JPS61115541A - Vacuum x-ray ct apparatus - Google Patents

Vacuum x-ray ct apparatus

Info

Publication number
JPS61115541A
JPS61115541A JP59237488A JP23748884A JPS61115541A JP S61115541 A JPS61115541 A JP S61115541A JP 59237488 A JP59237488 A JP 59237488A JP 23748884 A JP23748884 A JP 23748884A JP S61115541 A JPS61115541 A JP S61115541A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
anode
inspected
cathode
vacuum
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59237488A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
明彦 西出
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP59237488A priority Critical patent/JPS61115541A/en
Publication of JPS61115541A publication Critical patent/JPS61115541A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、被検査物の断面のX線断層渾(以下断層法と
呼ぶ)を求める真空X線CT’装置(二関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a vacuum X-ray CT' apparatus (hereinafter referred to as a tomographic method) that obtains an X-ray tomography (hereinafter referred to as a tomography) of a cross section of an object to be inspected.

〔発明の技術的背景とその問題点〕[Technical background of the invention and its problems]

従来、この種X線CT装置(二おいては、X線源として
、X線発生用の陽極および陰極が真空容器内に封入され
ているX線管を用いていたため、被検食物をX線の発生
点イ;近づけたい場合、陽極のX線発生点と真空容器外
壁との最短距離が、接近できる限度でそれ以上近づける
ことができないため、X線検出器で被検査物を透過した
X線透過データを得るとき、成る分解能以上でデータを
得られず、X線発生点と被検査物とを至近距離まで近づ
けられるよう(=することが必要とされていた。
Conventionally, this type of X-ray CT apparatus (2) used an X-ray tube in which the anode and cathode for generating X-rays were sealed in a vacuum container as an X-ray source, so generation point a: If you want to get close to the X-ray generation point of the anode, the shortest distance between the X-ray generation point of the anode and the outer wall of the vacuum container is the limit that you can approach, and you cannot get any closer. When obtaining transmission data, it has been necessary to bring the X-ray generation point and the object to be inspected close to each other because it is impossible to obtain data with a resolution higher than that of the X-ray generator.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明をよ、被検査vlJti X線発生点にいぐうで
も近づけられるようにして分解能を十分高くすることが
mlI]eな真窒X線CT装置を提供することを目的と
する。
It is an object of the present invention to provide a pure nitrogen X-ray CT apparatus that can be brought as close as possible to the X-ray generating point to be inspected and has a sufficiently high resolution.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明は、X線を発生させるための電子ビームを出力す
るX線発生用陰極およびこの陰極より出力された゛磁子
ビームを受けX線を発生するX線発生用陽極をMし、こ
の陽極の近傍に装置される被検査物に対してX線を照射
するX線発生手段と、このX線発生手段に前記被検査物
を介して対向配置され前記被検査物を透過したX線を前
記X線発生用陽極のX線発生点を含む所定厚の平面状ビ
ームにコリメートして検出するX線検出手段と、前記平
面状ビームとの平行面f二沿って前記X線発生手段およ
び前記X線検出手段と前記被検査物とを相対的(二回転
させる小動手段と、前記X線検出手段から得られたX線
透過データを処理して前記被7   検査物の断層像を
得るX線画像処理手段とを具備してなり、少なくとも前
記X線発生用陽極訃よび陰極と被検査物とが一つの真空
密閉領域内(二収納されたことを特徴とする真空X線C
T装置を実現して所期の目的を達成した。
The present invention comprises an X-ray generation cathode that outputs an electron beam for generating X-rays, and an X-ray generation anode that receives the magneton beam output from this cathode and generates X-rays. An X-ray generating means for irradiating X-rays onto an object to be inspected, which is installed nearby; an X-ray detection means for collimating and detecting a planar beam of a predetermined thickness including the X-ray generation point of the ray-generating anode; a small moving means for rotating the detection means and the object to be inspected relative to each other (twice); and an X-ray image for processing the X-ray transmission data obtained from the X-ray detection means to obtain a tomographic image of the object to be inspected. A vacuum X-ray C processing means, characterized in that at least the X-ray generating anode and cathode and the object to be inspected are housed in one vacuum-sealed area.
The T device was realized and the intended purpose was achieved.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

本発明一実施例の真空X線CT装置を第1図(a)。FIG. 1(a) shows a vacuum X-ray CT apparatus according to an embodiment of the present invention.

(b) 、’ (c)に示す。図中、!1)はX線を発
生させるための電子ビームを出力するX線発生用陰極(
以下陽極と呼ぶ)で、タングステン線コイルからなる熱
電極である。(2)は陰極(1)から出力された電子ビ
ームを受けX線を発生するX線発生用陽極(以下陽極と
呼ぶ)で、クローム、銅、タングステン等からなる。陽
極(2)は円柱状で、一端の鍔(2a)で本体ケースG
υの取付座01:本体ケースの内側からバッキング(至
)を介して当接され気密に取り付けられている。(2b
)は電子ビームを通す穴であり、(2C)は発生したX
線の出口となる拡がり角を有する出射穴である。また、
陽極(2)の柱状部の外面は、出射   6穴(2c)
を除いて鉛でできた遮蔽体(3)で覆われている。一方
、陰極(1)は、陽極(2)に一端を気密且つ同心的に
固着されたセラミック製の筒体(4)の他端の密閉蓋(
5)(二取着されている。そして、陰極(1)と陽極(
2)は、電子ビームを加速する高電圧を発生する高圧発
生装置(6)および陰極(1)を加熱するための陰極用
電源(7)に接続されている。上記の陰極(1)、陽極
(2)、高圧発生装置(6)、陰極用電源(7)等はX
線発生手段囚を構成している。
(b), ' Shown in (c). In the diagram! 1) is an X-ray generation cathode (
The anode (hereinafter referred to as anode) is a thermal electrode made of a tungsten wire coil. (2) is an X-ray generating anode (hereinafter referred to as an anode) that receives the electron beam output from the cathode (1) and generates X-rays, and is made of chromium, copper, tungsten, or the like. The anode (2) is cylindrical, and the collar (2a) at one end connects the main body case G.
υ mounting seat 01: Abuts from the inside of the main body case via a backing (toward) and is airtightly mounted. (2b
) is the hole through which the electron beam passes, and (2C) is the generated X
It is an exit hole with a divergent angle that serves as the exit of the wire. Also,
The outer surface of the columnar part of the anode (2) has 6 holes (2c) for emitting light.
All but one part are covered with a shield (3) made of lead. On the other hand, the cathode (1) is a ceramic cylinder (4) whose one end is hermetically and concentrically fixed to the anode (2).
5) (Two are attached. Then, the cathode (1) and the anode (
2) is connected to a high voltage generator (6) that generates a high voltage for accelerating the electron beam and a cathode power source (7) for heating the cathode (1). The above cathode (1), anode (2), high voltage generator (6), cathode power source (7), etc.
The line generating means constitutes the prisoner.

αυは非金属製のキャップで、基部に形成されたフラン
ジ(lla)を本体ケース0υのフランジ(ロ)にバッ
キング田を介し当接して接合され、本体ケースc31)
のフランジc34)の複数個所に設けられたワンタッチ
式締具C局により緊締されて気密シールされる。
αυ is a non-metallic cap, and the flange (lla) formed at the base is joined to the flange (b) of the main body case 0υ via the backing field, and the main body case c31)
The flange c34) is tightened and airtightly sealed by one-touch fasteners C provided at multiple locations.

