JPS61173133A - Particle analyzing instrument - Google Patents

Particle analyzing instrument

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JPS61173133A
JPS61173133A JP60015974A JP1597485A JPS61173133A JP S61173133 A JPS61173133 A JP S61173133A JP 60015974 A JP60015974 A JP 60015974A JP 1597485 A JP1597485 A JP 1597485A JP S61173133 A JPS61173133 A JP S61173133A
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JP
Japan
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circuit
particle
waveform
output
pulse
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JP60015974A
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Masamichi Tani
正道 谷
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Sysmex Corp
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Sysmex Corp
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Publication date
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Publication of JPS61173133A publication Critical patent/JPS61173133A/en
Publication of JPH0479531B2 publication Critical patent/JPH0479531B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/10Investigating individual particles
    • G01N15/1031Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects
    • G01N15/12Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects by observing changes in resistance or impedance across apertures when traversed by individual particles, e.g. by using the Coulter principle
    • G01N15/131Details
    • G01N15/132Circuits

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  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve the analyzing accuracy of a particle analyzing instrument with a simple circuit by differentiating the output from a means for generating quantity of electricity according to the passage of a particle in a fine hole and processing the waveform thereof with a waveform processing unit including a discriminating means, prescribed threshold varying means, etc. CONSTITUTION:A conduction type particle detector 7 is formed of a vessel 1 contg. a particle suspended sample 2, an insulating wall 4 having the fine hole 3, electrodes 5, 6 and a detecting part which generates a pulse. The output thereof is inputted to a differentiating circuit 31 and a phase transfer correcting circuit 39 and is processed by the waveform processing unit 8 which comprises the discriminating means consisting of leading edge and trailing edge comparators 33, 34 and a TM center pulse circuit 42, the prescribed threshold varying means consisting of an ACL circuit 32, a zero level detecting means consisting of a zero cross comparator 35, a sample holding circuit 40 and a crest value A/D conversion circuit 41. A grain size recorder 9 is then operated. The distortion of the particle signal in the stage of passage through the fine hole 3 is thus corrected and the analyzing accuracy is improved.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention] 【産業上の利用分野】[Industrial application field]

力する導電式粒子検出装置に適用する粒子分析装置に関
するものである。
The present invention relates to a particle analyzer that is applied to a conductive particle detection device that uses power.

【従来の技術】[Conventional technology]

