JPS61176207A - Signal voltage detecting circuit - Google Patents

Signal voltage detecting circuit

Info

Publication number
JPS61176207A
JPS61176207A JP60016331A JP1633185A JPS61176207A JP S61176207 A JPS61176207 A JP S61176207A JP 60016331 A JP60016331 A JP 60016331A JP 1633185 A JP1633185 A JP 1633185A JP S61176207 A JPS61176207 A JP S61176207A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
potential
transistor
node
nodes
identification output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60016331A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shintaro Shibata
信太郎 柴田
Tsuneo Mano
真野 恒夫
Junzo Yamada
順三 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP60016331A priority Critical patent/JPS61176207A/en
Priority to US06/770,087 priority patent/US4771404A/en
Priority to DE19853531580 priority patent/DE3531580A1/en
Priority to GB8521920A priority patent/GB2166615B/en
Priority to KR1019850006493A priority patent/KR900000173B1/en
Publication of JPS61176207A publication Critical patent/JPS61176207A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/56Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency
    • G11C11/565Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency using capacitive charge storage elements
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/06Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

PURPOSE:To shorten the working time by reflecting the potential difference between the 1st and 2nd nodes to the potential difference to be detected and charging or discharging the 1st and 2nd capacity charges via the 2nd MOS transistor. CONSTITUTION:The electric charge stored in the capacity of a lower potential level between the capacity C1 produced between an identification output node N1 and the earth and the capacity C2 produced between an identification output node N2 and the earth is discharged positively via MOS transistors (TR)Q1 and Q3 or Q2 and Q3 respectively. Thus the potential difference between both nodes N1 and N2 is increased. Here said discharge of the electric charge is carried out while both MOSTRs Q8 and Q9 are kept off. Therefore the electric charges stored in both capacities C1 and C2 formed between the nodes N1 and N2 and the earth respectively are never discharged through the TRs Q8 or Q9. This can decrease the working time during which the potential difference between both nodes N1 and N2 is increased and delivered as an identification output signal.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 第1と第2の識別出力節点にそれぞれ接続された第1お
よび第2の容量に電位差を有する2つの電圧を与え、そ
れぞれの識別出力節点に接続された第1および第2のM
OS トランジスタを介して放電(または充電)させる
ことによって両識別出力節点間に電位差が拡大された識
別出力信号を得る信号電圧検出回路において、第1およ
び第2の識別出力節点を第1および第2のMOS トラ
ンジスタと異なる導電タイプの第3および第4のMOS
トランジスタのソース(またはドレイン)に接続し、第
3および第4のMOS トランジスタのゲートをそれぞ
れ第1および第2の入力節点として電位差を検出すべき
2つの入力信号を加えることによって第1および第2の
識別出力節点に電位差を有する電圧を生じさせるように
したので、入力節点と識別出力節点を分離するだめのク
ロックが不要となシ従って入力信号が入力節点に印加さ
れてから識別出力節点に電位差が拡大された識別出力信
号を得るまでに必要な動作時間が短縮される。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] Two voltages having a potential difference are applied to the first and second capacitors connected to the first and second identification output nodes, respectively. the first and second M
In a signal voltage detection circuit that obtains an identification output signal with an expanded potential difference between both identification output nodes by discharging (or charging) through an OS transistor, the first and second identification output nodes are connected to the first and second identification output nodes. MOS transistor and third and fourth MOS of different conductivity type
The first and second MOS transistors are connected to the source (or drain) of the transistor, and the gates of the third and fourth MOS transistors are used as the first and second input nodes, respectively, and the potential difference is detected by applying two input signals. Since a voltage having a potential difference is generated at the identification output node of the 1st node, there is no need for a clock to separate the input node and the identification output node. The operating time required to obtain an expanded identification output signal is reduced.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、入力信号が印加される入力節点と識別出力信
号が出力される識別出力節点が分離されている信号電圧
検出回路に関するものである。
The present invention relates to a signal voltage detection circuit in which an input node to which an input signal is applied and an identification output node to which an identification output signal is output are separated.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、入力節点と識別出力節点が分離されている信号電
圧検出回路は、例えば、第4図のように構成されていた
。同図において、Ql−QlはMOSトランジスタ、N
l−N6は第1〜第6の節点、C1〜C5は節点とアー
スとの間に形成される容量、1〜3はこの信号電圧検出
回路を駆動させるだめのクロック信号φ1〜φBを発生
させるためのクロック信号発生回路、4は電圧VDDの
正電源である。
Conventionally, a signal voltage detection circuit in which an input node and an identification output node are separated has been configured as shown in FIG. 4, for example. In the same figure, Ql-Ql is a MOS transistor, N
l-N6 are the first to sixth nodes, C1 to C5 are capacitances formed between the nodes and the ground, and 1 to 3 generate clock signals φ1 to φB for driving this signal voltage detection circuit. 4 is a positive power supply of voltage VDD.

容量C1とC2、C4とC5は、それぞれ等しい容量値
をもつとする。クロック信号はlLルベルとlHルベル
の二状態をとるものとする。n−chMO8トランジス
タをオフ状態にする必要性から、′Lルベルは、アース
電位をとるものとする。また、MOSトランジスタを介
して伝達する最高の電位が正電源4に接続された共通節
点N6電位VDDであることから、n−chMO8トラ
ンジスタの閾値電圧をvth(n−ah)として、1H
°レベルは、次式を満たす一定の電位をとをものとする
It is assumed that the capacitors C1 and C2 and C4 and C5 have the same capacitance value. It is assumed that the clock signal takes two states: 1L level and 1H level. Since it is necessary to turn off the n-ch MO8 transistor, 'L level is assumed to be at ground potential. Furthermore, since the highest potential transmitted through the MOS transistor is the common node N6 potential VDD connected to the positive power supply 4, the threshold voltage of the n-ch MO8 transistor is set as vth (n-ah), and 1H
The level is defined as a constant potential that satisfies the following equation.

°H゛しゝル≧ ■DD+vth(n−8h)初期状態
において、第4図に示した信号電圧検出回路のクロック
信号φ1.φ2はlHルベル、φ8は1Lルベル状態を
とり、各節点とアース間で形成された容量01〜C5は
、MOSトランジスタQl、Q2及びQ4〜Q7を介し
て電源4よシ光電され、節点N1とN2 、 N4とN
5は等電位に設定されているものとする。
°H゛shield≧ ■DD+vth (n-8h) In the initial state, the clock signal φ1 of the signal voltage detection circuit shown in FIG. φ2 is in the lH level state, and φ8 is in the 1L level state, and the capacitances 01 to C5 formed between each node and the ground are photoelectrically connected to the power source 4 via the MOS transistors Ql, Q2, and Q4 to Q7, and are connected to the node N1. N2, N4 and N
5 is assumed to be set at equal potential.

