JPS61154646A - Radiation tomographic measuring apparatus - Google Patents

Radiation tomographic measuring apparatus

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Publication number
JPS61154646A
JPS61154646A JP59276093A JP27609384A JPS61154646A JP S61154646 A JPS61154646 A JP S61154646A JP 59276093 A JP59276093 A JP 59276093A JP 27609384 A JP27609384 A JP 27609384A JP S61154646 A JPS61154646 A JP S61154646A
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JP
Japan
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data
projection data
radiation
filter function
projection
Prior art date
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Pending
Application number
JP59276093A
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Japanese (ja)
Inventor
修 辻井
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Priority to US06/767,860 priority patent/US4729100A/en
Priority to DE19853530601 priority patent/DE3530601A1/en
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  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は放射線を利用して被検査体の断層面の像を得て
、これより被検査体の断層面検査あるいは測定を行う放
射線断層測定装置に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a radiation tomography device that uses radiation to obtain a tomographic image of an object to be inspected, and performs a tomographic inspection or measurement of the object from this image. It is related to.

〔発明の技術的背景〕[Technical background of the invention]

物体の内部欠陥や組成、構造などを非破壊でしかも、精
度良く測定できる装置としてコンビーータ・トモグラフ
ィ・スキャナ(以下、CTスキャナと称する)と呼ばれ
る放射線断層測定装置がある。
2. Description of the Related Art There is a radiation tomography measuring device called a combinator tomography scanner (hereinafter referred to as a CT scanner) as a device that can measure internal defects, composition, structure, etc. of an object non-destructively and with high precision.

この装置は例えば放射源として偏平な扇状に拡がるファ
ンビームX線を曝射する放射線源と、被検査体を介して
この放射線源に対峙して配され、前記ファンビームX線
の拡がり方向に複数の放射線検出素子を配した検出器と
を用い、被検査体を゛中心にこの放射線源と検出器とを
同方向に例えば1度刻みに180°〜360°にわたっ
て頭次回転操作しながら、被検査体断層面の多方向から
X線吸収データを収集した後、コン♂ユータ等により画
像再構成処理を施し、断層像を再構成するようにしたも
ので、断層面各位室について、組成に応じ2000段階
にもわたる階調で画像再構成できるので、断層面の状態
を詳しく知ることができる。
This device includes, for example, a radiation source that emits fan beam X-rays that spread in a flat fan shape, and a radiation source that is placed facing this radiation source through an object to be inspected, and that a plurality of radiation sources are arranged in the direction in which the fan beam X-rays spread. The radiation source and the detector are rotated head-to-head in the same direction over a range of 180° to 360° in 1 degree increments, centering on the object to be inspected. After collecting X-ray absorption data from multiple directions on the tomographic plane of the specimen, a computer etc. performs image reconstruction processing to reconstruct the tomographic image. Since images can be reconstructed in as many as 2,000 gradations, it is possible to know the state of the tomographic plane in detail.

このようなCTスキャナはいわゆる第3世代と呼ばれる
もので、その他、ペンシルビームX線を曝射する放射線
源と、この放射線源に対峙して検出器を設け、この放射
線源と検出器とを被検査体の断面に沿りてトラバース・
スキャンさせ、1トラバース・スキャン終了毎に所定角
度、回転させて再びトラバース・スキャンを行ういわゆ
る第1世代、ペンシルビームxst−a狭のファンビー
ムX線とし、検出素子を数素子持たせた検出器を用いて
これらを上記トラバース・スキャン及び回転走査させる
ようにした第1世代の改良形とも云うべき、いわゆる第
2世代、被検査体の周囲全周にわたって検出素子を配し
た検出器と幅広のファンビームX線を曝射する放射線源
とを用い、放射線源のみ回転走査させるいわゆる@4世
代など種々の方式OCTスキャナがある。
This type of CT scanner is so-called third generation, and it also includes a radiation source that emits pencil beam X-rays, a detector that faces this radiation source, and a shield that covers the radiation source and detector. Traverse along the cross section of the specimen
A so-called first generation, pencil beam xst-a narrow fan beam X-ray detector that has several detection elements The so-called second generation, which can be said to be an improved version of the first generation, uses the above-mentioned traverse scan and rotational scan to perform the above-mentioned traverse scan and rotational scan. There are various types of OCT scanners, such as the so-called @4 generation, which uses a radiation source that emits beam X-rays and rotates and scans only the radiation source.

この上うなCTスキャナの画像再構成方法としては大別
して解析手法と代数的手法がある。
Image reconstruction methods for CT scanners can be broadly classified into analytical methods and algebraic methods.

これらのうち、現在は処理速度の面から解析手法1特に
FBP (Filtered Back Projec
tlon  )法が主流となりている。FBP法はフィ
ルタ関数を用いて放射線吸収データに対しコンボリュー
ション(積和)演算を行い、この演算により得た投影デ
ータをバ、クデロジェクション(逆投影)することによ
シ画像再構成するもので、かかるFBP法は有用な方法
ではあるが、分解能を向上させるために投影データの高
域強調を行なうことから、量子雑音なども強調してしま
う。
Of these, analysis method 1, especially FBP (Filtered Back Project), is currently used in terms of processing speed.
tlon) method is the mainstream. The FBP method performs a convolution (sum-of-products) operation on radiation absorption data using a filter function, and reconstructs an image by backprojecting the projection data obtained by this operation. Although the FBP method is a useful method, since it emphasizes the high frequency range of projection data in order to improve resolution, it also emphasizes quantum noise and the like.

雑音を量子雑音に限れば、透過してきた線量が小さけれ
ば相対的にS/N比が悪くなυ、その結果、画像の劣化
を招くことになる。この現像は、撮影領域(回転走査に
よりX線ビームの最外縁にて形成される円内)中に高放
射線吸収の物質が存在し、透過線素が著しく小さくなっ
た場合、その物質によって画像が悪化することにも見る
ことが出来る。以上の様に、従来のFBP法は、放射線
量が小さい場合、あるいは、放射線量が部分的に著しく
小さくなるような場合にはこのような投影データからの
画像を再構成するには、適当でない。
If noise is limited to quantum noise, if the transmitted dose is small, the S/N ratio will be relatively poor υ, resulting in image deterioration. This development occurs when there is a material with high radiation absorption in the imaging area (inside the circle formed at the outermost edge of the X-ray beam by rotational scanning) and the transmitted radiation becomes significantly smaller. You can also see it getting worse. As described above, the conventional FBP method is not suitable for reconstructing images from such projection data when the radiation dose is small or when the radiation dose is significantly small in some parts. .

そこで、放射線吸収率に応じて異なるフィルタを用い、
信頼性の高いデータすなわち、放射線吸収の小さいデー
タについては高域強調のフィルタ関数を、また、放射線
吸収の大きいデータについては高域をらまジ強調しない
フィルタ関数を用いてコンボリューションを行うように
することによりFBP法であっても上記不都合を抑制す
ることができるようにした手法が提案された。
Therefore, using different filters depending on the radiation absorption rate,
Convolution is performed using a filter function that emphasizes high frequencies for highly reliable data, that is, data with low radiation absorption, and a filter function that does not emphasize high frequencies for data that has high radiation absorption. A method has been proposed in which the above-mentioned disadvantages can be suppressed even in the FBP method.

その詳細を説明すると、例えば被検査体断面を包含する
広がりを有するファンビームX線を用いて、該被検査体
断面について多方向から投影し、その透過X線を空間分
解能を有する放射線検出器で検出し、データ収集装置を
介して該被検査体断面に対する多方向からのX線吸収デ
ータを収集する。そして、このX線吸収データKljL
、REF(レファレンス)補正、オフセット補正、基準
補正などの各種補正及びlog変換を行う。
To explain the details, for example, using fan beam X-rays that have a spread that includes the cross section of the object to be inspected, the cross section of the object to be inspected is projected from multiple directions, and the transmitted X-rays are transmitted to a radiation detector with spatial resolution. and collects X-ray absorption data from multiple directions for the cross section of the object to be inspected via a data collection device. And this X-ray absorption data KljL
, various corrections such as REF (reference) correction, offset correction, and standard correction, and log conversion.

この前処理済みのデータに対し、フィルタ処理に入る。Filter processing is performed on this preprocessed data.

ここで、前処理済みσノX線吸収データを投影データf
(、)と呼ぶことにする。この投影データf(→は、例
えば第8図に示す如きものとし、放射線検出器で検出さ
れデータ収集装置でデータ収集された段階でのデータ(
透過データ)をわせる。ここでPaは出力時におけるX
線ビーム中のフォトン数である。さて透過データp(x
)中頼が高いことになる。このことは投影データf(x
)で考えれば、f(→が小さいほど信頼度が大というこ
とに々る。そこで、投影データf(x)について信頼性
の度合いに応じ閾値TH4+ TH2を定める。
Here, the preprocessed σ X-ray absorption data is converted into projection data f
Let's call it (,). This projection data f (→ is as shown in FIG. 8, for example, and the data (
transparent data). Here, Pa is X at the time of output
It is the number of photons in the line beam. Now, the transparent data p(x
) The middle order will be high. This means that the projection data f(x
), the smaller f(→, the higher the reliability. Therefore, the threshold value TH4+TH2 is determined for the projection data f(x) according to the degree of reliability.

