JPS61105416A - Range measuring device for laser beam machine - Google Patents

Range measuring device for laser beam machine

Info

Publication number
JPS61105416A
JPS61105416A JP59227226A JP22722684A JPS61105416A JP S61105416 A JPS61105416 A JP S61105416A JP 59227226 A JP59227226 A JP 59227226A JP 22722684 A JP22722684 A JP 22722684A JP S61105416 A JPS61105416 A JP S61105416A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser beam
displacement
displacement detection
processing
page
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP59227226A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH06100458B2 (en
Inventor
Ryosuke Taniguchi
良輔 谷口
Takashi Ikeda
隆 池田
Manabu Kubo
学 久保
Kozaburo Shibayama
耕三郎 柴山
Kazuo Takashima
和夫 高嶋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP59227226A priority Critical patent/JPH06100458B2/en
Publication of JPS61105416A publication Critical patent/JPS61105416A/en
Publication of JPH06100458B2 publication Critical patent/JPH06100458B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)

Abstract

PURPOSE:To detect the displacement of the reference surface of an object with high accuracy by detecting the displacement a specific time later from the emission of laser beam for machining when by irradiating the object with laser beam for measurement and making scattered beam incident on a position detecting element. CONSTITUTION:The laser beam 1 for machining is emitted to the object 1, which is machined. Further, a machining head 3 is provided with a measurement laser beam emission source 4 and a machining point on the surface W1 of the object is irradiated with the laser beam. A reflected beam from the point is made incident on the position detecting element 7 to obtain displacement detection currents Ia and Ib. Then, these currents are converted by I/V converters 8 and 9 into displacement detection voltages Va and Vb. At this time, a displacement detection is detected the specific time later after the laser beam for work is emitted. Therefore, the displacement detection signal of timing at which there is an influence upon a background beam signal is removed the specific time after the work laser beam is emitted, so the displacement of the reference surface of the object is detected with high accuracy.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、レーザ加工において、対象物の基準面からの
変位を計測する距離計測装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a distance measuring device for measuring the displacement of an object from a reference plane in laser processing.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、対象物の基準面からの変位は機械的に計測されて
いた。しかし機械的計測の場合、セツティング・計測等
に時間を要したり、対象物に直接接触するために対象物
を傷めるなどの問題があった。そこで提案されたのが第
3図に示す距離計)り11装置である。第3図において
、口よ加工用レーザ光、2は加工用レーザ光lを集束す
る加工用レンズ、3は加工ヘッド、4は半力1体レーザ
からなる計測用レーザ光としてのビームを放射する光源
、5は光源4から放射されるビームを集束する投光レン
ズ、6は対象物W1表面、ヒの放射ビーム像を撮像”r
る受光レンズ、7は放射ビーム像の結像位置に応じた電
気信号を発生するイー7置検出素子としてのPSD (
Position  5enSitive  Dete
ct。
Conventionally, the displacement of an object from a reference plane has been measured mechanically. However, in the case of mechanical measurement, there are problems such as time required for setting and measurement, and direct contact with the object, which may damage the object. Therefore, the distance meter 11 device shown in FIG. 3 was proposed. In Fig. 3, 2 is a processing laser beam, 2 is a processing lens that focuses the processing laser beam 1, 3 is a processing head, and 4 is a half-power unit laser that emits a beam as a measurement laser beam. A light source, 5 is a projection lens that focuses the beam emitted from the light source 4, and 6 is a lens that captures the radiation beam image of the surface of the object W1.
7 is a light receiving lens, and 7 is a PSD (7) as a position detection element that generates an electric signal according to the imaging position of the radiation beam image.
Position 5enSitive Dete
ct.