導電式粒子検出装置は、塩濃度0.8%程度の薄い電解
質液中に測定用粒子を浮遊させたところの懸濁液に一対
の電極を浸漬し、両電極間を微細孔を有する絶縁壁で隔
絶し、両電極間に電位差を与えて前記細孔を通じてのみ
電極間に電流が流れるように構成したものである。 すなわち、両側の液間に水圧差を加え細孔を通じて液と
ともに粒子を流過させると、粒子径に対する細孔径を適
切に選べば粒子の通過に対応して粒子体積に比例した電
流変化が電極間に生ずるという特性を利用した装置であ
る。 粒子検出波形を詳細に検討すると、細孔の中心付近を通
過したときのみ粒子体積に比例したパルス波高値を示し
、細孔の外周近くを通過する波形は部分的に高目の波高
値を示すこととなって、粒度情報に誤差を生じることが
確められている。 1E71’fiの鯛看111.’六ム+ス飴¥19の;
泪;品め廂子仁 口、ハ、二の模式図と、第8図の波形
図とが示すように細孔11の入口周囲は電流線密度が高
く感度が高い。ただし、図はまとめて表現したもので、
一般的には各状態が別個に起こる程度に懸濁液を希釈し
ている。 イは、細孔11の内周面のごく近くを粒子12が通過す
る場合で、入口および出口で高い波高値を示しその間は
ほぼ平坦になっている。 口は、細孔11の中心近くを通る場合で、同時刻に2つ
の粒子12が存在することがあるような通過の仕方であ
り、その波形はピークが2つあり、その間は比較的に深
い谷となっている。 ハは、細孔11の丁度中心を粒子12が通過する場合で
、ピークが一点の対称形のきれいな山形の波形を示す。 二は、入口では細孔11の内周面近くを、出口では中心
近くを通るように斜めに通過した場合で、その波形は入
口での高い波高部と、これに続く平坦部とを有するもの
となっている。 導電式粒子検出装置は構造が簡単で、しかも感度が高い
ため、懸濁液中を走査する上で細孔の閉塞トラブルと、
粒子通過経路による粒子信号歪の欠点はあるが、広く利
用されている粒子測定装置の一つである。従来から精密
粒子分析の分野では、この装置の検出歪に対する対策が
問題とされ、種々の研究が続けられてきた。 ベルヌーイの原理を応用して粒子の細孔流通通路を中心
部の狭い範囲に絞る「ハイドロダイナミックフォーカシ
ング」あるいは「シースフロー」と呼ばれる、特開昭5
3−119086号公報その他に見られる流体力学面で
の改良法がその一つである。 また、検出粒子信号波形を分析し、細孔の中心付近を通
過する歪のない信号以外の、歪を持った信号をすべて無
視する波形選択によるものも一つの改良法である。 その他にも種々あるが、これら2つが代表的なものであ
る。
A conductive particle detection device uses a pair of electrodes immersed in a suspension of measurement particles suspended in a thin electrolyte solution with a salt concentration of about 0.8%, and an insulating wall with micropores between the two electrodes. The structure is such that a potential difference is applied between both electrodes so that current flows between the electrodes only through the pores. In other words, when a water pressure difference is applied between the liquid on both sides and the particles flow together with the liquid through the pores, if the pore size is chosen appropriately for the particle size, a current change proportional to the particle volume will occur between the electrodes in response to the passage of the particles. This is a device that takes advantage of the characteristics that occur in A detailed examination of the particle detection waveform reveals that only when the particle passes near the center of the pore, the pulse peak value is proportional to the particle volume, while the waveform that passes near the periphery of the pore shows a partially high pulse peak value. This has been confirmed to cause errors in particle size information. 1E71'fi's sea bream view 111. 'Rokumu + Su candy ¥19;
As shown in the schematic diagram of Figure 8 and the waveform diagram of Figure 8, the current line density around the entrance of the pore 11 is high and the sensitivity is high. However, the figure is a collective representation;
Generally, the suspension is diluted to such an extent that each condition occurs separately. A is a case where the particles 12 pass very close to the inner peripheral surface of the pore 11, and the wave height value is high at the entrance and exit, and the wave height value is almost flat between them. When the mouth passes near the center of the pore 11, two particles 12 may be present at the same time, and the waveform has two peaks, with a relatively deep peak between them. It is a valley. 3 shows a case where the particle 12 passes exactly through the center of the pore 11, and shows a neat mountain-shaped waveform with a symmetrical peak at one point. The second case is when the wave passes obliquely near the inner circumferential surface of the pore 11 at the entrance and near the center at the exit, and the waveform has a high crest part at the entrance and a flat part following this. It becomes. The conductive particle detection device has a simple structure and high sensitivity, so it eliminates the problem of pore clogging when scanning a suspension.
Although it has the drawback of particle signal distortion due to the particle passage path, it is one of the widely used particle measurement devices. In the field of precision particle analysis, countermeasures against the detection distortion of this device have long been an issue, and various studies have been conducted. ``Hydrodynamic focusing'' or ``sheath flow'' is a technique that uses Bernoulli's principle to narrow down the pore flow path of particles to a narrow area in the center.
One such method is an improved method in terms of fluid dynamics, which is found in Japanese Patent No. 3-119086 and others. Another improvement method is to analyze the detected particle signal waveform and select a waveform that ignores all distorted signals other than undistorted signals passing near the center of the pore. There are many others, but these two are representative.

【発明が解決しようとする問題点】[Problems to be solved by the invention]

