JPS6118845A - 余寿命推定方法 - Google Patents
余寿命推定方法Info
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- JPS6118845A JPS6118845A JP59141076A JP14107684A JPS6118845A JP S6118845 A JPS6118845 A JP S6118845A JP 59141076 A JP59141076 A JP 59141076A JP 14107684 A JP14107684 A JP 14107684A JP S6118845 A JPS6118845 A JP S6118845A
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- Japan
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、構造材料の応力に対する強度（耐力）の余寿
命推定方法に関する。
命推定方法に関する。
一般に１機械構造の材料は、経年変化によって。
機械的強度の低下をまねくことが知られている。
そのため強度がいちぢるしく低下すると１機械構造が破
損し、大事故を生ずる恐れがあるため。
損し、大事故を生ずる恐れがあるため。
何らかの方法で材料の劣化を検出し、その余寿命を推定
してお（ことが必要になっている。
してお（ことが必要になっている。
具体的な一例として、電気機器の絶縁材料について、説
明する。
明する。
一般に電気機器の絶縁には、固体絶縁材料、液体絶縁材
料、気体絶縁材料が単独に、または組み合わせで使用さ
れている。
料、気体絶縁材料が単独に、または組み合わせで使用さ
れている。
油入変圧器などの液体絶縁や、カス絶縁開閉装置などの
気体絶縁においては８分解生成カス分析などの物理化学
的手法による絶縁劣化判定法が提案され、一部実用化さ
れているが２回転機などの固体絶縁においては、電気的
試験によるいわゆる「絶縁診断法」がその中心になって
いる。
気体絶縁においては８分解生成カス分析などの物理化学
的手法による絶縁劣化判定法が提案され、一部実用化さ
れているが２回転機などの固体絶縁においては、電気的
試験によるいわゆる「絶縁診断法」がその中心になって
いる。
しかし現状の電気的試験による絶縁診断法（直流試験法
、交流電流試験法、誘電正接試験法および部分放電試験
法では、試験電圧が被測定電気機器の定格電圧までしか
印加できないため、得られる緒特性の変化は小さく、加
えてその試験結果は試験時の環境条件、特に湿度の影響
を受けるため。
、交流電流試験法、誘電正接試験法および部分放電試験
法では、試験電圧が被測定電気機器の定格電圧までしか
印加できないため、得られる緒特性の変化は小さく、加
えてその試験結果は試験時の環境条件、特に湿度の影響
を受けるため。
絶縁劣化との安定した対応がとれないまま、経験的に劣
化状況を推測するにとどまっている。
化状況を推測するにとどまっている。
また、物理化学的手法としては、絶縁樹脂中の水素原子
数と炭素原子数の比の変化による絶縁寿命推定法などが
提唱されてはいるが、寿命点近傍で急激に低下する絶縁
破壊電圧め変化に対応したものであり、連続的に進行す
る絶縁劣化の、広い範囲にわたる劣化度を測定すること
ができない。
数と炭素原子数の比の変化による絶縁寿命推定法などが
提唱されてはいるが、寿命点近傍で急激に低下する絶縁
破壊電圧め変化に対応したものであり、連続的に進行す
る絶縁劣化の、広い範囲にわたる劣化度を測定すること
ができない。
構造材料の劣化度判定の非破壊検査技術としては光弾性
法、モアレ法、超音波法、レーザー光線法、 、ＡＥ
（アコースティックエミッション）法すどがあるが、実
働機器に適用できないとか、定量的な劣化度の判定が容
易でないなどの欠点がある。
法、モアレ法、超音波法、レーザー光線法、 、ＡＥ
（アコースティックエミッション）法すどがあるが、実
働機器に適用できないとか、定量的な劣化度の判定が容
易でないなどの欠点がある。
またＸ線を被測定材料に照射してその透過量より電気機
器巻線の絶縁劣化を診断する方法（特開昭５６−１３２
５５０）や、同様にして絶縁型カケープルの遮水層の劣
化を評価する方法（特開昭５８−１３７７１）も提案さ
れている。
器巻線の絶縁劣化を診断する方法（特開昭５６−１３２
５５０）や、同様にして絶縁型カケープルの遮水層の劣
化を評価する方法（特開昭５８−１３７７１）も提案さ
れている。
しかしながら、前者は、その明細書の発明の詳細な説明