キャップ圓の陽極(2)の出射穴(2c)l二対向する
部位6;はベリリウムでできた照射窓(l邊が設けられ
ている。さらに、第1図(b)に示すように、キャップ
住υの内部に陽極(2)からのX線の出射経路の下方に
位置して試料台αりが設けられている。試料台u3は、
被検査物(S)を載置する試料載置板仕優、試料載置板
支持軸a1に設けられた上下微動機構−,試料載置板支
狩@α9を軸受で支承している軸受台俣η、軸受台面を
X線の出射中心線の方向へ微動させる前後微動機構を具
えたベース(IIを具備した構造である。
The emission hole (2c) of the anode (2) of the cap circle is provided with an irradiation window (l side) made of beryllium. A sample stand is provided inside the housing, located below the exit path of the X-rays from the anode (2).The sample stand u3 is
A sample mounting plate on which the object to be inspected (S) is placed, a vertical fine movement mechanism provided on the sample mounting plate support shaft a1, and a bearing stand supporting the sample mounting plate support@α9 with bearings. The structure is equipped with a base (II) equipped with a forward and backward fine movement mechanism that slightly moves the bearing surface in the direction of the X-ray emission center line.

試料載置板支持軸(l!9の図示下端にはキャップの壁
・面に近接して円板状の磁石(IIが固定され工いる。
A disc-shaped magnet (II) is fixed to the lower end of the sample mounting plate support shaft (I!9 in the drawing) in close proximity to the wall/surface of the cap.

また、キャップαl)Cはキャップ内を真空に排気する
ためのコック付き排気管(図示せず)が設けられている
Further, the cap αl)C is provided with an exhaust pipe (not shown) with a cock for evacuating the inside of the cap.

さらに、キャップUυの頂部(二は、複数の放熱フィン
123を有する放熱体(2vが設けられている。放熱体
T2Dの基部(ハ)は、キャップαυの壁を気密シール
されて貫通し、キャップIの内側に^呈している。
Furthermore, the top part (2) of the cap Uυ is provided with a heat radiator (2v) having a plurality of heat radiating fins 123. It appears inside I.

したがって、放熱体Qυの基部−の端面は、キャップ住
υが取着されたときに陽極(2)を覆っている鉛製の遮
蔽体(3)に当接し、放熱体uDが陽極(2)から遮蔽
体(3)を介して伝導された熱を運び、放熱フィン@を
介して外部へ放散する。なお、陽極(2)の冷却手段は
、上述した放熱体しυによる空冷方式に限らず、キャッ
プ(11)を気密(二貝逃させて陽極(2)の遮蔽体(
3)に接触配置させた冷却用循環パイプを設け、このパ
イプ中(;冷却水などの冷却用流体を流して陽極(2)
を冷却するようにしてもよい。
Therefore, the end face of the base of the heat sink Qυ comes into contact with the lead shield (3) covering the anode (2) when the cap housing is attached, and the heat spreader uD contacts the anode (2). The heat conducted from the inside through the shield (3) is carried and radiated to the outside through the heat dissipation fins. Note that the means for cooling the anode (2) is not limited to the above-mentioned air cooling method using the heat sink υ;
A cooling circulation pipe is provided that is placed in contact with the anode (2), and a cooling fluid such as cooling water is passed through the pipe (;
may be cooled.

陰極(1)を収納した筒体(4)、高圧発生装置(6)
、陰極用電源(7)を収容している本体ケース01)は
、第1図(b)に示すように、その下部に一体に設けら
れた全体支持台c37)によって支持されている。そし
て、回転軸の先端に固着された円板状の磁石(至)をキ
ャップ(11)内の試料台α冴の磁石a9+二対向させ
たパルスモータ(至)が、試料台−のペースQlの前後
微動機構と微動方向が同じ前後微動機構を具えたペース
(40を介して全体支持台t3?)に設置されている。
Cylindrical body (4) containing cathode (1), high pressure generator (6)
As shown in FIG. 1(b), the main body case 01) housing the cathode power source (7) is supported by a whole support stand c37) provided integrally at its lower part. Then, a pulse motor (to), which has a disc-shaped magnet (to) fixed to the tip of the rotating shaft and two magnets (a9+) of the sample stage α in the cap (11), controls the pace Ql of the sample stage. It is installed on a pace (overall support stand t3? via 40) equipped with a longitudinal fine movement mechanism having the same fine movement direction as the longitudinal fine movement mechanism.

磁石四と磁石(2)とは磁気カプリングを構成し、パル
スモータ(至)のステップ回転が試料台0の試料載置板
支持軸aI−伝達される。試料台α3およびパルスモー
タ(至)等は駆動手段中)を構成している。本体ケース
Oυの図示右端は蓋(31a)で気密に封止され、内部
空間には絶縁性ガスIF、が封入される。
Magnet 4 and magnet (2) constitute a magnetic coupling, and the step rotation of the pulse motor (to) is transmitted to the sample mounting plate support axis aI of sample stage 0. The sample stage α3 and the pulse motor constitute a driving means. The right end of the main body case Oυ in the drawing is hermetically sealed with a lid (31a), and the internal space is filled with an insulating gas IF.

14υは陽極(2)からのX線ビームに正対し陽極から
、  所定距離離隔して配置されたX線検出器で、図示
していない架台に載置固定されている。X線検出器14
Dは、複数個の単体検出器@りが陽極(2)のX線発生
点から等距離にあるように配列された円弧状の検出器列
に構成されており、発射されたX線ビームのうち少なく
とも被検査物(8)を透過したX線が残らず入射される
角度範囲にわたる円弧長を有する。03はコリメータで
、X線検出器(4D前側(=図示していない支持部材(
二よって位置決め配置され、陽極(2)から出射された
X線ビームをビーム面が水平な薄い扇形ビーム(ニコリ
メートしてX線検出器(40に入射させる。X線検出器
(41Jは、例えば電離箱かうなる単体検出器1Bで構
成され、試料台G3上に載置された被検査物(8)を透
過したX線ビームのコリメートされた薄い扇形ビーム(
これは第1図(b)(二示すように被検査物■)が設置
されている場合(二は、被検査物@)の中心を通る水平
なスライス面を透過して来たX線ビームに相当する)が
各単体検出器αに振り分けられて入力される。各単体検
出器G11l二人射されるX線は、被検査物(8)を透
過する際の透過経路の長さが異なるので、被検査物によ
   ウる吸収の度合いが異なり、したがってX線強度
が異なる。各単体検出器(43では、入射X線によって
電離される電子を電極(;集め、それぞれ入射X線強度
に比例した電流を出力する。X線検出器(41)>よび
コリメータ(43はX線検出手段(C)を構成している
14υ is an X-ray detector placed directly facing the X-ray beam from the anode (2) and spaced a predetermined distance from the anode, and is mounted and fixed on a pedestal (not shown). X-ray detector 14
D is composed of an arc-shaped detector row in which a plurality of single detectors are arranged at the same distance from the X-ray generation point of the anode (2), and the emitted X-ray beam is It has an arc length that spans an angular range in which at least all of the X-rays that have passed through the object to be inspected (8) are incident. 03 is a collimator, and the X-ray detector (4D front side (= support member not shown)
2, the X-ray beam emitted from the anode (2) is made into a thin fan-shaped beam (nicolimate) with a horizontal beam surface and incident on the X-ray detector (40). It consists of a single detector 1B shaped like a box, and a thin fan beam (
This is when the X-ray beam passes through the horizontal slice plane passing through the center of the object (2 is the object to be inspected @) when the object to be inspected is set up as shown in Figure 1 (b) (2 is the object to be inspected @). ) are distributed and input to each single detector α. The X-rays emitted from each single detector G11l have different lengths of transmission paths when passing through the object to be inspected (8), so the degree of absorption by the object to be inspected is different, and therefore the X-rays Different strengths. Each individual detector (43 collects electrons ionized by incident X-rays through an electrode (;) and outputs a current proportional to the intensity of the incident X-rays. It constitutes the detection means (C).