前記の流れを絞る流体装置によるものは理想的ではある
が、複雑な流体機構を必要をするため装置が高価になり
、また保守が難しいという欠点がある。 前記波形選択の判別回路として例えば、特公昭54−2
6919号公報、特公昭55−12980号公報に示さ
れたものがある。これらは、何れも、粒子波形をピーク
ホールドして得る電圧を所定の割合に分割した各を圧レ
ベルをスレッシュホールド電圧とし、各スレッシュホー
ルド電圧と、遅延させた前記粒子波形とを比較して各レ
ベルでの波形持続時間を積分回路で相対測定し、正常基
準値と比較することによって波形を取捨選択している。 しかし、この波形選択によるものは無視した信号の数が
かなりにのぼるため、サンプリング数を多くして精度を
保つ必要があり、能率面、精度面で問題を残している。 特願昭55−115331号(昭和59年6月4日出I
N)の特許出願は同一出願人の出願に係るものであるが
、この出願の発明粒子分析装置は、前記の問題を改善し
たものである。 1礒% I 、 fr礒(ム 添の帖ヱ4址彷著アL十
−だ鉛−条件設定がむすかしくて分析精度が十分には高
くはなく、回路が複雑になるという問題があった。 この発明の目的は、回路構成がより簡単でかつ分析精度
がより高い粒子分析装置を提供することである。
Although the fluid device that restricts the flow described above is ideal, it requires a complicated fluid mechanism, making the device expensive and difficult to maintain. As a discriminating circuit for waveform selection, for example, Japanese Patent Publication No. 54-2
Some of these are disclosed in Japanese Patent Publication No. 6919 and Japanese Patent Publication No. 12980/1983. In each of these, the voltage obtained by peak-holding the particle waveform is divided into predetermined proportions, each pressure level is set as a threshold voltage, and each threshold voltage is compared with the delayed particle waveform. Waveforms are selected by relatively measuring the waveform duration at the level using an integrating circuit and comparing it with a normal reference value. However, since the number of signals ignored by this waveform selection increases considerably, it is necessary to increase the number of samplings to maintain accuracy, which leaves problems in terms of efficiency and accuracy. Patent Application No. 55-115331 (Issued on June 4, 1981)
The patent application N) is filed by the same applicant, and the invention particle analyzer of this application improves the above-mentioned problem. 1% I, friso (Mu Soe no cho ヱ 4 址彷authored by A L 10 lead) - Condition setting was difficult, analysis precision was not high enough, and the circuit was complicated. An object of the present invention is to provide a particle analyzer with a simpler circuit configuration and higher analysis accuracy.

【問題点を解決するための手段] この発明が前記問題点を解決するために講じた技術的手
段(発明の構成)は、つぎのとおりである。 すなわち、この発明の粒子分析装置は、細孔における粒
子通過に伴う電気量発生手段と、この発生電気量の微分
手段と、前記微分手段の出力波形が0レベル近くの正、
負両レベル間の所定閾外にあるときパルスを発生する弁
別手段と、前記所定閾を入力信号の大・小変化に応じて
大・小変化する所定閾可変手段と、前記微分手段の出力
波形が0レベルにある時点を検出する0レベル検出手段
と、前記弁別手段の出力信号および前記θレベル検出手
段の出力信号によって前記発生電気量の信号レベルをホ
ールドする信号レベルホールド手段と、前記弁別手段の
出力信号により前記信号レベルホールド手段の出力信号
をA/D変換するA/D変換手段とを備えたものである
。 【作用】 この発明の構成による作用は、以下の実施例における動
作説明によって明らかとなろう。
[Means for Solving the Problems] The technical means (structure of the invention) taken by this invention to solve the above problems are as follows. That is, the particle analyzer of the present invention includes a means for generating an amount of electricity accompanying the passage of particles through a pore, a means for differentiating the amount of electricity generated, and an output waveform of the differentiating means that is positive near zero level,
a discriminator that generates a pulse when the pulse is outside a predetermined threshold between both negative levels; a predetermined threshold variable means that changes the predetermined threshold to a greater or lesser extent in accordance with a larger or smaller change in the input signal; and an output waveform of the differentiator. 0 level detection means for detecting a point in time when is at 0 level; signal level holding means for holding the signal level of the amount of generated electricity according to the output signal of the discrimination means and the output signal of the θ level detection means; and the discrimination means and A/D conversion means for A/D converting the output signal of the signal level holding means using the output signal of the signal level holding means. [Operation] The effect of the configuration of the present invention will become clear from the explanation of the operation in the following embodiments.