まず、クロック信号φ2を’L“レベルにして、電源4
を識別出力節点Nl、N2から切シ離す。しかる後、ゲ
ート回路等を介して入力節点N4 、 N5に電位差を
検出すべき入力信号を印加する。これによシ、入力節点
の容量C4,C5ならびに識別出力節点の容量C1、C
2の充放電が行なわれ、識別出力節点Nl。
First, the clock signal φ2 is set to 'L' level, and the power supply 4
are separated from the identification output nodes Nl and N2. Thereafter, an input signal whose potential difference is to be detected is applied to the input nodes N4 and N5 via a gate circuit or the like. Accordingly, the capacitances C4, C5 of the input nodes and the capacitances C1, C of the identification output nodes
2 charging and discharging is performed, and the identification output node Nl.

N2にはそれぞれ入力節点N4.N5と等しい電位が現
れる。
N2 respectively have input nodes N4. A potential equal to N5 appears.

例えば、第4図の回路を用いて、−個のn−ahMO8
トランジスタと一個の容量で構成されたメモリセルの情
報を検出する例を第5図に示す。ここで、TI 、 T
2はn−chMO8トランジスタ、Elはメモリセル容
量、E2はダミーセル容量、E3.E4はビット線とア
ース間で形成される容量、Wは一組のメモリセルとダミ
ーセルを選択する選択信号φ7を発生させる選択信号発
生回路である。 φ7は、メモリセルが非選択時におい
て1Lルベルをとる。メモリセル容量は容量値C8を有
し、■DD電位とアース電位の二状態をとるものとする
。また、メモリセルの情報を検出するために、容量値C
B/2を有し、アース電位という一状態だけをとるダミ
ーセル容量トn−ChMOSトランジスタゲートから構
成されるダミーセルが準備されている。
For example, using the circuit of FIG. 4, - n-ahMO8
FIG. 5 shows an example of detecting information of a memory cell composed of a transistor and one capacitor. Here, TI, T
2 is an n-ch MO8 transistor, El is a memory cell capacity, E2 is a dummy cell capacity, E3. E4 is a capacitor formed between the bit line and ground, and W is a selection signal generating circuit that generates a selection signal φ7 for selecting a set of memory cells and dummy cells. φ7 takes 1L level when the memory cell is not selected. It is assumed that the memory cell capacitance has a capacitance value C8 and has two states: DD potential and ground potential. In addition, in order to detect the information of the memory cell, the capacitance value C
A dummy cell is prepared which has a dummy cell capacitance of B/2 and which takes only one state, that is, ground potential, and a gate of an n-ChMOS transistor.

多くのメモリセル容量と一個のダミーセル容量ii、n
−eh MOS トランジスタによるゲート回路を介し
て、それぞれビット線と呼ばれる共通の線路に接続され
、ビット線の終端は、第4図または第5図に示した入力
節点(N4またはN5 )に接続されている。ビット線
は、入力節点N4 、N5にそれぞれ接続されたビット
線で対をなしており、ある入力節点に接続されたビット
線上の一個のメモリセルが選択された場合、残シの入力
節点に接続されたビット線では、ダミーセルが選ばれる
ものとする。第5図の例では、入力節点N4側に接続さ
れたビット線上のメモリセル容量E1と入力節点N5側
に接続されたビット線上のダミーセル容量E2が選ばれ
ている。また、ビット線とアース間で形成される容量E
3.E4はともに容量値CBoを有するものとする。C
BOに片側の入力節点の容量値と片側の識別出力節点の
容量値を加えた容量値をCBとし、これをビット線容量
と呼ぶことにする。
Many memory cell capacities and one dummy cell capacity ii, n
-eh They are each connected to a common line called a bit line through a gate circuit made of MOS transistors, and the terminal end of the bit line is connected to the input node (N4 or N5) shown in Figure 4 or Figure 5. There is. The bit lines form a pair of bit lines connected to input nodes N4 and N5, respectively, and when one memory cell on the bit line connected to a certain input node is selected, it is connected to the remaining input nodes. It is assumed that a dummy cell is selected for the selected bit line. In the example of FIG. 5, the memory cell capacitance E1 on the bit line connected to the input node N4 side and the dummy cell capacitance E2 on the bit line connected to the input node N5 side are selected. Also, the capacitance E formed between the bit line and ground
3. It is assumed that both E4 have a capacitance value CBo. C
The capacitance value obtained by adding the capacitance value of the input node on one side and the capacitance value of the identification output node on the other side to BO is set as CB, and this is called the bit line capacitance.

一対のビット線は、入力節点と同じく初期電位VDDに
設定されているものとする。−組のメモリセルとダミー
セルが選ばれると、選択信号φ7はlHルベルとなシ、
メモリセル容量およびダミーセル容量から各々のビット
線への経路が開かれる。
It is assumed that the pair of bit lines are set to the initial potential VDD like the input node. - When a set of memory cells and dummy cells is selected, the selection signal φ7 becomes the lH level;
Paths from the memory cell capacitor and dummy cell capacitor to each bit line are opened.

初期状態でメモリセル容量がVDD電位を有していた場
合、ビット線容量とメモリセル容量との間で、電荷の移
動はないので、入力節点の電位v4はVDDのままであ
る。また、初期状態でメモリセル容量がアース電位を有
していた場合、ビット線容量からメモリセル容量へ電荷
の移動が起こる。電荷の移動が完了した時の入力節点N
4の電位■4は次式%式% 一方、ダミーセル容量は、初期状態でアース電位を有し
、メモリセルのKの容量値を持つので、ダミーセルから
ビット線への経路が開かれると、ビット線からダミーセ
ル−\電荷の移動が起こり、入力節点N5の電位v5は
次式で与えられる。
When the memory cell capacitance has the VDD potential in the initial state, there is no movement of charge between the bit line capacitance and the memory cell capacitance, so the potential v4 of the input node remains at VDD. Furthermore, if the memory cell capacitor has a ground potential in the initial state, charge transfer occurs from the bit line capacitor to the memory cell capacitor. Input node N when charge transfer is completed
4's potential ■ 4 is expressed by the following formula % formula % On the other hand, the dummy cell capacitor has the ground potential in the initial state and has a capacitance value of K of the memory cell, so when the path from the dummy cell to the bit line is opened, the bit line A movement of charge from the dummy cell −\ occurs from the line, and the potential v5 of the input node N5 is given by the following equation.