r)、8.9はPSD7から出力される変位検出電流1
a、[bを変位検出信号としての変位検出電圧Va、V
bに変換するとともにプリアンプを兼ねたI/V変換器
、10はレーザ駆動電圧を入力しレーザ駆動電流[dを
出力するV/I変換器、11.12は変位検出電圧Va
、Vbを増幅する増幅器、13.14は増幅器11.1
2の出力を帯域濾波する帯域濾波器、15はアナログ信
号としての変位検出電圧Va、Vbをディジタル信号に
変換するA/D変換器、16はディジタル信号としての
レーザ駆動信号をアナログ信号としてのレーザ駆動電圧
Vdに変換するD/A変換器、17は半4体レーザ2の
発光タイミングの設定、対象物表面の変位ΔHの算出な
どを行なう高速演算プロセッサ、Slは並列信号として
の変位検出電圧Va、Vbを直列信号に変換する並列・
直列変換スイッチである。
r), 8.9 is the displacement detection current 1 output from PSD7
Displacement detection voltages Va, V with a, [b as displacement detection signals
10 is a V/I converter that inputs the laser drive voltage and outputs the laser drive current [d; 11.12 is the displacement detection voltage Va.
, an amplifier that amplifies Vb, 13.14 is the amplifier 11.1
15 is an A/D converter that converts the displacement detection voltages Va and Vb as analog signals into digital signals; 16 is an A/D converter that converts the laser drive signal as a digital signal into a laser as an analog signal; A D/A converter converts into a driving voltage Vd, 17 is a high-speed arithmetic processor that sets the emission timing of the half-quad laser 2, calculates the displacement ΔH of the object surface, etc., and Sl is a displacement detection voltage Va as a parallel signal. , a parallel signal that converts Vb into a serial signal.
It is a serial conversion switch.

このように構成された装置の動作について説明する。ま
ず光学系の動作について第3図を用いて説明する。光源
4から放射されたビームは、投光レンズ5により適当な
大きさの光スポットとなり対象物W1の表面に照射され
る。受光レンズ6はこの光スポットを撮像し、PSD7
の受光面に光スポットの像を結像する。PSD7は光ス
ポツト像の結像位置に応じた電気信号を発生する。すな
わち、PSD7の2つの電極に生じる電流1a。
The operation of the device configured in this way will be explained. First, the operation of the optical system will be explained using FIG. The beam emitted from the light source 4 becomes a light spot of an appropriate size by the projection lens 5 and is irradiated onto the surface of the object W1. The light receiving lens 6 images this light spot, and the PSD 7
An image of a light spot is formed on the light receiving surface. The PSD 7 generates an electric signal depending on the imaging position of the optical spot image. That is, the current 1a generated in the two electrodes of the PSD 7.

IbO値により光スポツト像の結像位置PはP= (I
a−1b)/ (Ia+Ib)として得られる。上の式
は、PSD7の出力が光スポツト像の位置と強度とに比
例して出力を発生するため、光スポツト像の強度変化に
相当する(Ia+Ib)の項を導入して光スポットの位
置のみに比例する出力を得ている。
Based on the IbO value, the imaging position P of the optical spot image is P= (I
a-1b)/(Ia+Ib). Since the output of the PSD 7 is proportional to the position and intensity of the light spot image, the above equation introduces the term (Ia + Ib), which corresponds to the change in the intensity of the light spot image, and calculates only the position of the light spot. We are getting an output proportional to .

次に電気系の動作について第2図を用いて説明する。第
2図(alは光源4から出力される計測用レーザ光の点
滅を示し、第2図(bl、 (C1は変位検出電流1a
、Ibおよび変位検出電圧Va、Vbの波形を示す。
Next, the operation of the electrical system will be explained using FIG. 2. Figure 2 (al indicates blinking of the measurement laser beam output from the light source 4, Figure 2 (bl, (C1 is the displacement detection current 1a)
, Ib and the waveforms of displacement detection voltages Va and Vb.

まず対象物W1表面が基準面にある場合の動作について
説明する。受光レンズ6に入力された光はPSD7にス
ポット状の光となって照射される。
First, the operation when the surface of the object W1 is on the reference plane will be described. The light input to the light receiving lens 6 is irradiated onto the PSD 7 in the form of a spot of light.

