JPS6119190B2 - - Google Patents

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JPS6119190B2
JPS6119190B2 JP54109021A JP10902179A JPS6119190B2 JP S6119190 B2 JPS6119190 B2 JP S6119190B2 JP 54109021 A JP54109021 A JP 54109021A JP 10902179 A JP10902179 A JP 10902179A JP S6119190 B2 JPS6119190 B2 JP S6119190B2
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JP
Japan
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short
circuit
signal lines
data
signal
Prior art date
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JP54109021A
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Japanese (ja)
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JPS5634257A (en
Inventor
Kikuo Kawasaki
Tomomi Sano
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Fuji Electric Co Ltd
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Fuji Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS5634257A publication Critical patent/JPS5634257A/en
Publication of JPS6119190B2 publication Critical patent/JPS6119190B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04QSELECTING
    • H04Q9/00Arrangements in telecontrol or telemetry systems for selectively calling a substation from a main station, in which substation desired apparatus is selected for applying a control signal thereto or for obtaining measured values therefrom

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、複数の子局と親局とを一対の伝送線
により共通に接続し、親局に設けた電源から抵抗
を介して伝送線の線間に直流電圧を印加してお
き、各局で線間に接続したスイツチング素子によ
りデータに応じて伝送線の線間を短絡して符号化
したデータを伝送するようにしたデータ伝送方式
に関し、特に、線間に接続したスイツチング素子
等の故障による伝送線線間短絡障害を自動的に各
子局を順次に点検して故障個所を検出し除去し得
るようにしたものである。
Detailed Description of the Invention The present invention connects a plurality of slave stations and a master station in common through a pair of transmission lines, and applies a DC voltage between the lines of the transmission lines from a power supply provided in the master station through a resistor. Regarding the data transmission method, in which the encoded data is transmitted by short-circuiting the lines of the transmission line according to the data using a switching element connected between the lines at each station, This system automatically sequentially inspects each slave station to detect and eliminate short circuits between transmission lines due to failures in switching elements, etc.

この種のデータ伝送方式の一例として第1図に
示す構成のものが考えられる。ここで、1はデー
タ伝送系全体を制御する親局、2−1,2−2,
………,2−nは被制御端局としての子局、3お
よび4は親局1とn個の子局2−1〜2−nとを
共通に接続する一対の信号線、5は電源補助線で
ある。親局1はクロツク発生回路6を有し、その
出力クロツクパルスを出力トランジスタTR0、抵
抗R0とR10よりなる出力増幅器で増幅してから信
号線3,4に送出する。Vsは親局電源である。
子局2−1〜2−nはいずれも同様に構成されて
おり、例えば子局2−1は、受送信回路7、この
受送信回路7と信号線3,4との間の信号の受渡
しを行う発光素子、例えば発光ダイオードLED
および受光素子、例えばホトトランジスタPTr、
ホトトランジスタPTrの出力増幅用トランジスタ
Tr、信号線3,4からの入来信号を検知する演
算増幅器OPを有する。子局2−1中のR1〜R8
抵抗、C1はコンデンサ、D1〜D3はダイオード、
ACは交流電源端子である。
As an example of this type of data transmission system, the configuration shown in FIG. 1 can be considered. Here, 1 is a master station that controls the entire data transmission system, 2-1, 2-2,
......, 2-n is a slave station as a controlled terminal, 3 and 4 are a pair of signal lines that commonly connect the master station 1 and n slave stations 2-1 to 2-n, and 5 is a slave station. This is a power supply auxiliary line. The master station 1 has a clock generating circuit 6, and its output clock pulse is amplified by an output amplifier consisting of an output transistor TR 0 and resistors R 0 and R 10 and then sent to signal lines 3 and 4. Vs is the master station power supply.
The slave stations 2-1 to 2-n are all configured in the same way. For example, the slave station 2-1 includes a receiving/transmitting circuit 7 and a signal exchange between the receiving/transmitting circuit 7 and the signal lines 3 and 4. A light-emitting element that performs this, such as a light-emitting diode LED
and a photodetector, such as a phototransistor PTr,
Phototransistor PTr output amplification transistor
It has an operational amplifier OP that detects incoming signals from the Tr and signal lines 3 and 4. In the slave station 2-1, R 1 to R 8 are resistors, C 1 is a capacitor, D 1 to D 3 are diodes,
AC is an alternating current power terminal.

