JPS6069532A - Indentation hardness tester - Google Patents

Indentation hardness tester

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JPS6069532A
JPS6069532A JP17778383A JP17778383A JPS6069532A JP S6069532 A JPS6069532 A JP S6069532A JP 17778383 A JP17778383 A JP 17778383A JP 17778383 A JP17778383 A JP 17778383A JP S6069532 A JPS6069532 A JP S6069532A
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福元 巳年
Sadao Yamatsuta
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Matsuzawa Seiki KK
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Abstract

PURPOSE:To obtain length signals of the 1st and the 2nd diagonals of an indentation given to a sample by using a linear scanning image pickup device to makes a linear scan on the indentation and pick up its image. CONSTITUTION:Light from a light source 44 is made incident to the sample 2 mounted on a sample placing table 1 through the lens 45 provided in a cylinder 42, the half-mirror provided in a cylinder 41, and the lens 47 provided in the cylinder 41. Its reflected light is made incident to the linear scanning image pickup device 21. Solid-state image pickup elements are arrayed linearly in a line on the reverse surface of a movable board 22 so that the array line passes the axis (a) of a holding base 23 and coincides with a line c-c crossing a line b-b at right angles. The linear scanning image pickup device 21 is driven and controlled with pulses from a clock pulse generating circuit 50. Then, the linear image pickup device 21 makes the linear scan on the indentation 3 of the sample and picks up its image in an in-focus state.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、金属材料などの試料に、圧子を押込んで、そ
の試料に四角錐状または球状の圧痕を付し、その圧痕が
4角鉗状である場合、その圧痕の第1及び第2の対角線
の長さを測定し、その第1及び第2のス・1角線の長さ
から、試わ1の硬度を測定し、また、圧線が球状である
場合、その圧痕の直径を測定し、その直径から、試わl
の硬度を測定づる押込型砂Iα訓に関する。
Detailed Description of the Invention The present invention applies an indenter to a sample such as a metal material to make a square pyramid-shaped or spherical indentation on the sample. Measure the lengths of the first and second diagonal lines, and measure the hardness of test 1 from the lengths of the first and second square lines. Also, if the pressure line is spherical, , measure the diameter of the indentation, and from that diameter, try l
This paper relates to the method for measuring the hardness of indented sand Iα.

このようイf押込型硬度d1において、従来、試料にイ
リされた四角錐状の圧力」を、走査元像装四を用い−(
走査層像し、その層像出力から、圧痕の第1及びズj2
の対角線の長さを表わしている第1及び第2の対角線長
さ信号を得、その第1及び第2の対角線長さ1を月から
、試atの硬1文を表わしている硬度信号を得るにうに
なされた構成のものが提案されている。
In this way, when the indentation type hardness d1 is applied, a square pyramid-shaped pressure that is conventionally applied to the sample is applied using the scanning source imager 4.
Scan the layer image, and from the layer image output, the first and second indentation j2
Obtain first and second diagonal length signals representing the length of the diagonal of A specially designed structure has been proposed.

然しなから、このような構成を有づる従来の押込型硬度
J1にa3いては、走査撮像装置として、圧痕の全域を
二次元的に、走査liQ像することがCさる祝着、大型
、高価なものを用いる必要があったり、走査1最像装置
の銀像出力から、第1及び第2の対角線長さ信号を得る
ための構成が、きわめて複■であったり、第1及び第2
の対角線長さ信シ〕を得るまでに、比較的長い時間を必
要どしたりする欠点をイjしていた。
However, with the conventional indentation type hardness J1 and A3 having such a configuration, it is difficult to scan the entire area of the indentation two-dimensionally as a scanning imaging device. The configuration for obtaining the first and second diagonal length signals from the silver image output of the first scanning imager may be extremely complex, or the first and second
It has the disadvantage that it takes a relatively long time to obtain the diagonal length information.

J、つ(、本発明は、上述した欠点のない、新規な1(
11込を硬度計を提案せlυとづるもので、以下詳述り
るどころから明らかとなるであろう。
J, one (, the present invention is a novel one (
11 is proposed as a hardness tester and is spelled lυ, which will become clear from the detailed explanation below.

第1図及び第2図は、本発明による押込型砂I衰itの
機械的構成の一例を示し、上下に昇降自在な試料載置台
1を有する。
FIGS. 1 and 2 show an example of the mechanical configuration of a push-in sand I-destructor according to the present invention, which has a sample mounting table 1 that can be moved up and down.

この試料載置台1は、通常の押込型硬度計【こみられる
ど同様に、試13I2を載置し、その試料2に圧子(図
示ゼず)を押込んで、その試料2に、第3図に示すよう
な、4角錐状の圧痕3を付りために用いられる。
This sample mounting table 1 is used in the same way as a normal push-in type hardness tester (Fig. 3). It is used to make a four-sided pyramid-shaped indentation 3 as shown.

試料載置台1は、次に述べる構成によって、上昇し、ま
た、下降するようになされている。
The sample mounting table 1 is configured to be raised and lowered by the configuration described below.

即ち、基台4上に筒体5が固定して配され、その筒体5
内に、上述した試料載置台1を遊端に取付けた筒体6が
上下に昇降自在に内装されている。この場合、筒体6の
内部内周面には母[7が付されている。一方、基台4に
、上)ホした筒体6の母vA7と螺合し、且つ遊端に歯
車8を取付けている螺軸9が枢着されている。また、基
台4にモータ10が取イ」りられ、その回転軸11が、
それに取付けた歯車12、基台4に枢着した歯車13、
上)ボした螺@9に取(”J 4:tられた歯車8を介
して、螺軸9に連結され℃いる。
That is, the cylindrical body 5 is fixedly arranged on the base 4, and the cylindrical body 5
Inside, a cylindrical body 6 with the above-mentioned sample mounting table 1 attached to its free end is housed so as to be movable up and down. In this case, a base [7 is attached to the inner peripheral surface of the cylinder 6. On the other hand, a screw shaft 9 is pivotally attached to the base 4, and is screwed into the base vA7 of the cylinder 6 (above), and has a gear 8 attached to its free end. Also, a motor 10 is mounted on the base 4, and its rotating shaft 11 is
A gear 12 attached to it, a gear 13 pivoted to the base 4,
Top) It is connected to the screw shaft 9 via the bored screw @9 and the screwed gear 8.

よって、−ヒータ10を順方向に回転駆動させれば、螺
l1119が順方向に回転し、これに応じて、筒体6が
上荷し、従って、試料載置台1が上昇する。また、モー
タ10を逆方向に回転駆動さければ、螺軸9が逆方向に
回転し、これに応じて、筒体6が下降し、従って、試料
載置台1が下降りる。
Therefore, when the heater 10 is rotated in the forward direction, the screw 1119 is rotated in the forward direction, and accordingly, the cylindrical body 6 is loaded and the sample mounting table 1 is raised. Furthermore, when the motor 10 is driven to rotate in the opposite direction, the screw shaft 9 rotates in the opposite direction, and accordingly, the cylinder 6 descends, and therefore the sample mounting table 1 descends.

また、本発明による押込型硬度計の一例は、蹟像装置菰
架体20を有する。
Further, an example of the push-in type hardness tester according to the present invention includes an imaging device body 20.

この撮像装置装架体20は、−次元走査撮像装置21を
装架している可動盤22と、この可動盤22を可動自在
に装架している保持体23とを有する。
The imaging device mounting body 20 includes a movable platen 22 on which the -dimensional scanning imaging device 21 is mounted, and a holder 23 on which the movable platen 22 is movably mounted.

保持体23は、筒部24と、その、ト端部からこれと一
体に輻方向に外方に延長している環部25ど、イの環部
25の外周部からこれと一体に上方に延長している筒部
26と、その筒部26の上端部からこれど一体に輻方向
に内方に延長している板部27とを有する。この場合、
板部27には、スリット29が設けられている。
The holder 23 includes a cylindrical portion 24, an annular portion 25 integrally extending outward in the radial direction from the cylindrical portion 24, and an annular portion 25 integrally extending upwardly from the outer periphery of the cylindrical portion 25 from the outer peripheral portion of the cylindrical portion 24. It has an extending cylindrical portion 26 and a plate portion 27 that integrally extends inward in the radial direction from the upper end of the cylindrical portion 26. in this case,
A slit 29 is provided in the plate portion 27.

このような保持体23は、その筒部24内に、後述する
筒体41の上端部を嵌挿し、また、筒部24の下端面を
、筒体41の外周部からこれと一体に輻方向に外方に延
長している環部42に受すさせた状態で、筒体41の周
りに、適当な固定手段(図示せず)を用いて固定して配
されている。
In the holder 23, the upper end of a cylindrical body 41 (described later) is fitted into the cylindrical part 24, and the lower end surface of the cylindrical part 24 is integrally moved from the outer periphery of the cylindrical body 41 in the radial direction. It is fixedly disposed around the cylindrical body 41 using suitable fixing means (not shown) while being received in a ring portion 42 extending outwardly.

また、上述した可動m 22 L、L、上述した保持体
23の環部25及び板部27間で、保持体23の軸aを
通ってこれと直交づ゛る線b−,t+に治って、可動自
在に配されている。
Moreover, between the movable m 22 L and L mentioned above, the ring part 25 and the plate part 27 of the holding body 23, lines b- and t+ passing through the axis a of the holding body 23 and perpendicular thereto are formed. , arranged in a movable manner.

また、可動盤22には、その−L部に、これと一体に、
杆33が取付けられている。この斗−[33は、上述し
た保持体23の板部27に設(〕られたスリット29内
を通って、上外方に延長している。また、杆33の遊端
には、上述した保持体23の軸aと直交づる面内のl5
ill)−11と平行な線上に延長している母螺34か
設(すられている。
In addition, the movable platen 22 has, at its -L section, integrally with this,
A rod 33 is attached. This lever 33 passes through a slit 29 provided in the plate portion 27 of the holder 23 and extends upward and outward. l5 in a plane perpendicular to the axis a of the holding body 23
A lead screw 34 extending on a line parallel to ill)-11 is provided.

−h、上述しl〔保持体23の板部27上に、モータ3
5が取(=Jけられ、その回転軸36に、ト)ボした杆
33に設【ノられた母螺34ど螺合する、螺子37が(
=Jされている。
-h, as mentioned above, the motor 3 is placed on the plate portion 27 of the holder 23.
5 is removed (=J), and the screw 37, which is screwed into the center screw 34 installed in the bolt 33, is attached to the rotating shaft 36.
=J has been done.

よって、七−夕35を順方向に回転駆動さUれば、可動
qra 22が、上述した保持体23の軸aと直交りる
線1)−1]に冶−)−C第1の方向に移動し、また、
モータ35を逆方向に回転駆動さlれば、可動盤22が
、保持体23の軸aと直交づる線1)−すに沿って第1
のIj向とは逆の第2の方向に移動り−る。
Therefore, if the Tanabata 35 is rotationally driven in the forward direction, the movable QRA 22 will move along the line 1)-1] perpendicular to the axis a of the holder 23 in the first direction. and also,
When the motor 35 is driven to rotate in the opposite direction, the movable platen 22 rotates along the line 1) perpendicular to the axis a of the holder 23.
It moves in a second direction opposite to the Ij direction.

さらに、上述した一次元走査1最像装置21は、第5図
と共に参照して明らかなように、多数(2n −1−1
)個の固体1般IgI索了(光電変換素子)L:n’+
、「(1,1−+)’、−−−1三+’、Lo、E1、
E、・・・・・・・・・[,1を、電気的に順次直列に
接続して、−次元的に一線上に配列している構成を右づ
る。
Furthermore, as will be clear with reference to FIG.
) solid state IgI detection (photoelectric conversion element) L: n'+
, "(1,1-+)', ---13+', Lo, E1,
E, .

このような−次元走査1jd像装@21は、第2図を参
照して明らかなように、」上述した可動盤22の下面に
、固体撤像素了IE IT′〜E1′。
As is clear with reference to FIG. 2, such a -dimensional scanning 1jd imaging device @21 has solid image removal elements IE IT' to E1' on the lower surface of the above-mentioned movable plate 22.

EO、E+〜E nを一次元的に一線上に配列している
、その配列線が、保持体23の軸aを通り、且つ保持体
23の軸J1に治う方向からみ(、上述した線b−bと
直交づる線C−Cと一致づるように、設りられている。
EO, E+ to En are arranged one-dimensionally on a line, and the arrangement line passes through the axis a of the holder 23 and aligns with the axis J1 of the holder 23 (see the above-mentioned line). It is arranged so as to coincide with the line C-C which is perpendicular to bb.

一方、上述した基台4に、支持体40が設(]られ、そ
の保持体40に、上述した筒体41が取イリけられてい
る。
On the other hand, a support body 40 is provided on the base 4 described above, and the cylinder body 41 described above is removed from the holder 40.

この筒体41は、その軸(jがJ=iボした試y8I載
置台1の上下の冒降方向に延長づるように、旧つ一端が
試料載置台1と対向JるJ:うに、支j!J体40に数
句りられている。
This cylindrical body 41 has one end facing the sample mounting table 1 so that its axis (J = i) extends in the vertical direction of the mounting table 1. j! There are several words written in J type 40.

また、筒体41には、これと一体に輻方向に外方に延長
している片板42が取イ」りられてい。
Further, the cylindrical body 41 is integrally provided with a piece plate 42 that extends outward in the radial direction.

る。Ru.

然して、筒体41及び片板42か、上述した保持体23
を、その筒部24内に、筒体41を嵌挿し、また回動盤
23の筒部2/Iの下端面を、片板42に受すさせた状
態で、固定して、装架している。従って、上述した保持
体23の軸aが、筒体711の軸dと一致している。
Therefore, the cylindrical body 41 and the plate 42 or the above-mentioned holder 23
The cylinder body 41 is fitted into the cylinder part 24, and the lower end surface of the cylinder part 2/I of the rotary plate 23 is fixed and mounted with the plate 42 receiving it. ing. Therefore, the axis a of the holding body 23 described above coincides with the axis d of the cylindrical body 711.

また、筒体41に、その側方から、これと連通している
筒体713が取(=Juられ、その筒体43内に、光源
44が配されている。
Further, a cylindrical body 713 communicating with the cylindrical body 41 is attached to the cylindrical body 41 from the side thereof, and a light source 44 is disposed within the cylindrical body 43.

然して、その光源44からの光を、筒体42内に設(]
たレンズ45、筒体41内に設けたハーフミラ−/16
、筒体41内に設けたレンズ47を介して、試オ゛」載
置台1上に載置された試料2に入用さけ、τした、その
反射光を、レンズ47、ハーフミラ−/16を介して、
−次元走査搬fΦに買21に入QJ b けるように構
成され°C−いる。
However, the light from the light source 44 is placed inside the cylindrical body 42.
A half mirror/16 provided in the cylindrical body 41
The reflected light is transmitted through the lens 47 provided in the cylinder body 41 to the sample 2 placed on the sample mounting table 1. Through,
- It is configured so that QJ b can be input to the 21-dimensional scanning transport fΦ.

jズ上にて、本発明にJ:る押込型硬度計の機械的41
11成の、−例が明らかどなった。
J: Mechanical 41 of the indentation type hardness tester according to the present invention
11, - an example clearly caused a roar.

次に、第5図を伴なっ゛C1上述した機械的構成を右1
ノる本発明による押込型硬度計の電気的構成の一例を、
その動作と共に述べよう。
Next, with reference to FIG.
An example of the electrical configuration of the push-in hardness tester according to the present invention is as follows:
Let me explain it along with its operation.

上述したように、光源44がらの光が、レンズ45、ハ
ーフミラ−46、レンズ47を介して、試料2に入射し
、その反射光が、レンズ47、ハーフミラ−46を介し
て、−次元走査撮像装置21に入射することによって、
その−次元走査撮像装置f121から、試料を一次元的
に走査搬像した、撮像出力(これを一般的にSと覆る)
が得られる。
As described above, the light from the light source 44 enters the sample 2 via the lens 45, the half mirror 46, and the lens 47, and the reflected light passes through the lens 47 and the half mirror 46 to perform -dimensional scanning imaging. By entering the device 21,
Imaging output (generally referred to as S) that scans and images the sample one-dimensionally from the -dimensional scanning imaging device f121
is obtained.