これは第8図の如く、 O≦f(d (THlf(x)の信頼度大TH1<、 
f(x) < TH2f(x)の信頼度中TH2≦f(
x)      f(x)の信頼度小である。
As shown in Figure 8, O≦f(d (THlf(x) has high reliability TH1<,
Reliability of f(x) < TH2f(x) TH2≦f(
x) The reliability of f(x) is small.

そこで、第9図に示す様に投影データf(x)のレベル
により信頼度の大きい部分からf3+ f2pf1、と
分割して、fcx) = fl(x)+ fz(:r)
 + f3(dを満足する様にする。ここで、fl(→
、fl→、f3(→はまた、第7図の評価からf(→中 である。尚、信頼度の大きいデータとは、高周波まで強
調しても画像劣化が起きにくいデータと考えられる。そ
こで、ここでは、コンデリュージョンの際に第10図に
示す様な各種フィルタ関数り、e h2.  h3を用
意し、データの信頼度にあわせてフィルタ関数りを選択
するようにする。ここで、フィルタ関数りは、第10図
に示す様に、例えば、あt、b高域強調を行わないフィ
ルタ関数り1、高域強調を少し行うフィルタ関数h2、
高域強調を行うフィルタ関数り、であり、コン?ルパで
はこれらのフィルタ関数の中からコンボリューションを
行うべきデータの信頼度にあわせて選択することにより
高域強調の度合を変えるようにする。第j図においてH
(ハ)はフィルタ関数のスペクトラム、”町はナイキス
ト周波数である。
Therefore, as shown in Fig. 9, the projection data f(x) is divided into f3+f2pf1 from the part with the highest reliability based on the level, and then fcx) = fl(x)+fz(:r)
+ f3(d is satisfied.Here, fl(→
, fl→, f3(→ is also f(→ medium) based on the evaluation in FIG. Here, various filter functions e, h2, and h3 as shown in Fig. 10 are prepared during condelusion, and the filter function is selected according to the reliability of the data.Here, As shown in FIG. 10, the filter functions are, for example, at, b, filter function 1 which does not emphasize high frequencies, filter function h2 which slightly emphasizes high frequencies,
Is it a filter function that emphasizes high frequencies? In Lupa, the degree of high-frequency emphasis is changed by selecting one of these filter functions according to the reliability of the data to be convolved. In figure j, H
(c) is the spectrum of the filter function, and "T" is the Nyquist frequency.

さて、ここでは実際のコンデリュージョンをどの様に行
っているかを第11図を参照して説明する。コンデリュ
ージョンは線形の演算であるから、投影データf(→を
レベルに応じてfl efz + fsに分割しても問
題はない。そこで、第8図に示す投影データf(→をf
と置き、投影データθ閾値TH,、TH2を用いて比較
することにより、THl * TH2により区切られる
領域単位でfl # fz r fsに分割する。従っ
てfはf=f1+f2+f3となり、これらf11f2
t fsは各々第11図のf、(X) 、 fz(X)
 、 f、(x)の如くとまる。そこで、各f1(x)
+ fz(→、f3(→に対しその信頼度に応じたフィ
ルタ関数り、 t h2. h、を選択してコンボリュ
ーションを行い、加算してコンゲリューション済みデー
タf Hh = (t、(:r)+ fz(x)+ f
3(x) )x h = f、(x)* h、+ fz
(x)M h2+ f3(x)* h、 (尚Xはコン
ボリューションを示している。)を得る。すなわち、投
影データの信頼度に応じてフィルタ関数h1vh2rh
5を選択し、この選択したフィルタ関数によりコンボリ
ューションを行い、これらを加えることにより、信頼性
の高さに応じたデータ領域毎に高域強調の度合いを変え
、高域強調できるものは高域強調するかたちで処理する
Now, how the actual condelusion is performed will be explained with reference to FIG. 11. Since condelusion is a linear operation, there is no problem even if the projection data f(→ is divided into fl efz + fs according to the level. Therefore, the projection data f(→ is divided into f
By comparing the projection data θ using threshold values TH,, TH2, it is divided into fl # fz r fs in area units delimited by THl * TH2. Therefore, f becomes f=f1+f2+f3, and these f11f2
t fs are f, (X), fz (X) in Fig. 11, respectively.
, f, stops like (x). Therefore, each f1(x)
+ fz(→, f3(→), select a filter function according to its reliability, t h2. h, perform convolution, and add the convolved data f Hh = (t, ( :r)+fz(x)+f
3(x) )x h = f, (x) * h, + fz
(x)M h2+f3(x)*h, (X indicates convolution) is obtained. That is, depending on the reliability of the projection data, the filter function h1vh2rh
5 is selected, convolution is performed using this selected filter function, and by adding these, the degree of high frequency emphasis is changed for each data region depending on the level of reliability, and those that can emphasize high frequencies are Process it in a way that emphasizes it.

そして、このコンデリュージョンにより得たデータfX
hをバックグロジェクタ12に与えパ、クデロゾエクシ
、ンすることにより画質を損なうことなく分解能を向上
させた再構成画像を得ることができる。またfl、fz
、t、の範囲を定める閾値TH,及びTH2は単純には
、投影データのダイナミックレンジを3等分すればよい
。たとえば、投影データf(→が32767から−32
768のダイナミックレンジであるとすると、 TH2= 10923  。
Then, the data fX obtained by this condelusion
A reconstructed image with improved resolution can be obtained without deteriorating image quality by applying h to the backgrojector 12 and performing a quadrature correction. Also fl, fz
, t, and TH2 can be simply divided into three equal parts of the dynamic range of the projection data. For example, projection data f (→ is from 32767 to -32
Assuming a dynamic range of 768, TH2=10923.

TH,=−10923 となる。そして+32767〜10923まではフィル
タ関数h1によりスムージング処理を、そして、109
22〜−10923の間はフィルタ関数h2により、ま
た、−10924以下ではh3により高域強調を行う。
TH,=-10923. Then, from +32767 to +10923, smoothing processing is performed using filter function h1, and 109
High-frequency emphasis is performed by filter function h2 between 22 and -10923, and by h3 below -10924.

しかし、実際は、基準値″0”よりも大のところを3分
割するのが良い。
However, in reality, it is better to divide the area larger than the reference value "0" into three.

その理由は基準体物質として使う物質機してS/Nの良
いところで選ぶことから、中央値θ以下はS/Nが良い
と判断出来るからである。なお、放射線吸収の大きい物
質、例えば、金属を主成分とする工業製品等では閾値T
H4* TH2は例えば10000.1000と云う具
合に組成に応じた高い値に設定する。この場合f(→が
32767〜10000の範囲ではフィルタ関数り、を
用い、f(→が9999〜1000の範囲ではフィルタ
関数h2を、そして999〜−32768の範囲ではフ
ィルタ関数り、を用いる。このような手法を用いると従
来のFBP法では出来なかった、分解能を低下させずに
雑音成分を抑えることができ、また従来の構成装置に簡
単なロジックとメモリを付加するだけで比較的安価に実
現出来る他、著しく線量の不足している投影データから
画像再構成する場合において比較的線量の多いところを
重点に高域強調を行い雑音成分の多いところはスムージ
ングを行って画像を生成するため、従来よりも、鮮明で
雑音成分の少ない良質の画像が得られる。尚、先の例に
おいて投影データf (X)の分割法は単純加法分割と
呼べるものであったが、比例加法分割も考えられる。こ
れは第9図と同様に f (x) = f 1(x) + t 2(X) +
 f 3(x)とおくと各々、とするものである。この
比例加法分割は、単純加法分割に比べると分解能は低下
するが、代りに比較的雑音成分を抑えることができるよ
うになる。
The reason for this is that since the material used as the reference material is selected with a good S/N, it can be determined that the S/N is good when the median value θ is below. In addition, for substances with high radiation absorption, such as industrial products whose main component is metal, the threshold value T
H4*TH2 is set to a high value depending on the composition, such as 10000.1000, for example. In this case, the filter function h2 is used when f(→ is in the range of 32767 to 10000, the filter function h2 is used when f(→ is in the range of 9999 to 1000, and the filter function is used when f(→ is in the range of 999 to -32768. Using such a method, it is possible to suppress noise components without reducing resolution, which was not possible with conventional FBP methods, and it can be achieved at a relatively low cost by simply adding simple logic and memory to conventional components. In addition, when reconstructing an image from projection data with a markedly insufficient dose, high-frequency enhancement is performed with emphasis on areas with a relatively high dose, and areas with a lot of noise are smoothed to generate an image, which is difficult to do with conventional methods. A clearer, higher quality image with fewer noise components can be obtained than the above.In the previous example, the division method of the projection data f(X) could be called simple additive division, but proportional additive division can also be considered. This is similar to Figure 9, f (x) = f 1 (x) + t 2 (X) +
Let f 3(x) be respectively. Although this proportional additive division has lower resolution than simple additive division, it is possible to relatively suppress noise components.

