JPS6091349A - Composition for negative type electron ray resist - Google Patents

Composition for negative type electron ray resist

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JPS6091349A
JPS6091349A JP19929983A JP19929983A JPS6091349A JP S6091349 A JPS6091349 A JP S6091349A JP 19929983 A JP19929983 A JP 19929983A JP 19929983 A JP19929983 A JP 19929983A JP S6091349 A JPS6091349 A JP S6091349A
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JP
Japan
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solution
dichloro
dissolved
polycondensate
triazine
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Pending
Application number
JP19929983A
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Japanese (ja)
Inventor
Ryuichi Yajima
隆一 矢島
Masao Miyazaki
正男 宮崎
Hayato Katsuragi
桂木 速人
Kiyoto Mori
森 清人
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kanto Chemical Co Inc
Original Assignee
Kanto Chemical Co Inc
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Filing date
Publication date
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/038Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable

Abstract

PURPOSE:To obtain electron ray resist havng resistance to dry etching by combining bisphenol an dichlorotriazine. CONSTITUTION:A compsn. for negative type electron ray resist is obtd. by incorporating the polycyanurate obtd. by polycondensation of the bisphenol expressed by the formula I and the 2-substd. -4, 6-dichloro-Sym-triazine expressed by the formula II therein. Ar in the formula I is the group expressed by -C6H4-Q-C6H4- and one or two of the hydrogen atoms of respective benzene rings may be substd. with halogen. Q is the group expressed by -CR<1>R<2>-, -S-, -CR<3>(OH)-. R<1> and R<2> denote respectively a hydrogen atom, lower alkyl group or -CH2CO2H. R<3> denotes a lower alkyl group. R in the formula II denotes -N(CH2CH=CH2)2, -NHCH2CH=CH2, -OCH2CH=CH2, -O-glycidyl.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はネガ型電子線レジスト組成物に関する。さらに
詳しく言えば、本発明は、一般式、HO−Ar−OH(
I) (式中、Arは式、 で表わされる基であって、Xは/・ログン原子であり、
nはOll又は2の数字を表わし、qは、わし、R1お
よびR2は、それぞれ水素原子、低級アルキル基又は−
CH2COOHを表わし、R3は低級アルキル基を表わ
し、式(I)中の一〇H基は、基−Qに対し、オルソ位
又はパラ位に結合しているものとする)で示されるビス
フェノールと、一般式、 。L−/゛\。−6え l II lul (式中、Rは、−N(CH2CH=CH2)2、−NH
CH2CH=CH2、−〇CH2CH=CH2又は−0
CH2CH−CH2を表わす)\1 で示される2−置換−4,6−フクロローSトリアジン
とをポリ縮合して得られるポリ/アメレートを含有せし
めてなることを特徴とするネガ型電子線レジスト組成物
に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a negative electron beam resist composition. More specifically, the present invention relates to the general formula HO-Ar-OH (
I) (wherein Ar is a group represented by the formula, X is a logon atom,
n represents Oll or the number 2, q represents eagle, R1 and R2 each represent a hydrogen atom, a lower alkyl group, or -
CH2COOH, R3 represents a lower alkyl group, and the 10H group in formula (I) is bonded to the ortho or para position with respect to the group -Q; General formula, . L-/゛\. -6el II lul (wherein, R is -N(CH2CH=CH2)2, -NH
CH2CH=CH2, -〇CH2CH=CH2 or -0
A negative-tone electron beam resist composition characterized by containing poly/americate obtained by polycondensation with 2-substituted-4,6-fuchloroS triazine represented by CH2CH-CH2)\1 Regarding.

近年、集積回路がLSIから超LSIへと進展してゆく
につれて微細加工技術もサブミクロンの加工精度が要求
されるに至っている。そして、これらの技術を実現する
ためにリソグラフィー技術も従来のフォトリングラフイ
ーから電子線リングラフイーへと移行しつつあり、それ
と同時に電子線リソグラフィーに使用されるレノスト材
料についても高感度、高解像度の材料が要求されている
In recent years, as integrated circuits have progressed from LSI to ultra-LSI, microfabrication technology has come to require submicron processing accuracy. In order to realize these technologies, lithography technology is also transitioning from conventional photolithography to electron beam lithography, and at the same time, the Renost material used in electron beam lithography is also being developed with high sensitivity and high resolution. materials are required.

また、さらに近年、微細加工技術がガス相の採用、すな
わちドライプロセス化に大きく移行しつつあり、高感度
・高解像度レジスト材料に新たに耐プラズマドライエツ
チング特性が要求されている。
Furthermore, in recent years, microfabrication technology has been largely shifting toward the use of gas phase, ie, dry processing, and high sensitivity and high resolution resist materials are now required to have plasma dry etching resistance.

