JPS61198759A - Semiconductor integrated circuit - Google Patents

Semiconductor integrated circuit

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JPS61198759A
JPS61198759A JP60039248A JP3924885A JPS61198759A JP S61198759 A JPS61198759 A JP S61198759A JP 60039248 A JP60039248 A JP 60039248A JP 3924885 A JP3924885 A JP 3924885A JP S61198759 A JPS61198759 A JP S61198759A
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wiring
circuit
signal output
block
wirings
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Sachiko Kurosawa
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/77Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
    • H01L21/78Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
    • H01L21/82Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices to produce devices, e.g. integrated circuits, each consisting of a plurality of components

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Abstract

PURPOSE:To facilitate the manufacture of an LSI, by activating signal output wirings in a logic LSI one by one, judging the odd and even numbers of the ON and OFF states of switch elements on the activated wirings by a parity check circuit, thereby checking the switch information simply. CONSTITUTION:A plurality of circuit blocks 11-1N are formed on one side of the substrate of a programmable LSI. Signal input wirings 3 are connected to the output sides of the blocks 11-1N through activating circuits 9. Switch elements 4 are arranged at the intersections of the wirings 3 and signal output wirings 2. Check-bit switch elements 6 are arranged at the intersections of a check bit wiring 5, which is connected to a parity check circuit 8, and the wirings 2. The wirings 2 in the LSI are activated by the circuits 9 one by one. The odd number and the even number of the ON and OFF states of the elements 4 on the activated wirings 2 are judged by the circuit 8. The switch information is checked simply, and the design and the manufacture of the LSI are facilitated.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、チップの機能がプログラマブルな半導体集積
回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a semiconductor integrated circuit whose chip functions are programmable.

〔発明の技術的背景とその問題点〕[Technical background of the invention and its problems]

近年、半導体集積回路に対する少量多品種の要求に伴い
、次のようなLSIが出現している。
In recent years, with the demand for semiconductor integrated circuits in small quantities and in a wide variety of products, the following LSIs have appeared.

(1)標準セル方式 LSI内に使用される回路ブロックを予め計算機に登録
しておき、計算機の自動処理により、これらの回路ブロ
ックを配置・配線して所望の最終製品を得る。
(1) Circuit blocks used in a standard cell type LSI are registered in advance in a computer, and the computer automatically processes these circuit blocks to arrange and route them to obtain a desired final product.

(2)ゲートアレイ方式 論理ゲートを構成する基本回路を予め基板上にアレイ状
に配置形成しておき、この上に標準セル方式と同様に自
動配線により配線パターンを決定して所望のLSIを得
る。
(2) Gate array method The basic circuits constituting the logic gate are arranged and formed in an array on the substrate in advance, and the desired LSI is obtained by determining the wiring pattern by automatic wiring as in the standard cell method. .

これらは完全手設計のLSIに比べると開発期間が短い
という利点を有する。しかしこれらの方式でも、リソグ
ラフィー技術を用いた製造工程が必要であり、設計完了
からLSI完成まで数週間ないし数カ月かかるという問
題がある。
These have the advantage that the development period is shorter than LSIs that are completely hand-designed. However, even these methods require a manufacturing process using lithography technology, and there is a problem that it takes several weeks to several months from the completion of the design to the completion of the LSI.

これに対して本出願人は先に、チップの機能を完全にフ
ィールド・プログラマブルとしたLSI方式を提案して
いる(特願昭58−157718号)。その基本構成は
第3図に示す通りである。
In response to this, the present applicant has previously proposed an LSI system in which the chip functions are completely field programmable (Japanese Patent Application No. 157718/1982). Its basic configuration is shown in FIG.

図において、一つ以上の論理機能素子により構成された
回路ブロック11,12.・・・、1Nは予め専用1G
の手法により配線工程を終了した状態で基板に作り込ま
れる。この回路ブロック領域1に隣接して配線領域が設
けられ、ここに互いに交差する信号入力用配線群3と信
号出力用配線群2が配設される。各信号入力用配線3は
そのままそれぞれ回路ブロックの信号入力端子に接続さ
れる。
In the figure, circuit blocks 11, 12 . ..., 1N is pre-dedicated 1G
After the wiring process is completed, it is fabricated on the board using this method. A wiring area is provided adjacent to this circuit block area 1, and a signal input wiring group 3 and a signal output wiring group 2 that cross each other are arranged here. Each signal input wiring 3 is directly connected to the signal input terminal of the circuit block.