なお、子局2−1〜2−nの個数nは、信号線
3,4の抵抗の影響で送受信できなくなるまで増
大させることができ、通例、n=100局程度とす
ることは容易である。しかし、子局数が増大する
と、例えば子局2における終端抵抗R8に流れる
信号電流により信号線抵抗に生ずる信号レベルの
低下が増大し、親局から離れた子局における信号
送出用のトランジスタTrのオン状態を親局にお
いて検知し得なくなり、後述するような子局から
のデータ伝送が困難となる他に、上述した子局に
おける信号線電圧の低下により、後述するように
信号線に接続したダイオードD2を介して信号線
電圧により充電するコンデンサCの充電電圧が低
下し、親局から送信したデータの検出が困難にな
るという問題も生ずる。
Note that the number n of slave stations 2-1 to 2-n can be increased until transmission and reception are no longer possible due to the influence of the resistance of the signal lines 3 and 4, and it is usually easy to set n to about 100 stations. . However, as the number of slave stations increases, for example, the signal level decrease that occurs in the signal line resistance due to the signal current flowing through the termination resistor R8 in slave station 2 increases, and the signal transmission transistor Tr in the slave station far from the master station increases. In addition to the fact that the master station cannot detect the on state of the terminal, making it difficult to transmit data from the slave station as described below, due to the drop in signal line voltage at the slave station mentioned above, Another problem arises in that the charging voltage of the capacitor C, which is charged by the signal line voltage via the diode D2 , decreases, making it difficult to detect data transmitted from the master station.

つぎに、上述したデータ伝送係において親局か
ら送信するデータ信号の信号波形の例を第2図に
示す。第1図に示した構成において、親局1の直
流電源Vsから、抵抗R0を介して、信号線3に例
えば24Vの直流電圧を常時供給しているものと
し、かかる状態において親局1から第2図に示し
た波形のデータ信号を送信するには、クロツク発
生回路6からの制御信号により出力用トランジス
タTR0を一定周期に繰返しオンにすることによ
り、一対の信号線3と4の線間を短絡する。第1
図示のシステムにおいて伝送するデータ信号は、
第2図に示すように、1,0もしくはH,Lの2
値信号とするが、出力用トランジスタTR0のオン
すなわち導通の時間幅が長い場合をHとし、短か
い場合をLとしてかかる2値のデータ信号を表わ
す。このデータ信号は親局1から全子局2−1〜
2−nに対して同時に送信される。これを受信す
る子局においては、信号線3,4の線間に接続し
た終端抵抗R8に現われた端子電圧を抵抗R3を介
して演算増幅器OPに導き、抵抗R2とR7とで設定
した一定電圧値との差の形態で第2図に示したデ
ータ信号波形を検出し、例えば信号線3と4の短
絡時に対応して例えば発光ダイオードLEDを灯
点させ、光信号の形態にして発光ダイオード
LEDの点滅状態を受送信回路7に伝達し、デー
タ信号を導く。受送信回路7は、例えばマイクロ
コンピユータ等により構成でき、受光して変換し
たデータ信号を分析して、そのデータ信号の付し
た特定子局指定のアドレスと当該子局アドレスと
の一致、不一致を判別し、アドレスが一致してお
れば、引続くデータの内容、例えばデータ伝送制
御情報を検知する。なお、受送信回路7は、かか
るデータの受信のみならず、親局1からデータ伝
送制御情報に応答すべきデータ類の送信準備も行
なう。各子局から応答するデータの種類は、デー
タ伝送の用途によつて異なるが、いわゆるホテル
ベンダシステムにおいては、自動販売用冷蔵庫の
商品販売本数データ、冷蔵庫内本数データが接点
情報、動作情報であり、自動計測システムにおい
ては、計測量データである。親局1からアドレス
を指定した子局、例えば子局2−1は、例えば第
3図A〜Cに示すようにして応答すべきデータ信
号を形成する。
Next, FIG. 2 shows an example of the signal waveform of the data signal transmitted from the master station in the data transmission section described above. In the configuration shown in FIG. 1, it is assumed that a DC voltage of, for example, 24 V is constantly supplied to the signal line 3 from the DC power supply Vs of the master station 1 via the resistor R0 , and in this state, the In order to transmit the data signal having the waveform shown in FIG. short-circuit between 1st
The data signal transmitted in the illustrated system is
As shown in Figure 2, 1, 0 or 2 of H, L
A binary data signal is expressed as a value signal, with H indicating a long ON or conductive time width of the output transistor TR0 , and L indicating a short time width. This data signal is transmitted from the master station 1 to all slave stations 2-1 to
2-n simultaneously. In the slave station that receives this, the terminal voltage appearing at the terminating resistor R8 connected between the signal lines 3 and 4 is guided to the operational amplifier OP via the resistor R3 , The data signal waveform shown in Figure 2 is detected in the form of a difference from a set constant voltage value, and in response to a short circuit between signal lines 3 and 4, for example, a light emitting diode LED is turned on to convert it into an optical signal. light emitting diode
The blinking state of the LED is transmitted to the receiving/transmitting circuit 7, and a data signal is guided. The receiving/transmitting circuit 7 can be configured by, for example, a microcomputer, and analyzes the received and converted data signal, and determines whether the address specified by the specific slave station attached to the data signal matches or does not match the slave station address. However, if the addresses match, the content of the subsequent data, such as data transmission control information, is detected. Note that the receiving/transmitting circuit 7 not only receives such data but also prepares to transmit data to be responded to data transmission control information from the master station 1. The type of data responded from each slave station differs depending on the purpose of data transmission, but in so-called hotel vendor systems, data on the number of products sold in vending refrigerators and data on the number of refrigerators inside are contact information and operation information. , in an automatic measurement system, is measured quantity data. A slave station, for example slave station 2-1, which has been given an address by master station 1, forms a data signal to be responded to, for example, as shown in FIGS. 3A to 3C.