から、軟Ｘ線を利用するものと解され。
から、軟Ｘ線を利用するものと解され。
後者については、軟Ｘ線という明記はないが、全体の記
述、特に携帯用Ｘ線装置を用いるという記述から軟Ｘ線
に限定されると解釈すべきである。
述、特に携帯用Ｘ線装置を用いるという記述から軟Ｘ線
に限定されると解釈すべきである。
（一般に硬Ｘ線装置は、大型である。）ところが、軟Ｘ
線（波長がＩＡ以上２ＯＡ以下）では波長が長いため精
度の高い診断ができないという欠点がある。
線（波長がＩＡ以上２ＯＡ以下）では波長が長いため精
度の高い診断ができないという欠点がある。
本発明は、このような欠点を解決することを目的として
なされたもので、構造材料の応力に対する強度の余寿命
を非破壊で精度よく推定できる方法を提供するものであ
る。
なされたもので、構造材料の応力に対する強度の余寿命
を非破壊で精度よく推定できる方法を提供するものであ
る。
従来は、前述したように軟Ｘ線を用いて絶縁劣化を診断
する技術が一般に知られていたが、これは被測定物質の
しわ、ピンホール、亀裂などの欠陥をＸ線透過率の差異
として検出するものである。
する技術が一般に知られていたが、これは被測定物質の
しわ、ピンホール、亀裂などの欠陥をＸ線透過率の差異
として検出するものである。
これに対し最近、硬Ｘ線を用いて宝石等の組成を判別す
る方法が、特開昭５８−１９１９５９として提案された
。該提案は、連続硬Ｘ線の特定波長のみを取り出せばＸ
線吸収係数が物体の厚みに正比例することに着眼し８組
成のバラツキを判定するものである。
る方法が、特開昭５８−１９１９５９として提案された
。該提案は、連続硬Ｘ線の特定波長のみを取り出せばＸ
線吸収係数が物体の厚みに正比例することに着眼し８組
成のバラツキを判定するものである。
本出願は、この考え方をさらに延長して、加熱により樹
脂等の組成の化学変化が経時的に進むことによる分子構
造の変化がＸ線吸収係数の経時変化にあられれることに
着目し、構造材料の応力に対する強度（耐力）の余寿命
推定を行うものである。
脂等の組成の化学変化が経時的に進むことによる分子構
造の変化がＸ線吸収係数の経時変化にあられれることに
着目し、構造材料の応力に対する強度（耐力）の余寿命
推定を行うものである。
以下に本発明の具体的実施例を手順にそって説明する。
（１）第１図に示すような８時間ｔに対する強度σの劣
化の関係と、第２図に示すような時間ｔに対する硬Ｘ線
吸収係数変化率Δμの関係を非破壊で少なくとも４点以
上（１，，１，，１，，１，、・・・・・・・）で実測
して求める。
化の関係と、第２図に示すような時間ｔに対する硬Ｘ線
吸収係数変化率Δμの関係を非破壊で少なくとも４点以
上（１，，１，，１，，１，、・・・・・・・）で実測
して求める。
（２）吹に、第１図及び第２図から時間ｔを消去して、
硬Ｘ線吸収係数変化率Δμに対する強度低下率Δσの関
係をΔσ−ａΔμｂ （たたし、 ａ、 ｂは定数
）として求める。（近似させる）その結果を第３図に示
す。
硬Ｘ線吸収係数変化率Δμに対する強度低下率Δσの関
係をΔσ−ａΔμｂ （たたし、 ａ、 ｂは定数
）として求める。（近似させる）その結果を第３図に示
す。
（３）残留強度σは、初期強度σ。から強度低下率Δμ
を差し引いたものであるので、前述の関係から第４図が
求まる。
を差し引いたものであるので、前述の関係から第４図が
求まる。
つまり、残留強度σがその材料に加わる最大応力σｄ以
下になる時点ｔｅ かその寿命となるので。
下になる時点ｔｅ かその寿命となるので。
使用開始時ｔ。からの経過時間ｔｎを寿命時間ｔ。
から差し引けば余寿命１（が求まる。（第４図参照）
なお、ここでは最大応力σｄはここではσｃｌ−ｍｔｎ
（たたし、ｍ、ｎは定数）で近似させているが、これに
限定されるものではない。
（たたし、ｍ、ｎは定数）で近似させているが、これに
限定されるものではない。
また、ここで言う強度（応力）とは、引っ張り強さ１曲
げ強さ、衝撃強さなどのいろいろな尺度があり、それぞ
れについて適用できる。
げ強さ、衝撃強さなどのいろいろな尺度があり、それぞ
れについて適用できる。
以上述べたように本発明によれば、被測定材料の余寿命
を非破壊にて推定できる。
を非破壊にて推定できる。
そのため１例えば電気機器などの保全における修理や更
新などの処置を、データベースに信頼度高く行うことが
でき、また電気機器の構造設計。
新などの処置を、データベースに信頼度高く行うことが
でき、また電気機器の構造設計。
絶縁設計を直接的に検証し、設計にフィードバックする
ことにより、電気機器の信頼性向上を図ることができる
