechanism is complicated and expensive. However, there is a problem with 4T.

まIこ、識別標識は汚れ、退色等にJ:す、読取精度が
劣化づるという問題もある。
However, there is also the problem that the identification marks are subject to stains, fading, etc., and the reading accuracy deteriorates.

(発明の目的〕 本発明はこのような問題点を解決JるIこめなされたも
ので、曲用な構成でしかも識別の信頼性の高いウェーハ
の識別装置を提供することを目的とする。
(Objective of the Invention) The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a wafer identification device that has a flexible structure and has high identification reliability.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

上記目的達成のため、本発明においてはウェーへの識別
情報に対応して定められた共振周波数を有する共振子お
J、びこねに接続されたループコイルとを備えにウェー
ハ収納容器の搬送路に治って設【ノられたアンテナと、
このアンテナに掃引電磁波を供給りる掃引送信部ど、こ
の掃引電磁波に共振子が共振したどきに発せられ、アン
テナで検出された反りj波を分1ill L、てウェー
ハの識別情報を取出す検出部とを備えるようにしている
。これにより高速でかつ信頼性の高いウェーハ識別が可
能どなる。
In order to achieve the above object, in the present invention, a resonator having a resonant frequency determined in accordance with the identification information of the wafer, and a loop coil connected to the resonator are provided in the transport path of the wafer storage container. The antenna that was repaired and installed,
A sweep transmitting section supplies sweep electromagnetic waves to this antenna, and a detection section extracts wafer identification information by detecting the warped j-waves emitted when the resonator resonates with the sweep electromagnetic waves and detected by the antenna. I am trying to prepare for this. This enables fast and reliable wafer identification.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下図面を参照しながら本発明の一実施例を説明Jる。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明にかかるウェーハの識別装置の全体の構
成を示ず斜視図であって、各■程の装置間に配設された
搬送軌道11の上にはこの搬送軌道11上を自走し、ま
たは搬送機構によって自由に移動する搬送台車12が搭
載されている。この搬送台車12の上にはウェーへカセ
ッ1−等のウェーハ収納容器13が載置され搬送台車の
移動によりT秒間を移動する。また、ウェーハ収納容器
13の進行方向に直角な一方側側面にはカードガイド1
4が設けられており、このカードガイド14にはセラミ
ック共振子等の共振子とこれに並列接続されたループコ
イルとを備えたIDカード15が挿入され保持される。
FIG. 1 is a perspective view, not showing the entire structure of the wafer identification device according to the present invention. A transport carriage 12 is mounted which can be freely moved by a transport mechanism or a transport mechanism. A wafer storage container 13 such as a wafer cassette 1- is placed on the carrier 12, and is moved for T seconds by the movement of the carrier. Further, a card guide 1 is provided on one side surface perpendicular to the traveling direction of the wafer storage container 13.
4, and an ID card 15 including a resonator such as a ceramic resonator and a loop coil connected in parallel to the resonator is inserted into and held in the card guide 14.

一方、このIOカード側の搬送軌道に沿った位置にはI
Dカード15の高さに合わ°けてアンテナ17が支柱1
6に支えられて配設されている。このアンテナは近づい
た共振子に対し所定の電磁波を散開−するど」(に」を
振子からの反射波を検出Jるためのbのである。アンー
テナ17は送受信部18、ケーブル19を経で制t11
′!A薗20に接続され、制御装量20からは検出出力
が取り出されるにうになっている。
On the other hand, there is an I
The antenna 17 is attached to the support post 1 to match the height of the D card 15.
It is supported by 6. This antenna is used to spread a predetermined electromagnetic wave toward the approaching resonator and then detect the reflected wave from the pendulum. t11
′! It is connected to the A-zono 20, and the detection output is taken out from the control unit 20.

第2図はこのJ、う<rつJ−ハの識別装置の構成とf
[用を説明Jるブ[]ツク図であって、第1図の構成に
合t! −U I Dカード部100、送受信部200
、制御部300に大別される。
Figure 2 shows the configuration of this J, u<rtsu J-c identification device and f
[Explanation of use] This is a block diagram that matches the configuration of Figure 1! -UID card section 100, transmitter/receiver section 200
, and a control section 300.