すなわち、子局2−1では、親局1から、上述
のアドレス信号に引続き、一定の時間間隔をおい
て伝送されてくる。第3図Aに示すような波形の
クロツクパルス列を検出し、そのクロツクパルス
列に同期して、第3図Bに示すように、クロツク
パルスより広いパルス幅を有するパルスの有無に
よりHおよびLを表わすようにした2値データ信
号を形成し、その応答用2値データ信号を親局1
に送信する。すなわち、かかる応力用2値データ
信号を、光信号の形態を経て、ホトトランジスタ
PTrに供給し、そのホトトランジスタPTrのオ
ン・オフを制御し、第3図Bに示した応答データ
信号波形の高レベルのときに送信用トランジスタ
Trをオン、すなわち導通させて信号線3,4の
線間を短絡する。かかる子局2−1からのデータ
送信のための線間短絡の時間幅は、親局1からの
クロツクパルスを検知してから一定の時間その短
絡状態を継続させ、しかも、次のクロツクパルス
の到来前にはオフすなわち短絡を開放するように
する。しかして、子局2−1においてかかる態様
の線間短絡を行なうと、親局1においては、第3
図Cの信号波形に示すように、クロツクパルス列
の送信に際し、出力用トランジスタTR0をオフ状
態に戻しても、子局2−1の送信用トランジスタ
Trがオン状態にあれば信号線3,4の線間が信
号線の抵抗を介して短絡されているのであるか
ら、親局1における出力用トランジスタTR0の出
力端に現われる信号線間電圧は十分に回復せず、
子局2−1における送信用トランジスタTrがオ
フ状態に復すると同時にもとの線間電圧値に回復
する。しかも、子局2−1からの応答データ信号
波形が第3図Bに示したL信号のときには、送信
用トランジスタTrがオン状態とはならないの
で、親局1における出力用トランジスタTR0がオ
フ状態に復帰すると同時に、その出力端に現われ
る信号線線間電圧ももとの線間電圧値に回復す
る。したがつて、親局1においては、信号線線間
電圧と出力用トランジスタTR0のオン・オフ状態
との関係を監視することにより、子局2−1から
の応答データ信号を受信することができる。
That is, the slave station 2-1 receives the address signal from the master station 1 at regular time intervals following the above-mentioned address signal. A clock pulse train having a waveform as shown in FIG. 3A is detected, and in synchronization with the clock pulse train, H and L are determined depending on the presence or absence of a pulse having a wider pulse width than the clock pulse, as shown in FIG. 3B. A binary data signal is formed as shown in FIG.
Send to. That is, such a binary data signal for stress is passed through the form of an optical signal to a phototransistor.
PTr, and controls the on/off of the phototransistor PTr, and when the response data signal waveform shown in Figure 3B is at a high level, the transmitting transistor
The Tr is turned on, that is, made conductive to short-circuit the signal lines 3 and 4. The time width of the line-to-line short circuit for data transmission from the slave station 2-1 is such that the short-circuit state continues for a certain period of time after the clock pulse from the master station 1 is detected, and also before the arrival of the next clock pulse. Turn it off, or open the short circuit. Therefore, when the slave station 2-1 performs the line-to-line short circuit in this manner, the master station 1
As shown in the signal waveform in Figure C, when transmitting the clock pulse train, even if the output transistor TR 0 is turned off, the transmission transistor of slave station 2-1
When the Tr is in the on state, the signal lines 3 and 4 are short-circuited through the resistance of the signal line, so the signal line voltage appearing at the output terminal of the output transistor TR 0 in the master station 1 is not fully recovered,
At the same time as the transmission transistor Tr in the slave station 2-1 returns to the off state, the line voltage value is restored to the original line voltage value. Moreover, when the response data signal waveform from slave station 2-1 is the L signal shown in FIG. At the same time, the signal line voltage appearing at the output terminal also recovers to its original line voltage value. Therefore, the master station 1 can receive the response data signal from the slave station 2-1 by monitoring the relationship between the signal line voltage and the on/off state of the output transistor TR0 . can.