また、第12図(&)に示すように投影データをf(d
 = t 1(x) + t 、(x) + t jx
)と置き、閾値TH4* TH2を用いて第12図(b
) 、 (C) 、 (d)のように分割することがで
きる。この方法は今までの方式が閾値のレベルで仕切ら
れた領域にあるものについてそれぞれ対応するフィルタ
関数でコン/ +7ユーシ、ンし、加算するレベル領域
弁は比例配分方式であったが、ここでは放射線検出素子
の位置毎にどの閾値THt t TH2のレベルに達し
ているかを調べ、そのレベルによりTH2以上の値を示
す投影データf 、(x)ではhlのフィルタ関数のみ
で、TH,以上TH2以下の値を示す投影データf〆→
ではh2のフィルタ関数のみで、また、T馬以下の値を
示す投影データf、(→ではh3のフィルタ関数のみで
コンボリューションするレベル対応形の分割であり、こ
れは投影データの信頼度に忠実な分割法とすることがで
きる。
Also, as shown in FIG. 12 (&), the projection data is f(d
= t 1(x) + t, (x) + t jx
) and using the threshold value TH4*TH2,
), (C), and (d). In this method, in the previous method, each of the items in the area partitioned by the threshold level was calculated using the corresponding filter function, and the level area valve for addition was a proportional distribution method, but here Check which threshold value THt t TH2 has been reached for each position of the radiation detection element, and depending on the level, the projection data f which indicates a value of TH2 or more, and (x), only the filter function of hl can be used to determine whether THt or more is TH2 or less. Projection data f〆 indicating the value of →
In this case, the projection data f, which shows a value less than or equal to T, is a level-corresponding division that is convolved only with the filter function of h2, and this is faithful to the reliability of the projection data. It is possible to use a suitable division method.

このような手法を用いることにより、X線吸収の大なる
ものから小々るものまでを含む被検査体断面の画像再構
成をFBP法により行うことができるようになる。
By using such a method, it becomes possible to perform image reconstruction of a cross section of the object to be inspected, which includes X-ray absorption ranging from large to small X-ray absorption, using the FBP method.

しかしながら、このように上記の手法はデータのとり得
る領域全域を対象にデータの信頼性に応じ、予めレベル
分けして、各々のレベルにより対応するフィルタ関数を
用いる方式であり、この場合、レベル分けするための閾
値TH4,TH2は予め設定して、ありた。そのため、
第13図に符号Iで示すデータのようにデータ値の分布
が全域にわたるようなものでは良いが、符号■で示すよ
うな閾値T馬近傍より下部の領域に分布しているような
低X線吸収率のデータの場合、閾値TI(2以上の領域
は全く無用である。そして、このような無用な領域に対
しても上記の手法の場合、閾値TH2を用いてこのレベ
ル以上のデータの有無を調べることから、無駄な処理と
なる。
However, in this way, the above method is a method in which the entire possible range of data is divided into levels in advance according to the reliability of the data, and a filter function corresponding to each level is used. Threshold values TH4 and TH2 for this purpose were set in advance. Therefore,
It is fine if the data values are distributed over the entire area, such as the data indicated by symbol I in Figure 13, but if the data values are distributed in a region below the vicinity of the threshold value T, as indicated by symbol ■, it is fine. In the case of absorption rate data, the threshold value TI (areas of 2 or higher is completely useless.And even for such useless areas, in the case of the above method, the presence or absence of data of this level or higher is determined using the threshold value TH2. This is a wasteful process as it involves investigating.

しかも、データの値の分布を全く考えずに扱い得るデー
タ値の全領域に対してそれを一義的に分割する手法では
きめの細かいフィルタ関数の適用もできない。
Furthermore, it is not possible to apply a fine-grained filter function to the entire range of data values that can be handled without considering the distribution of data values.

従って、画質の向上には限界が生じ、データの分布状況
によってはもっと良い分解能を得ることができる状態で
あるのにこれを制限してしまうことになる。
Therefore, there is a limit to the improvement of image quality, and even though it is possible to obtain better resolution depending on the distribution of data, this is restricted.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は上記の事情に鑑みて成されたもので、その目的
とするところは放射線吸収の大なる物質が存在してもF
BP法を用いて分解能を著しく劣化させることなく、量
子雑音を抑え、良質の再構成画像を得ることができるよ
うにすると共にX線吸収データの値の分布状態に応じ閾
値を可変でき、且つその閾値に応じた周波数特性を有す
るフィルタ関数を使用できるようにしてデータの信頼性
に応じ一層の分解能向上を可能とした放射線断層測定装
置を提供することにある。
The present invention was made in view of the above circumstances, and its purpose is to prevent F
Using the BP method, it is possible to suppress quantum noise and obtain high-quality reconstructed images without significantly deteriorating resolution, and the threshold value can be varied according to the distribution state of the values of X-ray absorption data. It is an object of the present invention to provide a radiation tomography measuring device that can use a filter function having frequency characteristics according to a threshold value, thereby making it possible to further improve the resolution according to the reliability of data.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

すなわち、本発明は上記目的を達成するため、被検査体
の設定断層面についてその各方向から放射線を投影し、
その透過放射線を空間分解能をもって検出することによ
り前記投影方向毎の放射線投影データを得、これら放射
線投影データを用いて画像再構成を行りて前記断層面各
位置の放射線吸収率に対応した再構成画像を得る装置に
おいて、前記画像再構成を行う手段として投影データの
最大値を調べると共にその最大値と雑音によるデータの
信頼度が標準的な物質の値との開きを求めて、これらの
間を所定区画に分ける閾値を求める手段、この閾値を用
い、前記投影データを信頼度に応じ区分する手段、前記
信頼度に応じて周波数特性の異なるフィルタ関数を求め
ると共に前記区分した各投影方向毎の投影データをその
信頼度に対応するフィルタ関数でコンデリュージョンし
て合成し、逆投影用のデータを得る手段とより構成し、
投影データの最大値を調べその最大値と標準的な信頼度
の物質のデータ値との開きを求めてその区間を所定の区
画に分け、投影データを雑音成分との関係による信頼度
に応じ区分すると共に、この区分した領域の投影データ
の信頼度に応じて高域強調の度合いの異なるフィルタ関
数を求め、これを用いてコンデリュージョンを行い、合
成することにより信頼度の高い投影データほど高域強調
した逆投影用のデータを得、これを逆投影して再構成画
像を得ることにより、FBP法において、雑音成分を抑
え、且つ分解能の向上を図ることができるようにする。
That is, in order to achieve the above object, the present invention projects radiation from each direction on a set tomographic plane of an object to be inspected,
Radiation projection data for each projection direction is obtained by detecting the transmitted radiation with spatial resolution, and image reconstruction is performed using these radiation projection data to reconstruct a image corresponding to the radiation absorption rate of each position on the tomographic plane. In the image acquisition device, as a means of reconstructing the image, the maximum value of the projection data is checked, and the reliability of the data due to noise is calculated by determining the difference between the maximum value and the value of a standard material. means for determining a threshold for dividing the projection data into predetermined sections; means for dividing the projection data according to reliability using the threshold; determining filter functions with different frequency characteristics according to the reliability and projecting for each of the divided projection directions; and means for condelusing and synthesizing the data with a filter function corresponding to the reliability of the data to obtain data for back projection;
The maximum value of the projection data is examined, the difference between the maximum value and the data value of a material with standard reliability is determined, and the interval is divided into predetermined sections, and the projection data is divided according to the reliability based on the relationship with the noise component. At the same time, filter functions with different degrees of high-frequency emphasis are determined depending on the reliability of the projection data of this divided area, and condelusion is performed using this, and by compositing, the more reliable the projection data, the higher the By obtaining region-enhanced backprojection data and backprojecting it to obtain a reconstructed image, noise components can be suppressed and resolution can be improved in the FBP method.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、本発明の一実施例について図面を参照しながら説
明する。ここでは第3世代CTスキャナを例にとって説
明するが、他の世代のCTスキャナにも適用できるもの
である。第1図は本装置の基本的構成を示すブロック図
であり、図中1はスキャナ本体である。2は所定の拡が
り幅を持つファンビームX線を曝射するX線源(放射線
源)である。3はこのX線源2に対峙して設けられた放
射線検出器でるり、この放射線検出器3は多数の微少な
放射線検出素子をファンビームX線の拡がり方向に並設
してあり、空間分解能をもりてX線源からのX線強度を
検出することが出来る。ここで、X線源2と各放射線検
出素子を結ぶX線通路をX線パスと言い、各放射線検出
素子はこのX線・ぐス上の放射線の強度に応じた信号を
出力する。また、前記スキャナ本体1には撮影領域を中
心に上記X線源2と放射線検出器3とを対峙して保持す
ると共にこれらを所定角度刻みに屓次一方向に回転走査
をする回転架台を有している。4はこの回転架台の撮影
領域に配置された被検査体であり、5は上記X線源2の
管電流、管電圧およびX線曝射制御等を行うX線コント
四−ラである。6はCPU (中央処理装置)によるス
キャナコントローラであり、上記スキャナ本体1の上記
回転架台を回転駆動制御するものである。7はシステム
コントローラであり、システム全体の制御を司る。8は
コンソールであり、操作者がシステムに対して各種の指
令等を与えるためのものであって、システムに対する各
種操作指令やデータ等の入力などを行うことが出来る。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. Although the third generation CT scanner will be explained here as an example, it can also be applied to other generations of CT scanners. FIG. 1 is a block diagram showing the basic configuration of this apparatus, and numeral 1 in the figure is the scanner body. Reference numeral 2 denotes an X-ray source (radiation source) that emits fan beam X-rays having a predetermined spread width. 3 is a radiation detector installed opposite to this X-ray source 2. This radiation detector 3 has a large number of minute radiation detection elements arranged in parallel in the direction of spread of fan beam X-rays, and has a high spatial resolution. X-ray intensity from an X-ray source can be detected using Here, the X-ray path connecting the X-ray source 2 and each radiation detection element is called an X-ray path, and each radiation detection element outputs a signal corresponding to the intensity of the radiation on the X-ray gas. The scanner body 1 also has a rotating mount that holds the X-ray source 2 and the radiation detector 3 facing each other around the imaging area and rotates and scans them in one direction at predetermined angle increments. are doing. Reference numeral 4 denotes an object to be inspected placed in the photographing area of the rotary frame, and reference numeral 5 denotes an X-ray controller for controlling the tube current, tube voltage, X-ray exposure, etc. of the X-ray source 2. Reference numeral 6 denotes a scanner controller using a CPU (central processing unit), which controls the rotation of the rotating pedestal of the scanner body 1. A system controller 7 controls the entire system. Reference numeral 8 denotes a console, which is used by the operator to give various commands and the like to the system, and is capable of inputting various operation commands and data to the system.