【実施例】【Example】

この発明の一実施例を第1図ないし第3図に基づいて説
明する。第1図は粒子分析装置の主要部である波形処理
装置のブロックを、第2図はそれの動作を示す各部の波
形を、第3図は粒子分析装置の全体構成の概念図である
。 第3図において、導電式粒子検出装置7は、試料容器1
1粒子懸濁試料2.細孔3を有する検出器(絶縁壁)4
と電極5,6を備え、試料2を流動定量する流体制御部
と、電極5.6に電位差を与え、検出パルスを発生させ
増幅する検出部からなる。 波形処理装置8はこの発明の主要部をなすものであり、
第1図がそのブロック構成図を示す、波matic C
omparater Leve1回路)321前縁コン
パレータ33.後縁コンパレータ34.ゼロクロスコン
パレータ35.アンド回路36.ワンショ・ノド回路3
7.コンバートスタートパルス回路38゜移相補正回路
39.サンプルホールド回路40゜波高値A/D変換回
路41ならびにTmセンターパルス回路42からなる。 aは導電式粒子検出装置7から微分回路31および移相
補正回路39に入力される入力端子線である。 微分回路31が、発明の構成にいう「微分手段」の−例
である。 前縁コンパレータ33.後縁コンパレータ34およびT
mセンターパルス回路42が、発明の構成にいう「弁別
手段」の−例である。 ゼロクロスコンパレータ35が、発明の構成にいう「θ
レベル検出手段」の−例である。 ACL回路32が、発明の構成にいう「所定閾可変手段
」の−例である。 サンプルホールド回路40が、発明の構成にいう「信号
レベルホールド手段」の−例である。 波高値A/D変換回路41が、発明の構成にいう「A/
D変換手段」の−例であ°る。 微分回路31の出力端子は、前縁コンパレータ33、&
縁コンパレータ34およびゼロクロスコンパレータ35
の入力端子に接続されている。前縁コンパレータ33と
後縁コンパレータ34の出力端間にTmセンターパルス
回路42が接続され、Tmセンターパルス回路42の出
力端子とゼロクロスコンパレータ35の出力端子とがア
ンド回路36の入力端子に接続されている。 そして、アンド回路36の出力端子がワンショット回路
37の入力端子に接続され、ワンショット回路37の出
力端子が、サンプルホールド回路40のトリガ端子に接
続されている。ワンショット回路37は、サンプルホー
ルド回路40に対するトリガパルスを発生させるもので
ある。 移相補正回路39の出力端子はサンプルホールL+間t
J&i^^1本磯7Iマ拉独島ム 且1 +−+l −
Lルド回路40の出力端子は波高値A/D変換回路41
の入力端子に接続されている。サンプルホールド回路4
0の出力端子は波高値A/D変換回路41の入力端子に
接続されている。サンプルホールド回路40は、ワンシ
ョット回路37の出力によってトリガされたとき、波高
値A/D変換回路41に出力する。波高値A/D変換回
路41からは第3図の粒度記録装置9に出力される。 後縁コンパレータ34の出力端子はコンバートスタート
パルス回路38の入力端子に接続され、コンバートスタ
ートパルス回路38の出力端子は波高値A/D変換回路
41のトリガ端子に接続されている。コンバートスター
トパルス回路38が発生したトリガパルスは、波高値A
/D変換回路41に入力される。 つぎに、波形処理装置8の動作を第2図に基づいて説明
する。 ■″導電式粒子検出装置7から増幅された種々の波形の
粒子パルスが入力端子線aを介して微分aaff1台士
γド玖Mi旙丁rti a Q Q ry人七六飴スそ
の人力信号の波形が第2図のfalに例示されている。 すなわち、第7図の口、イ、ハに相当する波形がこの順
に示されている。 ■ 微分回路31は、適正な時定数を持つ信号の変化率
に比例する信号を得るための回路であり、第2図の入力
波形(a)の勾配係数値に対応する出力が信号線すに得
られ微分波形(b)が得られる。 ■ ACL回路32は、前縁コンパレータ33゜後縁コ
ンパレータ34の比較電圧を供給する回路であって、入
力信号の大・小変化に応じて比較電圧が大・小に変化す
る。 なお、無信号時は、バイアス直流電圧が供給されるよう
になっている。 ■ 前縁コンパレータ33にACL回路32の出力電圧
を正電圧で印加する(第2図中)のE1参照)のに対し
、後縁コンパレータ34には反転させて負電圧を印加し
く第2図中)のE2参照)、微分回路31の出力を同様
に印加する。 前縁コンパレータ33は、微分回路31の出力波形がレ
ベル電圧を正側に超える時に出力パルス後縁コンパレー
タ34は、微分回路31の出力波形がレベル電圧を負側
に超える時に出力パルスを発生する(第2図(dl参照
)。 ■ Tmセンターパルス回路42は、前縁コンパレータ
33の出力の立ち下がりで立ち上がり、後縁コンパレー
タ34の出力の立ち上がりで立ち下がるパルスを発生す
る(第2図(el参照)。 ■ ゼロクロスコンパレータ35は、比較電圧をほぼゼ
ロ電圧として、僅かにOを超えると出力パルスを発生す
る(第2図(f)参照)。 ■ ゼロクロスコンパレータ35の出力とTmセンター
パルス回路42の出力をアンド回路36に入力すると、
アンド回路36がワンショット回路37にパルスを出力
する(第2図(g)参照)。 ■ このパルスによってワンショット回路37は、サン
プルホールド回路40のトリガ端子に対してホールドス
タートトリガ信号を出力する(第2図(h)参照)。 ■ サンプルホールド回路40は、ホールドスタートト
リガ信号の人力によって、移相補正回路39からの入力
信号を、その時点でホールドする(第2図fj)参照)
。 [相] 一方、後縁コンパレーク34の出力がコンバー
トスタートパルス回路38に入力され、コンバートスタ
ートパルス回路38は、後縁パルスの立ち上がりによっ
てコンバートスタートパルスを波高値A/D変換回路4
1に出力する(第2図(1)参照)。 ■ 波高値A/D変換回路4工は、コンバートスタート
パルスによって、■でホールドしていた信号波高値をA
/D変換し、粒度記録装置9に出力する。 つぎに、微分信号をコンパレータで電圧比較した場合、
波形歪み、信号レベル変動に影響されることなく、安定
したパルス出力を得るための手段を検討する。第4図に
前縁パルスと後縁パルスの特性を示す。図の左側は正常
波形、右側は異常波形を示す。(A)は入力波形、(B
)は微分波形、血球信号を微分すると、歪み部分が強調
される。 そのため、図(B)のように一定のコンパレータ電圧に
すると、歪み部分にかかるとともに、入力信号の大小に
より、パルス幅が変動してしまう。  ′この2つの問
題を解決するために、つぎの2つの方法が考えられる。 +l)  微分信号の半値幅を自動的にピックアップす
る。 (2)  コンパレータの比較電圧を入力レベルに応じ
て動かす。 第5図の回路は、■の方法を採用したものである。 第5図において、33は前縁コンパレータ、C1はコン
デンサ、R1,R2,R3は抵抗、voは直流電源であ
る。コンデンサC1と抵抗R1とが微分回路31を構成
している。32aはACL回路32の正側部分である。 無信号時には前縁コンパレータ33の入力端子に比較電
圧V。が印加されている。入力信号があスふ−ml>、
 / (Q一本Q−)1:’都せ六徊ア漆紡告圧V。に
加算され1.前縁コンパレータ33の(−)入力端子に
印加される。この時(+)入力端子には、cl、R1の
時定数で微分された図(C’)の微分信号が印加され、
コンパレータ比較電圧が入力信号(破線)に同期してい
る。 この回路の波形を第6図に示す。(A)は入力波形、(
B)は微分波形で破線はコンパレータ電圧を示す。(C
)はコンパレータ出力波形である。 この回路の特徴は、微分波形中間部の影響を受けにくい
こと、および信号レベル変動に伴って比較電圧も追従的
に変化するため、パルス幅の変動を抑制することができ
るということである。 以上の構成により、微分回路31の出力の中間部の低い
レベルの歪みの影響が、ゼロクロスコンパレータ35.
