JPS6075036A - Multicolor x-ray ct apparatus - Google Patents

Multicolor x-ray ct apparatus

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Publication number
JPS6075036A
JPS6075036A JP58182794A JP18279483A JPS6075036A JP S6075036 A JPS6075036 A JP S6075036A JP 58182794 A JP58182794 A JP 58182794A JP 18279483 A JP18279483 A JP 18279483A JP S6075036 A JPS6075036 A JP S6075036A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
energy
multicolor
cross
specific signals
Prior art date
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Pending
Application number
JP58182794A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
喜一郎 宇山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPS6075036A publication Critical patent/JPS6075036A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はコンピュータ・トモグラフィ・スキャナを用い
た製品等の物体の検査に供する断層側だ装置に関するも
のである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a tomography apparatus for inspecting objects such as products using a computer tomography scanner.

〔発明の技術的背景〕[Technical background of the invention]

エンジンブロックやセラミック板或いは木材などの物体
における巣や亀裂などの内部欠陥や内部の組成,構造な
どを検査できるようにすることは品質を保ち、不良品を
チェックするうえで重要である。
It is important to be able to inspect internal defects such as cavities and cracks in objects such as engine blocks, ceramic plates, or wood, as well as internal composition and structure, in order to maintain quality and check for defective products.

これらのうち、内部欠陥についてはX線テレビシステム
等を用いてX線透視像をテレビモニタに表示し、観察し
たり、あるいは超音波を用いて探傷したりする方式が従
来よりあるが、この場合に内部欠陥のおおよその様子は
わかるが組成や構造まではつかむことができず、また、
原木などでは内部欠陥のある場合、その分布を正確に杷
握することは調料を行なううえで重要であるが、長尺の
物体における内部欠陥分布状態を正確に掴むことは困難
であった。
Among these, conventional methods for detecting internal defects include displaying and observing an X-ray fluoroscopic image on a TV monitor using an X-ray television system, or detecting flaws using ultrasonic waves. Although it is possible to understand the general appearance of internal defects, it is not possible to understand the composition or structure;
When logs have internal defects, it is important to accurately determine their distribution in preparation, but it has been difficult to accurately determine the distribution of internal defects in long objects.

そこで、内部欠陥や組成,構造などを精度良く測定する
ことができる装置としてX線コンピュータートモグラフ
ィ・スキャナ(以下、X線CTと称する)を利用するこ
とが考えられる。
Therefore, it is conceivable to use an X-ray computer tomography scanner (hereinafter referred to as X-ray CT) as a device that can accurately measure internal defects, composition, structure, etc.

即ち、X線CTとは、例えば扁平な扇状に広がるファン
ビームX線を曝射するX線源と、測定対象である被検体
を介してこのX線源に対峙しで配され、前記ファンビー
ムX線の広がり方向に複数のX線検出素子を配した検出
器とを用い、被検体を中心にこのX線源と検出器を同方
向に例えば1度刻みで180°〜3600にわたって順
次回転操作しながら被検体の断層面の多方向からのX線
吸収データを収集したのち、コンピュータ等によシ画像
再構成処理を施こし、前記断層面の像を再構成するよう
にしたもので、断層面各位置について組成に応じ、20
00段階にもわたる階調で画像再構成できるので、断層
面各位置の状態を詳しく知ることができる。
In other words, X-ray CT consists of, for example, an X-ray source that emits fan-beam X-rays that spread in a flat fan shape, and an X-ray source that is placed opposite to this X-ray source through a subject to be measured. Using a detector with a plurality of X-ray detection elements arranged in the direction in which X-rays spread, the X-ray source and detector are sequentially rotated in the same direction centering on the subject over a range of 180 degrees to 3600 degrees, for example, in 1 degree increments. After collecting X-ray absorption data from multiple directions on the tomographic plane of the subject, a computer etc. performs image reconstruction processing to reconstruct the image of the tomographic plane. 20 depending on the composition for each position on the surface.
Since images can be reconstructed with gradation levels as high as 00, it is possible to know the state of each position on the tomographic plane in detail.

上記のものは第3世代と云われるもので、この他ペンシ
ル状のX線ビームを発生するX線管を用い、またこのX
線管に対向して単一の検出器を配し、これらを被検体を
介して一直線方向に平行移動走査させ(これをトラパー
スと云うXまたこのトラパースを1回行うとX線管及び
検出器を被検体を中心に所定角度回転(これをローティ
トと云う)させ、再びトラパースを行なうと云った操作
を繰返しながら180°〜360。
The above is said to be the 3rd generation, and it also uses an X-ray tube that generates a pencil-shaped X-ray beam.
A single detector is placed opposite the X-ray tube, and these detectors are scanned in parallel in a straight line through the subject (this is called traparse). 180 degrees to 360 degrees while repeating the operation of rotating the body by a predetermined angle around the subject (this is called rotation) and performing the trapper again.

にわたって方向を変えながら被検体断面のX線吸収デー
タを収集してゆくいわゆる第1世代と呼ばれるもの、ま
た、ペンシルビームにftて広がり角の狭いファンビー
ムを発生するX線管を用い、−まだ、このファンビーム
の広がシ幅を力・ぐ−する8チャンネル程度の検出素子
を並設し〆こ検出器とを用いて、トラバースとローティ
ト金繰り返すようにし、前記第1世代よりもデや 一夕収集能率を高めた第21L代と呼ばれるなど棹々の
方式がある。
The so-called first generation system collects X-ray absorption data of a cross-section of the object while changing the direction over a period of time. , detecting elements of about 8 channels are installed in parallel to control the spread width of this fan beam, and a traverse and rotation are repeated using a final detector, which is more advanced than the first generation. There are many methods, such as the 21st L generation, which has improved collection efficiency overnight.

ところでX線発生管から発生するX線はエネルギー的に
かなりの巾をもっている。このためにX線発生管を用い
た検査装置、特にX線CTt;[いh ユるビームハー
ドニング(X線の線質硬化;X線の被検体透過厚が埋く
なると薄いところに叱べ篩エネルギーのX線スペクトラ
ムが低エネルギーのそれに比べ相対的に増加する現象)
の間%7+、があり、+ij成像に誤差が生じていた。
By the way, the X-rays generated from the X-ray generating tube have a considerable energy range. For this purpose, inspection equipment using an X-ray generating tube, especially X-ray CTt; A phenomenon in which the X-ray spectrum of sieve energy increases relative to that of low energy)
There was a difference of %7+, and an error occurred in the +ij image formation.

上記ビーム・・−ドニングを補正する方法として前処理
として検知器からの信号のLOG変換時に行なうもの、
また再成後に後処理として補正を施すもの、たとえば特
公昭55−33339号等が知られている。
The above beam... - as a method of correcting donning, it is performed during LOG conversion of the signal from the detector as preprocessing,
There are also known methods in which correction is performed as post-processing after regeneration, such as Japanese Patent Publication No. 33339/1983.