これ捷でに開発されてきた電子線レノストはボッ型の場
合、高解像度であるが、感度が低く、耐ドライエツチン
グ特性がとぼしいという欠点があった。一方ネガ型の場
合、ボッ型に比べ若干解像度は劣るものの感度が高く、
ポリマー構造中に芳香環を導入したものでは、耐プラズ
マドライエツチング特性も良好であることが示されてい
る。しかしながら、一般的にはポリマー構造中に芳香環
を導入すると、耐プラズマドライエツチング特性を向上
させるためには有利であるが、感度の低下をもたらすと
いうことが知られているので、ネガ型電子線レジストの
開発においては、ネガ型の特徴である高感度を維持し、
かつ、芳香環の導入により耐ドライエツチング特性を向
上させることが重要な課題とされることになる。
The electron beam renost that had been developed previously had high resolution in the case of a square shape, but had the drawbacks of low sensitivity and poor dry etching resistance. On the other hand, in the case of a negative type, the resolution is slightly lower than that of a negative type, but the sensitivity is higher.
It has been shown that polymers with aromatic rings introduced into their structures also have good plasma dry etching resistance. However, it is generally known that introducing an aromatic ring into a polymer structure is advantageous for improving plasma dry etching resistance, but it also reduces sensitivity. In the development of resists, we maintain the high sensitivity characteristic of negative resists,
In addition, it has become an important issue to improve the dry etching resistance by introducing an aromatic ring.

そこで、本発明者らは、この様な状況に鑑み、サブミク
ロン加工技術で重要である電子線リングラフイーに使用
可能であシ、しかも耐ドライエツチング特性の高い材料
を目途として、ポリマー構造中に芳香環を導入したネガ
型の感電子線樹脂について研究を行なった結果、前記一
般式CI)の化合物と一般式(■)の化合物をポリ縮合
して得られるポリシアヌレートが電子線に感応性で、か
つ、サブミクロン加工に適していることを見い出し、新
規なネガ型電子線レジスト組成物を提供することに成功
した。
In view of this situation, the present inventors aimed to create a material that can be used in electron beam phosphorography, which is important in submicron processing technology, and has high dry etching resistance. As a result of research on negative-tone electron beam-sensitive resins in which aromatic rings have been introduced, it was found that polycyanurate obtained by polycondensation of the compound of general formula CI) and the compound of general formula (■) is sensitive to electron beams. They found that the resist composition is flexible and suitable for submicron processing, and succeeded in providing a new negative-working electron beam resist composition.

従って、本発明は、前記一般式(I)の化合物と一般式
(Illの化合物をポリ縮合して得られるポリシアヌレ
ートを含有せしめてなることを特徴とするネガ型電子線
レゾストを提供するものである。
Therefore, the present invention provides a negative electron beam resist characterized by containing polycyanurate obtained by polycondensing the compound of the general formula (I) and the compound of the general formula (Ill). It is.

前記一般式(■)のビスフェノール型化合物としては、
たとえば、ビスフェノールA、4.4’−チオノフェノ
ール、フェノールフタレイン、ジフェノール酸、ビス−
(2−ヒドロキシ−5=クロロフエニル)スルフィド、
212′−メチレンビス−(4−クロロフェノール)、
ビチオノール、 3.4−ビス(p−ヒドロキシフェニ
ル)−3,4−ヘキサンジオール、2,3−ビス(p−
ヒドロキシフェニル) −2,3−ブタンノオールがあ
げらnる。前記一般式(川の2−置換−4,6−フクロ
ローS−トリアノン型化合物としては、2−ジアリルア
ミノ−4,6−シクロローs−)リアノン、2−アリル
アミノ−4,6−ノクロロー〇−トリアジン、2−了り
ロキシー4,6−ジクロロ−6−トリアジン、2−グリ
シジルオキシ−4,6−フクロローS−トリアノンなど
があげら鴻(これらの2−置換−4,6−シクロローS
 −) ’Jアノン型化合物の合成法は、例えば、ツヤ
−ナル・オブ・ノ・アメリカン・ケミカル・ソサイエテ
イ、第73巻(1951年) 2981頁、米国特許第
3.127,399号(1964年)に記載されている
)。
As the bisphenol type compound of the general formula (■),
For example, bisphenol A, 4,4'-thionophenol, phenolphthalein, diphenolic acid, bis-
(2-hydroxy-5=chlorophenyl) sulfide,
212'-methylenebis-(4-chlorophenol),
Bithionol, 3,4-bis(p-hydroxyphenyl)-3,4-hexanediol, 2,3-bis(p-
Hydroxyphenyl)-2,3-butanol is mentioned. The compounds of the general formula (2-substituted 4,6-fuchloro-S-trianone type) include 2-diallylamino-4,6-cyclos-)ryanone, 2-allylamino-4,6-nochloro-triazine , 2-substituted 4,6-dichloro-6-triazine, 2-glycidyloxy-4,6-cycloS-trianone, etc.
-) ' Methods for synthesizing J anone-type compounds are described, for example, in the Journal of the American Chemical Society, Vol. 73 (1951), p. 2981, and U.S. Patent No. 3,127,399 (1964 )It is described in).

本発明の組成物において用いられる溶剤の例としては、
N、N−ツメチルホルムアミド、シクロヘキサノン、4
−メチルシクロヘキサノン、クロロホルムなどがあり、
これらは単独でまたは混合物として使用される。
Examples of solvents used in the compositions of the invention include:
N,N-trimethylformamide, cyclohexanone, 4
- Methylcyclohexanone, chloroform, etc.
These may be used alone or in mixtures.

