JPS61187261A - Lead frame for semiconductor and manufacture thereof - Google Patents

Lead frame for semiconductor and manufacture thereof

Info

Publication number
JPS61187261A
JPS61187261A JP2738985A JP2738985A JPS61187261A JP S61187261 A JPS61187261 A JP S61187261A JP 2738985 A JP2738985 A JP 2738985A JP 2738985 A JP2738985 A JP 2738985A JP S61187261 A JPS61187261 A JP S61187261A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead frame
silver plating
silver
metal substrate
plating layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2738985A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kiyoshi Nagai
清 永井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Taiyo Sanso Co Ltd
Original Assignee
Taiyo Sanso Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Taiyo Sanso Co Ltd filed Critical Taiyo Sanso Co Ltd
Priority to JP2738985A priority Critical patent/JPS61187261A/en
Publication of JPS61187261A publication Critical patent/JPS61187261A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4814Conductive parts
    • H01L21/4821Flat leads, e.g. lead frames with or without insulating supports

Abstract

PURPOSE:To reduce cost by directly forming a silver plating layer on a metallic substrate constituting a lead frame through an electroless plating method. CONSTITUTION:A metallic substrate 1 shaping a lead frame is pre-treated, and dipped in an etching liquid, and the outer surface of the substrate is etched and treated. The substrate is washed by ion-exchange water, dried, and introduced into a vacuum furnace and heated, and nitrogen gas is encapsulated into the vacuum furnace to return pressure in the furnace to atmospheric pressure, thus cooling the frame. The substrate is forwarded to a rinsing treating process 6, dipped in a rinsing liquid, washed by ion-exchange water, and dried. On the other hand, a silver plating liquid is compounded in a silver plating liquid compounding process 7, and the lead frame is plated with silver 2 as fast as possible. Accordingly, a plating treating process is simplified, and the cost of the lead frame is reduced.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、金属基板上へ無電解メッキ法により、直接
銀メッキ層を形成した半導体用リードフレームと、その
製造方法に関するものであり、特にステンレス鋼や鉄等
を用いた低価格のリードフレームの実用化を可能とする
ものである。
[Detailed Description of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a semiconductor lead frame in which a silver plating layer is directly formed on a metal substrate by an electroless plating method, and a method for manufacturing the same. This makes it possible to put into practical use low-cost lead frames made of stainless steel, iron, etc.

(従来の技術) 従来、半導体用リードフレームの材料としては、二バー
ル、42ニッケル合金、52ニッケル合金、銅系合金等
が広く利用されており、その中でも銅系合金と42ニッ
ケル合金で全体の80%以上を占めている。これはリー
ドフレーム材料として要求される寸法精度、機械的性質
、電気的性質、熱伝導度、熱膨張系数、打抜き性及び耐
食性等についてすぐれた性能を発揮するからに他ならな
い。
(Prior art) Conventionally, materials such as Nivar, 42 nickel alloy, 52 nickel alloy, copper alloy, etc. have been widely used as materials for semiconductor lead frames, and among these, copper alloy and 42 nickel alloy have It accounts for over 80%. This is because it exhibits excellent performance in terms of dimensional accuracy, mechanical properties, electrical properties, thermal conductivity, coefficient of thermal expansion, punchability, corrosion resistance, etc. required for lead frame materials.

しかし乍ら、前記ニッケル合金や銅系合金は、価格がS
 U S 304ステンレス鋼の略2倍、鉄の略4倍で
あり、リードフレームのコストダウンを図る上で大きな
障害となっている。
However, the price of the nickel alloy and copper alloy is S
It is approximately twice as expensive as US 304 stainless steel and approximately four times as expensive as iron, which is a major obstacle in reducing the cost of lead frames.