たとえば人体のようなビームハードニングの程度が比較
的均質な検査対象の場合、上記の補正は有効に働くが工
業用等にCTを用いる場合、対象がさまざ壕な物質より
成る複合体であり、特にビームハート9ニングの程度が
部分部分で大きく異なる対象の場合、上記の方法では原
理的に補正が不用能になる。
For example, in the case of an inspection target with a relatively uniform degree of beam hardening, such as the human body, the above correction works effectively, but when CT is used for industrial purposes, the target is a complex consisting of various materials. In particular, in the case of an object in which the degree of beam heart ninening differs greatly from part to part, correction is not necessary in principle with the above method.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、ビームハー
ドニングの問題は基本的には単一エネルギーの放射線源
(ラジオアイソト−,7″)を用いれば解消するが、本
発明はエネルギー別の検知と処理を行なうことにより取
扱いが困難なラノオアイソトープを用いることなく上記
問題の基本的解決を与え、かつ検査対象の元素分配に関
する新たな情報を提供することのできるマルチカラーX
線CT装置を提供するものである。
The present invention was made in view of the above circumstances, and although the problem of beam hardening can basically be solved by using a single-energy radiation source (radioisotope, 7"), the present invention Multicolor
The present invention provides a line CT device.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

すなわち本発明は上記目的を達成するだめ、X線発生手
段及びその支持手段と、検査対象の支持手段と、X線検
知手段及びその支持手段と、上記X線発生手段と検査対
象とX線検知手段とに相対的に異なった位置関係をとら
せる走査手段と、上記検査対象を含む1つあるいは複数
の実質的平面上の複数の実質的直線の通路に沿った上記
X線発生手段から発せられたX線の複数のエネルギー領
域のそれぞれについての減衰を示すエネルギー別信号を
派生する手段と、上記エネルギー別信号をもとに単数あ
るいは複数の断面像を再構成する再構成手段と、上記断
面像を上記検査対象を示す複合断面像として表示する表
示手段とを備えて構成する。
That is, in order to achieve the above object, the present invention provides an X-ray generation means and its support means, an inspection object support means, an X-ray detection means and its support means, the X-ray generation means, the inspection object, and the X-ray detection. a scanning means for emitting X-rays from said X-ray generating means along a plurality of substantially straight paths on one or more substantially planes containing said object; means for deriving energy-specific signals indicating attenuation in each of a plurality of energy regions of X-rays; reconstruction means for reconstructing one or more cross-sectional images based on the energy-specific signals; and display means for displaying the above-mentioned inspection object as a composite cross-sectional image.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、本発明の一実施例について図面を参照しなから酸
1明する。実施例に示す本装置は第2世代のCT装置で
ある。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be explained without reference to the drawings. This apparatus shown in the embodiment is a second generation CT apparatus.

第1図は本装置の構成を示す図であり、図中1はX線管
である。X線管1は比較的幅狭の7アンビームを放射す
るもので、このX線管1は検知器列3と共に走査フレー
ム22に対向して固定されている。走査フレーム22は
回転フレーム9の上にたがいに平行に固定されたガイド
レール25,2Bに移動b]能に支持された回転フレー
ム9に固定された走査機構4に接続されている。回転フ
レーム9は固定フレーム26に回転可能に支持され固定
フレーム26に固定されたゼネバ機構29に接続されて
いる。回転フレーム9は回転中心付近に開口部24を持
ち、開口部24に検査対象2が回転フレーム9から分離
して支持台27で支持される。走査フレーム22は回転
フレーム9に固定されたフォトセル、qlと走査フレー
ム22に固定されたグラテイキュール30により上記移
動の位置が検出されるようになっている。走査フレーム
22およびそれに固定されたX線管1等の部分は−に記
移動中に検査対象2にふれないように構成されている。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of this apparatus, and 1 in the figure is an X-ray tube. The X-ray tube 1 emits a relatively narrow 7 am beam, and the X-ray tube 1 and the detector array 3 are fixed opposite to the scanning frame 22. The scanning frame 22 is connected to a scanning mechanism 4 fixed to the rotating frame 9, which is movably supported by guide rails 25, 2B fixed parallel to each other on the rotating frame 9. The rotating frame 9 is rotatably supported by the fixed frame 26 and connected to a Geneva mechanism 29 fixed to the fixed frame 26. The rotating frame 9 has an opening 24 near the center of rotation, and the inspection object 2 is separated from the rotating frame 9 and supported by a support stand 27 in the opening 24 . The position of the movement of the scanning frame 22 is detected by a photocell ql fixed to the rotating frame 9 and a gratecule 30 fixed to the scanning frame 22. The scanning frame 22 and the portions fixed thereto, such as the X-ray tube 1, are configured so as not to touch the inspection object 2 during movement.

X線管Jはコリメータ23をもち、M形のX線ビーム1
0を概略上記平行なガイドレール25.28で定まる面
に平行な実質的平面内に放出するようになされており、
検知器列3はコリメータ23をもち上記X線ビーム10
を受けるように構成されている。ゼネバ機構29と走査
機構4とフォトセル3ノは制御回路5に接続され、制御
回路5はCPU(中央処理装置)7に接続される。検知
器列3は検査対象2の断面像を作るため信号処理回路6
に接続され、信号処理回路6は表示器8に接続されてい
る。信号処理回路6と表示器8はCPU7に接続されて
いる。上記接続は電気的接続であり物理的な固定でない
ことが理解されるであろう。
The X-ray tube J has a collimator 23 and an M-shaped X-ray beam 1.
0 into a substantially plane parallel to the plane defined by the parallel guide rails 25, 28,
The detector row 3 has a collimator 23 and the X-ray beam 10
is configured to receive. The Geneva mechanism 29, the scanning mechanism 4, and the photocell 3 are connected to a control circuit 5, and the control circuit 5 is connected to a CPU (central processing unit) 7. The detector array 3 is connected to a signal processing circuit 6 to create a cross-sectional image of the inspection object 2.
The signal processing circuit 6 is connected to the display 8. The signal processing circuit 6 and display 8 are connected to the CPU 7. It will be appreciated that the above connections are electrical connections and not physical fixations.

第1図の信号処理回路6をくわしく第2図に示す。検知
器列3は前処理器11に接続され、61J処理器11は
3つの信号メモリーの組12−1゜12−2.12−3
に接続され、3つの信号メモリーの組12−1.12−
2.12−3は検査対象2の断面像を作る/こめの公知
の構成を持つ再構成回路13に接続され、再構成回路1
3は3つの画像メモリーの組14−1 、J4−2.1
4−3に接続され、3つの画像メモリーの組14−1.
14−2゜14−3は複合器15を通じ表示器8に接続
している。信号メモリー12−1.12−2.12−3
はたがいに同一構造であり、画像メモリ14−1゜14
−2.14−3もたがいに同一構造である。
The signal processing circuit 6 of FIG. 1 is shown in detail in FIG. The detector row 3 is connected to the preprocessor 11, and the 61J processor 11 has three signal memory sets 12-1, 12-2, 12-3,
connected to the three signal memory sets 12-1.12-
2.12-3 is connected to a reconstruction circuit 13 having a known configuration for creating a cross-sectional image of the inspection object 2;
3 is a set of three image memories 14-1, J4-2.1
4-3, and three image memory sets 14-1.
14-2 and 14-3 are connected to the display 8 through the compound device 15. Signal memory 12-1.12-2.12-3
They have the same structure, and the image memory 14-1゜14
-2.14-3 also have the same structure.

第2図の検知器列3と前処理器11をさらにくわしく第
3図に示す。検知器列3はシンチレータ16とPMT 
(光−電変換素子)17とアンプ18よυ成る検知器単
位を複数単位、本実施例では8単位を含む。各単位に接
続される前処理器の部分は各単位にたがいに共通構造で
あるので図には2単位分のみ記載してあり、下記の説明
は第1の単位のみについて行なう。第1の検知器単位の
アンf 1s−zは波高分析器19−1に接続され、波
高分析器19は3つのA/Dコンバータ2O−Ik 、
2O−IB、2O−ICにそれぞれ接続される。3つの
A/Dコンバータ2O−Ik、2O−In、2O−IC
はそれぞれ3つの演算器21−11.2l−IB、2l
−ICに接続される。
The detector array 3 and preprocessor 11 shown in FIG. 2 are shown in more detail in FIG. Detector row 3 includes scintillator 16 and PMT
(Photo-electrical conversion element) 17 and amplifier 18, the detector unit includes a plurality of detector units, eight units in this embodiment. Since the portion of the preprocessor connected to each unit has a common structure to each unit, only two units are shown in the figure, and the following explanation will be made only for the first unit. The first detector unit amplifier f1s-z is connected to a pulse height analyzer 19-1, and the pulse height analyzer 19 is connected to three A/D converters 2O-Ik,
Connected to 2O-IB and 2O-IC, respectively. 3 A/D converters 2O-Ik, 2O-In, 2O-IC
are three arithmetic units 21-11.2l-IB, 2l, respectively.
- Connected to the IC.

