JPS6113168A - 放射線量の測定方法 - Google Patents
放射線量の測定方法Info
- Publication number
- JPS6113168A JPS6113168A JP13484984A JP13484984A JPS6113168A JP S6113168 A JPS6113168 A JP S6113168A JP 13484984 A JP13484984 A JP 13484984A JP 13484984 A JP13484984 A JP 13484984A JP S6113168 A JPS6113168 A JP S6113168A
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- JP
- Japan
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- light
- optical fiber
- irradiation
- radiation
- styrene
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/02—Dosimeters
- G01T1/06—Glass dosimeters using colour change; including plastic dosimeters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野Ｊ
本発明は、放射線量の測定方法に関し、更に詳しくはあ
る種のプラスチック光ファイバーの光吸収が放射線照射
により増加する性質を利用した放射線量の測定方法に関
する。
る種のプラスチック光ファイバーの光吸収が放射線照射
により増加する性質を利用した放射線量の測定方法に関
する。
［従来技術］
各種放射線のそれぞれの特徴を利用すると、放射線の照
射によって比較的短時間の間に対象物に大量のエネルギ
ー吸収を起こさせ、その結果として現実に利用価値のあ
る種々の効果を達成することがで外る。
射によって比較的短時間の間に対象物に大量のエネルギ
ー吸収を起こさせ、その結果として現実に利用価値のあ
る種々の効果を達成することがで外る。
このような大線量放射線応用分野において、放射線量の
測定技術は、放射線利用そのものの目的達成の機能的有
効性を確保する技術手段として、また安全性確保のため
の技術手段として不可欠である。さらに測定技術は、経
済的で信頼性のあるものでなければならない。
測定技術は、放射線利用そのものの目的達成の機能的有
効性を確保する技術手段として、また安全性確保のため
の技術手段として不可欠である。さらに測定技術は、経
済的で信頼性のあるものでなければならない。
放射線量の測定技術に関しては、環境レベル、防護レベ
ル、診断レベル、医療レベルにおいては、ある程度の技
術水準を維持で終る技術的背景が存在しているが、放射
線加ニレベル（１０４〜１０８うＶ）では、未だ技術自
体の歴史が浅く、技術背景も不十分である。
ル、診断レベル、医療レベルにおいては、ある程度の技
術水準を維持で終る技術的背景が存在しているが、放射
線加ニレベル（１０４〜１０８うＶ）では、未だ技術自
体の歴史が浅く、技術背景も不十分である。
、放射線加ニレベルにおける簡単な放射線量測定方法と
して、プラスチックや色素の色変化を利用する方法があ
る。しかしこの方法では、照射後にしか照射量を測定す
ることができない。また、ポリメチルメタノ１ル−トの
板を用いて照射前および照射後の透過率を測定する方法
もあるが、板を一々セットしなければならず、また照射
中の線量管理はでとない。
して、プラスチックや色素の色変化を利用する方法があ
る。しかしこの方法では、照射後にしか照射量を測定す
ることができない。また、ポリメチルメタノ１ル−トの
板を用いて照射前および照射後の透過率を測定する方法
もあるが、板を一々セットしなければならず、また照射
中の線量管理はでとない。
［発明の目的］
本発明の一つの目的は、照射中にも簡単に、しかも連続
的に照射線量を測定でき、線量の管理ができる放射線量
の測定方法を提供することにある。
的に照射線量を測定でき、線量の管理ができる放射線量
の測定方法を提供することにある。
本発明の他の目的は、放射線加ニレベル（１０４〜１０
８ラド）にも適用できる放射線量の測定方法を提供する
ことにある。
８ラド）にも適用できる放射線量の測定方法を提供する
ことにある。
［発明の構Ｉ＆１
本発明の要りは、未照射時には透明性を持ち、放射線照
射により着色する樹脂をコア材とするプラスチック光フ
ァイバーの少なくとも一部を放射線が照射される区域に