一方、リードフレームが具備しなければならないもう一
つの重要な特性に、所謂インナーリード部のワイヤーボ
ンディングの問題がある。良好なワイヤボンディング性
を有するということは、リードフレームの不可欠の要件
であり、そのために、一般には金属基板上に銅やニッケ
ル、錫若しくはこれ等の合金をメッキし、更にインナー
リード部等の上に銀メッキを施す方法が採用されている
(特公昭59−36426号等)。
On the other hand, another important characteristic that the lead frame must have is the problem of so-called wire bonding of the inner lead portion. Having good wire bondability is an essential requirement for lead frames, and for this purpose, copper, nickel, tin, or their alloys are generally plated on the metal substrate, and then the inner leads etc. A method of silver plating has been adopted (Japanese Patent Publication No. 59-36426, etc.).

しかし乍ら、前記方法はメッキ工程が二工程になり、品
質管理が困難になると共に製造コストの引下げが図り難
いという問題がある。
However, the method described above has problems in that the plating process is a two-step process, making quality control difficult and making it difficult to reduce manufacturing costs.

(発明が解決しようとする問題点) 前述の如く、従前の半導体用リードフレームには、使用
材料面及びメッキ工程の複雑さによるコストアップのた
めに、低価格化が図れないという基本的な問題がある。
(Problems to be Solved by the Invention) As mentioned above, the basic problem with conventional semiconductor lead frames is that they cannot be lowered in price due to increased costs due to the materials used and the complexity of the plating process. There is.

本発明は、従前の半導体用リードフレームに於ける前述
の如き問題を解決するものであり、リードフレームを形
成する金属基板上に無電解メッキ法によって直接銀メッ
キを施すことによりメッキコストを引下げると共に、ス
テンレス鋼等への直接的な銀メッキを可能とすることに
より安価な金属基板の利用を図り、コストの大幅な引下
げを可能とした半導体用リードフレームとその製造方法
を提供するものである。
The present invention solves the above-mentioned problems with conventional lead frames for semiconductors, and reduces plating costs by applying silver plating directly onto the metal substrate forming the lead frame by electroless plating. In addition, the present invention provides a semiconductor lead frame and its manufacturing method that enables direct silver plating on stainless steel, etc., thereby making it possible to utilize inexpensive metal substrates and significantly reduce costs. .

(問題点を解決するための手段) 発明者等は、先きにステンレス鋼への直接無電解銀メッ
キ法を開発し、特開昭58−181857号及9特開昭
−181858号として開示している。
(Means for Solving the Problems) The inventors previously developed a direct electroless silver plating method for stainless steel and disclosed it as JP-A-58-181857 and JP-A-9 Sho-181858. ing.

前記技術は、主としてステンレス鋼製魔法瓶の真空断熱
部の外表面に銀メッキを施すことにより、銀鏡面を形成
して断熱性能を高めると共に、メッキ処理コストの引下
げを可能とするものである。
The technique mainly involves applying silver plating to the outer surface of the vacuum insulation part of a stainless steel thermos flask to form a silver mirror surface to improve insulation performance and to reduce plating processing costs.

ところで、これ等の技術は比較的大きな面積をメッキ対
象とするものであり、且つ平滑な銀鏡面さえ形成できれ
ば、銀メッキ皮膜の固着力や膜厚等が不十分であっても
所期の目的を十分に達成し得るものである。従って、当
該技術には、銀メッキ皮膜の固着力や銀メッキ皮膜の厚
さ、皮膜厚さの均−性等の面に解決すべき問題点が多く
残されており、当該技術をそのままリードフレームへ適
用することは困難である。
By the way, these techniques are for plating a relatively large area, and as long as a smooth silver mirror surface can be formed, the intended purpose can be achieved even if the adhesion strength or thickness of the silver plating film is insufficient. can be fully achieved. Therefore, this technology still has many problems to be solved in terms of the adhesion of the silver plating film, the thickness of the silver plating film, the uniformity of the film thickness, etc., and the technology can be applied directly to lead frames. It is difficult to apply it to

例えば、リードフレームに於いては、ワイヤーボンディ
ングを行なうため、銀メッキ層と金属基板間の固着力が
特に強力でなければならず、しかもインナーフレーム部
には相当の厚さの銀メッキ層を必要とする。また、半導
体チップの品質を保持するためには、銀メッキ皮膜に小
孔が残存することは許されないからである。
For example, in lead frames, wire bonding is required, so the adhesion between the silver plating layer and the metal substrate must be particularly strong, and the inner frame requires a considerably thick silver plating layer. shall be. Further, in order to maintain the quality of the semiconductor chip, it is not allowed that small pores remain in the silver plating film.