演算器21−1に、2l−IB、2l−1cはそれぞれ
信号メモリー12−1.12−2.12−3 に液化さ
れておシ、省略された部分たとえば制御綜の接続等があ
り、各ユニットも概略的なまとめ方であり、接続線も多
数本が1本で象徴されているが、詳略は本発明の説明に
は不用であることが当事者には理解されるであろう。
In the computing unit 21-1, 2l-IB and 2l-1c are each liquefied in the signal memory 12-1.12-2.12-3. The units are also summarized in a schematic manner, and many connection lines are symbolized by one, but those skilled in the art will understand that the details are unnecessary for explaining the present invention.

次に上記構成の本装置の作用について説明する。本装置
は走査機構4により走査フレームが1往復あるいは半往
復の単位走査を行なう。上記単位走査中にxi管1より
X線ビーム10が発せられ、検査対象2を通過し、また
は通過しなかったXliが検知器、検知列3によp検知
さtする。に記単位走査が終わるとゼネ・ぐ機構29I
J−It−jl 転7+/−ム9にX線ビーム10の扇
形にはホ:活しい角度、本実施例では6°のステツブ回
転を11なわしめ、つぎに他の上記単位走査が行なわれ
る。l ur:過程は回転フレーム9がほぼ半回転おる
いはIts l’+J 1回転する首でくりかえされ1
つの走査を完了する。上記走査の間に上記単位走査はそ
の走査方向を6°ずつかえ、<b75−えされる。上記
走査の間に走査機構4とゼネ・マ機構29とX線管1は
制御回路5を通じCPU7によQ制御される。上記走査
の間にフォトセル31は上記X線の位置を示す位置信号
を発生腰上記位置信号により弁別された上記X線の検知
信号は信号処理回路6に順次伝送される。信号処理回路
6で検査対象2の断面を表わすようシζダb理された上
記検知信号は表示器8に断面像として表示される。上記
<g号処理と表示はCPtJ7により制御される。
Next, the operation of this device having the above configuration will be explained. In this apparatus, the scanning mechanism 4 performs unit scanning in which the scanning frame makes one reciprocation or half a reciprocation. During the unit scan, an X-ray beam 10 is emitted from the xi tube 1, and Xli that passes or does not pass through the inspection object 2 is detected by a detector, a detection array 3. When the unit scan is completed, the general mechanism 29I
J-It-jl The sector of the X-ray beam 10 in the rotation 7 +/- beam 9 is subjected to a step rotation 11 of an active angle, 6° in this example, and then the other unit scan described above is performed. . l ur: The process is repeated with the neck of the rotating frame 9 rotating approximately half a turn or Its l'+J 1
Complete one scan. During the scanning, the scanning direction of the unit scanning is changed by 6 degrees, and the scanning direction is changed by <b75. During the above scanning, the scanning mechanism 4, the general mechanism 29, and the X-ray tube 1 are Q-controlled by the CPU 7 through the control circuit 5. During the scanning, the photocell 31 generates a position signal indicating the position of the X-ray, and the X-ray detection signal discriminated by the position signal is sequentially transmitted to the signal processing circuit 6. The detection signal processed by the signal processing circuit 6 to represent the cross section of the inspection object 2 is displayed on the display 8 as a cross-sectional image. The above <g processing and display are controlled by CPtJ7.

次に上記信号処理回路6における作用を第2図を参照し
てくわしく述べる。検知器は比例言士数管、半導体検知
管、シンチレータ等の入射X線のエネルギー別計測がで
きるタイグ妙((史用可能であるが本実施例ではシンチ
レータプことえばCaFあるいはBaF2’i用いる。
Next, the operation of the signal processing circuit 6 will be described in detail with reference to FIG. The detector is a proportional number tube, a semiconductor detector tube, a scintillator, etc., which can measure the incident X-ray energy according to energy.In this embodiment, a scintillator, such as CaF or BaF2'i, is used.

シンチレータを含む検知器列3によシ得られた上記検知
信号は前処理器1〕を通シ、第4図で示さhるX線の適
当な区分され7迎シ0.ν2.ν、で代表される各エネ
ルギー領域ごとに分離され対応する信号メモリー12−
1.、 12−2. 12−3に記憶される。
The detection signal obtained by the detector array 3 including the scintillator is passed through the preprocessor 1 and is divided into appropriate X-rays as shown in FIG. ν2. A signal memory 12- is separated and corresponds to each energy region represented by ν.
1. , 12-2. 12-3.

信号メモIJ−72−1に記憶された信号は再構成回路
13により断面像信号に変換され画像メモIJ−14−
1に記憶され、つぎに信号メモリー12−2.12−.
1に記憶された信号も同様に順次それぞれ断面像信号に
変換されそれぞれ画像メモ’J−z4−2.J4iに記
憶される。画像メモリー14−1.14〜2.14−3
に記憶された信号は桟合器15によシそれぞれB(青)
、G(緑)。
The signal stored in the signal memo IJ-72-1 is converted into a cross-sectional image signal by the reconstruction circuit 13 and sent to the image memo IJ-14-
1, and then stored in signal memory 12-2, 12-.
Similarly, the signals stored in ``J-z4-2. Stored in J4i. Image memory 14-1.14 to 2.14-3
The signals stored in the crosslinker 15 are sent to B (blue) respectively.
, G (green).

R(赤)の色が対応づけられ複合され複合カラービデオ
(g号としで表示器8に送られ、表示器8Q」、検査対
象の断■1像をカラー表示する。
The R (red) color is associated and composited, and the composite color video (as g) is sent to the display 8, and the display 8Q displays the cross-sectional image of the object to be inspected in color.

」;記検知器列3と前処理器1)における作用を第3図
を参照してさらにくわしく述べる。上記46ミ知器の単
位における作用は下記のようになる。ある1個のX線光
子がシンチレータ16−1に入射するとシンチレータl
6−1はその光子のエネルギーに比例しだ強度のほぼ可
視域の光を発生する。上記光はPMT77−7に検知さ
れ、検知信号はアング18−1で増巾され、その/4’
ルス高が上記光子のエネルギーに実質比例するノ4ルス
状信号を波高分析器19−1に送出する。波高分析器1
9−1は上記X線エネルギー領域に対応させて定められ
た比較値によシ信号をふりわけ、カウンターの態様を持
つA/1)コンバータ2O−1k 、2O−IB、2O
−ICのいずれかに送出する。定められた積分時間の間
にシンチレータ16−1に入射したX線光子による信号
は上記エネルギー領域ごとにそれぞれA/Dコンバータ
2o−zA、2o−zB、2o−1c K積設され、上
記積分時間終了時にそれぞれ上記入射光子の数を示すデ
ノタル信号として演算器2l−IA。
The functions of the detector array 3 and the preprocessor 1) will be described in more detail with reference to FIG. The operation of the above 46 alarm units is as follows. When a certain X-ray photon enters the scintillator 16-1, the scintillator l
6-1 generates light in the visible range with an intensity proportional to the energy of the photon. The above light is detected by PMT 77-7, and the detection signal is amplified by Ang 18-1.
A pulse-like signal whose pulse height is substantially proportional to the energy of the photon is sent to the pulse height analyzer 19-1. Wave height analyzer 1
9-1 is A/1) converter 2O-1k, 2O-IB, 2O which distributes the signal according to the comparison value determined corresponding to the above-mentioned X-ray energy region and has the aspect of a counter.
- Send to either IC. Signals from X-ray photons incident on the scintillator 16-1 during the predetermined integration time are stacked in A/D converters 2o-zA, 2o-zB, and 2o-1c K for each of the above energy regions, and Arithmetic unit 2l-IA as a digital signal indicating the number of incident photons at the end.

