JPS61213674A - 自動化学分析装置 - Google Patents
自動化学分析装置Info
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- JPS61213674A JPS61213674A JP5638285A JP5638285A JPS61213674A JP S61213674 A JPS61213674 A JP S61213674A JP 5638285 A JP5638285 A JP 5638285A JP 5638285 A JP5638285 A JP 5638285A JP S61213674 A JPS61213674 A JP S61213674A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/251—Colorimeters; Construction thereof
- G01N21/253—Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は、反応セルにおける測定に悪影響を及ぼす要因
を検証可能な直接測光方式の自動化学分析装置に関する
ものである。
を検証可能な直接測光方式の自動化学分析装置に関する
ものである。
［発明の技術的背景］
最近の自動化学分析装置においては、処理能力の増加、
測光項目の増大及びランニングコスト低減のための試料
の微量化の傾向にある。
測光項目の増大及びランニングコスト低減のための試料
の微量化の傾向にある。
試料の微量化については、反応管直接測光方式を採用す
ることにより対処し、処理能力の増加や測定項目の増加
については反応セルや測光部の増加により対処している
。
ることにより対処し、処理能力の増加や測定項目の増加
については反応セルや測光部の増加により対処している
。
ところで、上記装置において測光データの悪化する要因
を観察すると、反応セルに気泡が付着し−測定光を散乱
させたり、異物が混入して測定光を遮蔽したりして試料
に対する頁の透過光量が得られないことや、光度計の検
知可能な最小限の光量が一定であるにもかかわらず透過
光量が反応セルの汚れのため減少しこの結果光度計の分
解能が低下すること、さらには、試料に当った測定光が
光度計まで到達しないで迷光となる割合が多くなるため
測定データの誤差の割合が増えること等を挙げることが
できる。
を観察すると、反応セルに気泡が付着し−測定光を散乱
させたり、異物が混入して測定光を遮蔽したりして試料
に対する頁の透過光量が得られないことや、光度計の検
知可能な最小限の光量が一定であるにもかかわらず透過
光量が反応セルの汚れのため減少しこの結果光度計の分
解能が低下すること、さらには、試料に当った測定光が
光度計まで到達しないで迷光となる割合が多くなるため
測定データの誤差の割合が増えること等を挙げることが
できる。
このような測定データの悪化を生じさせる要因を検証す
るため、直接測光方式の自動化学分析装置においては反
応セルに純水を注入し、その反応セルを測光して得られ
る純水の透過光量（以下「１００％Ｔ値」ともいう。）
を基に反応セルの気泡付着の有無、異物の混入、汚れの
程度等を判別する検証手段が採用されている。この１０
０％Ｔ値をＩｏ、未知試料の透過光量を１．未知試料の
吸光度をＥとすれば、これらの関係は下記（１）式％式
％ ［背景技術の問題点］ しかしながら、従来の検証手段においては、多数の反応
セルから得られたそれぞれの純水の透過光量をプリンタ
等によりそのまま表示していたので、オペレータは膨大
な測光データの中から異常データを探さなければならな
ず、検証漏れが起る可能性が強かった。
るため、直接測光方式の自動化学分析装置においては反
応セルに純水を注入し、その反応セルを測光して得られ
る純水の透過光量（以下「１００％Ｔ値」ともいう。）
を基に反応セルの気泡付着の有無、異物の混入、汚れの
程度等を判別する検証手段が採用されている。この１０
０％Ｔ値をＩｏ、未知試料の透過光量を１．未知試料の
吸光度をＥとすれば、これらの関係は下記（１）式％式
％ ［背景技術の問題点］ しかしながら、従来の検証手段においては、多数の反応
セルから得られたそれぞれの純水の透過光量をプリンタ
等によりそのまま表示していたので、オペレータは膨大
な測光データの中から異常データを探さなければならな
ず、検証漏れが起る可能性が強かった。