というすぐれた効果を奏するものである。
ことにより、電気機器の信頼性向上を図ることができる
というすぐれた効果を奏するものである。
第１図〜第４図は本発明の具体的実施例を説明するグラ
フである。 第１図 第２図 第３図 ４μ 第 ４ 図 手続補正書く自発） 昭和５９年１０月 ３日 １、事件の表示 昭和５９年特訂ｆｌ第ｊ４１０７６号 ２、発明の名称 余有＠１狂定方法 ３、補正をづる省 事件との関係 特許出願人 住所 福岡県北九州市八幡西区大字藤田２３４６番地明
細古の「発明の訂細な説明ｊの欄 ５、補正の内容 明ｍｍ１ｆｌｏ行ｒＩＡ以Ｊ＝２０Ａ以下Ｊとあるのを
、［１Δ以上２０Ａ以下」に訂正しまず。
フである。 第１図 第２図 第３図 ４μ 第 ４ 図 手続補正書く自発） 昭和５９年１０月 ３日 １、事件の表示 昭和５９年特訂ｆｌ第ｊ４１０７６号 ２、発明の名称 余有＠１狂定方法 ３、補正をづる省 事件との関係 特許出願人 住所 福岡県北九州市八幡西区大字藤田２３４６番地明
細古の「発明の訂細な説明ｊの欄 ５、補正の内容 明ｍｍ１ｆｌｏ行ｒＩＡ以Ｊ＝２０Ａ以下Ｊとあるのを
、［１Δ以上２０Ａ以下」に訂正しまず。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 あらかじめ非破壊で、経過時間ｔに対応する被測定材料
の強度σの低下度合と硬Ｘ線吸収係数変化率Δμとを実
測し、その結果から強度低下率Δσに対する硬Ｘ線吸収
係数変化率Δμとの関係を、 Δσ＝ａΔμ＾ｂ（ただし、ａ、ｂは定数）として近似
させ、 被測定材料に作用する最大応力σ＿ｄと残留強度σ（初
期強度σ＿０から強度低下率Δσを差し引いた強度）が
等しくなる時点を寿命時間として推定し、その寿命時間
から現在までの経過時間を差し引いたものを被測定材料
の余寿命と推定することを特徴とする余寿命推定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59141076A JPS6118845A (ja) | 1984-07-06 | 1984-07-06 | 余寿命推定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59141076A JPS6118845A (ja) | 1984-07-06 | 1984-07-06 | 余寿命推定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6118845A true JPS6118845A (ja) | 1986-01-27 |
Family
ID=15283664
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59141076A Pending JPS6118845A (ja) | 1984-07-06 | 1984-07-06 | 余寿命推定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6118845A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010095259A1 (ja) * | 2009-02-23 | 2010-08-26 | 三菱電機株式会社 | 開閉装置の余寿命診断方法及び装置 |
-
1984
- 1984-07-06 JP JP59141076A patent/JPS6118845A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010095259A1 (ja) * | 2009-02-23 | 2010-08-26 | 三菱電機株式会社 | 開閉装置の余寿命診断方法及び装置 |
| JP5192585B2 (ja) * | 2009-02-23 | 2013-05-08 | 三菱電機株式会社 | 開閉装置の余寿命診断方法及び装置 |
| TWI409602B (zh) * | 2009-02-23 | 2013-09-21 | Mitsubishi Electric Corp | 開閉裝置的剩餘壽命診斷方法及裝置 |
| US8958993B2 (en) | 2009-02-23 | 2015-02-17 | Mitsubishi Electric Corporation | Switching-device remaining lifetime diagnosis method and apparatus |
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