X線検出手段から得られたX線透過データを処理して被
検査物の断層像を得るX線画障処理手段Φ)および上述
したX線発生手段(4)、駆動手段の)。
An X-ray image defect processing means (Φ) for processing the X-ray transmission data obtained from the X-ray detection means to obtain a tomographic image of the object to be inspected, and the above-mentioned X-ray generation means (4) and driving means).

X線検出手段幹)を含む装置全体を制御する計算機(6
)とは、第1図(c)l二示すように構成されている。
A computer (6
) is constructed as shown in FIG. 1(c)l2.

第1図(C)(二示すように、X線画像処理手段0)は
、データ収集装置(51) 、画像前処理装置(52)
 、画像再構成装置(5,() 、断層像表示装置(5
4)から構成され℃いる。データ収集装置(51)は、
X線検出手段(QのX線検出器(4I)によって得られ
たデータを収集する。画像前処理装置(52)は、デー
タ収集装置(51)で収集されたデータを各チャネルの
単体検出器の感度補正、データの対数変換、バイアス補
正の各データ前処理を行なう。画像再構成装置(58)
は、前処理されたデータをX線断層渾として画像再構成
を行なう。断層像表示装置(54)は、画像再構成装置
(58)からの画像データに基づく断層像の表示を行な
う 計算機@)は、X線発生手段(1)、駆動手段(B)、
X線検出手段(Q、データ収集装置(51)、画像前処
理装置(52) 、画像再構成装置(58) 、断層像
表示装置(54)の各部を制御する計算機である。
FIG. 1(C) (as shown in 2, X-ray image processing means 0) includes a data acquisition device (51), an image preprocessing device (52)
, image reconstruction device (5, () , tomographic image display device (5)
4) It is composed of ℃. The data collection device (51) is
An image preprocessing device (52) collects data obtained by the X-ray detector (4I) of the X-ray detection means (Q). Performs data preprocessing such as sensitivity correction, data logarithmic transformation, and bias correction.Image reconstruction device (58)
performs image reconstruction using the preprocessed data as an X-ray tomographic conduit. The tomographic image display device (54) is a computer that displays a tomographic image based on image data from the image reconstruction device (58), and includes an X-ray generating means (1), a driving means (B),
This is a computer that controls each part of the X-ray detection means (Q), data acquisition device (51), image preprocessing device (52), image reconstruction device (58), and tomographic image display device (54).

次に、上記のように構成された本発明一実施例の真空X
線CT装置の作用を説明する。
Next, the vacuum X of one embodiment of the present invention configured as described above will be explained.
The operation of the X-ray CT device will be explained.

先ず、キャップ(11)を本体ケースGυから外し、被
検査物(8)を試料載置板α4C:固定し、上下微動機
構傾により被検査物(+9)のスライス面を決める。次
(二、ベースα樽の前後微動機構(二より軸受台αηを
移動させて被検査物(S)とX線発生点との距離をベー
ス台(11の目盛により設定する。同時に本体ケース0
1)の全体支持台0?)のペース(4Gの前後微動機構
も目盛合せをしてパルスモータ(至)の回転軸を試料台
(1階の軸に合わせる。次Cニキャップ(Ll)を本体
ケース0痕二取り付け、ワンタッチ式締具(至)により
緊締する。その後、コック付排気管梼を通して真空ポン
プにより排気し、キャップ(11)内および筒体(4)
内の密閉空間を所定の真空度にする。
First, the cap (11) is removed from the main body case Gυ, the object to be inspected (8) is fixed to the sample mounting plate α4C, and the slice plane of the object to be inspected (+9) is determined by tilting the vertical fine movement mechanism. Next (2. Move the bearing stand αη from the base α barrel back and forth fine movement mechanism (2) to set the distance between the inspection object (S) and the X-ray generation point using the base stand (11 scales. At the same time, the main body case 0
1) Overall support base 0? ) pace (Align the scale of the 4G longitudinal fine movement mechanism and align the rotation axis of the pulse motor (to) with the axis of the sample stage (1st floor).Next, attach the C cap (Ll) to the main body case, one-touch type. Tighten with the tightening tool (to). Then, exhaust the air with a vacuum pump through the exhaust pipe holder with a cock, and the inside of the cap (11) and the cylinder body (4) are evacuated.
Bring the sealed space inside to the specified degree of vacuum.

この装置(二おいては、試料台(13上の被検査物(S
)を36o°回転させて全周からX線ビームで表光する
This device (in the second case, the object to be inspected (S) on the sample stage (13)
) is rotated 36° and illuminated with an X-ray beam from all around.

そして、36o°回転中に、300点とか500点のサ
ンプリング点においてX線透過データを採取する。
Then, during the 36° rotation, X-ray transmission data is collected at 300 or 500 sampling points.

すなわち、駆動手段の)のパルスモータ(至)を計算機
転を行なわせる。
That is, the pulse motor (of the driving means) is caused to perform a computational operation.

X線発生手段(1)によるX線ビームの発射およびデー
タ収集装置(51)(=よるデータの収集は、前記サン
プリング点ごとにパルス状にX線を発射し、これに同期
させてX線検出器(旬によって得られた透過データをデ
ータ収集装置(51)で収集するか、あるいはX線は3
6o°回転中連続的に発射させておき、各サンプル点ご
とCX線検出器0υ(;よって得られた透過データをデ
ータ収集装置(51)で収集するかのいずれかの方式(
二計算機[有])によって制御される。
Emission of an X-ray beam by the X-ray generation means (1) and data collection by the data collection device (51) are carried out by emitting X-rays in a pulsed manner at each sampling point, and detecting the X-rays in synchronization with this. Collect the transmission data obtained by the instrument (Shun) with the data acquisition device (51), or use the X-ray
One of the methods is to emit the beam continuously during the 6o° rotation and collect the transmission data with the data acquisition device (51) at each sample point using the CX-ray detector (0υ).
It is controlled by two computers.