前縁コンパレータ33および後縁コンパレータ34に対
して波及することが抑制され、粒子分析の精度が向上す
るとともに、回路構成が特願昭59−115331号に
開示の発明に比べて簡単になる。 また、後縁パルス出力の確実性が増大し、コンバートス
タートパルスとして現実に使用することができるように
なり、正規パルスレベル以外のパルスでもサンプルホー
ルドが可能となる。このため、より面素な論理を使用す
ることができ、回路構成を一層簡素化でき、精度も向上
する。 したがって、シース機構を使用しないで、従来の検出機
構に処理回路を付加するだけで、正確な粒度分布信号を
得ることも可能となる。
An embodiment of the present invention will be described based on FIGS. 1 to 3. FIG. 1 shows a block diagram of a waveform processing device which is the main part of a particle analyzer, FIG. 2 shows waveforms of each part showing its operation, and FIG. 3 is a conceptual diagram of the overall configuration of the particle analyzer. In FIG. 3, the conductive particle detection device 7 includes a sample container 1
1 particle suspension sample 2. Detector (insulating wall) 4 with pores 3
and electrodes 5 and 6, and includes a fluid control section that flows and quantifies the sample 2, and a detection section that applies a potential difference to the electrodes 5 and 6 to generate and amplify detection pulses. The waveform processing device 8 forms the main part of this invention,
Figure 1 shows the block diagram of the wavematic C
oparater Level 1 circuit) 321 Leading edge comparator 33. Trailing edge comparator 34. Zero cross comparator 35. AND circuit 36. One shot throat circuit 3
7. Conversion start pulse circuit 38° phase shift correction circuit 39. The sample and hold circuit 40 consists of a peak value A/D conversion circuit 41 and a Tm center pulse circuit 42. a is an input terminal line that is input from the conductive particle detection device 7 to the differentiation circuit 31 and the phase shift correction circuit 39. The differentiating circuit 31 is an example of the "differentiating means" in the configuration of the invention. Leading edge comparator 33. Trailing edge comparator 34 and T
The m center pulse circuit 42 is an example of the "discriminating means" referred to in the configuration of the invention. The zero cross comparator 35
This is an example of "level detection means". The ACL circuit 32 is an example of the "predetermined threshold variable means" in the configuration of the invention. The sample hold circuit 40 is an example of the "signal level hold means" in the configuration of the invention. The peak value A/D conversion circuit 41 is the “A/D converter circuit 41” that
This is an example of "D conversion means". The output terminal of the differentiating circuit 31 is connected to the leading edge comparator 33, &
Edge comparator 34 and zero cross comparator 35
is connected to the input terminal of A Tm center pulse circuit 42 is connected between the output terminals of the leading edge comparator 33 and the trailing edge comparator 34, and the output terminal of the Tm center pulse circuit 42 and the output terminal of the zero cross comparator 35 are connected to the input terminal of the AND circuit 36. There is. The output terminal of the AND circuit 36 is connected to the input terminal of the one-shot circuit 37, and the output terminal of the one-shot circuit 37 is connected to the trigger terminal of the sample-and-hold circuit 40. The one-shot circuit 37 generates a trigger pulse for the sample-and-hold circuit 40. The output terminal of the phase shift correction circuit 39 is connected to the sample hole L+t
J & i ^^1 Iso 7I Mala Dokdo Mu and 1 +-+l −
The output terminal of the LLD circuit 40 is the peak value A/D conversion circuit 41
is connected to the input terminal of Sample hold circuit 4