対象物Wlの表面が基準面にあるとき、この光の重心位
置がPSD7の中心P1になるように設定しておくと、
変位検出電流Ia、Ibは互いに等しくなり、変位検出
電圧Va、Vbもまた互いに等しくなる。変位検出電圧
はVa、Vbは、増幅器11.12および帯域濾波器1
3.14で処理された後、並列・直列変換スイッチSl
により直列信号に変換され、A/D変換器15でディジ
タル信号に変換されて高速演算プロセッサ17に入力さ
れる。高速演算プロセッサ17はディジタル信号化され
た変位検出電圧Va、Vbにより変位ΔHを算出するが
、この場合Va=Vbであるので、変位ΔH=0となる
If the center of gravity of this light is set to be the center P1 of the PSD 7 when the surface of the object Wl is on the reference plane,
The displacement detection currents Ia and Ib are equal to each other, and the displacement detection voltages Va and Vb are also equal to each other. The displacement detection voltage is Va and Vb are the amplifiers 11 and 12 and the bandpass filter 1.
3. After processing in 14, parallel/serial conversion switch Sl
The signal is converted into a serial signal by the A/D converter 15, converted into a digital signal by the A/D converter 15, and input to the high-speed arithmetic processor 17. The high-speed calculation processor 17 calculates the displacement ΔH based on the displacement detection voltages Va and Vb converted into digital signals, and in this case, since Va=Vb, the displacement ΔH=0.

次に対象物W1表面がΔHだけ下方に変位した場合の動
作について説明する。この場合対象物W1表面で散乱さ
れた光は受光レンズ6を通った後PSD7の中心P1か
らX離れた点P2にスポット状になって入射される。こ
の入射光により変位検出電流Ia、Ibが出力されるが
、変位検出電流1a、Ibは互いに違った値となる。Δ
HとXは比例関係にあるので、Xを算出することにより
ΔHを算出し出力することができる。この出力信号に応
じて図示しない駆動手段を動作させて加工ヘッド3を降
下させΔHの変位を零にするようになっている。このよ
うにして加工ヘソド3と対象物W1の表面との間の距離
は常に一定に保たれる。
Next, the operation when the surface of the object W1 is displaced downward by ΔH will be described. In this case, the light scattered on the surface of the object W1 passes through the light receiving lens 6 and then enters the PSD 7 at a point P2 which is X away from the center P1 in the form of a spot. Displacement detection currents Ia and Ib are outputted by this incident light, but the displacement detection currents 1a and Ib have different values. Δ
Since H and X are in a proportional relationship, by calculating X, ΔH can be calculated and output. In response to this output signal, a drive means (not shown) is operated to lower the machining head 3 and make the displacement ΔH zero. In this way, the distance between the processing head 3 and the surface of the object W1 is always kept constant.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

このような動作をする装置においては、PSD7への入
射光として光源4から発する光のほか対象物W1の加工
に使用される加工用レーザ光1の照射に基づく対象物W
tからの背景光があり、変位計測に誤差を生じさせると
いう問題がある。また加工用レーザ光1によるスバ・イ
ク状の背景光により帯域濾波器13.14に振動が発生
し、帯域濾波器13.14の機能が害されるという問題
がある。
In a device that operates in this manner, in addition to the light emitted from the light source 4 as the incident light to the PSD 7, the object W based on the irradiation of the processing laser beam 1 used for processing the object W1 is used.
There is a problem that there is background light from t, which causes errors in displacement measurement. Further, there is a problem in that the bandpass filter 13.14 vibrates due to the background light produced by the processing laser beam 1, which impairs the function of the bandpass filter 13.14.

本発明はこのような点に罵みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、加工用レーザ光による背景光に
よる変位計測の誤差を生じないレーザ加工機用距離計測
装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of these points, and its purpose is to provide a distance measuring device for a laser processing machine that does not cause errors in displacement measurement due to background light caused by processing laser light. be.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

このような目的を達成するために本発明は、距離計測装
置において、加工用レーザ光の発射から一定時間後に変
位検出信号を検出するようにしたものである。
In order to achieve such an object, the present invention is a distance measuring device that detects a displacement detection signal after a certain period of time from the emission of a processing laser beam.

〔作用〕[Effect]

本発明においては、対象物の加工に使用される加工用レ
ーザ光による背景光の影響を受けないタイミングで計測
用レーザ光の検出がなされる。
In the present invention, the measurement laser beam is detected at a timing that is not affected by background light caused by the processing laser beam used to process the object.