2EずII′)カード部100はル−プコイル101ど
これに並列に接続された複数のセラミック共振子102
1・〜102oにより構成され、このしノミツクJ〔振
子1021〜102oはそれぞれ固有のJt振円周波数
1〜[nを有している。
2EzuII') The card section 100 includes a loop coil 101 and a plurality of ceramic resonators 102 connected in parallel to each other.
1.~102o, each of the pendulums 1021~102o has a unique Jt circular frequency 1~[n.

次に送受信部200は制御装置200から出力された掃
引波(後述)を送信Jるアンテプ210、セラミック共
振子からの応答信号を受信りる受信アンテノ220、受
信アンテプに対して基本周波数f。を発(1−71,て
特に故障診断を行うためのマーh 230、受信信号を
5)lilllてリンギング成分を取出づ一フィルタ2
401フィルタリングされた信号を制御部300中に掃
引発振器310の出力どの整合から有効41信号成分を
取出す検波器250とを偵1えている。
Next, the transmitting/receiving unit 200 sets the fundamental frequency f to the antenna 210 that transmits the sweep wave (described later) output from the control device 200, the receiving antenna 220 that receives the response signal from the ceramic resonator, and the receiving antenna. (1-71, especially for fault diagnosis) 230, the received signal is extracted from the ringing component by filter 2.
A detector 250 extracts the effective 401 signal component from the output of the sweep oscillator 310 and outputs the 401 filtered signal into the controller 300.

次に制御部300は周波数が時間と共に変化する掃引波
を発生J−る1吊用発振器310、この出力で掃引信号
を増幅する増幅器320、および検波器250の出力を
増幅し波形整形を行う増幅整形部330、掃引発振器3
10から発生された同期パルスで作動し、最終的な検出
信号を過去の3パルス分蓄積する3段の入力レジスタ3
40゜350.360を有し−Cおり、この入力レジス
タの内容は照合検定部370おにび定マーク検定部38
0によって、得られた信号に含まれる情報が取出され、
各製造用装置を集中管理しているコンピュータへ送出さ
れる。
Next, the control unit 300 includes an oscillator 310 that generates a sweep wave whose frequency changes over time, an amplifier 320 that amplifies the sweep signal with this output, and an amplifier that amplifies the output of the detector 250 and shapes the waveform. Shaping section 330, sweep oscillator 3
A three-stage input register 3 that is activated by the synchronization pulse generated from 10 and stores the final detection signal for the past three pulses.
-C has 40°350.360, and the contents of this input register are as follows:
0 extracts the information contained in the obtained signal,
It is sent to a computer that centrally manages each manufacturing device.

次に本発明にJ:るウェーハの識別装置の動作を説明J
る。
Next, the operation of the wafer identification device according to the present invention will be explained.
Ru.

掃引発振器310で生成された中波帯の掃引波は増幅器
320で増幅されて送信アンテプ210に〒る。この送
信アンテノ210にIDカード100が近接J−るとセ
ラミック共振子はループ=1イルで受4’;J’ L:
Jられた掃引波がその共振周波数に近づくと共振状態に
入り、Jし円周波数での共振状態のピークの際−Lネル
Y−を反則する。′IJなわち反射波がループ=1イル
から反射される。この反射波は受1ハアン7プ220に
より検出される。しかしながらこの反則波は非常に微弱
である。このため反射波に対して特別の変調を行う必要
があり、最も効果の大ぎいものの一つとしてリンギング
検出方式がある。これは送信波として棉引速痘の十分速
い掃引波を用い、セラミック共振子を次々と共振さlて
リンギングを起こさせ、このリンギング信号を検出り−
る方法である。このリンギング信号の検出にあたつ−(
1,i検波器250が打つ(いるにり受信波を掃引波を
基準周波数として同期検波をJるのが有効て・あり、発
信波と受信波の差はリンギングご−1〜と称される。こ
のリンキングヒ゛−1−から有効な情報を取出?lIこ
めに増幅整形器330どしてはマツブトフィルタを使用
することが有効である。このようにしてセラミック共振
子からの反射波はフィルタ240、検波器250、増幅
整形器を経るうちに情報パルスが取出され、これをレジ
スタ34o、350.360や各種検定部370.38
0を通すことによって有効な情報が得られる。
The swept wave in the medium wave band generated by the sweep oscillator 310 is amplified by the amplifier 320 and sent to the transmission amplifier 210. When the ID card 100 comes close to this transmitting antenna 210, the ceramic resonator receives the signal with a loop of 1.
When the swept wave approaches its resonant frequency, it enters a resonant state, and at the peak of the resonant state at the J's circular frequency, it violates the -L channel. 'IJ, that is, the reflected wave is reflected from loop=1il. This reflected wave is detected by the receiving amplifier 220. However, this counter-wave is very weak. For this reason, it is necessary to perform special modulation on the reflected waves, and one of the most effective methods is a ringing detection method. This method uses a sufficiently fast sweeping wave of the cotton resonator as a transmission wave, causes the ceramic resonators to resonate one after another to cause ringing, and detects this ringing signal.
This is a method to To detect this ringing signal - (
1. It is effective to perform synchronous detection using the swept wave as the reference frequency for the received wave by the i-detector 250, and the difference between the emitted wave and the received wave is called ringing - 1. It is effective to use a Matsubuto filter for the amplification shaper 330 to extract valid information from this linking pin 1-1.In this way, the reflected wave from the ceramic resonator is filtered by the filter 240. , a detector 250, and an amplification shaper, the information pulse is extracted and sent to the registers 34o, 350, 360 and various verification units 370, 38.
Valid information can be obtained by passing 0.