なお、かかる応答データ信号を送信する子局
は、親局1からのアドレス信号により指定された
子局だけであり、そのアドレス信号の受信に応じ
て応答データを送信すべきか否かは、各子局2−
1〜2−nにおける受送信回路7によつて監視制
御する。かかる受送信回路7の監視制御を確実か
つ容易にするために、親局1からのアドレス指定
および制御コマンド用信号と子局側応答送信用ク
ロツクパルス列との間には一定の時間間隔を設
け、データ伝送は、かかる一定間間隔によつて区
切つた、信号列の期間、すなわち、親局1におけ
る送信とその送信に引続く受信との期間を、1単
位のデータ伝送期間として、繰返し行なわれ、例
えばホテルベンダシステムにおいては、各客室に
配置した自動販売機における商品販売データを順
次に収集することになる。なお、各子局2−1〜
2−nにおいては、親局1からの送信信号を受信
しても、一定の時間が経過するまでに応答データ
送信用のクロツクパルス列を受信しない限り、応
答データ信号の送信は行なわず、受信待機の状態
を継続することになる。
Note that the only slave station that transmits such a response data signal is the slave station designated by the address signal from master station 1, and it is up to each slave station whether or not to transmit response data in response to the reception of that address signal. Station 2-
It is monitored and controlled by the receiving and transmitting circuit 7 in 1 to 2-n. In order to ensure and easily monitor and control the receiving/transmitting circuit 7, a fixed time interval is provided between the address designation and control command signal from the master station 1 and the clock pulse train for transmitting a response from the slave station. , data transmission is carried out repeatedly, with the period of the signal train separated by such fixed intervals, that is, the period of transmission at the master station 1 and the reception following that transmission, as one unit of data transmission period. For example, in a hotel vendor system, product sales data from vending machines placed in each guest room is sequentially collected. In addition, each slave station 2-1~
In 2-n, even if a transmission signal is received from master station 1, unless a clock pulse train for transmitting response data is received within a certain period of time, the response data signal is not transmitted and the reception is stopped. It will continue to be in a standby state.

しかして、かかる方式のデータ伝送系統におけ
る信号伝送線3,4は数Kmにも及ぶので、電誘導
によるサージ電圧や電力配線からの誘導によるサ
ージ電圧など各種のサージ電圧が信号伝送線3,
4に侵入し易い。かかるサージ電圧の侵入に対処
するためには後述するように伝送線間にサージ抑
制用の回路素子を介挿するのが通例である。した
がつて、この種方式のデータ伝送系統において
は、伝送線3,4の線間に介挿したかかるサージ
抑制用回路素子がサージ電圧の侵入により短絡し
たままとなり、また、親局における出力トランジ
スタや子局における送信用トランジスタが破損し
たりしたために、伝送線3,4の線間が短絡した
まままとなつて上述した態様のデータ伝送が不可
能となるおそれが多分にある。しかして、かかる
信号線3,4の線間短絡障害を排除するには、ま
ず、各局の端末回路素子の故障の有無を点検して
故障個所を検出しなければならないが、この種方
式のデータ伝送を行なう例えばいわゆるホテルベ
ンダシステムにおいては、信号線3,4が建築物
の壁内に配線されており、しかも、各子局が各客
室に分散配置してあるので、個々の子局における
端末回路素子を順次に信号線3,4から切離して
点検するのは極めて多大の労力と時間とを要する
作業であり、したがつて、従来のこの種データ伝
送方式においては、上述した信号線線間短絡障害
の即時排除による信頼度の維持が甚だ困難である
という欠点があつた。
However, since the signal transmission lines 3 and 4 in the data transmission system of this type are several kilometers long, various surge voltages such as surge voltages due to electrical induction and surge voltages induced from power wiring are applied to the signal transmission lines 3 and 4.
4 is easy to invade. In order to cope with the intrusion of such surge voltage, it is customary to insert a circuit element for suppressing surges between the transmission lines, as will be described later. Therefore, in this type of data transmission system, the surge suppression circuit element inserted between the transmission lines 3 and 4 remains short-circuited due to the intrusion of surge voltage, and the output transistor at the master station remains short-circuited. There is a high possibility that the transmission lines 3 and 4 may remain short-circuited due to damage to the transmitting transistor in the slave station or the transmitting transistor in the slave station, making it impossible to perform data transmission in the manner described above. In order to eliminate such line-to-line short circuit faults between the signal lines 3 and 4, it is first necessary to check whether or not there is a failure in the terminal circuit elements of each station and detect the failure location. For example, in a so-called hotel vendor system that performs transmission, the signal lines 3 and 4 are wired within the walls of the building, and each slave station is distributed in each guest room, so the terminals at each slave station are It is a task that requires an extremely large amount of labor and time to sequentially disconnect and inspect circuit elements from the signal lines 3 and 4. Therefore, in the conventional data transmission system of this type, the above-mentioned The drawback was that it was extremely difficult to maintain reliability by immediately eliminating short-circuit faults.

本発明の目的は、上述した従来の欠点を除去
し、信号伝送線線間短絡障害の発生に際し、各局
端末回路素子の点検を自動的に行なつて故障個所
の検出を容易にし、もつて、故障個所を分離排除
して信頼度を維持し得るようにした自動点検機能
付のデータ伝送方式を提供することにある。
An object of the present invention is to eliminate the above-mentioned conventional drawbacks, to automatically inspect terminal circuit elements at each station in the event of a short-circuit fault between signal transmission lines, and to facilitate the detection of a faulty location. An object of the present invention is to provide a data transmission system with an automatic inspection function that can maintain reliability by isolating and eliminating failure points.