B V5−’VnDc、、 、C,/2’1VDn Vsi
gこの近似はCB>CBの時に成シ立ち、メモリセルの
出力電位のほぼ中間値をとる。ビット線上に読み出され
たメモリセルの出力電位と、対をなすビット線上に読み
出されたダミーセルの出力電位の電位差を検出すること
によって、メモリセルの情報(VDD電位またはアース
電位)を識別する。
B V5-'VnDc, , C,/2'1VDn Vsi
gThis approximation holds true when CB>CB, and takes approximately the intermediate value of the output potential of the memory cell. Memory cell information (VDD potential or ground potential) is identified by detecting the potential difference between the output potential of the memory cell read onto the bit line and the output potential of the dummy cell read onto the paired bit line. .

識別出力節点N1とN2の間に入力節点N4 、N5の
電位差を反映した電位差が現われた後、クロック信号発
生回路1からのクロック信号φ1を1Lルベルにして入
力節点N4.N5と識別出力節点Nl、N2をそれぞれ
切シ離し、しかる後、クロック信号発生回路3からのク
ロック信号φ8をIHlレベルにすることによシ、容量
C1〜C3の電荷は、MOSトランジスタQ1〜Q3を
介して、放電される。前記のメモリセルが接続されたピ
ット線上の信号および、ダミーセルが接続されたビット
線上の信号が、それぞれ入力節点N4.N5に印加され
た場合、入力節点N4の電位をV4 、識別出力節点N
1の電位をvl、入力節点N5の電位を■5、識別出力
節点N2の電位をv2とすると、例えばV4=V1−v
DD、■5=■z=VDD−V8ig である。
After a potential difference reflecting the potential difference between the input nodes N4 and N5 appears between the identification output nodes N1 and N2, the clock signal φ1 from the clock signal generation circuit 1 is set to 1L level and the input nodes N4. By disconnecting N5 from the identification output nodes Nl and N2, respectively, and then setting the clock signal φ8 from the clock signal generation circuit 3 to the IHl level, the charges in the capacitors C1 to C3 are transferred to the MOS transistors Q1 to Q3. is discharged through. The signal on the pit line connected to the memory cell and the signal on the bit line connected to the dummy cell are respectively input to the input node N4. When applied to N5, the potential of input node N4 is set to V4, and the identification output node N
If the potential of 1 is vl, the potential of input node N5 is 5, and the potential of identification output node N2 is v2, then, for example, V4=V1-v
DD, ■5=■z=VDD−V8ig.

今、節点Nl、N2の電位Vl、V2の間に、わずかで
はあるがV[>V2の関係が成シ立つとき、MOSトラ
ンジスタQl、Q2各々のソース・ゲート間電圧の違い
から容量C1よ多容量C2の方が速く放電され、MOS
 トランジスタQ1はオフ状態となυ、容量C1の放電
は停止する。これをもって出力節点N1の電位の低下は
停止するが、出力節点N1の電位は、n −ch MO
S トランジスタの閾値電圧Vth(n−ah)よシ高
い電位を保つ。そのため、MOSトランジスタQ2はオ
ン状態を続け、出力節点N2とアース間に接続された容
量C2に蓄えられた電荷は全て放電される。
Now, when the relationship of V[>V2 is established between the potentials Vl and V2 of the nodes Nl and N2, although slightly, the capacitance is larger than C1 due to the difference in the source-gate voltage of the MOS transistors Ql and Q2. Capacitor C2 is discharged faster and MOS
The transistor Q1 is turned off (υ), and the discharge of the capacitor C1 is stopped. With this, the potential of the output node N1 stops decreasing, but the potential of the output node N1 is n -ch MO
S Maintains a potential higher than the threshold voltage Vth (n-ah) of the transistor. Therefore, the MOS transistor Q2 continues to be in the on state, and all the charges stored in the capacitor C2 connected between the output node N2 and the ground are discharged.

結果的に出力節点N2の電位はアース電位まで低下する
ので、識別出力節点Nl、N2間の電位差が拡大される
。ところで、MOSトランジスタQ3がオン状態となる
前に、オフ状態のMOSトランジスタQ6゜Q7によっ
て、入力節点N4.N5は、識別出力節点N1、N2と
分離されているので、初期の入力信号の電位を保ち続け
る。
As a result, the potential of the output node N2 drops to the ground potential, so the potential difference between the identification output nodes Nl and N2 is expanded. By the way, before the MOS transistor Q3 turns on, the input node N4. Since N5 is separated from the discrimination output nodes N1 and N2, it continues to maintain the potential of the initial input signal.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

従来の信号電圧検出回路においては、入力節点N4.N
5に入力信号が印加されたのちに入力節点N4゜N5と
識別出力節点Nl、N2とをそれぞれ分離するために入
力節点と識別出力節点との間に挿入されたトランジスタ
をオフにするクロックを必要とするので、入力信号が入
力節点N4 、N5に印加されてから識別出力節点Nl
、N2に識別出力信号が出力されるまでの動作を高速に
行うことができないという問題がある。
In the conventional signal voltage detection circuit, input node N4. N
After the input signal is applied to 5, a clock is required to turn off the transistor inserted between the input node and the identification output node in order to separate the input node N4゜N5 from the identification output node Nl, N2. Therefore, after the input signal is applied to the input nodes N4 and N5, the identification output node Nl
, N2 cannot perform the operations at high speed until the identification output signal is output.