この場合、−次元走査1最像装置21は、第5図に示1
ように、クロックパルス発生回路50からの、第4図B
に示ツ」:うなりロックパルスCPによって、駆動制御
されている。
In this case, the -dimensional scanning 1 imaging device 21 is shown in FIG.
As shown in FIG. 4B from the clock pulse generation circuit 50,
”: The drive is controlled by the beat lock pulse CP.

どころで、−次元走査撮像装置21は、前述したように
、多数の固体1最像索子E 、、 ’ 、 E(、。
By the way, as described above, the -dimensional scanning imaging device 21 has a large number of solid-state image elements E,,',E(,.

−、)l ・・・・・・・・・E+ ’ 、E。、E+
 、E+ ・・・・・・・・・Enを、電気的に順次直
列に接続して、上述した線C−C上に一線上に、−次元
的に配列している構成を有づる。
-,)l......E+',E. ,E+
, E+ .

従って、撮像出力Sは、固体yd像索子[11’+E(
n−+)’ −−−E+ ’ 、FD 、[+ 、E+
 −・・・・・・E nでそれぞれ得られる光電変換出
力が、−次元走査撮像装置21の走査毎に、一般に、S
n’ 、5(n−Q’ −−−8z ’ 、So 、S
l、S2・・・・・・・・・S nとして、順次骨られ
るものとして、得られる。
Therefore, the imaging output S is the solid-state yd image probe [11'+E(
n-+)'---E+', FD, [+, E+
-...E The photoelectric conversion outputs obtained at each of E n are generally S
n', 5(n-Q'---8z', So, S
l, S2...Sn are obtained as those that are sequentially boned.

今、試料載置台1上の試料2に付された、第3図に示す
四角錐状の圧痕3の、試料2の表面を含む平面上でみた
、相対向する点PX及びPX′を結ぶ対角線(これを第
1の対角線とする)を含んで延長している線を、第4図
Aに示すように、LXo とし、また、他の相対向する
点PY及びPY’を結ぶ対角線(これを第2の対角線ど
づ−る)を含んで延長している線を、LYOどりる。さ
らに、線LX、と1fALY’flとの交点をOどJる
Now, a diagonal line connecting opposite points PX and PX' of the quadrangular pyramid-shaped indentation 3 shown in FIG. As shown in Fig. 4A, the line extending including the first diagonal line is LXo, and the diagonal line connecting the other opposing points PY and PY' Draw the line that includes and extends the second diagonal line. Furthermore, the intersection point of the line LX and 1fALY'fl is moved.

J:た、試わ12の表面を含む平面上でみた、線LXO
とFlz行に、線LXOから、IQ L X o と直
交りる方向に、点PY側に向って、上述した第2の対角
線の長さくこれをびNYとする)に比し小なる幅fの1
/2、即ちf/2)の幅をとった範囲まで、順次等間隔
eをとって延長している複数m本の線を、第4図Aに示
すように、LX+ 、LX+ 、・・・・・・・・・L
Xmとする。さらに、線LXOと平行に、線LXoがら
、線LXo と直交する方向に、点PY’側に向って、
上述した幅f/2をとった範囲まで、順次等間隔0をと
って延長している複数m本の線を、LX1′。
J: The line LXO seen on the plane containing the surface of 12
and in the Flz line, from the line LXO in the direction orthogonal to IQ L 1
As shown in FIG.・・・・・・L
Let it be Xm. Further, parallel to the line LXO, in a direction perpendicular to the line LXo, toward the point PY' side,
LX1' is a plurality of m lines extending sequentially at equal intervals of 0 up to the range having the above-mentioned width f/2.

LX+ ’ 、・・・・・・・・・Lx、11′ とす
る。
LX+',......Lx, 11'.

また、試料載置台1上の試F42に付された、圧痕3の
試料2の表面を含む平面上でみた、点PYを通る線LY
、と垂直な線をLXUo とし、また、点PY’を通る
線LYOと垂心な線をLX D o とする。
In addition, a line LY passing through the point PY, seen on a plane including the surface of the sample 2 of the indentation 3, attached to the sample F42 on the sample mounting table 1
, and a line perpendicular to the line LYO passing through point PY' is LXD o.

また、filL X’ U 、と平行に、FAL X 
LJ aがら、点PY’側に向って、第2の対角線の長
さに比し小なる幅111をとった範囲まで、順次上述し
た間隔eをとって延長している複数0本の線を、第4図
Aに示すようにLXUI ’ 、LXLh ’・・・・
・・・・・LXLI、’ とする。さらに、線L X 
IJ aと平行に、線LXUOから、点PY’側とは反
対側に向って、上述した幅1)1と等しいがぞれに比し
小なる幅h 2をとった範囲まぐ、順次上述した間隔e
をとって延長している複数q本の線を、第4図Aに示す
ように、LXUI 、LXIノ、・・・・・・・・・L
 X Uqとす゛る。
Also, in parallel to filL X' U, FAL
From LJ a, towards the point PY' side, a plurality of 0 lines are extended sequentially at the above-mentioned interval e to a range with a width 111 smaller than the length of the second diagonal line. , LXUI', LXLh', etc. as shown in FIG. 4A.
...LXLI,'. Furthermore, line L
Parallel to IJ a, from the line LXUO toward the side opposite to the point PY' side, the above-mentioned width 1) is a range with a width h2 equal to 1 but smaller than each of the above-mentioned widths. Interval e
As shown in Figure 4A, a plurality of q lines extending by taking .
X Uq and ゛.

さらに、線L X D o と平行に、線LXDOから
、点PY側に向って、上述した幅111をとった範囲ま
で、順次上述した間隔eをとって延長している複数1)
本の線を、第4図Δに示1よう1: L X D + 
、 L X D+ −−−L X Dp :、A’ル、
−また、線L X D o と平行に、線L ’X D
 oから、点PY側とは反対側に向って、上述した幅h
2を・と−)だ範囲まで、順次上述した間隔Cをとって
延長している複数q本の線を、第4図Aに示1− J、
ウニ、I−XD+ ’ 、LXD+ ’ −−−LXD
qどづる。
Further, in parallel with the line L
The lines of the book are shown in Figure 4 Δ1: L X D +
, L X D+ ---L X Dp:, A'le,
-Also, parallel to the line L X D o, the line L'X D
From o toward the side opposite to the point PY side, the above-mentioned width h
Figure 4A shows a plurality of q lines extending sequentially at the above-mentioned intervals C up to a range of 1-J,
Sea urchin, I-XD+', LXD+' ---LXD
q Dozuru.

しかしス、試料載置台1上に載置された試料2上の、上
述したFillXaが、上述した保持体23の軸0に沿
う方向、従って上述した筒体41の軸dに沿う方向から
みて、上述した一次元走査1最tgA装置21の固体撮
像素子E1、′〜E+”、Eo 、E+ 〜Enの、上
述した配列線C−Cと平行であり、且つその配列線C−
Cと略々一致しているように、試料載置台1上に、試料
2が、予め位置調整されて載置されているものとする。
However, the above-mentioned FillXa on the sample 2 placed on the sample mounting table 1 is viewed from the direction along the axis 0 of the above-mentioned holder 23, and therefore from the direction along the above-mentioned axis d of the cylinder 41, The solid-state image sensing elements E1, '~E+'', Eo, E+~En of the one-dimensional scanning 1st tgA device 21 are parallel to the array line C-C, and the array line C-
It is assumed that the sample 2 is placed on the sample mounting table 1 with its position adjusted in advance so as to substantially coincide with C.

また、保持体23と試料載置台1とが、−次元撮像装置
21が試料2の圧痕3を合焦点状態で、−次元走査m像
する、相対的位置(これを合焦点位置と称す)よりも、
下降している相対的位置(これを基準位置と称゛す゛)
にあるものとする。
Further, the holder 23 and the sample mounting table 1 are located at a relative position (this is referred to as a focused position) where the -dimensional imaging device 21 performs a -dimensional scanning m image of the indentation 3 of the sample 2 in a focused state. too,
Relative position that is descending (this is called the reference position)
It shall be assumed that

然るときは、上述した一次元走査鞄像装置21から、そ
の走査毎に得られるml像出力Sを構成している、出力
S n ’ 〜St ’ + So + S+〜Snが
、第4図Cに示tJ、′)に、得られる。
In such a case, the outputs S n ′ to St ′ + So + S+ to Sn, which constitute the ml image output S obtained from the one-dimensional scanning bag imaging device 21 for each scan, are shown in FIG. tJ,′) shown in C is obtained.

即ち、例えば出力811′〜・S(o −2)’ と、
出ノ〕S□−2〜Snとが略々同一レベルをとり、出力
Sn−+ ’ 〜S+ ’ 、80 、S+ 〜5(n
−I)が、出力Sn′〜5(n−2)′及びS(n −
+l 〜Snに比し小なるレベルをとるも、出力S(n
 −2)′へ・31′ 中の、出力S(u −+) ’
の近傍の出力S(n −3)’ 、 S(n −hl 
’−・=−が、出)rSn−2′のレベルから順次小な
るレベルをとり、また、出力S(n −1)〜S1中の
、出力S(n −r)の近傍の出力5(11−3)、5
(11−1)・・・・・・・・・が、出力S(ロー +
)のレベルから、順次小なるレベルをとって1qられる
That is, for example, the output 811'~·S(o −2)',
Output] S□-2 to Sn take almost the same level, and the output Sn-+' to S+', 80, S+ to 5(n
-I) is the output Sn'~5(n-2)' and S(n -
+l ~ Although it takes a small level compared to Sn, the output S(n
-2)' to 31', output S(u -+)'
The outputs in the vicinity of S(n -3)', S(n -hl
'-・=- takes on successively smaller levels from the level of output) rSn-2', and output 5( 11-3), 5
(11-1)...... is the output S (low +
), successively smaller levels are taken to obtain 1q.

この場合、出力Sn ’ 〜S(n −+)’及びS 
(、。
In this case, the outputs Sn' ~ S(n - +)' and S
(,.

−2)〜S 11が略々同一レベルをとっているのは、
それ等出力S 11′〜S(t、−7)′及びS(n 
−+)へ・S nが試料2の、上述した線1−X0上の
点PX′及びP X外の領域を、固体撮像素子E11”
〜・E(n −+) ’及びE(n −r)〜E、がl
fl Iiした出力であるからぐある。
-2) ~S 11 are almost at the same level because
Their outputs S 11' to S(t, -7)' and S(n
-+) to the solid-state image sensor E11''.
〜・E(n −+)′ and E(n −r)〜E, are l
This is the output of fl Ii.

よlζ1.出力S(n −1)’ 、 S(。−+1’
、S(。−4)′ ・・・・・・・・・が、順次小なる
レベルをとり、また出力S(n −1)、 S(n −
、)、 S(n −+) 、 ’・’ ・’・”’が、
順次小りるレベルをどっているのは、出ノl5(n−+
)’ + S(n −1)’ S(n −h)’ 、−
−−が、圧痕3の、上方からみて線LXOに治った、点
PX′の近傍の傾斜領域を、固体撮像素子E(n −1
)’ 、E(n−+)’ 、 E(。−1)′ ・・・
・・・・・・が撮像した出力であり、また、出力S(。
Yolζ1. Output S(n -1)', S(.-+1'
, S(.-4)' . . . take on successively smaller levels, and the outputs S(n - 1), S(n -
, ), S(n −+) , '・'・'・”' is,
The level that goes down sequentially is output l5(n-+
)' + S(n -1)' S(n -h)' , -
-- is the solid-state image sensor E(n -1
)', E(n-+)', E(.-1)'...
. . . is the output of the imaged image, and the output S(.

−2)、 S(n −+) 。-2), S(n-+).

S(n = 1)・・・・・・・・・が、圧痕3の、上
方からみて線LXoに治った、点PXの近傍の傾斜領域
を、固体撮像素子E(n −+) 、 E(n −r)
、 E(n −t) ”’・・・・・・が撮像した出力
であるからである。
S (n = 1) ...... solid-state image sensor E (n - +), E (n − r)
, E(n-t)''... is the output of the imaged image.

なお、上述したように、上)ボした線LXoが、−次元
走査撮像装置21の固体撮像索子E1.′〜E+ ’ 
、Eo 、E+ 〜E11の、上述した配列線C−Cと
平行であり、且つその配列線C−Cと略々一致している
ように、試料載置台1上に試料2が載置されているが、
保持体23と試料載置台1とが、相対的に、上述した合
焦点位置にあるとづれば、−次元走査撮像装置21から
、その走査毎に得られる、上述した出力811′〜S+
 ’ 、So 、St 〜S+1が、第4図Cで上述し
たと同様に得られるが、この場合は、出力Sn ’ 〜
S+ ’ + So + Si ”Sn ’が、第4図
りに承りように、保持体23と試料載置台1との相対位
置が上述した基準位置にある場合に比し、人なるレベル
で1!7られ、また、上述した出力5(n−+)’ 、
 5(n−i)’ 、 5(n−+1’ ””=”’が
順次小になる変化率と、出力S(n −r)、 5(n
−+) 、 S(n −i)・・・・・・・・・が順次
小になる変化率とが、共に、第4図りに示TJJ、うに
、保持体23と試料載置台1どの相対位置が、上述した
基準位置にある場合に比し、人で1qられるものである
Note that, as described above, the hollow line LXo (above) indicates the solid-state imaging probe E1. of the -dimensional scanning imaging device 21. '~E+'
, Eo, E+ to E11, the sample 2 is placed on the sample mounting table 1 so as to be parallel to and approximately coincident with the above-mentioned arrangement line C-C. There are, but
If the holder 23 and the sample mounting table 1 are relatively at the focused position described above, the above-mentioned outputs 811' to S+ obtained from the -dimensional scanning imaging device 21 for each scan are obtained.
' , So , St ~S+1 are obtained in the same way as described above in FIG. 4C, but in this case the outputs Sn ' ~
As shown in the fourth diagram, S+ ' + So + Si "Sn ' is 1!7 at a human level compared to the case where the relative position of the holder 23 and the sample mounting table 1 is at the above-mentioned reference position. and the above-mentioned output 5(n-+)',
5(n-i)', 5(n-+1'``''=''' becomes smaller sequentially, and the output S(n - r), 5(n
-+), S(n -i)...... are shown in the fourth diagram, depending on the relative relationship between the holder 23 and the sample mounting table 1. Compared to the case where the position is at the above-mentioned reference position, the position is increased by 1q per person.

一次元走査撮像装置21から、その走査毎に、−F述し
た出力S。′〜S+ ’ 、So 、Sz〜S1、の順
次の配列C得られる撮像出力Sは、演算処理回路51に
供給される。
From the one-dimensional scanning imaging device 21, for each scan, -F output S is given. The imaging output S obtained from the sequential array C of ' to S+', So, and Sz to S1 is supplied to the arithmetic processing circuit 51.

今−一次元走査撮像装置21から、その走査毎に1!1
ら、れる出力S 、n ’ 〜St ’ * So 、
 Si”□ S uの、ある時貞E1から、11走査回
分、順次前られる出力S。′〜Sz ’ 、So 、S
i 〜S nを、第6図Aに承りように、順次、第1回
目の出力S+n′〜S+1′、S+o+S++〜SIr
、:第2回目の出力S + n ’ 〜S+ + ’ 
+S+ o * St +〜Srn:・・・・・・・・
・第0回目の出力Sun′〜Su + ’ 、 Su 
01 Su + 〜Su□とする。
Now - from the one-dimensional scanning imager 21, for each scan 1!1
, the output S , n ′ ~ St ′ * So ,
Outputs S.'~Sz', So, S of Si''□ S u that are sequentially forwarded for 11 scans from E1 at a certain time.
i to S n, as shown in FIG.
, :2nd output S+n'~S++'
+S+ o * St +~Srn:・・・・・・・・・
・0th output Sun'~Su +', Su
01 Su + ~Su□.