本発明の組成物を使用する場合は、目的とする基板、例
えばSlやSiO2上にスピンコーティング法により塗
布し、オープン中でベーキング後、電子線照射を行なう
。そして次に照射した基板を、N、N−ツメチルホルム
アミド、シクロヘキサノン、メチルエチルケトン、アセ
トン、クロロホルムなどの溶剤で現像し、低級アルコー
ルなどの溶剤でリンスする。さらに、現像後、ベーキン
グした後に、目的とする材料、例えばSlや5102を
エツチングするなどの方法により、所望の高精度微細加
工を行なうことができる。
When using the composition of the present invention, it is applied onto a target substrate such as Sl or SiO2 by a spin coating method, baked in an open environment, and then irradiated with an electron beam. The irradiated substrate is then developed with a solvent such as N,N-methylformamide, cyclohexanone, methyl ethyl ketone, acetone, or chloroform, and rinsed with a solvent such as a lower alcohol. Further, after development and baking, a desired material, such as Sl or 5102, is etched, thereby making it possible to carry out desired high-precision microfabrication.

以下に上記した本発明組成物の成分物質の合成例及び本
発明組成物の実施例を掲げて本発明をさらに詳細に説明
するが、本発明は、これら実施例に限定されるものでは
ない。
The present invention will be described in more detail below with reference to synthesis examples of the constituent substances of the compositions of the present invention and examples of the compositions of the present invention, but the present invention is not limited to these Examples.

合成例1 ジフェノール酸と2−アジロキン−4,6−ノクロロー
s−)リアノンとのポリ縮合物の合成2−アリロキ/−
4+6−ジクロロ−〇−トリアノン3.12をニトロベ
ンゼン32.5mJに溶解し、これにジフェノール酸4
.31Fと陽イオン系界面活性剤1 mlを溶かした水
酸化ナトリウム水溶液(水酸化ナトリウム1.35fを
50 weの水に溶解した溶液)を6〜7℃で素早く添
加し、温度を一定に保ったまま5時間攪拌を行なった。
Synthesis Example 1 Synthesis of polycondensate of diphenolic acid and 2-aziloquine-4,6-nochloros-)rianone 2-aryloquine/-
3.12 of 4+6-dichloro-〇-trianone was dissolved in 32.5 mJ of nitrobenzene, and diphenolic acid 4
.. A sodium hydroxide aqueous solution containing 31F and 1 ml of a cationic surfactant (a solution of 1.35f of sodium hydroxide dissolved in 50we of water) was quickly added at 6 to 7°C, and the temperature was kept constant. Stirring was continued for 5 hours.

反応終了後、反応液を中和し、沈殿したポリマーをアセ
トンに溶解し、メタノール中に滴下し、析出させた。次
に析出したポリマーをP別後、メタノールで洗浄し、取
り出し、乾燥し、ジフェノール酸と2−アジロキン−4
,6−ジクロロ−8−トリアジンとのポリ縮合物を得た
After the reaction was completed, the reaction solution was neutralized, and the precipitated polymer was dissolved in acetone and dropped into methanol to precipitate it. Next, the precipitated polymer was separated from P, washed with methanol, taken out, dried, diphenolic acid and 2-aziloquine-4
, 6-dichloro-8-triazine was obtained.

合成例2 4.4′−チオノフェノールと2−ノアリルアミノー4
,6−ソクロローe−トリアジンとのポリ縮合物の合成 2−ジアリルアミノ−4,6−ノクロローe −トリア
ノン31と4.4′−チオノフェノール2.77をニト
ロベンゼン35 mlに溶解し、これに陽イオン系界面
活性剤1 vtlを溶かした水酸化ナトリウム水溶液(
水酸化ナトリウム0.52fを20.5mJの水に溶解
した溶液)を50°Cで素早く添加し、温度を一定に保
ったまま30分間攪拌を行なった。
Synthesis example 2 4.4'-thionophenol and 2-noarylamino4
Synthesis of polycondensate with ,6-sochloro-e-triazine 31 of 2-diallylamino-4,6-nochloro-e-trianone and 2.77 of 4,4'-thionophenol were dissolved in 35 ml of nitrobenzene. Cationic surfactant 1 vtl dissolved in sodium hydroxide aqueous solution (
A solution of 0.52 f of sodium hydroxide dissolved in 20.5 mJ of water) was quickly added at 50°C, and the mixture was stirred for 30 minutes while keeping the temperature constant.

次に反応液を80°Cに昇温し、水酸化ナトリウム水溶
液(水酸化ナトリウム0.52fを5.5m/!の水に
溶解した溶液)を再び添加し、温度を一定に保ったまま
5時間攪拌した。反応終了後、反応液全中和し、ニトロ
ベンゼン層をメタノール中に滴下し、ポリマーを析出さ
せ、f別後、メタノール洗浄後取り出し、乾燥し、4,
4′−チオノフェノールと2−ジアリルアミノ−4,6
−ジクロロ−5−)リアノンとの−り縮合物を得た。
Next, the temperature of the reaction solution was raised to 80 °C, and an aqueous sodium hydroxide solution (a solution of 0.52 f of sodium hydroxide dissolved in 5.5 m/! of water) was added again, and while keeping the temperature constant, Stir for hours. After the reaction is complete, the reaction solution is completely neutralized, the nitrobenzene layer is dropped into methanol to precipitate the polymer, separated by f, washed with methanol, taken out and dried, 4.
4'-thionophenol and 2-diallylamino-4,6
A polycondensate with -dichloro-5-)rhanone was obtained.

