JPS61117853A - Ic indicating method - Google Patents
Ic indicating methodInfo
- Publication number
- JPS61117853A JPS61117853A JP59238562A JP23856284A JPS61117853A JP S61117853 A JPS61117853 A JP S61117853A JP 59238562 A JP59238562 A JP 59238562A JP 23856284 A JP23856284 A JP 23856284A JP S61117853 A JPS61117853 A JP S61117853A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bar code
- lot
- ics
- package
- barcode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/544—Marks applied to semiconductor devices or parts, e.g. registration marks, alignment structures, wafer maps
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2223/00—Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
- H01L2223/544—Marks applied to semiconductor devices or parts
- H01L2223/54413—Marks applied to semiconductor devices or parts comprising digital information, e.g. bar codes, data matrix
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2223/00—Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
- H01L2223/544—Marks applied to semiconductor devices or parts
- H01L2223/54473—Marks applied to semiconductor devices or parts for use after dicing
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2223/00—Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
- H01L2223/544—Marks applied to semiconductor devices or parts
- H01L2223/54473—Marks applied to semiconductor devices or parts for use after dicing
- H01L2223/54486—Located on package parts, e.g. encapsulation, leads, package substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、特に自動化された選別または検査作業に適
した、集積回路の表示方法に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a method for displaying integrated circuits, particularly suitable for automated screening or inspection operations.
(従来の技術)
集積回路製品(以下ICとする)の外形は使用さ九るパ
ッケージの材質や方式により種々存在している。第4図
〜第7図に代表的なICの外観図を示す。第4図および
第5図の場合はデュアルインラインパッケージ(DIP
)と呼ばれ、最も多く、第4図はプラスティック形DI
Pパッケージの例を示し、第5図はセラミック形DIP
パッケージの例を示している。(Prior Art) There are various external shapes of integrated circuit products (hereinafter referred to as ICs) depending on the material and method of the package used. FIGS. 4 to 7 show external views of typical ICs. In the case of Figures 4 and 5, dual in-line package (DIP)
), and the most common one, Figure 4, is the plastic type DI.
An example of a P package is shown, and Figure 5 shows a ceramic type DIP.
An example of a package is shown.
また、第6図はプラスティック形フラットパッケージの
例を示し、第7図はセラミック形フラットパッケージの
例を示している。この第6図、第7図のフラットパッケ
ージの場合は上記DIPの次に多く使用されている。Further, FIG. 6 shows an example of a plastic type flat package, and FIG. 7 shows an example of a ceramic type flat package. The flat package shown in FIGS. 6 and 7 is the second most commonly used package after the above-mentioned DIP.
勿論、これら以外にも、これと異なる形状のICパッケ
ージは種々存在するが、いずれもほぼ平担な上表面を有
している特徴はかわらないので、以後の説明はDIPに
限定する。ただし、後に説明するこの発明はDIP以外
のほとんど全てのICにも適用されることは言うまでも
ない。Of course, there are various other IC packages with shapes different from these, but since they all have the same feature of having a substantially flat upper surface, the following explanation will be limited to the DIP. However, it goes without saying that this invention, which will be explained later, is also applicable to almost all ICs other than DIPs.
DIP形ICは通常第8図に示すようなマガジンケース
に収納されて取り扱われる。マガジンケ−スの断面形状
や材質は種々存在しているが、多くはDIP形ICが一
つずつ長手方向に並んで、数10個が1本のマガジンケ
ースに収納すれるものが多い。DIP type ICs are usually handled while being housed in a magazine case as shown in FIG. There are various cross-sectional shapes and materials for magazine cases, but in most cases, DIP type ICs are lined up one by one in the longitudinal direction, and several dozen pieces are housed in one magazine case.
このようなマガジンケースに収納されたICt−選別、
検査を行うために、通常第9図に示すようなりIPIC
ハンドラーが使用されている。ICt-sorting stored in such a magazine case,
In order to perform the inspection, the IPIC is usually used as shown in Figure 9.
handler is used.