すなわち、本発明データ伝送方式は、複数の子
局とそれらの子局を管理する親局とを電源から抵
抗を介して線間に直流電圧を印加した一対の信号
線により共通に接続し、前記親局および前記複数
の子局においてそれぞれ前記信号線の線間に介挿
したスイツチング素子をデータに応じ駆動して前
記信号線の線間を短絡することにより前記データ
を符号化して伝送するようにしたデータ伝送方式
において、前記複数の子局には前記信号線の線間
を選択時に短絡する前記スイツチング素子に関連
する回路部分と直列にスイツチ手段をそれぞれ設
け、前記信号線が所定の時間長を超えて継続的に
短絡されたときには前記複数の子局のすべてにお
ける前記スイツチ手段をいつたん開放させたのち
前記親局より制御して前記複数の子局における前
記スイツチ手段を順次に閉成されることにより前
記スイツチング素子に関連する回路部分による信
号線線間短絡障害を検出し得るようにしたことを
特徴とするものである。
That is, in the data transmission system of the present invention, a plurality of slave stations and a master station that manages the slave stations are commonly connected by a pair of signal lines to which a DC voltage is applied between the lines from a power supply via a resistor. The data is encoded and transmitted by driving switching elements inserted between the signal lines in the master station and the plurality of slave stations in accordance with the data to short-circuit the signal lines. In the data transmission method, each of the plurality of slave stations is provided with a switching means in series with a circuit portion related to the switching element that short-circuits between the signal lines when selected, and the signal line is connected for a predetermined length of time. When the short-circuit continues beyond the limit, the switch means in all of the plurality of slave stations are once opened, and then the switch means in the plurality of slave stations are sequentially closed under control from the master station. Accordingly, it is possible to detect a short-circuit failure between signal lines caused by a circuit portion related to the switching element.

以下に図面に参照して実施例につき本発明を説
明する。
The invention will be explained below by way of example embodiments with reference to the drawings.

第1図に示した従来のこの種方式のデータ伝送
系統における子局2−1〜2−nの構成を本発明
により改良した例を第4図につき説明するに、第
4図に示す子局の構成においては、第1図に示し
た従来の構成のほかに、サージ電圧抑制用回路素
子として、信号線3,4の線間に、信号抵抗R8
と並列にフイルタコンデンサC2を接続して時定
数回路を構成し、並びにツエナーダイオード、
ZD1,ZD2および直接抵抗R9が追加接続されて
る。しかして、第4図に示す子局の構成において
は、前述したように、信号線3,4の線間短絡障
害の発生原因となり得る線間接続回路素子、すな
わち、送信用トランジスタTrおよびサージ電圧
抑制用ツエナーダイオードの信号線線間接続を切
離し、それらの回路素子の点検を容易に行ない得
るようにするために、それらの回路素子の一端を
一括してリレー接点RLbを介して伝送線に接続し
てある。そのリレー接点RLbの開放および閉成を
駆動するリレーRLは、受送信回路7に接続して
設け、後述するように、受送信回路7により制御
し得るように構成する。しかして、リレー接点
RLbは、通常のデータ伝速時には、常時、閉成し
た状態に保持し、子局からのデータ送信およびサ
ージ電圧抑制の機能を果し得るようにしてある。
An example in which the configuration of the slave stations 2-1 to 2-n in the conventional data transmission system of this type shown in FIG. 1 is improved according to the present invention will be described with reference to FIG. 4. In this configuration, in addition to the conventional configuration shown in FIG. 1, a signal resistor R 8 is installed between the signal lines 3 and 4 as a surge voltage suppressing circuit element.
A time constant circuit is constructed by connecting a filter capacitor C 2 in parallel with the zener diode,
ZD 1 , ZD 2 and direct resistor R 9 are additionally connected. As mentioned above, in the configuration of the slave station shown in FIG. In order to disconnect the connection between the signal lines of the suppressing Zener diode and easily inspect those circuit elements, connect one end of those circuit elements together to the transmission line via relay contact RLb. It has been done. The relay RL that drives the opening and closing of the relay contact RLb is connected to the transmitting/receiving circuit 7 and is configured to be controlled by the transmitting/receiving circuit 7, as will be described later. However, the relay contact
RLb is always kept closed during normal data transmission so that it can perform the functions of data transmission from the slave station and surge voltage suppression.