各信号出力用配線2は1字路をなす分岐配線によりそれ
ぞれ回路ブロックの信号出力端子に接続される。そして
この配線領域の信号出力用配線群2と信号入力用配線群
3の各交差部には、信号出力用配線と信号入力用配線を
接続するための電気的にON、OFF状態を書込むこと
のできるスイッチ素子4が設けられてスイッチ・マトリ
クスが構成されている。スイッチ素子4は例えば、E2
 PROMや1ビツトメモリを備えたMOSFET等で
ある。
Each signal output wiring 2 is connected to a signal output terminal of a circuit block by a branch wiring forming one crossroad. Then, at each intersection of the signal output wiring group 2 and the signal input wiring group 3 in this wiring area, an electrical ON/OFF state for connecting the signal output wiring and the signal input wiring is written. A switch matrix is formed by providing switch elements 4 that can perform the following steps. The switch element 4 is, for example, E2
This is a MOSFET equipped with PROM or 1-bit memory.

この方式によれば、チップの機能がフィールド・プログ
ラマブルであるため、ユーザーは自分の手で電気的に論
理機能を震込むことにより、高い論理機能を備えた所望
のLSIを著しく速く手にすることができる。しかも、
ある定まった論理機能を有する回路ブロックの入力信号
と出力信号を接続するという形式でLSIの設計を行な
うことができ、ボード上での論理設計に慣れた設計者に
とっても理解しやすい。
According to this method, the functions of the chip are field programmable, so the user can electrically control the logic functions with his or her own hands, allowing the user to obtain a desired LSI with high logic functions extremely quickly. I can do it. Moreover,
It is possible to design an LSI by connecting input signals and output signals of circuit blocks having a certain logic function, and it is easy to understand even for a designer who is accustomed to logic design on a board.

ところでこの新しい方式において、スイッチ・マトリク
ス上のON、OFF情報が間違いなく書込まれているか
否かを簡単にチェックすることができれば、論理設計上
もまた設計完了後の回路動作チェックにも有用である。
By the way, with this new method, if it is possible to easily check whether the ON/OFF information on the switch matrix is written correctly, it will be useful for logic design and for checking circuit operation after the design is completed. be.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は上記した点に鑑み、スイッチ・マトリクスを用
いたプログラマブルLSIであって、スイッチ・マトリ
クスのON、OFF情報を簡単にチェックできるように
した半導体集積回路を提供することを目的とする。
In view of the above-mentioned points, it is an object of the present invention to provide a programmable LSI using a switch matrix, which is a semiconductor integrated circuit in which ON/OFF information of the switch matrix can be easily checked.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明は、前述したスイッチ・マトリクスによりチップ
の機能をプログラマブルとしたLSIについて、信号出
力用配線を一本ずつ活性化する回路を設け、活性化され
た信号出力用配線上のスイッチ素子のONまたはOFF
状態数の奇偶を判定するパリテイ・チェック回路を設け
たことを特徴とする。
The present invention provides an LSI in which the functions of the chip are programmable using the above-mentioned switch matrix, and is provided with a circuit that activates the signal output wiring one by one, and turns on or off the switch elements on the activated signal output wiring. OFF
A feature is that a parity check circuit is provided to determine whether the number of states is odd or even.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明にれば、スイッチ・マトリクスのON。 According to the present invention, the switch matrix is turned on.

OFF情報を簡単にチェックすることができ、論理設計
にとってもまた設計後の回路動作チェックにとっても有
用なプログラマブルLSIが得られる。
A programmable LSI can be obtained in which OFF information can be easily checked and is useful both for logic design and for checking circuit operation after design.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下本発明の詳細な説明する。 The present invention will be explained in detail below.