9はデータ収集装置であシ、上記放射線検出器3の各放
射線検出素子出力信号をそれぞれ受けて、〜勺変換し、
X線吸収データとして出力する。10は前処理装置であ
り、データ収集装置9で収集された各グロノエクション
毎の吸収データを受けて、これに対し、対数変換、rイ
ン補正、オフセット補正等の前処理を施すものである。
Reference numeral 9 denotes a data collection device which receives the output signals of each radiation detection element of the radiation detector 3 and converts the signals.
Output as X-ray absorption data. Reference numeral 10 denotes a preprocessing device, which receives absorption data for each gronoection collected by the data collection device 9 and performs preprocessing such as logarithmic transformation, r-in correction, and offset correction on the absorption data. .

11はコンデルノ々であり、上記前処理装置10の出力
する前処理済みのデータをコン?リューシ、ンするもの
である。
Reference numeral 11 denotes a converter, which converts the preprocessed data output from the preprocessing device 10. It is something that can be done.

12はこのコンがす、−シ嘗ン後のデータをそのグロジ
ェクション方向に逆投影して断層儂を再構成するバック
プロジェクタである。上記10.11.12により再構
成装置を構成している。13は、この逆投影した再構成
画像のデータを記憶するメモリであり、14はこのメモ
リ13の記憶データのうち、所望の範囲のCT値(放射
線吸収のレベルに応じた値としてのデータ)を例えば白
黒濃淡像として出力する画像変換器である。15はこの
画像変換器14の出力を受けて画像として表示するCR
T表示器である。
Reference numeral 12 denotes a back projector that reconstructs the tomographic image by back projecting the converted data in the glojection direction. The above 10.11.12 constitutes a reconstruction device. Reference numeral 13 denotes a memory for storing data of this back-projected reconstructed image, and reference numeral 14 stores CT values in a desired range (data corresponding to the level of radiation absorption) from among the data stored in the memory 13. For example, it is an image converter that outputs a black and white grayscale image. 15 is a CR that receives the output of this image converter 14 and displays it as an image.
It is a T indicator.

このような構成において、まず初めに操作者がコンソー
ル8を操1作してシステムを起動させ、スキャンを開始
(撮影を開始)させると、システムコントローラ7はス
キャナコア ) o −96を制御し、スキャナ本体1
における回転架台の所定角度刻み(例えば0.6°)の
回転駆動制御を行い、またX線コントローラ5を制御し
て上記所定角度刻みの回転が成される毎に所定に管電流
、管電圧を所定に時間幅分、X線源2に与える。これよ
りX線源2からは順次ノ々ルス的に7アンビームX@F
Bが曝射される。回転架台の回転中心位置(撮影領域)
には被検査体4が配設されており、また、回転架台には
X線源2と検出器3とが上記回転中心を介して対峙して
取付けであるので、X線源2は被検査体4の、所定断面
について順次方向を変え壜からファンビームX1iFB
を曝射してゆくことになり、このファンビームX@1B
/Cおける各X線ノ々スの放射線透過値は放射線検出器
3の各放射線検出素子によシ検出され電気信号に変換さ
れる。
In such a configuration, when the operator first operates the console 8 to start up the system and start scanning (starting imaging), the system controller 7 controls the scanner core )o-96, Scanner body 1
The rotary mount is controlled to rotate in predetermined angle increments (for example, 0.6°), and the X-ray controller 5 is controlled to adjust the tube current and tube voltage to predetermined values every time the rotation is performed in the predetermined angle increments. It is applied to the X-ray source 2 for a predetermined time width. From this, X-ray source 2 sequentially sends 7 am beams X@F
B is exposed. Rotation center position of rotating mount (imaging area)
The object to be inspected 4 is disposed on the rotating frame, and since the X-ray source 2 and the detector 3 are mounted on the rotary stand facing each other across the center of rotation, the X-ray source 2 Fan beam X1iFB
This Fan Beam X@1B
The radiation transmission value of each X-ray beam at /C is detected by each radiation detection element of the radiation detector 3 and converted into an electrical signal.

そして、この変換された信号はデータ収集装置9で収集
され1fロジエクシヨン(1撮影方向)毎に前処理装置
10で対数変換、rイン補正、オフセット補正等がなさ
れる。この処理されたデータ(1ゾロジエクシヨン毎の
各X線パスにおけるX線吸収データ)はメモリ13に格
納され、またコンールパ11に与えられてコンがす、−
シ、ンされ、次のバックプロジェクタ12で逆投影され
ることによって個々の画素位置のCT値が求められ、こ
のCT値による断層偉が再構成される。再構成された像
はメモリ13に保存され、コンソール8から指令を与え
ることにより、必要に応じて画像変換器14により所望
する範囲のCT値をCT値に応じた調調度でCRT表示
器15に表示させる。これにより、再構成像は白黒濃淡
像として表示される。
This converted signal is collected by a data acquisition device 9, and subjected to logarithmic conversion, r-in correction, offset correction, etc. in a preprocessing device 10 for each 1f logiexion (one photographing direction). This processed data (X-ray absorption data in each X-ray pass for each Zorological Extraction) is stored in the memory 13, and is also given to the converper 11 for convergence.
CT values of individual pixel positions are obtained by back projecting with the next back projector 12, and the tomographic image is reconstructed based on these CT values. The reconstructed image is stored in the memory 13, and by giving commands from the console 8, the image converter 14 displays CT values in a desired range on the CRT display 15 with adjustment according to the CT values as necessary. Display. As a result, the reconstructed image is displayed as a black and white grayscale image.

次に本発明の中心となる再構成装置部分ての処理につい
て第2図(a) 、 (b)を用いて説明する。
Next, the processing of the reconstruction device, which is the central part of the present invention, will be explained using FIGS. 2(a) and 2(b).

再構成も理は前処理、フィルタ処理、逆投影の3つに分
類でき、各々前処理部10.コンがルパ11.バックプ
ロジェクタ12によって実行される。すなわち、前処理
部10は、X線吸収データに対するREF (レファレ
ンス)補正、オフセット補正、基準補正等の各種補正及
びlog変換等を行ない、またバックプロジェクタ12
は、フィルタ処理を受けたデータを、データ収集と同じ
方向に戻す操作を実行するものである。
The reconstruction process can be classified into three types: preprocessing, filter processing, and back projection, and the preprocessing section 10. Conga Lupa 11. It is executed by the back projector 12. That is, the preprocessing unit 10 performs various corrections such as REF (reference) correction, offset correction, and standard correction, and log conversion on the X-ray absorption data, and also performs log conversion on the X-ray absorption data.
performs an operation that returns the filtered data in the same direction as the data was collected.