そこで、本願発明者は、銀メッキ層の固着力の向上、皮
膜厚さの増大及び皮膜に残る小孔の排除等を図るべく数
多くのメッキ試験を実施し、これ等の試験結果から、安
価でしかもワイヤーボンディング性に秀れ、且つ品質の
劣化を引き起すことの無い半導体用リードフレームとそ
の製造方法を開発したものである○ 即ち、本願第1発明は、リードフレームを構成する金属
基板上に、無電解メッキ法により銀メッキ層を直接形成
したことを基本構成とするものである。
Therefore, the inventor of the present application conducted numerous plating tests in order to improve the adhesion of the silver plating layer, increase the film thickness, and eliminate small holes remaining in the film, and based on the test results, it was found that In addition, a lead frame for semiconductors and a method for manufacturing the same which have excellent wire bonding properties and do not cause deterioration in quality have been developed. The basic structure is that a silver plating layer is directly formed by electroless plating.

また、本願第2発明は、リードフレームを構成する金属
基板の表面に弗酸及び硝酸を主成分とする処理液により
エツチング処理をしたあと、前記金属基板を温度500
℃以上で圧力I XIOTorr以下か、若しくは温度
200℃以上で水素ガスを含んだ雰囲気中で熱処理をす
ると共に、硝酸銀を含む銀波と、ブドウ糖を含む還元液
とを混合した銀メッキ液を前記熱処理後の金属基板へ接
触させ、金属基板上に銀メッキ層を直接形成することを
基本構成とするものである○ (作用) 金属基板上に中間メッキ層を設けることなく直接銀メッ
キ層を形成するため、中間メッキ層の熱膨張特性や伝熱
抵抗の影響が完全に排除され、ワイヤーボンディング加
工や樹脂モールド加工が容易になる。
Further, in the second invention of the present application, after etching the surface of the metal substrate constituting the lead frame with a treatment liquid containing hydrofluoric acid and nitric acid as main components, the metal substrate is heated to a temperature of 500.
After the heat treatment, heat treatment is performed in an atmosphere containing hydrogen gas at a temperature of ℃ or higher and a pressure of I The basic structure is to contact the metal substrate and form a silver plating layer directly on the metal substrate. ○ (Function) To form a silver plating layer directly on the metal substrate without providing an intermediate plating layer. , the effects of thermal expansion characteristics and heat transfer resistance of the intermediate plating layer are completely eliminated, making wire bonding and resin molding easier.

また、金属基板の外表面を弗酸及び硝酸を主成分とする
混酸液でエツチングしたあと、これを真空加熱若しくは
還元加熱処理するようにしているため、金属基板の外表
面が極めて高グレードの清浄面になると共に、外表面に
微少な凹凸が形成される。これによってメッキ層の固着
力が一層向−1ニすると共に、メッキ層の積み重ねによ
る層厚さの増加が容易となる。また、メッキ中に於ける
金属板外表面からのガス放出が皆無となり、メッキ層の
ピンホールの発生が防止される。
In addition, since the outer surface of the metal substrate is etched with a mixed acid solution mainly composed of hydrofluoric acid and nitric acid, and then subjected to vacuum heating or reduction heat treatment, the outer surface of the metal substrate is extremely high-grade clean. At the same time, minute irregularities are formed on the outer surface. This increases the adhesion strength of the plating layer by -1 in the layer direction, and facilitates increasing the layer thickness by stacking the plating layers. Further, there is no gas released from the outer surface of the metal plate during plating, and pinholes in the plating layer are prevented.