〔実施例〕〔Example〕

第1図に本発明に係わる距離計測装置の一実施例を示す
。第1図において、18.19は対象物W1の加工に使
用される加工用レーザ光lによる背景光の影響を受けな
いタイミングでゲート開となるアナログスイッチ、20
は加工用レーザ光1を発射するタイミングパルスPaを
入力してから一定時間T後にアナログスイッチ18.1
9を開駆動するゲートパルスpbを出力するゲートパル
ス発生器である。この時間Tは次のタイミングパルスP
aの発生する直前にゲートパルスPbが発生するような
値に設定されている。第1図において第3図と同一部分
又は相当部分には同一符号が付しである。
FIG. 1 shows an embodiment of a distance measuring device according to the present invention. In FIG. 1, reference numeral 18.19 denotes an analog switch 20 whose gate opens at a timing that is not affected by the background light of the processing laser beam l used for processing the object W1.
is the analog switch 18.1 after a certain period of time T after inputting the timing pulse Pa for emitting the processing laser beam 1.
This is a gate pulse generator that outputs a gate pulse pb for driving 9 to open. This time T is the next timing pulse P
The value is set so that the gate pulse Pb is generated immediately before the pulse a is generated. In FIG. 1, the same or equivalent parts as in FIG. 3 are given the same reference numerals.

このように構成された装置の動作について第1図および
第2図を用いて説明する。第2図Tdlに示すようにタ
イミングパルスPaは一定の周期で出力され、これによ
って第2図+e)に示すように周期的に加工用レーザ光
1が発射される。加工用レーザ光1が対象物W1の表面
に衝撃的に照射されると、第2図(flに示すような大
きな振幅から次第に減衰していく背景光信号がPSD7
から出力される。なお、この背景光信号は変位検出電圧
Va。
The operation of the apparatus configured as described above will be explained using FIG. 1 and FIG. 2. As shown in FIG. 2 Tdl, the timing pulse Pa is output at a constant cycle, and thereby the processing laser beam 1 is periodically emitted as shown in FIG. 2 +e). When the surface of the object W1 is impulsively irradiated with the processing laser beam 1, a background light signal that gradually attenuates from a large amplitude as shown in FIG.
is output from. Note that this background light signal is the displacement detection voltage Va.

vbを含んでいるが、変位検出電圧Va、Vbを無視で
きる程大きいので、第2図(「)には示されていない。
However, since the displacement detection voltages Va and Vb are so large that they can be ignored, they are not shown in FIG.

