JPS61172298A - Semiconductor memory device - Google Patents

Semiconductor memory device

Info

Publication number
JPS61172298A
JPS61172298A JP60013841A JP1384185A JPS61172298A JP S61172298 A JPS61172298 A JP S61172298A JP 60013841 A JP60013841 A JP 60013841A JP 1384185 A JP1384185 A JP 1384185A JP S61172298 A JPS61172298 A JP S61172298A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
refresh
terminal
output
signal
enable terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60013841A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshio Orii
折井 俊雄
Masami Hashimoto
正美 橋本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP60013841A priority Critical patent/JPS61172298A/en
Publication of JPS61172298A publication Critical patent/JPS61172298A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To refresh cells with a low power consumption without increasing the number of terminals by selecting the cell refresh mode in accordance with the combination of two specific enable signals and switching the refresh period. CONSTITUTION:When high-level signals are applied to a chip enable terminal anti-CS and an output enable terminal anti-OE together, a signal AS is outputted from a refresh control circuit 11, and a row address switching circuit 6 selects the output of a refresh address counter 12 to set the cell refresh mode. Meanwhile, the circuit 11 selects the refresh period for high temperature or low temperature in accordance with the state of the signal from a write enable terminal anti-WE, and the refresh period is optimized in accordance with the high temperature or the low temperature. Thus, cells are refreshed with a low power consumption without increasing the number of terminals neither hindering the device from being high-density.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明:1nos型トランジスタを使用した、ダイナイ
ックRA M (Rmndarn Access Me
mory )のりフレツンユ方式に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention: A dynaic RAM (Rmndarn Access Me) using a 1nos transistor.
mory) Concerning the Nori Fretsunyu method.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

コンピュータの記憶装置庁に使われる半導体メモリはタ
イナばツクRAMとスタディツクRAMに大別される。
Semiconductor memories used in computer storage devices are broadly classified into storage RAM and storage RAM.

そのメモリセルの構成上、ダイナミックRAMは、1ト
ランジスタと、1キヤパシタとからなり、スタティック
RAMは、2トランジスタと2抵抗(父け4トランジス
タを使用する場合もある)とからなっている。その為ビ
ット当りの単価からみれば、ダイナミックRAMが安価
である。
In terms of the structure of its memory cells, a dynamic RAM consists of one transistor and one capacitor, and a static RAM consists of two transistors and two resistors (four transistors in parallel may be used). Therefore, dynamic RAM is inexpensive in terms of unit price per bit.

次にリードやライトをおこなわない状態での消費−力に
ついて考察すれば、スタティックRAMはメモリセル構
成上はフリラグフロップ回路になっている為、後述する
ようなタイナばツクRAMでのリフレッシュ動作は不要
であるため、消費′直方は僅かである。他方タイナばツ
クRAMは、キャパシタに光框されている電荷の有無に
より情報(データ)を記憶するものであるが、その電荷
は時を経るに従って熱的平衡状態に達して、記憶される
べきデータは破壊されてしまう。そこでデータが破壊さ
れる前にデータをリードレ、得度書き込む操作が必要に
なる。これをリフレッシュと呼んでいる。この時リード
されたデータは、出力端には現われないよう制御される
が、回路内部の動作はデータのリードと同一であるので
、消費゛成力は、リード時とほぼ同じ値をとる。しかし
その値は極めて大きいため、通常はデータを保持し得る
最大の時間までリフレッシュの同期を引き伸ばして、一
定時間内のリフレッシュ回数を減らすことにより低消費
心力化を実現している。その1例として、公開特許公報
昭59−5409、昭59−58997に示される64
にビットダイナミックRAMでは、リフレッシュ制御用
の端子を設けて、その入力信号パルスにより、リフレッ
シュをおこナラモード(オート リフレッシュモード)
ト、そのローレベル入力信号により、IC内部で決めら
れた周期でリフレッシュをおこなうモード(セルフ リ
フレッシュ)とをおこなうようにしている。このように
して、ビット単1曲が安く、低消費′成力なメモリを実
現する努力がなされてきた。
Next, considering power consumption when no read or write is performed, static RAM has a free-lag flop circuit in terms of its memory cell structure, so the refresh operation in tie-back RAM as described later is Since it is unnecessary, the consumption is small. On the other hand, a tie-back RAM stores information (data) depending on the presence or absence of electric charge stored in a capacitor, but as time passes, the electric charge reaches a thermal equilibrium state, and the data to be stored is stored. will be destroyed. Therefore, it is necessary to read/write the data before the data is destroyed. This is called refresh. The data read at this time is controlled so as not to appear at the output terminal, but since the internal operation of the circuit is the same as that for reading data, the power consumption takes approximately the same value as when reading. However, since this value is extremely large, the refresh synchronization is usually extended to the maximum time that data can be held, reducing the number of refreshes within a certain period of time to reduce mental energy consumption. As an example, 64
In bit dynamic RAM, a refresh control terminal is provided, and refresh is performed using the input signal pulse in Nara mode (auto refresh mode).
In response to the low-level input signal, a mode (self-refresh) is performed in which refresh is performed at a predetermined period inside the IC. In this way, efforts have been made to realize memory that is inexpensive and has low power consumption per bit.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