合成例3 ジフェノール酸と2−ジアリルアミノ−4,6−ノクロ
ローs−トリアノ/とのポリ縮合物の合成 2−ジアリルアミノ−4,6%−ジクロロ−S −トリ
アノン13.22をトルエン153m1に溶解し、・ 
これにジフェノール酸15.4fと陽イオン系界面活性
剤3.5mlを溶かした水酸化ナトリウム水溶液(水酸
化ナトリウム6.87を90 mlの水に溶かした溶液
)を70°Cで素早く添加し、温度を一定、に保ったま
ま4時間攪拌を行なった。反応終了後、反応液を中和し
、沈殿したポリマーをアセト/に溶解し、n−ヘゲタン
中に滴下し、ポ+jマーを析出させた。次に析出しだポ
リマーをP別後、n−へブタンで洗浄し取り出し乾燥し
、ジフェノール酸と2−ジアリルアミノ−4,6−ジク
ロロ−5−)リアジンとのポリ縮合物を得合成例4 4.4′−チオジフェノールと2−アリロキシ−4,6
−ジクロロ−s−トリアジンとのポリ縮合物の合成 2−アリロキシ−4,6−ジクロロ−8−トリアゾン3
.82をニトロベンゼン33 mlに溶解しこれに4,
4′−チオノフェノール37と陽イオン系界面活性剤6
.5mlを溶かした水酸化ナトIJウム水溶液(水酸化
す) l)ラム1.23fを130m1の水に溶かした
溶液)を6〜7°Cで素早く添加し、温度を一定に保っ
たまま5時間攪拌を行なった。
Synthesis Example 3 Synthesis of polycondensate of diphenolic acid and 2-diallylamino-4,6-nochloro-s-triano/2-diallylamino-4,6%-dichloro-S-trianone (13.22 ml) was added to 153 ml of toluene. Dissolve,・
To this, a sodium hydroxide aqueous solution (a solution of 6.87 sodium hydroxide dissolved in 90 ml of water) containing 15.4 f of diphenolic acid and 3.5 ml of a cationic surfactant was quickly added at 70°C. The mixture was stirred for 4 hours while keeping the temperature constant. After the reaction was completed, the reaction solution was neutralized, the precipitated polymer was dissolved in acetate, and the solution was dropped into n-hegetane to precipitate the polymer. Next, the precipitated polymer was separated from P, washed with n-hebutane, taken out and dried to obtain a polycondensate of diphenolic acid and 2-diallylamino-4,6-dichloro-5-)riazine. Synthesis Example 4 4.4'-thiodiphenol and 2-allyloxy-4,6
-Synthesis of polycondensate with dichloro-s-triazine 2-allyloxy-4,6-dichloro-8-triazine 3
.. Dissolve 82 in 33 ml of nitrobenzene and add 4,
4'-thionophenol 37 and cationic surfactant 6
.. Quickly add 5 ml of sodium hydroxide aqueous solution (sodium hydroxide l) A solution of 1.23 f of rum dissolved in 130 ml of water at 6 to 7°C, and keep the temperature constant for 5 hours. Stirring was performed.

反応終了後、反応液を中和し、ニトロベンゼン層をメタ
ノール中に滴下し、ポリマーを析出させ、戸別後、メタ
ノールで洗浄した後、取り出し、乾燥し、4,4′−チ
オノフェノールと2−アリロキシ−4,6−ジクロロ−
S−トリアノンとのポリ縮合物を得た。
After the reaction is completed, the reaction solution is neutralized, and the nitrobenzene layer is dropped into methanol to precipitate the polymer, which is washed with methanol, taken out and dried, and 4,4'-thionophenol and 2- Allyloxy-4,6-dichloro-
A polycondensate with S-trianone was obtained.

合成例5 ビス−(2−ヒドロキシ−5−クロロフェニル)スルフ
ィドと2−ジアリルアミノ−4,6−ジクロロ−5−)
リアジンとのポリ縮合物の合成2−ジアリルアミノ−4
,6−ノクロロー8−トリアソ/3りとビス−(2−ヒ
ドロキシ−5−クロロフェニル)スルフィト3.59ヲ
= ) 。
Synthesis Example 5 Bis-(2-hydroxy-5-chlorophenyl) sulfide and 2-diallylamino-4,6-dichloro-5-)
Synthesis of polycondensate with riazine 2-diallylamino-4
, 6-nochloro-8-triazo/3ri and bis-(2-hydroxy-5-chlorophenyl) sulfite 3.59 wo = ).