然るとき、上述した演算処理回路51は、第1(i=1
.2・・・・・・・・・U)回目の出力Si 11′〜
S + + ’ ・Sin ・SKI 〜Sinから・
Δ S + n ’ = S i n ’ S i (
+1 − 1) ’ΔS+(n −+)’ =St4n
 −+)’ 5z(n −+)’ΔS i + ’ =
Si I ’ Si fi△S+ + =S+ + S
z O ΔS + l =S+ r S: + へSIn =S+ II −8:(r+ −+)C・族
4ツサレル差出ノJ△S+ n ’ 、Δ5t(n−1
)′ 、・・・・・・・・・△Si 1′ 、△s11
 、△si+ ・・・・・・・・・△S1,1を得、そ
しclそれら差出力へSr n ’ 〜△St t ’
 N △s+ + 〜△Sz n中の最大差出力(これ
を△S1と覆る)を、判断して記憶し、そして、第6図
Bに示すように、正極性のパルス1〕1を出力覆る。
At that time, the above-mentioned arithmetic processing circuit 51 performs the first (i=1
.. 2......U)th output Si 11'~
S + + ' ・Sin ・SKI 〜From Sin・
Δ S + n' = S i n' S i (
+1 − 1) 'ΔS+(n −+)' = St4n
−+)' 5z(n −+)'ΔS i + '=
Si I' Si fi△S+ + =S+ + S
z O ΔS + l =S+ r S: + to SIn =S+ II -8: (r+ -+)
)' , . . . △Si 1' , △s11
, △si+ ...... △S1,1 is obtained, and cl is used as the difference output Sr n ' ~ △St t '
The maximum difference output among N △s+ + ~ △Sz n (this is covered as △S1) is determined and memorized, and as shown in Fig. 6B, the output of the positive polarity pulse 1〕1 is overwritten. .

このようにして、演算処理回路51がら順次11極性の
パルスP+、、p、・・・・・・・・・P、が得られる
In this way, the arithmetic processing circuit 51 sequentially obtains pulses P+, , p, .

これら正極性のパルスP+、P+・・・・・・・・・P
uは、[−全駆動回路52を介して、上述したモータ1
0に1バ給される。
These positive polarity pulses P+, P+...P
u is the motor 1 described above through the [-all drive circuit 52
0 will be given 1 bar.

七−タ゛10は、正極性のパルスP4、Pi ・・・・
・・・・・Puが順次供給される負に、順次、順方向に
スフ゛ツブ回転する。
The seventh circuit 10 has positive polarity pulses P4, Pi...
...Pu is sequentially supplied in the negative direction, and the tube rotates sequentially in the forward direction.

このため、上述した試料載置台1が、上)ボした基準位
置から、ステップ上昇する。
For this reason, the above-mentioned sample mounting table 1 rises step by step from the upwardly bent reference position.

この場合、試料載置台1がステップ上昇し終−)た位置
が、上述した合焦点位置の上方の位置にあるように、上
述した歯車12及び13間の歯車比、歯車13及び8間
の歯車比、上述した螺軸9の螺子及び筒体6の母螺7の
ピッチが選ばれている。
In this case, the gear ratio between the gears 12 and 13 described above is changed so that the position at which the sample mounting table 1 has finished stepping up is above the focused point position described above. The ratio, the pitch of the thread of the screw shaft 9 and the pitch of the main thread 7 of the cylindrical body 6 are selected.

また、演算処理回路51は、上述した正極↑4のパルス
P1〜P、を出力し−I” 4’t、第6図Bに示すよ
うに、(」個の負極性のパルスp、1.・P1′を順次
出力する。
Further, the arithmetic processing circuit 51 outputs the above-mentioned pulses P1 to P of positive polarity ↑4, -I"4't, and as shown in FIG. 6B, (" pulses p of negative polarity, 1. - Output P1' sequentially.

これら負極性のパルス1〕1′ 〜Pu′は、上述した
モータ駆動回路52を介して、モータ10に供給される
These negative pulses 1]1' to Pu' are supplied to the motor 10 via the motor drive circuit 52 described above.

モータ10は、負極性のパルスP+ ’ 、P+′・・
・・・・・・・Pu′が順次供給される毎に、順次、逆
方向にステップ回転覆る。
The motor 10 receives negative polarity pulses P+', P+'...
. . . Each time Pu' is sequentially supplied, the step rotation is reversed in the opposite direction.

このため、これに応じて、上述した試わ1載置台1が、
上述した−にR位置から、ステップ士Rし、よって、試
料載置台1が」−述し/C基準位置に復帰する。
Therefore, in accordance with this, the above-mentioned trial 1 mounting table 1 is
From the above-mentioned -R position, the sample mounting table 1 returns to the -/C reference position.

また、演算処理回路51は、上述した9極性のパルスP
1′〜Pu′を順次出力し終るJ:での間で、またはパ
ルスPu′を出力して後、上)小 し l、: 最 人
ンル出 ツノ △ S 、、 △ S 2 、・・・ 
・・・ ・・・ △ S1中の最大1ii’j (これ
が、最大差出力中の第1番1コの最大差出力△S、であ
るどする)を判別する。
The arithmetic processing circuit 51 also processes the above-mentioned 9-polarity pulse P.
Between J: when outputting pulses 1' to Pu' in sequence, or after outputting pulse Pu', upper) small l,: maximum output horn △ S ,, △ S 2 ,...
. . . Determine the maximum 1ii'j in ΔS1 (this is the maximum differential output ΔS of No. 1 among the maximum differential outputs).

然しで、J7述したパルスPu′を出力して後、1′個
の正極性のパルスP1″〜P7″を出力Jる1、 これら正極性のパルスP1″〜P、″は、モータ駆動回
路52を介して、モータ10に供給さ4Lる。
However, after outputting the pulse Pu' described above, 1' positive pulses P1'' to P7'' are output, and these positive pulses P1'' to P,'' are used by the motor drive circuit 4L is supplied to the motor 10 via 52.

従っ(モータ10が、再度、順方向にスアッー7回転し
、これに応じて、試料載置台1がステップ士f2F シ
、でして、その上胃位置を保つ。
Accordingly, the motor 10 again rotates seven times in the forward direction, and in response, the sample mounting table 1 takes a step f2F and maintains the upper stomach position.

ところで、上述しIC最大差出力△St 、△S7、・
・・・・・・・・ΔSu中の最大差出力△S、は、第4
図りて」−述したところから明らかなように、−次元走
査1iia 4’4’、装置21が、合焦点状態で、試
わ124走査1最像している場合におい(、−次元走査
撮像装置21から、高いレベルで得られる、出力Srn
’ 〜Sr+ ’ 、Sro +、Srl 〜s1゜か
ら得られるものである。
By the way, as mentioned above, the IC maximum difference output △St , △S7, ・
......The maximum difference output ΔS in ΔSu is the fourth
As is clear from the above description, when the device 21 is in the focused state and the 124th scan is the most focused image (, the -dimensional scanning imaging device 21, the output Srn obtained at a high level
'~Sr+', Sro+, Srl~s1°.

また、上述した最大差出力△S+ 、△S7、・・・・
・・・・・ΔSu中の、最大差出力△ST以外の最大差
出力は、第4図Cで上述したところから明らかなように
、−次元走査VQ l!1;I装置21が、非合焦点状
態で、試料2を走査撮像し−Cいる場合において、−次
元走査撮像装置21から、低いレベルで得られる出ツノ
から1qられるものCある。
In addition, the maximum difference output △S+, △S7, etc. mentioned above
...The maximum difference output other than the maximum difference output ΔST in ΔSu is the -dimensional scan VQ l!, as is clear from the above description in FIG. 4C. 1; When the I device 21 scans and images the sample 2 in an out-of-focus state, there is 1q C that can be obtained from the output horn obtained at a low level from the -dimensional scanning image pickup device 21.

従って、上述したパルス[、)1″〜Pr″に基ずき、
試料台1が、上述したようにステップ上昇した位置は、
−次元走査1根像装置21が、合焦点状態で、試料2を
走査i[1*シている、上述した合焦点位置である。
Therefore, based on the pulses [,)1'' to Pr'' mentioned above,
The position where the sample stage 1 is raised stepwise as described above is
- Dimensional scanning 1 The root image device 21 is scanning the sample 2 i[1* in a focused state, which is the above-mentioned focused point position.

よって、試わ1台1が、合焦点位置を保つ−C後、−次
元走査撮像装置21から得られるll1i像出力Sは、
高いレベルで得られる。
Therefore, after the trial unit 1 maintains the in-focus position -C, the ll1i image output S obtained from the -dimensional scanning imaging device 21 is:
obtained at a high level.

以上のようにして、試料台1が合焦点位置を保って後、
演算処理回路51は、m飼の負極性パルスG1+ 〜G
 1 inを出力する。
After the sample stage 1 maintains the in-focus position as described above,
The arithmetic processing circuit 51 generates negative polarity pulses G1+ to G
Outputs 1 in.

これら111個の負極性パルスG 1 +〜G1□は、
七−タ駆動回路53を介して、上述したモータ35に供
給される。
These 111 negative polarity pulses G 1 + to G1□ are
It is supplied to the motor 35 mentioned above via the seven-star drive circuit 53.

′し一タ35は、パルスG1+、G1+・・・・・・・
・・G 1 m lfi 宥られる旬に順次順方向にス
テップ回転りる。これに応じて、−し述した可!、+1
盤22が、上述したl!JIb−bに治って、上述した
線LX。
'Shitata 35 is pulse G1+, G1+...
...G 1 m lfi Step rotation in the forward direction one after another when it is calmed down. In response to this, I have stated - ,+1
Board 22 is the above-mentioned l! Cured to JIb-b, line LX mentioned above.

′側に向って順次ステップ移動リ−る。この場合、モー
タ35の回転軸3Gに何された螺子37及びiiJ動盤
22の杆33の母螺34のピッチが、jilす+a82
2が順次上述しに間隔eづつステップ移動リ−るように
選ばれ“Cいる。
Move sequentially towards the ' side. In this case, the pitch of the screw 37 attached to the rotating shaft 3G of the motor 35 and the main screw 34 of the rod 33 of the iiJ moving platen 22 is jil+a82
2 are sequentially selected to move stepwise by intervals e as described above.

j:っで、試料2上の上述した線LX、l+’ が、上
述した固体撮像素子[1,′〜E+ ’ N EOlに
1〜Fnの配列線C−Cと平行であり、且つて−の配線
’c−cど略々一致している関係が得られる。
j: So, the above-mentioned line LX,l+' on the sample 2 is parallel to the arrangement line C-C of the above-mentioned solid-state image sensor [1,'-E+'N EOl and 1-Fn, and - A relationship is obtained in which the wiring 'c-c' approximately match.

今述べたまうに、試!”l 2 J−の上述した線1−
 X、′が、上述した配列線C7Cと略々一致している
関係が得られて後の時点t2から、(2m+1)走査回
分、順次行られる、上述した出力Sn’〜St ’ 、
 So 、 S+〜Snを、第7図Aに示すように、第
6図A′C″前述したと同様に、第1回目の出力QXL
m n ’ −□QXLm+ ’ 。
As I just said, try it! “l 2 J-’s above-mentioned line 1-
The above-mentioned outputs Sn' to St' are sequentially performed for (2m+1) scanning times from time t2 after a relationship in which X,' substantially coincides with the above-mentioned array line C7C is obtained.
So, S+ to Sn, as shown in FIG. 7A, as shown in FIG. 6A'C'', the first output QXL
m n ′ −□QXLm+ ′.

QXCmo ’ 、QXRm + ’ ”□QXRT1
111’ :第2回目の出力QXL(m −+1n ’
 〜QXL(m −+)+ ’ 、QXC(vn−+)
a ’ 、QXR(m−+)+ ’〜QXRCm−l)
n ’ :・・・・・・・・・第1回目の出力QXI+
n’〜QXL+ + ’ 、QXC+ 。′、QXR+
 + 〜QXR+ 、’ :第(n++1)回目の出力
QXLo n ”QXLo + 、QXCo a 、Q
XRo I 〜QXRO1:第(Ill−1−2)回目
の出ノIQX L+ n ”QX L+ + 、 QX
C+ 0 、 QXRr + 〜QXR1n :第(m
+3)回目の出力QxL+ n 〜QxL+ + 、Q
XC+ o 、QXRr + 〜Q X R+ n ニ
ー・=−第(2+++−+−1)[i’[lの出力QX
 L+++1+ ”QX L−m + 、 QXCWl
o 。
QXCmo ', QXRm + ' ”□QXRT1
111': Second output QXL(m - +1n'
~QXL(m-+)+', QXC(vn-+)
a', QXR(m-+)+'~QXRCm-l)
n': 1st output QXI+
n'~QXL+ +', QXC+. ', QXR+
+ ~QXR+ ,' :(n++1)th output QXLon ”QXLo + ,QXCo a ,Q
XRo I ~QXRO1: (Ill-1-2)th roll IQX L+ n ”QX L+ + , QX
C+ 0 , QXRr + ~QXR1n :th (m
+3) th output QxL+ n ~QxL+ + , Q
XC+ o , QXRr + ~Q
L+++1+ “QX L−m +, QXCWl
o.

QXRm+ 〜QXRm、、と覆る。QXRm+ ~QXRm,, etc.

然るどき、上述した演咋処理回路51は、」−)ボした
第j’ (j’ =m、(m−1)、・・・・・・・・
・1)回目の出力QXLj 、’ 〜QXLJ I ’
 。
Then, the above-mentioned speech processing circuit 51 executes the j'th j'(j' = m, (m-1), . . .
・1) Second output QXLj,' ~QXLJ I'
.

QXCJO’ 、 QXR; + ’〜QXRJn′を
記憶し、そして、 ΔQXI j 、、’ =QXLJn’QX L、+(
n −+)’ △QXI−,=(n −+)’ =QXL、+(n −
+)’QX L、+(n −+)’ △QXLj l ’ −QXLj l ’−QXCJ0
′ △QXRj l ’−QXlヌjl′ −〇XCJo′ △Q X Rjン’ =QXRj + ’−QXR,+
+’ △QXRj n ’ =QXRj n’−QXR−(n
 −+) ’ で表わされる差出力ΔQXLin’、ΔQXLJ(n 
−、)+ +−・・−+−QXLJI ’ 、△QXR
j+′、ΔQXRJ 2’ ・・・・・・・・・・・・
・・・・・・QXIで44.′を得る。
QXCJO', QXR;
n −+)' △QXI−,=(n −+)′ =QXL, +(n −
+)'QX L, +(n -+)' △QXLj l ' -QXLj l ' - QXCJ0
' △QXRj l '-QXlnujl' - 〇XCJo'△QXRjn' =QXRj + '-QXR, +
+' △QXRj n' =QXRj n'-QXR-(n
-+)', the difference outputs ΔQXLin', ΔQXLJ(n
−, )+ +−・・−+−QXLJI ', △QXR
j+', ΔQXRJ 2' ・・・・・・・・・・・・
...QXI is 44. ′ is obtained.

また、上述した差出力△QXLi + ’〜QXL、。In addition, the above-mentioned differential output ΔQXLi+'~QXL.

′を、それらの順に順次配列記憶づる。′ are sequentially stored in an array in that order.

そして、その配列を、差出力△QXL=+’側から差出
力△QXL、+n’ 側を順次みたときに、正の値での
差出力の複数が順次1qられて後、零の値での差出力が
最初に得られる差出力(これをΔQXLj ’ と覆る
)、の得られる配列上の位置を判別する。
Then, when looking at the array sequentially from the difference output △QXL=+' side to the difference output △QXL, +n' side, after the plurality of difference outputs with positive values are sequentially 1q, the difference output with a value of zero is The position on the array where the difference output (this is overwritten as ΔQXLj') where the difference output is obtained first is determined.