2l−IPr、2l−ICに送られる。演算器21−1
1゜2l−IB、2l−ICに送られた上記信号はLO
G変換と補正計算を施されそれぞれ信号メモリー12−
1.12−2.12−3に記憶される。すべての上記検
知器の単位は上記の作用を持つ。
Sent to 2l-IPr and 2l-IC. Arithmetic unit 21-1
1゜The above signals sent to 2l-IB and 2l-IC are LO
Each signal memory 12- is subjected to G conversion and correction calculation.
1.12-2.12-3. All the above detector units have the above action.

本実施例を示す第1図で各ユニット5,6゜7.8は物
理的配置を示すものではない。たとえば本実M1例では
48号処理回路6の一部である波高分析器9、A/Dコ
ンバータ20は走査フレーム22に固定されており、他
の7S1(分は走査フレーム22に固定されていない。
In FIG. 1 showing this embodiment, the physical arrangement of each unit 5, 6° 7.8 is not shown. For example, in this actual M1 example, the pulse height analyzer 9 and A/D converter 20, which are part of the No. 48 processing circuit 6, are fixed to the scanning frame 22, and the other 7S1 (minutes are not fixed to the scanning frame 22). .

X線管で発生ずるX線のエネルギーは第4図で示される
」:うな強度のエネルギー分布I。(ν)をもっている
。一方検査対象2を構成している物質中の各元素の質量
吸収係数は第6図に例示されるようにX線のエネルギー
に依存して変化する。したがって第4図に1(ν)で示
される1つの通路をうIOって検査対象2を通過した後
のX線強度(,1、し]に示きれる様にエネルギーによ
り異なつプζ減衰を示す。詳細は略すがこれがいわゆる
ビームハードニングの問題をひきおこし、CTにおいて
はtl」成像に誤差、特に像の不均質性が生じてい/也
The energy of the X-rays generated in the X-ray tube is shown in Figure 4: Energy distribution of intensity I. It has (ν). On the other hand, the mass absorption coefficient of each element in the substance constituting the inspection object 2 changes depending on the energy of the X-ray, as illustrated in FIG. Therefore, as shown in the X-ray intensity (, 1, shi) after passing through the inspection object 2 through one path indicated by 1 (ν) in Fig. 4, the attenuation of ζ varies depending on the energy. Although the details are omitted, this causes the problem of so-called beam hardening, which causes errors in tl imaging in CT, especially image inhomogeneity.

実施例を例として」1配本発明の詳細な説明する。本実
施例ではX線10が第4図でν1.ν、。
The present invention will now be described in detail by way of example. In this embodiment, the X-ray 10 is ν1 in FIG. ν,.

ν3で代表される3つのエネルギー領域ごとにわけて検
出され、各領域ごとに検査対象の断面像を再構成する。
It is detected separately for each of the three energy regions represented by ν3, and a cross-sectional image of the inspection target is reconstructed for each region.

第4図でわかる通り上記各エネルギー領域はX線管から
発生したX線のエネルギーの広がシよりずつとせまい領
域であり、X線の上記広がり全部を用いる従来のCTに
くらベビームハードニングの問題が軽減される。本実施
例を変形しさらにエネルギー領域を細かく設定すること
でこの問題に基本的解決を与えることができる。
As shown in Figure 4, each of the above energy regions is a narrower region than the energy spread of the X-rays generated from the problems are alleviated. By modifying this embodiment and setting the energy region more precisely, this problem can be fundamentally solved.

本実施例における第2の効果は検査対象2中の元素配分
に関するものである。本実施例ではX線のエネルギーν
1.ν2.ν、にそれぞれ対応する断面像にそれぞれB
(W)、G(緑)、R(赤)の色を対応させてカラー〇
ネジ合像を作る。
The second effect of this embodiment relates to the element distribution in the inspection object 2. In this example, the X-ray energy ν
1. ν2. B to the cross-sectional images corresponding to ν, respectively.
Make a color 〇 screw composite image by matching the colors of (W), G (green), and R (red).

上記ν7.ν21 ν、け50 KeV〜l 50 K
eVの間でとられておυ第6図を参照するとこのエネル
ギー領域で鉛等の原子量がずっと大きな元素をのぞき概
略重元素は質量吸収係数のかだむきの絶対値が大きく軽
元素は小さいことがわかる。
Above ν7. ν21 ν, 50 KeV~l 50 K
It is taken between eV and υ. Referring to Figure 6, in this energy range, except for elements with much larger atomic weights such as lead, heavy elements have a large absolute value of the mass absorption coefficient slope, and light elements have a small value. Recognize.

すなわちエネルギーが小さいほど(ν、)対応する断面
像Qt)で重元素が強調されることがわかる。
In other words, it can be seen that the smaller the energy (ν,), the heavier elements are emphasized in the corresponding cross-sectional image Qt).

上記断面イ9;は吸収量が大きい部分はど明るく表示さ
れるようになっており、したがって各部の元素組成のち
がいがカラーのちがいで表示され、特に重ノ[素の比率
の大きい部分が赤みがか#)軽元;トの比率が大きい部
分が”青みがかつて表示される。
In cross-section A9 above, the parts with a large amount of absorption are displayed brightly, and therefore the differences in the elemental composition of each part are displayed in different colors. In particular, the parts with a large proportion of heavy elements appear reddish. Parts with a large ratio of ``bluishness'' are displayed.

つき゛に本発明の実施における一般的効果について述べ
る。各エネルギーνでの吸収量に比例するデ[コノエク
ンヨン・データ(projectiondata)をf
ν(θ1 + Sj)とし、各エネルギーνでの断面像
をDl/ (Xl(+ yt)とするとき各νでのfν
を結合し結合されたprojection dataか
ら断面イ象を再tjり成し/辷り、各νでの断面像■)
vを結合し、結合された断面像を作ったりすることによ
り検査体中の元素組成のちがいを強調して表示すること
ができる。上記のり、の結合はそれが線型結合の場合f
、の同じ線型結合でおきかえられることがわかる。以下
それを示す。
First, the general effects of implementing the present invention will be described. The projection data (projection data) proportional to the amount of absorption at each energy ν is expressed as f
When ν(θ1 + Sj) and the cross-sectional image at each energy ν are Dl/(Xl(+yt)), fν at each ν
Combine them and re-arrange/stretch the cross-sectional image from the combined projection data, and create a cross-sectional image at each ν■)
By combining v and creating a combined cross-sectional image, differences in elemental composition in the specimen can be highlighted and displayed. The combination of the above is f if it is a linear combination.
It can be seen that , can be replaced by the same linear combination of . It is shown below.

第5図を参照して、物体を通過する通路にそつたX線の
減衰を考える。X線ビームを波ンシルビームと考えて、
ディテクター出力Vはyo=/lt(ν)io (ν)
dν ・−(1)W = J”R(ν)I(ν)dν =fR(ν)IO(ν)exp(/Σμm(ν)・ρm
 (t)・dt)dν=fR(ν)Io(ν)exp(
/Σμm(ν)・Pm(t)・ρ(t)−dtldν=
 fR(ν)IO(ν)−xp(−/μν(1)す(t
) dtl dν −、(2)上式でシ:X線のエネル
ギー(又は周波数)(77、:物体がない場合のディテ
クター出力to(ν):物体がない場合のX線強度R(
ν):ディテクターレスポンス エ(ν)=X線強度 μm(ν)重元素mの質量吸収係数 t:連通路そった長さ ρm(1):物体中の元素mの密度 ρ(t):物体の密度 Pm(t) :物体中の元素mの重量比μν(t)22
μm(ν) Pm (t) =−(3)上記積分をν。
With reference to FIG. 5, consider the attenuation of X-rays along a path passing through an object. Considering the X-ray beam as a wave beam,
The detector output V is yo=/lt(ν)io (ν)
dν ・−(1)W = J”R(ν)I(ν)dν =fR(ν)IO(ν)exp(/Σμm(ν)・ρm
(t)・dt)dν=fR(ν)Io(ν)exp(
/Σμm(ν)・Pm(t)・ρ(t)−dtldν=
fR(ν)IO(ν)-xp(-/μν(1)(t
) dtl dν −, (2) In the above formula, C: X-ray energy (or frequency) (77,: Detector output to(ν) when there is no object: X-ray intensity R when there is no object
ν): Detector response E(ν) = X-ray intensity μm (ν) Mass absorption coefficient of heavy element m t: Length along the communication path ρm (1): Density of element m in the object ρ(t): Object Density Pm(t) : Weight ratio of element m in the object μν(t)22
μm(ν) Pm(t) =−(3) The above integral is ν.