しかして、前述したように信号線3,4の線間
の短絡により符号化してデータを伝送していると
き、あるいは、データ伝送の休止時においても、
一定の時間、例えば0.5秒以上継続して信号線線
間短絡の状態となつた場合には、いずれかの子局
における端末回路素子が故障したために信号線線
間が短絡状態になつたものとみなし、各子局にお
ける受送信回路7により制御してリレーRLを作
動させ、各子局におけるリレー接点RLbをすべて
いつたん開放させる。かかる状態では、いずれか
の子局において信号線線間を短絡していた故障回
路素子が現実にあつたとしても、信号線線間から
切離されるので、少なくとも親局1からのデータ
伝送は可能となる。その状態で親局1からアドレ
スを指定して各子局2−1〜2−nにおけるリレ
ー接点RLbを順次に閉成していき、リレー接点
RLbの閉成により再び線間短絡となる子局があれ
ば、その子局のリレー接点RLbのみを開放にした
状態で平常のデータ伝送状態に復帰させる。な
お、故障発生の子局においては、リレー接点RLb
の開放によりその子局からのデータ送信が不能と
なるほかは、平常どおりの運行が可能となるの
で、その間に別途故障個所の修理を行なうように
することができる。なお、上述した親局1からの
指令による順次点検によつても故障個所が発見さ
れなかつたとき、あるいは所定の時間、例えば、
線間短絡障害の発生後10分を経過したのちは、さ
きの線間短絡障害は、サージ電圧等によるいずれ
かの子局の端末回路素子の一時的な故障によるも
のであつたと判断して、各子局毎に自動的にリレ
ー接点RLbを閉成して平常状態に復帰させるもの
とする。第1図に示した構成によるデータ伝送系
統において、上述した信号線線間短絡障害発生の
原因となる可能性が大きいのは、第4図に示した
各子局の構成におけるサージ抑制用ツエナーダイ
オードZD1,ZD2および送信用トランジスタTrで
あり、その他の回路素子は、線間短絡障害の原因
となる可能性が極めて少ないとみなすことができ
る。しかして、いずれかの子局におけるツエナー
ダイオードZD1,ZD2および送信用トランジスタ
Trのいずれかが故障して常時導通の状態になる
と信号線線間が常時短絡の状態となるので、デー
タ伝送系統全体の機能が停止するが、その子局に
おけるリレー接点RLbを開放した状態では、その
子局におけるサージ抑制およびデータ送信の機能
が停止されるのみで、データ伝送系統におけるそ
の他の機能はすべて平常どおりに果し得るのであ
るから、上述したように、その子局のリレー接点
RLbを開放した状態で平常業務を続行し、その間
に故障の修理を行ない、その子局からのデータ伝
送は、その間適切な他のデータ伝送手段を臨時に
用いるようにすることが可能となる。
Therefore, as mentioned above, even when encoded data is being transmitted due to a short circuit between the signal lines 3 and 4, or when data transmission is stopped,
If the signal lines are short-circuited for a certain period of time, for example 0.5 seconds or more, it is assumed that the terminal circuit element in one of the slave stations has failed and the signal lines are short-circuited. The receiving/transmitting circuit 7 in each slave station operates the relay RL, and all the relay contacts RLb in each slave station are opened at once. In such a state, even if there actually is a faulty circuit element that short-circuits the signal lines in one of the slave stations, it will be disconnected from the signal lines, so data transmission from at least the master station 1 will be possible. . In this state, specify the address from the master station 1 and sequentially close the relay contacts RLb in each slave station 2-1 to 2-n.
If there is a slave station that becomes short-circuited again due to the closing of RLb, the slave station is returned to a normal data transmission state with only its relay contact RLb open. In addition, in the slave station where the failure occurred, relay contact RLb
When the terminal is opened, data transmission from the slave station is disabled, but normal operation is possible, and the malfunctioning part can be repaired separately during that time. It should be noted that when the failure point is not found even through the sequential inspections according to the commands from the master station 1 mentioned above, or after a predetermined period of time, for example,
After 10 minutes have passed after the occurrence of the line-to-line short-circuit fault, it is determined that the previous line-to-line short-circuit fault was caused by a temporary failure of the terminal circuit element of one of the slave stations due to surge voltage, etc., and each Relay contact RLb shall be automatically closed for each station to return to normal state. In the data transmission system with the configuration shown in Figure 1, the most likely cause of the above-mentioned short-circuit failure between signal lines is the Zener diode for surge suppression in the configuration of each slave station shown in Figure 4. ZD 1 , ZD 2 and the transmission transistor Tr, and other circuit elements can be considered to have an extremely low possibility of causing a line-to-line short circuit failure. Therefore, the Zener diodes ZD 1 and ZD 2 and the transmitting transistor in one of the slave stations
If one of the Tr's fails and becomes permanently conductive, the signal lines will be constantly short-circuited, and the entire data transmission system will stop functioning. However, if the relay contact RLb at the slave station is open, Only the surge suppression and data transmission functions of the slave station are stopped, and all other functions in the data transmission system can be performed as usual. Therefore, as mentioned above, the relay contact of the slave station
It is possible to continue normal operations with RLb open, repair the failure, and temporarily use other appropriate data transmission means for data transmission from the slave station.