データ収集装置(5X)を二よってサンプリング点の都
度、X線検出器(41)の各単体検出器(4′1!Jご
と(二収集されたX線透過データは、86o°の照射期
間(二わたって積分され、次にADfi換されて計算機
の)(;送られる。このディジタル化されたデータは、
いったん計算機@)の記憶装置(;格納され、つづいて
画像前処理装置(52)−二よって単体検出器の感度補
正、データの対数変換、バイアス補正の各補正を施され
る。
The data acquisition device (5 It is integrated over two times, then converted into ADfi and sent to the computer. This digitized data
Once stored in the storage device of the computer, the image preprocessor (52) then performs sensitivity correction of the single detector, logarithmic transformation of the data, and bias correction.

画像前処理装置(52) (二よって前処理されたデー
タは、被検査物(8)のスライス面のX線吸収係数のX
線透過経路にわたる積分値に比例する量となっており、
画像再構成装置(58)において、公知の画1家再構成
手法(例えば、08P第4149247) !−よって
画像再構成され、被検査物@)のスライス面の各部分の
X線吸収係数に比例するデータが得られ、このデータC
:基づいてスライス面を濃淡差あるいは色の差による断
層像で表わす画像信号が断層像表示装置(54) (二
送られ、被検査物e)の断層像が表示される。
Image preprocessing device (52) (2) The data preprocessed by the image preprocessing device (52) is
It is a quantity proportional to the integral value over the line transmission path,
In the image reconstruction device (58), a known painter reconstruction method (for example, 08P No. 4149247) is used! -Thus, the image is reconstructed, and data proportional to the X-ray absorption coefficient of each part of the slice plane of the inspected object @) is obtained, and this data C
: Based on this, an image signal representing the slice plane as a tomographic image based on gradation differences or color differences is sent to a tomographic image display device (54) (2), and a tomographic image of the object to be inspected e is displayed.

1スライス面の測定が終ったら、キャップ(Iυ内を大
気圧に戻し、ヤヤップ(11)を外して試料台(13の
上下微動機構αQ(二より被検査物(19)を上下させ
て次のスライス面を設定する。それ以降は、キャップα
υを本体ケースGl)l二双り付け、キャップ内を真空
引きするだけで次の測定動作(二人ることができる。
After measuring one slice surface, return the inside of the cap (Iυ to atmospheric pressure), remove the Yayapp (11), and move the specimen (19) up and down from the vertical fine movement mechanism αQ (2) of the sample stage (13). Set the slice plane.After that, cap α
The next measurement operation (two people can do it) simply attaches the υ to the main body case Gl) and evacuates the inside of the cap.

この実施例の真空X線CT装置においては、試料台0を
キャップ(1υ内に設けて被検査物(S)、陽極(2)
および陰極(1)を一つの真空密閉領域内(二収納した
ことにより、被検査物(S)を陽極(2)のX線発生点
のすぐ近くまで近づけることができ、分解能を十分高め
ることができる。その理由を図により補足説明すれば、
第2図(=示すように、X線検出器(41)の単体検出
器u21の幅がΔdで、X線発生点(0)からの距離が
1、X線発生点り)から被検査物(8)までの距離がr
のとき、被検査物上で検出できる分解能は−・△dとな
り、rを小さくすること(二より分解14巳を稼げるこ
とが明らかである。また、試料台(131およびパルス
モータ(至)のベース0Iにそれぞれ前後微動機構を設
けたので、被検査物@)とX線発生点との距離の設定が
容易且つ正確にできる。また、被検査物(S)のスライ
ス面の設定も、試料台011二上下微動機構(tlを設
けたこと(二より、容易且つ正確に行なりことができる
。被検査物(S)をキャンプQl)内の真空領域に収納
したく二も拘わらず、キャップα珍はワンタッチ式締具
(至)で緊締される構造(二したので簡単に着脱できる
ため、被検査物但)の交換および上述の位置設定も容易
に行なうことができる。
In the vacuum X-ray CT apparatus of this embodiment, the sample stage 0 is provided within the cap (1υ), and the object to be inspected (S) and the anode (2) are
By housing the cathode (1) and the cathode (1) in one vacuum-sealed area, the object to be inspected (S) can be brought very close to the X-ray generation point of the anode (2), and the resolution can be sufficiently increased. Yes, if you explain the reason with a diagram,
Figure 2 (=As shown, the width of the single detector u21 of the X-ray detector (41) is Δd, the distance from the X-ray generation point (0) is 1, and the distance from the X-ray generation point) to the object to be inspected The distance to (8) is r
When , the resolution that can be detected on the object to be inspected is -・△d, and it is clear that by reducing r (resolution 14 mm can be obtained from 2). Since the base 0I is equipped with a forward and backward fine movement mechanism, it is possible to easily and accurately set the distance between the object to be inspected (@) and the X-ray generation point.In addition, the slice plane of the object to be inspected (S) can be set easily and accurately. The provision of a vertical fine movement mechanism (tl) on the stand 011 (tl) makes it easier and more accurate to carry out the test. α-Chin has a structure in which it is tightened with a one-touch fastener (because it can be easily attached and detached, so it is easy to replace the object to be inspected) and to easily set the position as described above.

また、陽極(2)の鍔(2a邊;本体ケース0υの取付
座a2に本体ケースの内側からバッキング(至)を介し
て当接されて気密を保つ構造シニなっているため、キャ
ップ住り内を真空(ニジたとき、鍔(2a)が取付座(
33i=、本体ケース0υ内の絶縁性ガスとの圧力差に
よって押しつけられる締り勝手になるので、シール機能
が高い。そして、絶縁性ガスの温度上昇により圧力が上
っても締り勝手のため問題ない。
In addition, the flange (2a side) of the anode (2) is in contact with the mounting seat a2 of the main body case 0υ from the inside of the main body case via the backing (toward) to maintain airtightness, so the cap is When the vacuum is applied, the flange (2a) is attached to the mounting seat (
33i=The sealing function is high because it is tightened by the pressure difference with the insulating gas inside the main case 0υ. Even if the pressure increases due to a rise in the temperature of the insulating gas, there is no problem because it is easy to tighten.

なお、上述した実施例では、高圧発生装置(6)および
陰極用電源(7)を本体ケースG1)内に収納するよう
(=シたが、高圧発生装置(6)および陰極用電源(7
)を外部(二装置し、ケーブルにより陰極(1)および
陽極(2)と接続するよう(ニしてもよい。
In the above embodiment, the high voltage generator (6) and the cathode power source (7) are housed in the main body case G1), but the high voltage generator (6) and the cathode power source (7)
) may be connected externally to the cathode (1) and anode (2) by cables.

また、第3図(二示すよう(二、コリメータ(43をキ
ャップ(11)の照射窓α2の外側に取り付けるように
してもよい。
Further, as shown in FIG. 3 (2), the collimator (43) may be attached to the outside of the irradiation window α2 of the cap (11).

また、分解能を余り厳しく要求されない場合には、第4
図(二示すように、コリメータ(43をキャップ(11
)の照射窓@の外側(二取り付けた上、このコリメータ
(43の外側−X線検出器Iを取り付けるようにしても
よい。この場合、X線ビームとコリメータ(43および
X線検出器(41)との幾何学的位置合せの面倒な作業
が解消される。
In addition, if the resolution is not so strictly required, the fourth
As shown in Figure 2, the collimator (43) is capped (11
In addition to the outside of the irradiation window @ (2) of the collimator (43), the X-ray detector I may also be installed. ) is eliminated.