ベンゼン35コに溶解し、これに陽イオン系界面活性剤
0.8mlを溶かした水酸化ナトl)ラム水溶ri(水
酸化ナトリウム0.52を26 rnlの水に溶解した
溶液)を50℃で素早く添加し、温度を一定に保った才
ま(9)分間攪拌を行なった。次に反応液をFM) ’
Cに昇温し、水酸化ナトリウム水溶液(水酸化ナトリウ
ム0.57を19.8m#の水に溶解した溶液)を再び
添加し、温度を一定に保ったまま5時間攪拌した。反応
終了後、反応液を中和シ、ニトロベンゼン層をメタノー
ル中に滴下し、ポリマーを析出させ、f別後、メタノー
ルで洗浄した後、取り出し、乾燥し、ビス−(2−ヒド
ロキシ−5−クロロフェニル)スルフィドと2−ジアリ
ルアミノ−4,6−ジクロロ−8−トリアジンとのポリ
縮合物を得た。
Sodium hydroxide dissolved in 35 ml of benzene and 0.8 ml of a cationic surfactant dissolved therein) Rum water soluble RI (a solution of 0.52 ml of sodium hydroxide dissolved in 26 rnl of water) was heated at 50°C. The mixture was added quickly and stirred for 9 minutes while keeping the temperature constant. Next, the reaction solution is FM)'
The temperature was raised to 50°C, and an aqueous sodium hydroxide solution (a solution of 0.57 sodium hydroxide dissolved in 19.8 m# of water) was added again, and the mixture was stirred for 5 hours while keeping the temperature constant. After the reaction was completed, the reaction solution was neutralized, and the nitrobenzene layer was dropped into methanol to precipitate the polymer. After separation, the polymer was washed with methanol, taken out, dried, and bis-(2-hydroxy-5-chlorophenyl ) A polycondensate of sulfide and 2-diallylamino-4,6-dichloro-8-triazine was obtained.

合成例6 ビスフェノールAと2−ジアリルアミノ−4,6−ノク
ロローs−トリアノンとのポリ縮合物の合成 2−ジアリルアミノ−4,6−ジクロロ−〇−トリアジ
ン3fとビスフェノールA 2.8 f ヲニトロベン
ゼ724.5mlに溶解し、これに陽イオン系界面活性
剤0.82m1を溶かした水酸化ナトリウム水溶液(水
酸化ナトリウム0.52fを20.4rrrlの水に溶
解した溶液)を50℃で素早く添加し、温度を一定に保
ったまま加分間攪拌を行なった。
Synthesis Example 6 Synthesis of polycondensate of bisphenol A and 2-diallylamino-4,6-nochloro-s-trianone 2-diallylamino-4,6-dichloro-〇-triazine 3f and bisphenol A 2.8 f onitrobenze 724 A sodium hydroxide aqueous solution (a solution in which 0.52 f of sodium hydroxide was dissolved in 20.4 rrrl of water) in which 0.82 ml of a cationic surfactant was dissolved was quickly added at 50°C. Stirring was performed during addition while keeping the temperature constant.

次に反応液を80℃に昇温し、水酸化ナトリウム水溶液
(水酸化ナトリウム0.5]Jを5.3mlの水に溶解
した溶液)を再び添加し、温度を一定に保ったまま5時
間攪拌した。反応終了後、反応液を中和し、ニトロベン
ゼン層をメタノール中に滴下しポリマーを析出させ、F
別後、メタノールで洗浄した後、取り出し、乾燥しビス
フェノールAと2−ジアリルアミノ−4,6−ジクロロ
−s−)リアジ/とのポリ縮合物を得た。
Next, the temperature of the reaction solution was raised to 80°C, and an aqueous sodium hydroxide solution (a solution of 0.5 J of sodium hydroxide dissolved in 5.3 ml of water) was added again, and the temperature was kept constant for 5 hours. Stirred. After the reaction is completed, the reaction solution is neutralized, and the nitrobenzene layer is dropped into methanol to precipitate the polymer.
After separation, the mixture was washed with methanol, taken out, and dried to obtain a polycondensate of bisphenol A and 2-diallylamino-4,6-dichloro-s-)riadi/.

合成例7 ビスフェノールAと2−アリロキシ−4+ 6−シクロ
ローs−トリアジンとのポリ縮合物の合成2−アリロキ
7−4.6−ジクロロ−8−トリアジン3.17をニト
ロベンゼア32.5mlに溶解し、これにビスフェノー
ルA 3.42 rと陽イオン系界面活性剤6.3ml
を溶かした水酸化ナトリウム水溶液(水酸化ナトリウム
1.26?を125m1の水に溶解した溶液)を7℃で
素早く添加し、温度を一定に保ったまま5時間攪拌を行
なった。反応終了後、反応液を中和し、ニトロベンゼン
層をアセトン中に滴下し、ポリマーを析出させ、戸別後
、アセトンで洗浄した後、取り出し、乾燥しビスフェノ
ールAと2−アクロキン−4,6−ジクロO−s−)リ
アジンとのポリ縮合物を得た。
Synthesis Example 7 Synthesis of polycondensate of bisphenol A and 2-allyloxy-4+ 6-cyclos-triazine 3.17 ml of 2-aryloxy-7-4,6-dichloro-8-triazine was dissolved in 32.5 ml of nitrobenzea. Add 3.42 r of bisphenol A and 6.3 ml of cationic surfactant to this.
An aqueous solution of sodium hydroxide (a solution in which 1.26 ml of sodium hydroxide was dissolved in 125 ml of water) was quickly added at 7°C, and the mixture was stirred for 5 hours while keeping the temperature constant. After the reaction is completed, the reaction solution is neutralized, and the nitrobenzene layer is dropped into acetone to precipitate the polymer, which is separated from each other and washed with acetone, taken out, dried, and bisphenol A and 2-acroquine-4,6-dichloro A polycondensate with O-s-) riazine was obtained.