つぎに、伝送線線間電圧波形とリレー接点RLb
の開閉状態との時間的関係を第5図A〜Dにそれ
ぞれ示す。正常なデータ伝送送状態においては信
号線線間電圧は断続的に極めて短い時間ずつ短絡
状態となるが、子局の端末回路素子の故障による
場合には、第5図Aに示すように、例えば0.5秒
などの格段に長い時間T1中断続して短絡状態と
なる。この継続的線間短絡状態を各子局において
それぞれ検知すると、各子局のリレー接点RLbは
自動的に、第5図Dに示すように開放状態になる
が、前述したように、例えば10分などの一定時間
T2が経過すると自動的に再び平常の閉成状態に
復する。しかし、その間、線間短絡障害を発生さ
せた子局の端末回路素子は、第5図Cに示すよう
に時間T1の当初から継続して故障の状態にある
ので、その子局のリレー接点RLbのみは、第5図
Bに示すように、時間T2の経過後も、親局から
指令して開放状態を保持する。各子局のリレー接
点RLbが一斎に開放されると、少なくとも、信号
線の線間短絡状態は一応排除されるので、第5図
Aに示すように、平常のデータ伝送可能の状態に
復する。
Next, the transmission line line voltage waveform and relay contact RLb
The temporal relationship between the opening and closing states is shown in FIGS. 5A to 5D, respectively. Under normal data transmission conditions, the voltage between the signal lines is intermittently short-circuited for extremely short periods of time, but in the case of a failure in the terminal circuit element of the slave station, as shown in Figure 5A, for example, A short-circuit condition occurs after an extremely long period of time T1 , such as 0.5 seconds. When this continuous line-to-line short circuit condition is detected at each slave station, the relay contact RLb of each slave station automatically becomes open as shown in Figure 5D. a certain period of time such as
After T 2 has elapsed, the normal closed state is automatically restored. However, during that time, the terminal circuit element of the slave station that caused the line-to-line short fault has been in a faulty state since the beginning of time T1 , as shown in Figure 5C, so the relay contact RLb of the slave station As shown in FIG. 5B, the chisel maintains the open state even after time T2 has elapsed by command from the master station. When the relay contacts RLb of each slave station are opened all at once, the short-circuited state of the signal lines is at least temporarily eliminated, so the normal state where data transmission is possible is restored as shown in Figure 5A. .

なお、以上のようにしていずれかの子局におけ
る端末回路素子の故障を発見してその子局におけ
るリレー接点RLbのみを引続き開放状態にしてお
いても、なお、信号線線間短絡障害が残存する場
合には、他の子局中に別の故障した端末回路素子
が存在することになるので、上述した親局からの
アドレスによる自動的点検を続行して、その別の
故障した端末回路素子の発見および排除を、上述
したと同様にして行なうことになる。
Furthermore, even if a failure in the terminal circuit element in one of the slave stations is discovered as described above and only the relay contact RLb in that slave station is left open, if a short-circuit fault between signal lines remains, Since there is another faulty terminal circuit element in another slave station, the above-mentioned automatic inspection using the address from the master station is continued to discover and discover the other faulty terminal circuit element. Elimination will be performed in the same manner as described above.

親局においては、各子局におけると同様に、継
続的線間短絡状態を検知して、上述した順次アド
レスによる自動的点検を指令するものであること
は勿論であるが、信号線の障害が信号線自体の線
間接触、断線あるいは停電等の他の原因による場
合には、上述した自動的点検過程によつては障害
発生の原因を検出し得ず、したがつて、平常状態
への復帰も不可能であり、他の対策によらざるを
得ないが、親局自体の故障の発見および排除は比
較的容易である。なお、上述した端末回路素子切
離しのためのリレー接点は、サージ耐量の大きい
故障発生確率の極めて小さい半導体スイツチ等に
置換することもでき、また、リレーを用いるとき
には、その駆動電源について、商用交流電源の停
電時に使用する電池の消耗を回避するための監視
機能を各子局の受送信回路7に付与することもで
きる。
It goes without saying that the master station, like each slave station, detects a continuous short-circuit condition between lines and issues an automatic check using the sequential addresses mentioned above. If the problem is due to other causes such as contact between the signal lines themselves, disconnection, or power outage, the automatic inspection process described above will not be able to detect the cause of the failure, and therefore it will be impossible to return to normal conditions. Although this is impossible and other measures must be taken, it is relatively easy to discover and eliminate failures in the master station itself. Note that the relay contacts for disconnecting the terminal circuit elements mentioned above can be replaced with semiconductor switches with high surge resistance and extremely low probability of failure.Also, when using relays, the driving power source for the relays is commercial AC power supply. It is also possible to provide the receiving and transmitting circuit 7 of each slave station with a monitoring function to avoid battery consumption during a power outage.

以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、信号線線間短絡により符号化してデータを伝
送するようにしたデータ伝送系統における信号線
線間短絡障害の発生に自動的に対応して、一時的
にその線間短絡障害を排除した状態に信号線を保
持したうえで、各局における端末回路素子による
故障原因を順次に自動的に点検して検出すること
ができ、線間短絡障害によるデータ伝送系統全体
の機能の停止時間を著しく短縮することができ
る。
As is clear from the above description, according to the present invention, it is possible to automatically cope with the occurrence of a short-circuit failure between signal lines in a data transmission system in which data is encoded and transmitted due to a short-circuit between signal lines. After temporarily maintaining the signal line in a state where the line-to-line short circuit fault has been eliminated, it is possible to sequentially automatically check and detect the cause of failure due to the terminal circuit element at each station. The time during which the entire data transmission system is stopped can be significantly reduced.