このようhウェーハ識別装置は識別対象物が100KI
R/h程度の高速で移動しでいても一1分に信頼性の高
い読み取りが可能である。
In this type of wafer identification device, the number of objects to be identified is 100KI.
Even when moving at high speeds such as R/h, highly reliable reading is possible in 11 minutes.

なお、共振子は1個だりでもよいが、複数個の組合わせ
ることにより表現できる情報量が増加する。ウェーハの
識別にあたってはロツI・番号を取出すようにするのが
管理」−最も好都合であるが、他の情報を表現するよう
にしてもよい。
It should be noted that although only one resonator may be used, the amount of information that can be expressed increases by combining a plurality of resonators. When identifying a wafer, it is most convenient to extract the lot I number, but other information may be expressed.

また上述の実施例ではセラミック共振子とループコイル
をカードの形どしてウェーハ収納容器に取外し自在の形
態で取付けるようにしているが、ウェーバカヒツト自体
にこれらを埋め込み品種に応じてウェーバカ[ブトを使
い分けるようにしてもよい。
Furthermore, in the above embodiment, the ceramic resonator and loop coil are shaped like cards and removably attached to the wafer storage container, but they are embedded in the wafer cartridge itself and can be attached to the wafer container [button] depending on the product type. You may use them differently.

さらに共振子どlノては実施例(パはしうミック共振子
を用いており掃引波もそれに合致し!ご中波を用いてい
るが、他の各種の振動子およびこれに対応1)だ電磁波
を用いることができる1゜またアンアブ【、1送信アン
テナと受信1ンテナを別々に段()ても同一アンアブで
兼用するようにしてもJ:い。
In addition, the resonator is an example (a dynamic resonator is used, and the swept wave also matches that! Although a medium wave is used, various other types of resonators and corresponding 1) are used. It is possible to use electromagnetic waves.Also, one transmitting antenna and one receiving antenna can be used separately, or the same antenna can be used for both purposes.

〔発明の効彎〕[Efficacy of invention]

以十のように本発明によれば共振子およびループ]イル
を識別すべきウェーハに対応して設【′JでJ3き、こ
れに掃引周波数を送信Jるアンテナおよび掃引LX (
i’i部と、共振子の共振にJ:り発せられる反対波か
ら情報信号を分1il11りる検出部とを設(〕るにう
にしているので、高信頼v1で高速のウェーハ識別がO
■能である。しかも識別の際ウェーハの停止等を行わな
く ’U J、い!こめ、搬送系の構造が単純で済み、
設備費の低価格化が司能である。
As described above, according to the present invention, a resonator and a loop antenna are set up corresponding to the wafer to be identified, and a sweep frequency is transmitted to the antenna and a sweep LX (
Since the i'i part and the detection part which separates the information signal from the opposite wave emitted by the resonance of the resonator are installed, high-speed wafer identification with high reliability is possible. O
■It is Noh. Moreover, there is no need to stop the wafer during identification. In addition, the structure of the conveyance system is simple,
The key is to reduce equipment costs.