このDIPICハンドラーは、マガジンケースに入った
ICt−一定の順番に送り機構4で移動させ、順番に送
られてきたICを1個ずつ(または複数個ずつ)、IC
用の試験機(テスタ)に接続されるコネクタ5に接続し
てテストを行い、このテストが終力、良否判定されたI
Ctンータ6で種別ごとに分けるようにしている。なお
、図中の太線の矢印9は被測定ICの移動される順番を
示している。This DIPIC handler moves the ICs in a magazine case in a fixed order using a feeding mechanism 4, and transfers the ICs one by one (or a plurality of ICs at a time).
A test is performed by connecting to the connector 5 connected to a testing machine (tester) for
The Ct monitor 6 separates the information by type. Note that bold arrows 9 in the figure indicate the order in which the ICs to be measured are moved.
また、ICはその製造段階で、製造履歴などによりグル
ービングされ、通常数100〜数万個を単位としたロッ
ト編成がされている。Further, at the manufacturing stage, ICs are grouped according to their manufacturing history, and are usually organized into lots of several hundred to tens of thousands of pieces.
(発明が解決しようとする問題点)
DIPパッケージ化されたICはロット単位で、特性選
別や検査の工程を経て出荷されるが、これらの段階でロ
ット名や数量を記入した帖票類を必ず必要とするととも
に、ロットが混入しないような物流管理が必要とされ、
多くの人手が必要であった。(Problem to be solved by the invention) DIP-packaged ICs are shipped in lots after going through characteristics selection and inspection processes, but at these stages, it is necessary to provide a slip with the lot name and quantity written on it. At the same time, logistics management is required to prevent lot mix-ups.
It required a lot of manpower.
上述し几従来の管理方法ではロット毎の伝票やメモなど
の帖票類の必要と、物理的にロットが混じり合わない入
手管理が必要であり選別や検査の自動化を阻害していた
。As mentioned above, the conventional management method requires documents such as slips and memos for each lot, and requires acquisition management to prevent lots from physically mixing, which hinders the automation of sorting and inspection.
この発明は、前記従来技術がもっている問題点のうち、
帖票類の必要なこと選別や検査の自動化阻害要因のある
点について解決した集積回路の表示方法を提供するもの
である。This invention solves the problems of the above-mentioned prior art.
The present invention provides a method for displaying integrated circuits that solves some of the factors that obstruct automation of necessary sorting and inspection of forms.
(問題点を解決するための手段)
この発明は、集積回路の表示方法において、ICの上表
面にプリントまたはラベル貼付けなどの方法で「バーコ
ード」表示を付けてバーコード読取機で読み取るように
したものである。(Means for Solving the Problems) This invention is a method for displaying integrated circuits, in which a "barcode" display is attached to the top surface of the IC by printing or pasting a label, and the display is read by a barcode reader. This is what I did.
(作用)
この発明によれば、以上のように集積回路の表示方法を
行うようにしたので、バーコードをバーコード読取機で
検出してロットの区間を自動的に識別する。(Function) According to the present invention, since the method for displaying integrated circuits is performed as described above, the barcode is detected by a barcode reader to automatically identify the lot section.
(実施例)
以下、この発明の集積回路の表示方法の実施例について
図面に基づき説明する。第1図(a)はその一実施例に
適用されるプラスティック形DIPパッケージのICI
を示す斜視図であり、第1図(b)はセラミック形DI
PパッケージのICI 1の斜視図である@
この第1図(a)において、ICIの上表面2の一部ま
たは全部にパーフード3が付けられている。(Example) Hereinafter, an example of the integrated circuit display method of the present invention will be described based on the drawings. FIG. 1(a) shows the ICI of a plastic DIP package applied to one embodiment.
FIG. 1(b) is a perspective view showing a ceramic type DI.
FIG. 1 is a perspective view of an ICI 1 of a P package. In this FIG.