で代表されるエネルギー領域で積分しそのエネルギー領
域ディテクター出力をv鷺とすると、エネルギー領域が
充分小さいと、F、n= R(vn)to(vn)ex
p(Cy、7t)・4t)dt)・Δνn −(4)壕
だ物体のない場合の出力は すI。Vn= R(vn)Io(vn)・ΔI/1 ・
 (5)となる。
If the energy region is integrated in the energy region represented by , and the energy region detector output is vSagi, then if the energy region is small enough, F, n = R (vn) to (vn) ex
p(Cy,7t)・4t)dt)・Δνn−(4) Output when there is no trench object is I. Vn= R(vn)Io(vn)・ΔI/1・
(5) becomes.

検出信号す′ν。はcallbratlonされlog
変換されprojectionデータf、n(θ+ 、
 Sj)となる。
Detection signal S′ν. is callbratlon log
Converted projection data f, n(θ+,
Sj).

再オtケ成演算(ランド変換)を演算子Rで表現すると ここで Dvn(X)−μvn(X)す(、) −・・(8)で
あり、proJectlon (7°ロノエクシヨン)
 fvnからは五。りの像が作られることが示された。
Expressing the re-transformation operation (land transformation) using the operator R, it is Dvn(X)-μvn(X)(,)-...(8), and proJectlon (7° Ronoexion)
Five from fvn. It was shown that a statue of the same person was made.

fν。の線型結合をgとおく。αnをθによらない定数
として、 g:Σαn Ilfνn ’・・(9)とする。gに演
算Rを施した再構成像をD (x)とすると、Rの線型
性により、 D(x) = R(Σα□・fν駒=ΣαnR(fν。
fν. Let g be the linear combination of . Let αn be a constant that does not depend on θ, g:Σαn Ilfνn' (9). If the reconstructed image obtained by performing operation R on g is D (x), then due to the linearity of R, D (x) = R (Σα□・fν piece = ΣαnR (fν.

)=Σα。・DI/n(X)n n ・・・Ql すなわち各エネルギー領域で別々に作った再構成像を線
型結合して作った複合像は、各エネルギー領域のグロノ
エクションデータに同一の線型結合を施し、複合された
データから作った再構成像と同値になることが示された
)=Σα.・DI/n(X)n n...Ql In other words, a composite image created by linearly combining reconstructed images created separately in each energy region is obtained by applying the same linear combination to the gronoection data in each energy region. It was shown that the result was equivalent to the reconstructed image created from the combined data.

上記の結合が非線型の場合、両者は一般に一致しないこ
とが容易にわかる。
It is easy to see that if the above combination is nonlinear, the two generally do not match.

第6図を参照して、上記線型結合の例を述べる。第6図
から一般にCTに用いるX線のエネルギー範囲で典型的
には100 KeVで概略的に重元素は質量吸収係数の
かだむきが大きく、軽元素は小さいことがいえる。これ
を利用して複合像で重元素配分のコントラストを上げ軽
元素配分のコントラストを下げること又はその逆が可能
である。
An example of the above linear combination will be described with reference to FIG. From FIG. 6, it can be said that in the energy range of X-rays generally used for CT, typically 100 KeV, the mass absorption coefficient of heavy elements is generally large and that of light elements is small. Utilizing this, it is possible to increase the contrast of heavy element distribution and lower the contrast of light element distribution in a composite image, or vice versa.

ν1.ν、を第6図の様にとるとする。各ν、。ν1. Let ν be taken as shown in FIG. Each ν,.

ν2での重元素の平均的な質量吸収の比をμm、(ν、
)/μh(ν、)、軽元素の場合の比をμt(ν、)/
μt(ν、) とする。各νでの像D l/fi (x
 )はだいたい重元素と軽元素の和でなりだっていると
考えると D p、 (x )−μl/、(X)”ρ(X ’)=
 (J、μm(ν、)pm(x))す(、)夕μh(ν
+)P)1(x)”ρ(X)+μt(ν+)Pzcc)
”/’(X)・・Q])Dy2(xXモμh(ν2)P
h(X)”ρ(、)十μt(νt)Pz(X)”ρ(、
) −・・ α埠となる。ただしPh、 Pt はそれ
ぞれ重元素と軽元素の重量比である。
The average mass absorption ratio of heavy elements at ν2 is μm, (ν,
)/μh(ν,), and the ratio for light elements is μt(ν,)/
Let μt(ν,). Image D l/fi (x
) is roughly made up of the sum of heavy and light elements, D p, (x ) - μl/, (X)"ρ(X') =
(J,μm(ν,)pm(x))su(,)μh(ν
+)P)1(x)”ρ(X)+μt(ν+)Pzcc)
”/'(X)...Q])Dy2(xXmoμh(ν2)P
h(X)”ρ(,) 10μt(νt)Pz(X)”ρ(,
) −... Becomes α-bu. However, Ph and Pt are the weight ratios of heavy elements and light elements, respectively.

第1の実施例として結合を Dv2(X)Xμh(ν+)/Ah(νz)−1% (
X) ・(L3鵞 ととった場合、再成像D (x)は 1)(x)z(μt(ν2)×μh(ν1)/μゎ(ν
、)−μt(νr )) Pt(’;)ρに)・・・α
尋 となり重元素の分布P)、(x)ρ(、)け幌とんどコ
ントラストがなくなり軽元素の分布Pz(x)ρ(、)
が再成像として得られる。
As a first example, the coupling is Dv2(X)Xμh(ν+)/Ah(νz)−1% (
X) ・(If L3 is taken, the re-formed image D (x) is 1)(x)z(μt(ν2)×μh(ν1)/μゎ(ν
,)−μt(νr)) Pt(';)ρ)...α
The distribution of heavy elements becomes Pz(x)ρ(,), and the contrast disappears, and the distribution of light elements Pz(x)ρ(,)
is obtained as a reconstructed image.

第2の実施例としての結合を ととった場合、再成像D(x)は ・・・(11 となり例1と逆に重元素の分布Ph(x)・ρ(X) 
が再成像として得られる。
When the combination as the second example is taken, the reconstructed image D(x) becomes...(11) and, contrary to Example 1, the distribution of heavy elements Ph(x)・ρ(X)
is obtained as a reconstructed image.

上記第1および第2の実施例における結合は前述された
ようにグロジエクション・データf。
The combination in the first and second embodiments is performed using the glodivision data f as described above.

とfl の同一の結合でおきかえることができる。and fl can be replaced with the same combination.

これをそれぞれ第3および第4の実施例とする。These will be referred to as third and fourth embodiments, respectively.

壕だ一般に結合のパラメータをCPU7より信号処理回
路6に供給することにより1つの装置でさまざまな結合
を選択できる装置が可能である。
In general, by supplying coupling parameters from the CPU 7 to the signal processing circuit 6, it is possible to create a device that can select various couplings with one device.

第5の例として第7図を示す。第7図に示されるように
鉛の質量吸収係数のエネルギー依存性に見られるギヤラ
グを境にν8.ν、で代表されるエネルギー領域をとる
ことを考える。断面像に結合、I)v、 (x ) D
 I、x (x )あるいはDI/、 (x)/DV、
 (X)を施し複合断面像を作る。またはpro je
ction に結合ry(θ)rp(θ)を施し断面像
を作る。この断面像あるいは複合断面像は検査体中の鉛
の存在に敏感であり鉛の分布を示す。より1確には上記
結合は下記のように選ばれるべきである。
FIG. 7 is shown as a fifth example. As shown in FIG. 7, ν8. Consider the energy region represented by ν. Combined with cross-sectional image, I) v, (x) D
I, x (x) or DI/, (x)/DV,
(X) to create a composite cross-sectional image. or pro je
A cross-sectional image is created by applying the coupling ry(θ)rp(θ) to ction. This cross-sectional image or composite cross-sectional image is sensitive to the presence of lead in the specimen and shows the distribution of lead. More precisely, the above bonds should be chosen as follows.