第1図は一実施例のプログラマブルLSIの基本レイア
ウトを示す。第3図と対応する部分には第3図と同一符
号を付している。図に示すようにS1ウエーハの一辺に
複数の回路ブロック11゜12、・・・、INが作り込
まれて回路ブロック領域1が形成されている。各回路ブ
ロックは、4インプツトNANDゲートなど、論理機能
素子の一つ以上により構成されている。この論理機能素
子は例えば0MO8構成であり、専用IC即ち標準セル
方式における手書きの標準セルあるいは配線済みのゲー
トアレイである。複雑な論理機能素子は標準セル方式に
より種々の標準セルを相互配線で組合わせて形成しても
よい。
FIG. 1 shows the basic layout of a programmable LSI according to an embodiment. Parts corresponding to those in FIG. 3 are given the same reference numerals as in FIG. 3. As shown in the figure, a plurality of circuit blocks 11, 12, . . . , IN are formed on one side of the S1 wafer to form a circuit block region 1. Each circuit block is comprised of one or more logic functional elements, such as a 4-input NAND gate. This logic function element has, for example, an 0MO8 configuration, and is a dedicated IC, that is, a hand-drawn standard cell in a standard cell system, or a pre-wired gate array. Complex logic functional elements may be formed by interconnecting various standard cells in a standard cell manner.

具体的な回路ブロック領域の構成例は次の通りである。A specific example of the configuration of the circuit block area is as follows.

(1)4インプツトNANDゲートを2つもつブロック
           ・・・・・・15個(2)2イ
ンプツトNANDゲートを4つもつブロック     
      ・・・・・・14個(3)8インプツトN
ANOゲートを1つもつブロック          
  ・・・・・・1個(4)4つのインバータをもつブ
ロック・・・・・・100個 (5)8ビツトレジスタのブロック ・・・・・・19
個(6)2つのDタイプフリップフロップをもつブロッ
ク           ・・・・・・19個ロック 
          ・・・・・・17個(8)2対1
データ・セレクタを4つもつブロック        
                     ・・・・
・・ 13 個(9)4ビツト・バイナリカウンタを2
つもつブロック           ・・・・・・1
1個(10)2−4ラインデコーダを2つもつブロック
・・・・・・7個 (11)3−8ラインデコーダをもつブロック・・・・
・・3個 (12)4−1セレクタを2つもつブロック・・・・・
・5個 (13)8−1セレクタをもつブロック ・・・・・・
4個(14)8ビット直列人カー並列出力シフトレジス
タをもつブロック       ・・・・・・3個(1
5)8ビット並列入カー直列出力シフトレジスタをもつ
ブロック       ・・・・・・3個(16) 8
ビット直列入カー直列出力シフトレジスタをもつブロッ
ク       ・・・・・・2個(17)単安定マル
チバイブレータを2つもつブロック         
   ・・・・・・4個(18)2インプツトORゲー
トを4つもつブロック               
              ・・・・・・4個(19
) 2インプツトNORゲートを4つもつブロック  
          ・・・・・・3個<20)AND
−ORインバータを2つもつブロック        
                      ・・・
・・・ 3 個(21)64ビットRAMのブロック 
 ・・・・・・3個(22>2インプツトEXCLUS
 IME−ORゲートを4つもつブロック    ・・
・・・・2個<23> 4ビツト・コンパレータのブロ
ック・・・・・・3個 (24)J−にフリップフロップを2つもつブロック 
                         
