JPS6055350A - Photoconductive member - Google Patents
Photoconductive memberInfo
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- JPS6055350A JPS6055350A JP58163433A JP16343383A JPS6055350A JP S6055350 A JPS6055350 A JP S6055350A JP 58163433 A JP58163433 A JP 58163433A JP 16343383 A JP16343383 A JP 16343383A JP S6055350 A JPS6055350 A JP S6055350A
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
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- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 本発明は、光(ここでは広義の光で、紫外光線。[Detailed description of the invention] The present invention is based on light (here, light in a broad sense, ultraviolet light).
可視光線、赤外光線、X線、γ線等を示す)の様な電磁
波に感受性のある光導電部材に関する。The present invention relates to photoconductive members that are sensitive to electromagnetic waves such as visible light, infrared light, X-rays, gamma rays, etc.
固体撮像装置、或いは像形成分野における電子写真用像
形成部材や原稿読取装置における光導電層を形成する。A photoconductive layer is formed in a solid-state imaging device, an electrophotographic image forming member in the image forming field, or a document reading device.
光導電材料としては、高感度で、SN比〔光電流(Ip
)/81H!!流(Id))が高く、照射する電磁波の
スペクトル特性にマツチングした吸収スペクトル特性を
有すること、光応答性が速く、所望の暗抵抗値を有する
こと、使用時において人体に対して無害でおること、更
には固体撮像装置においては、残像を所定時間内に容易
に処理することができること等の特性が要求される。殊
に、事勝機としてオフィスで使用される電子写真装置内
に組込まれる電子写真用像形成部材の場合には、上記の
使用時における無公害性は重要な点である。As a photoconductive material, it has high sensitivity, low signal-to-noise ratio [photocurrent (Ip
)/81H! ! It has a high current (Id)), has absorption spectrum characteristics that match the spectrum characteristics of the electromagnetic waves to be irradiated, has fast photoresponsiveness, has a desired dark resistance value, and is harmless to the human body during use. Furthermore, solid-state imaging devices are required to have characteristics such as being able to easily process afterimages within a predetermined time. Particularly in the case of an electrophotographic image forming member that is incorporated into an electrophotographic apparatus used in an office as a photographic machine, the above-mentioned non-polluting property during use is an important point.
この様な点に立脚して最近注目されている光導電材料に
アモルファスシリコン(以後a−8iと表記す)があシ
、例えば、独国公開第2746967号公報、同第28
55718号公報には電子写真用像形成部材としての応
用、独国公開第2933411号公報には光電変換読取
装置への応用が記載されている・しかしながら、従来の
a−81で構成された光導電層を有する光導電部材は、
暗抵抗値、光感度、光応答性等の電気的、光学的1光導
電的特性、及び耐湿性等の使用環境特性の点、更には経
時的安定性の点において、総合的な特性向上を図る必要
があるという、更に改良される可き点が存するのが実情
である。Based on this point, amorphous silicon (hereinafter referred to as a-8i) is a photoconductive material that has recently attracted attention.
No. 55718 describes its application as an image forming member for electrophotography, and German Publication No. 2933411 describes its application to a photoelectric conversion/reading device. However, the conventional photoconductive A photoconductive member having a layer includes:
Comprehensive improvements in electrical, optical, and photoconductive properties such as dark resistance, photosensitivity, and photoresponsiveness, usage environment properties such as moisture resistance, and stability over time. The reality is that there are points that need to be improved and that can be further improved.
例えば、電子写真用像形成部材に適用した場合に、高光
感度化、高暗抵抗化を同時に図ろうとすると、従来にお
いては、その使用時において残留電位が残る場合が度々
観測され、この種の光導電部材は長時間繰返し使用し続
けると、繰返し使用による疲労の蓄積が起って、残像が
生ずる所謂コ8−スト現象を発する様になる。或いは、
高速で繰返し使用すると応答性が次第に低下する等の不
都合な点が生ずる場合が少なくなかった。For example, when applied to an electrophotographic image forming member, when trying to achieve high photosensitivity and high dark resistance at the same time, in the past, it has often been observed that residual potential remains during use, and this type of When a conductive member is repeatedly used for a long period of time, fatigue due to repeated use accumulates, and a so-called cost phenomenon occurs in which an afterimage occurs. Or,
Repeated use at high speeds often causes disadvantages such as a gradual decrease in responsiveness.