I/V変換器8.9から出力された変位検出電圧Va、
Vbおよび背景光信号はアナログスイッチ18.19に
人力される。アナログスイッチ18.19を開駆動する
ゲートパルスpbは、第2図(glに示されるように、
加工用レーザ光1の発射から時間T後で背景光信号が消
滅するタイミングで出力される。このことによヂ光源4
から出力される計測用レーザ光は背景光信号の影響のな
いタイミングで検出されることになり、背景光信号によ
る変位計測誤差を防止できる。
Displacement detection voltage Va output from I/V converter 8.9,
The Vb and background light signals are input to analog switches 18.19. The gate pulse pb that drives the analog switches 18 and 19 open is as shown in FIG.
The processing laser beam 1 is output at the timing when the background light signal disappears after a time T from the emission of the processing laser beam 1. Due to this, the light source 4
The measurement laser beam output from the sensor is detected at a timing that is not affected by the background light signal, and displacement measurement errors due to the background light signal can be prevented.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、加工用レーザ光発生から
一定時間後に変位検出信号を検出することにより、加工
用レーザ光による背景光の影響を防止できるようにした
ので、この背景光の信号による対象物の変位誤差の増加
を防止でき変位計測の精度を高めることができる効果が
ある。
As explained above, the present invention makes it possible to prevent the influence of the background light caused by the processing laser light by detecting the displacement detection signal after a certain period of time from the generation of the processing laser light. This has the effect of preventing an increase in the displacement error of the object and improving the accuracy of displacement measurement.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係わるレーザ加工機用距離計測装置の
一実施例を示すブロック系統図、第2図はその波形図、
第3図は従来のレーザ加工機用距離計測装置を示すブロ
ック系統図である。 1・・・・・加工用レーザ光、2・・・・加工用レンズ
、3・・・・加工ヘッド、4・・・・光源、5・・・・
投光レンズ、6・・・・受光レンズ、7・・・・PSD
18,9・・・・I/v変換器、10・・・・V/I変
換器、11.12・・・・増幅器、13.14・・・・
帯域濾波器、15・・・・A/D変換器、16.・・・
D/A変換器、17・−・・高速演算プロセッサ、18
.19・・・・アナログスイッチ、20・・・・ゲート
パルス発生器、Sl・・・・並列・直列変換スイッチ。 手続補正書(自発) 20発明の名称 レープ加工機用距離計測装置 3、 補正をする者 事件との関係  特許出願人 住 所     東京都千代田区九の内器丁目2番3号
名称(ω1)三菱電機株式会社 代表者片 由 仁へ部 4、代理人 住 所     東京都千代田区丸の内器丁目2番3号
(1)  明細書の特許請求の範囲を別紙の通り補正す
る。 (2)  明細書第2頁第17行の「〜V/I変換器、
」の後に「10aはチョッパ、」を加入する。 (3)明細書第3頁第6行の「高速演算」を「演算」と
補正する。 (4)  明細書第3頁第7行〜第9行のrslは〜変
換スイッチ」を「SlはVa、Vbの切換スイッチ」と
補正する。 (5)  明細書第4頁第8行〜第9行の「変位検出電
流Ia、Ibおよび」を削除する。 (6)明細書第4頁第20行の「並列・直列変換スイッ
チ」を「アナログスイッチ」と補正する。 (7)  明細書第4頁第20行〜第5頁第1行の「直
列信号に変換され」を「時分割され」と補正する。 (8)  明細書第5頁第2行および第3行の「高速演
算プロセッサ」を「演算プロセッサ」と補正する。 (9)  明細書第5頁第15行の「〜ことができる。 」の後に「または、あらかじめ、XとΔHとの関係を実
測により求めておき、XからΔHを定める。」を加入す
る。 αω 明細書第6頁第4行の「対象物Wlからの」を削
除する。 (11)明細書第6頁第7行〜第8行のr13.14に
〜機能が害される」をr13,14の出力信号に減衰振
動を生じ同様に誤差を生じる」と補正する。 (12)  明細書第6頁第12行の「誤差を生じない
」を「誤差を少なくした」と補正する。 (13)  明細書第6頁第17行の「変位検出信号を
検出する」を「距離計測信号を出力する」と補正する。 (14)  明細書第7頁第2行の「計測用レーザ光の
検出がなされる。」を「距離の計測値を検出する。 」と補正する。 (15)  明細書第7頁第5行〜第14行のr18,
19は〜設定されている。」をr18は加工用レーザ発
振器、19はゲートパルス発生回路、20は距離の計測
値出力をゲートするゲート回路である。」と補正する。 (16)  明細書第7頁第19行〜第8頁第1行の[
タイミングパルスル周期的に」をrPaは加工用レーザ
の出力と一致したタイミングで出力され、Paがオンの
期間だけ、」と補正する。 (17)  明細書第8頁第3行および第7行の「(f
)」をr (e)Jと補正する。 (18)  明細書第8頁第9行〜第11行の「アナロ
グスイッチ18.19に入力される。アナログスイッチ
18.19を開駆動する」を「距離の演算処理等を施さ
れて、ゲート回路20に入る。 ゲート回路20を開駆動する」と補正する。 (19)  明細書第8頁第12行のr (g) Jを
r (f) Jと補正する。 (20)  明細書第8頁第13行の「発射から時間T
後」を「発射開始から時間T後部ちT = T I+ 
T tだけ後」と補正する。 (21)  明細書第8頁第14行〜第15行の「光源
4から出力される計測用レーザ光は」を「距離の演算結
果の出力は」と補正する。 (22)明細書第8頁第20行の「変位検出信号を検出
する」を「距離計測信号を出力する」と補正する。 (23)  明細書第9頁第14行の「〜V/I変換器
、」の後に「10a・・・・チョッパ、」を加入する。 (24)  明細書第9頁第17行の「高速演算プロセ
ッサ」を「演算プロセッサ」と補正する。  ゛(25
)  明細書第9頁第17行〜第20行の「18゜19
〜並列・直列変換スイッチ。」を「18・・・・加工用
レーザ発振器、19・・・・ゲートパルス発生回路、2
0・・・・ゲート回路、Sl・・・・アナログスイッチ
。」と補正する。 (26)図面の第1図、第2図および第3図を別紙の通
り補正する。 以上 「加工用レーザ光を対象物に照射しているとき。
FIG. 1 is a block system diagram showing an embodiment of a distance measuring device for a laser processing machine according to the present invention, and FIG. 2 is a waveform diagram thereof.
FIG. 3 is a block system diagram showing a conventional distance measuring device for a laser processing machine. 1... Laser light for processing, 2... Lens for processing, 3... Processing head, 4... Light source, 5...
Emitter lens, 6...Receiver lens, 7...PSD
18,9...I/V converter, 10...V/I converter, 11.12...Amplifier, 13.14...
Bandpass filter, 15... A/D converter, 16. ...
D/A converter, 17... High-speed arithmetic processor, 18
.. 19... Analog switch, 20... Gate pulse generator, Sl... Parallel/serial conversion switch. Procedural amendment (voluntary) 20 Name of the invention Distance measuring device for rapping machine 3, Relationship to the case of the person making the amendment Patent applicant address 2-3 Ku-no-uchiki-chome, Chiyoda-ku, Tokyo Name (ω1) Mitsubishi Denki Co., Ltd. Representative: Yuhito Kata Department 4, Agent address: 2-3 Marunouchiki-chome, Chiyoda-ku, Tokyo (1) The scope of claims in the specification is amended as shown in the attached sheet. (2) “~V/I converter,” on page 2, line 17 of the specification.