従来技術における問題点、■64にビットメモリの場合
は、参考INJに示すようにリフレッシュ用端子を設け
られるが、仮に256にビットの場合は、その端子対ア
ドレス信号入力端子として使用しなくてはならない為、
リフレッシュ用端子のために、ICのパッケージを16
ピンから18ピンに変える必要性が生ずる。ところがI
Cのパッケージはピン数の増加につれて、その外形寸法
が増大するので、実装時の密度が低下してしまうという
点が大きな問題である。
Problems with the prior art: (1) If 64 is a bit memory, a refresh terminal can be provided as shown in reference INJ, but if 256 is a bit, the terminal must be used as an address signal input terminal. Because it does not become
16 IC packages for refresh terminals
The need arises to change from pins to 18 pins. However, I
A major problem with the C package is that as the number of pins increases, its external dimensions increase, resulting in a reduction in packaging density.

更なる問題点は■士ルフリフレツンユモードにおけるリ
フレッシュ周期は、一定周四であるため、その周期は、
高温時の最もデータの保持し得る時間が短かい時でもデ
ータが破壊されることを防止するために、短かく設定さ
れている。そのため室温にて、セルフリフレッシュをお
こなう時には、必要以上に、高速なリフレッシュをおこ
なうことになり、岐も使用びん度の萬い室温での低消費
電力化が測れないことになる。
A further problem is ■The refresh cycle in the master refresh mode is a constant cycle of 4, so the cycle is
It is set short to prevent data from being destroyed even when data can be retained for the shortest time at high temperatures. Therefore, when performing self-refresh at room temperature, the refresh is performed at a higher speed than necessary, and no matter how many bottles are used, it is not possible to reduce power consumption at room temperature.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記問題点を解決するために、本発明は、端子数を壇や
すことすく、リフレッシュ動作をおこない得ると同時に
、リフレッシュ周期を、例えば、常温用と高温用に2種
類選択できるよう構成したものである。
In order to solve the above problems, the present invention is configured so that the number of terminals can be reduced, the refresh operation can be performed, and the refresh cycle can be selected from two types, for example, one for normal temperature and one for high temperature. be.

〔作用〕[Effect]

上a己のように+s成された、ダイナミックRAMでは
、リフレッシュ専用の端子を設けずに、チップイネーブ
ル端子と、アウトプットイネーブル端子と、ライトイネ
ーブル端子の組み合わせにより、セルフリフレッシュの
周期として2種類のうち、どちらか一方を]寵択できる
のである。
In dynamic RAM, which has been constructed as shown in the above example, two types of self-refresh cycles can be achieved by combining a chip enable terminal, an output enable terminal, and a write enable terminal, without providing a dedicated refresh terminal. You can choose one of them.

〔実施例〕〔Example〕

以下本発明を実施例に基づいて詳細に説明する。 The present invention will be described in detail below based on examples.

第1図は本発明の装置のブロック図である。C8はチッ
プの選択、非選択を制御するだめのチップ七しクト端子
。OEは、チップの出力を制(財)するアウトプットイ
ネーブル端子。WEは督き込み時にロー人力な印加する
端面と、セルフリフレッシュの2種の周期を選択する機
能とを制@I f 64子。
FIG. 1 is a block diagram of the apparatus of the present invention. C8 is the seventh chip terminal that controls chip selection and non-selection. OE is an output enable terminal that controls the output of the chip. WE controls the end surface that requires low manual force during storage and the function to select two types of self-refresh cycles.