〔問題点を解決するだめの手段〕[Failure to solve the problem]

本発明の信号電圧検出回路はこのような従来技術の問題
点を解決するため、第1のMOS トランジスタのドレ
イン(またはソース)と第1のトランジスタと同じ導電
タイプの第2のMOSトランジスタのゲートを接続した
第1の節点とアース間に第1の容量を接続するとともに
第1のMOS トランジスタのドレイン(またはソース
)に第1のMOS トランジスタと異なる導電タイプの
第3のMOSトランジスタのソース(またはドレイン)
を接続し、第1のMOSトランジスタのゲートと第2の
MOS トランジスタのドレイン(またはソース)を接
続した第2の節点とアース間に第2の容量を接続すると
ともに第2のMOS トランジスタのドレイン(または
ソース)に第2のMOS トランジスタと異なる導電タ
イプの第4のMOS トランジスタのソース(またはド
レイン)を接続した構成を有し、第1および第2の容量
に対して充電または放電させて第1および第2の節点を
等しい電位にしたのち、第3および第4のMOSトラン
ジスタのゲートにそれぞれ電位差を検出すべき2つの入
力信号を印加して第1および第2の節点の電位差を被検
出電位差に反映させ、その後第1および第2のMOSト
ランジスタを介してそれぞれ第1および第2の容量の電
荷を放電または充電させることによって、第1の節点と
第2の節点に電位差の拡大された識別出力信号を得るよ
うにしたものである。
In order to solve the problems of the prior art, the signal voltage detection circuit of the present invention connects the drain (or source) of the first MOS transistor and the gate of the second MOS transistor of the same conductivity type as the first transistor. A first capacitor is connected between the connected first node and ground, and a first capacitor is connected between the drain (or source) of the first MOS transistor and the source (or drain) of a third MOS transistor of a conductivity type different from that of the first MOS transistor. )
A second capacitor is connected between the ground and a second node connecting the gate of the first MOS transistor and the drain (or source) of the second MOS transistor, and the drain (or source) of the second MOS transistor is The fourth MOS transistor has a configuration in which the source (or drain) of a fourth MOS transistor of a conductivity type different from that of the second MOS transistor is connected to the second MOS transistor, and the first and second capacitances are charged or discharged. After setting the and second nodes to the same potential, two input signals whose potential difference is to be detected are applied to the gates of the third and fourth MOS transistors to convert the potential difference between the first and second nodes into the detected potential difference. , and then discharging or charging the charges of the first and second capacitors through the first and second MOS transistors, respectively, thereby creating an enlarged discrimination of the potential difference between the first node and the second node. It is designed to obtain an output signal.

〔作 用〕[For production]

本発明の信号電圧検出回路では、第1の容量C1および
第2の容量C2に対して充電まだは放電させて第1の節
点N1および第2の節点N2を等しい電位にしたのち、
第3のMOS トランジスタQ8および第4のMOS 
トランジスタQ9のゲートにそれぞれ電位差を検出すべ
き2つの入力信号を印加すると第1の節点N1と第2の
節点N2の電位差が被検出電位差に反映し、その後MO
SトランジスタQ3をオンにして第1のMOSトランジ
スタQ1および第2のMOSトランジスタQ2を介して
それぞれ第1の容量C1および第2の容量C2の電荷を
放電または充電すると、第1の節点N1と第2の節点N
2の間に電位差が拡大された識別出力信号が得られる。
In the signal voltage detection circuit of the present invention, after charging and discharging the first capacitor C1 and the second capacitor C2 to bring the first node N1 and the second node N2 to the same potential,
Third MOS transistor Q8 and fourth MOS
When two input signals whose potential difference is to be detected are applied to the gate of the transistor Q9, the potential difference between the first node N1 and the second node N2 is reflected in the detected potential difference, and then the MO
When the S transistor Q3 is turned on and the charges in the first capacitor C1 and the second capacitor C2 are discharged or charged via the first MOS transistor Q1 and the second MOS transistor Q2, respectively, the first node N1 and the second node Node N of 2
2, an identification output signal with an expanded potential difference is obtained.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は、本発明の実施例の回路図であり、Q1〜Q3
. QIOはn−chMO8トランジスタQ4.Qr、
Q&。
FIG. 1 is a circuit diagram of an embodiment of the present invention, in which Q1 to Q3
.. QIO is an n-ch MO8 transistor Q4. Qr,
Q&.

Q9はp−chMO8トランジスタ、N1〜N7は節点
、01〜C6はそれぞれ節点とアース間に形成される容
量、2.3.5はクロック信号発生回路、φ2.φB。
Q9 is a p-ch MO8 transistor, N1 to N7 are nodes, 01 to C6 are capacitors formed between the nodes and ground, respectively, 2.3.5 is a clock signal generation circuit, φ2. φB.

φ5はクロック信号、4′は正電源である。容量C1と
C2、C4とC5は等しい容量値をもつとする。
φ5 is a clock signal, and 4' is a positive power supply. It is assumed that capacitors C1 and C2 and C4 and C5 have equal capacitance values.

入力節点N4.N5の初期設定電位をVDD 、 p 
chMOsトランジスタの閾値電圧を1Vth(p−a
h) l とすると、正電源4′はVDD+ 1Vth
(p−8h)1以上の電圧を有するとする。クロック信
号は1L+レベルと1Hルベルの二状態をとるものとす
る。′LルベルId、、n−chMO8トランジスタを
オフ状態、 p −ah MOS トランジスタをオン
状態にする為に最も低い電位のアース電位をとるものと
する。また、1Hルベルは、p−chMOsトランジス
タをオフ状態、n−chMOsトランジスタをオン状態
にする為に、最も高い電位の電源4′と同じ電位をとる
ものとする。
Input node N4. The initial setting potential of N5 is VDD, p
The threshold voltage of the chMOS transistor is set to 1Vth (p-a
h) If l, the positive power supply 4' is VDD+1Vth
(p-8h) Suppose that it has a voltage of 1 or more. It is assumed that the clock signal has two states: 1L+ level and 1H level. 'L level Id,, In order to turn off the n-ch MO8 transistor and turn on the p-ah MOS transistor, the lowest ground potential is taken. Further, the 1H level is assumed to have the same potential as the highest potential power source 4' in order to turn off the p-ch MOs transistor and turn on the n-ch MOs transistor.

また、第2図にクロック信号φ2.φ8.φ5のタイム
チャート例、第3図に入力節点N4.N5および識別出
力節点Nl、N2の電位波形例を示す。
Also, in FIG. 2, the clock signal φ2. φ8. An example of the time chart of φ5, FIG. 3 shows input node N4. An example of potential waveforms of N5 and identification output nodes Nl and N2 is shown.

初期状態では、入力節点N4 、N5はゲート回路等を
介して電位VDDに等しく設定され、識別出力節点Nl
、N2とアース間でそれぞれ形成された容量C1゜C2
および、共通節点N3.N7とアース間でそれぞれ形成
された容量C3、C6はMOS トランジスタQ4 、
 C5。
In the initial state, the input nodes N4 and N5 are set equal to the potential VDD via a gate circuit etc., and the identification output node Nl
, the capacitance C1°C2 formed between N2 and ground, respectively.
and common node N3. Capacitors C3 and C6 formed between N7 and ground are MOS transistors Q4,
C5.