設置し、該光ファイバーの一端を光源に、他端を受光部
に接続し、受光部における光量を測定することにより、
照射範囲における照射線量を決定することを特徴とする
放射線量の測定方法に存する。
射により着色する樹脂をコア材とするプラスチック光フ
ァイバーの少なくとも一部を放射線が照射される区域に
設置し、該光ファイバーの一端を光源に、他端を受光部
に接続し、受光部における光量を測定することにより、
照射範囲における照射線量を決定することを特徴とする
放射線量の測定方法に存する。
本発明の方法では、光源としてレーザーまたは回折格子
などで分光した単色光を用いるのが好ましいが、適当な
他の光源ももちろん使用できる。
などで分光した単色光を用いるのが好ましいが、適当な
他の光源ももちろん使用できる。
光源からでた光束は集光してファイバーの一端面に入射
する。
する。
受光部では、光源から入射し、プラスチック光ファイバ
ーを通過して滅夏した光を受光し、光の強度を適ゞ当な
手段で測定する。そのような測定手段としては、たとえ
ば太陽電池または７オトダイオードなどの光を電気信号
に変換する手段が好ましく用いられる。
ーを通過して滅夏した光を受光し、光の強度を適ゞ当な
手段で測定する。そのような測定手段としては、たとえ
ば太陽電池または７オトダイオードなどの光を電気信号
に変換する手段が好ましく用いられる。
プラスチック光ファイバーとしては、コア材が未照射時
は透明性を持ち、放射線の照射によって着色する樹脂か
らなるものを使用する。このような樹脂としてはメタク
リル酸アルキルまたはメタクリル酸アリールの重合体、
メタクリル酸アルキルまたはメタクリル酸アリールを主
体とする重合体、メタクリル酸アルキルまたはメタクリ
ル酸アリールを含む共重合体、スチレンまたはスチレン
誘導体の重合体、スチレンまたはスチレン誘導体を主体
とする重合体、スチレンまたはスチレン誘導体を含む共
重合体、またはポリカーボネートなどを用いることがで
きる。メタクリル酸アルキルの重合体としては、メタク
リル酸のアルキルエステルであって、アルキル基がメチ
ル、エチル、プロピル、ブチル、ボルニル、インボルニ
ル、アダマンチルなど炭素数１〜１０のメタクリル酸ア
ルキルの重合体があり、メタクリル酸アリールの重合体
としては、メタクリル酸のアリールエステルであって、
アリール基がフェニル、ベンジル、ナフチルやこれらの
誘導体であるメタクリル酸アリールの重合体があり、ス
チレン誘導体の重合体としては、ｐ−フェニルスチレン
、ｐ−ｔｅｒｔ−ブチルスチレン、ｐ−シアノスチレン
、ｐ−イオドスチレン、α、β、β−トリフルオロスチ
レン、パーフルオロスチレン、２．３，４，５．６−ペ
ンタフルオロスチレンなどのスチレン誘導体の重合体が
ある。
は透明性を持ち、放射線の照射によって着色する樹脂か
らなるものを使用する。このような樹脂としてはメタク
リル酸アルキルまたはメタクリル酸アリールの重合体、
メタクリル酸アルキルまたはメタクリル酸アリールを主
体とする重合体、メタクリル酸アルキルまたはメタクリ
ル酸アリールを含む共重合体、スチレンまたはスチレン
誘導体の重合体、スチレンまたはスチレン誘導体を主体
とする重合体、スチレンまたはスチレン誘導体を含む共
重合体、またはポリカーボネートなどを用いることがで
きる。メタクリル酸アルキルの重合体としては、メタク
リル酸のアルキルエステルであって、アルキル基がメチ
ル、エチル、プロピル、ブチル、ボルニル、インボルニ
ル、アダマンチルなど炭素数１〜１０のメタクリル酸ア
ルキルの重合体があり、メタクリル酸アリールの重合体
としては、メタクリル酸のアリールエステルであって、
アリール基がフェニル、ベンジル、ナフチルやこれらの
誘導体であるメタクリル酸アリールの重合体があり、ス
チレン誘導体の重合体としては、ｐ−フェニルスチレン
、ｐ−ｔｅｒｔ−ブチルスチレン、ｐ−シアノスチレン
、ｐ−イオドスチレン、α、β、β−トリフルオロスチ
レン、パーフルオロスチレン、２．３，４，５．６−ペ
ンタフルオロスチレンなどのスチレン誘導体の重合体が
ある。
メタクリル酸アルキル、メタクリル酸アリール、スチレ
ン、またはスチレン誘導体を主体とする重合体としては
、前述のメタクリル酸アルキノ呟メタクリル酸アリール
、スチレン誘導体、またはスチレンを主成分とし、アク
リル酸メチル、アクリル酸エチルなどのアクリル酸アル
キルの少量を含む重合体がある。メタクリル酸アルキル
またはメタクリル酸アリールを含む共重合体、スチレン
またはスチレン誘導体を含む共重合体としては、前述の
メタクリル酸アルキル、メタクリル酸アリール、スチレ
ン誘導体、及びスチレンのうち、少なくとも２つ以上の
成分の共重合体がある。これら重合体の水素原子は、一