なお、本発明方式によるデータ伝送系統の自動
点検は、一対以上の信号伝送線を用いる伝送系統
にも同様に適用することができ、また、パルス幅
変調以外のデータ伝送方式による伝送系統にも適
用することができる。
The automatic inspection of data transmission systems according to the method of the present invention can be similarly applied to transmission systems using one or more pairs of signal transmission lines, and can also be applied to transmission systems using data transmission methods other than pulse width modulation. can do.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明方式によるデータ伝送系統の構
成例を示す回路図、第2図は同じくその親局から
のデータ送信波形の例を示す波形図、第3図A,
B,Cは同じくその子局からのデータ送信の過程
を順次に示す波形図、第4図は同じくその子局の
構成例を詳細に示す回路図、第5図A,B,C,
Dは同じくその信号線障害点検の過程をそれぞれ
示すタイムチヤートである。 1……親局、2−1〜2−n……子局、3,4
……信号線、5……電源補助線、6……クロツク
発生回路、7……受送信回路、TR0……出力用ト
ランジスタ、OP……演算増幅器、LED……発光
ダイオード、PTr……ホトトランジスタ、Tr…
…送信用トランジスタ、R0,R1〜R10……抵抗、
C1,C2……コンデンサ、D1〜D3……ダイオー
ド、ZD1,ZD2……ツエナーダイオード、RL……
リレー、RLb……リレー接点。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an example of the configuration of a data transmission system according to the present invention, FIG. 2 is a waveform diagram showing an example of the data transmission waveform from the master station, and FIG.
B and C are waveform diagrams sequentially showing the process of data transmission from the slave station, Figure 4 is a circuit diagram showing a detailed example of the configuration of the slave station, and Figure 5 A, B, C,
Similarly, D is a time chart showing the process of checking for signal line faults. 1... Master station, 2-1 to 2-n... Slave station, 3, 4
... Signal line, 5 ... Power supply auxiliary line, 6 ... Clock generation circuit, 7 ... Receiving and transmitting circuit, TR 0 ... Output transistor, OP ... Operational amplifier, LED ... Light emitting diode, PTr ... Photo Transistor, Tr…
... Transmission transistor, R 0 , R 1 to R 10 ... Resistor,
C 1 , C 2 ... Capacitor, D 1 to D 3 ... Diode, ZD 1 , ZD 2 ... Zener diode, RL ...
Relay, RLb...Relay contact.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 複数の子局とそれらの子局を管理する親局と
を電源から抵抗を介して線間に直流電圧を印加し
た一対の信号線により共通に接続し、前記親局お
よび前記複数の子局においてそれぞれ前記信号線
の線間に介挿したスイツチング素子とデータに応
じ駆動して前記信号線の線間を短絡することによ
り前記データを符号化して伝送するようにしたデ
ータ伝送方式において、前記複数の子局には前記
信号線の線間を選択時に短絡する前記スイツチン
グ素子に関連する回路部分と直列にスイツチ手段
をそれぞれ設け、前記信号線の線間が所定の時間
長を超えて継続的に短絡されたときには前記複数
の子局のすべてにおける前記スイツチ手段をいつ
たん開放させたのち前記親局より制御して前記複
数の子局における前記スイツチ手段を順次に閉成
させることにより前記スイツチング素子に関連す
る回路部分による信号線線間短絡障害を検出し得
るようにしたことを特徴とする自動点検機能付デ
ータ伝送方式。 2 特許請求の範囲第1項記載のデータ伝送方式
において、前記信号線線間短絡障害の発生後所定
時間長の点検期間が経過したのちには前記複数の
子局のすべてにおける前記スイツチ手段を閉成さ
せるようにしたことを特徴とする自動点検機能付
データ伝送方式。
[Scope of Claims] 1 A plurality of slave stations and a master station that manages the slave stations are commonly connected by a pair of signal lines to which a DC voltage is applied between the lines from a power supply via a resistor, and the master station and data in which the data is encoded and transmitted by driving a switching element inserted between the signal lines in each of the plurality of slave stations according to the data to short-circuit the signal lines. In the transmission method, each of the plurality of slave stations is provided with a switching means in series with a circuit part related to the switching element that short-circuits between the signal lines when selected, and the signal lines are short-circuited for a predetermined length of time. When short-circuited continuously for a period exceeding 1, the switch means in all of the plurality of slave stations are once opened, and then the switch means in the plurality of slave stations are sequentially closed under control from the master station. A data transmission system with an automatic inspection function, characterized in that a short-circuit failure between signal lines caused by a circuit portion related to the switching element can be detected. 2. In the data transmission system according to claim 1, the switch means in all of the plurality of slave stations is closed after an inspection period of a predetermined length has elapsed after the occurrence of the short-circuit fault between the signal lines. A data transmission system with an automatic inspection function.
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