” is followed by “10a is choppa.” (3) "High-speed calculation" on page 3, line 6 of the specification is corrected to "calculation." (4) "rsl is a conversion switch" in lines 7 to 9 of page 3 of the specification is corrected to "Sl is a changeover switch for Va and Vb." (5) Delete "displacement detection currents Ia, Ib and" from lines 8 to 9 of page 4 of the specification. (6) "Parallel/serial conversion switch" on page 4, line 20 of the specification is corrected to "analog switch." (7) "Converted into a serial signal" in the 20th line of page 4 to the 1st line of page 5 of the specification is corrected to "time-divided". (8) "High-speed arithmetic processor" in the second and third lines of page 5 of the specification is corrected to "arithmetic processor." (9) After "It is possible to..." on page 5, line 15 of the specification, add "Alternatively, the relationship between X and ΔH is determined in advance by actual measurement, and ΔH is determined from X." αω Delete “from the object Wl” on page 6, line 4 of the specification. (11) "The function is impaired by r13.14 in lines 7 and 8 of page 6 of the specification" is corrected to "dampened oscillation occurs in the output signals of r13 and 14, which similarly causes an error." (12) "No error occurs" on page 6, line 12 of the specification is amended to "reduces error." (13) "Detect a displacement detection signal" on page 6, line 17 of the specification is corrected to "output a distance measurement signal." (14) "Measurement laser light is detected" in the second line of page 7 of the specification is corrected to "a distance measurement value is detected." (15) r18 on page 7, lines 5 to 14 of the specification,
19 is set to ~. '' r18 is a processing laser oscillator, 19 is a gate pulse generation circuit, and 20 is a gate circuit that gates the distance measurement value output. ” he corrected. (16) [[] from page 7, line 19 to page 8, line 1 of the specification
The timing pulse is periodically corrected to ``rPa is output at a timing that coincides with the output of the processing laser, and only during the period when Pa is on''. (17) “(f
)” is corrected to r (e)J. (18) On page 8 of the specification, lines 9 to 11, "input is input to analog switch 18.19. Analog switch 18.19 is driven open" is replaced with "after distance calculation processing, etc. enter the circuit 20. Drive the gate circuit 20 open.'' (19) Correct r (g) J on page 8, line 12 of the specification to r (f) J. (20) “Time T from launch” on page 8, line 13 of the specification
"After" means "Time T after the start of launch T = T I+
T t later.'' (21) "The measurement laser beam output from the light source 4" on page 8, line 14 to line 15 of the specification is corrected to "the output of the distance calculation result is". (22) "Detect a displacement detection signal" on page 8, line 20 of the specification is corrected to "output a distance measurement signal." (23) Add "10a . . . chopper" after "~V/I converter," on page 9, line 14 of the specification. (24) "High-speed arithmetic processor" on page 9, line 17 of the specification is corrected to "arithmetic processor."゛(25
) “18°19” on page 9, lines 17 to 20 of the specification
~Parallel/serial conversion switch. " to "18... Laser oscillator for processing, 19... Gate pulse generation circuit, 2
0...Gate circuit, SL...Analog switch. ” he corrected. (26) Figures 1, 2, and 3 of the drawings will be corrected as shown in the attached sheet. ``When the object is irradiated with a processing laser beam.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 加工用レーザ光を対象物に照射しているとき、計測用レ
ーザ光のスポットを対象物に照射し戻ってくる散乱光の
重心位置を位置検出素子上に求めることにより前記対象
物の基準面からの変位を算出するレーザ加工機用距離計
測装置において、前記加工用レーザ光の発射から、一定
時間後のタイミングで変位検出信号を検出することを特
徴とするレーザ加工機用距離計測装置。
When a target object is irradiated with a processing laser beam, the spot of the measurement laser beam is irradiated onto the object, and the center of gravity of the returning scattered light is determined on the position detection element to determine the position from the reference plane of the object. What is claimed is: 1. A distance measuring device for a laser processing machine, which detects a displacement detection signal at a timing after a predetermined period of time after emission of the processing laser beam.
JP59227226A 1984-10-29 1984-10-29 Distance measuring device for laser processing machine Expired - Lifetime JPH06100458B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59227226A JPH06100458B2 (en) 1984-10-29 1984-10-29 Distance measuring device for laser processing machine