(実施例) 第1図は、本発明に係るステンレス鋼(SUS304)
製のリードフレームの平面図であり、第2図は軟鋼製の
リードフレームの平面図、第3図は42ニッケル合金製
のリードフレームの平面図、第4図はリードフレームの
インナーフレーム部の部分縦断面図である。
(Example) Figure 1 shows stainless steel (SUS304) according to the present invention.
Fig. 2 is a plan view of a lead frame made of mild steel, Fig. 3 is a plan view of a lead frame made of 42 nickel alloy, and Fig. 4 is a portion of the inner frame portion of the lead frame. FIG.

各フレームを形成する金属基板】の外表面は、全体が1
〜311mの厚さの銀メッキ層2によって覆われている
。また、該リードフレームのインナーフレーム部Bやチ
ップ固定部Aは、銀メッキ層の厚さが厚くなっており、
5〜10μmの厚さの銀メッキ層2が形成されている。
The entire outer surface of the metal substrate forming each frame is one
It is covered by a silver plating layer 2 with a thickness of ~311 m. In addition, the inner frame part B and chip fixing part A of the lead frame have a thicker silver plating layer.
A silver plating layer 2 with a thickness of 5 to 10 μm is formed.

第5図は、本発明のリードフレームの無電解メッキ法に
よる銀メッキ工程図であり、3はリードフレームの前処
理工程、4はエツチング工程、5は真空中に於ける熱処
理工程、5は水素ガスを含んだ雰囲気中に於ける熱処理
工程、6はリンス処理工程、7は銀メッキ液調合工程、
8は銀メッキ工程である。
FIG. 5 is a diagram showing a silver plating process using the electroless plating method for a lead frame of the present invention, where 3 is a lead frame pretreatment process, 4 is an etching process, 5 is a heat treatment process in vacuum, and 5 is a hydrogen plating process. A heat treatment process in an atmosphere containing gas, 6 a rinsing process, 7 a silver plating solution preparation process,
8 is a silver plating process.

先ず、所定の形状に成形されたリードフレーム1をアル
カリ性処理液で洗浄することにより脱脂し、更にこれを
界面活性剤を含んだフレオン113溶剤で洗浄し、フレ
ーム1の前処理を行なう。次に、エツチング工程4に於
いて、弗M7VOL%、硝酸18 VQ、、 %、氷酢
酸28 VOI−%及び残部をイオン交換水より成るエ
ツチング液に、65℃の温度条件下に約30分間浸漬し
、基板外表面にエツチング処理を施す。次に、これをイ
オン交換水によって洗浄し、乾燥したあと真空炉へ入れ
て真空度2×l0Torr、 900℃の条件下で30
分間加熱し、その後真空炉内へ窒素ガスを封入して大気
圧まで戻し、フレームを冷却する。
First, the lead frame 1 molded into a predetermined shape is degreased by cleaning with an alkaline processing liquid, and further cleaned with a Freon 113 solvent containing a surfactant to perform pretreatment of the frame 1. Next, in the etching step 4, 7 VOL% of fluorocarbon, 18 VQ, % of nitric acid, 28 VOI-% of glacial acetic acid, and the remainder were immersed in an etching solution consisting of ion-exchanged water at a temperature of 65° C. for about 30 minutes. Then, etching is performed on the outer surface of the substrate. Next, this was washed with ion-exchanged water, dried, and then placed in a vacuum furnace at a vacuum level of 2 x 10 Torr and 900°C for 30 minutes.
After heating for a minute, the vacuum furnace is filled with nitrogen gas to return it to atmospheric pressure and the frame is cooled.

尚、真空炉の加熱温度が約500℃以下、及び真空度が
I XIOTorr以上となると、良好な銀メッキ層が
得られないことが実験により確かめられている。
It has been experimentally confirmed that a good silver plating layer cannot be obtained if the heating temperature of the vacuum furnace is less than about 500° C. and the degree of vacuum is more than IXIO Torr.