また、第1図(a) 、 (b) 、 (C)の実施例
では試料台−をキャップaυに取り付けるようにしたが
、第5図(a) 、 (b)に示すよう(;、陽極(2
)の下部−二り字状の支持腕(61)を設け、試料載置
板支持軸(l篩を支持腕(61)の先端部に設けた磁気
軸受(62)で支承するよう(ニすることもできる。磁
気軸受(62)は、第6図(b)(二示すように、支持
1!lit (61)の軸受穴(68)の上部および下
部にそれぞれ鍔付円筒状の磁石(64)を固着し、試料
載置板支持軸(I!9Cは、軸受穴(68)を貫通して
いる部分の上下にそれぞれ設けた鍔(65)に、鍔付円
筒状の磁石(66)をそれぞれ固着して、支持腕(61
)側の磁石(64)とそれぞれ対向するよ゛うに配置す
る。そして、磁石(64)と磁石(66)とを同極同志
対向させるようCニして非接触の磁気軸受(62)を構
成する。非接触な磁気軸受(62) l二よって陽極(
2)からの熱が試料台(13に伝わるのを防止している
In addition, in the embodiments shown in Figures 1(a), (b), and (C), the sample stage was attached to the cap aυ, but as shown in Figures 5(a) and (b), (2
) - A double-shaped support arm (61) is provided, and the sample mounting plate support shaft (l) is supported by a magnetic bearing (62) provided at the tip of the support arm (61). The magnetic bearing (62) has flanged cylindrical magnets (64) at the upper and lower parts of the bearing hole (68) of the support 1!lit (61), respectively, as shown in FIG. 6(b) (2). ), and attach a flanged cylindrical magnet (66) to the flanges (65) provided above and below the part that penetrates the bearing hole (68) (for I!9C). Each is fixed to the support arm (61
) side magnets (64), respectively. A non-contact magnetic bearing (62) is constructed by arranging the magnet (64) and the magnet (66) to face each other with the same polarity. Non-contact magnetic bearing (62) The anode (
2) is prevented from being transmitted to the sample stage (13).

図示していないが、支持腕(61)の水平部分(二前微
動機構が組込まれている。
Although not shown, the horizontal portion of the support arm (61) (a two-front fine movement mechanism is incorporated therein).

次(二、本発明による真空X線CT装置の別の実施例を
第6図を参照して説明する。図中、(1)は陰極、(2
)は゛陽極で、真空容器(101)のペルジャ一台(1
02) を二所定の位置関係をとって配置されている。
Next (2) Another embodiment of the vacuum X-ray CT apparatus according to the present invention will be explained with reference to FIG. 6. In the figure, (1) is a cathode, (2
) is the anode, and one Pelger (1) in the vacuum container (101)
02) are arranged in a predetermined positional relationship.

陰極(1)および陽極(2)は外部(二装置されている
高圧発生装置t (6)および陰極用電源(7)(いず
れも図示せず)にペルジャ一台(102)を気密に介し
たケーブル(;よって接続されている。
The cathode (1) and anode (2) are connected to the outside (two high-pressure generators (6) and a cathode power source (7) (both not shown) through a Pelger unit (102) airtightly connected to the outside. cable (; therefore, it is connected.

真空容器(101)は、ペルジャ一台(102)とペル
ジャー(108)とからなり、両者の当接面(二装置さ
れたバッキング(104)によって気密(ニシールされ
る。
The vacuum container (101) is made up of a Pelger (102) and a Pelger (108), and is airtight (sealed) by a backing (104) that has two contact surfaces.

<ヤッヤー(108) )よ、ッ。ッヶア8す、ヤッヤ
ー   (゛持ち上げ機構(106)により上下方向1
二移動可能となっている。
<Yayyah (108)). 8, yay ('lifting mechanism (106) allows vertical direction 1
Two are movable.

ペルジャ一台(102)に配置されている陽極(2)か
ら出射されるX線ビームの中心線上C:試料載置板の回
転中心があるような位置関係をとって試料台(106)
が配置されている。試料台(106)は、試料載置板(
107)を回転させるパルスモータ(108)と共通の
ペース(109)に取り付けられており、ペース(10
9)は、ペルジャ一台(102) (二対してペース(
109)全体をX線ビームの出射方向に前後移動できる
前後微動機構(図示せず)を具えている。また、試料台
(106)は、試料載置板(107)を上下方向(二所
要長さ移動させることができる上下微動機構(図示せず
)を具えている。パルスモータ(108)はケーブル(
二よって図示してない計算機の)に接続されており、計
算M (E)によって回転を制御される。
On the center line of the X-ray beam emitted from the anode (2) placed on one Pelger (102): C: Place the sample stand (106) in such a position that the rotation center of the sample mounting plate is located.
is located. The sample stage (106) has a sample mounting plate (
It is attached to the pace (109) common to the pulse motor (108) that rotates the pace (107).
9) is one Perja (102) (2 vs. Pace (
109) It is equipped with a longitudinal fine movement mechanism (not shown) that can move the entire body back and forth in the direction of emission of the X-ray beam. In addition, the sample stage (106) is equipped with a vertical fine movement mechanism (not shown) that can move the sample mounting plate (107) in the vertical direction (two required lengths).The pulse motor (108) is equipped with a cable (
2) of a computer (not shown), and its rotation is controlled by calculation M (E).

また、ペルジャー(108)の側壁(二は、陽極(2)
から出射されるX線ビームを通すためのベリリウムでで
きた照射窓(110)が設けられている。さらに、ペル
ジャ一台(102)には、真空容器(101)内を真空
引きするためのコック付排気管(111)が設けられて
いる。
Also, the side wall of Pelger (108) (the second is the anode (2)
An irradiation window (110) made of beryllium is provided for passing the X-ray beam emitted from the. Furthermore, one Pelger (102) is provided with an exhaust pipe (111) with a cock for evacuating the inside of the vacuum container (101).

1.411!+ m LS 191 h> 3 tfI
 Y 槁t’ −A 1m if i I 、 B K
かち所定距離離隔して配置されたX線検出器で、図示し
てない架台に載置固定されている。このX線検出器(4
1)の構成は第1図(a)、 (b) 、 (1:)の
実施例で説明したものと変わらないので詳細説明を省略
する。
1.411! + m LS 191 h> 3 tfI
Y 槁t' -A 1m if i I, B K
The X-ray detectors are placed at a predetermined distance apart, and are mounted and fixed on a pedestal (not shown). This X-ray detector (4
The configuration of 1) is the same as that described in the embodiments of FIGS. 1(a), (b), and (1:), so detailed explanation will be omitted.

そして、X線検出器(1111)の前側には、コリメー
タ(43が図示していない支持部材によって位置決め配
置され、陽極(2)から出射されたX線ビームを薄い扇
形ビームにコリメートしてX線検出器(旬(−入射させ
る。
A collimator (43) is positioned in front of the X-ray detector (1111) by a supporting member (not shown), and collimates the X-ray beam emitted from the anode (2) into a thin fan-shaped beam. Detector (-)

この実施例の真空X線CT装置の各機能手段すなわち、
X線発生手段(4)、駆動手段(B)、X線検出手段(
C)、データ収集装置(51) 、画像前処理装置(5
2)、 画像再構成装置(58) 、断tg*表示装置
(54)とこれらを制御する計算機@)との接続は、第
1図(C)に示したブロック接続図と同じであるので、
詳細な説明は省略する。
Each functional means of the vacuum X-ray CT apparatus of this embodiment, namely:
X-ray generation means (4), drive means (B), X-ray detection means (
C), data collection device (51), image preprocessing device (5)
2) The connections between the image reconstruction device (58), the TG* display device (54), and the computer that controls them are the same as the block connection diagram shown in FIG. 1(C).
Detailed explanation will be omitted.