また、全ての反応セルの透過光量の許容範囲を決め一率
に検証を行う方法もあるが、この場合には個々の反応セ
ルの汚れの程度が異なったり反応セルの表面の曇り具合
が異なるため純水の透過光量の許容範囲が１００％Ｔ値
の適否の検証ができなくなるほど広がってしまうという
問題があった。
に検証を行う方法もあるが、この場合には個々の反応セ
ルの汚れの程度が異なったり反応セルの表面の曇り具合
が異なるため純水の透過光量の許容範囲が１００％Ｔ値
の適否の検証ができなくなるほど広がってしまうという
問題があった。
これらの問題は、最近の自動化学分析装置のように処理
速度３００検体／時間、最大項目３２項目（比色のみ）
、最大反応時間４２０秒（７分）、反応セル本数１４０
８本というような高性能のものにおいて顕著である。
速度３００検体／時間、最大項目３２項目（比色のみ）
、最大反応時間４２０秒（７分）、反応セル本数１４０
８本というような高性能のものにおいて顕著である。
［発明の目的］
本発明は上記事情に鑑みて成されたものであり、多数の
反応セルにおける測定に恩彰胃を及ぼす要因の妥当性あ
る検証を実現することができる自動化学分析装置を提供
することを目的とするものである。
反応セルにおける測定に恩彰胃を及ぼす要因の妥当性あ
る検証を実現することができる自動化学分析装置を提供
することを目的とするものである。
［発明の概！！］
上記目的を達成するための本発明の概要は、多数の反応
セル中に純水を注入し直接測光方式により得られる個々
の反応セルの測光データを基に反応セルの適否を検証す
るようにした自動化学分析装置において、個々の反応セ
ル毎の測光データを基にその累積回数、累積値、累積平
均を算出して記憶するとともに累積回数、累積値の初期
設定及び更新が可能な累積データ算出制御部と、個々の
反応セル毎の測光データとその累積平均との偏差を求め
る偏差算出部と、前記偏差が所定の許容範囲であるか否
かを判別し許容範囲内であればそのときの測光データに
より対応する反応セルの累積値及び累積回数を更新し、
許容範囲外であれば対応す゛る反応セル情報を表示可能
な判別表示部とを有することを特徴とするものである。
セル中に純水を注入し直接測光方式により得られる個々
の反応セルの測光データを基に反応セルの適否を検証す
るようにした自動化学分析装置において、個々の反応セ
ル毎の測光データを基にその累積回数、累積値、累積平
均を算出して記憶するとともに累積回数、累積値の初期
設定及び更新が可能な累積データ算出制御部と、個々の
反応セル毎の測光データとその累積平均との偏差を求め
る偏差算出部と、前記偏差が所定の許容範囲であるか否
かを判別し許容範囲内であればそのときの測光データに
より対応する反応セルの累積値及び累積回数を更新し、
許容範囲外であれば対応す゛る反応セル情報を表示可能
な判別表示部とを有することを特徴とするものである。
［発明の実施例］
以下に本発明の実施例を詳細に説明する。第１図は実施
例装置の概略構成を示すものであり、同図中１は自動化
学分析部、２は分析データ処理部である。
例装置の概略構成を示すものであり、同図中１は自動化
学分析部、２は分析データ処理部である。
自動化学分析部１は、多数の反応セル４を円形状に支持
し後述する分析データ処理部２のＣＰＬＩ５０により制
御されて同図矢印へ方向に１反応セル間隔で間欠的に回
転する反応ディスク３と、各種の試料を収納した多数の
試料容器６を円形状に支持しＣＰｔＪ５０により制御さ
れて反応ディスク３と同様同図矢印へ方向に回転するサ
ンプルディスク５と、純水で満たされた純水ボトル７、
ＣＰＵ５０により制御される純水供給ポンプ８及び純水
注入ノズル９を具備し前記各反応セル４に純水を注入す
る純水注入部１０と、試薬で満たされた試薬ボトル１１
．ＣＰＵ５０により制御される試薬ポンプ１２°及び試
薬注入ノズル１３を具備し前記各反応セル４に試薬を注
入する試薬注入部１４と、ＣＰＵ５０により制御されて
前記サンプルディスク５上の試料容器６と反応ディスク
３上の反応セル４間を移動するサンプリングノズル１５
及びサンプリングポンプ１６を具備し試料の吸引。
し後述する分析データ処理部２のＣＰＬＩ５０により制
御されて同図矢印へ方向に１反応セル間隔で間欠的に回
転する反応ディスク３と、各種の試料を収納した多数の
試料容器６を円形状に支持しＣＰｔＪ５０により制御さ
れて反応ディスク３と同様同図矢印へ方向に回転するサ