又、本実施例では真空加熱による熱処理を行なっている
が、これに代えて、水素ガス5 VOL%とアルゴンガ
ス等の不活性ガス95%とから成る雰囲気中で、200
℃以上の温度で30分間加熱するようにしてもよい。こ
の場合に於いても、加熱温度が200℃以下になると、
満足すべき銀メッキ層を得ることができないことが6′
産認されている。
Further, in this example, heat treatment is performed by vacuum heating, but instead of this, 200 VOL% of hydrogen gas and 95% of inert gas such as argon gas are used.
You may make it heat for 30 minutes at the temperature of ℃ or more. Even in this case, if the heating temperature becomes 200℃ or less,
6' It is impossible to obtain a satisfactory silver plating layer.
It has been certified as a birth.

熱処理工程が終れば、これをリンス処理工程6へ送り、
錫及び適宜の水和剤より成るリンス液(具体的には、米
国ロンドンラボラトリ−社製の商品名RNA液を10万
倍のイオン交換水で希釈したもの等)に浸し、その後イ
オン交換水で水洗し、乾燥さぜる。尚、当該リンス処理
工程は、場合によっては省略することも可能である。
When the heat treatment process is finished, it is sent to the rinsing process 6,
Immerse in a rinsing liquid made of tin and an appropriate hydrating agent (specifically, RNA solution (trade name, manufactured by London Laboratory, USA) diluted 100,000 times with ion-exchanged water, etc.), and then rinse with ion-exchanged water. Wash with water and pat dry. Note that the rinsing process may be omitted depending on the case.

一方、その間に、銀メッキ液調合工程7に於いて、硝酸
銀と水酸化す) IJウムを含む銀波(具体的には、前
記米国ロンドンラボラ) IJ−社製の商品名ATA液
や商品名ATS等)と、ブドウ糖と酒酔とアルコールを
含む還元液(具体的には、米国ロンドンラボラトリ−社
製の商品名2XKR−3L等)とを等量づつ混合して銀
メッキ液を調合する。銀メッキ液の調合が終れば、可能
な限り迅速に、該銀メッキ液を用いて前記リンス処理を
終えたリードフレームの銀メッキを行なう。
Meanwhile, in the silver plating solution preparation step 7, silver nitrate and hydroxide are used.) A silver wave containing IJium (specifically, the above-mentioned London Labora, USA), a product name ATA solution manufactured by IJ-Inc., and a product name ATS solution. etc.) and a reducing solution containing glucose, drunkenness, and alcohol (specifically, product name 2XKR-3L, etc. manufactured by London Laboratory, USA) are mixed in equal amounts to prepare a silver plating solution. After the preparation of the silver plating solution is completed, the silver plating solution is used to silver plate the lead frame that has been subjected to the rinsing process as soon as possible.

銀メッキ工程に於けるメッキ処理の方法は、銀メッキ液
の中へリードフレームを浸漬する方法でもよく、或いは
銀メッキ液をリードフレームの上へ流す方法もよい。前
記銀メッキ処理を施すことにより、所謂銀鏡反応によっ
て銀メッキ層が形成され、その厚さは約1〜2μm程度
である。
The plating method in the silver plating process may be a method of immersing the lead frame in a silver plating solution, or a method of flowing a silver plating solution onto the lead frame. By carrying out the silver plating treatment, a silver plating layer is formed by a so-called silver mirror reaction, and the thickness thereof is about 1 to 2 μm.

前記メッキ処理工程8を終えたリードフレームは、水洗
いの後乾燥される。
The lead frame that has undergone the plating process 8 is washed with water and then dried.

尚、前記実施例に於いては、リードフレームの全表面に
銀メッキを施すようにしているが、リードフレームのイ
ンナーリード部Bやチップ保持部Aのを銀メンキするよ
うにしてもよい。この場合には、前記メッキ所要部のみ
へ銀メッキ液を適宜方法により滴下させるか、或いは、
スポンジ状のバンドに銀メッキ液を含浸させ、これをリ
ードフレームの所要部分へ圧接させればよい。
In the above embodiment, the entire surface of the lead frame is plated with silver, but the inner lead portion B and chip holding portion A of the lead frame may be plated with silver. In this case, the silver plating solution may be dropped by an appropriate method only on the required areas for plating, or
A sponge-like band may be impregnated with a silver plating solution, and the band may be pressed against a desired portion of the lead frame.