部或いは全部重水素で置換されているものも本発明のコ
アとして用いることができる。クラッドは、これらコア
材に対して通常用いられている樹脂、たとえばフッ素を
含有する重合体が用いられる。
ン、またはスチレン誘導体を主体とする重合体としては
、前述のメタクリル酸アルキノ呟メタクリル酸アリール
、スチレン誘導体、またはスチレンを主成分とし、アク
リル酸メチル、アクリル酸エチルなどのアクリル酸アル
キルの少量を含む重合体がある。メタクリル酸アルキル
またはメタクリル酸アリールを含む共重合体、スチレン
またはスチレン誘導体を含む共重合体としては、前述の
メタクリル酸アルキル、メタクリル酸アリール、スチレ
ン誘導体、及びスチレンのうち、少なくとも２つ以上の
成分の共重合体がある。これら重合体の水素原子は、一
部或いは全部重水素で置換されているものも本発明のコ
アとして用いることができる。クラッドは、これらコア
材に対して通常用いられている樹脂、たとえばフッ素を
含有する重合体が用いられる。
これらのプラスチックは、放射線照射により紫外域の吸
収が増加し、それに従って可視部の吸収も吸収ピークの
すそによって増大する。従って、ある単色光が光源から
入射して通過しているプラスチック光ファイバーを放射
線照射すると、受光部に至る光量は照射量に依存して滅
裂する。
収が増加し、それに従って可視部の吸収も吸収ピークの
すそによって増大する。従って、ある単色光が光源から
入射して通過しているプラスチック光ファイバーを放射
線照射すると、受光部に至る光量は照射量に依存して滅
裂する。
すなわち、本発明によれば、受光部での光量の減衰率を
測定することにより、照射部における照射線量を計算す
ることができる。
測定することにより、照射部における照射線量を計算す
ることができる。
本発明の測定方法は、放射線加ニレベル（１０４〜１０
８ラド）について最も好ましく適用されるが、他のレベ
ルにも適用できることはもちろんである。
８ラド）について最も好ましく適用されるが、他のレベ
ルにも適用できることはもちろんである。
［発明の効果］
本発明の測定方法は、プラスチック光ファイバーの一端
を光源に、他端を受光部に接続し、光７アイバーの中間
部の一部を放射線照射区域に配置し、受光部での光量を
測定すればよいだけであるので、非、常に簡単である。
を光源に、他端を受光部に接続し、光７アイバーの中間
部の一部を放射線照射区域に配置し、受光部での光量を
測定すればよいだけであるので、非、常に簡単である。
放射線照射中にも連続的に測定できるので、照射線量の
管理が容易に行なえる。
管理が容易に行なえる。
また、放射線加ニレベル（１０４〜１０８ラド）での照
射線量の測定が、簡単かつ正確に行なえる。
射線量の測定が、簡単かつ正確に行なえる。
［実施例１
プラスチック光ファイバーとして、コアがポリメチルメ
タクリレートであり、クラッドが７）化ビニリデン／テ
トラフルオロエチレン共重合体である光ファイバー（コ
ア径０．４９９１１ｕ、クラッド厚０．０１ｚｚ）を用
いた。この光フアイバー１０肩の中間部分ＩＭを照射室
に入れ、一端をＨｅＮｅレーザー光源に接続し、他端を
、シリコン７オトセルを受光部をしたレーザーパワーメ
ータにセットした。
タクリレートであり、クラッドが７）化ビニリデン／テ
トラフルオロエチレン共重合体である光ファイバー（コ
ア径０．４９９１１ｕ、クラッド厚０．０１ｚｚ）を用
いた。この光フアイバー１０肩の中間部分ＩＭを照射室
に入れ、一端をＨｅＮｅレーザー光源に接続し、他端を
、シリコン７オトセルを受光部をしたレーザーパワーメ
ータにセットした。
照射部におけるプラスチック光ファイバーをＬＳ−ファ
ンデーブラーフ型電子線加速器（４００ｋＶ、７５μＡ
）によって照射しながら、受光部における光量を測定し
た。
ンデーブラーフ型電子線加速器（４００ｋＶ、７５μＡ
）によって照射しながら、受光部における光量を測定し
た。
未照射時の透過光量に対する照射時の透過光量の比を、
照射線量に対してプロットしたのｈｆ第１図に示すグラ
フである。
照射線量に対してプロットしたのｈｆ第１図に示すグラ
フである。
この実験を再度行なったところ、良好な再現性が得られ
た。
た。
第１図は、未照射時の透過線量に対する照射時の透過線
量の比を照射線量に対してプロットしたグラフである。 特許出願人 住友電気工業株式会社 代 理 人 弁理士 青白 葆 他２名第１図 照射線ｔ （ｘｌｏ’ｒａｄ）
量の比を照射線量に対してプロットしたグラフである。 特許出願人 住友電気工業株式会社 代 理 人 弁理士 青白 葆 他２名第１図 照射線ｔ （ｘｌｏ’ｒａｄ）
Claims (3)
- （１）未照射時には透明性を持ち、放射線照射により着