そして、差出力ΔQXLj’ が1qられる配列上の位
置から、差出力ΔQXLJI’ が得らJ′Lる配列位
置までの配列長を表わしてG)る出力(これをWXLJ
’ とする)を記憶する。
Then, output (G) representing the array length from the position on the array where the difference output ΔQXLj' is 1q to the array position J'L where the difference output ΔQXLJI' is obtained (this is written as WXLJ
' ) is memorized.

また、上述した配列を、差出力△QXRJ+’hrtろ
差出力△QXRj、、’側を順次みたときに、同様に、
正の値での差出ツノの複数が順次得られて後、零の値で
の;【出力が最初に得られる差出力(これを△QXRj
 ’ とする)、の得られる配列上の位置を判知する。
Similarly, when looking at the above array in order of difference output △QXRJ+'hrt difference output △QXRj,,',
After a plurality of output horns with positive values are obtained sequentially, the difference output with a value of zero;
' ), determine the position on the resulting array.

そして、差出力△QXRj ’が得られる配列上の位置
から、差出ノj△QXRj I ’が得られる配列上の
位置までの配列長を表わしている出ツノ(これをWXR
j ’ と覆る)を記憶する。
Then, the output corner representing the array length from the position on the array where the difference output △QXRj' is obtained to the position on the array where the difference output
j ').

で]ノて、上述した配列長を表わず出力WXL、′及び
WXR,+’ から、 IVIXJ ’ =WXl−J ’ −+ WXRJ 
’て゛表4つされる出力MXj ’ を得、これを記憶
り−る。ぞしC第7図Bに示すように、パルスト1×、
′を出力づる。
] From the outputs WXL, ′ and WXR, +′, which do not represent the array length mentioned above, IVIXJ ′ = WXl−J ′ −+ WXRJ
Obtain the output MXj which is divided into four tables and store it. As shown in Figure 7B, pulsed 1×,
′ is output.

−した、上達した演算処理回路51は、上述しIC第(
m+1)回目の出力Q X l−On 〜Q X l−
o + 、 QXCo O、QXRo + ”QXRo
 nを記憶し、そして、 ΔQX LO+1=QX LOn −QXLo(n−+1 △QX Lo(、+ −1)−QX l n(n −t
)QX Lo(+1− +) △QXLo + =QXl−o + QXCo OΔQ
XRD I =QXRD l −QXCQ C△ QX
RD r =QXRo y −QXROl△QXROn
 =QXROII −QXRo(n −+)で表わされ
る差出力△QXI−on、△Q X L 0(11−+
)−−−QXLo+ 、△QXRO1,△QXRa r
 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・QXRD、、
を得る。
-, the arithmetic processing circuit 51 which has been improved is the above-mentioned IC number (
m+1)th output Q X l-On ~ Q X l-
o + , QXCo O, QXRo + ”QXRo
Store n, and then ΔQX LO+1=QX LOn −QXLo(n−+1 ΔQX Lo(, + −1)−QX l n(n −t
)QX Lo(+1- +) △QXLo + =QXl-o + QXCo OΔQ
XRD I =QXRD l -QXCQ C△ QX
RD r =QXRo y −QXROl△QXROn
The difference output △QXI-on, △Q
)---QXLo+ , △QXRO1, △QXRa r
・・・・・・・・・・・・・・・・・・QXRD、、
get.

また、上述した差出力ΔQXLOI 〜QXL。。を、
ぞれらの順に順次配列記憶ツる。
Further, the above-mentioned differential output ΔQXLOI to QXL. . of,
The array is stored sequentially in this order.

そして、その配列を、差出力△QXLo+側から差出力
△QXLO11側を順次みたときに、正の値での差出力
の複数が順次得られて後、零の(+0 Cの差出力が最
初に得られる差出力(これを△に) X L Oとする
)の得られる配列上の位置を判別りる。
Then, when looking at the array sequentially from the differential output △QXLo+ side to the differential output △QXLO11 side, after a plurality of differential outputs with positive values are obtained sequentially, the differential output of zero (+0 C is obtained first) Determine the position on the array where the obtained difference output (denote this as Δ) X L O) is obtained.

ぞしで、;9出力△Q X L oが得られる配列上の
位置1)t rら、差出力へ〇XLo + が得られる
配列上までの位置までの配列長を表わしている出力(こ
れをWXL+ とする)を記憶する。
Then, the output representing the array length to the position on the array where the 9 output △Q WXL+) is stored.

また、上述した配列を、差出力△QXRo+から差出力
△QXR,,側を順次みたときに、同様に、正の箭での
差出力の複数が順次得られて1す、零の値での差出力が
最初に得られる差出力(これを△Q X Ro とする
)の得られる配列」二の位「を判知する。
Also, when looking at the above array sequentially from the differential output △QXRo+ to the differential output △QXR,, similarly, multiple differential outputs with positive values are obtained sequentially, and 1 and 0 values are obtained sequentially. Determine the ``seconds place'' of the resulting array of the difference output (which is defined as ΔQ X Ro) where the difference output is obtained first.

そして、差出力△QXRゎが得られる配列上の位置か、
ら、差出力△QXRa、+ が19られる配列−にの位
置;LCの配列長を表わしている出力〈これをW X 
ROどづる)を記憶Jる。
Then, the position on the array where the difference output △QXRゎ can be obtained,
, the position in the array - where the difference output △Q
I remember RO Dozuru).

そしで、−に述した配列長を表わす出力WXLO及びW
XRo hltら、 M X O= W X L O−4−W X ROで表
わされる出力MXOを19、これを記憶する。
Then, the outputs WXLO and W representing the array length mentioned in -
XRohlt et al., the output MXO is 19 and is stored as MXO=WXLO-4-WXRO.

ぞして、第7図Bに示すにうに、パルスl」X 。Therefore, as shown in FIG. 7B, the pulse l'X.

を出力層る。output layer.

さらに、上述した演算処理回路51は、第J(j=1.
2・・・・・・・・・m)回目の出力QXLj。
Furthermore, the above-described arithmetic processing circuit 51 performs the J-th (j=1.
2...m)th output QXLj.

〜QXLj+ 、QXC,+ 0 、QXR= + 〜
QXRjnを記憶し、そして、 ΔQXL、+ n =QX1..= 、、−QXLj(
。−1) △QXL、+(n −+)=QXl−,+(n −+)
QX Lj(n −+1 △QXLJ + =QXLJ+ −QXCJO△QXR
= +−QXR= +−QXC= 。
~QXLj+,QXC,+0,QXR=+~
Store QXRjn, and ΔQXL, + n =QX1. .. = ,,-QXLj(
. −1) △QXL, +(n −+) = QXl−, +(n −+)
QX Lj(n −+1 △QXLJ + =QXLJ+ −QXCJO△QXR
= +-QXR= +-QXC=.

△QXRi r =QXR,+ + QXRJ+△QX
R,t n =QXR; n −Q X Rj (□−1) で表わされる差出力△QXL;n、△QXLj(++ 
−+)・・・・・・・・・QXLJ + 、ΔQXR;
 + 、 △QXRi+ ・・・・・・・・・・・・・
・・・・・QXRj、、を得る。
△QXRi r =QXR, + + QXRJ+△QX
R, t n =QXR; n - Q X Rj (□-1) Difference output △QXL; n, △QXLj (++
-+)...QXLJ +, ΔQXR;
+ , △QXRi+ ・・・・・・・・・・・・・・・
...QXRj, , is obtained.

また、上)ホした差出力ΔQXLJI 〜QXL、11
を、それらの順に順次配列記憶する。
Also, the difference output ΔQXLJI ~QXL, 11
are sequentially arrayed and stored in that order.

ぞして、その配列を、差出力△QXLJ+ 側から差出
力△QXLj、l側を順次みたときに、正の値での差出
力の複数が順次行て後、零の値での差出力がT2初に1
qられるに出力〈これを△QXLj どりる)の得られ
る配列上の位置を判別()る。
Then, when looking at the array sequentially from the differential output △QXLJ+ side to the differential output △QXLj, l side, after multiple differential outputs with positive values are sequentially performed, the differential output with a value of zero is 1 for the first time in T2
Determine the position on the array where q is output (deliver this by △QXLj).

イしC,差出力△Q X L jが得られる配列上の位
置から、;・1′出力△QXI−jl が1′7られる
配り11十のKL iη、IC゛の配列長を表わしてい
る出力(これをW X L j と覆る)を記憶する。
From the position on the array where the difference output △Q Store the output (overwrite this as W X L j ).

また、上述した配列を、差出力△QXRJ +から差出
力△QXR,trt側を順次みたときに、同様に、正の
値での差出力の複数が順次fWられて後、零の値での差
出力が最初に得られる差出力(これをΔQXRj と覆
る)、の百られる配列上の位置を判知する。
Also, when looking at the above array sequentially from the difference output △QXRJ + to the difference output △QXR, trt side, similarly, after the plurality of difference outputs with positive values are sequentially fWed, the difference outputs with a value of zero are The position on the array where the difference output is first obtained (this is covered by ΔQXRj) is determined.

そして、差出力ΔQXRjが得られる配列−[の位置か
ら、差出力△QXR; + が得られる配列上の位置ま
での配列長を表わす出力(これをWXR,とする)を記
@づる。
Then, write an output representing the array length from the position of the array -[ where the difference output ΔQXRj is obtained to the position on the array where the difference output ΔQXR; + is obtained (this is referred to as WXR).

そして、上jボした配列長を表わす出力WXI−j及び
WXRjから、 MXJ =WXLJ+WXRJ で表わされる出力MXj を1q、これを記憶づる。
Then, from the outputs WXI-j and WXRj representing the array lengths above, 1q is stored as the output MXj represented by MXJ = WXLJ + WXRJ.

そして第7図Bに示すように、正極性のパル、ストIX
jを出力する。
Then, as shown in FIG. 7B, the positive polarity pulse, ST IX
Output j.

上述し1=ようにして、f3’j D処理回路51から
順次正極性のパルスHXm ’ 、 1−IX(+n−
’+)’・・・・=−HX+ ’ 、 HXo 、 1
−lX+ 、 I」X+ ””””’嘴 l−lXT11が得られる。
As described above, positive polarity pulses HXm', 1-IX(+n-
'+)'...=-HX+', HXo, 1
-lX+, I''X+ ``'''''''Beak l-lXT11 is obtained.

これらパルスt−1Xm ’ 、 I」X(T11−1
1”−’・・・・・・トIX+ ’ 、 HXo ’ 
、 HX+ 、 l」 X+ −・=−HX 11は、
モータ駆動回路53を介して、上述したモータ35に供
給される。
These pulses t-1Xm', I'X(T11-1
1"-'...IX+', HXo'
, HX+ , l"X+ -・=-HX 11 is
It is supplied to the above-mentioned motor 35 via the motor drive circuit 53.

土−り35(ま、パルスHXm ’ 、 tl X(m
 −1’)’ 、−−−HX+ ’ 、l−1Xo 、
HX+ 、HX+・・・・・・・・・HXtnが147
られる毎に、順次順方向にスアツブ回転する。これに応
じて、上述した可動rA22が、上述した線1)−11
に治って、順次上述()た間隔づつステップ移動する。
Sat-ri 35 (Pulse HXm', tl X(m
-1')', ---HX+', l-1Xo,
HX+, HX+...HXtn is 147
Each time the sub-assembly is rotated, the sub-assembly rotates in the forward direction. Accordingly, the above-mentioned movable rA22 moves along the above-mentioned line 1)-11
, and move step by step by the above-mentioned intervals ().

このような司動鼎22の順次のステップ移動ににつて、
上述した線C−Cが、上述し!ζ線LX Ill′ と
略々一致している保持体23どの相対的位置から、順次
、線l X(m −+) ’ 、 L Xon’−7′
・・・・・・・・・lX+ ’ 、LXo ’ 、l 
X+ ・・・・・・・・・1×、ど略々一致する関係が
1qられる。
Regarding the sequential step movement of the driving pin 22,
The above-mentioned line C-C is the above-mentioned! From which relative position of the holder 23 approximately coincides with the ζ line LX Ill', the lines lX(m-+)', LXon'-7'
......lX+', LXo', l
X+ ・・・・・・1×, almost matching relationship is calculated by 1q.

このため、上述した出力MXj’の出力WXj% は、
試1812の圧痕3の、上述した線LX4′上での、圧
痕3の中心位置Oから、点PX′側の側縁までの長さを
表わしている。
Therefore, the output WXj% of the output MXj' mentioned above is
It represents the length of the indentation 3 of test 1812 from the center position O of the indentation 3 on the above-mentioned line LX4' to the side edge on the point PX' side.

ぞの理由は、出力WXLJ′が、上述した差出力△Q 
x L ; ’ が得られる配列上の位置から、差出力
ΔQXL=+’ が1qられる配列上の位置までの配列
長を表わす出ツノである。一方、差出力△QXL;’が
、差出力△QxLJ1′〜QXLjn’を順次配列記位
しlこときの、その配列を、差出力△QXLj+’ 側
から差出力ΔQLjn’側を順次みたときに正の値での
差出力の複数が順次得られて後、零の値での差出力が最
初に得られる差出力である。従って、差出力ΔQXLj
’ が得られる配列上の位置が、第4図C及びDで、一
般的な出力S n ’ + 5(n−+ン′・・・・・
・・・・S+ ’ 、So 、S+ 、Sz・・・・・
・・・・S(+、−+)、S11のレベルについて上述
したところから明らかなように、圧痕3の、」二連した
線LX4′上での点PX’側の側縁に対応しCいるから
である。
The reason for this is that the output WXLJ' is equal to the difference output △Q mentioned above.
It is a point representing the array length from the position on the array where x L ;' is obtained to the position on the array where the difference output ΔQXL=+' is obtained by 1q. On the other hand, when the differential output △QXL;' sequentially arranges the differential outputs △QxLJ1' to QXLjn' and views the array sequentially from the differential output △QXLj+' side to the differential output ΔQLjn' side, After a plurality of difference outputs with positive values are obtained sequentially, the difference output with a value of zero is the first difference output obtained. Therefore, the differential output ΔQXLj
The positions on the array where ' is obtained are shown in Figure 4 C and D, and the general output S n ' + 5 (n- + n'...
...S+', So, S+, Sz...
As is clear from the above description of the levels of S(+, -+) and S11, C corresponds to the side edge of the indentation 3 on the point PX' side on the double line LX4' Because there is.

また、上述した出力MXj ’ の出力WXR4′は、
上述したと同様の理由で、試料2の圧痕3の、上述した
線LXjM−での、圧痕3の中心位置Oから点PX側の
側縁まCの長さを表わしている。
Furthermore, the output WXR4' of the output MXj' mentioned above is
For the same reason as mentioned above, the length C of the indentation 3 of the sample 2 from the center position O of the indentation 3 to the side edge on the point PX side is expressed along the line LXjM- mentioned above.

従って、上述した出ノ、JMXJ ’ は、圧痕3の、
−上述した線I Xj ’ 上での長さを表わしている
Therefore, the above-mentioned denomination, JMXJ', of the indentation 3,
-represents the length on the line IXj' mentioned above.

ざらに、上述した出力M X o及びMXJは、上述し
たと同様の理由で、それぞれ、圧痕3の、上述した線L
XO及びLXj上での長さを表わしている。
Roughly speaking, the above-mentioned outputs M
It represents the length on XO and LXj.

また、製管処理回路511よ、十)出しだパルスHXv
n ’ 、HX(m −+)’ 、−−−1−IX+ 
’ 、l−1Xo 、 LI X+ 、 l−I Xン
・・・・・・・・・L(X mを出力して後、順次、0
((4の正極性のパルスG2+ 、G2、・・・・・・
・・・C2ワを出力りる。
Also, tube manufacturing processing circuit 511, 10) output pulse HXv
n', HX(m-+)', ---1-IX+
', l-1Xo, LI X+, l-I
((4 positive polarity pulses G2+, G2,...
...outputs C2 wa.