上記ν3.ν、での断面像り、Dvは であり右辺の1テ1−の分布を考える。ここである定数
kを になるようにえらぶ。kはふつうだいたい1で1よシ少
し小さな数となる。ただし上式で加算は鉛をのぞいて行
なわれpm(x)ρ(、)はこの検査体中の平均的なP
m(X)ρ(、)である。すると結合り、 −kD、は Dv、−kDν、夕(μPb(ν+) −にμPb(ν
2) ) ・Ppb (x )ρ(、)・・・(イ) となり船具外の元素のコントラストがほぼなくなり鉛の
質量分布ρpb (X)すなわちPpb(x)ρ(、)
が再成像として得られる。
Above ν3. The cross-sectional image at ν, Dv, is considered to be the distribution of 1te1- on the right side. Here, select a certain constant k. k is usually around 1, which is a slightly smaller number than 1. However, in the above equation, addition is performed excluding lead, and pm(x)ρ(,) is the average P in this test specimen.
m(X)ρ(,). Then, -kD is Dv, -kDν, and (μPb(ν+) − is μPb(ν
2) ) ・Ppb (x)ρ(,)...(a) The contrast of the elements outside the ship's gear almost disappears, and the lead mass distribution ρpb (X), that is, Ppb(x)ρ(,)
is obtained as a reconstructed image.

上記第5の例は鉛について記述されているが一般には鉛
に限定されるものでないことが容易に理解されよう。
Although the fifth example above describes lead, it will be easily understood that the material is not limited to lead in general.

上記に示した手法を発展させれば元素のある特定の組成
を成す物質の検査対象中での分布捷たそのしめる割合や
重量、捷だその検査対象の定量的構造解析、選定、選別
などに応用することができる。
If the method shown above is developed, it will be possible to analyze the distribution of substances with a specific composition of elements in a test object, its proportion and weight, quantitative structural analysis, selection, sorting, etc. of the test object. It can be applied.

上記に示した手法はCTにかきらずX線透視像にも使え
ることがわかるであろう。しかしな咄 がらCT像におけるt”5しい効果は物質の存在量、上
記第5の例においては鉛の密度ρPb(X)に比例した
、またはそれに定量的に関連した再構成像が得られ、ま
た絶対的な値として得ることも可能であるという点であ
り、しだがってパターン認識のみならず計測的な用途に
使える点である。
It will be appreciated that the method described above can be used not only for CT but also for X-ray fluoroscopic images. However, the t"5 effect in a CT image of a strawberry is that a reconstructed image is obtained that is proportional to or quantitatively related to the amount of the substance present, in the fifth example above, the lead density ρPb(X), Furthermore, it is possible to obtain it as an absolute value, and therefore it can be used not only for pattern recognition but also for measurement purposes.

以下に他の実施例をあげる。Other examples are given below.

(例6) 第8図で示されるように例Oの変形で再構成
回路13を複数個もち複数の信号メモリー12に記憶さ
れた信号が並列処理されるものまた複合画像メモリー3
6をもつもの。
(Example 6) As shown in FIG. 8, a modification of Example O has a plurality of reconstruction circuits 13 and the signals stored in a plurality of signal memories 12 are processed in parallel.
Those with 6.

(例7) 第9図で示されるように例32例4をa゛む
例で上記ノ0ロジエクションゆデータf、n(θ)の組
である(g号メモ1)−J、?−1゜12−2.・・・
に記憶されたエネルギー別信号の組が結合器37で結合
され再構成回路13で断面像信号に変換され複合画像メ
モリ36に記憶され表示器8に表示されるもの。また結
合のA’ラメータあるいは結合の選択信号等がCPU7
よシ供給され1つの装置でさ壕ざまな結合が可能なもの
(Example 7) As shown in FIG. 9, in an example that includes Example 32 and Example 4, the above 0 logic is a set of data f, n(θ) (Note 1 of item g) -J, ? -1°12-2. ...
A set of energy-specific signals stored in 2 is combined in a combiner 37, converted into a cross-sectional image signal in a reconstruction circuit 13, stored in a composite image memory 36, and displayed on a display 8. In addition, the A' parameter of the bond or the selection signal of the bond is sent to the CPU 7.
A device that can be easily supplied and can be connected in various ways with one device.

(例8) 例7で、97 、38が適当にプログラムさ
れた汎用コンピュータであるもの。
(Example 8) In Example 7, 97 and 38 are appropriately programmed general-purpose computers.

(例9) 上記とれかの例で12−1.12’−2゜1
2−3.・・・あるいは14−1.14−2.14−3
゜・・・に一時記憶される信号をフロッピーディスクか
マグネテイツクテーノに記憶するもの。
(Example 9) In the above example, 12-1.12'-2゜1
2-3. ...or 14-1.14-2.14-3
A device that stores signals temporarily stored in ゜... onto a floppy disk or magnetic disk.

すなわち、エネルギー別信月あるいは断面像を一旦永続
性のある記憶媒体に記憶しあとから何度でもくりかえし
結合法を変え再構成を試みることが可能となる。
In other words, it becomes possible to once store the energy-specific signal or cross-sectional image in a permanent storage medium and then attempt to reconstruct it by changing the combination method as many times as desired.

(例10) 1つの装置で上記エネルギー領域の区分の
仕方を考えて使用できるもの。CPU7により第3図の
波高分析器19の切りかえるか19への供給・やラメー
タを変更することによりおこなう。
(Example 10) A single device that can be used in consideration of how to divide the energy regions. This is done by using the CPU 7 to switch the wave height analyzer 19 shown in FIG.

(例11) 第10図のように上記エネルギー領域にオ
ーバーラツプがあるもの。
(Example 11) As shown in FIG. 10, there is an overlap in the above energy range.

(例12) 第11図で示されるように上記エイ・ルギ
ー領域がエネルギーの広い範囲にわたつで散在する場合
X線管の単一エネルギー作動ではその範囲をカバーでき
ない場合X線管の(′+−動+に川を複数回変化をせて
データをとるよりにした装置。
(Example 12) As shown in Fig. 11, if the energy region is scattered over a wide energy range and the range cannot be covered by single energy operation of the X-ray tube, the A device that collects data by changing the river multiple times.

(例13) 上記エネルギー領域の区分を各領域での平
均的S/N比が概略等しくなるように上記領域が設定さ
れた袋層−0 (例14) 上記第10の例で1つの画面にB。
(Example 13) The energy area is divided into bag layer-0 in which the area is set so that the average S/N ratio in each area is approximately equal. (Example 14) In the above 10th example, one screen is B.

G 、 Rを分角1トシて表示するもの。G and R are displayed in units of minutes.

(’t+015 ) 例5の方法をfM数の元素にりい
て1Jない谷元素の質61分布を示す[祈面図にそれ−
ぞ“れ5zなつた色を対応させ複合しで〃ラー断In像
を作る装置。
('t+015) Applying the method of Example 5 to elements with fM number, the quality 61 distribution of valley elements with less than 1J is shown.
This is a device that creates an image with a 50% difference by matching and compositing the faded colors.