Ql 、 C2およびC8,Q9を介して、電源4′か
ら供給された電荷によって充電されに識別出力節点Nl
、N2は、等しく、電源4′の電位に設定され、各クロ
ック信号φ2.φB、φ5は全て1Lルベルであるとす
る。
Ql, through C2 and C8, Q9, is charged by the charge supplied from the power supply 4' and identified at the output node Nl.
, N2 are equally set to the potential of the power supply 4', and each clock signal φ2 . It is assumed that φB and φ5 are all 1L lebel.

まず、クロック信号発生回路2からのクロック信号φ2
’&’H’レベルにして、電源4′を識別出力節点Nl
、N2から切シ離す。しかる後、クロック信号発生回路
5からのクロック信号φgを’H’レベルにしてMOS
 トランジスタQIQをオン状態にして、共通節点N7
からアースへの経路を開く。p −Ch MO8トラン
ジスタQ8は、そのソース・ゲート間電圧がp −ch
 MOS トランジスタの閾値電圧jvth(p−oh
) lを越えている間だけオン状態となシ、節点N1と
アース間で形成された容量C1に蓄えられた電荷は、M
OSトランジスタQ8.QIO’i介して放電される。
First, the clock signal φ2 from the clock signal generation circuit 2
'&'H' level to identify the power supply 4' to the output node Nl
, disconnect from N2. After that, the clock signal φg from the clock signal generation circuit 5 is set to 'H' level and the MOS
Turn on the transistor QIQ and connect the common node N7.
Opens a path from to earth. p -Ch MO8 transistor Q8 has a source-gate voltage of p -ch
MOS transistor threshold voltage jvth (p-oh
) The charge stored in the capacitor C1 formed between the node N1 and the ground is M
OS transistor Q8. Discharged via QIO'i.

この放電は、識別出力節点N1の電位が入力節点N4の
電位VDDよp p −ah MOS トランジスタの
閾値電圧IVth(p−eh) l  分だけ高い電位
、すなわち、VDD+1vth(、−8h)1まで低下
すると自動的に止まp、MOSトランジスタQ8はオフ
状態となる。識別出力節点N2およびMOSトランジス
タQ9についても同様でちる。初期状態において、入力
節点N4゜N5は等しく VDD電位に設定されている
ので、識別出力節点N1.N21ri等L < VDD
+ 1Vth(p−ah)l電位に自動的に設定される
This discharge causes the potential of the identification output node N1 to drop to a potential higher than the potential VDD of the input node N4 by p p -ah MOS transistor threshold voltage IVth(p-eh) l, that is, VDD+1vth(,-8h)1. Then, it automatically stops and the MOS transistor Q8 is turned off. The same applies to identification output node N2 and MOS transistor Q9. In the initial state, the input nodes N4 and N5 are set to the same VDD potential, so the identification output nodes N1 and N5 are set to the same potential. N21ri etc. L < VDD
+1Vth(p-ah)l potential is automatically set.

次に、入力節点N4.N5にゲート回路等を介して電位
差を検出すべき信号を印加する。例えば、前記、第4図
の説明でも用いたように、メモリセルが接続されたビッ
ト線上の信号を入力節点N4に印加し、ダミーセルが接
続されたビット線上の信号を入力節点N5に印加する。
Next, input node N4. A signal for detecting a potential difference is applied to N5 via a gate circuit or the like. For example, as used in the explanation of FIG. 4 above, the signal on the bit line connected to the memory cell is applied to the input node N4, and the signal on the bit line connected to the dummy cell is applied to the input node N5.

入力信号印加後の入力節点N4およびN5の電位をそれ
ぞれVDD + VDD−V、igとする。入力節点N
5の電位が■、igだけ低下したことによj5、MOS
トランジスタQ9のソース・ゲート間電圧は、p −a
h MOS トランジスタの閾値電圧1Vth(p−0
h)l  全Vsigだけ越えるので、MOSトランジ
スタQ9はオン状態となシ、識別出力節点N2とアース
間で形成された容量C2の電荷をMOS トランジスタ
Q9.QIO’i介して放電させ、識別出力節点N2の
電位が、入力節点N5の電位よシp−ch MOS ト
ランジスタの閾値電圧分IVth(p−8h)l高い電
位にまで低下する。すなわち、■、ig分だけ電位が低
下すると、再びオフ状態となる。これによシ、入力節点
N4 、N5間の電位差v81gが識別出力節点Nl 
、 N2の間の電位差v8igとして反映された。
The potentials of input nodes N4 and N5 after the input signal is applied are assumed to be VDD + VDD-V and ig, respectively. input node N
As the potential of 5 decreased by ■, ig, j5, MOS
The source-gate voltage of transistor Q9 is p −a
h MOS transistor threshold voltage 1Vth (p-0
h) l Since the voltage exceeds the total Vsig, the MOS transistor Q9 is not turned on, and the charge of the capacitor C2 formed between the identification output node N2 and the ground is transferred to the MOS transistor Q9. QIO'i is discharged, and the potential of the identification output node N2 is lowered to a potential higher than the potential of the input node N5 by the threshold voltage of the p-ch MOS transistor IVth(p-8h)l. That is, when the potential decreases by the amount of ■, ig, it becomes the off state again. As a result, the potential difference v81g between the input nodes N4 and N5 becomes the identified output node Nl.
, reflected as the potential difference between N2 v8ig.

入力節点N4 、N5の電位をV4.V5、識別出力節
点Nl。
The potential of input nodes N4 and N5 is set to V4. V5, identification output node Nl.

N2 ノミ位6vt、v2、p −ah MOS トラ
ンジスタの閾値電圧IVth(p−8h)1とすると、
平衡状態では、■+とVi 、 V5とVZの間に次式
が成立する。
N2 chime level 6vt, v2, p -ah MOS transistor threshold voltage IVth (p-8h) 1,
In an equilibrium state, the following equation holds true between ■+ and Vi, and between V5 and VZ.

vI:V” 1vth(p−ah)l 、 VZ =V
5+ 1vth(p−ah)1上記の例を用いると、V
4=VDD 、 VF−VnDVsigテアルノテ、v
l ”’Vnn+ l”th(p−ah)l 、  V
Z = vI)I)” I■th(p−ah)l  V
sigとなシ、識別出力節点N1の電位v1の方が識別
出力節点N2の電位v2よシ■sigだけ電位が高い。
vI:V” 1vth(p-ah)l, VZ=V
5+ 1vth(p-ah)1 Using the above example, V
4=VDD, VF-VnDVsigtearnote,v
l"'Vnn+l"th(p-ah)l, V
Z = vI)I)” I■th(p-ah)l V
sig, the potential v1 of the identification output node N1 is higher than the potential v2 of the identification output node N2 by an amount of sig.