これらパルスG2t 、G2z 、・・・・・・・・・
02g(ま、し−全駆動回路53を介しで、モータ35
に供給される。
These pulses G2t, G2z,...
02g (Ma, Shi - Through the entire drive circuit 53, the motor 35
supplied to

し−タ335はパルスG2+、G2+ ・・・・・・・
・・02gの供給を受【プて、順次、順方向にステップ
回転し、こ41←二応じて、上述した可動盤22が、上
述した線C−Cが上述した線LX、と略々一致している
、保ねイホ23どの相対的位置から、上述した線1+−
bに沿って、」二)ホした線LXU2′側に向って順次
ステップ移動する。この場合、線LXtnと線1−XU
、’ との間の間隔が、前述した間隔eの9倍であると
する。
The recorder 335 outputs pulses G2+, G2+...
. . 02g is supplied, and sequentially rotates stepwise in the forward direction, and accordingly, the above-mentioned movable plate 22 becomes such that the above-mentioned line C-C is approximately aligned with the above-mentioned line LX. 23 From which relative position, the above line 1+-
Along line b, it sequentially moves step by step towards line LXU2', which is indicated by 2). In this case, line LXtn and line 1-XU
, ' is nine times the interval e described above.

従って、モータ35の上述した順方向のステップ回転が
停止し、これに応じて、可動a 22の上述したステッ
プ移動が停止したとき、可動盤22は、試料2上の上述
した線1−XU、’ が、上述した一次元走査撮像装置
21の固体層像素子E n ’ 〜[I ’ + [O
r E I ””−E T+の配列線C−Cと略々一致
している、保持体23との相対的な位置を保っている。
Therefore, when the forward step rotation of the motor 35 stops and the step movement of the movable a 22 stops, the movable plate 22 moves along the line 1-XU on the sample 2, ' is the solid-state image element E n '~[I' + [O
The relative position with respect to the holder 23 is maintained, which approximately coincides with the arrangement line C-C of r E I ""-E T+.

今述べたように、保持体23が、上述した配列線C−C
が、試料2上の上)ホした線LXUP′ ど略々一致し
ている関係が得られて後の時点[4から、(I)+Q 
−1−1)走査回分順次19られる、上述した出力So
’〜St ’ 、 So 、 81〜Snを、第8図へ
に示TJJ、うに、第7図Aで前述したと同様に、第1
回1」の出力QXUI。
As just mentioned, the holder 23 is connected to the above-mentioned array line C-C
However, a relationship is obtained in which the line L
-1-1) The above-mentioned output So that is sequentially scanned 19 times
'~St', So, 81~Sn are shown in FIG.
"Time 1" output QXUI.

n ’ 〜QXULp + ’ 、QXLJCP+ ’
 、QX1ノRF+ ’ ・〜QXURPn ’ :第
2回目の出力QXUL(P −+)n’ □”QXUt
−(p −+)+ ’ 、QX しノ C(r −+)
 o ’ 、 QXLノ R(r −1) + ’ 〜
QXUR’(、−1)。:・・・・・・・・・第1)回
目の出力QXU11 IT’ □”QXUl−+ + 
’ 、QXUC’ t o 。
n'~QXULp+',QXLJCP+'
, QX1noRF+'・~QXURPn' : Second output QXUL(P −+)n'□"QXUt
−(p −+)+ ′, QX Shino C(r −+)
o', QXLノR(r-1)+'~
QXUR'(, -1). :・・・・・・・・・1st) output QXU11 IT'□"QXUl-+ +
' , QXUC' to.

QXLJR+ + ’ 〜QXUR+ n ’ :第(
、+> +1 )回目の出力QXUlo 11〜QXU
LO+ 、QXしICOn 、 QXUIで o+ 〜
 QXLノ Ran: 第(u+2)回目の出力QXU
L+ n〜QXUL1 + 、QXLノ C+ o 、
QXUR+ + 〜QXUR111;第(+1+3)回
目の出力QXUl+n〜QXU 1−+ + 、(:1
XUC+ 0 、QXUR+ + 〜QXL)Rin:
・・・・・・・・・第(ll −Ill + 1 )回
目の出力QXIノLFII+へ・Q X U l−q+
 、 Q X U C5゜、QXURql〜QXUR,
、、とする。
QXLJR+ + '~QXUR+ n': No. (
, +> +1)th output QXUlo 11~QXU
LO+, QX and ICon, QXUI o+ ~
QXL Ran: (u+2)th output QXU
L+ n~QXUL1 +, QXLノC+ o,
QXUR+ + ~QXUR111; (+1+3)th output QXUl+n ~ QXU 1-+ +, (:1
XUC+ 0, QXUR+ + ~QXL) Rin:
・・・・・・・・・(ll − Ill + 1)th output QXI to LFII+・Q X U l−q+
, Q X U C5゜, QXURql~QXUR,
,,.

然るどき、−上述しIこ演静処即回路51は、第h ′
(k ′=+1 、(p −11・・・・・・・・・ 
2,1)回目の出力QXULhn’〜QXUl−に+ 
’ 、QX(JCh o ’ 、QXIJRk+ ’ 
〜QXURkn ’を記tQ 1./、でし1C1 ΔQXULh n ’ =QXUl h +、′−QX
ULII(い−) 1 △ QXULb(n −+) ’ =QXULb(n 
□ 1ン ′−QXULi、(n −2)’ △QXULk+ ’ −QXUl−に+ ’−QXUC
k o ’ △ QXURk + ’ −QXLノ Ri:+’QX
UCk o ’ △QXURkr ’ =QXURb + ’−QXUR
k 、’ ΔQ X U Rh n’ = Q X U F? h
 11QXURk(rl −+)’ で表わされる差出力△QX U lkn ’ 、△QX
U Lk(n −+)’ ・・・・・・・・・QXUL
k+’ 、△QX(ノRk、’、△QXURk+’・・
・・・・・・・・・・・・・・・・QXL月でに11′
を得る。
Then, the above-mentioned I performance processing circuit 51 performs the h'th
(k ′=+1, (p −11・・・・・・・・・
2, 1) + to the 1st output QXULhn'~QXUl-
', QX(JCh o', QXIJRk+'
~QXURkn' is written tQ 1. /, deshi1C1 ΔQXULh n' =QXULh +,'-QX
ULII(i-) 1 △ QXULb(n -+) ' =QXULb(n
□ 1 '-QXULi, (n -2)' △QXULk+ ' -QXUl- + '-QXUC
k o ' △ QXURk + ' -QXLノ Ri:+'QX
UCko'△QXURkr' = QXURb + '-QXUR
k,' ΔQ X U Rh n' = Q X U F? h
Difference output △QX U lkn ', △QX expressed as 11QXURk(rl -+)'
U Lk(n −+)' ・・・・・・・・・QXUL
k+', △QX(ノRk,', △QXURk+'...
・・・・・・・・・・・・・・・QXL month is 11′
get.

t /;1m、上jボした差出力ΔQXtJLh + 
’ 〜Qxul−に、、’を、それらの順に順次配列記
憶覆る。
t/;1m, difference output ΔQXtJLh +
' ~Qxul-, , ' are sequentially arrayed and stored in their order.

そしく、その配列を、差出ツノΔQXULk+′側から
差出力△Q X U 1−kn ’ 側を順次みたどき
に、止の値での差出力の複数が順次得られ一’(IQ、
マうの帥ての差出ツノが最初に得られる差出力(これを
△QXIJI、’ どりる〉、のjqられる配列上の位
置を判別刃る。
Then, when looking at the array sequentially from the output horn ΔQXULk+' side to the differential output ΔQ
Determine the position on the jq array of the difference output (this is △QXIJI, 'delete>) where the first protruding horn of the mouse is obtained first.

でしで、4出力△QX(J1m’ が(りられる配列り
の位置から、差出力△QXUL、l++’ が得られる
配列位置までの配列長を表わしCいる出ノJ(これをW
XULTI’ とする)を記憶り゛る。
Then, the array length from the array position where the 4 outputs △QX(J1m' can be obtained to the array position where the difference output ΔQXUL, l++' can be obtained is expressed as C).
XULTI').

まノこ、上述した配列を、左出力△Q X IJ Rh
1′から差出力△QXURbn’側を順次みたときに、
同様に、正の値での差出力の複数が順次lrlられて後
、零の値ぐの差出力が最初に得られる差出ツノ(これを
△QXURk’ とづる)、の得られる配列上の位置を
判知する。
Manoko, set the above array to the left output △Q X IJ Rh
When looking sequentially from 1' to the differential output △QXURbn' side,
Similarly, after a plurality of difference outputs with positive values are sequentially lrl, the position on the array where a difference output with a value of zero is obtained first (this is written as △QXURk') is obtained. to determine.

そして、差出カム〇XURk’ が得られる配列上の位
置から、差出力△QXURk+ ’ が得られる配列上
の位置までの配列長を表わしている出力(これをWXU
Rk′とする)を記憶する。
Then, output (WXU
Rk') is stored.

そして、上述した配列長を表わづ゛出力WXUしに′及
びWXU+ヌに′から、 MXh ’ =WXtJl−に’ −1−WXURb 
’で表わされる出力MXUi、’ を得、これを記憶す
る。
Then, expressing the above array length, from ``output WXU'' and WXU+nu'', MXh' = WXtJl-'' -1-WXURb
Obtain an output MXUi, ' represented by ' and store it.

そして第8図Bに示すように、パルスt−+ X Uk
′を出力する。
Then, as shown in FIG. 8B, the pulse t-+
′ is output.

また、上述した演算処理回路51は、上述した第1)+
1回目の出力QXUL。11〜QXU1−o + 、Q
XIJCo a 、QXURo + 〜QXURonを
記憶し、そしC1 △QXU La r、 =QXU L、OnQXLJL
o(n −11 /1QXULo(n −+)=QXULo(。−1)−
QXtJL。(n −、) ΔQXLJLD + =QXULn +−QXUCo。
Further, the above-mentioned arithmetic processing circuit 51 has the above-mentioned first) +
First output QXUL. 11~QXU1-o + ,Q
Store XIJCo a, QXURo + ~QXURon, and then C1 △QXU La r, =QXUL, OnQXLJL
o(n −11 /1QXULo(n −+)=QXULo(.−1)−
QXtJL. (n −,) ΔQXLJLD + =QXULn +−QXUCo.

△Q X (J Ro + = Q X URo +−
QXUCo。
△Q X (J Ro + = Q X URo +-
QXUCo.

△Q X U r< 1 + = Q X U Ro 
)−(1)XURo+ △Q X U ROo= Q X IJ ROn、 −
Q X tJ lで。、1−1 C表わされる差出力△QXUI−on、△QXULo(
1,−+)・・・・・・・・・QXULa + 、 △
QXUR81,△QXtノRM・・・・・・・・・・・
・・・・・・・QXUR。
△Q X U r< 1 + = Q X U Ro
)−(1)XURo+ △Q X U ROo= Q X IJ ROn, −
In Q X tJ l. , 1-1 C expressed difference output △QXUI-on, △QXULo(
1,-+)・・・・・・QXULa + , △
QXUR81, △QXtノRM・・・・・・・・・・・・
・・・・・・QXUR.

、を1′′7る。, is 1''7.

また、上述した差出力△QXULo+〜QXULo1.
を、それらの順に順次配列記憶−りる。
In addition, the above-mentioned difference output ΔQXULo+ to QXULo1.
are sequentially stored in an array in that order.

そして、その配列を、差出力へ〇XtJL、o+側カら
差出力△QXIJLo、I側を順次みたどきに、正の値
での差出力の複数が順次1n +うれて後、零の値での
差出力が最初に賀られる差出力(これを△QXULa 
とづる)、の1qられる配列−Lの位置を判別する。
Then, convert that array to the difference output 〇 The difference output is the first difference output (this is △QXULa)
), determine the position of the array -L that is 1q.

そして、差出力△Q X U L、 + が得られる配
列上の位置から、差出力ΔQXU1−61が1qられる
配列上までの位置までの配列長を表わしている出力(こ
れをW X UI−n とりる)を・記憶りる。
Then, an output representing the array length from the position on the array where the difference output ΔQ X U L, + is obtained to the position on the array where the difference output ΔQ to remember).

また、上述した配列を、差出力△Q X (J R。Moreover, the above-mentioned array is used as the difference output △Q X (J R.

+ カラ差m ))△QXIJRa1.側を順次みたと
きに、同様に、正の値での差出力の複数が順次1′?ら
れて後、零の値での差出力が最初に(qられる差出力(
これを△Q X U Ro どする)3の得られる配列
上の(fltFfを判知りる3゜そしC,イ用力△Q 
X U ROが得られる配列上の位置から、差出力△Q
XU、Ro+ が得られる配列」−の位置までの配列長
を表わし−(いる出ツノ(これをW X U Ro ど
する)を記憶する。
+ Color difference m))△QXIJRa1. Similarly, when looking at the side sequentially, the plurality of difference outputs with positive values are sequentially 1'? After the difference output at the value of zero is first (q), the difference output at the value of zero is
Do this as △Q
From the position on the array where X U RO is obtained, the difference output △Q
The array from which XU, Ro+ can be obtained represents the length of the array up to the position of - and stores the starting point (this is returned as W X U Ro ).

イして、−上述しIご配列長を表わず出力WXULo及
びW X U Roから、 tvl X Un ”WX LJ 1−o 1 WX 
U Roで表わさ(する出力M X U Oを得、これ
を記憶Jる。そして、第8図Bに承りように、パルス1
(X U aを出力りる。
- From the outputs WXULo and WXURo, which do not represent the array length as described above, tvl
Obtain the output M
(Outputs X U a.

さらに、上述した演惇処理回路51は、上述しに第k(
k=1.2・・・・・・・・・q)回目の出力QXIJ
l−に++ ”QXUl−に+ 、QXUCkO、QX
、 U I’<←1〜QXURk、、を記憶し、そして
、ΔQ X IJ L−h n = Q X U l−
kn−Q X U L h (n −+) △(:)XLJI−k(+1− +)=QXUL’i(
。−1)QXtJ Lk(n −r) ΔQXLJ Lk+ =QXtJ l−に+−QXUC
k 。
Furthermore, the above-mentioned performance processing circuit 51 has the k-th (
k=1.2・・・・・・q)th output QXIJ
+ to l- ”QXUl- to +, QXUCkO, QX
, U I'<←1~QXURk, , and ΔQ X IJ L−h n = Q X U l−
kn-Q
. −1) QXtJ Lk(n −r) ΔQXLJ Lk+ =QXtJ l− +−QXUC
k.

△Q X U Rh + = Q X U Rk+QX
UCk 。
△Q X U Rh + = Q X U Rk + QX
UCk.

ΔQXURk r =QXUr7k 。ΔQXURk r = QXUr7k.

−QXtJ!で11 △Q X U Rb n ”” Q X U Rkl。-QXtJ! So 11 △Q X U Rb n”” Q X U Rkl.

−Q X U Rk(n −+> で表わされる差出力△QXLJLbn、△QXIJLk
(n−+)・・・・・・・・・QXUIt + 、△Q
×旧h1、△QXURk+ ・・・・・・・・・・・・
・・・・・・QXURb。
−Q
(n-+)・・・・・・QXUIt + , △Q
×Old h1, △QXURk+ ・・・・・・・・・・・・
...QXURb.

を得る。get.

また、上述した差出力△QXU l−b k”□QXU
Lk11を、それらの順に順次配列記憶する。
In addition, the above-mentioned difference output △QXU l-b k”□QXU
Lk11 are sequentially arranged and stored in that order.