    ・・・・・・ 4 個(25)9ビツトの偶/
奇パリティ・ジェネレータ/チェッカのブロック   
  ・・・・・・3個(26) 4ビツト・バイナリ全
加算器のブロック・・・・・・2個 (27) 2インプツト・マルチプレクサを4つもつブ
ロック           ・・・・・・5個(2B
)S−Rラッチを4つもつブロック・・・・・・2個(
29)ALUのブロック       ・・・・・・1
個(30)8ビツト・アドレサブルラッチのブロック・
・・・・・1個 (31)ルックアヘッド・キャリージェネレータのブロ
ック          ・・・・・・1個以上、27
4個のMSIからなる回路ブロックが回路ブロック領域
1に形成されて、一種のチップからあらゆる機能のLS
Iを作り出すことができるようになっている。各回路ブ
ロックの平均入力数は8、出力数は4である。論理機能
素子の入力部、出力部は回路ブロックの入力部、出力部
をなしている訳であるが、その出力部にはそれぞれ出力
バッファが設けられている(図示しない)。
(1) Block with two 4-input NAND gates 15 pieces (2) Block with four 2-input NAND gates
...14 pieces (3) 8 inputs N
Block with one ANO gate
...1 block (4) 100 blocks with 4 inverters (5) 8-bit register block ...19
(6) Block with two D type flip-flops...19 locks
...17 pieces (8) 2 to 1
Block with 4 data selectors
・・・・・・
... 13 (9) 4-bit binary counters, 2
Tsumtsu block ・・・・・・1
1 (10) Block with two 2-4 line decoders... 7 (11) Block with 3-8 line decoders...
...Block with two 3 (12) 4-1 selectors...
・Block with 5 (13) 8-1 selectors...
4 (14) blocks with 8-bit serial parallel output shift registers...3 (14) blocks with 8-bit serial parallel output shift registers
5) Block with 8-bit parallel input and serial output shift registers...3 pieces (16) 8
Block with bit serial input/serial output shift register 2 pieces (17) Block with 2 monostable multivibrators
・・・・・・4 (18) Blocks with 4 2-input OR gates
・・・・・・4 pieces (19
) Block with four 2-input NOR gates
・・・・・・3 pieces < 20) AND
-Block with two OR inverters
...
... 3 (21) 64-bit RAM blocks
・・・・・・3 pieces (22>2 input EXCLUS
A block with four IME-OR gates...
...2 pieces <23> 4-bit comparator block...3 pieces (24) Block with two flip-flops on J-

・・・・・・ 4 (25) 9-bit even/
Odd parity generator/checker block
...3 pieces (26) 4-bit binary full adder block ...2 pieces (27) Block with 4 2-input multiplexers ...5 pieces (2B
) Block with 4 S-R latches...2 pieces (
29) ALU block ・・・・・・1
(30) 8-bit addressable latch blocks
...1 piece (31) Look-ahead carry generator block ...1 or more, 27
A circuit block consisting of four MSIs is formed in circuit block area 1, and can be used as a type of chip to an LS with various functions.
It is now possible to create I. The average number of inputs and outputs of each circuit block is 8 and 4, respectively. The input section and output section of the logic functional element serve as the input section and output section of the circuit block, and each output section is provided with an output buffer (not shown).

そして出力部はT字路をなすように信号出力用配線2に
固定的に接続され、入力部はこの出力用配線2と交差す
る信号入力用配線3にそれぞれ接続されている。信号出
力用配線2と信号入力用配線3の各交差部にはそれぞれ
スイッチ素子4が設けられてスイッチ・マトリクスが構
成されている。
The output portion is fixedly connected to the signal output wiring 2 so as to form a T-junction, and the input portions are respectively connected to the signal input wiring 3 that intersects with the output wiring 2. A switch element 4 is provided at each intersection of the signal output wiring 2 and the signal input wiring 3 to form a switch matrix.

このスイッチ素子4は例えば外部からの制御によりON
、OFF状態を電気的に書込めるE2 FROMであり
、これにより信号出力用配線2と信号入力用配線3の接
続を行ない得るようになっている。即ち入出力部の結線
は基本的に1スイツチで済み、1つの電流パスに伴う等
電位配線長は第1図から明らかなように、配線領域の辺
の長さを2としたとき、平均2.5aになる。
This switch element 4 is turned ON by external control, for example.
, is an E2 FROM in which an OFF state can be electrically written, and thereby the signal output wiring 2 and the signal input wiring 3 can be connected. In other words, the wiring of the input/output section basically requires only one switch, and as is clear from Figure 1, the length of the equipotential wiring associated with one current path is 2 on average when the length of the side of the wiring area is 2. It will be .5a.