The output terminal of 0 is connected to the input terminal of the peak value A/D conversion circuit 41. When triggered by the output of the one-shot circuit 37, the sample-hold circuit 40 outputs the signal to the peak value A/D conversion circuit 41. The peak value A/D conversion circuit 41 outputs the signal to the grain size recording device 9 shown in FIG. The output terminal of the trailing edge comparator 34 is connected to the input terminal of the conversion start pulse circuit 38, and the output terminal of the conversion start pulse circuit 38 is connected to the trigger terminal of the peak value A/D conversion circuit 41. The trigger pulse generated by the conversion start pulse circuit 38 has a peak value of A
/D conversion circuit 41. Next, the operation of the waveform processing device 8 will be explained based on FIG. 2. ■''Particle pulses of various waveforms amplified from the conductive particle detection device 7 are differentiated via the input terminal line a. The waveforms are illustrated in fal in Figure 2. That is, the waveforms corresponding to ``A'', ``A'', and ``C'' in Figure 7 are shown in this order. This is a circuit for obtaining a signal proportional to the rate of change, and the output corresponding to the slope coefficient value of the input waveform (a) in Figure 2 is obtained on the signal line, and the differential waveform (b) is obtained. ■ ACL circuit 32 is a circuit that supplies comparison voltages for the leading edge comparator 33 and the trailing edge comparator 34, and the comparison voltage changes from large to small according to large and small changes in the input signal. Note that when there is no signal, A bias DC voltage is supplied. ■ The output voltage of the ACL circuit 32 is applied as a positive voltage to the leading edge comparator 33 (see E1 in FIG. 2), whereas the trailing edge comparator 34 is supplied with a bias DC voltage. is inverted and a negative voltage is applied (see E2 in Figure 2), and the output of the differentiating circuit 31 is similarly applied. At the same time, the output pulse trailing edge comparator 34 generates an output pulse when the output waveform of the differentiating circuit 31 exceeds the level voltage to the negative side (see FIG. 2 (dl)). It generates a pulse that rises at the fall of the output of the trailing edge comparator 34 and falls at the rise of the output of the trailing edge comparator 34 (see Figure 2 (el)). If the Tm center pulse circuit 42 is exceeded, an output pulse is generated (see Fig. 2 (f)). ■ When the output of the zero cross comparator 35 and the output of the Tm center pulse circuit 42 are input to the AND circuit 36,
The AND circuit 36 outputs a pulse to the one-shot circuit 37 (see FIG. 2(g)). (2) This pulse causes the one-shot circuit 37 to output a hold start trigger signal to the trigger terminal of the sample and hold circuit 40 (see FIG. 2(h)). ■ The sample and hold circuit 40 holds the input signal from the phase shift correction circuit 39 at that point by manually inputting the hold start trigger signal (see Fig. 2 fj))
. [Phase] On the other hand, the output of the trailing edge comparator 34 is input to the conversion start pulse circuit 38, and the conversion start pulse circuit 38 converts the conversion start pulse into the peak value A/D conversion circuit 4 by the rising edge of the trailing edge pulse.
1 (see Figure 2 (1)). ■ The wave height value A/D conversion circuit 4 converts the signal wave height held in ■ to A by the conversion start pulse.