識別出力節点Nl、N2間に入力節点N4.N5間の電
位差Vsigが十分反映された状態でクロック信号発生
回路3のクロック信号φs’に’H’レベルにして、共
通節点N3からアースへの経路を開くと、共通節点N3
はアース電位まで低下する。この時、同一タイプのn−
chMO8トランジスタQ1.Q2は、それぞれのソー
ス・ゲート間電圧すなわち、識別出力節点N2 、Nl
の電位がn −Ch MOS トランジスタの閾値電圧
を越えているとオン状態となる。ここでは、識別出力節
点の電位差を拡大することを目的とするので、MOSト
ランジスタQl 、 Q2のなかで少なくとも一方は必
ずオン状態となるように、初期状態の入力節点N4 、
N5の電位VDDは選ばれているものとする。
There is an input node N4 between the identification output nodes Nl and N2. When the clock signal φs' of the clock signal generation circuit 3 is set to 'H' level with the potential difference Vsig between N5 sufficiently reflected to open a path from the common node N3 to the ground, the common node N3
drops to ground potential. At this time, the same type of n-
chMO8 transistor Q1. Q2 is the respective source-gate voltage, that is, the identification output node N2, Nl
When the potential of the n −Ch MOS transistor exceeds the threshold voltage of the transistor, the transistor is turned on. Here, since the purpose is to expand the potential difference between the identification output nodes, the input nodes N4 and MOS transistors in the initial state are set so that at least one of the MOS transistors Ql and Q2 is always on.
It is assumed that the potential VDD of N5 is selected.

前出の例において、クロック信号φ8が1H1レベルと
なシ、共通節点N3の電位がアース電位まで低下した時
、各識別出力節点N1.N2の電位は、ともに、n−c
hMO8トランジスタの閾値電圧を越えているとする。
In the above example, when the clock signal φ8 is not at the 1H1 level and the potential of the common node N3 drops to the ground potential, each identification output node N1. The potential of N2 is both n-c
Assume that the threshold voltage of the hMO8 transistor is exceeded.

n −ch MOS トランジスタQl、Q2はともに
オン状態となシ、識別出力節点N1とアース間で形成さ
れた容量C1に蓄えられた電荷は、MOSトランジスタ
Ql、Q3を介して放電され、識別出力節点N2とアー
ス間で形成された容量C2に蓄えられた電荷についても
、MOSトランジスタQ2.Q3 k介して放電される
。クロック信号φ8が+Hルベルとな9、容量C1,C
2の放電が開始された時点で、識別出力節点N1の電位
の方が識別出力節点N2の′電位よシもVs i gだ
け高かったとすると、MOSトランジスタQ2のソース
・ゲート間電圧の方が、MOSトランジスタQ1のソー
ス・ゲート間電圧より高いので、容量C2の放電の方が
容量C1の放電よシも速やかに行なわれ、識別出力節点
N2の電位■2の方が識別出力節点N1の電位V1より
速く低下する。
Both n-ch MOS transistors Ql and Q2 are in the on state, and the charge stored in the capacitor C1 formed between the identification output node N1 and the ground is discharged via the MOS transistors Ql and Q3, and the electric charge is discharged through the identification output node N1 and the ground. The charge stored in the capacitor C2 formed between N2 and ground is also transferred to the MOS transistor Q2. Q3 is discharged through k. Clock signal φ8 is +H level9, capacitance C1, C
If the potential of the identification output node N1 is higher than the potential of the identification output node N2 by Vs i g at the time when the discharge of MOS transistor Q2 starts, the source-gate voltage of the MOS transistor Q2 is higher than the potential of the identification output node N2. Since the voltage between the source and gate of the MOS transistor Q1 is higher, the discharge of the capacitor C2 is faster than the discharge of the capacitor C1, and the potential 2 of the discrimination output node N2 is higher than the potential V1 of the discrimination output node N1. Declines faster.

識別出力節点N2の電位がn−chMO8トランジスタ
の閾値電圧まで低下すると、MOS トランジスタQ1
はオフ状態となって容量c1の放電を停止させるので、
識別出力節点N1の電位低下は止まる。識別出力節点N
1の電位低下が、n −ah MOS トランジスタの
閾値電圧Vth(n=。h)よシ十分高い電位で停止す
るので、MOSトランジスタQ2はオン状態を保つ。
When the potential of the identification output node N2 drops to the threshold voltage of the n-ch MO8 transistor, the MOS transistor Q1
turns off and stops discharging the capacitor c1, so
The potential drop at the identification output node N1 stops. Identification output node N
1 stops at a potential sufficiently higher than the threshold voltage Vth (n=.h) of the n-ah MOS transistor, the MOS transistor Q2 remains on.

従って、容量C2の電荷は、最終的に全て放電され識別
出力節点N2の電位はアース電位まで低下する。
Therefore, the charge in the capacitor C2 is finally completely discharged, and the potential at the identification output node N2 drops to the ground potential.

以上の動作をもって、識別出力節点Nl 、 N2間の
電位差の拡大が完了する。
With the above operations, the expansion of the potential difference between the identification output nodes Nl and N2 is completed.

第1図の実施例に示したように、本発明の回路は、MO
SトランジスタQ8.、iQ9の導電タイプが、MOS
トランジスタQ1.Q2の導電タイプと異なるという特
徴を有する。既に説明したように、Mosトランジスタ
Q1とQ3またはQ2とQ3を介して、識別出力節点N
1とアース間で形成された容量c1、識別出力節点N2
とアース間で形成された容量c2のなかで、電位の低い
方の容量に蓄えられた電荷を積極的に放電することによ
り、識別出力節点N1とN2の電位差を拡大するが、こ
の動作がMOS トランジスタQ8.Q9がオフ状態で
行なわれるという特徴を有する。従って、識別出力節点
Nl、N2間の電位差の拡大時に、MOSトランジスタ
QIC)がオン状態。
As shown in the embodiment of FIG.
S transistor Q8. , the conductive type of iQ9 is MOS
Transistor Q1. It has the characteristic that it is different from the conductive type of Q2. As already explained, the identification output node N
Capacitance c1 formed between 1 and ground, identification output node N2
By actively discharging the charge stored in the capacitor with a lower potential among the capacitor c2 formed between Transistor Q8. It has the characteristic that Q9 is carried out in the off state. Therefore, when the potential difference between the identification output nodes Nl and N2 increases, the MOS transistor QIC) is turned on.