合成例8 ビスフェノールAと2−アクロキン−4,6−ジクロo
−B−)リア多ンとのポリ縮合物のエポキシ化物の合成 合成例7に従って合成したビスフェノールAと2−アク
ロキン−4,6−ジクロロ−s−トリアジンとのポリ縮
合物27をクロロポルム50 Illに溶解し、m−ク
ロロ過安息香酸0,57を添加し、50℃で1時間攪拌
した。反応終了後、反応液をメタノール中に滴下し、ポ
リマーを析出させ、戸別後、メタノールで洗浄した後取
り出し乾燥しビスフェノールAと2−アリロキ/−4,
6−ジクーロローS−トリアジンとのポリ縮合物のエポ
キシ化物を得た。
Synthesis Example 8 Bisphenol A and 2-acroquine-4,6-dichloro
-B-) Synthesis of epoxidized polycondensate with liapolyne Polycondensate 27 of bisphenol A and 2-acroquine-4,6-dichloro-s-triazine synthesized according to Synthesis Example 7 was added to chloroporm 50 Ill. Dissolved, added 0.57 m-chloroperbenzoic acid, and stirred at 50°C for 1 hour. After the reaction is completed, the reaction solution is dropped into methanol to precipitate the polymer, which is washed with methanol and then taken out and dried to obtain bisphenol A and 2-allyloki/-4,
An epoxidized product of a polycondensate with 6-dicoulor S-triazine was obtained.

合成例9 フェノールフタレインと2−ジアリルアミノ−4,6−
ジクロロ−s−トリアジンとのポリ縮合物の合成 2−ジアリルアミノ−4,6−ジクロロ−S−トリアジ
ン32とフェノールフタレイン3,9fをニトロベンゼ
ン35 mlに溶解し、これに陽イオン系界面活性剤0
.8mlを溶かした水酸化ナトリウム水溶液(水酸化ナ
トリウム0.77rを20.4mlの水に溶解した溶液
><沁℃で素早く添加し、温度を一定に保ったまま1時
間攪拌を行なった。
Synthesis Example 9 Phenolphthalein and 2-diallylamino-4,6-
Synthesis of polycondensate with dichloro-s-triazine 2-diallylamino-4,6-dichloro-S-triazine 32 and phenolphthalein 3,9f were dissolved in 35 ml of nitrobenzene, and a cationic surfactant was added to the solution. 0
.. 8 ml of a sodium hydroxide aqueous solution (a solution of 0.77 r of sodium hydroxide dissolved in 20.4 ml of water) was quickly added at 10° C. and stirred for 1 hour while keeping the temperature constant.

次に反応液を閏℃に昇温し、水酸化ナトリウム水浴!(
水酸化ナトリウム0.779を5.3mlの水に溶解し
た溶液)を再び添加し、温度を一定に保ったまま5時間
攪拌した。反応終了後、反応液を中和し、ニトロベンゼ
ン層をメタノール中に滴下し、ポリマーを析出させ、戸
別後、メタノールで洗浄した後取り出し乾燥し、フェノ
ールフタレインと2−ジアリルアミノ−4,6−ジクロ
ロ−5−)リアジンとのポリ縮合物を得た。
Next, the temperature of the reaction solution was raised to a leap degree of °C, and a sodium hydroxide water bath was applied! (
A solution of 0.779 sodium hydroxide dissolved in 5.3 ml of water) was added again and stirred for 5 hours while keeping the temperature constant. After the reaction is completed, the reaction solution is neutralized, and the nitrobenzene layer is dropped into methanol to precipitate the polymer, which is separated from each other, washed with methanol, taken out and dried, and phenolphthalein and 2-diallylamino-4,6- A polycondensate with dichloro-5-)riazine was obtained.

実施例1 合成例1に従って合成したジフェノール酸と2−アリロ
キ’y −4,6−ジクロロ−s−トリアジンとのポリ
縮合物をシクロヘキサノンに溶解して濃度12wt%の
溶液を調製した。次にこの溶液をスピンコーティング法
により、シリコンウェハ上に0.5μmの膜厚に塗布し
、85℃のオーブン中で10分間ベーキングした後、加
速電圧15 KVの電子線照射装置を用いて電子線照射
した。照射後、N、N−ジメチルホルムアミドを用いて
現像し、イングロビルアルコールでリンスヲ行すった。
Example 1 A polycondensate of diphenolic acid and 2-aryloki'y-4,6-dichloro-s-triazine synthesized according to Synthesis Example 1 was dissolved in cyclohexanone to prepare a solution having a concentration of 12 wt%. Next, this solution was applied to a film thickness of 0.5 μm on a silicon wafer by spin coating, baked in an oven at 85°C for 10 minutes, and then exposed to an electron beam using an electron beam irradiation device with an acceleration voltage of 15 KV. Irradiated. After irradiation, the film was developed using N,N-dimethylformamide and rinsed with Inglobil alcohol.

このものの電子線に対する感度は、50係残膜時で2.
5μc/crn”であった。
The sensitivity of this product to electron beams is 2.
5 μc/crn”.