このようなプログラマブルLSIにおいて本発明では、
スイッチ・マトリクスのON、OFF情報を判定する回
路を設けている。即ち、信号入力用配線3と平行に走る
チェック・ビット用配線5を設け、この配線5と各信号
出力用配l112との交差部にスイッチ・マトリクス上
のスイッチ素子4と同じスイッチ素子6を設けたチェッ
ク・ビット用スイッチ素子配列7が用意される。このス
イッチ素子配列7上のスイッチ素子6は、各信号出力用
配線2上のスイッチ素子のONまたはOFF状態数が奇
数または偶数になるように、そのON。
In the present invention, in such a programmable LSI,
A circuit is provided to determine ON/OFF information of the switch matrix. That is, a check bit wiring 5 is provided that runs parallel to the signal input wiring 3, and a switch element 6, which is the same as the switch element 4 on the switch matrix, is provided at the intersection of this wiring 5 and each signal output wiring 112. A check bit switch element array 7 is prepared. The switch elements 6 on this switch element array 7 are turned on so that the number of ON or OFF states of the switch elements on each signal output wiring 2 is an odd number or an even number.

OFF状態が設定される。即ちスイッチ素子配列7上の
スイッチ素子6のON、OFFは、チェック、ビットと
して用いられるものである。8はパリテイ・チェック回
路であって、信号入力用配線3及びチェック・ヒツト用
配線5が並列に入力端子に接続されている。9は、パリ
テイ・チェックを各信号出力用配線2毎に行うために、
信号出力用配線2を一本ずつ活性化する回路であり、こ
れが回路ブロック領域1とスイッチ・マトリクスの間に
設けられている。
The OFF state is set. That is, the ON and OFF states of the switch elements 6 on the switch element array 7 are used as checks and bits. Reference numeral 8 denotes a parity check circuit, in which a signal input wiring 3 and a check hit wiring 5 are connected in parallel to an input terminal. 9 is for performing a parity check for each signal output wiring 2.
This circuit activates the signal output wiring 2 one by one, and is provided between the circuit block area 1 and the switch matrix.

第2図は活性化回路9の具体的な構成を示す。FIG. 2 shows a specific configuration of the activation circuit 9. As shown in FIG.

この活性化回路9は信号出力用配線2を順次選択するた
めにシフトレジスタを用いた例であり、図では一つの回
路ブロック11に対応する部分のみを具体的に示してい
る。他の回路ブロックに対応する部分の構成も同様の構
成の繰返しとなっている。図に示すように、シフトレジ
スタ91の出力端子と回路ブロック11の出力端子10
0とを選択的に切換えて端子99に導くために、AND
ゲート92.93、インバータ94及びORゲート95
を有する。96はパリテイ・チェック用制御端子、97
はシフトレジスタ91の入力端子であり、98はシフト
レジスタ91のクロック端子である。
This activation circuit 9 is an example in which a shift register is used to sequentially select the signal output wiring 2, and only a portion corresponding to one circuit block 11 is specifically shown in the figure. Similar configurations are repeated for the configurations of portions corresponding to other circuit blocks. As shown in the figure, the output terminal of the shift register 91 and the output terminal 10 of the circuit block 11
0 and lead to terminal 99, AND
Gates 92, 93, inverter 94 and OR gate 95
has. 96 is a control terminal for parity check, 97
is an input terminal of the shift register 91, and 98 is a clock terminal of the shift register 91.

このような構成として、所望の論理機能は前述のように
スイッチ・マトリクス上のスイッチ素子4のON、OF
Fを設定することによりプログラムされる。またチェッ
ク・ビット用スイッチ素子配列7上のスイッチ素子6は
それぞれ信号出力用配線2上のスイッチ素子のONまた
はOFF状態の数が奇数または偶数になるように設定さ
れる。
With such a configuration, the desired logic function is determined by turning on and off the switch elements 4 on the switch matrix as described above.
It is programmed by setting F. Further, the switch elements 6 on the check bit switch element array 7 are set so that the number of ON or OFF states of the switch elements on the signal output wiring 2 is an odd number or an even number.