オフ状態いずれの状態をとっても、識別出力節点Nu、
N2とアース間に形成されたそれぞれの容量C1゜C2
に蓄えられた電荷がMOSトランジスタQ8またはQ9
 k介して放電されることはない。
Regardless of the off state, the identification output node Nu,
Each capacitance C1°C2 formed between N2 and ground
The charge stored in MOS transistor Q8 or Q9
It is not discharged through k.

また、従来の入力節点と識別出力節点が分離された信号
電圧検出回路の場合、第4図に示したように入力節点N
4.N5と識別出力節点Nu、N2”t”それぞれ切り
離すために、クロック信号φ1を必要とするが、本発明
の回路は、実施例として第1図に示したように入力節点
N4.N5と識別出力節点Nu、N2をそれぞれ切シ離
すだめのクロック信号を必要としないので、入力信号が
入力節点N4 、N5に印加されてから、識別出力節点
Nl、N2に識別出力として電位差が拡大された識別出
力信号が出力されるまでの時間を短縮することができる
In addition, in the case of a conventional signal voltage detection circuit in which the input node and the identification output node are separated, the input node N
4. Although the clock signal φ1 is required to separate the identification output nodes Nu, N2"t" from the input nodes N4. Since there is no need for a clock signal to separate N5 from the identification output nodes Nu and N2, after the input signal is applied to the input nodes N4 and N5, the potential difference increases as an identification output to the identification output nodes Nl and N2. It is possible to shorten the time until the identified identification output signal is output.

第1図で用いたMOSトランジスタQ4.Q5はn−e
hMOSトランジスタでも、p −Ch MOS トラ
ンジスタでもよい。n −ah MOS トランジスタ
を用いた場合、クロック信号φ2は逆極性(’I■1g
1L+)  =用いる必要がある。さらに、初期状態で
電源4′の電位まで識別出力節点Nl、N2の電位を昇
圧できるように、′Hルベルは電源4′の電位よシもさ
らに、少なくともn−chMO8トランジスタの閾値電
圧IVth(n−ah)lだけ高いレベル金柑いる必要
がある。
MOS transistor Q4 used in FIG. Q5 is ne
It may be an hMOS transistor or a p-Ch MOS transistor. When using an n-ah MOS transistor, the clock signal φ2 has the opposite polarity ('I■1g
1L+) = Must be used. Furthermore, in order to boost the potentials of the identification output nodes Nl and N2 up to the potential of the power supply 4' in the initial state, the 'H level is set to the potential of the power supply 4' and at least the threshold voltage IVth (n -ah) It is necessary to have a higher level Kumquat.

MOSトランジスタQIOは、容量C1,C2,C3o
充電時にMOS トランジスタQ4.Q5.Q8.Q9
 ’(i−介して電源からアースへの直流パスが形成さ
れるのを防いで、低電力化を図るものであシ、直流バス
の形成を防ぐ、すなわち、MosトランジスタQ&、Q
?がオン状態とならないように節点N4とN1.・N5
とN2の電位関係を設定すれば省略可能である。
MOS transistor QIO has capacitances C1, C2, C3o
MOS transistor Q4 during charging. Q5. Q8. Q9
'(i) This is to reduce power consumption by preventing the formation of a DC path from the power supply to the ground via i.
? The nodes N4 and N1.・N5
This can be omitted by setting the potential relationship between and N2.

また、本回路と相補的な回路構成として、MOSトラン
ジスタQ4〜Q3 、QIO’e p−ch MOS 
) ラyジスタ、Qg、Q?をn−chMO8トランジ
スタで構成した回路が考えられる。後者の構成をとった
場合、回路構成として負電源を用いること、また、クロ
ック信号に逆極性を用いることになるが、動作原理は本
回路と同様である。
In addition, as a circuit configuration complementary to this circuit, MOS transistors Q4 to Q3, QIO'e p-ch MOS
) ray register, Qg, Q? A circuit configured with n-ch MO8 transistors can be considered. If the latter configuration is adopted, a negative power supply is used as the circuit configuration and reverse polarity is used for the clock signal, but the operating principle is the same as that of the present circuit.

本回路の応用として、多値論理メモリのセンスアンプと
して、アレイ構成をとった場合が考えられる。MOSト
ランジスタQIQ、QBは共通化が可能であること、識
別出力節点Nl、N2とアース間に形成された容量CI
、C2’i充放電して等電位に初期設定する方法は多数
あることから、センスアンプとしての基本構成要素は、
同じ導電タイプのMOS トランジスタQl、Q2並び
に、Qi、Q2とは異なる導電タイプのMOS トラン
ジスタQ8.Q9の計4個である。
As an application of this circuit, an array configuration may be considered as a sense amplifier for a multi-level logic memory. The MOS transistors QIQ and QB can be shared, and the capacitance CI formed between the identification output nodes Nl and N2 and the ground
, C2'i Since there are many methods for charging and discharging to initialize the equipotential, the basic components of the sense amplifier are:
MOS transistors Ql and Q2 of the same conductivity type and MOS transistors Q8 of a conductivity type different from Qi and Q2. There are a total of 4 pieces, Q9.

〔発゛明の効果〕[Effect of revelation]

本発明の回路は、入力節点と識別出力節点が分離されて
いること、また、第1図の実施例におけるMOS トラ
ンジスタQl 、 Q2とQ8 、 Q9のように異な
る導電タイプのMOSトランジスタを用いているので、
MOSトランジスタQ8.Q9がオフ状態で、識別出力
節点Nl、N2の電位差の拡大が行なわれること、また
、入力節点と識別出力節点を分離するためのクロック信
号を必要としないので、入力信号が入力信号節点に印加
されてから、識別出力節点の電位差が拡大されて、識別
出力信号として出力されるまでの動作時間を短縮するこ
とができるという利点を有する。
The circuit of the present invention is characterized in that the input node and the identification output node are separated, and that MOS transistors of different conductivity types are used, such as the MOS transistors Ql, Q2 and Q8, Q9 in the embodiment of FIG. So,
MOS transistor Q8. When Q9 is in the OFF state, the potential difference between the identification output nodes Nl and N2 is expanded, and since there is no need for a clock signal to separate the input node and the identification output node, the input signal is applied to the input signal node. This has the advantage that the operating time from when the identification output node is outputted until the identification output signal is outputted by expanding the potential difference at the identification output node can be shortened.