/D conversion and output to the particle size recording device 9. Next, when comparing the voltage of the differential signal with a comparator,
We will investigate ways to obtain stable pulse output without being affected by waveform distortion or signal level fluctuations. FIG. 4 shows the characteristics of the leading edge pulse and the trailing edge pulse. The left side of the figure shows a normal waveform, and the right side shows an abnormal waveform. (A) is the input waveform, (B
) is a differential waveform, and when a blood cell signal is differentiated, the distorted part is emphasized. Therefore, if the comparator voltage is set to be constant as shown in Figure (B), the pulse width will not only be applied to the distorted portion but also fluctuate depending on the magnitude of the input signal. 'In order to solve these two problems, the following two methods can be considered. +l) Automatically pick up the half width of the differential signal. (2) Move the comparison voltage of the comparator according to the input level. The circuit shown in FIG. 5 adopts the method (2). In FIG. 5, 33 is a leading edge comparator, C1 is a capacitor, R1, R2, and R3 are resistors, and vo is a DC power supply. The capacitor C1 and the resistor R1 constitute a differentiating circuit 31. 32a is the positive side portion of the ACL circuit 32. When there is no signal, a comparison voltage V is applied to the input terminal of the leading edge comparator 33. is applied. The input signal is asf-ml>,
/ (Q 1 book Q-) 1:' Miyako Rokukou A lacquer spinning pressure V. is added to 1. Applied to the (-) input terminal of leading edge comparator 33. At this time, the differential signal shown in the diagram (C'), which is differentiated by the time constant of cl and R1, is applied to the (+) input terminal.
The comparator comparison voltage is synchronized with the input signal (dashed line). The waveforms of this circuit are shown in FIG. (A) is the input waveform, (
B) is a differential waveform, and the broken line indicates the comparator voltage. (C
) is the comparator output waveform. The characteristics of this circuit are that it is less susceptible to the influence of the intermediate portion of the differential waveform, and that the comparison voltage also changes in a manner that follows changes in the signal level, so that fluctuations in pulse width can be suppressed. With the above configuration, the influence of low-level distortion in the intermediate portion of the output of the differentiating circuit 31 is transmitted to the zero-cross comparator 35.
The influence on the leading edge comparator 33 and the trailing edge comparator 34 is suppressed, the accuracy of particle analysis is improved, and the circuit configuration is simplified compared to the invention disclosed in Japanese Patent Application No. 115331/1982. Further, the reliability of the output of the trailing edge pulse increases, and it becomes possible to actually use it as a conversion start pulse, and it becomes possible to sample and hold pulses other than the normal pulse level. Therefore, more simple logic can be used, the circuit configuration can be further simplified, and accuracy can be improved. Therefore, it is possible to obtain an accurate particle size distribution signal by simply adding a processing circuit to a conventional detection mechanism without using a sheath mechanism.