実施例2 合成例2に従って合成しだ4,4′−チオジフェノール
と2−ジアリルアミノ−4,6−ジクロロ−s−トリア
ジンとのポリ縮合物をシクロヘキサノンに溶解して濃度
12wt%の溶液を調製した。
Example 2 A polycondensate of 4,4'-thiodiphenol and 2-diallylamino-4,6-dichloro-s-triazine synthesized according to Synthesis Example 2 was dissolved in cyclohexanone to form a solution with a concentration of 12 wt%. Prepared.

次にこの溶液を用いて実施例1と同様にして、塗布操作
、ベーキング操作、電子線照射を行った後N、N−ジメ
チルホルムアミドを用いて現像し、イソグロビルアルコ
ールでリンスヲ行fxった。このものの電子線に対する
感度は、50 %残膜時で0.85 pc/crn2で
あった。
Next, using this solution, the coating operation, baking operation, and electron beam irradiation were performed in the same manner as in Example 1, followed by development using N,N-dimethylformamide, and rinsing with isoglobil alcohol. . The sensitivity of this material to electron beams was 0.85 pc/crn2 when 50% film remained.

実施例3 合成例3に従って合成したジフェノール酸と2−ジアリ
ルアミノ−4,6−ジクロロ−8−トリアシントのポリ
縮合物をシクロヘキサノンニ溶解して濃度12wt%の
溶液を調製した。次にこの溶液を用いて実施例1と同様
にして塗布操作、ベーキング操作、電子線照射を行った
後、シクロヘキサノンを用いて現像し、イソプロピルア
ルコールでリンスを行なった。このものの電子線に対す
る感度は、5o多残膜時で2.7μc/crXであった
Example 3 A polycondensate of diphenolic acid and 2-diallylamino-4,6-dichloro-8-triacinth synthesized according to Synthesis Example 3 was dissolved in cyclohexanone to prepare a solution having a concentration of 12 wt%. Next, using this solution, coating operation, baking operation, and electron beam irradiation were performed in the same manner as in Example 1, followed by development using cyclohexanone and rinsing with isopropyl alcohol. The sensitivity of this material to electron beams was 2.7 μc/crX when there was a large amount of 5O remaining film.

実施例4 合成例4に従って合成した4、1′−チオジフェノール
と2−アリロキシ−4,6−ジクロロ−8−トリアジン
とのポリ縮合物をシクロへキサノンに溶解して濃度12
wtZの溶液を調製した。次にこの溶液を用いて、実施
例1と同様にして塗布操作、ベーキング操作、電子線照
射を行った後N、N−ジメチルホルムアミドを用いて現
像し、゛イソプロピルアルコールでリンスを行なった。
Example 4 A polycondensate of 4,1'-thiodiphenol and 2-allyloxy-4,6-dichloro-8-triazine synthesized according to Synthesis Example 4 was dissolved in cyclohexanone to a concentration of 12
A solution of wtZ was prepared. Next, using this solution, coating operation, baking operation, and electron beam irradiation were performed in the same manner as in Example 1, followed by development using N,N-dimethylformamide, and rinsing with isopropyl alcohol.

このものid電子線に対して良好な感度を示した。This material showed good sensitivity to ID electron beams.

実施例5 合成例5に従って合成したビス−(2−ヒドロキシ−5
−クロロフェニル)スルフィトド2−ジアリルアミノ−
4,6−ジクロロ−s−トリアジンとのポリ縮合物をシ
クロヘキサノンに溶解して濃度12wt%の溶液を調製
した。次にこの溶液を用いて実施例1と同様にして塗布
操作、べ−キング操作、電子線照射を行った後、N、N
−ジメチルホルムアミドを用いて現像し、イソプロピル
アルコールでリンスを行なった。このものは電子線に対
して良好な感度を示した。
Example 5 Bis-(2-hydroxy-5) synthesized according to Synthesis Example 5
-chlorophenyl)sulfitodo2-diallylamino-
A polycondensate with 4,6-dichloro-s-triazine was dissolved in cyclohexanone to prepare a solution having a concentration of 12 wt%. Next, using this solution, coating operation, baking operation, and electron beam irradiation were performed in the same manner as in Example 1.
-Developed using dimethylformamide and rinsed with isopropyl alcohol. This product showed good sensitivity to electron beams.

実施例6 合成例6に従って合成したビスフェノールAと2−ジア
リルアミノ−4,6−ジクロロ−8−トリアジンとのポ
リ縮合物をクロロホルムに溶解して濃度12wt%の溶
液を調製した。次にこの溶液を用いて、実施例1と同様
にして塗布操作、ベーキング操作、電子線照射を行った
後、N、N−ジメチルホルムアミドを用いて現像しイソ
プロピルアルコールでリンスを行なった。このものの電
子線に対する感度は、50 %残膜時で6.6μc/c
m2であった。
Example 6 A polycondensate of bisphenol A and 2-diallylamino-4,6-dichloro-8-triazine synthesized according to Synthesis Example 6 was dissolved in chloroform to prepare a solution having a concentration of 12 wt%. Next, using this solution, coating operation, baking operation, and electron beam irradiation were performed in the same manner as in Example 1, followed by development using N,N-dimethylformamide and rinsing with isopropyl alcohol. The sensitivity of this material to electron beams is 6.6μc/c when 50% film remains.
It was m2.