色する樹脂をコア材とするプラスチック光ファイバーの
少なくとも一部を放射線が照射される区域に設置し、該
光ファイバーの一端を光源に、他端を受光部に接続し、
受光部における光量を測定することにより、照射範囲に
おける照射線量を決定することを特徴とする放射線量の
測定方法。 - （２）放射線量が１０＾４〜１０＾８ラドの範囲である
特許請求の範囲第１項記載の測定方法。 - （３）プラスチック光ファイバーのコア材が、メタクリ
ル酸アルキルまたはメタクリル酸アリールの重合体、メ
タクリル酸アルキルまたはメタクリル酸アリールを主体
とする重合体、メタクリル酸アルキルまたはメタクリル
酸アリールを含む共重合体、スチレンまたはスチレン誘
導体の重合体、スチレンまたはスチレン誘導体を主体と
する重合体、スチレンまたはスチレン誘導体を含む共重
合体またはポリカーボネートである特許請求の範囲第１
項または第２項記載の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13484984A JPS6113168A (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | 放射線量の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13484984A JPS6113168A (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | 放射線量の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6113168A true JPS6113168A (ja) | 1986-01-21 |
Family
ID=15137904
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13484984A Pending JPS6113168A (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | 放射線量の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6113168A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6009202A (en) * | 1994-12-28 | 1999-12-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image information encoding/decoding system |
| US6016364A (en) * | 1994-12-28 | 2000-01-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image information encoding/decoding system |
-
1984
- 1984-06-28 JP JP13484984A patent/JPS6113168A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6009202A (en) * | 1994-12-28 | 1999-12-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image information encoding/decoding system |
| US6016364A (en) * | 1994-12-28 | 2000-01-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image information encoding/decoding system |
| US6044175A (en) * | 1994-12-28 | 2000-03-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image information encoding/decoding system |
| US6047086A (en) * | 1994-12-28 | 2000-04-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image information encoding/decoding system |
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