JPS6117680U - 半導体装置の検査治具 - Google Patents
半導体装置の検査治具Info
- Publication number
- JPS6117680U JPS6117680U JP10170784U JP10170784U JPS6117680U JP S6117680 U JPS6117680 U JP S6117680U JP 10170784 U JP10170784 U JP 10170784U JP 10170784 U JP10170784 U JP 10170784U JP S6117680 U JPS6117680 U JP S6117680U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor devices
- inspection jig
- sockets
- abstract
- order
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の構成図を示し、第２図は本考案の概略
接続図である。 １０１・・・・・・プリント板、１０２・・曲■Ｃソケ
ット、１０３・・・・・・表示ランプ、１０４・・・・
・・検査信号順に送るリレー装置、１０５・・・・・・
半導体検査装置、１０６・・・・・・実装された半導体
装置、１０７・・・・・・接続用コネクタ。
接続図である。 １０１・・・・・・プリント板、１０２・・曲■Ｃソケ
ット、１０３・・・・・・表示ランプ、１０４・・・・
・・検査信号順に送るリレー装置、１０５・・・・・・
半導体検査装置、１０６・・・・・・実装された半導体
装置、１０７・・・・・・接続用コネクタ。
Claims (1)
- 少なくとも２個以上のＩＣソケットを同一基板上に配列
して組み込み、該配列されたＩＣソケットに順に検査信
号を送ることにより、該ＩＣソケット上に実装された半
導体装置を連続して検査することを可能とした半導体装
置の検査治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10170784U JPS6117680U (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | 半導体装置の検査治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10170784U JPS6117680U (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | 半導体装置の検査治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6117680U true JPS6117680U (ja) | 1986-02-01 |
Family
ID=30661125
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10170784U Pending JPS6117680U (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | 半導体装置の検査治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6117680U (ja) |
-
1984
- 1984-07-05 JP JP10170784U patent/JPS6117680U/ja active Pending
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