ま九、第1図(b)の場合も同様にして、ICIIの上
表面12の一部または全面にバーコード13が付けられ
ている。Similarly, in the case of FIG. 1(b), a bar code 13 is attached to a part or the entire surface of the upper surface 12 of the ICII.
これらのバーコード3または13の大きさ社実用上差し
つかえない程度に小さくしてあらかじめ印刷しであるI
Cの型名表示などを覆わないようにしてもよい。The size of these barcodes 3 or 13 is small enough for practical use and printed in advance.
The C type name display etc. may not be covered.
バーコード3または13の付は方は印刷でもラベル貼付
でも効果に変わりはない。The effect of barcode 3 or 13 is the same whether it is printed or affixed with a label.
また、第1図(a)、第1図(b)の例では、バーコー
ド3,13の向きはDIPの長手方向に沿って図示され
ているが、横向きでも同じ効果が得られる。Furthermore, in the examples of FIGS. 1(a) and 1(b), the orientation of the barcodes 3 and 13 is illustrated along the longitudinal direction of the DIP, but the same effect can be obtained even if the barcodes are oriented horizontally.
次にこの発明によるICのバーコード検出に用いるIC
ハンドラーについて説明する。第2°図はこの発明に適
用されるバーコード読取機付ICハンドラーのブロック
図であり、この第2図は第9図の構成に新たにバーコー
ド読取用センサ8とCPUインタフェイスに接続される
バーコード読取機7が付加されている。Next, the IC used for barcode detection of the IC according to the present invention
Explain handlers. FIG. 2 is a block diagram of an IC handler with a barcode reader applied to the present invention, and this FIG. A barcode reader 7 is added.
すなわち、この発明では、ICl’tたけllを、たと
えば、コネクタ5の直前にバーコード読取用センサ部8
t″セットしており、このバーコード読取根付ICハン
ドラーはバーコード読取用センサ8の下を通過するIC
Iまたは11のバーコード3または13の情報を読み取
るようにしている。That is, in this invention, for example, the barcode reading sensor section 8 is installed just before the connector 5.
t'' is set, and this barcode reading netsuke IC handler handles the IC passing under the barcode reading sensor 8.
I or 11 barcode 3 or 13 information is read.
なお、この第2図においても、太線の矢印9は第9図の
場合と同様、被測定ICの移動される順番を示している
。Note that in FIG. 2 as well, thick arrows 9 indicate the order in which the ICs to be measured are moved, as in the case of FIG. 9.
次に、第3図により、第2図のバーコード読取機付IC
ハンドラーにより、この発明に適用されるICIまたは
11t−ロット区分識別用(使用した例を説明する。Next, according to FIG. 3, the IC with barcode reader shown in FIG.
The handler is used for ICI or 11t-lot classification identification applied to this invention (an example will be described below).
この第3図において、20はバーコード読取機付ICハ
ンドラーに供給され送られる被測定ICの供給順番を示
している。IC21,31,41がこの発明に適用され
るバーコード付ICで、各ロットの先頭に1個または複
数個挿入されている。In FIG. 3, reference numeral 20 indicates the order in which the ICs to be measured are supplied to the IC handler with the barcode reader. IC21, 31, and 41 are barcoded ICs applied to the present invention, and one or more ICs are inserted at the beginning of each lot.
すなわち、N番ロットの先頭のI C21カバーコード
読取様用センサ8で検出され、次にバーコードの付かな
い通常IC22が複数個続いた後、その次のバーコード
付IC31が到来する直前迄のIC群がN番ロットであ
るというロット識別がこれにより可能である。That is, after the first IC21 of the Nth lot is detected by the sensor 8 for reading the cover code, and then a plurality of regular IC22s without barcodes follow, until just before the next IC31 with barcodes arrives. This makes it possible to identify the lot that the IC group is the Nth lot.