又、インナーリード部Bやチップ保持部Aの銀メッキ層
2を厚くしたい場合には、それ等の部分へのメッキ液の
滴下を繰り返せばよい。例えば、スポイトを用いて5回
銀メッキ液をインナーリード部Bへ滴下させた場合には
、銀メッキ層の厚さが4〜6μmまで増加した。
Furthermore, if it is desired to thicken the silver plating layer 2 on the inner lead portion B or the chip holding portion A, the plating solution may be repeatedly dropped onto these portions. For example, when the silver plating solution was dropped onto the inner lead portion B five times using a dropper, the thickness of the silver plating layer increased to 4 to 6 μm.

更に、無電解メッキ法により銀メッキを施したリードフ
レームに、電解メッキ法によって銀メッキを施し、メッ
キ層全体の厚みを増すことも可能である。
Furthermore, it is also possible to increase the thickness of the entire plating layer by applying silver plating by electrolytic plating to a lead frame that has been silver plated by electroless plating.

(発明の効果) 本発明に係る半導体用リードフレームは、中間メッキ層
を設けることなく直接銀メッキを施しているので、メッ
キ処理工程が単純化されてリードフレームの大幅なコス
トダウンが図れると共に、中間メッキ層と銀メッキ層間
の熱膨張特性の差異によるメッキ層の歪や、これに起因
する剥離が皆無となる。まノ2、チップ取付部に於いて
も、中間メッキ層を省いているため、チップとリードフ
レーム間が熱伝導のよい銀メッキ層を介して接合され、
冷却特性がより一層向上する。更に、インナーリード部
のみの銀メッキ層を厚くした場合には、メッキコストを
上昇させることなく、しかもワイヤーボンディング性能
を向上させることができる。
(Effects of the Invention) Since the semiconductor lead frame according to the present invention is directly silver plated without providing an intermediate plating layer, the plating process is simplified and the cost of the lead frame can be significantly reduced. There is no distortion of the plating layer due to the difference in thermal expansion characteristics between the intermediate plating layer and the silver plating layer, and no peeling due to this. Mano 2: Since the intermediate plating layer is omitted in the chip mounting area, the chip and lead frame are bonded via a silver plating layer with good thermal conductivity.
Cooling characteristics are further improved. Furthermore, when the silver plating layer only on the inner lead portion is made thicker, the wire bonding performance can be improved without increasing the plating cost.

一方、本発明の半導体用リードフレームの製造方法は、
金属基板にエツチング処理をした後メッキ処理を施すよ
うにしているため、エツチング処理をしない場合に比較
して銀メッキ層の固着力が大幅に向上する。また、間隔
を置いて銀メッキ液を繰返し接触させることにより、銀
メッキ層の厚さを部分的に極めて容易に、且つ確実に増
大することができ、インナーリード部等のワイヤーボン
ディング性が大幅に向−ヒする。
On the other hand, the method for manufacturing a semiconductor lead frame of the present invention includes:
Since the plating process is performed after etching the metal substrate, the adhesion of the silver plating layer is greatly improved compared to the case where no etching process is performed. In addition, by repeatedly contacting the silver plating solution at intervals, the thickness of the silver plating layer can be increased locally very easily and reliably, greatly improving the wire bonding properties of inner leads etc. Towards the end.

更に、金属基板の外表面をエツチング処理したあとこれ
を熱処理しているため、エツチング処理を行なわずに直
接熱処理をする場合に比較して、基板外表面近傍に存在
するガス分子等が一層確実、  に除去されることにな
る。その結果、銀メッキ層の形成中に基板内部から放出
されてくるガスが皆無となり、ピンホールの極めて少な
い銀メッキ層を得ることができる。
Furthermore, since the outer surface of the metal substrate is etched and then heat-treated, gas molecules existing near the outer surface of the substrate are more reliably etched than when heat-treated directly without etching. will be removed. As a result, no gas is released from inside the substrate during the formation of the silver plating layer, making it possible to obtain a silver plating layer with extremely few pinholes.