(劾16) 例7て結合が加算のもの。単に従来と同イ
重のFl;Ii曲図を作るがビームバー1°ニング補L
トが1宜ぼ完全になされている。これはエネルギー情報
をおとしてもS/N比をかせごうとする1易合有効であ
る。尚、70ロノエクシヨン・r−夕に直されてから加
算が行なわれる点に注目する必要がある。すなわち、従
来OCTでは検知器の出力段階での加算と同じである。
(Kai 16) Example 7 The combination is additive. Simply create the same Ii weight as before, but with the beam bar 1° ning supplement L.
It has been completely completed for about 1 time. This is an effective way to increase the S/N ratio even if energy information is reduced. It should be noted that the addition is performed after the conversion to 70 ronoexion r-unit. That is, in conventional OCT, this is the same as addition at the output stage of the detector.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図は信号
処理回路の構成を示すブロック図、第3図は前処理器の
構成を示す図、第4図はインテンシテイとX線エネルギ
ーとの関係を示す図、第5図は物体とX線の通路の関係
を説明するだめの図、第6図、第7図はP(量吸収係数
とX線エネルギーとの関係を示す図、第8図、第9図は
信号処理回路の他の構成例を示すブロック図、第10図
、第11図はX線強度とX線エネルギーとの関係を示す
図である。 1・・X線管、2・・・検査対象、3・・検知器列、4
・・・走査機構、5・・・制御回路、6・・信号処理回
路、7・・CPU、8・・・表示器、9・・回転フレー
ム、22・・・走査フレーム、23・・・コリメータ。 出願入代J4■1人 弁理士 鈴 江 武 彦第2図 第4図 ×4盾エネルギーV X#艇工オル善−(にeV) 第8図 第9図 第10図 ff511図 Xkr敷エメ・ル〜−ν 特許庁長官 若杉和夫 殿 l、事件の表示 Q′!i願昭58−182了94 号 2、 発明の名称 マルチカッ−X線c T装置 3、補止なする渚 事件との関係 特許出願人 (30’7)東京芝浦電気(1(;式会社4、代理人 1ト所 東京都港区虎〕門IJ目26番51J 第17
森ビル5、自発tin正 手続補正書 昭和5宗1.)l−rs ′4′、1許庁長゛― 若 杉 和 夫 殿】、事件の
表示 特願昭58−182794号 2、発明の名称 マルチカラーX線C実装h 3、iT?i正をする渚 事件との関係 特許1421.ij#人(307) 東
石芝曲2b、気株式会ネコ4、代理人 (i、補正の対象 明細和1図面 7袖止の内容 (1) 明細鵬第10頁第5h目(二記載の「された」
¥1−され、」と引止1−る。 (2) 明細鴇第1()頁第8行目に記載の「支持され
」を1−支持され、」と引止する。 (3)明細書第13頁第14行目に記載の「X線刊ノ」
を「X線11、」と訂正する。 (4) 明細也第11頁f4′J3行目に翫:載の1コ
リメータ23」を「コリメータ32」と言」正イーる。 (5) 明細書第13頁第14行目に記載の「検知器、
検知列」を「検知器列」と削正する。 (6) 明細也第13貞第16 b [=1にに載の「
月形」を「月1角」と削正1−る。 (7) 明細侶第14頁第4行目に記載の「を通じCP
 tJ 7 Jを削除する。 (8)]す」細病第14頁第153]目に記載の「検知
’LL Jを「検知器」と引止する。 (9) 明細書第13頁第14行目に記載の1−再成像
」を「再構成像」とHJ正1−る。 ttul 明MIIii第20 頁第7 行目+’−8
C,載の1− =JR(ν)IO(ν)eXp(−、/
’μν(tJす(tld t l dν・・−+21J
を「 −]’R(シンIO(ν)exp (f/’ 、
(t)・ρ(t)d t l d ν −、−、(21
J ど訂正する。 uLj 明細書箱2 (I Q e517 ;i」l=
1にう1゛載のr’n[比J Y I重石比率」とN、
l NETン・。 (I2)明細書箱2 (l r:+第18(JLlに薗
−ルレのr’ μν(t) 52μm(ν)Pm(tj
 ・(3’ J ’a:□ m 「μ、(t)52μm(シンPm(tl ・−t3’ 
Jと訂正する。 0:タ 明細他第21頁第9行IIから同頁第17行目
にか(すてii[載の[fνn(θ4+Sj) ・・小
さねた。」を下記の進りH」正する。 記 で表わせる。 町構成、演算(ラドン変換)を創脚子I2で表現Tると
式(6)は と表わせる。ただしχに+yB を2で−Qi、S。 をUで表わした。ここで。 1%n(”)=μ、g(す・ρ(χ) ・・・(8)か
再4j−1戎像である。」 04) 明細@第23貝第12r−J目にに載の[車搦
比J y r1覇比率」と言−I正1−る。 05) 明細店第25頁にHe載の式1.9iを1− 
Σ(μ記ν+) −kzzm(I2))Pm(z+ρ(
χ)−□−(191Jmす116 と削正する。 (靭 明細告第26147413?’J目に記載の「理
角・Lさ第1よう。」の次に一トb【の文を・加入1−
る。 1し 1つきに式(6)の例とじてn個の元素を含む物仙をn
イ[δ1のエネル4゛−(I1)でI!11別−すイ)
隼。 合をf・える。 各エネルギーでの1面体1)、、、 (χ)は; i=
1.2.・・、n と表わせ′る。これは未知vn個、力程式n個の連立力
4)一式て−これを焦イいて各元素mにつめることかで
さイ・。」 α7)明細書第26頁第14行目に記載の「手法を発展
させれは」を「手法で」と削正j−る。 0)リ 明細も第28頁第4行目に記載の(−,38J
を削除する。 tl!l) 明細暑第30頁第81−]目から同頁第9
1−J目にかけて記載の1インテンンテイJ −t(1
”’ X 線強度」と削正1−る。 tall 111141 ia伺txt1114第31
81別&Ik )j4’BすiiJ止オる。
Fig. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a block diagram showing the structure of a signal processing circuit, Fig. 3 is a diagram showing the structure of a preprocessor, and Fig. 4 shows intensity and Figure 5 is a diagram showing the relationship between the X-ray path and the object, and Figures 6 and 7 are diagrams showing the relationship between the P (quantity absorption coefficient and X-ray energy). 8 and 9 are block diagrams showing other configuration examples of the signal processing circuit, and FIGS. 10 and 11 are diagrams showing the relationship between X-ray intensity and X-ray energy. 1. X-ray tube, 2...Test object, 3...Detector row, 4
...Scanning mechanism, 5.Control circuit, 6.Signal processing circuit, 7.CPU, 8.Display device, 9.Rotating frame, 22.Scanning frame, 23.Collimator . Application Fee J4 ■ 1 Patent Attorney Takehiko Suzue Figure 2 Figure 4 x 4 Shield Energy V -v Kazuo Wakasugi, Commissioner of the Patent Office, Incident Display Q'! i Application No. 182-94 No. 2, Name of the invention Multi-cut X-ray cT device 3, Relationship with the Nagisa incident without correction Patent applicant (30'7) Tokyo Shibaura Electric (1 (; Shikisha 4) , Agent No. 17, 26-51J, Toramon, Minato-ku, Tokyo
Mori Building 5, Voluntary Tin Procedural Amendment 1995 1. ) l-rs '4', 1st Director of the Agency, Mr. Kazuo Wakasugi], Indication of Case Patent Application No. 182794/1982 2, Title of Invention Multicolor X-ray C Mounting h 3, iT? Relationship with the Nagisa incident that makes i-correct Patent 1421. ij #person (307) Toishi Shiba music 2b, Ki Stock Society Neko 4, Agent (i, Specification subject to amendment 1 Drawing 7 Contents of sleeve closure (1) Specification Peng, page 10, 5h (2) "was done"
"It's 1-yen," he stopped. (2) "Supported" written on page 1 (), line 8 of the specification is changed to "1-Supported." (3) “X-ray publication” stated on page 13, line 14 of the specification
is corrected to "X-ray 11." (4) ``Collimator 23'' listed on page 11, f4'J, line 3 of the specification is referred to as ``collimator 32''. (5) “Detector,” described on page 13, line 14 of the specification.
"Detector row" is revised to "Detector row". (6) Seiya No. 13 Tei No. 16 b [=1 in ``
The shape of the moon is reduced to 1 square of the moon. (7) “Through CP” stated on page 14, line 4 of the specification
tJ 7 Delete J. (8) ``Detection'' LL J described in ``Subyoui'', page 14, 153] is referred to as ``detector''. (9) "1-Reconstructed image" stated on page 13, line 14 of the specification is referred to as "reconstructed image." ttul Mei MIII 20th page 7th line +'-8
C, 1- = JR(ν)IO(ν)eXp(-,/
'μν(tJsu(tld t l dν...-+21J
"-]'R(thin IO(ν)exp (f/',
(t)・ρ(t)d t l d ν −, −, (21
J Correct. uLj Statement box 2 (I Q e517;i''l=
r'n [ratio J Y I weight ratio] and N,
l NET. (I2) Statement box 2 (l r:+18th
・(3' J 'a: □ m "μ, (t) 52 μm (thin Pm(tl ・-t3'