これらの識別や対処はバーコード読取機7の出力情報を
通常の電子計算機で処理することにより行なわれる。最
大の利点はロットとロットの境界50が特に物理的ある
いは時間的「間隔」を必要とせず、IC群の動きが一様
に連続していてよいことにあ)、複数ロットを連続して
処理する自動化された選別(検査)工程に対して特に有
効となる。バーコード情報の内容は、特に限定されたも
のでなく、「ロット塩のみ」あるいは「ロット塩、型名
、ロット母数など」を必要に応じて入れておけばよい。These identifications and countermeasures are performed by processing the output information of the barcode reader 7 with a normal electronic computer. The biggest advantage is that the boundaries 50 between lots do not require special physical or temporal "intervals" and the movement of the IC group can be uniform and continuous), making it possible to process multiple lots in succession. This is particularly effective for automated sorting (inspection) processes. The content of the barcode information is not particularly limited, and "lot salt only" or "lot salt, model name, lot parameter, etc." may be entered as necessary.
なお、以上の説明はICの製造側からの立場で説明した
が、ICの使用者が受入検査などの目的でこの発明と同
様に利用できることは容易に推察される。Although the above explanation has been made from the perspective of an IC manufacturer, it is easily inferred that the present invention can be used by IC users for purposes such as acceptance inspections in the same way as the present invention.
また、この発明に適用されるICの応用をロット識別用
を例にとって説明したが、バーコード情報を適当に準備
することにより、型名識別用、形状識別用、グレード識
別用などの応用も可能であることは言うまでもない。In addition, although the application of the IC applied to this invention has been explained using lot identification as an example, by appropriately preparing barcode information, it can also be applied for type name identification, shape identification, grade identification, etc. Needless to say, it is.
(発明の効果)
以上詳細に説明したように、この発明によれば、ICの
上表面にバーコードを付けたので、これを検出すること
により、ロットの区間を自動的に識別でき、これを用い
れば、連続処理の可能なICのための自動選別(検査)
ラインを構築することができる。(Effects of the Invention) As explained in detail above, according to the present invention, since a bar code is attached to the upper surface of an IC, by detecting the bar code, the section of a lot can be automatically identified. If used, automatic screening (inspection) for ICs that can be processed continuously
Lines can be built.
また、従来人手による管理をしていた作業が機械化され
ることにもなり、ロットに添付した帖票類が必ずしも必
要ではなくなり、また、連続処理による製造原価の低下
のみならず人手による誤りを防止して品質の優れたIC
製品を作り出すことにも効果がある。In addition, the work that was previously managed manually will be mechanized, and slips attached to lots will no longer be necessary, and continuous processing will not only reduce manufacturing costs but also prevent errors caused by humans. Excellent quality IC
It is also effective in creating products.
第1図(a)はこの発明の集積回路の表示方法の一実施
例に適用されるプラスティック型DIPパッケージのI
Cの斜視図、第1図(b)は同上集積回路の表示方法に
適用されるセラミック型DIPパッケージのICの斜視
図、第2図は第1図(a)および第1図(b)のICの
識別に適用されるバーコード読取機付ICハンドラーの
ブロック図、第3図は第1図(a)、第1図(b)に示
すICt−ロット区分識別用に使用した例を説明するた
めの図、第4図ないし第7図は従来のICの斜視図、第
8図は従来のDIP型ICを収納するマガジンケースを
示す斜視図、第9図は従来のICノーンドラ−のブロッ
ク図である。
1.11・・・IC,2,12・・・ICの上表面、3
゜13・・・バーコード、4・・・送フ機構、5・・・
コネクタ、6・・・ソータ、7・・・バーコード読取f
fl、8・・・バーコード読取用センナ。
第4図 第5図
第8図
手続補正書
昭和60年4月10日FIG. 1(a) shows the I of a plastic DIP package applied to an embodiment of the integrated circuit display method of the present invention.