次に、上記のように構成された本発明の別の実施例の作
用を説明する。
Next, the operation of another embodiment of the present invention configured as described above will be explained.

先ず、ペルジャー持ち上げ機構(105)によりペルジ
ャー(108)を上げた状態(二する。この状態で、被
検査物(S)を試料載置板(107)に固定し、ベース
(109)の前後微動機構によりX線発生点と被検査物
但)との距離を設定し、試料台(106)の上下微動機
構により被検査物(8)のスライス面を設定する。
First, the Pel jar (108) is raised by the Pel jar lifting mechanism (105). The distance between the X-ray generation point and the object to be inspected is set by the mechanism, and the slice plane of the object to be inspected (8) is set by the vertical fine movement mechanism of the sample stage (106).

上記のセツティングが終ったら、ペルジャー持ち上げ機
構(105) によりペルジャー(108)をペルジャ
一台、(102)まで下げ密着させる。次に、真空容器
(101)内をコック付排気管(111)を通して真空
ポンプ(二より排気し、真空容器(101)内を所定の
真空、変にする。そして、所定の真空度(−なったら、
計算#1(6)で制御して、駆動手段[F])による試
料台(106)上の被検査物(8)の所定回転角きざみ
の間欠回転、X線発生手段(A)によるX線の連続また
は同期間欠出射、データ収集装置(51)によるX線透
過データのX線検出手段(C)からの同期収集を行ない
、被検査物が360″回転し終るまで前記の諸動作を継
続する。この測定動作時におけるデータ収集装置(51
)?=よるデータの収集、画像前処理装置(52) を
二よるデータの前処理、画像再構成装置(53)による
画像再構成、および断層像表示装置(54)による被検
査物(S)の断層像の表示の各動作は、第1図(→、(
N、(→の実施例で説明したとおりであるので、詳細説
明を省略する。
After the above setting is completed, the Pel jar lifting mechanism (105) lowers the Pel jar (108) to the Pel jar (102) and brings it into close contact. Next, the inside of the vacuum container (101) is evacuated through the vacuum pump (2) through the exhaust pipe with cock (111), and the inside of the vacuum container (101) is brought to a predetermined vacuum. Tara,
Controlled by calculation #1 (6), intermittent rotation of the inspection object (8) on the sample stage (106) by the drive means [F]) in predetermined rotation angle increments, and X-rays by the X-ray generation means (A). The data collection device (51) performs synchronous collection of X-ray transmission data from the X-ray detection means (C), and continues the above-mentioned operations until the inspection object completes 360'' rotation. .Data collection device (51) during this measurement operation
)? data collection using the image preprocessing device (52), image reconstruction using the image reconstruction device (53), and tomography of the inspected object (S) using the tomographic image display device (54). Each operation of image display is shown in Figure 1 (→, (
Since this is the same as described in the embodiment of N, (→, detailed explanation will be omitted.

1スライス面の測定が終ったら、真空容器(101)内
を大気圧(二戻し、ペルジャー待ち上げ機構(105)
によりペルジャー(108)を持ち上げ、試料台(10
6)(二より次のスライス面の設定を行なう。それ以降
は、べ゛ルジャー(1o8)をペルジャ一台(102)
まで下ろして密着させ、真空容器(101)内を真空引
きするだけで次の測定動作(二人ることができる。
After the measurement of one slice surface is completed, the inside of the vacuum container (101) is returned to atmospheric pressure (second return, Pelger waiting mechanism (105)
Lift up the Pelger (108) and place it on the sample stage (10
6) (Set the next slicing plane from the second. From then on, use one Belger (1o8) and one Perger (102)
The next measuring operation (two people can be carried out) is done by simply lowering the container (101) to a close position and evacuating the inside of the vacuum container (101).

この実施例の真空X線CT装置においては、陰極(1)
、陽極(2)および試料台(106)を真空容器α01
)内に収納したことg二より、被検査物(8)を陽極(
2)のX線発生点のすぐ近くまで近づけることができ、
分解能を十分罵めることができる等第1図(”) t 
(b) t(c)の実施例と同様な効果を奏する。
In the vacuum X-ray CT apparatus of this embodiment, the cathode (1)
, the anode (2) and the sample stage (106) are placed in the vacuum container α01.
) Since the object to be inspected (8) was stored in the anode (
2) It can be brought very close to the X-ray generation point,
Figure 1 ('') t
(b) The same effect as in the embodiment t(c) is achieved.

次に、本発明による真空X@CT装置の更(二別  (
の実施例を第7図を参照して説明する。この実施例のも
のは、被検査物(8)を回転させる代り(=、陰極(1
)と陽極(2)のペアおよびX線検出器を被検査物(i
9)のまわり(二回転させる構造である。第7図に示す
ように、第6図に示したものと同様な真空容器(101
)のペルジャ一台(102) Cパルスモータ(208
)によって回転されるターンテーブル(201)を設け
、その中心部に明けられている穴から突出させて試料台
(202)の試料蔵置板(208”)を配置する。試料
台(202)は試料載置板(208)を上下方向シニ所
要長さ移動させることができる上下微動機構(図示せず
)を具えており、試料載置板(208)の中心がターン
テーブル(201)の回転中心と一致するようにペルジ
ャ一台(102) i二固定されている。
Next, we will discuss the further details of the vacuum X@CT apparatus according to the present invention.
An example of this will be described with reference to FIG. In this embodiment, instead of rotating the object to be inspected (8) (=, cathode (1)
), the pair of anode (2) and the X-ray detector are connected to the object to be inspected (i
9) (2 rotations. As shown in Fig. 7, a vacuum container (101) similar to that shown in Fig. 6 is
) one Pelger (102) C pulse motor (208
) is provided, and a sample holding plate (208'') of a sample stand (202) is arranged so as to protrude from a hole made in the center of the turntable (201). It is equipped with a vertical fine movement mechanism (not shown) that can move the mounting plate (208) a required length in the vertical direction, and the center of the sample mounting plate (208) is the center of rotation of the turntable (201). One Pelger (102) and two are fixed to match.