実施例7 合成例7に従って合成したビスフェノールAと2−アリ
ロキシ−4,6−ジクロロ−s−トリアジンとのポリ縮
合物をクロロホルムに溶解して濃度12wt%の溶液を
調製した。次にこの溶液を用いて実施例1と同様にして
塗布操作、ベーキング操作、電子線照射を行った後、ク
ロロホルムを用いて現像し、イソプロピルアルコールで
リンスを行なった。このものは電子線に対して良好な、
感度を示した。
Example 7 A polycondensate of bisphenol A and 2-allyloxy-4,6-dichloro-s-triazine synthesized according to Synthesis Example 7 was dissolved in chloroform to prepare a solution having a concentration of 12 wt%. Next, using this solution, coating operation, baking operation, and electron beam irradiation were performed in the same manner as in Example 1, followed by development using chloroform and rinsing with isopropyl alcohol. This one is good against electron beams,
showed sensitivity.

実施例8 合成例8に従って合成したビスフェノールAと2−アク
ロキン−4,6−ジクロロ−s−トリアジンとのポリ縮
合物のエギキン化物をシクロヘキサノンに溶解して濃度
12wt%の溶液を調製した。次にこの溶液を用いて実
施例1と同様にして塗布操作、ベーキング操作、電子線
照射を行ツタ後、N、N−ジメチルホルムアミドを用い
て現像し、イソプロピルアルコールでリンスを行なった
。このものの電子線に対する感度は、50 %残膜時で
4.0μC/cm2であった。
Example 8 The agiquinated polycondensate of bisphenol A and 2-acroquine-4,6-dichloro-s-triazine synthesized according to Synthesis Example 8 was dissolved in cyclohexanone to prepare a solution with a concentration of 12 wt%. Next, using this solution, coating operation, baking operation, and electron beam irradiation were performed in the same manner as in Example 1, followed by development using N,N-dimethylformamide, and rinsing with isopropyl alcohol. The sensitivity of this material to electron beams was 4.0 μC/cm2 when 50% film remained.

実施例9 合成例9に従って合成したフェノールフタレインと2−
ジアリルアミノ−1,6−ジクロロ−s −ト’)アジ
ンとのポリ縮合物f:N、N−ジメチルホルムアミドに
溶解して12wt%の溶液を調製した。次にこの溶液を
用いて、実施例1と同様にして、塗布操作、ベーキング
操作、電子線照射ヲ行った後、N、N−ジメチルホルム
アミド用いて現像し、イソプロピルアルコールで1jン
スを行なった。このものは、電子線に対して良好な感度
を示した。
Example 9 Phenolphthalein synthesized according to Synthesis Example 9 and 2-
Polycondensate f with diallylamino-1,6-dichloro-s-t') azine: A 12 wt% solution was prepared by dissolving in N,N-dimethylformamide. Next, using this solution, coating operation, baking operation, and electron beam irradiation were performed in the same manner as in Example 1, and then development was performed using N,N-dimethylformamide, and 1 ml of isopropyl alcohol was used. This one showed good sensitivity to electron beams.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1)一般式、 HO−Ar−OH(1) (式中、Arは式、 で表わされる基であって、Xはハロゲン原子であり、n
は0.1又は2の数字を表わし、RI R3R3 れ水素原子、低級アルキル基又は−CH3COO)1を
表わし、R3は低級アルキル基を表わし、式(11中の
一〇H基は、基−Qに対し、オルン位又はパラ位に結合
しているものとする) で示されるビスフェノールと、一般式、(式中、Rは、
−N(CH3CH=CH2)2、−NHCH2CH=C
H2、で示される2−置換−4,6−ジクロロ−Sトリ
アジンとをポリ縮合して得られるポリシアヌレートを含
有せしめてなることを特徴とするネガ型電子線レノスト
組成物。 2)前記一般式(■)におけるArが、OHOH 選ばれた基である特許請求の範囲第1項記載のネガ型電
子線レノスト組成物。
[Claims] 1) General formula, HO-Ar-OH (1) (wherein Ar is a group represented by the formula, X is a halogen atom, n
represents a number of 0.1 or 2, R3 represents a hydrogen atom, a lower alkyl group, or -CH3COO)1, R3 represents a lower alkyl group, and the (assumed to be bonded at the oron position or para position) and the general formula, (wherein R is
-N(CH3CH=CH2)2, -NHCH2CH=C
1. A negative electron beam Renost composition comprising a polycyanurate obtained by polycondensation with 2-substituted-4,6-dichloro-S triazine represented by H2. 2) The negative electron beam Renost composition according to claim 1, wherein Ar in the general formula (■) is a group selected from OHOH.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006013989A1 (en) * 2004-08-02 2006-02-09 Showa Denko K.K. Curable triazine composition for electronic components, production method therefor and cured product thereof
WO2013088931A1 (en) * 2011-12-16 2013-06-20 日産化学工業株式会社 Composition for forming resist underlayer film and method for forming resist pattern using same

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006013989A1 (en) * 2004-08-02 2006-02-09 Showa Denko K.K. Curable triazine composition for electronic components, production method therefor and cured product thereof
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