FIG. 1(b) is a perspective view of an IC in a ceramic DIP package applied to the display method of the same integrated circuit, and FIG. 2 is a perspective view of FIG. 1(a) and FIG. 1(b). A block diagram of an IC handler with a barcode reader applied to IC identification, FIG. 3 explains an example of use for ICt-lot classification identification shown in FIGS. 1(a) and 1(b). Figures 4 to 7 are perspective views of conventional ICs, Figure 8 is a perspective view of a magazine case that houses a conventional DIP type IC, and Figure 9 is a block diagram of a conventional IC controller. It is. 1.11...IC, 2,12...Top surface of IC, 3
゜13... Barcode, 4... Feed mechanism, 5...
Connector, 6... Sorter, 7... Barcode reading f
fl, 8... Senna for barcode reading. Figure 4 Figure 5 Figure 8 Procedural amendment April 10, 1985
Claims (3)
ル貼付けなどによりバーコードを付けて表示することを
特徴とする集積回路の表示方法。(1) A method for displaying an integrated circuit, characterized by attaching and displaying a bar code by printing or pasting a label on the upper surface of an integrated circuit package.
個または複数個用いることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の集積回路の表示方法。(2) Place one integrated circuit with a barcode at the beginning of the lot.
2. The method for displaying an integrated circuit according to claim 1, wherein one or more of the integrated circuits are used.
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の集積回路
の表示方法。(3) The method for displaying an integrated circuit according to claim 1, wherein the information on the barcode is read by a barcode reader.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59238562A JPS61117853A (en) | 1984-11-14 | 1984-11-14 | Ic indicating method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59238562A JPS61117853A (en) | 1984-11-14 | 1984-11-14 | Ic indicating method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61117853A true JPS61117853A (en) | 1986-06-05 |
Family
ID=17032074
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59238562A Pending JPS61117853A (en) | 1984-11-14 | 1984-11-14 | Ic indicating method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61117853A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004055894A1 (en) * | 2002-12-17 | 2004-07-01 | Infineon Technologies Ag | Integrated semiconductor module comprising an identification region |
-
1984
- 1984-11-14 JP JP59238562A patent/JPS61117853A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004055894A1 (en) * | 2002-12-17 | 2004-07-01 | Infineon Technologies Ag | Integrated semiconductor module comprising an identification region |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5968705B2 (en) | Manufacturing method of semiconductor device | |
US6021380A (en) | Automatic semiconductor wafer sorter/prober with extended optical inspection | |
CN102640253B (en) | Discrete component backward traceability and semiconductor device forward traceability | |
US20070254277A1 (en) | Automated systems for handling specimens for laboratory diagnostics and associating relevant information | |
JPH05288754A (en) | Automatic sampling/distributing method and system of specimen and display method of specimen | |
JPH09229999A (en) | Test handler for semiconductor device | |
JPH10199777A (en) | System, method, and device for storing information during semiconductor manufacture process period | |
WO1998001745A9 (en) | Automatic semiconductor wafer sorter/prober with extended optical inspection | |
EP2141500A3 (en) | Method for automatic testing of anatomical laboratory specimens | |
CA2588816A1 (en) | Verification system | |
US7080737B2 (en) | Method and system for automatically sorting and packing products | |
KR100348102B1 (en) | Method For Detecting Defective Marking On Semiconductor Products By Using Optical Character Recognition Technique | |
JPS61117853A (en) | Ic indicating method | |
JPH0648417Y2 (en) | Reinspection system | |
JPH0341365A (en) | Apparatus for distributing blood container | |
US20050225078A1 (en) | Method for identification and registration of received items before storage in a factory stock | |
JP2012073138A (en) | Specimen pretreatment device and method | |
US10504801B2 (en) | Method and apparatus for detecting and removing defective integrated circuit packages | |
US4641250A (en) | Inspection workstation data entry method | |
US20220164936A1 (en) | Manufacturing management method | |
JPH09229836A (en) | Material tester | |
JP2656398B2 (en) | IC mounting tray and handler device | |
CN115936325A (en) | Production system and device for same | |
JP2002181886A (en) | Component handler, measuring system for ic, and classification method for ic | |
JPH0552958U (en) | Inspection equipment |