そして通常の論理動作においては、パリテイ・チェック
用制御端子96に与える制御信号を“O″とする。これ
によりANDゲート92が禁止状態、ANDゲート93
が導通状態となり、回路ブロックの出力端子100の情
報は活性化回路9を通過してその出力端子99に伝達さ
れる。こうして各回路ブロックの出力信号はスイッチ・
マトリクス上の信号出力用配線2に供給され、所望の論
理動作が行なわれる。スイッチ・マトリクスのON。
In normal logic operation, the control signal applied to the parity check control terminal 96 is set to "O". As a result, the AND gate 92 is disabled, and the AND gate 93 is disabled.
becomes conductive, and the information at the output terminal 100 of the circuit block passes through the activation circuit 9 and is transmitted to its output terminal 99. In this way, the output signal of each circuit block is
The signal is supplied to the signal output wiring 2 on the matrix, and a desired logical operation is performed. Turn on the switch matrix.

OFF情報をチェックする場合には、パリテイ・チェッ
ク用制御端子96に1″を与える。これによりANDゲ
ート92は導通状態、ANDゲート93は禁止状態とな
る。そしてシフトレジスタ91に1″を入力してこれを
順次シフトすることにより、活性化回路9の出力端子9
つに順次“°1′′を出力して、スイッチ・マトリクス
上の信号出力用配線2を一本ずつ活性化する。活性化さ
れた信号出力用配線2上のスイッチ素子がON状態の位
置では1″が、OFF状態の位置では°“O″がそれぞ
れパリテイ・チェック回路8に入力されることになる。
When checking the OFF information, 1" is applied to the parity check control terminal 96. As a result, the AND gate 92 becomes conductive and the AND gate 93 becomes disabled. Then, 1" is input to the shift register 91. By sequentially shifting this, the output terminal 9 of the activation circuit 9
The signal output wirings 2 on the switch matrix are activated one by one by sequentially outputting "°1".When the switch elements on the activated signal output wirings 2 are in the ON state, 1'' is input to the parity check circuit 8, and at the OFF position, °O'' is input to the parity check circuit 8, respectively.

こうして各信号出力用配線2毎にこれに沿って配列され
たスイッチ素子のONまたはOFF状態の数の奇偶をパ
リテイ・チェック回路8により順次判定して、スイッチ
・マトリクスのON、OFF情報が正しいか否かを判定
することができる。
In this way, the parity check circuit 8 sequentially determines whether the number of ON or OFF states of the switch elements arranged along each signal output wiring 2 is odd or even, and whether the ON or OFF information of the switch matrix is correct. It can be determined whether or not.

以上のように本実施例によれば、プログラムされたスイ
ッチ・マトリクス上のON、OFF情報パターンが正し
いか否かを、比較的簡単な回路の付加により判定するこ
とができ、従って論理設計が容易で論理設計後の回路動
作チェックも容易に行い得るプログラマブルLSIが実
現できる。
As described above, according to this embodiment, it is possible to determine whether or not the ON/OFF information pattern on the programmed switch matrix is correct by adding a relatively simple circuit, thus facilitating logic design. This makes it possible to realize a programmable LSI in which circuit operation can be easily checked after logic design.

なお本発明は上記実施例に限られない。例えば上記実施
例ではパリテイ・チェックのための活性化回路としてシ
フトレジスタを内蔵するものを説明したが、シフトレジ
スタの代わりにセレクタを内蔵して、パリテイ・チェッ
クの際に一本の信号出力用配線を活性化するように構成
することもできる。
Note that the present invention is not limited to the above embodiments. For example, in the above embodiment, a shift register is built in as an activation circuit for parity check, but a selector is built in instead of a shift register, and a single signal output wiring is used for parity check. It can also be configured to activate.