そしC1−この配列を、差出力△QXLJLb+側から
Z出ノJt\QXUI−kn側を順次みたときに、正の
埴−て・の差出力の’$i’lliが順次得て後、零の
値(・の差出力が最初に胃られる差出力(これを△QX
ULkとづる)、のiqられる配列上のイS装置を判別
りる。
Then, when looking at this array sequentially from the differential output △QXLJLb+ side to the Z output Jt\QXUI-kn side, the positive Hani-te differential output '$i'lli is obtained sequentially, and then zero. The value of (・) is the difference output that is calculated first.
(spelled as ULk), determines the iS device on the iq array.

・t’ L ”’c 、差出力△QXLJI−bが得ら
れる配列上の位置から、差出力△QXULk+ が得ら
れる配&lI土の位置までの配列上を表わしている出力
(これをWXULkとする)を記憶する。
・t' L "'c, an output representing the array from the position on the array where the difference output △QXLJI-b is obtained to the position on the array where the difference output △QXULk+ is obtained (this is designated as WXULk) ).

また、上述した配列を、差出ツノ△QXURk+ ’ 
bl Iら差出/JAQXIJRkn側を順次みたとき
に、同様に、正の値での差出力の?!2数が順次得られ
′C後、零の伯での差出力が最初に得られる;1′出ノ
j(これを△Q X IJ Rkどりるー)、の得られ
る配列」の位置を判知する。
In addition, the above-mentioned array is changed to the sending horn △QXURk+'
Similarly, when looking at the bl I and sender/JAQXIJRkn sides in sequence, the difference output with a positive value? ! Two numbers are obtained in sequence, and after 'C, the difference output in the fraction of zero is obtained first; 1' Determine the position of the resulting array of output j (this is △Q X IJ Rk). do.

ぞしで、Z出力△QXURkが得られる配列J−の位置
ノ〕目ら、差出力ΔQXURk+ が1qられる配列」
−のf17置までの配列長を表わす出力(これをW X
 LI Rhとする)を記憶する。
From the position of the array J- where the Z output △QXURk is obtained, the array where the difference output △QXURk+ is 1q.''
-Output representing the array length up to the f17 position (this is W
LI Rh).

そして、上述した配列上を表わ覆出力WXUしk及びW
 X U Rkから、 M X U h = W X U L k+ W X 
U Rkで表わされる出力M X U kを111、こ
れを記憶する。そして第8図Bに示JようにパルスI−
I X Ukを出力する。
Then, the outputs WXU, k and W, representing the above-mentioned array
From X U Rk, M X U h = W X U L k+ W X
The output M X U k represented by U Rk is stored as 111 . Then, as shown in FIG. 8B, the pulse I-
Output IXUk.

上述したようにして、演幹処理回路5 I blら順次
パルストIXUp ’ 、HXU(p −1)’ ・・
・・・・・・・HXU+ ’ 、HXUo 、1−IX
U+ 、)−IX(J+ ・・・・・・・・・日X t
J qが’+FJられる。
As described above, the stem processing circuit 5 Ibl sequentially pulses IXUp', HXU(p-1)', .
・・・・・・HXU+', HXUo, 1-IX
U+ ,)-IX(J+ ......day X t
J q is '+FJ.

それらパルスHXIJP ’ 、 HXU(r −+1
 ’ ・・・・=−l−lXU+ ’ 、HXUo 、
l−1XU+ 、HXU2・・・・・・・・・HX L
J qは、モータ駆動回路53を介して、上述したモー
タ35に供給される。
Those pulses HXIJP', HXU(r −+1
'...=-l-lXU+', HXUo,
l-1XU+, HXU2...HX L
Jq is supplied to the above-mentioned motor 35 via the motor drive circuit 53.

七−夕35は、パルス11 X IJ P’ 、 ll
 X LJ(P−1)’+・・・・・・・・・1−IX
(J1’ 、1−IXIJo 、l−4XU+ 、HX
U+ ・・・・・・・・・HX U、がjl訃ろれる毎
に、順方向にスデツブ回転し、これに応じ(、上述した
可i!IJl盤22が、土iホしlこ線C−Cか上述し
た線LXU、’ と略一致しCいる、保持体23どの相
対的位置から、上述した線1)−1]に沿って、線1.
. X m側とは反対側に順次ステップ移動づる。
Tanabata 35 is pulse 11 X IJ P', ll
X LJ(P-1)'+・・・・・・・・・1-IX
(J1', 1-IXIJo, l-4XU+, HX
U+ ・・・・・・・・・HX Every time U, falls, it rotates forward in the forward direction, and in response to this (, the above-mentioned possible i! IJl board 22 changes to From which relative position of the holder 23, the line 1.
.. X Move step by step to the side opposite to the m side.

このような可動盤22の順次のステップ移動によって、
上述した線O−Cが、上述した線LxuP’ と略々一
致している保持体23との相対的位置から、順次、線L
XUP−r ’ 、LX1ノ −−+ ’ ””””l
 UX+ ’ 、 1−XUo 、 LXU+ 、・・
・・・・・・・LXUqと略々一致Jる関係が得られる
By such sequential step movement of the movable platen 22,
From the relative position of the above-mentioned line OC to the holding body 23, which approximately coincides with the above-mentioned line LxuP', the line L
XUP-r', LX1--+' ””””l
UX+', 1-XUo, LXU+,...
. . . A relationship that almost matches LXUq is obtained.

このため、上述した出力MXUk’ の出ノJWXUL
k′は、試お12の圧痕3の、上述しICC10XDk
′1−での、圧痕3の中心位置Oから点PX’側の側縁
までの長さを表わしている。
Therefore, the output JWXUL of the output MXUk' mentioned above is
k' is the above-mentioned ICC10XDk of indentation 3 of test 12
'1- represents the length from the center position O of the indentation 3 to the side edge on the point PX' side.

その理由(j、出力WXULk′が、上述した差出力△
(、)XLJLk′が得られる配列」ニの位置/)+ 
Iら、差出力△QX U 1.−に+ ’ が1gられ
る配列〜[の位置まての配列長を表わJ出力である。−
万、差出力△QXULk′が、差出力△QXU1−に+
 ’ =−QXLJI−ト、、′ を順次配列記憶した
ときの、その配列を、差出力△QX、ULk+’側から
差出力△QLko’側を順次みたときに正の値での差出
力の複数が順次1qられC後、零の値での差出力が最初
に(qられる差出力である。
The reason (j, the output WXULk' is the difference output △
(,)position of the array ``2'' that yields XLJLk'/)+
I et al., difference output △QX U 1. The J output represents the array length from the position of the array where +' is 1g to -. −
10,000, difference output △QXULk' is + to difference output △QXU1-
'=-QXLJI-t,,' is sequentially stored in an array, and when the array is sequentially viewed from the differential output △QX, ULk+' side to the differential output △QLko' side, the plurality of differential outputs with positive values. are sequentially 1q'd and C, and the difference output at a value of zero is the first difference output that is q'd.

従って、差出力ΔQXULk′が得られる配列上の位置
が、第4図C及びDで、一般的な出力Sn’ 、5(n
−+)’ −−−8t ’ 、So 、St 。
Therefore, the positions on the array where the differential output ΔQXULk' is obtained are shown in FIG. 4C and D, and the general output Sn', 5(n
-+)'---8t', So, St.

S、・・・・・・・・・S(n −+) 、 S nの
レベルについて」−述したところから、明らかなように
、圧痕3の、上述した線LXUk’ 上での点1〕X′
 側の側縁に対応しているからである。
As is clear from the above, point 1 of indentation 3 on the above-mentioned line LXUk'] X′
This is because it corresponds to the side edge.

また、上述した出力MxUk′の出力WXURk′は、
上述したと同様の埋山で、試料2ρ圧痕3の、上述した
線LXUk′上での、圧痕3の中心位置から点PX側の
側縁までの長さを表わしている。
Furthermore, the output WXURk' of the output MxUk' mentioned above is
The same buried peak as described above represents the length of the sample 2ρ indentation 3 from the center position of the indentation 3 to the side edge on the point PX side on the above-mentioned line LXUk'.

従って、上jホした出力MXUk′は、圧痕3の、上述
した線LXUk’ 土での長さを表わしている。
Therefore, the output MXUk' shown above represents the length of the indentation 3 along the line LXUk' mentioned above.

さらに、上述した出力M X U o及びM X U 
hは、上述したと同様の理由で、それぞれ、圧痕3の、
上述した線L X U 、及びLXUk上での長さを表
4つしている。ただし、出力M X U o及びM X
 tJ kは、線LXUo及びLXUkが圧痕3を横切
って、いないので、零で得られる。
Furthermore, the above-mentioned outputs M X U o and M X U
h of the indentation 3 for the same reason as mentioned above.
The lengths on the above-mentioned lines L.sub.XU and L.sub.XUk are shown in four tables. However, the outputs M X U o and M
tJ k is obtained as zero since the lines LXUo and LXUk do not cross the indentation 3.

また、演算処理回路51は、上述したパルスN X U
 P ’ 、 1」X U(p〜、)′、・・・・・・
・・・1−IXU。
Further, the arithmetic processing circuit 51 processes the above-mentioned pulse N
P', 1''X U(p~,)',...
...1-IXU.

’ 、llX、Uo 、l−1XU+ 、HX、U+ 
・・・・・・・・・l−I XU9を出力して後、順次
1個のΩ極性のパルスG3+ 、G3’) ・・・・・
・・・G3.は、モータ駆動回路53を介して、七−夕
35に供給される。
', llX, Uo, l-1XU+, HX, U+
......After outputting l-I XU9, one Ω polarity pulse G3+, G3')...
...G3. is supplied to the Tanabata 35 via the motor drive circuit 53.

モータ35は、パルスG3+、G3+ ・・・・・・・
・・G3゜の供給を受(プて、順次逆方向にステップ回
転し、これに応じて、−上述した可動51ii 22が
、上述し!、:線C−にが上述した線1− X U q
ど略々jりしくいる保持体23との相対的な位置から、
1jホした線b−bに沿って、上述した線LXD1側に
順次ステップ移動づる。この場合、線LIjFと線1.
’ X l) Pどの間の間隔が、上述した間隔Oのz
(zL、J、に述したパルスG31・−G3□の数)倍
であるとする。
The motor 35 has pulses G3+, G3+...
. . . G3° is supplied and rotates step by step in the opposite direction, and in response to this, the above-mentioned movable 51ii 22 moves the above-mentioned!, : line C- to the above-mentioned line 1- q
From the relative position with the holding body 23, which is quite large,
1j along the line b-b, stepwise movement is made toward the above-mentioned line LXD1 side. In this case, line LIjF and line 1.
'
(The number of pulses G31·−G3□ described in zL, J) times.

従って、モータ35の−[述した逆方向のステップ回転
が停止し、これに応じて、可動盤22の上述したステッ
プ移動が停止したとき、再動盤22は、試料2上の上述
した線LXD、が、上述した一次元走査撮像装置21の
固体扼像累子En ’ 〜E+ ’ 、EO、It 〜
[Ioの配列線C−Cと略々一致している、保持IA 
23の、試料2との相対的な位置を得ている。
Therefore, when the step rotation of the motor 35 in the above-mentioned opposite direction is stopped and the above-mentioned step movement of the movable plate 22 is stopped, the re-movement plate 22 moves along the line LXD on the sample 2. , are the solid-state imaging elements En '~E+', EO, It~ of the one-dimensional scanning imaging device 21 mentioned above.
[Holding IA that approximately coincides with the array line C-C of Io
23 relative to sample 2 is obtained.

今述べたように、保持体23が、上述した配列線C−a
が、試料2上の上述した線IXD。
As just mentioned, the holder 23 is connected to the above-mentioned array line Ca.
is the above-mentioned line IXD on sample 2.

と一致している関係が得られて後の11′!1点t1か
ら、(p→−q→−1)走査回分順次11られる、上述
した出力Sn ’ 〜S+ ’ 、 SO、St 〜S
11を、第9図Aに示すように、第8図へて前述したと
同様に、第1回目の出力QXDL、、、’〜QXDLP
 + ’ 、QXDCr o ’ 、QXDRP1′〜
QXDRPo′ :第2回目の出力QXDL(P −1
)It ’ 〜QXD L(P−+)+ ’ 、QXD
C(p −+)o ’ 、 QXDR(P −+) +
 ’ 〜Q X I) R’(F −1)+1 :・・
・・・・・・・第0回目の出力QXDL+n’ 〜QX
I)l−+ 1’ 、 QXDC’ I O、QXD[
で、1′へ・QXDt犬11.′;第(p−1−1)回
目の出力QXDLOn〜QXDLO+ 、QXDC0+
 、 QXDROl 〜QXDROn :第(1〕+2
)回目の出力QXOL+ n ”QXDL+ + 。
11′ after obtaining a relationship that is consistent with ! From one point t1, the above-mentioned outputs Sn' to S+', SO, St to S are sequentially scanned for (p→-q→-1) times.
11, as shown in FIG. 9A, the first outputs QXDL,...'~QXDLP, in the same way as described above in FIG.
+', QXDCro', QXDRP1'~
QXDRPo′: Second output QXDL(P −1
)It' ~QXD L(P-+)+', QXD
C(p −+)o′, QXDR(P −+) +
' ~ Q X I) R' (F -1) + 1:...
......0th output QXDL+n' ~QX
I) l-+ 1', QXDC' I O, QXD[
So, go to 1'・QXDt dog 11. '; (p-1-1)th output QXDLOn~QXDLO+, QXDC0+
, QXDRol ~ QXDROn: No. (1) + 2
)th output QXOL+ n ”QXDL+ + .

QXDC+ ロ 、QXDR,、〜QXDR+n:第(
p→−3)回[1の出力Q X D L 2n 〜Q 
X DL ) 、 、QXlつ C+ Q 、QXDR
2、・〜・ QXDRan、・・・・・・・・第(1)
千電I 11)回目の出力QX D L q +、〜Q
XD L、、+ 、QXDC,0、QX I) Rq 
+ 〜Q X D Rq nと号る。
QXDC+ , QXDR, , ~QXDR+n:th (
p→-3) times [output of 1 Q X D L 2n ~Q
X DL ) , , QX1 C+ Q , QXDR
2,...QXDRan,...No.(1)
Senden I 11) th output QX DL q +, ~Q
XD L,,+,QXDC,0,QX I) Rq
+ ~ Q X D Rq n.

然るどき、上述した演算処理回路51は、第に’(k’
=−1)、+1−1.・・・・・・・・・2,1)回目
の出力QXI)l−に1’・〜・QXDI−に+ ’ 
、QXl)C5゜’ 、QXDRk+ ’ 〜QXDI
犬に1、′を記憶し、でしく、 ΔQX[’)Lh n ’ −QXDLkn ’()X
D 1.−++(n −+1 ’△Q X D L w
、 (い−1’l ’ = Q、X I〕Lb(n −
+)’−QXD Lb(n −+)’ △QXDLk+ ’ =QXDLk+ ’QXDCh 
0 ′ △QXDRkt ’ =QXDRb 、’QXDCk 
n ’ ΔQXDRh r ’ =QXDRk)’QXDRk 
+’ △QXDRh ロ ’ −QXDRk ■ ’QXDR
b(n −+)’ で表わされる差出力△QXDI〜k lT ’ l△Q
XDLk(n −1’)’ ・=・・・・−QXl)l
−kl ’ 、△Q×DRb + ’ 、ΔQXDRし
、′・・・・・・・・・・・・・・・・・・QXDRk
+、′を1qる。
Then, the above-mentioned arithmetic processing circuit 51 first calculates '(k'
=-1), +1-1. ......2, 1) 1st output QXI) 1' to l-...QXDI- to +'
,QXl)C5゜',QXDRk+' ~QXDI
Memorize 1,' in the dog, and write ΔQX[')Lh n'-QXDLkn'()X
D1. -++(n -+1 '△Q X D L w
, (i-1'l' = Q,X I]Lb(n-
+)'-QXD Lb(n -+)' △QXDLk+ ' =QXDLk+ 'QXDCh
0'△QXDRkt'=QXDRb,'QXDCk
n' ΔQXDRh r'=QXDRk)'QXDRk
+' △QXDRh b ' -QXDRk ■ 'QXDR
Difference output △QXDI~k lT 'l△Q expressed by b(n - +)'
XDLk(n −1')' ・=・・・・−QXl)l
-kl', △Q×DRb +', ΔQXDR,'・・・・・・・・・・・・・・・QXDRk
+, ′ by 1q.