ンプルディスク５と、純水で満たされた純水ボトル７、
ＣＰＵ５０により制御される純水供給ポンプ８及び純水
注入ノズル９を具備し前記各反応セル４に純水を注入す
る純水注入部１０と、試薬で満たされた試薬ボトル１１
．ＣＰＵ５０により制御される試薬ポンプ１２°及び試
薬注入ノズル１３を具備し前記各反応セル４に試薬を注
入する試薬注入部１４と、ＣＰＵ５０により制御されて
前記サンプルディスク５上の試料容器６と反応ディスク
３上の反応セル４間を移動するサンプリングノズル１５
及びサンプリングポンプ１６を具備し試料の吸引。
吐出を行うサンプリング部１７と、前記反応セル４の移
動経路を挟んで配置された光源ランプ１８及び光度計１
９を有しＣＰＵ５０により制御される測光系２０と、Ｃ
ＰＵ５０により制御される洗浄用シリンジ２１及び洗浄
ノズル２２を具備し前記反応セル４の洗浄を行う洗浄部
２３と、前記反応セル４内の反応液の排液を行う反応液
排出手段（図示せず）と、前記反応セル４内の反応液を
撹拌する撹拌部２４とを有して構成されている。
動経路を挟んで配置された光源ランプ１８及び光度計１
９を有しＣＰＵ５０により制御される測光系２０と、Ｃ
ＰＵ５０により制御される洗浄用シリンジ２１及び洗浄
ノズル２２を具備し前記反応セル４の洗浄を行う洗浄部
２３と、前記反応セル４内の反応液の排液を行う反応液
排出手段（図示せず）と、前記反応セル４内の反応液を
撹拌する撹拌部２４とを有して構成されている。
ここで、前記反応ディスク３についてさらに詳述する。
いま、第２図に示すような４８１１Ｍの反応セル４が同
図に示す位置にあるとき各反応セル４の位置をＰ１〜Ｐ
４８で表し、試料分注位置をＰｌ、試薬分注位置をＰ２
純水供給位置をＰＩｌｌ、撹拌位置をＰｔｇ、測光位置
をＰｚｚ、反応液排液位置をＰ３６、洗浄位置をＰ３７
〜Ｐ４Ｇでそれぞれ表すものとする。
図に示す位置にあるとき各反応セル４の位置をＰ１〜Ｐ
４８で表し、試料分注位置をＰｌ、試薬分注位置をＰ２
純水供給位置をＰＩｌｌ、撹拌位置をＰｔｇ、測光位置
をＰｚｚ、反応液排液位置をＰ３６、洗浄位置をＰ３７
〜Ｐ４Ｇでそれぞれ表すものとする。
反応ディスク３はＣＰＵ５０により制御されるとともに
特定の反応セル４が特定の位置、例えば試料分注位置Ｐ
２にあることを示す信号をＣＰＵ５０へ送出するように
構成されている。
特定の反応セル４が特定の位置、例えば試料分注位置Ｐ
２にあることを示す信号をＣＰＵ５０へ送出するように
構成されている。
尚、第２図に示すような位置に各反応セル４があるとき
、この位置を「ホームポジション］と称するものとする
。そして、ＣＰＵ５０は各反応セル４のホームポジショ
ン及びその後の回転位置をそれぞれＤＩできるようにな
っている。
、この位置を「ホームポジション］と称するものとする
。そして、ＣＰＵ５０は各反応セル４のホームポジショ
ン及びその後の回転位置をそれぞれＤＩできるようにな
っている。
前記測光系２０は第３図に示すように光源ランプ１８か
ら光度計１９への光路が前記測光位ｌ１ＰＵにおいて反
応セル４を透過するように配置されている。そして、光
度計１９は光源ランプ１８からの光を受光する回折格子
２５と、この回折格子２５からの回折光を通過させるス
リット２６と、スリット２６を経た回折光を受光し電気
信号に変換して反応セル４の測光データとして送出する
検知器２７を具備している。
ら光度計１９への光路が前記測光位ｌ１ＰＵにおいて反
応セル４を透過するように配置されている。そして、光
度計１９は光源ランプ１８からの光を受光する回折格子
２５と、この回折格子２５からの回折光を通過させるス
リット２６と、スリット２６を経た回折光を受光し電気
信号に変換して反応セル４の測光データとして送出する
検知器２７を具備している。
次に、前記分析データ処理部２について詳述する。
分析データ処理部２は、第４図に示すように前記光度計
１９からの測光データをアナログデジタル変換するＡ／
Ｄ変換器３１と、デジタル信号に変換された測光データ
を取り込み、これを送出するデータ取り込み部３２と、
前記測光データを是に個々の測光データの累積回数、累
積値、累積平均の算出及び記憶を行い、かつ、これら累
積データの初期化をも行う累積データ算出制御部３３と
、前記測光データ及び累積平均を基に両者の偏差を算出
する偏差算出部３４と、測光データ及び偏差を入力しそ
の偏差が所定の許容Ｖ！囲にあるか否かを判別し許容範
