JPS61205087U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS61205087U JPS61205087U JP8920585U JP8920585U JPS61205087U JP S61205087 U JPS61205087 U JP S61205087U JP 8920585 U JP8920585 U JP 8920585U JP 8920585 U JP8920585 U JP 8920585U JP S61205087 U JPS61205087 U JP S61205087U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- socket
- test
- test board
- opening
- burn
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例を半導体素子を配置
した状態で示す一部省略斜視図、第２図は同上の
―断面図、第３図は従来例を示す一部省略断
面図であつて、１はソケツト、２は試験基板、３
は上蓋、４は下開口部、５は上開口部である。
した状態で示す一部省略斜視図、第２図は同上の
―断面図、第３図は従来例を示す一部省略断
面図であつて、１はソケツト、２は試験基板、３
は上蓋、４は下開口部、５は上開口部である。
Claims (1)
- 半導体素子を収容するソケツトを装着した試験
基板と、試験基板に被嵌させる上蓋とから成り、
試験基板のソケツトの下方部分にソケツトの下面
の面積よりも小さな横断面積を持つ下開口部を形
成し、上蓋のソケツトの上方部分に上開口部を形
成して成るバーンインテスト用試験器具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8920585U JPS61205087U (ja) | 1985-06-13 | 1985-06-13 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8920585U JPS61205087U (ja) | 1985-06-13 | 1985-06-13 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61205087U true JPS61205087U (ja) | 1986-12-24 |
Family
ID=30643057
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8920585U Pending JPS61205087U (ja) | 1985-06-13 | 1985-06-13 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61205087U (ja) |
-
1985
- 1985-06-13 JP JP8920585U patent/JPS61205087U/ja active Pending