また、上述した差出力△QXDL、h’+’ 〜QXD
 l−k II ”i、それらの順に順次配列記憶する
In addition, the above-mentioned difference output △QXDL, h'+' ~QXD
l-k II ''i, are sequentially arranged and stored in that order.

ぞ−して、その配列を、差出力△QXDLb +’ 0
1ll D rら差出力△QXDLb n ’側を順次
みたときに、11の値での差出力の複数が順次得られて
後、零の値での差出力が最初に得られる差出力(これを
・八〇、XDLm’ と覆る)、の宥られる配列りの位
置を判別ヅる。
Then, convert the array to the difference output △QXDLb +' 0
1ll D r et al. difference output △Q・80, XDLm'), determine the position of the arrangement that can be accommodated.

(t、’U、、l’g出力△QXDLWl’ /j’m
’Bhる配列L(0位;6から、差出力△QXI)L、
、l+’ が得1)れる配列Ill置までの配列長を表
わしCいる出力〈これ’:iWX I’) l−m ’
 とづる)を記憶する。
(t, 'U,, l'g output △QXDLWl'/j'm
'Bh array L (0th position; from 6, difference output △QXI) L,
, l+' is obtained.1) The output representing the array length up to position Ill is obtained.
Tozuru).

=1.た、1述した配列を、差出力△Q X D Rk
1′から差出力△QXDRk、’側を順次みたどきに、
同様に、正の値での差出力の複数が順次1qられC後、
省の埴での差出力が最初に得られる差出力(これをΔQ
XDRk′とづる)、のi!′7られる配列トの位置を
判知する。
=1. In addition, the array described in 1 is converted to the difference output △Q
From 1' to the differential output △QXDRk, when looking at the ' side sequentially,
Similarly, after the plurality of difference outputs with positive values are sequentially 1q and C,
The difference output at the Ministry's Hani is the difference output obtained first (this is called ΔQ
XDRk′), the i! '7 Determine the position of the array.

そして、−で出力△Q X l) lでに′が得られる
配列上の位置から、差出力△QXDRk1’ 7J〜1
qられる配列上の位置までの配列長を表わして(Xる出
力(これをWXDRk′とηる)を記憶する。
Then, from the position on the array where the output △Q
q represents the array length up to the position on the array, and stores the output (denoted as WXDRk').

そして、上述した配列長を表わJ出力〜VXDLk′及
びWXDRk′から、 MXk’ =WXDl * ’ +WXDI又 1で表
わされる出力MXDh ’ を得、これを記憶りる。
Then, from the above-described array length J output ~VXDLk' and WXDRk', an output MXDh' expressed as MXk'=WXDl*'+WXDI or 1 is obtained and stored.

そして第9図13に示1j、うに、パルストI X D
、′を出力する。
And as shown in Figure 9 13 1j, sea urchin, parust I
, ′ is output.

また、上)ホした演算処理回路51は、上述した第p 
+ 1回目の出力Q X Ol−0+1へ−Q X I
) Lo 1 、QXDCo O、QXr)Ro + 
”−QXr)R8゜を記憶し、そしC1 ΔQXDLo 、、=QXDl−0、。
In addition, the arithmetic processing circuit 51 mentioned above
+ 1st output Q X To Ol-0+1 -Q X I
) Lo 1, QXDCo O, QXr) Ro +
”-QXr)R8°, and then C1 ΔQXDLo , ,=QXDl-0,.

Q X D L O(++ −1> ΔQXD Lo(n −1) =QXD LO(11−
+IQXD LQ(Tl −+) △Q X D l−o + = Q X D L c 
+QXDCOO △QXDRo + ”QXDRo + −QXDCOO △QXDR’o l =QXDRO+ −QXDROl △Q X D l’< OII = Q X D Ra
 n−Q X D Ra (n −+) で表わされる差出力△QXDIa4.△QXDL、a 
(n−+1−−−QX D 1.、o + 、△QXD
R61、/き(:)XDRn+ ・・ ・ ・・・・・
・・・・・・・QXDRo、1を得る。
Q
+IQXD LQ(Tl −+) △Q X D l−o + = Q X D L c
+QXDCOO △QXDRo + "QXDRo + -QXDCOO △QXDR'o l =QXDRO+ -QXDROl △Q X D l'< OII = Q X D Ra
The difference output ΔQXDIa4. expressed as n-Q X D Ra (n −+). △QXDL,a
(n−+1−−−QX D 1., o + , △QXD
R61, /ki (:)XDRn+ ・ ・ ・・・・・・・
......QXDRo, 1 is obtained.

また、−1=述した差出力△QXDI 、、 〜QXD
L、onを、それらの順に順次配列記憶する。
Also, -1=the difference output △QXDI ,, ~QXD
L, on are sequentially arrayed and stored in that order.

そして、その配列を、差出力△Q’X D l o l
側から差出力△QXDL。、1側を順次みたときに、正
の値での差出力の複数が順次1qられて後、零の値での
差出力が最初に得られる差出力(これを△QXDLo 
と覆る)、の得られる配列上の位置を判別Jる。
Then, convert the array to the difference output △Q'X D l o l
Differential output △QXDL from the side. , when looking at the 1 side sequentially, after a plurality of difference outputs with positive values are sequentially 1q, the difference output with a value of zero is obtained first (this is called △QXDLo
), determine the position on the resulting array.

そして、差出力△QXDlo が1qられる配列上の位
置から、差出力△QXDLo+ が得られる配列上まで
の位置までの配列長を表わしている出力(これをWXD
LOとJる)を記憶4”る。
Then, an output representing the array length from the position on the array where the difference output △QXDlo is 1q to the position on the array where the difference output △QXDLo+ is obtained (this is
Memorize LO and Jru).

また、上述した配列を、メr出力△QXDRa1から差
出力△QXI)RO,、側を順次みたど・きに、同様に
、正の1直での差出力の複数が順次得られC後、零の値
での差出力が最初に得られる差出力(これを△Q X 
D Ro とする)、の1!?られる配列上の位置を判
知する。
In addition, when looking at the above array sequentially from the output ΔQXDRa1 to the output ΔQXI)RO, , similarly, a plurality of differential outputs in one positive shift are sequentially obtained. After C, The difference output at the value of zero is obtained first (this is △Q
D Ro), 1! ? Determine the position on the array that will be displayed.

そして、差出力△QXDROが得られる配列上の位置か
ら、差出力△oxor<o 、が得られる配列上の位置
までの配列長を表わしている出力(これをW X D 
Ro とする)を記憶する。
Then, an output representing the array length from the position on the array where the difference output △Q
Let Ro) be memorized.

そしC1」上述した配列長を表わ1出ツノWX DL 
a及びWX[月(。から、MX Do =WXD Lo
−1−WXI月<O’r表わされる出力M X D O
を得、これを記憶りる。そして、第9図Bに示ずJ:う
に、パルストI X D。を出力1゛る。
Then C1" represents the sequence length mentioned above. 1 horn WX DL
a and WX [month (., MX Do = WXD Lo
−1−WXI month<O'r Represented output M X D O
Obtain and memorize this. And, not shown in FIG. 9B, J: Sea urchin, Parust I X D. Outputs 1.

さらに、上述した演算処理回路51は、上述した第k 
(k ==1.2・・・・・・・・・q)回目の出力。
Furthermore, the above-mentioned arithmetic processing circuit 51
(k ==1.2...q)th output.

XI)Lkr、〜QXDLi、+ 、QXDCkD 、
QXDIでに1〜6XDRk+、を記憶し、そして、△
Q X D L kn’ = Q X D L kn−
Q X D L、−k(n −+) △QX l) Lk(n −1)=OX D L’b(
n −+)QXD Lk(n −y) △Q X l) L k+ −Q X D I−k+−
QXDCk。
XI) Lkr, ~QXDLi, + , QXDCkD,
Store 1 to 6XDRk+ in QXDI, and then △
Q X D L kn' = Q X D L kn-
Q X D L, -k (n - +) △Q
n −+)QXD Lk(n −y) △Q X l) L k+ −Q X D I−k+−
QXDCk.

△Q X D Rk l = Q X [’)Rk +
−QXDCk O ΔQ X D Rk 、 = Q X D Rk r−
QXDRk + ΔQXDRk 1、=QXDRk n Q X D Rk(n −+)′ で表わされる差出力△Q X I) Lkn 、 ΔQ
 X DLko−1・・・・・・・・・QXDl−に1
 、△QXDRk1、△QXDRi、r ・・・・・・
・・・・・・・・・・・・QXDRknを得る。
△Q X D Rk l = Q X [')Rk +
−QXDCk O ΔQ X DRk , = Q X DRk r−
QXDRk + ΔQXDRk 1, = QXDRk n Q X D Rk(n −+)′ Difference output ΔQ
X DLko-1・・・・・・・・・1 to QXDl-
, △QXDRk1, △QXDRi, r ・・・・・・
...... Get QXDRkn.

また、上jボした差出力△QXDI−h+ 〜QXD[
knを、それらの順に順次配列記fQする。
Also, the difference output △QXDI-h+ ~QXD[
kn are sequentially arrayed fQ in their order.

そして、その配列を、差出力△QXDLk+側から差出
力△QXDLb。側を順次みたときに、正の値での差出
力の複数が順次得て後、零の11ムでの差出力が最初に
得られる差出力(これ4△QXDl−にとする)、の1
qられる配列上の位置を判別りる。
Then, the array is changed from the difference output ΔQXDLk+ side to the difference output ΔQXDLb. When looking at the side sequentially, after a plurality of difference outputs with positive values are obtained sequentially, the difference output at 11 times of zero is obtained first (this is assumed to be 4△QXDl-).
Determine the position on the array q.

そ()て、差出力△QXDLbが冑られる配列トの位置
から、差出力△QXDLk+ が得られる配列−[の位
置までの配り1j長を表わしている出力〈これをW X
 D L kとする)を記憶する。
Then, an output representing the distribution 1j length from the position of the array G where the difference output △QXDLb is obtained to the position of the array -[ where the difference output △QXDLk+ is obtained.
Let D L k) be stored.

また、」jホした配列を、差出力△QXDRklから差
出力△QXDRk0側を順次みたときに、同ね;に、正
の埴での差出力の複数が順次得られて後、零の値での差
出ツノが最初に1qられるノ°;出力(これを△QXD
R,にとりる)、の得らI′シる配列1−の位置を判知
する。
In addition, when looking at the ``j'' array sequentially from the difference output △QXDRkl to the difference output △QXDRk0 side, in the same way, after a plurality of difference outputs with positive clay are obtained sequentially, a value of zero is obtained. The output horn is first 1q; Output (this is △QXD
The position of the array 1- in I' is determined from the obtained sequence 1-.

でしt、%出力△Q X I) l’;I kが1ワら
れる配列上の位置から、差出力△QXDRk1が得られ
くτ)配列I−のt:を置まぐの配列艮を表ねり出力(
これをW X D Rkどりる)を記1tXづる。
The difference output △QXDRk1 can be obtained from the position on the array where t,% output △Q Torque output (
This is written as 1tX.

じし℃、七)ホした配列長を表わす出力WXD1−7し
及びW X D Rkから、 〜IXDb−WXDI−に+WXDRk(表わされる出
力M X I−) kを4!1゛、これを記憶する。そ
して第8図Bに承りようにパルスN X Dkを出力す
る。
7) From the output WXD1-7 representing the array length and WXD Rk, +WXDRk (represented output M do. Then, as shown in FIG. 8B, a pulse N x Dk is output.

上述したようにして、演算処理回路51からlf4次ハ
)LtスHX DP ’ 、 l−I X D(P −
+)’ −−・=1−IXDI’、 トIXDo 、 
HXI)+ 、 HXD+ −・・・・・・トIXDq
が得られる。
As described above, from the arithmetic processing circuit 51, the lf4th order C)LtS HXDP', l-IXD(P-
+)'--・=1-IXDI', tIXDo,
HXI) + , HXD+ -... IXDq
is obtained.

それらパルスHXDP ’ 、t」XD(p −+1’
・・・−−HXD+ ’ 、)lXDo 、1−IXD
+ 、)−1XD2・・・・・・・・・l−I X l
) 、tは、モータ駆動回路53を介して、上述したモ
ータ35に供給される。
Those pulses HXDP', t''XD(p −+1'
...--HXD+', )lXDo, 1-IXD
+ , )-1XD2......l-I X l
), t are supplied to the above-mentioned motor 35 via the motor drive circuit 53.

七−夕35は、パルス)IXI)P ’ 、1−IXD
P−+ 、’ −”−1−IXD+ ’ 、1lXDo
 、1−IXDl、トIXD+ ・・・・・・・・・I
−I X l’) qが得られる毎に、順方向にステッ
プ回転し、これに応じて、上述した可動盤22が、上)
ボした線C−Cが一]−述したMLXDP’ と合致し
ている、保持体23との相対的位置から、上述した線b
−1)に沿って、線LX、、側とは反λj側に順次スフ
ツブ移動づ゛る。
Tanabata 35 is pulse) IXI) P', 1-IXD
P-+,'-''-1-IXD+',1lXDo
, 1-IXDl, tIXD+ ......I
-I
The above-mentioned line b
-1), it sequentially moves smoothly from the line LX, , side to the side opposite to λj.

このような可動盤22の順次のステップ移動によって、
上述した線C−にか上述した線LXDPと略々一致して
いる保持体23との相対的位1角から、順次線り、XD
(p −+) 、 1−XD(p −r)。
By such sequential step movement of the movable platen 22,
From the relative position 1 with the holding body 23, which approximately coincides with the above-mentioned line C- or the above-mentioned line LXDP, the lines XD are sequentially drawn.
(p-+), 1-XD(p-r).

・・・・・・・・・LXI)1.LXDn 、LXD+
 ’ 、・・・・・・・・・IXI)、’ ど略々一致
する関係が得られる。
・・・・・・・・・LXI)1. LXDn, LXD+
' , . . . IXI), ' A nearly identical relationship is obtained.

このため、上述した出力MXDk’ の出力WX D 
L k ’ は、試料20圧痕3の、上述した線り、X
Dk′上ての、圧痕3の中心位置Oから点1〕X′ 側
の側縁までの長さを表わしくいる。
Therefore, the output WX D of the output MXDk' mentioned above
L k ′ is the above-mentioned line of the sample 20 indentation 3,
The length from the center position O of the indentation 3 on Dk' to the side edge on the side of point 1]X' is expressed.

Cの理由(よ、出ツノWXDLk′が、上述した;り出
力ΔQ X D l−k’ が得られる配列上の位置か
ら、差出ハム〇XDLi、+’ が得られる配り1j1
の位置までの配列艮を表ねり出力Cある。−ジノ、差出
力△(:)XDLk′が、差出ノj△QXD1身1′へ
・QXI) l−kn ’ を順次配列記憶したと3の
、−Cの配列を、差出力△QXDI−に+ ’1111
1から;を出力△Q lkn ’ 側を順次みたときに
11の飴での差出力の複数が順次得IうれC後、零〇)
1直(゛のシフ出力かD初に得られる差出力である。
The reason for C (the output point WXDLk' is as described above; from the position on the array where the output ΔQ
There is an output C that represents the array up to the position. -Jino, the difference output △(:) + '1111
Output △Q lkn ' from 1; When looking at the side sequentially, multiple difference outputs of 11 candy can be obtained sequentially.
It is the shift output of 1 shift (゛) or the difference output obtained at the beginning of D.