【発明の効果】【Effect of the invention】

この発明によれば、特願昭59−115331号に開示
のものに比べて、回路構成をより簡単化することができ
るとともに、分析精度をより向上することができるとい
う効果がある。
According to this invention, compared to the one disclosed in Japanese Patent Application No. 59-115331, it is possible to simplify the circuit configuration and further improve the accuracy of analysis.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の一実施例の粒子分析装置の主要部で
ある波形処理装置のブロックを、第2図はそれの動作を
示す各部の波形を、第3図は粒子分析装置の全体構成の
概念図、第4図に前縁パルスと後縁パルスの特性を示す
特性図、第5図は前縁コンパレータ回路まわりの回路図
、第6図は改善された特性図、第7図は従来例の主要部
の断面図、第8図はその波形図である。 31・・・微分回路(微分手段)、32・・・ACL回
路(所定閾可変手段)、33・・・前縁コンパレータ、
34・・・後縁コンパレータ、42・・・Tmセンター
パルス回路、(33,34,42)・・・弁別手段、3
5・・・ゼロクロスコンパレータ(0レベル検出手段)
、40・・・サンプルホールド回路(信号レベルホール
ド手段)、41・・・波高値A/D変換回路(A/D変
換手段) 第1図 第2図 第5図
Fig. 1 shows a block diagram of a waveform processing device which is the main part of a particle analyzer according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 shows waveforms of each part showing its operation, and Fig. 3 shows the overall configuration of the particle analyzer. Figure 4 is a characteristic diagram showing the characteristics of leading edge pulses and trailing edge pulses, Figure 5 is a circuit diagram around the leading edge comparator circuit, Figure 6 is an improved characteristic diagram, and Figure 7 is a conventional characteristic diagram. A sectional view of the main part of the example, and FIG. 8 is a waveform diagram thereof. 31... Differentiation circuit (differentiation means), 32... ACL circuit (predetermined threshold variable means), 33... Leading edge comparator,
34... Trailing edge comparator, 42... Tm center pulse circuit, (33, 34, 42)... Discrimination means, 3
5...Zero cross comparator (0 level detection means)
, 40... Sample hold circuit (signal level hold means), 41... Peak value A/D conversion circuit (A/D conversion means) Fig. 1 Fig. 2 Fig. 5

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 細孔における粒子通過に伴う電気量発生手段と、この発
生電気量の微分手段と、前記微分手段の出力波形が0レ
ベル近くの正、負両レベル間の所定閾外にあるときパル
スを発生する弁別手段と、前記所定閾を入力信号の大・
小変化に応じて大・小変化する所定閾可変手段と、前記
微分手段の出力波形が0レベルにある時点を検出する0
レベル検出手段と、前記弁別手段の出力信号および前記
0レベル検出手段の出力信号によって前記発生電気量の
信号レベルをホールドする信号レベルホールド手段と、
前記弁別手段の出力信号により前記信号レベルホールド
手段の出力信号をA/D変換するA/D変換手段とを備
えた粒子分析装置。
means for generating an amount of electricity accompanying the passage of particles through the pores, means for differentiating the generated amount of electricity, and generating a pulse when the output waveform of the differentiating means is outside a predetermined threshold between positive and negative levels near 0 level. a discrimination means, and the predetermined threshold is determined by the magnitude of the input signal.
a predetermined threshold variable means that changes large or small in response to small changes;
level detection means, and signal level holding means for holding the signal level of the generated quantity of electricity based on the output signal of the discrimination means and the output signal of the 0 level detection means;
A/D conversion means for A/D converting the output signal of the signal level holding means based on the output signal of the discrimination means.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5135608A (en) * 1989-07-11 1992-08-04 Hitachi, Ltd. Method of producing semiconductor devices
US5626677A (en) * 1995-04-27 1997-05-06 Nec Corporation Atmospheric pressure CVD apparatus

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