囲内であれば前記測光データを累積データ算出制御部３
３に°送出するとともに許容範囲になければ対応する反
応セル情報を送出する１００％丁検証部３５及び前記反
応セル情報を表示する表示手段であるプリンタ３６から
なる判別表示部３７とを有して構成されている。
１９からの測光データをアナログデジタル変換するＡ／
Ｄ変換器３１と、デジタル信号に変換された測光データ
を取り込み、これを送出するデータ取り込み部３２と、
前記測光データを是に個々の測光データの累積回数、累
積値、累積平均の算出及び記憶を行い、かつ、これら累
積データの初期化をも行う累積データ算出制御部３３と
、前記測光データ及び累積平均を基に両者の偏差を算出
する偏差算出部３４と、測光データ及び偏差を入力しそ
の偏差が所定の許容Ｖ！囲にあるか否かを判別し許容範
囲内であれば前記測光データを累積データ算出制御部３
３に°送出するとともに許容範囲になければ対応する反
応セル情報を送出する１００％丁検証部３５及び前記反
応セル情報を表示する表示手段であるプリンタ３６から
なる判別表示部３７とを有して構成されている。
累積データ算出制御部３３は、第５図に示すように４８
個の反応セル４毎の累積回数及び累積値を記憶するメモ
リである累積表３８と、前記データ取り込み部３２から
の測光データ及び累積表３８から読み出した対応する反
応セル４の累積回数を入力し、累積回数が初期値（−０
）ならば入力した測光データを累積表３８に対応する反
応セル４の累積値として書き込み、かつ、その累積回数
を１とするとともに、測光データを前記偏差算出部３３
へ送出する初回累積部３９と、前記累積表３８から各反
応セル４毎の累積回数及び累積値を読み出し除算処理し
て累積平均を求めこれを前記１００％丁検証部３５へ送
出する累積平均算出部４０と、１００％丁検証部３５か
らの測光データを入力しこの測光データを基に累積表３
８の対応する反応セル４の累積回数及び累積値を更新す
る累積操作部４１と、前記累積表３８の各反応セル４ｆ
ｆｉの累積回数及び累積値を初期化する初期化部４２と
を有して構成されている。
個の反応セル４毎の累積回数及び累積値を記憶するメモ
リである累積表３８と、前記データ取り込み部３２から
の測光データ及び累積表３８から読み出した対応する反
応セル４の累積回数を入力し、累積回数が初期値（−０
）ならば入力した測光データを累積表３８に対応する反
応セル４の累積値として書き込み、かつ、その累積回数
を１とするとともに、測光データを前記偏差算出部３３
へ送出する初回累積部３９と、前記累積表３８から各反
応セル４毎の累積回数及び累積値を読み出し除算処理し
て累積平均を求めこれを前記１００％丁検証部３５へ送
出する累積平均算出部４０と、１００％丁検証部３５か
らの測光データを入力しこの測光データを基に累積表３
８の対応する反応セル４の累積回数及び累積値を更新す
る累積操作部４１と、前記累積表３８の各反応セル４ｆ
ｆｉの累積回数及び累積値を初期化する初期化部４２と
を有して構成されている。
尚、前記分析データ処理部２は第１図に示すように操作
パネル４３及び各構成部間の信号の伝送を受は持つイン
ターフェース４４を含み、前記初回累積部３９．累積平
均算出部４０．累積操作部４１、初期化部４２、偏差算
出部３３及び１００％丁検証部３５はＣＰＬＪ５０に含
まれて構成されている。
パネル４３及び各構成部間の信号の伝送を受は持つイン
ターフェース４４を含み、前記初回累積部３９．累積平
均算出部４０．累積操作部４１、初期化部４２、偏差算
出部３３及び１００％丁検証部３５はＣＰＬＪ５０に含
まれて構成されている。
また、前記測光系２０として単一波長の光を発行する光
源ランプ１８を用いるとともに第５図に示すような各反
応セル４毎の累積回数及び累積値を記憶する領域をもっ
た累積表３８を用いる場合のほか、複数の波長を発光す
る光源ランプ１８を用いて各反応セル４毎に複数の波長
の測光データあるいはこれらを組合せた測光データ（例
えば４個）を得るとともに第６図に示すように各反応セ
ル４毎に４個づつの累積回数及び累積値を記憶する領域
をもった累積表３８Ａを用いてもよい。
源ランプ１８を用いるとともに第５図に示すような各反
応セル４毎の累積回数及び累積値を記憶する領域をもっ
た累積表３８を用いる場合のほか、複数の波長を発光す
る光源ランプ１８を用いて各反応セル４毎に複数の波長
の測光データあるいはこれらを組合せた測光データ（例