従って、差出力△QXDI−に′が得られる配列1′の
位置が、第4図C及びDて、一般的な出ツノSn’ +
 5o−t ’ ・・=・=・・S+ ’ 、So r
 S+ 。
Therefore, the position of array 1' where '' is obtained for the differential output ΔQXDI- is the general output point Sn' +
5o-t'...=...=...S+', So r
S+.

S、・・・・・・・・・Sn−++Snのレベルについ
て上述したところから、明らかなように、圧痕3の、上
述した線LXDk′十での点PX′側の側縁に対応して
いるからである、。
From the above description of the level of S, ......Sn-++Sn, it is clear that corresponding to the side edge of the indentation 3 on the point PX' side of the line LXDk'10 mentioned above, Because there is.

まlこ、上述した出力MXDb ’ の出力WXDRk
′は、上述したと同様の理由ぐ、試′A12の圧痕3の
、上述した線LXDト′上での、圧痕3の中心位置から
点PX側の側縁ま(・の長さを表わしている。
Mako, the output WXDRk of the above-mentioned output MXDb'
' represents the length of the indentation 3 of test 'A12 from the center position of the indentation 3 to the side edge on the point PX side on the line LXD' mentioned above for the same reason as mentioned above. There is.

従って、上述した出力MXDk’ は、[[痕3の、上
)ホした線I XDh ’ 上(の長さを表わしている
Therefore, the above-mentioned output MXDk' represents the (length) on the line I XDh', which is marked [[at the top of trace 3].

さらに、上述した出力MXDD及びM X D kは、
上)ホしたと同様の埋111で・、それぞれ、圧痕3の
、上)ホしたl L X D O及びL X I)k 
、−1−(の長さを表わしている。ただし、出力M X
 D O及びMXDkは、線I XDo及びl−X D
 hが圧痕3を横切っていないので零である。
Furthermore, the outputs MXDD and M X D k described above are
Top) With the same filling 111 as E, respectively, indentation 3, Top) Ho L L X D O and L X I) k
, -1-( represents the length. However, the output M
DO and MXDk are lines IXDo and l-XD
Since h does not cross the indentation 3, it is zero.

演算処理回路51は、上)ホした出力MXTIl′=M
X+ ’ 、MXO、MX+ 〜MXmを、順次配列記
憶し−Cいると共に、上述した出力MXUp ’ ”□
MXLJ+ 、MXUD 、MXU+ 〜MXU9ど、
出力MXl)p’〜MXDI ’ 、MXD。
The arithmetic processing circuit 51 outputs the above output MXTIl'=M
X+', MXO, MX+ to MXm are sequentially stored in an array, and the above-mentioned output MXUp' ”□
MXLJ+, MXUD, MXU+ ~MXU9 etc.
Output MXl)p'~MXDI', MXD.

へ・M X [) qとを、それぞれ順次配列記憶しで
いる。
and M X [) q are sequentially stored in an array.

演算処理回路51は、上述した出力MX’ 。The arithmetic processing circuit 51 has the above-mentioned output MX'.

〜MX+ ’ 、1vlXo 、 MX+ 〜MX+n
中の、最大値をとる出力(これをMXとする)を判知し
、その出力M Xを出力覆る。この出力MXは、上述し
たにうに上述した出力MXi’〜MX、’ 。
~MX+', 1vlXo, MX+ ~MX+n
Among them, the output that takes the maximum value (let this be MX) is determined, and the output is overridden by that output MX. This output MX is the output MXi' to MX,' as described above.

MXo 、MX1〜MX+nを得た場合、出力MX。で
ある。
MXo, if MX1 to MX+n are obtained, the output MX. It is.

」述し/j出力MXは、」一連したどころから明らかな
ように、試料2の圧痕3の点PX及びP×′を積ぶ第1
の対角線の長さNXを表わしている。
`` /j Output MX is `` As is clear from the series, the first
represents the length NX of the diagonal line.

また、演算処理回路51は、上述したように、出力MX
UP’、〜IX U(F −+)’ ・・・・・・・・
・M X U+ ’ MXUo 、 1vlXLノ +
 、 M X U 2 、 ・・=・・−MXU9を、
それらの順に順次配列記憶している。
Further, as described above, the arithmetic processing circuit 51 outputs MX
UP', ~IX U(F -+)' ・・・・・・・・・
・M X U+ ' MXUo, 1vlXLノ +
, M X U 2 , ...=...-MXU9,
They are sequentially arranged and stored in that order.

そして、その配列を、出力MXUP ’側から出力M 
X U q側を順次みたときの、出ノjが零以外の値で
得られて後、最初に零の1訂で得られる出力、(これを
MYUとりる)の得られる配列」二の位置を判別づる。
Then, output that array from the output MXUP' side to the output M
When looking at the X U q side sequentially, after output j is obtained with a value other than zero, the output obtained by the first correction of zero, (take this as MYU) the obtained array "2" position Determine.

そして、出力MYUが1qられる配列上の位置から、上
述した出力M X U oが得られる配列上の位置まで
の配列長を表わしている出力(これをWYUとする)を
記憶する。
Then, an output representing the array length from the position on the array where the output MYU is obtained 1q to the position on the array where the above-mentioned output M X U o is obtained (this is assumed to be WYU) is stored.

また、演算処理回路51は、上)ホしたように、出力1
vlXDp ’ 、 IVIXD(P −+>”・・−
・−・・1vlXn+ ’ 、MXDO、MXD+ 、
MXD+ −−−MXDqを、それらの順に順次配列記
憶している。
Further, the arithmetic processing circuit 51 outputs 1 as shown in above).
vlXDp', IVIXD(P-+>"...-
・-・1vlXn+ ', MXDO, MXD+,
MXD+ ---MXDq are sequentially arranged and stored in that order.

ぞして、その配列を、出力MXD、’ 側から出力MX
Dq側を順次みIごときの、出力が零以外の値で順次得
られて後、最初に零の(「Iで1〕られる出力(これを
MYDど1する)の得られる配列上の位置を判別する。
Then, convert the array from output MXD to output MX from ' side.
After sequentially looking at the Dq side and obtaining outputs such as I with non-zero values, first find the position on the array where the output that becomes zero (“1 at I”) (set this to 1 by MYD) is obtained. Discern.

−Zし”c、出)J M Y D /)< 得られる配
列上の位置から、」−述した出力tVI Y D Oが
得られる配列上の位置までの配列長を表わしている出ツ
ノ(これをW Y +)とりる)を記憶する。
- Z ``c, output) J MY D /) < The output corner ( This is taken as W Y +)) and stored.

(し’U、出力WYU及びWYDから、〜I Y =W
Y U及びW Y +)で表わされる出力M Y 4r
得る。
(From the outputs WYU and WYD, ~I Y = W
The output M Y 4r represented by Y U and W Y +)
obtain.

この出力〜IYは、試料2の圧痕3の点PY及0” P
 Y ’を結ぶ第2の対角線の長さNYを表わしている
This output ~IY is the point PY and 0” P of the indentation 3 on the sample 2.
It represents the length NY of the second diagonal line connecting Y'.

上述しkどころから、本発明による押込型硬度J1によ
れば、試料2にf」された圧痕3の、第1及び第2の;
l−1角線の長さNX及びNYを、測定りることがで8
る。
As mentioned above, according to the indentation hardness J1 according to the present invention, the first and second of the indentation 3 made on the sample 2;
The lengths of the l-1 square wires NX and NY can be measured8.
Ru.

従・) ’(’ 、 ’εの艮B N X及びNYがら
、試料2の硬1αを、測定ηることができる。
From the values of B N X and NY, the hardness 1α of sample 2 can be measured η.

この1易合、上述した本発明による押込型硬度1;1に
J−れば、試料2にflされた圧痕3を、−次九走r口
11]像′JA置2′1を用い−C−次元庄査踊像し、
【のl1ij Iρ;出力から、圧力≧3の第1及び第
2の対角線長さを表わしている出力を得るようになされ
ている。
In this case, if the hardness of the indentation mold according to the present invention described above is 1:1, the indentation 3 made on the sample 2 can be C-dimensional Shoka dance statue,
[l1ij Iρ; From the output, an output representing the first and second diagonal lengths with pressure≧3 is obtained.

従って本発明による押込型硬度計によれば、圧痕の第1
及び第2の対角線長さ信号を得るために用いる撮像装置
どして、簡易、小型、廉価な一次元走査踊像装置を用い
るのみで良いという大なる特徴を右する。1 また、本発明による押込型11’F 庶iilによれば
、−次元走査撮像装置にJ、る1」−痕走査撮像を、圧
痕の全域に亘って行わないので、高速で圧痕の第1及び
第2の対角線の長さ信号を得ることができる。
Therefore, according to the indentation type hardness tester according to the present invention, the first
Another great feature is that a simple, compact, and inexpensive one-dimensional scanning imaging device can be used as the imaging device used to obtain the second diagonal length signal. In addition, according to the indentation mold 11'F according to the present invention, since the -dimensional scanning imaging device does not perform the indentation scanning imaging over the entire area of the indentation, it is possible to scan the first part of the indentation at high speed. and a second diagonal length signal can be obtained.

さらに、本発明にJこる押込型硬度J1にJ、れば、全
体の装置が簡易である等の人なる1zi徴を有する。
Furthermore, if the indentation type hardness is J1, the present invention has certain characteristics such as the simplicity of the entire device.

なお、上述においては、試片31に四角t1を状の圧痕
を付すようになされた押込型硬度計に5本発明を適用し
た場合の一例を述へたが、試料に休場の圧痕を付すよう
になされた押込型rz+1泪に、本発明を適用すること
がでさることは明らかてあろう。
In the above description, an example has been described in which the present invention is applied to an indentation type hardness tester that is designed to make an indentation in the shape of a square t1 on the specimen 31. It will be obvious that the present invention can be applied to the push-in type RZ+1 tear made by RZ+1.

その他、本ずt明の精神を脱づることなしに、種々の変
望変更をなし1qるであろう。
In addition, various changes will be made without departing from the original spirit.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明に依る押込型硬度η1の機械的構成の
一例を示す路線的断面図である。 第2図は、−てのII −H線上の断面図である。 第3図は、試料にイリされた圧痕を示す図である。 第4図Aは、−次元的搬像装置によって、試料を一次元
走査1最像する場合の、説明に供する図、第4図B〜D
は、試料を一次元走査した場合の説明に供する波形図で
ある。 第5図は、本発明にJ、る押込型硬度謂の電気的偶成の
一例を承り系統的接続図である。 Wi 6図、負′17図、第8図及び9図は、その説明
(二供りる仏号配列図である。 1・・・・・・・・・・・・・・・・・・試、l’il
載置台2・・・・・・・・・・・・・・・・・・試料3
・・・・・・・・・・・・・・・・・・Jl痕10・・
・・・・・・・・・・・・・試料載置台1を昇降させる
モータ 20・・・・・・・・・・・・・・・搬像装置装架体2
1・・・・・・・・・・・・・・・−次元走査搬像装置
22・・・・・・・・・・・・・・・可動盤23・・・
・・・・・・・・・・・・保持体35・・・・・・・・
・・・・・・・モータE1.〜E+ 、Eo 、E+ 
’ 〜E11・・・・・・・・・・・・・・・固体撮像
素子C−C・・・・・・・・・・・・固体躍像素子E−
Eが配列されている線 36・・・・・・・・・・・・・・・回転軸37・・・
・・・・・・・・・・・・螺子40・・・・・・・・・
・・・・・・支持体44・・・・・・・・・・・・・・
・光源45.47 ・・・・・・・・・・・・・・・レンズ46・・・・・
・・・・・・・・・・ハーフミラ−50・・・・・・・
・・・・・・・・クロックパルス発生回路:51・・・
・・・・・・・・・・・・演詩処理回路52.53・・
・・・・モータ駆動回路出願人 松沢精機株式会社
FIG. 1 is a linear sectional view showing an example of the mechanical configuration of the indentation type hardness η1 according to the present invention. FIG. 2 is a sectional view taken along line II-H. FIG. 3 is a diagram showing an indentation made on a sample. FIG. 4A is a diagram for explaining the case where a sample is imaged in one dimensional scan by a -dimensional image carrier, and FIGS. 4B to D
1 is a waveform diagram for explaining a case where a sample is scanned one-dimensionally. FIG. 5 is a systematic connection diagram of an example of the so-called electrical coupling according to the present invention. Wi Figure 6, Figure 17, Figures 8 and 9 are the explanations (the arrangement of the Buddha names with two offerings). 1. Try, l'il
Mounting table 2・・・・・・・・・・・・・・・Sample 3
・・・・・・・・・・・・・・・Jl mark 10...
......Motor 20 for raising and lowering the sample mounting table 1 ...... Image carrier equipment frame 2
1.......-Dimensional scanning image carrier 22...Movable plate 23...
.........Holding body 35...
...Motor E1. ~E+, Eo, E+
'~E11......Solid-state image sensor C-C......Solid-state image sensor E-
Line 36 where E is arranged...Rotation axis 37...
・・・・・・・・・Screw 40・・・・・・・・・
・・・・・・Support body 44・・・・・・・・・・・・・・・
・Light source 45.47 ・・・・・・・・・・・・・Lens 46・・・・
・・・・・・・・・Half mirror-50・・・・・・・
......Clock pulse generation circuit: 51...
...... Enshi processing circuit 52, 53...
...Motor drive circuit applicant Matsuzawa Seiki Co., Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 四角錐状(または球状)の圧痕の付された試料を載置づ
る試料載置台ど、 ト記試別にイ」された圧痕を走査線像する一次元走査1
1i1像装置を装架している可動盤を有する1尼僧装置
装架体と、 上記司動盤を、少くとも、 上記−次元走査撮像装置が、上記圧痕の、第1の対角線
の長さくまたは直径)を表わしているMlの線を含む、
第2の対角線の長さくまたは上記第′1の線と直交づる
方向の直径)を表わしている第2′の線の長さに比1ノ
小なる幅の第1の領域を、上記第1の線と平行な複数の
線に沿っ°C各別に走r目1Gli覆る複数の摺動位置
と、上記−次元走査1最像装Wが、上記第2の線の−h
のj14端を合む、上記第2の線の長さに化し小なる幅
の第2の領域を、上記第1の線と平行(i複数の線(J
冶って各別に走査踊像覆る複数の摺動位置とに、 上記試料載置台に対して摺動さける摺動盤駆動手段と、 上記−次元走査撮像装置の1昼像出力から、」上記第1
の線の長さを表わしている第1の長さ信号と、上記第2
の線の長さを表わしている第2の長さ信号とを発生させ
る長さ信号発生手段とを具備することを特徴と゛づる押
込型硬度p’l’ a
[Scope of Claims] A sample mounting table on which a sample with a quadrangular pyramidal (or spherical) indentation is placed, one-dimensional scanning 1 that produces a scanning line image of the indentation made in the above-mentioned test.
1i1 device mounting body having a movable plate on which a 1i1 imaging device is mounted; including the Ml line representing the diameter)
A first region having a width smaller than 1 compared to the length of the second diagonal line (the length of the second diagonal line or the diameter in the direction perpendicular to the first line) Along a plurality of lines parallel to the line of °C, a plurality of sliding positions each covering the rth 1Gli, and the above-mentioned -dimensional scanning 1-most imaging W are set along the -h of the above-mentioned second line.
A second region having a length of the second line and a smaller width, which meets the j14 ends of
a sliding plate driving means for sliding the sample mounting table to a plurality of sliding positions that cover each scanned image separately; 1
a first length signal representing the length of the line;
and a length signal generating means for generating a second length signal representing the length of the line.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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FR2688320A1 (en) * 1992-03-06 1993-09-10 Micro 2000 Sa Method and device for illuminating an impression formed at the surface of a material and application to a hardness-testing device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2688320A1 (en) * 1992-03-06 1993-09-10 Micro 2000 Sa Method and device for illuminating an impression formed at the surface of a material and application to a hardness-testing device

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