以上の2つの処理は、一般的表ものなので詳細は省略す
る。
The above two processes are general tables, so details will be omitted.

次に本実施例の要部であるコンゲルパ11におけるフィ
ルタ処理の詳細について説明する。
Next, details of the filter processing in the congelper 11, which is the main part of this embodiment, will be explained.

コンがルバ11のフィルタリング処理は第2図(a)の
A、B、Cを経て行なわれ、フィルタ処理方法としては
、次の2つの方法に大別できる。
The filtering process of the controller 11 is performed through steps A, B, and C in FIG. 2(a), and the filtering process can be roughly divided into the following two methods.

(1)各グロジェクションの投影データを個々に分割フ
ィルタリング処理する方法 即ち、各グロジェクションの投影データf(、)(前処
理済みのX線吸収データ)について、個個にその投影デ
ータの分布を調べその分布に応じて所定数の領域に区分
し、その区分領域毎に対応するフィルタ関数をその投影
データに適合させてフィルタリング処理する方法。
(1) A method of individually dividing and filtering the projection data of each glojection. In other words, for each glojection's projection data f(,) (preprocessed X-ray absorption data), A method of examining the distribution, dividing it into a predetermined number of regions according to the distribution, and applying a filter function corresponding to each divided region to its projection data for filtering processing.

(2)各プロジェクションの投影データを分析して標準
フィルタ関数を求め、これにて全プロジェクションのデ
ータ(又は特定のプロジェクションに対し分割フィルタ
リング処理する方法。
(2) A method in which the projection data of each projection is analyzed to obtain a standard filter function, and the data of all projections (or a specific projection is divided and filtered using this function).

即ち、全てのプロジェクション又は特定方向のプロジェ
クションの投影データ1 (、)個々の分布に基づきこ
れらのデータ値の頻度分布を求め、この頻度分布に応じ
て分布のデータ値を所定数の領域に区分し、各区分領域
に対応したフィルタ関数を求め、各フィルタ関数によυ
全部又は特定のプロジェクションデータf (x)を区
分領域毎にフィルタリング処理する方法。
That is, the frequency distribution of these data values is determined based on the individual distributions of projection data 1 (,) of all projections or projections in a specific direction, and the data values of the distribution are divided into a predetermined number of regions according to this frequency distribution. , find the filter function corresponding to each segmented area, and calculate υ by each filter function.
A method of filtering all or specific projection data f(x) for each segmented area.

また、これらのフィルタ処理方法における投影データ或
いは頻度分布の領域区分には、次の2つの手法を選択的
に使用できる(第2図(b)のB−1,B−2参照)。
Furthermore, the following two methods can be selectively used for region segmentation of projection data or frequency distribution in these filter processing methods (see B-1 and B-2 in FIG. 2(b)).

(ト)投影データ等の極値を求め、基準レベルまでの領
域を単純に所定数で分割する手法。
(g) A method of finding the extreme values of projection data, etc., and simply dividing the area up to the reference level into a predetermined number of parts.

(B)  投影データ等の分布の変化を調べ、その変化
に応じ分割する手法 さらに各区分領域に対応するフィルタ関数の適合として
は次の2つの手法を選択的に使用できる(第2図(b)
のC参照)。
(B) A method of examining changes in the distribution of projection data, etc., and dividing the data according to the change.Furthermore, the following two methods can be selectively used to adapt the filter function corresponding to each segmented area (see Figure 2 (b). )
(See C).

(Q 領域区分の閾値又は領域内の関心値(例えば、中
間値)に基づきフィルタ関数を演算する方法。
(Q. A method of calculating a filter function based on a threshold value of a region segment or a value of interest (for example, an intermediate value) within a region.

(ロ)領域区分の閾値又は領域内の関心値に基づき、予
じめ経験的に与えられているフィルタ関数を選択する方
法。
(b) A method of selecting a filter function given empirically in advance based on a threshold value for region division or a value of interest within the region.

これら領域区分の手法及びフィルタ関数の適合法は、画
像の形態等に応じ選び使用できる。
These area segmentation methods and filter function adaptation methods can be selected and used depending on the form of the image.

では、以下その一実施例としてフィルタ処理方法には(
1)の方法を用い、領域区分には(4)を、フィルタ関
数の適合法には(0を使用する装置を第3図乃至第7図
を用いて説明する。
As an example, the filter processing method (
An apparatus that uses method (1), (4) for region segmentation, and (0) for filter function adaptation will be explained with reference to FIGS. 3 to 7.

本実施例においては前処理済みのX線吸収データである
投影データf(→の分布を調べてその最大値と最小値を
知シ、その幅を知ってこれを三分割するように閾値’r
a1# TH2を定め、その閾値に対応したフィルタ関
数を演算し、フィルタ処理している。
In this embodiment, the distribution of projection data f (→), which is preprocessed X-ray absorption data, is examined to find out its maximum and minimum values, and the threshold 'r is set to determine its width and divide it into thirds.
a1#TH2 is determined, a filter function corresponding to the threshold value is calculated, and filter processing is performed.

ただし、一般OCTスキャナの場合、被検査体の周辺部
は空気であシ、これが最もX線吸収の小さい物質である
ので、X線吸収の最小なる投影データ(これ、lI:M
INとする)は常に被検査体の周囲で検出され、そのデ
ータ値はCTスキャナが常に所定の条件に校正されてい
るとすればいつも同一値を示すことになると考えて差し
つかえない。
However, in the case of a general OCT scanner, the periphery of the object to be inspected is air, which is the material with the lowest X-ray absorption.
IN) is always detected around the object to be inspected, and it is safe to assume that its data value will always show the same value if the CT scanner is always calibrated to predetermined conditions.

そこで、X線吸収の最大なる投影データ(これをWαと
する)がわかればMINとMAXの関係より第3図に示
すように閾値TH,、TH2を決めることができる。
Therefore, if the projection data with the maximum X-ray absorption (this is designated as Wα) is known, the threshold values TH, TH2 can be determined from the relationship between MIN and MAX as shown in FIG.

図は投影データの値の分布範囲の一例を示す図で、ここ
では使用するCTスキャナのシステムの扱うことのでき
る数値範囲を32767〜−32768として、投影デ
ータが−32768から20000程度の範囲で分布し
ている例を示している。MINの−32768をとるデ
ータはX線吸収の最も小さい空気であり、■に相当する
ものは測定に供した被検査体に含有されている例えば鉛
、鉄、銅、タングステン等を想定している。
The figure shows an example of the distribution range of projection data values.Here, assuming that the numerical range that the CT scanner system used can handle is 32,767 to -32,768, the projection data is distributed in the range of -32,768 to about 20,000. An example is shown below. Data with a MIN of -32768 is air with the lowest X-ray absorption, and data corresponding to ■ are assumed to be contained in the test object subjected to measurement, such as lead, iron, copper, tungsten, etc. .

データ値0はとのCTスキャナにおいて測定可能なXa
強度の範囲のうち、ちょうど中間の強度の測定値に相当
し、例えば水等のような物質の投影データに相当する。
A data value of 0 means Xa that can be measured with a CT scanner.
This corresponds to a measured value of the middle intensity within the intensity range, and corresponds to projection data of a substance such as water.

CTスキャナにおいてはその校正用の標準被検査体とし
て例えばアクリル等による中空円柱状の容器内に水を入
れたファントムを用い、このファントムの再構成画像の
状態を見ながら校正を行う。
In a CT scanner, a phantom in which water is placed in a hollow cylindrical container made of acrylic or the like is used as a standard test object for calibration, and calibration is performed while observing the state of a reconstructed image of this phantom.

ファントムは基準データを得るためのものであり、校正
後において、少なくとも水を中心にそれよりもX線吸収
の小さい物質では雑音成分より信号成分のレベルが十分
大きいことから、フィルタ関数として周波数特性が高域
まで十分に伸びたものを用いても雑音が目立たない。
The phantom is used to obtain reference data, and after calibration, the level of the signal component is sufficiently higher than the noise component for materials with smaller X-ray absorption, mainly water, so the frequency characteristics are determined as a filter function. Noise is not noticeable even when using one that extends sufficiently to the high range.