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59227226A JPH06100458B2 (en) 1984-10-29 1984-10-29 Distance measuring device for laser processing machine

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61105416A true JPS61105416A (en) 1986-05-23
JPH06100458B2 JPH06100458B2 (en) 1994-12-12

Family

ID=16857475

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59227226A Expired - Lifetime JPH06100458B2 (en) 1984-10-29 1984-10-29 Distance measuring device for laser processing machine

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06100458B2 (en)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5276863A (en) * 1975-12-18 1977-06-28 United Technologies Corp Circuit for suppressing transient phenomenon when switch is opened or closed
JPS56122689A (en) * 1980-02-29 1981-09-26 Shimadzu Corp Laser working device
JPS59137805A (en) * 1983-01-28 1984-08-08 Shin Meiwa Ind Co Ltd Optical distance meter for profiling work
JPS59140546U (en) * 1983-03-08 1984-09-19 オムロン株式会社 automotive receiver

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5276863A (en) * 1975-12-18 1977-06-28 United Technologies Corp Circuit for suppressing transient phenomenon when switch is opened or closed
JPS56122689A (en) * 1980-02-29 1981-09-26 Shimadzu Corp Laser working device
JPS59137805A (en) * 1983-01-28 1984-08-08 Shin Meiwa Ind Co Ltd Optical distance meter for profiling work
JPS59140546U (en) * 1983-03-08 1984-09-19 オムロン株式会社 automotive receiver

Also Published As

Publication number Publication date
JPH06100458B2 (en) 1994-12-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4924105A (en) Optical measuring device with alternately-activated detection
JPS61105416A (en) Range measuring device for laser beam machine
JPS60227112A (en) Optical displacement meter
JPS6114506A (en) Optical sensor
JPS6316892A (en) Distance measuring instrument for laser beam machine
JP2696644B2 (en) Rail displacement measurement device
JPH07248374A (en) Distance measuring device
JPH08178647A (en) Photoelectric sensor
JP2886663B2 (en) Optical scanning displacement sensor
JPS5459166A (en) Visual sensibility measuring apparatus of interferometer
JPS61105415A (en) Distance measuring instrument
JPH06100459B2 (en) Distance measuring device
JPH0666525A (en) Measuring apparatus for thickness using laser range finder
JPS61105419A (en) Range measuring instrument
JP3323963B2 (en) Measuring device
SU1681168A1 (en) Instrument to measure the object displacement
JPS63242480A (en) Automatic teaching device for laser beam machine
JP2001249019A (en) Distance measuring apparatus
JPS59226805A (en) Inclination angle detector
JPH07280514A (en) Displacement gauge
JPH0690007B2 (en) Optical displacement measuring device
JPS63242481A (en) Automatic teaching device for laser beam machine
JPH02112706A (en) Position detecting circuit
JPS6271810A (en) Displacement transducer
JPH02170011A (en) Optical displacement measuring instrument