本発明は上述の通り、秀れた実用的効用を有するもので
ある。
As mentioned above, the present invention has excellent practical utility.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明に係るステンレス鋼製のり一ドフレー
ムの平面図であり、第2図は軟鋼製のリードフレームの
平面図、第3図は42ニッケル合金製のリードフレーム
の平面図である。 第4図は、インナーリード部の部分縦断面図である。 第5図は、本発明のリードフレームの銀メッキに関する
工程図である。 ■ 金属基板    A チップ固定部2 銀メッキ層
    B インナーフレーム部2 インナーリード部
等の銀メッキ層 3 前処理工程 4 リンス処理工程 5 真空熱処理工程 5 還元ガス熱処理工程 6 リンス処理工程 7 メッキ液調合工程 8 銀メッキ工程
Fig. 1 is a plan view of a stainless steel glued frame according to the present invention, Fig. 2 is a plan view of a mild steel lead frame, and Fig. 3 is a plan view of a 42 nickel alloy lead frame. be. FIG. 4 is a partial vertical sectional view of the inner lead portion. FIG. 5 is a process diagram regarding silver plating of the lead frame of the present invention. ■ Metal substrate A Chip fixing part 2 Silver plating layer B Inner frame part 2 Silver plating layer for inner lead parts etc. 3 Pretreatment process 4 Rinse treatment process 5 Vacuum heat treatment process 5 Reducing gas heat treatment process 6 Rinse treatment process 7 Plating solution preparation process 8 Silver plating process

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)リードフレームを構成する金属基板上に、無電解
メッキ法により銀メッキ層を直接形成したことを特徴と
する半導体用リードフレーム。
(1) A lead frame for a semiconductor, characterized in that a silver plating layer is directly formed on a metal substrate constituting the lead frame by electroless plating.
(2)特許請求の範囲第1項に記載の半導体用リードフ
レームに於いて、金属基板を鉄又はステンレス鋼製とす
ると共に、金属基板のインナーフレーム部の銀メッキ層
の厚さを他の部分の銀メッキ層の厚さより大きくした半
導体用リードフレーム。
(2) In the semiconductor lead frame according to claim 1, the metal substrate is made of iron or stainless steel, and the thickness of the silver plating layer on the inner frame portion of the metal substrate is set to be smaller than that of other portions. A semiconductor lead frame with a thickness greater than that of the silver plating layer.
(3)リードフレームを構成する金属基板の表面に弗酸
及び硝酸を主成分とする処理液によりエッチング処理を
したあと、前記金属基板を温度500℃以上で圧力1×
10Torr以下の真空中か、若しくは温度200℃以
上で水素ガスを含んだ雰囲気中で熱処理をすると共に、
硝酸銀を含む銀液と、ブドウ糖を含む還元液とを混合し
た銀メッキ液を前記熱処理後の金属基板へ接触させ、金
属基板上に銀メッキ層を直接形成することを特徴とする
半導体用リードフレームの製造方法。
(3) After etching the surface of the metal substrate constituting the lead frame with a treatment solution mainly composed of hydrofluoric acid and nitric acid, the metal substrate is etched at a temperature of 500°C or higher and a pressure of 1×.
In addition to heat treatment in a vacuum of 10 Torr or less or in an atmosphere containing hydrogen gas at a temperature of 200°C or more,
A lead frame for a semiconductor, characterized in that a silver plating solution, which is a mixture of a silver solution containing silver nitrate and a reducing solution containing glucose, is brought into contact with the heat-treated metal substrate to directly form a silver plating layer on the metal substrate. manufacturing method.
(4)特許請求の範囲第3項に記載の半導体用リードフ
レームの製造方法に於いて、鉄又はステンレス鋼製の金
属基板上のインナーリード部へ銀メッキ液を繰返し接触
させ、インナーリード部の銀メッキ層を厚くした半導体
用リードフレームの製造方法。
(4) In the method for manufacturing a semiconductor lead frame according to claim 3, a silver plating solution is repeatedly brought into contact with an inner lead portion on a metal substrate made of iron or stainless steel. A method for manufacturing semiconductor lead frames with a thick silver plating layer.
JP2738985A 1985-02-14 1985-02-14 Lead frame for semiconductor and manufacture thereof Pending JPS61187261A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2738985A JPS61187261A (en) 1985-02-14 1985-02-14 Lead frame for semiconductor and manufacture thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2738985A JPS61187261A (en) 1985-02-14 1985-02-14 Lead frame for semiconductor and manufacture thereof