この雑音の目立たないレベルとなる例えば水のデータ値
をSTDとし、このSTDから匣までのデータ分布範囲
を3分割するように閾値TH1゜TH2を設定すると閾
値を求めるための演算が簡単で済み、しかも、最良の画
質の再構成像を得るために用いるフィルタ関数の周波数
特性について細かい配慮をしなければ表らないデータ値
の分布範囲に適合させることができる。
For example, if the data value of water, which is at a level where this noise is not noticeable, is set as STD, and the threshold values TH1 and TH2 are set so as to divide the data distribution range from this STD to the box into three parts, the calculation for finding the threshold value is easy. Furthermore, it is possible to adapt to a data value distribution range that would not appear unless careful consideration is given to the frequency characteristics of the filter function used to obtain a reconstructed image of the best quality.

よって、■からSTD間を3分割してフィルタ関数hi
(→(1=o、1.2.3)を割当てる。
Therefore, by dividing the area from ■ to STD into three, the filter function hi
(→ Assign (1=o, 1.2.3).

すなわち、投影データf(→が f(→< STD    ではり。(→8TD(f(→
<THl ではり、(→TH1(r(i≦TH2ではh
 、(X)TH2(r(d    ではh 、(X)と
云う具合に割当てる。ここで用いる一フィルタ関数f。
In other words, the projection data f(→ is f(→<STD).(→8TD(f(→
<THl, (→TH1(r(i≦TH2, h
, (X)TH2(r(d) is assigned as h, (X). One filter function f used here.

(X)〜f 3(X)のうち、fo(→が最も高域特性
が良いフィルタであり、fl(x)→f2(→→f3(
→の順に周波数高域特性が低いフィルタであることを意
味する。
(X) to f3(X), fo(→ is the filter with the best high-frequency characteristics, fl(x)→f2(→→f3(
This means that the filter has a low frequency high-frequency characteristic in the order of →.

ここで、例外的なケースであるMAX りSTDに投影
データすべてが納まる場合について述べる。
Here, we will discuss an exceptional case in which all the projection data fits into MAX or STD.

この場合は再構成に用いる投影データすべてがSTD以
下であるので高域まで十分に周波数特性が伸びたフィル
タ関数を用いても雑音の目立たない再構成画像が得られ
るので、閾値による分割フィルタリングの必要は無い。
In this case, since all the projection data used for reconstruction is below the STD, a reconstructed image with less noticeable noise can be obtained even if a filter function whose frequency characteristics are sufficiently extended to high frequencies is used, so dividing filtering using a threshold is necessary. There is no.

すべてり。(→でコンデリュージョンを行えば良い。Everything is fine. (You can perform condelusion with →.

次に上記例外を除く、通常のデータ値分布を持つ投影デ
ータにおけるSTD −MAX間の分割法即ち投影デー
タの領域区分手法(6)について説明する。
Next, a division method between STD and MAX in projection data having a normal data value distribution excluding the above-mentioned exceptions, that is, a projection data area division method (6) will be explained.

先に説明したように、ここで対象としている量子雑音は
透過光子数の平方根に依存し、また、投影データf(x
)は透過データ厩→の対数値f(:c)=kZn #−
であるので、厳密には (透過データはPIITD > PTill > PT
II2 > Pユの関係にある。またkは定数を示す。
As explained earlier, the quantum noise targeted here depends on the square root of the number of transmitted photons, and the projection data f(x
) is the logarithm of the transparent data stable → f(:c)=kZn #-
Therefore, strictly speaking (transparent data is PIITD > PTill > PT
There is a relationship of II2 > P Yu. Further, k indicates a constant.

) とおいて平方根をとったとき、SN比はPIITDのほ
うがPMAxよりよい(8N比(PIITD) >S 
N比(PMAx))ので、この差を3等分する様にTH
lとTH2をもとめると、次の式の如くなる。
) and taking the square root, PIITD has a better S/N ratio than PMAx (8N ratio (PIITD) > S
N ratio (PMAx)), so the TH is divided into three equal parts.
When l and TH2 are obtained, the following formula is obtained.

よってf(→= kinユの関係から、P (x) となる。従りて、第4式、第5式のように設定するとS
/Nを等分割したことになる。もちろん、投影データf
(→の時点で3分割し、次の第6式。
Therefore, from the relationship f(→=kinu), P (x) is obtained. Therefore, if the formulas 4 and 5 are set, S
/N is divided into equal parts. Of course, the projection data f
(Divide into three at the point → and use the following 6th formula.

第7式のように簡単化することも考えられる。It is also conceivable to simplify it as in the seventh equation.

4”−8TD          ・・・(6)TH,
=    3+STD MAX −5TD TH2= MAX −3・・・(7) これらは式を見れば明らかなようにSTDからMAXま
での分布範囲の幅を3分割してMAXよりこれを減算し
、およびSTDに対する加算を行い、TH2,TH,を
求める方法である。
4”-8TD...(6)TH,
= 3+STD MAX -5TD TH2= MAX -3...(7) As is clear from the formula, these are calculated by dividing the width of the distribution range from STD to MAX into three, subtracting this from MAX, and calculating This is a method of performing addition to obtain TH2, TH.

以上が閾値の設定法である。The above is the method for setting the threshold value.

次にフィルタ関数の設定法即ち各区分領域(閾値)に対
応するフィルタ関数の適合法(C)について説明する。
Next, a method for setting the filter function, that is, a method (C) for adapting the filter function corresponding to each segmented area (threshold value) will be explained.

この設定法については、経験的指向が強く、被検査体を
構成する物質の種類によシ画像の適切なあり方即ち、観
察者が物体の形状寸法を見たいのか、組成分布をみたい
のかで、適切な画像がちがってくるので定量的に理論づ
けることは難しい。
This setting method is strongly empirically oriented, and depends on the appropriate image depending on the type of material that makes up the object to be inspected, that is, whether the observer wants to see the shape and dimensions of the object or the composition distribution. It is difficult to theorize quantitatively because the appropriate images vary.

このため、前述のフィルタ関数り。(X)からh 3(
X)にかけて滑らかに高域特性が変わるように設計する
こととし、定性的に把握することにする。
For this reason, the filter function described above. (X) to h 3(
The design will be such that the high-frequency characteristics change smoothly over X), and this will be determined qualitatively.

ここで閾値I(Tとフィルタ関数h (:c)の関係に
ついて説明する。
Here, the relationship between the threshold value I(T and the filter function h(:c)) will be explained.

フィルタ関数h (X)は周波数領域で記述すると、第
4図(!L) l (b)のようになる。
When the filter function h (X) is described in the frequency domain, it becomes as shown in FIG. 4 (!L) l (b).

第4図(、)はラマチャンドランが提案した関数で、1
ω1をナイキスト周波数ω、で打切った形をしている。
Figure 4 (,) is the function proposed by Ramachandran, with 1
It has a form in which ω1 is truncated at the Nyquist frequency ω.

第4図(b)はクエップとローガンによりて提案された
もので、この方がラマチャンドランが提案した関数より
も高域が伸びているので、鮮明な画像が得られる可能性
があるが、反面、雑音が乗υ易い欠点がある。
Figure 4(b) is the one proposed by Kuepp and Logan, which has a longer high frequency range than the function proposed by Ramachandran, so it is possible to obtain a clearer image, but on the other hand, , it has the disadvantage of being easily multiplied by noise.

このようにフィルタ関数は周波数特性で区別することが
できる。例えば、第4図ではω、のときのH(ハ)のそ
れぞれの値のうち、ラマチャンドランのものがより、高
域強調のかかったフィルタと言える。
In this way, filter functions can be distinguished based on their frequency characteristics. For example, in FIG. 4, among the respective values of H (c) when ω, Ramachandran's filter can be said to be a filter that emphasizes the high frequencies more.

さて、ここでは周波数特性と閾値の関係を説明する。定
性的には第5図のようにフィルタ関数■3からH8の頑
に高域強調が犬きくなるかたちで説明できる。ここで重
要なことは、これらのフィルタ関数H(ハ)が閾値TH
の関数であることである。
Now, the relationship between frequency characteristics and threshold values will be explained here. Qualitatively, this can be explained by the fact that filter functions ■3 to H8 strongly emphasize high frequencies as shown in FIG. What is important here is that these filter functions H (c) are equal to the threshold TH
is a function of .

すなわち、 H(G)) = Ho(+−)) X G(ω、TH)
        ・(8)但し、■。(ハ)は標準的特
性を表わし、G(ω。
That is, H(G)) = Ho(+-)) X G(ω, TH)
・(8) However, ■. (c) represents the standard characteristic, G(ω.

TI()は角周波数ωと閾値’rHの関数を示している
TI() represents a function of the angular frequency ω and the threshold value 'rH.

実施例では標準的特性のフィルタ関数H6(ハ)にはシ
ェ、ゾ、ローがンの式から (但し、ω、はナイキスト周波数) とし、G(ω、TH)には第10式を用いる。
In the embodiment, the filter function H6 (c) with standard characteristics is determined from the She, Zo, and Rhogan equations (where ω is the Nyquist frequency), and the 10th equation is used for G(ω, TH).