さらに汚れ等による読み取り誤差がなく、Jt振側には
電源が不要でかつ長寿命である。
Furthermore, there are no reading errors due to dirt, etc., no power supply is required on the Jt swing side, and it has a long life.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明(Jかかるlつ1−ハの識別駅iNの全
1本構成を承り斜視図、第2図【、1ぞの内部(14成
を小づ/1−ミック図、第3図13L従来の搬送シス−
〕−ムにJi LJる識別装置を説明りる一部切欠斜祝
図−(′ある。 11・・・搬送軌道、12・・・搬送台中、1:3・・
・つ■−ハ収納容器、l り、 100・・(Dカード
。 17・・・)ノンテノ、18.20(’)・・・送受活
部、20゜300・・・制御装置、101・・・ループ
−1イル、102・・・1!ラミック発1辰子、2゛1
0・・・送1ハアンテナ、220・・・受信ノlンノノ
、240・・・ノイルタ、25jO・・・検波器、31
0・・・掃引発振器、△・・・受1吉部、13・・・処
理部。 出願人代理人  猪  股    漬 第3図 手続補正書 昭和60年5月2日
Fig. 1 is a perspective view of the present invention (1-1 identification station iN) according to the present invention; 3 Figure 13L Conventional conveyance system
] - Partially cutaway oblique diagram explaining the identification device in the room - (') 11...transportation track, 12...inside the transport platform, 1:3...
・tsu■-ha storage container, 100... (D card. 17...) nonteno, 18.20 (')... sending and receiving activity department, 20°300... control device, 101...・Loop-1il, 102...1! 1 Tatsuko from Ramik, 2゛1
0... Transmission 1 C antenna, 220... Receiving non-nono, 240... Noirta, 25jO... Detector, 31
0: Sweep oscillator, △: Ukeichibe, 13: Processing unit. Applicant's agent Tsuke Inomata Figure 3 procedural amendment May 2, 1985

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、搬送するウェーハの識別情報に対応して定められた
共振周波数を有する1または2以上の共振子およびこれ
に接続されたループコイルとを搭載したウェーハ収納容
器の搬送路に沿って設けられたアンテナと、 このアンテナに掃引電磁波を供給する掃引送信部と、 このアンテナから発せられた前記掃引電磁波に前記共振
子が共振したときに前記共振子から発せられ、前記アン
テナで検出された反射波を分離し、前記ウエーハの識別
情報を取出す検出部と、を備えたウエーハの識別装置。 2、共振子がセラミック共振子であり、共振周波数が中
波帯域である特許請求の範囲第1項記載のウェーハの識
別装置。 3、共振子およびループコイルが取外し自在のカード状
に形成され、ウェーハ収納容器に取付けられるようにな
つている特許請求の範囲第1項記載のウェーハの識別装
置。 4、共振子およびループコイルがウェーハ収納容器内に
組込まれた特許請求の範囲第1項記載のウェーハの識別
装置。 5、検出装置が共振子の共振による反射波をマッチッド
フィルタにより検出するようにしてなる特許請求の範囲
第1項ないし第4項のいずれか記載のウェーハの識別装
置。
[Claims] 1. A transport path of a wafer storage container equipped with one or more resonators having a resonant frequency determined in accordance with the identification information of the wafer to be transported and a loop coil connected to the resonators. an antenna provided along the antenna; a sweep transmitter that supplies a swept electromagnetic wave to the antenna; A wafer identification device comprising: a detection unit that separates a detected reflected wave and extracts identification information of the wafer. 2. The wafer identification device according to claim 1, wherein the resonator is a ceramic resonator and the resonant frequency is in a medium wave band. 3. The wafer identification device according to claim 1, wherein the resonator and the loop coil are formed in the form of a removable card and are adapted to be attached to a wafer storage container. 4. The wafer identification device according to claim 1, wherein the resonator and the loop coil are incorporated in a wafer storage container. 5. A wafer identification device according to any one of claims 1 to 4, wherein the detection device detects reflected waves due to resonance of a resonator using a matched filter.
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