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61187261A true JPS61187261A (en) 1986-08-20

Family

ID=12219700

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2738985A Pending JPS61187261A (en) 1985-02-14 1985-02-14 Lead frame for semiconductor and manufacture thereof

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61187261A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01140750A (en) * 1987-11-27 1989-06-01 Hitachi Cable Ltd Manufacture of lead frame
US5183724A (en) * 1990-12-18 1993-02-02 Amkor Electronics, Inc. Method of producing a strip of lead frames for integrated circuit dies in a continuous system
JPH0846114A (en) * 1995-06-22 1996-02-16 Yamaha Corp Semiconductor device and its manufacture
JPH0846107A (en) * 1994-08-04 1996-02-16 Naramoto Rika Kogyo Kk Drying method for semiconductor lead frame
JP2003534125A (en) * 2000-05-10 2003-11-18 インクロ リミテッド Improvements in nozzle configuration
DE4313980B4 (en) * 1992-04-28 2005-08-04 Denso Corp., Kariya Integrated hybrid circuit and method for its manufacture

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01140750A (en) * 1987-11-27 1989-06-01 Hitachi Cable Ltd Manufacture of lead frame
US5183724A (en) * 1990-12-18 1993-02-02 Amkor Electronics, Inc. Method of producing a strip of lead frames for integrated circuit dies in a continuous system
DE4313980B4 (en) * 1992-04-28 2005-08-04 Denso Corp., Kariya Integrated hybrid circuit and method for its manufacture
JPH0846107A (en) * 1994-08-04 1996-02-16 Naramoto Rika Kogyo Kk Drying method for semiconductor lead frame
JPH0846114A (en) * 1995-06-22 1996-02-16 Yamaha Corp Semiconductor device and its manufacture
JP2003534125A (en) * 2000-05-10 2003-11-18 インクロ リミテッド Improvements in nozzle configuration

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4122215A (en) Electroless deposition of nickel on a masked aluminum surface
JP3062086B2 (en) IC package
JPH0388747A (en) Production of optical fiber coated with metal
JPS61187261A (en) Lead frame for semiconductor and manufacture thereof
CN115410925A (en) Method for improving heat cycle reliability of aluminum nitride aluminum-coated packaging lining plate
JPS6227393A (en) Formation of copper film on ceramic substrate
US4800178A (en) Method of electroplating a copper lead frame with copper
JP4479493B2 (en) Method of plating on glass substrate and method of manufacturing magnetic recording medium using the same
CN113113321B (en) Semiconductor high-density lead frame and manufacturing process thereof
JP6620277B1 (en) Method for producing plated glass substrate
JP3567539B2 (en) Electronic component substrate and method of manufacturing the same
KR100464905B1 (en) Leadframe Surface Treatment
JPS63168043A (en) Lead frame
JPS58153764A (en) Silver plating method of thermos made of stainless steel
JPS6288394A (en) Manufacture of aluminum nitride ceramic substrate
JP2504081B2 (en) Manufacturing method of lead frame
JPH114062A (en) Plating method of ceramic multilayered board
JPS6138187Y2 (en)
JPS63149392A (en) Plating method for electrolytic ni
JPS5917880B2 (en) Board for electrical equipment
JPH01120855A (en) Manufacture of lead frame
JPS5848660A (en) Pretreatment for electroless plating
KR930024097A (en) Metal wiring method of semiconductor
JPH02275659A (en) Resin mold type semiconductor device
JPS61295648A (en) Manufacture of etching lead frame