Correct it with J. 0: Ta From page 21, line 9, line II to page 21, line 17 of the specification etc. If the town structure and calculation (Radon transformation) are expressed by the originator I2, equation (6) can be expressed as follows. However, χ is +yB and 2 is -Qi, and S. is expressed by U. Here, 1%n('')=μ,g(s・ρ(χ)...(8) is the 4j-1 eclipse image.''04) Details @23rd shell No. 12r-J 05) Expression 1.9i listed in He on page 25 of the specification store is 1-
Σ(μ ν+) −kzzm(I2))Pm(z+ρ(
χ)−□−(191Jmsu116. 1-
Ru. As an example of formula (6), let n be a material containing n elements.
I [at the energy of δ1 4゛-(I1) I! 11-Sui)
Falcon. The combination is f・er. The monohedron 1), , (χ) at each energy is; i=
1.2. ..., expressed as n. This is a set of simultaneous forces 4) with vn unknowns and n force equations - it's a matter of hastily compiling this into each element m. ” α7) In the 14th line of page 26 of the specification, ``to develop the technique'' has been amended to ``by the technique.'' 0) The details are also listed in the 4th line of page 28 (-, 38J
Delete. tl! l) Particular heat, page 30, item 81-] to item 9 of the same page
1-intent J-t(1
``'X-ray intensity'' is corrected. tall 111141 ia visit txt1114 No. 31
81 another &Ik)j4'BsuiiJ stop oru.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (1)X線発生手段及びその支持手段と、検査対象の支
持手段と、X線検知手段及びその支持手段と、上記X線
発生手段と検査対象とX線検知手段とに相対的に異なっ
た位置関係をとらせる走査手段と、上記検査対象を含む
1つあるいは複数の実質的平面上の複数の実質的直線の
通路に沿った上記X線発生手段から発せられたX線の複
数のエネルギー領域のそれぞれについての減資を示すエ
ネルギー別信号を派生する手段と、上記エネルギー別信
号をもとに甲数あるいは複数の断面像を再構成する1再
構成手段と、上記断面像を上記検査対象を示す複合断面
像として表示する表示手段とを備えてなるマルチカラー
X線CT装置。 (2) 上記エネルギー別信号を互いに結合する結合十
段廿たはかつ上記断面像を互いに結合する結合手段と、
その結合過程を含む特許請求の範囲第1項記載のマルチ
カラーX線CT装置。 (3)上記再構成手段は再構成過程がラドン変換と実質
的に数学的同値の過程である特許請求の範囲第1項また
は第2項記載のマル゛チヵラーX線CT装置。 (4)上記結合が線形結合である特許請求の範囲第2項
または第3項記載のマルチカラーX線CT装置。 (5)上記結合が非線形結合を含む特許請求の範囲第2
項または第3項記載のマルチカラーX線CT装置。 (6)上記再構成手段が上記エネルギー別信号あるいは
複数の結合されたエネルギー別信号を時間別に処理する
1つの回路を含む特許請求の範囲第1項乃至第5項記載
のマルチカラーX線CT装置。 (7)上記再構成手段が上記エネルギー別信号あるいは
複数の結合されたエネルギー別信号を並列処理する複数
の回路を含む特許請求の範囲第1項乃至第6項記載のマ
ルチカラーX線CT装置。 (8)上記断面像の結合手段が各断面像にそれぞれ異な
った1つの色を対応させて結合する手段を含み、上記複
合断面像がカラー表示される特許請求の範囲第2項乃至
第7項記載のマルチカラーX線CT装置。 (9) 上記エネルギー領域は上記エネルギー別信号が
−に記者領域で概略等しい信号−ノイズ比を持つように
設定された特許請求の範囲第1項乃至第8項記載のマル
チカラーX線CT装置道。 Qtj −、に記エネルギー領域のうちの2つの領域が
ある特定元素の質量吸収係数のエネルギー依存性曲線の
不連続が生じるエネルギーを実質的な境として設定され
る特許請求の範囲第1項乃至第9項記載のマルチカラー
X線CT装置。 (11)、1m記減衰を示すエネルギー別信号を派生す
る過程に上記X線発生手段から発生する上記X線のエネ
ルギー分布を変化させる過程が含まれる特許請求の範囲
第1項乃至第10項記載のマルチカラーX線CT装置。 (功 上記結合を異なった複数の結合の内の1つと切り
換えることが可能なtr+許請求の範囲第2項乃至第1
1項記載のマルチカラーX線CT装置。 ■ 上記エネルギー領域の設定を切り換えることが可能
な特許請求の範囲第1項乃至第12項記載のマルチカラ
ーX線CT装置。
[Scope of Claims] (1) An X-ray generation means and its support means, an inspection object support means, an X-ray detection means and its support means, the X-ray generation means, the inspection object and the X-ray detection means; X-rays emitted from the X-ray generating means along a plurality of substantially straight paths on one or more substantially planes including the object to be examined; means for deriving an energy-specific signal indicating a capital reduction for each of a plurality of energy regions of the line; 1 reconstruction means for reconstructing a number or a plurality of cross-sectional images based on the energy-specific signals; and a reconstruction means for reconstructing a plurality of cross-sectional images. a display means for displaying the image as a composite cross-sectional image showing the object to be inspected. (2) a coupling means for coupling the energy-specific signals together or a coupling means for coupling the cross-sectional images together;
The multi-color X-ray CT apparatus according to claim 1, which includes the combining process. (3) The multicolor X-ray CT apparatus according to claim 1 or 2, wherein the reconstruction process of the reconstruction means is a process that is substantially mathematically equivalent to Radon transformation. (4) The multicolor X-ray CT apparatus according to claim 2 or 3, wherein the combination is a linear combination. (5) Claim 2 in which the above combination includes a nonlinear combination.
3. The multicolor X-ray CT apparatus according to item 3. (6) The multicolor X-ray CT apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the reconstruction means includes one circuit that processes the energy-specific signal or a plurality of combined energy-specific signals according to time. . (7) The multicolor X-ray CT apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein the reconstruction means includes a plurality of circuits that process the energy-specific signals or a plurality of combined energy-specific signals in parallel. (8) Claims 2 to 7, wherein the means for combining the cross-sectional images includes means for combining each cross-sectional image with a different color corresponding to each other, and the composite cross-sectional image is displayed in color. The multicolor X-ray CT device described. (9) The multicolor X-ray CT apparatus according to any one of claims 1 to 8, wherein the energy region is set such that the energy-specific signals have a signal-to-noise ratio approximately equal to - in the reporter region. . Claims 1 to 4 set the energy at which the discontinuity of the energy dependence curve of the mass absorption coefficient of a certain element occurs in two of the energy regions set forth in Qtj - as a practical boundary. The multicolor X-ray CT apparatus according to item 9. (11) Claims 1 to 10 include a step of changing the energy distribution of the X-rays generated from the X-ray generating means in the step of deriving energy-specific signals indicating 1 m attenuation. multi-color X-ray CT device. (The above combination can be switched to one of a plurality of different combinations.) +Claims 2 to 1
The multicolor X-ray CT device according to item 1. (2) A multicolor X-ray CT apparatus according to any one of claims 1 to 12, which is capable of switching the setting of the energy range.
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