えば４個）を得るとともに第６図に示すように各反応セ
ル４毎に４個づつの累積回数及び累積値を記憶する領域
をもった累積表３８Ａを用いてもよい。
次に上記構成の実施例装置の作用を第７図に示すこの装
置全体の処理過程を示すフローチャート及び第８図に示
す通常の反応セル４と汚れた反応セル４の１００％Ｔ値
の相違を示すグラフをも参照して説明する。尚、光源ラ
ンプ１８から放射される光の波長をλとし、このときの
通常の反応セル４の１００％Ｔ値をＴａ２汚れた反応セ
ル４の１００％Ｔ値をＴ１とする。また、自動化学分析
部１における通常の反応液に対する測光処理は説明の便
宜上省略する。
置全体の処理過程を示すフローチャート及び第８図に示
す通常の反応セル４と汚れた反応セル４の１００％Ｔ値
の相違を示すグラフをも参照して説明する。尚、光源ラ
ンプ１８から放射される光の波長をλとし、このときの
通常の反応セル４の１００％Ｔ値をＴａ２汚れた反応セ
ル４の１００％Ｔ値をＴ１とする。また、自動化学分析
部１における通常の反応液に対する測光処理は説明の便
宜上省略する。
いま、第２図に示すホームポジションにおいて測光位置
Ｐｎにある反応セル４には既に純水注入部１０により純
水が注入されているものとする。
Ｐｎにある反応セル４には既に純水注入部１０により純
水が注入されているものとする。
測光系２０の光源ランプ１８は波長λの光を測光位置Ｐ
２２にある反応セル４に放射する。
２２にある反応セル４に放射する。
この光は反応セル４及びその中の純水を透過し光度計１
９の回折格子２５で回折してスリット２６を経て検知器
２７で検知されるが、このとき反応セル４が汚れていた
場合には検知器２７により検知される１００％Ｔ値はＴ
１となり、この値が測光データとしてＡ／Ｄ変換器３１
に入力する。
９の回折格子２５で回折してスリット２６を経て検知器
２７で検知されるが、このとき反応セル４が汚れていた
場合には検知器２７により検知される１００％Ｔ値はＴ
１となり、この値が測光データとしてＡ／Ｄ変換器３１
に入力する。
一方、反応セル４が汚れていない場合にはそのときの１
００％Ｔ値はＴＯとなりこの値が測光データとしＡ／Ｄ
変換器３１に入力する。
００％Ｔ値はＴＯとなりこの値が測光データとしＡ／Ｄ
変換器３１に入力する。
Ａ／Ｄ変換器３１は入力した測光データをデジタル信号
に変換しデータ取り込み部３２を経て初回累積部３９へ
送出する。
に変換しデータ取り込み部３２を経て初回累積部３９へ
送出する。
初回累積部３９は入力した測光データに対応する反応セ
ル４の累積回数を累積表３８から読み出し、もし累積回
数が初期値であれば、この測光データを累積表３８に書
き込むとともに累積回数を１にする。
ル４の累積回数を累積表３８から読み出し、もし累積回
数が初期値であれば、この測光データを累積表３８に書
き込むとともに累積回数を１にする。
一方、累積表３８から読み出した累積回数が初期値でな
い場合には、初回累積部３９はその測光データを偏差算
出部３３へ送出する。
い場合には、初回累積部３９はその測光データを偏差算
出部３３へ送出する。
この初回累積部３９の動作と平行して累積平均算出部４
０は測光データに対応する反応セル４の累積回数及び累
積値を累積表３８から読み出し、累積値／累積回数の除
算を実行して累積平均を算出しその値を偏差算出部３３
へ送出する。
０は測光データに対応する反応セル４の累積回数及び累
積値を累積表３８から読み出し、累積値／累積回数の除
算を実行して累積平均を算出しその値を偏差算出部３３
へ送出する。
偏差算出部３３は、前記測光データ及び累積平均の間の
偏差を算出し、測光データ及び算出した偏差を１００％
丁検証部３５へ送出する。１００％丁検証部３５は、入
力した偏差及び測光データを基に偏差が予め設定された
所定の範囲（例えば５ ｍＡｂｓ以内）にあるか否かを
判別し、この範囲内であれば測光データを累積操作部４
１へ送出する。
偏差を算出し、測光データ及び算出した偏差を１００％
丁検証部３５へ送出する。１００％丁検証部３５は、入
力した偏差及び測光データを基に偏差が予め設定された
所定の範囲（例えば５ ｍＡｂｓ以内）にあるか否かを
判別し、この範囲内であれば測光データを累積操作部４
１へ送出する。
累積操作部４１はその測光データを基に対応する反応セ
ル４の累積表３８上の値に測光データの値を累積すると
ともにその累積回数に１を加えてこれらの値を更新する
。一方、１００％丁検証部３５において偏差が所定の範