ターンテーブル(201)の周辺部(二はX線検出器(
、Ioが配置されている。また、X線検出器(411の
前面にはコリメータ卿が取り付けられている。このX線
検出器(41)の構成は第1図(1) j (b) 、
 (C)の実施例で説明したものと同様である。X線検
出器+41)の弧長の中心点とターンテーブル(201
)の回転中心とを結ぶ直線上に陽極(2)のX線発生点
(0)が位置するように、陽極(2)が試料台(202
)を間においてX線検出器Iと対向してターンテーブル
(201)上に装置されている。そして、陽極(2)と
所定の位置関係をとって陰極(1)が陽極(2)と共通
のベース(204)に固定されて配置されている。試料
台(202)の試料載置板(20g) +:、セットさ
れた被検査物(8)と陽極(2)のX線発生点(0)と
の距離は、所要の分解能が得られるよう(;、陽極(2
)と陰極(1)とが固定されているベース(204)を
ターンテーブル(201)上で所要位置1ニセツトする
ことによって定められる。
The peripheral part of the turntable (201) (the second is the X-ray detector (
, Io are arranged. In addition, a collimator is attached to the front of the X-ray detector (411). The configuration of this X-ray detector (41) is shown in Fig. 1 (1) j (b),
This is the same as that described in the embodiment (C). The center point of the arc length of the X-ray detector +41) and the turntable (201
) so that the X-ray generation point (0) of the anode (2) is located on a straight line connecting the center of rotation of the anode (202)
) is mounted on a turntable (201) facing the X-ray detector I with the X-ray detector I in between. A cathode (1) is fixed to a common base (204) with the anode (2) in a predetermined positional relationship with the anode (2). Sample mounting plate (20g) on sample stage (202) +: The distance between the set object to be inspected (8) and the X-ray generation point (0) of the anode (2) is set so that the required resolution can be obtained. (;, anode (2
) and the cathode (1) are fixed by setting the base (204) on the turntable (201) once at a desired position.

陰極(1)および陰極(2)は、外部(二装置されてい
る高圧発生装置(6)および陰極用型、源(7)(いず
れも図示せず)Cニベルジャ一台(102)を気密に介
したケーブルによって接続されている。また、ターンテ
ーブル(201)を回転させるパルスモータは同様にケ
ーブル6二よって図示しない計算am @(二接続され
ており、計算am(ICよって回転を制御される。この
実施例の真空X線CT装置の各機能手段すなわち、X線
発生手段に)、駆動手段[有])、X線検出手段(Q、
データ収集装置(51)、画像前処理装置(52) 。
The cathode (1) and the cathode (2) are externally connected to a high pressure generator (6) and a cathode mold and source (7) (none of which are shown) in an airtight manner. In addition, the pulse motor that rotates the turntable (201) is similarly connected to a motor (not shown) by a cable 62, and its rotation is controlled by an IC. Each functional means of the vacuum X-ray CT apparatus of this embodiment, that is, the X-ray generating means), the driving means [with]), the X-ray detecting means (
Data collection device (51), image preprocessing device (52).

画像再構成装置(5g) 、断層[0示装置(54)と
これらを制御する計算機(匂との接続は、第1図(c)
 C示したブロック接続図と同じであるので、詳細な説
明は省略する。
The connection between the image reconstruction device (5g), the tomographic display device (54), and the computer that controls them (see Figure 1(c))
Since it is the same as the block connection diagram shown in C, detailed explanation will be omitted.

上記のように構成された本実施例の真空X線Cで装置は
、被検査物(8)が静止していて且つその被検査物を回
転中心として陽極のX線発生点と被検査物を透過して来
た透過X線を検出する検線検出器とが回転するようにな
った点が、第6図の実施例と違うだけで、装置の作用お
よび得られる効果は第6図の実施例と同等である。
In the vacuum X-ray C of this embodiment configured as described above, the apparatus is configured such that the object to be inspected (8) is stationary and the X-ray generation point of the anode and the object to be inspected are connected with the object to be inspected as the center of rotation. The only difference from the embodiment shown in Fig. 6 is that the inspection line detector that detects the transmitted X-rays is rotated, and the operation of the device and the effects obtained are the same as those shown in Fig. 6. Equivalent to example.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上詳述したように本発明によれば、X線を発生させる
ための電子ビームを出力するX線発生用陰極およびこの
陰極より出力された電子ビームを受けX線を発生するX
線発生用陽極を有し、この陽極の近傍に配置される被検
査物に対してX線を照射するX線発生手段と、このX線
発生手段に前記被検査物を介して対向配置され前記被検
査物を透過したX線を前記X線発生用陽極のX線発生点
を含む所定厚の平面状ビームにコリメートして検出する
X線検出手段と、前記平面状ビームとの平行面に沿って
前記X線発生手段および前記X線検出手段と前記被検査
物とを相対的に回転させる駆動手段と、前記X線検出手
段から得られたX線透過データを処理して前記被検査物
の断層像を得るX線画像処理手段とを具備した真空X線
CT装置において、少なくとも前記X線発生用陽極およ
び陰極と被検査物とを一つの真空密閉領域、例えば本体
ケースとキャップとで構成された真正空間あるいはペル
ジャーとペルジャ一台とで構成された真空容器の内部に
収納するようにしたことにより、被検査物を陽極のX線
発生点に至近距離まで近づけることが可能となり、被検
査物上で検出できる分解能を十分高くすることが可能な
真空X線CT装置を提供することができる。
As described in detail above, according to the present invention, there is provided an X-ray generation cathode that outputs an electron beam for generating X-rays, and an
an X-ray generating means having a ray-generating anode and irradiating an object to be inspected placed near the anode with X-rays; an X-ray detection means for collimating and detecting the X-rays transmitted through the object to be inspected into a planar beam of a predetermined thickness including the X-ray generation point of the X-ray generation anode; drive means for relatively rotating the X-ray generating means, the X-ray detecting means, and the object to be inspected; In a vacuum X-ray CT apparatus equipped with an X-ray image processing means for obtaining a tomographic image, at least the X-ray generating anode and cathode and the object to be inspected are arranged in one vacuum-sealed area, for example, a main body case and a cap. By storing the inspection object in a true space or inside a vacuum container consisting of a Pelger and one Pelger, it is possible to bring the object to be inspected very close to the X-ray generation point of the anode. Therefore, it is possible to provide a vacuum X-ray CT apparatus that can sufficiently increase the resolution that can be detected.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図(a) 、 (b) 、 (c)は本発明一実施
例の真空X線CT装置を示し、第1図(a)は装置のX
線画像処理   1′手段を除いた部分の構成を示す断
面図、第1図(b)は第1図(、)のYY矢視図、第1
図(c)は装置の各機能手段とこれらを制御する計算機
とのブロック接続図、第2図はX線発生点、被検査物、
X線検出器の位:i関係と分解能との関係を示す説明図
、第3図、第4図、第5図(a)、(b)はそれぞれ第
1図(a)。 (b)、(C)の装置の別異の変形例を示す図、第6図
は不発明による真2X線CT装置の別の実施例を示す要
部切欠斜視図、第7図は本発明による真空X線CT装置
の更に別の実施例をペルジャーを切欠して示す平面図で
ある。 A・・・X線発生手段   B・・・駆動手段C・・・
X線検出手段   D・・・X線画像処理手段E・・・
計算機      S・・・被検査物0・・・X線発生
点 1・−X線発生用陰極  2・・・X線発生用陽極3・
・・遮蔽体      4・・・筒体5・・・密閉蓋 
     6・・・高圧発生装置7・・・陰極用電源 
   11・・・キャップ12・・・照射窓     
 13・・・試料台14・・・試料載置板    15
・・・試料載置板支持軸18・・・ベース      
19・・・磁石21・・・放熱体      31・・
・本体ケース36・・・ワンタッチ式締具 37・・・
全体支持台38・・・パルスモータ   39・−・磁
石41・・・X線検出器    弦・・・単体検出器4
・・・コリメータ    51・・・データ収集装置5
2・・・画像前処理装置  53・・・画像再構成装置
54・・・断層像表示装置 101・・・真空容器     102・・・ペルジャ
一台108・・・ペルジャー   106・・・試料台
107・・・試料載置板   108・・・パルスモー
タ109・・・ベース      110・・・照射窓
201・・・ターンテーブル 202・・・試料台20
3・・・試料載置板   204・・・ペース代理人 
弁理士  井 上 −男 喜1図 (ij−) 第  2  図 第  5  図 (CL) (二〇−) 第  6  図
FIGS. 1(a), (b), and (c) show a vacuum X-ray CT apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1(a) shows the
Line image processing 1' A cross-sectional view showing the configuration of the part excluding the means, Figure 1 (b) is a YY arrow view of Figure 1 (,),
Figure (c) is a block connection diagram of each functional means of the device and the computer that controls them, and Figure 2 shows the X-ray generation point, the object to be inspected,
Figures 3, 4, and 5 (a) and (b) are explanatory diagrams showing the relationship between the position:i and the resolution of the X-ray detector, respectively, and Figure 1 (a). (b) and (C) are diagrams showing different modifications of the apparatus, FIG. 6 is a cutaway perspective view of essential parts showing another embodiment of the true 2 X-ray CT device according to the invention, and FIG. 7 is the invention FIG. 3 is a plan view showing still another embodiment of the vacuum X-ray CT apparatus according to the present invention, with the Pelger cut away. A... X-ray generating means B... Driving means C...
X-ray detection means D... X-ray image processing means E...
Computer S...Object to be inspected 0...X-ray generation point 1--Cathode for X-ray generation 2...Anode for X-ray generation 3-
... Shielding body 4 ... Cylinder body 5 ... Sealing lid
6... High voltage generator 7... Power supply for cathode
11...Cap 12...Irradiation window
13... Sample stand 14... Sample mounting plate 15
...Sample mounting plate support shaft 18...Base
19... Magnet 21... Heat sink 31...
・Body case 36... One-touch fastener 37...
Whole support stand 38...Pulse motor 39...Magnet 41...X-ray detector String...Single detector 4
... Collimator 51 ... Data collection device 5
2... Image preprocessing device 53... Image reconstruction device 54... Tomographic image display device 101... Vacuum container 102... One Pelger 108... Pelger 106... Sample stage 107. ...Sample mounting plate 108...Pulse motor 109...Base 110...Irradiation window 201...Turntable 202...Sample stage 20
3...Sample mounting plate 204...Pace agent
Patent Attorney Inoue - Oki 1 (ij-) Figure 2 Figure 5 (CL) (20-) Figure 6