本回路の応用として、入力信号の電位レベルを保存した
い回路、例えば、多値論理メモリのセンスアンプに適用
すれば、非常に有効と考えられる。
This circuit is considered to be very effective if applied to a circuit that wants to preserve the potential level of an input signal, such as a sense amplifier of a multi-level logic memory.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の信号電圧検出回路の一実施例を示す図
、 第2図は第1図の信号電圧検出回路におけるり示す図、 第4図は従来の信号電圧検出回路の構成例を示す図、 第5図は第4図の回路のメモリセンス回路への適用例を
示す図である。 Q1〜QIO、TI 、TZ・・・MOS トランジス
タN1〜N7・・・節点 C1〜C6,El〜E4−・・・容量 1〜3.5・・・クロック信号発生回路W・・・選択信
号発生回路 φl〜φB、φS・・・クロック信号 φッ・・・選択信号
1 is a diagram showing an embodiment of the signal voltage detection circuit of the present invention, FIG. 2 is a diagram illustrating the signal voltage detection circuit of FIG. 1, and FIG. 4 is a diagram showing an example of the configuration of a conventional signal voltage detection circuit. FIG. 5 is a diagram showing an example of application of the circuit of FIG. 4 to a memory sense circuit. Q1 to QIO, TI, TZ...MOS transistors N1 to N7...nodes C1 to C6, El to E4-...capacitances 1 to 3.5...clock signal generation circuit W...selection signal generation Circuit φl~φB, φS... Clock signal φ... Selection signal

Claims (1)

【特許請求の範囲】 第1のMOSトランジスタのドレイン(またはソース)
と第1のMOSトランジスタと同じ導電タイプの第2の
MOSトランジスタのゲートを接続した第1の節点とア
ース間に第1の容量を接続するとともに該第1のMOS
トランジスタのドレイン(またはソース)に第1のトラ
ンジスタと異なる導電タイプの第3のMOSトランジス
タのソース(またはドレイン)を接続し、前記第1のM
OSトランジスタのゲートと前記第2のMOSトランジ
スタのドレイン(またはソース)を接続した第2の節点
とアース間に第2の容量を接続するとともに該第2のM
OSトランジスタのドレイン(またはソース)に該第2
のMOSトランジスタと異なる導電タイプの第4のMO
Sトランジスタのソース(またはドレイン)を接続して
なり、 前記第3および第4のMOSトランジスタのゲートにそ
れぞれ電位差を検出すべき2つの入力信号を印加して、 その後前記第1および第2のMOSトランジスタを介し
てそれぞれ第1および第2の容量の電荷を放電または充
電させる ことを特徴とする信号電圧検出回路。
[Claims] Drain (or source) of the first MOS transistor
A first capacitor is connected between the ground and a first node connecting the gate of a second MOS transistor of the same conductivity type as the first MOS transistor.
The source (or drain) of a third MOS transistor of a conductivity type different from that of the first transistor is connected to the drain (or source) of the transistor, and the first M
A second capacitor is connected between a second node connecting the gate of the OS transistor and the drain (or source) of the second MOS transistor and the ground, and the second M
The second layer is connected to the drain (or source) of the OS transistor.
MOS transistor and a fourth MO of a different conductivity type.
The source (or drain) of the S transistor is connected, and two input signals whose potential difference is to be detected are applied to the gates of the third and fourth MOS transistors, respectively, and then the first and second MOS transistors are connected to each other. A signal voltage detection circuit characterized by discharging or charging charges of a first capacitor and a second capacitor, respectively, via a transistor.
JP60016331A 1984-09-05 1985-01-30 Signal voltage detecting circuit Pending JPS61176207A (en)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60016331A JPS61176207A (en) 1985-01-30 1985-01-30 Signal voltage detecting circuit
US06/770,087 US4771404A (en) 1984-09-05 1985-08-28 Memory device employing multilevel storage circuits
DE19853531580 DE3531580A1 (en) 1984-09-05 1985-09-04 STORAGE ARRANGEMENT
GB8521920A GB2166615B (en) 1984-09-05 1985-09-04 Memory device
KR1019850006493A KR900000173B1 (en) 1984-09-05 1985-09-05 Memory device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60016331A JPS61176207A (en) 1985-01-30 1985-01-30 Signal voltage detecting circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61176207A true JPS61176207A (en) 1986-08-07

Family

ID=11913454

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60016331A Pending JPS61176207A (en) 1984-09-05 1985-01-30 Signal voltage detecting circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61176207A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02105631A (en) * 1988-08-25 1990-04-18 Brooktree Corp Self-synchronizing analog/digital converter system
JPH05218872A (en) * 1992-01-20 1993-08-27 Nec Corp Comparator circuit and driving method for the circuit

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02105631A (en) * 1988-08-25 1990-04-18 Brooktree Corp Self-synchronizing analog/digital converter system
JPH05218872A (en) * 1992-01-20 1993-08-27 Nec Corp Comparator circuit and driving method for the circuit

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4070590A (en) Sensing circuit for memory cells
US4612462A (en) Logic circuit having voltage booster
EP0030813B1 (en) Boosting circuits
JPS629590A (en) Amplifier circuit
US5581506A (en) Level-shifter, semiconductor integrated circuit, and control methods thereof
JPH0754638B2 (en) Shift register
JPH0334150B2 (en)
US4670666A (en) MOS transistor circuit for shared precharging of bus lines
JPS6339214A (en) Input buffer circuit
JPS61176207A (en) Signal voltage detecting circuit
EP0189908B1 (en) Dynamic memory with improved arrangement for precharging bit lines
US5153467A (en) Bootstrap circuit for word line driver in semiconductor memory
US4379345A (en) Dynamic read amplifier for metal-oxide-semiconductor memories
JPS60115095A (en) Memory device
JPH0217874B2 (en)
JPS63211190A (en) Inner clock signal generator for memory circuit
JP2003510754A (en) Zero power precharge SRAM
US5714893A (en) Signal transmission circuit
JPS6150284A (en) Driving method of shared sense amplifier circuit
JPS59132491A (en) Sense amplifier
JP2647290B2 (en) Bootstrap circuit
JPH0458206B2 (en)
JPS59213089A (en) Data latching circuit
JPS5939836B2 (en) memory integrated circuit
JPH04305894A (en) Static memory cell