(ω≧ωAのとき) 尚、第10式の関数を第6図に示す。(When ω≧ωA) Incidentally, the function of Equation 10 is shown in FIG.

但し、第10式において、ωAとωBはωム=ωN・(
1−1止」阻) ω扉 = ωN (Kは定数) である。すなわち、閾値THが高ければ高いほと、ωム
はωNよシ小さくなり、高域の利得が小さくなって高域
強調されなくなる。このようにして閾値TH1,TH2
を決定し、投影データを4つに区分したうえで各区分毎
にS/Nに応じた最適なフィルタ関数を求めこれを用い
てその投影データに対してフィルタ処理を行いゾロゾエ
クシ1ンデータを得、これら処理を各方向の投影データ
に実行して、これらデータをバックプロジェクタ12に
送って、ここでこのゾロジェクションデータを各グロジ
ェクション毎に投影時の方向に対応した方向に逆投影し
て画像再構成する。
However, in Equation 10, ωA and ωB are ω = ωN・(
1-1 stop) ω door = ωN (K is a constant). That is, the higher the threshold TH is, the smaller ω is than ωN, the higher the gain in the high range is, and the higher the high range is not emphasized. In this way, the threshold values TH1, TH2
After determining the projection data, divide the projection data into four parts, find the optimal filter function according to the S/N for each division, use this to perform filter processing on the projection data, and obtain zorozoexi1 data. These processes are performed on the projection data in each direction, and these data are sent to the back projector 12, where this zoloprojection data is back-projected for each glojection in a direction corresponding to the direction at the time of projection. Reconstruct the image.

このコン?ルパ11とバックプロジェクタ12による処
理の手順をフローチャートで示すと第7図の如くとなる
This con? FIG. 7 shows a flowchart of the processing procedure performed by the projector 11 and the back projector 12.

すなわち、被検査体測定断面について Q6〜180°
にわたる各方向からの透過データを得、これを前処理し
する。そして、ファンビームによるデータ収集を行って
いるならば、ノ9ラレルビーム変換して各投射方向毎の
パラレルビームによるデータのかたちで投影データを得
る( st@p 1 )。
In other words, regarding the measurement cross section of the object to be inspected: Q6 ~ 180°
Transmission data from each direction is obtained and preprocessed. If data is collected using a fan beam, then parallel beam conversion is performed to obtain projection data in the form of parallel beam data for each projection direction (st@p 1 ).

次にコンデルパ11の作業領域に入る。すなわち、5t
ep 2において上記のノ々ラレルデータ変換された各
投射方向別投影データすべてについて最大値すなわち、
X線吸収の最大のものMAXを探す。次いで、5tep
3に入り、このMAXが標準信頼レベルSTDより大き
いか否かを判定する。
Next, the work area of ConDelpa 11 is entered. That is, 5t
In ep 2, the maximum value of all the projection data for each projection direction converted into the above-mentioned nonoraral data, that is,
Find the maximum X-ray absorption MAX. Then, 5tep
3, and it is determined whether this MAX is greater than the standard reliability level STD.

ここで否であれば投影データはS/Nが良いので、分割
フィルタリングの必要が無く、従って、5top 4に
おいて高域特性の良いフィルタ関数Ho(ハ)のみを用
いてコンボリューションし、その後、逆投影して画像再
構成を行う。
If not here, the projection data has a good S/N, so there is no need for divisional filtering. Therefore, in 5top 4, convolution is performed using only the filter function Ho (Ha) with good high frequency characteristics, and then the inverse Perform image reconstruction by projecting.

st@p 3においてMAXがSTDより大きいと判定
されたならば、5tep5に入り、STDとMAXとの
間の幅を調べてこれを3分割するための閾値TH1,T
H2を求める。
st@p If it is determined in 3 that MAX is larger than STD, the process goes to step 5, where the width between STD and MAX is checked and thresholds TH1 and T are set for dividing this into three.
Find H2.

次に5top 6に入り、閾値TH,、TH2及びST
D。
Next, enter 5top 6, threshold TH,, TH2 and ST
D.

WAXに見合ったフィルタ関数h1(x) * h〆→
、h、(→。
Filter function h1(x) suitable for WAX *h〆→
, h, (→.

h 0(X) −、h 5(→を作る。Make h 0 (X) -, h 5 (→.

次に5tep 7に入シ、投影データを上記の領域別に
分け、その領域毎に対応する上記フィルタ関数を用いて
コンボリューションし、各投影方向毎のプロジェクショ
ンデータを作る。
Next, in step 7, the projection data is divided into the regions described above, and convolution is performed using the filter function corresponding to each region to create projection data for each projection direction.

次にパックプロジェクタ12に作業を渡し、5tep 
8により上記各グロジェク/Wンデータを逆投影して再
構成を行う。
Next, pass the work to the pack projector 12 and perform 5 steps.
8, each of the above Glojek/Wn data is back-projected and reconstructed.

このように、本実施例は収集した御所面分の投影データ
を各方向毎に、その最大値を調べ、S/Nの関係からそ
の信頼度が保証し得る標準的な信頼度の値と上記最大値
の間の数値の幅を調べ、その幅を3分割するための閾値
を求めると共にこれら分割された各領域のデータに対す
るフィルタ関数として各領域の上記信頼性に応じて高域
特性を調節した各領域の適正なフィルタ関数をそれぞれ
求め、そして、信頼度が十分保証される領域に対しては
高域特性の良いフィルタ関数を用いて、フィルタリング
処理し、その処理済みデータよシ画像再構成を行うよう
にしたものである。
In this way, this embodiment examines the maximum value of the collected projection data for the imperial palace surface in each direction, and calculates the standard reliability value that can be guaranteed from the S/N relationship and the above value. The width of the numerical values between the maximum values was investigated, and the threshold value for dividing the width into three was determined, and the high-frequency characteristics were adjusted as a filter function for the data of each divided area according to the above-mentioned reliability of each area. Find an appropriate filter function for each region, perform filtering using a filter function with good high-frequency characteristics for regions whose reliability is sufficiently guaranteed, and perform image reconstruction using the processed data. This is what I decided to do.

従って、収集した投影データの最大値のレベルに応じ、
且つ標準的な信頼度のデータよりX線吸収の大きいデー
タについて、その値の分布の幅に応じた分割幅でデータ
値の領域分割し、その各領域でのデータのS/Nに関係
した信頼度に合わせたフィルタ関数を得てフィルタリン
グすることができるので、信頼度に応じたきめの細かい
フィルタリングが可能となり、そのため、投影データの
X線吸収の最大値に応じ実現可能な最大限の高域強調が
できるようになり、分解能をデータの信頼度に合わせて
最大限に高めることが可能となる。
Therefore, depending on the level of the maximum value of the collected projection data,
In addition, for data with higher X-ray absorption than standard reliability data, the data value is divided into regions with a division width corresponding to the width of the distribution of the value, and reliability related to the S/N of the data in each region is calculated. Since filtering can be performed by obtaining a filter function tailored to the degree of reliability, fine-grained filtering can be performed according to the degree of reliability. Emphasis is now possible, and resolution can be maximized to match the reliability of the data.

次にコンデルパ11のフィルタ処理方法として前記(2
)の方法を用い、領域区分には前記(B)をフィルタ関
数の適合法には前記(ロ)を用いた装置の実施例を第2
図を用いて説明する。
Next, as a filter processing method of ConDelpa 11, the above (2)
) method is used, the above method (B) is used for region segmentation, and the above method (B) is used for the filter function adaptation method.
This will be explained using figures.

本実施例では、頻度分布測定部Aが投影データf(→即
ち、放射線検出器の各検出素子に対応して離散化及び量
子化された信号(第2図(C))の信号値に基づきその
信号値の頻度分布を求め、この測定を全方向或いは特定
方向の投影データに対して行なう。これによって得られ
た頻度分布(第2図(d))に対して頻度分布分割部B
は変化量(讐)を求め、この変化量が所定値以上になる
投影データ値を閾値として求める。頻度区分毎フィルタ
関数発生部Cは、予じめ経験的に、又は前記した第8式
による演算によって求められる各種のフィルタ関数を内
部のメモリに記憶させておき、閾値の値に基づいて一義
的に対応するフィルター数を選択している。そして、こ
のフィルタ関数に基づき、投影データf(→は逐次フィ
ルタ処理され、パ、クグロジェクタに供給されている。
In this embodiment, the frequency distribution measuring unit A is based on the signal value of the projection data f (→ that is, a signal that has been discretized and quantized corresponding to each detection element of the radiation detector (Fig. 2 (C)). The frequency distribution of the signal values is determined and this measurement is performed on the projection data in all directions or in a specific direction.The frequency distribution dividing section B
The amount of change is determined, and the projection data value for which this amount of change is equal to or greater than a predetermined value is determined as a threshold value. The filter function generation unit C for each frequency category stores various filter functions obtained empirically or by calculation according to the above-mentioned formula 8 in the internal memory in advance, and uniquely generates the filter functions based on the threshold value. Select the number of filters that correspond to . Then, based on this filter function, the projection data f(→) is sequentially filtered and supplied to the projector.