RA Q −RA nけ、ローアドレスの、CAQ−C
Anは、カラムアドレスの入力端子。I / OQ −
I / Onはデータの人用力端子である。CS端子に
入力されたローレベル信号はゲート1を経てメモリ制御
回路2の入力となる。2からは30−アドレス入力回路
を制御して、ローアドレスを取り込むだめの制御1ご号
と、4のゲートを経て、カラムアドレス入力回路5を制
御してカラムアドレスを俄り込むための制御信号とが出
力される。嘔り込まれたローアドレスは、60−アドレ
ス切り替回路を経て、70−デコーダ入力となる。他方
カラムアドレスは8力ラムデコーダ人力となる。両デコ
ーダ出力は9メモリセルマトリクスのあるX番地を指定
し、その番地に記憶されていたデータはデータ入出力制
御回路10の入力となる。一方、OEがローレベルにな
ると、2から10へ制御信号が供給され、10は、デー
タを出力する。これかり一一6= ドサイクルでちる。ライトサイクルは、9のあるX番地
が指定された後、2からライト制御信号が出力され、I
 / OQ = nまでのデータを、10データ入出力
制御回路が入力してメモリセルの指定された@地に4き
込む。
RA Q -RA n ke, row address, CAQ-C
An is a column address input terminal. I/OQ-
I/On is the data power terminal. A low level signal input to the CS terminal passes through gate 1 and becomes input to memory control circuit 2 . From 2 to 30, a control signal 1 is used to control the address input circuit and take in the row address, and a control signal is passed through gate 4 to control the column address input circuit 5 to take in the column address. is output. The input row address passes through a 60-address switching circuit and becomes an input to a 70-decoder. On the other hand, the column address is manually controlled by an 8-power ram decoder. Both decoder outputs designate an X address in the 9 memory cell matrix, and the data stored at that address becomes the input to the data input/output control circuit 10. On the other hand, when OE becomes low level, a control signal is supplied from 2 to 10, and 10 outputs data. Korekari 116 = Do cycle dechiru. In the write cycle, after a certain X address of 9 is specified, a write control signal is output from 2, and I
The data up to /OQ=n is input to the 10 data input/output control circuit and written into the designated @ ground of the memory cell.

リフレツンユ時においては、凸とσj−に同時にハイレ
ベル信号が印加され、一定時間その状態が保たれたこと
ケリフレッシュ制御回路11が検出し、AS信号を発生
し、6を、リフレッシュアドレスカウンタ12に切り替
えて、ゲート4を制御して、カラムアドレス入力回路を
不動作にする。
During refresh, a high level signal is applied to the convex and σj- at the same time, and the refresh control circuit 11 detects that this state is maintained for a certain period of time, generates the AS signal, and inputs 6 to the refresh address counter 12. Switching controls gate 4 to disable the column address input circuit.

更に11ではWlに入力されている信号の状態により、
リフレッシュ周期A又はリフレッシュ周期Bf選択し、
その出力はCL線に出力され2を制御し、リスタート信
号とすると同時に、12がカウントアツプされて、リフ
レッシュ周期毎に、ローアドレスが、インクリメントし
てゆく。その時11の出力Asば、10を制御して、デ
ータを出力しないよう市!I +jL41する。
Furthermore, in 11, depending on the state of the signal input to Wl,
Select refresh period A or refresh period Bf,
The output is outputted to the CL line to control 2 and serve as a restart signal, and at the same time, 12 is counted up and the row address is incremented every refresh cycle. At that time, if the output of 11 is As, control 10 and prevent it from outputting data! I +jL41.