その他本発明はその趣旨を逸脱しない範囲で種々変形実
施することができる。
In addition, the present invention can be modified in various ways without departing from its spirit.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例によるプログラマブルLSI
のレイアウトを示す図、第2図はその活性化回路の具体
的構成を示す図、第3図は先願にかかる基本プログラマ
ブルLSIのレイアウトを示す図である。 11.12.・・・、1N・・・回路ブロック、2・・
・信号出力用配線、3・・・信号入力用配線、4・・・
スイッチ素子、5・・・チェック・ビット用配線、6・
・・チェック・ビット用スイッチ素子、7・・・チェッ
ク・ビット用スイッチ素子配列、8・・・パリテイ・チ
ェック回路、9・・・活性化回路、91・・・シフトレ
ジスタ、92.93・・・ANDゲート、94・・・イ
ンバータ、95・・・ORゲート、96・・・パリテイ
・チェック用制御端子、97・・・シフトレジスタ入力
端子、97・・・クロック端子、99・・・活性化回路
出力端子、100・・・回路ブロック出力端子。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第  2 図 ::;: 第  3 図
FIG. 1 shows a programmable LSI according to an embodiment of the present invention.
2 is a diagram showing the specific configuration of the activation circuit, and FIG. 3 is a diagram showing the layout of the basic programmable LSI according to the earlier application. 11.12. ..., 1N... circuit block, 2...
・Wiring for signal output, 3... Wiring for signal input, 4...
Switch element, 5... Check bit wiring, 6.
... Switch element for check bit, 7... Switch element array for check bit, 8... Parity check circuit, 9... Activation circuit, 91... Shift register, 92.93...・AND gate, 94... Inverter, 95... OR gate, 96... Control terminal for parity check, 97... Shift register input terminal, 97... Clock terminal, 99... Activation Circuit output terminal, 100...Circuit block output terminal. Applicant's representative Patent attorney Takehiko Suzue Figure 2::;: Figure 3

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)基板に作り込まれた、それ自体論理機能を有し、
かつ信号の入力部及び信号の出力部を有する複数の回路
ブロックと、この複数の回路ブロックからなる回路ブロ
ック領域に隣接して前記基板上に形成された配線領域と
を有し、前記回路ブロック領域は複数種の論理機能素子
の集合から構成され、前記配線領域は互いに交わる信号
入力用配線群及び信号出力用配線群から構成され、前記
信号入力用配線群は各回路ブロックの信号入力部にそれ
ぞれ接続され、前記信号出力用配線群は各回路ブロック
の信号出力部にそれぞれ接続され、かつこれらの接続は
その回路ブロックが隣接する前記配線領域において行わ
れ、前記配線領域には前記信号入力用配線群と前記信号
出力用配線群との交差部にそれぞれスイッチ素子が設け
られ、このスイッチ素子のON、OFF状態を制御する
ことにより各回路ブロック間の入出力関係が決定されて
所望の論理回路が構築される集積回路であって、前記信
号出力用配線を一本ずつ活性化する回路が設けられ、活
性化された信号出力用配線上のスイッチ素子のONまた
はOFF状態数の奇偶を判定するパリテイ・チェック回
路を有することを特徴とする半導体集積回路。
(1) Built into the board, it has its own logical function;
and a plurality of circuit blocks having a signal input section and a signal output section, and a wiring region formed on the substrate adjacent to a circuit block region including the plurality of circuit blocks, the circuit block region is composed of a set of multiple types of logic functional elements, the wiring area is composed of a signal input wiring group and a signal output wiring group that intersect with each other, and the signal input wiring group is connected to the signal input section of each circuit block. The signal output wiring group is connected to the signal output section of each circuit block, and these connections are made in the wiring area adjacent to the circuit block, and the signal input wiring group is connected to the wiring area where the circuit block is adjacent to the signal output wiring group. A switch element is provided at each intersection of the group and the signal output wiring group, and by controlling the ON/OFF state of this switch element, the input/output relationship between each circuit block is determined and a desired logic circuit is created. The integrated circuit to be constructed is provided with a circuit that activates the signal output wiring one by one, and a parity circuit that determines whether the number of ON or OFF states of the switch elements on the activated signal output wiring is odd or even. - A semiconductor integrated circuit characterized by having a check circuit.
(2)信号入力用配線と平行するチェック・ビット用配
線が設けられ、このチェック・ビット用配線と各信号出
力用配線の交差部にチェック・ビットとしてONまたは
OFF状態が書込まれるスイッチ素子を有する特許請求
の範囲第1項記載の半導体集積回路。
(2) A check bit wiring is provided parallel to the signal input wiring, and a switch element in which an ON or OFF state is written as a check bit is provided at the intersection of the check bit wiring and each signal output wiring. A semiconductor integrated circuit according to claim 1.
JP60039248A 1985-02-28 1985-02-28 Semiconductor integrated circuit Expired - Lifetime JPH0616533B2 (en)

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