囲外であると判別されたり、あるいはその測光データが
ミスデータやデータ無しく０１１）と判別された場合に
は、その測光データに対応する反応セル情報、例えば反
応セル番号がプリンタ３６へ送られプリントアウトされ
る。この場合には累積操作部４１による累積表３８の更
新は行われない。
ル４の累積表３８上の値に測光データの値を累積すると
ともにその累積回数に１を加えてこれらの値を更新する
。一方、１００％丁検証部３５において偏差が所定の範
囲外であると判別されたり、あるいはその測光データが
ミスデータやデータ無しく０１１）と判別された場合に
は、その測光データに対応する反応セル情報、例えば反
応セル番号がプリンタ３６へ送られプリントアウトされ
る。この場合には累積操作部４１による累積表３８の更
新は行われない。
このようにして、測光位置Ｐ２２のある反応セル４の１
００％ＴＩを基にその反応セル４が通常の反応液による
測光データに悪影響を及ぼすか否かを自動的に検証する
ことができる。
００％ＴＩを基にその反応セル４が通常の反応液による
測光データに悪影響を及ぼすか否かを自動的に検証する
ことができる。
測光位Ｉ Ｐ ２２における反応セル４の測光が終了す
ると、反応ディスク３はＣＰＵ５０により制御され後続
する反応セル４を測光位ＩＰ２２へ移送すべく、１反応
セル間隔だけ回転する。そして上述した場合と同様に後
続する反応セル４の１００％Ｔ値の測定や検証が順次実
行される。
ると、反応ディスク３はＣＰＵ５０により制御され後続
する反応セル４を測光位ＩＰ２２へ移送すべく、１反応
セル間隔だけ回転する。そして上述した場合と同様に後
続する反応セル４の１００％Ｔ値の測定や検証が順次実
行される。
尚、初期化部４２はこの装置における検証開始時あるい
は本実施例では４８個の反応セル４に対する検証終了時
等に累積表３８の累積回数及び累積値を初期値にセット
するように動作する。
は本実施例では４８個の反応セル４に対する検証終了時
等に累積表３８の累積回数及び累積値を初期値にセット
するように動作する。
また、光源ランプ１８から複数波長の光を放射するとと
もに第６図に示すような累積表３８Ａを用いた場合には
、各反応セル４に対し複数回の検証を行うことが可能と
なり、より検証精度を向上させることができる。
もに第６図に示すような累積表３８Ａを用いた場合には
、各反応セル４に対し複数回の検証を行うことが可能と
なり、より検証精度を向上させることができる。
本発明は上述した実施例に限定されるものではなくその
要旨の範囲内で種々の変形が可能である。
要旨の範囲内で種々の変形が可能である。
例えば、累積表に逐次書き込まれる累積回数。
累積値や累積平均算出部で算出する累積平均の値、さら
には偏差算出部で算出される１ｉｊｖの値を、各反応セ
ルに対応付けてプリントアウトしたりＣＲ１画面上に表
示させることも容易に実施可能である。
には偏差算出部で算出される１ｉｊｖの値を、各反応セ
ルに対応付けてプリントアウトしたりＣＲ１画面上に表
示させることも容易に実施可能である。
［発明の効果］
以上詳述した本発明によれば、直接測光方式による各反
応セルの汚れ等に基因する測定に悪影響を及ぼす要因を
、純水を注入した反応セルの測光データとその累積平均
との偏差を基に自動的に検証することができ、個々の反
応セルの適否を正確に判別することが可能な自動化学分
析装置を提供することができる。
応セルの汚れ等に基因する測定に悪影響を及ぼす要因を
、純水を注入した反応セルの測光データとその累積平均
との偏差を基に自動的に検証することができ、個々の反
応セルの適否を正確に判別することが可能な自動化学分
析装置を提供することができる。
第１図は本発明の実施例装置の概略説明図、第２図は同
装置における反応ディスクのホームポジションの状態を
示す説明図、第３図は同装置の測光系及び分析データ処
理部の概略説明図、第４図は同装置の分析データ処理部
の構成を示すブロック図、第５図は同装置の累積表の一
例を示す説明図、第６図は同装置の累積表の他例を示す
説明図、第７図は同装置の全体の作用を示すフローチャ
ート、第８図は通常の反応セルと汚れた反応セルとの１
００％Ｔｌａを示すグラフである。 １・・・自動化学分析部、２・・・分析データ処理部、
４・・・反応セル、２０・・・測光系、３３・・・累積
データ算出制御部、 ３４・・・偏差算出部、３７・・・判別表示部。 第５図