第2図は、第1図のリフレッシュ制御回路の1実施例で
ある。端子名および、As、CLは、第1図と同じ端子
と、線毛をあられす。C8,QEがハイレベルをとる時
、ゲート101け、タイマー102を制御し、一定時間
を計測する。一定時間(4ASはハイレベルとなり、W
E4子入力がハイレベルであればゲート103を経て、
104カウンタhf能動状態にせしめる。1方、105
発撮器からの出力信号は、カウンタAlO4にクロック
として供給されてSす、カウンタAlO4は、一定周朋
舟に、パルスを、106ゲートに印力口して、その出力
がCL線に放出される。また、WE4 子−1710−
レベルのときは、107ゲートを経た信号により、カウ
ンタB108が能動状態となり、前述の場合と同じよう
に、パルスをCL線に放出する。カウンタAとBのカウ
ント数は、リフレッシュの同期に比レリするので、例え
ば1方を、材温でのリフレッシュ用に周期が長く、他方
を高温でのそれ用に周回が短かくなるように設定してお
く。
FIG. 2 shows one embodiment of the refresh control circuit of FIG. The terminal names, As, and CL are the same terminals and fimbriae as in Fig. 1. When C8 and QE take a high level, the gate 101 controls the timer 102 and measures a certain period of time. For a certain period of time (4AS becomes high level, W
If the E4 child input is high level, it passes through gate 103,
104 counter hf is activated. One side, 105
The output signal from the oscillator is supplied as a clock to the counter AlO4.The counter AlO4 applies a pulse to the 106 gate at a constant frequency, and its output is released to the CL line. Also, WE4 child-1710-
At the level, the counter B108 is activated by the signal passed through the gate 107 and emits a pulse to the CL line as in the previous case. The count numbers of counters A and B are relative to refresh synchronization, so for example, set one so that the cycle is long for refreshing at material temperature, and the other so that the cycle is short for refreshing at high temperature. I'll keep it.

尚本説明では、C8とOEによりリフレッシュモードに
なり、WEによりリフレッシュ周期を決定する回路にて
記述しているが、端子の組み合わせは、記述している名
称に1城らない。また声2ま゛層中のタイマー102は
本発明では必要不可欠ではない。つまりゲート101の
出力信号をそのまま、As線に放出しても、本発明の、
は図は充分達せられる。
In this explanation, a circuit is described in which the refresh mode is set by C8 and OE and the refresh cycle is determined by WE, but the combination of terminals is not exactly the same as the described name. Further, the timer 102 in the second voice layer is not essential to the present invention. In other words, even if the output signal of the gate 101 is directly released to the As line, the present invention
The figure is fully achievable.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上述べたように本発明では、リフレッシュ用の端子を
設けることなしに、セルフリフレッシュをおこなうこと
ができると同時に、高温用のリフレッシュ周期と低温用
のリフレッシュ周期な切り替えることにより、常温にお
い′て、従来より長い周期でセルフリフレッシュをおこ
なうことが可能となり、一定時間内でのりフレッシュ回
数を減らすことができる為、常温での低消費成力化が(
吐かれる。
As described above, in the present invention, self-refresh can be performed without providing a refresh terminal, and at the same time, by switching between the refresh period for high temperatures and the refresh period for low temperatures, It is now possible to self-refresh at a longer cycle than before, and the number of times the glue is refreshed within a certain period of time can be reduced, resulting in lower power consumption at room temperature (
I get vomited.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明による半4体メモリ装置の実施例を示す
ブロック図。 第2図は、第1図中のリフレッシュ制御回路を詳細に説
明した図である。 1・・・ゲート 2・・・メモリ制御回路 6・・ロー
アドレス回路 4・・・ゲート 5・・・カラムアドレ
ス入力回路 6・・・ローアドレス切り賛同47・・・
ロープコータ 8・・カラムデコーダ 9・・・メモリ
セルフ) IJクス 10・・・データ入出力制御回路
11・・リフレッシュ制御回路 12・・・リフレツン
ユアドレスカウンタ 101・・・ゲート 102・・
・タイマ 103・・・ゲート 104・・・カウンタ
AlO3・・・発振器 106・・・ゲート 107・
・・ゲート 108・・・カウンタB0 以上
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a half-quad memory device according to the present invention. FIG. 2 is a diagram illustrating the refresh control circuit in FIG. 1 in detail. 1...Gate 2...Memory control circuit 6...Row address circuit 4...Gate 5...Column address input circuit 6...Row address off/down 47...
Rope coater 8... Column decoder 9... Memory self) IJ box 10... Data input/output control circuit 11... Refresh control circuit 12... Reflex address counter 101... Gate 102...
・Timer 103... Gate 104... Counter AlO3... Oscillator 106... Gate 107.
...Gate 108...Counter B0 or more