なお、本発明は投影データf (x)の分布に基づきそ
のデータを所定区分に分割し、その区分に対応するフィ
ルタ関数を得てフィルタ処理するものであり、そのため
には前回(B)と(C’) (D)並びにそれと同様の
結果を得る構成を自由に採用し、同様の効果を達成でき
る。
Note that the present invention divides the projection data f (x) into predetermined sections based on its distribution, and performs filter processing by obtaining a filter function corresponding to the section. C') (D) and configurations that obtain similar results can be freely adopted to achieve similar effects.

また、上記各実施例では分割数として3分割を用いたが
、よシきめの細かく効果をあげるには更に細分化するよ
うにしても良い。但し、その場合その分割領域に合わせ
て、予じめ対応するフィルタ関数を設定しておく必要が
ある。また、この分割数の増大とともにコンデリュージ
ョン演算に要する処理時間も増大する。
Further, in each of the above embodiments, three divisions were used as the number of divisions, but the division may be further subdivided in order to achieve a finer effect. However, in this case, it is necessary to set a corresponding filter function in advance according to the divided area. Furthermore, as the number of divisions increases, the processing time required for condelusion calculation also increases.

さらに本実施例ではフィルタ処理を実領域で行りている
が、周波数領域でも同様にこの方法は適用することがで
きる。何故ならばフーリエ変換は線形変換であるから、 令(f(→胎F(ν) (但し、令はプーリ8変換を表わす)とすれば=令(f
、(→)+9(f〆→)+9(t 、(x))=F、(
ν)+Fノν)+F3(ν) が成立するためである。その場合、フィルタ処理された
投影データの周波数表現は 令(h(t))合H(ν)として F(ν)×H(ν) =F、(ν)×も(ν)+Fノν)XHノν)+F、(
ν)×城ν)となる。
Furthermore, although filter processing is performed in the real domain in this embodiment, this method can be similarly applied to the frequency domain. This is because the Fourier transform is a linear transformation, so if we let (f(→F(ν)) (where, Re represents the pulley 8 transformation), then = Re(f)
, (→)+9(f〆→)+9(t,(x))=F,(
This is because the following holds true: ν)+Fノν)+F3(ν). In that case, the frequency representation of the filtered projection data is (h(t)) as the sum H(ν) as F(ν) × H(ν) = F, (ν) × also (ν) + F no ν) XHノν)+F, (
ν)×Castle ν).

また、上記実施例に用いた閾値は一例であり、これに限
定することなく実際の基準物質のデータや被検査体の組
成に合わせ適宜に設定し得る。
Furthermore, the threshold values used in the above embodiments are merely examples, and can be set as appropriate according to the data of the actual reference material and the composition of the object to be inspected, without being limited thereto.

設定の仕方としては再構成画像の状態を見ながら最適な
ものを設定するようにすれば良い。尚、本発明はX線に
よるCTスキャナの他、ラジオアイソトープ等の他の放
射線源を用い九〇Tスキャナにも適用し得るものである
As for the setting method, it is sufficient to set the optimum one while checking the state of the reconstructed image. The present invention can be applied not only to a CT scanner using X-rays but also to a 90T scanner using other radiation sources such as radioisotopes.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上詳述したように本発明によれば、放射吸収の大なる
物質を含む被検査体などのように検出器に到達する放射
線量が著しく低くなるような場合においても、FBP法
により画質を劣化させることなく画像再構成を行うこと
ができ、しかも被検査体の組成に応じ可能な限り分解能
の良い画像を得ることができるなどの特徴を有する放射
線断層測定装置を提供することができる。
As detailed above, according to the present invention, even in cases where the amount of radiation reaching the detector is extremely low, such as when inspecting an object that contains a substance that absorbs a large amount of radiation, image quality can be reduced by the FBP method. It is possible to provide a radiation tomography measuring apparatus having the characteristics of being able to perform image reconstruction without any interference, and also being able to obtain images with as high a resolution as possible depending on the composition of the object to be inspected.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明装置の構成を示すブロック図、第2図は
本発明の詳細な説明をするための図、第3図は本発明の
閾値設定手法の基本的概念を説明するための図、第4図
はフィルタ関数を周波数特性で見た図、第5図は本発明
に用いるフィルタ関数の一例を示す図、第6図はG(ω
、TH)の関数を示す図、第メ図は本発明の手法を示す
70−チャート、fs8図は投影データと閾値の関係を
説明するための図、第9図は投影データと閾値により区
分されたデータ領域との関係を説明するための図、第1
0図は従来提案されている手法に用いるフィルタ関数の
一例を示す図、第11図は従来提案されている手法に用
いるコンボリューションの様子を説明するための図、第
12図は従来提案されている手法の変形例を説明するた
めの図、第13図は投影データと閾値の関係の一例を説
明するための図である。 1・・・スキャナ本体、2・・・X線源、3・・・検出
器、7・・・システムコントローラ、9・・・データ収
集装置、10・・・前処理装置、11・・・コンデルノ
々、12・・・パ、クゾロジェクタ、13・・・メモリ
、15・・・CRT表示器。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図 B−I         B−2 第211 (C) (d) TH+   TH27H3f(x) 第3図 第 (a) 第5図 (b) G(cu、TH) 0             ωA    (AJB第
7図 第8WA 第9凶 第111il
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the device of the present invention, FIG. 2 is a diagram for explaining the present invention in detail, and FIG. 3 is a diagram for explaining the basic concept of the threshold setting method of the present invention. , FIG. 4 is a diagram showing the filter function in terms of frequency characteristics, FIG. 5 is a diagram showing an example of the filter function used in the present invention, and FIG. 6 is a diagram showing G(ω
, TH), Fig. 7 is a 70-chart showing the method of the present invention, Fig. fs8 is a diagram for explaining the relationship between projection data and threshold, and Fig. 9 is a diagram showing the relationship between projection data and threshold. Figure 1 for explaining the relationship with the data area
Figure 0 is a diagram showing an example of a filter function used in a conventionally proposed method, Figure 11 is a diagram for explaining the state of convolution used in a conventionally proposed method, and Figure 12 is a diagram showing an example of a filter function used in a conventionally proposed method. FIG. 13 is a diagram for explaining an example of the relationship between projection data and a threshold value. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Scanner main body, 2... X-ray source, 3... Detector, 7... System controller, 9... Data acquisition device, 10... Preprocessing device, 11... Conderno 12...Pa, Kuzoro projector, 13...Memory, 15...CRT display. Applicant's representative Patent attorney Takehiko Suzue Figure 1 Figure 2 B-I B-2 211 (C) (d) TH+ TH27H3f(x) Figure 3 (a) Figure 5 (b) G ( cu, TH) 0 ωA (AJB Fig. 7 Fig. 8WA 9th evil 111il

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 被検査体の設定断層面についてその各方向から放射線を
投影し、その透過放射線を空間分解能をもって検出する
ことにより前記投影方向毎の放射線投影データを得、こ
れら放射線投影データを用いて画像再構成を行って前記
断層面各位置の放射線吸収率に対応した再構成画像を得
る装置において、前記画像再構成を行う手段として投影
データの分布に基づき、前記投影データを所定区画に分
割する閾値を求める手段、この所定区画毎に各々対応す
る周波数特性のフィルタ関数を求める手段と、前記所定
区画毎にその対応するフィルタ関数で各投影方向に対す
る投影データをコンボリューションして合成し逆投影用
のデータを得る手段とより構成し、信頼度の高い投影デ
ータほど高域強調した逆投影用データを得ると共にこれ
を逆投影して再構成画像を得ることを特徴とする放射線
断層測定装置。
Radiation is projected from each direction on a set tomographic plane of the object to be inspected, and the transmitted radiation is detected with spatial resolution to obtain radiation projection data for each projection direction, and image reconstruction is performed using these radiation projection data. and obtaining a reconstructed image corresponding to the radiation absorption rate of each position on the tomographic plane, the image reconstruction means means for determining a threshold value for dividing the projection data into predetermined sections based on the distribution of the projection data. , a means for determining a filter function with a corresponding frequency characteristic for each of the predetermined sections, and a means for convolving and synthesizing the projection data for each projection direction with the corresponding filter function for each of the predetermined sections to obtain data for back projection. What is claimed is: 1. A radiation tomography measuring apparatus comprising means for obtaining back projection data in which higher frequencies are emphasized for projection data with higher reliability, and back projecting the data to obtain a reconstructed image.
JP59276093A 1984-08-28 1984-12-28 Radiation tomographic measuring apparatus Pending JPS61154646A (en)

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