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] X線を発生させるための電子ビームを出力するX線発生
用陰極およびこの陰極より出力された電子ビームを受け
X線を発生するX線発生用陽極を有し、この陽極の近傍
に配置される被検査物に対してX線を照射するX線発生
手段と、このX線発生手段に前記被検査物を介して対向
配置され前記被検査物を透過したX線を前記X線発生用
陽極のX線発生点を含む所定厚の平面状ビームにコリメ
ートして検出するX線検出手段と、前記平面状ビームと
の平行面に沿つて前記X線発生手段および前記X線検出
手段と前記被検査物とを相対的に回転させる駆動手段と
、前記X線検出手段から得られたX線透過データを処理
して前記被検査物の断層像を得るX線画像処理手段とを
具備してなり、少なくとも前記X線発生用陽極および陰
極と被検査物とが一つの真空密閉領域内に収納されたこ
とを特徴とする真空X線CT装置。
It has an X-ray generation cathode that outputs an electron beam for generating X-rays, and an X-ray generation anode that receives the electron beam output from the cathode and generates X-rays, and is placed near the anode. An X-ray generating means for irradiating X-rays onto an object to be inspected; an X-ray detection means that collimates into a planar beam of a predetermined thickness including an X-ray generation point and detects the same; comprising: a drive means for rotating the object relatively; and an X-ray image processing means for processing the X-ray transmission data obtained from the X-ray detection means to obtain a tomographic image of the object to be inspected; A vacuum X-ray CT apparatus characterized in that at least the X-ray generating anode and cathode and the object to be inspected are housed in one vacuum-sealed area.
JP59237488A 1984-11-13 1984-11-13 Vacuum x-ray ct apparatus Pending JPS61115541A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59237488A JPS61115541A (en) 1984-11-13 1984-11-13 Vacuum x-ray ct apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59237488A JPS61115541A (en) 1984-11-13 1984-11-13 Vacuum x-ray ct apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61115541A true JPS61115541A (en) 1986-06-03

Family

ID=17016063

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59237488A Pending JPS61115541A (en) 1984-11-13 1984-11-13 Vacuum x-ray ct apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61115541A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009139314A (en) * 2007-12-10 2009-06-25 Yamato Scient Co Ltd Three-dimensional x-ray ct apparatus
JP2009257791A (en) * 2008-04-11 2009-11-05 Sony Corp X-ray tomographic imaging equipment and x-ray tomographic imaging method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009139314A (en) * 2007-12-10 2009-06-25 Yamato Scient Co Ltd Three-dimensional x-ray ct apparatus
JP2009257791A (en) * 2008-04-11 2009-11-05 Sony Corp X-ray tomographic imaging equipment and x-ray tomographic imaging method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4274005A (en) X-ray apparatus for computed tomography scanner
US4866745A (en) Ultrahigh speed X-ray CT scanner
US4600998A (en) System for the non-destructive testing of the internal structure of objects
JP3256579B2 (en) Rotating cathode X-ray tube device
US5515414A (en) X-ray diffraction device comprising cooling medium connections provided on the X-ray tube
US4093859A (en) Axial tomographic apparatus
JPS5844377B2 (en) Radiation absorption measurement device for three-dimensional objects
KR20190067222A (en) X-ray source
Jalink et al. CCD mosaic technique for large-field digital mammography
US4277686A (en) Device for determining internal body structures by means of scattered radiation
US5502303A (en) Electronic phantom source for gamma-ray cameras
JPS61115541A (en) Vacuum x-ray ct apparatus
Deslattes Single axis, two crystal x‐ray instrument
Martin et al. Soft x-ray and bolometric tomography in RFX
Entine et al. Recent results with a CdTe imaging portal scanner for radiation therapy
Sluyters et al. Grating Vacuum Monochromator for the Spectral Range 1000–6500 A
US4217499A (en) Tomographic scanning apparatus with ionization detector means
EP0633712B1 (en) X-ray diffraction device comprising cooling medium connection provided on the X-ray tube
JPS63108290A (en) Scintillation camera
US20050207539A1 (en) Methods and systems for calibrating medical imaging devices
Chechik et al. Real-time secondary electron emission detector for high-rate X-ray crystallography
JP3510394B2 (en) Split-type high-speed X-ray CT scanner system
EP0226661A1 (en) Radiographic inspection means and method
Bernlöhr et al. The Cosmic Ray Tracking (CRT) detector system
JP2004154275A (en) Multiple radiation source x-ray ct apparatus