装置における反応ディスクのホームポジションの状態を
示す説明図、第３図は同装置の測光系及び分析データ処
理部の概略説明図、第４図は同装置の分析データ処理部
の構成を示すブロック図、第５図は同装置の累積表の一
例を示す説明図、第６図は同装置の累積表の他例を示す
説明図、第７図は同装置の全体の作用を示すフローチャ
ート、第８図は通常の反応セルと汚れた反応セルとの１
００％Ｔｌａを示すグラフである。 １・・・自動化学分析部、２・・・分析データ処理部、
４・・・反応セル、２０・・・測光系、３３・・・累積
データ算出制御部、 ３４・・・偏差算出部、３７・・・判別表示部。 第５図
Claims (3)
- （１）多数の反応セル中に純水を注入し直接測光方式に
より得られる個々の反応セルの測光データを基に反応セ
ルの適否を検証するようにした自動化学分析装置におい
て、個々の反応セル毎の測光データを基にその累積回数
、累積値、累積平均を算出して記憶するとともに累積回
数、累積値の初期設定及び更新が可能な累積データ算出
制御部と、個々の反応セル毎の測光データとその累積平
均との偏差を求める偏差算出部と、前記偏差が所定の許
容範囲であるか否かを判別し許容範囲内であればそのと
きの測光データにより対応する反応セルの累積値及び累
積回数を更新し、許容範囲外であれば対応する反応セル
情報を表示可能な判別表示部とを有することを特徴とす
る自動化学分析装置。 - （２）前記測光データは反応セルに対する透過光量であ
る特許請求の範囲第１項記載の自動化学分析装置。 - （３）前記測光データは反応セルに対する単数又は複数
の波長を有する光若しくはこれらの組合せによるデータ
である特許請求の範囲第１項記載の自動化学分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5638285A JPS61213674A (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | 自動化学分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5638285A JPS61213674A (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | 自動化学分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61213674A true JPS61213674A (ja) | 1986-09-22 |
Family
ID=13025703
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5638285A Pending JPS61213674A (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | 自動化学分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61213674A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004037449A (ja) * | 2002-03-13 | 2004-02-05 | Becton Dickinson & Co | 試験方法の臨床的等価を判定するためのシステムおよび方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5034287A (ja) * | 1973-06-11 | 1975-04-02 |
-
1985
- 1985-03-19 JP JP5638285A patent/JPS61213674A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5034287A (ja) * | 1973-06-11 | 1975-04-02 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004037449A (ja) * | 2002-03-13 | 2004-02-05 | Becton Dickinson & Co | 試験方法の臨床的等価を判定するためのシステムおよび方法 |
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