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  チップを選択又は非選択の状態に制御する端子(チッ
プイネーブル端子)と、出力を制御する端子(アウトプ
ットイネーブル端子)と、リード、ライトを制御する端
子(ライトイネーブル端子)を有するダイナミック型の
記憶装置において、該端子の2つの入力状態により、リ
フレッシュモードを識別する手段と、他の1端子の入力
信号により制御される複数個のカウンタを内蔵し、その
出力信号によつて、リフレッシュアドレスカウンタをイ
ンクリメントすることを特徴とする半導体メモリ装置。
Dynamic memory that has a terminal that controls the selected or unselected state of the chip (chip enable terminal), a terminal that controls output (output enable terminal), and a terminal that controls read and write (write enable terminal) The device has built-in means for identifying the refresh mode based on the two input states of the terminal, and a plurality of counters controlled by the input signal of the other terminal, and the refresh address counter is controlled by the output signal of the device. A semiconductor memory device characterized by incrementing.
JP60013841A 1985-01-28 1985-01-28 Semiconductor memory device Pending JPS61172298A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60013841A JPS61172298A (en) 1985-01-28 1985-01-28 Semiconductor memory device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60013841A JPS61172298A (en) 1985-01-28 1985-01-28 Semiconductor memory device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61172298A true JPS61172298A (en) 1986-08-02

Family

ID=11844498

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60013841A Pending JPS61172298A (en) 1985-01-28 1985-01-28 Semiconductor memory device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61172298A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0346190A (en) * 1989-07-14 1991-02-27 Nec Corp Self-refresh control circuit
JPH0765571A (en) * 1993-08-27 1995-03-10 Nec Corp Semiconductor storage device
JPH08129885A (en) * 1994-10-28 1996-05-21 Nec Corp Semiconductor memory

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0346190A (en) * 1989-07-14 1991-02-27 Nec Corp Self-refresh control circuit
JPH0765571A (en) * 1993-08-27 1995-03-10 Nec Corp Semiconductor storage device
JPH08129885A (en) * 1994-10-28 1996-05-21 Nec Corp Semiconductor memory

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5600605A (en) Auto-activate on synchronous dynamic random access memory
US6741515B2 (en) DRAM with total self refresh and control circuit
US6463002B2 (en) Refresh-type memory with zero write recovery time and no maximum cycle time
KR100768729B1 (en) Clock synchronized dynamic memory and clock synchronized integrated circuit
JP2843481B2 (en) Semiconductor memory device having refresh address test circuit
US7082075B2 (en) Memory device and method having banks of different sizes
US6392958B1 (en) Asynchronous SRAM compatible memory device using DRAM cell and method for driving the same
JPS63155494A (en) Pseudo static memory device
US6219292B1 (en) Semiconductor memory device having reduced power requirements during refresh operation by performing refresh operation in a burst method
JPH01125795A (en) Virtual type static semiconductor memory device
JPH05342862A (en) Dynamic random access memory device
KR20030071783A (en) Semiconductor memory device and refresh control circuit
KR100805528B1 (en) Method and apparatus for partial refreshing of dram
US6646943B2 (en) Virtual static random access memory device and driving method therefor
JP2006146992A (en) Semiconductor memory device
KR20040009508A (en) SRAM compatible and Burst Accessible Synchronous Memory Device using DRAM cell and Operating Method thereof
JPH07192461A (en) Semiconductor storage device
JPS61172298A (en) Semiconductor memory device
WO1997028605A1 (en) Shared counter
KR100482380B1 (en) SRAM compatable memory having memory banks capable of indepedently writing access and Operating Method thereof
KR20010102846A (en) Synchronous semiconductor memory device
JPH0468714B2 (en)
JP2004185686A (en) Semiconductor storage device
US20060056263A1 (en) Semiconductor memory device and electronic apparatus
KR100481819B1 (en) SRAM compatible and Synchronous Memory Device being controlled by a signal, the signal activating in Chip disable period