更(は、a−81は可視光領域の短波長側に較べて、長
波長側の波長領域よシも長い波長領域の吸収係数が比較
的小さく、現在実用化されている半導体レーザとのマツ
チングに於いて、また、通常使用されているハロダンラ
ンプや螢光灯を光源とする場合、長波長側の光を有効に
使用し得ていない゛という点に於いて、夫々改良される
余地が残っている。Furthermore, a-81 has a relatively smaller absorption coefficient in the long wavelength region than in the short wavelength region of the visible light region, making it suitable for matching with semiconductor lasers currently in practical use. In addition, when using commonly used halodan lamps and fluorescent lamps as light sources, there is still room for improvement in that they cannot effectively use light on the long wavelength side. There is.
又、別には照射される光が光導電層中に於いて、充分吸
収されずに、支持体に到達する光の量が多くなると、支
持体自体が光導電層を透過して来る光に対する反射率が
高い場合には、光導電層内に於いて多重反射による干渉
が起って、画像の1ボケ」が生ずる一要因となる。In addition, if the irradiated light is not absorbed sufficiently in the photoconductive layer and the amount of light reaching the support increases, the support itself will reflect the light that has passed through the photoconductive layer. When the ratio is high, interference due to multiple reflections occurs within the photoconductive layer, which is one of the causes of "single blur" in the image.
この影響は、解像度を上げる為に、照射スポットを小さ
くする程大きくなシ、殊に半導体レーザを光源とする場
合には大きな問題となっている。This effect becomes more significant as the irradiation spot is made smaller in order to increase the resolution, and is particularly a serious problem when a semiconductor laser is used as the light source.
更に、a−8t材料で光導電層を構成する場合には、そ
の電気的、光導電的特性の改良を図るために、水素原子
或いは弗素原子や塩素原子等の7%ロダン原子、及び電
気伝導型の制御のために硼素原子や燐原子等が、或いは
その他の特性改良のために他の原子が、各々構成原子と
して光導電層中に含有されるが、これ等の構成原子の含
有の仕方如何によっては、形成した層の電気的或いは光
導電的特性に問題が生ずる場合がある。Furthermore, when forming a photoconductive layer using an a-8t material, in order to improve its electrical and photoconductive properties, hydrogen atoms, fluorine atoms, chlorine atoms, etc., and 7% rhodan atoms, as well as electrically conductive Boron atoms, phosphorus atoms, etc. are contained in the photoconductive layer as constituent atoms to control the type, or other atoms are included in order to improve other properties, but the manner in which these constituent atoms are contained is In some cases, problems may arise with the electrical or photoconductive properties of the formed layer.
即ち、例えば、形成した光導電層中に光照射によって発
生したフォトキャリアの該層中での寿命が充分でないこ
と、或いは暗部において、支持体側よりの電荷の注入の
阻止が充分でないこと等が生ずる場合が少なくない。That is, for example, the lifetime of photocarriers generated by light irradiation in the formed photoconductive layer may not be sufficient, or the injection of charge from the support side may not be sufficiently prevented in dark areas. There are many cases.
更には、層厚が十数μ以上になると層形成用の真空堆積
室よシ取シ出した後、空気中での放置時間の経過と共に
、支持体表面からの層の浮きや剥離、或いは層に亀裂が
生ずる等の現象を引起し勝ちであった。この現象は、殊
に支持体が通常、電子写真分野に於いて使用されている
ドラム状支持体の場合に多く起る等、経時的安定性の点
に於いて解決される可き点がある。Furthermore, when the layer thickness exceeds 10-odd microns, the layer may lift or peel off from the support surface, or the layer may peel off or peel off as the time elapses after it is left in the air after being removed from the vacuum deposition chamber for layer formation. This resulted in problems such as cracks forming in the surface. This phenomenon often occurs especially when the support is a drum-shaped support commonly used in the field of electrophotography, and there are points that can be solved in terms of stability over time. .
従ってa−8t材料そのものの特性改良が図られる一方
で光導電部材を設計する際に、上記した様な問題の総て
が解決されるように工夫される必要がある。Therefore, while efforts are being made to improve the properties of the a-8t material itself, it is necessary to take measures to solve all of the above-mentioned problems when designing photoconductive members.
本発明は上記の諸点に鑑み成されたもので、a−8tに
就て電子写真用像形成部材や固体撮像装置、読取装置等
に使用される光導電部材としての適用性とその応用性と
いう観点から総括的に鋭意研究検討を続けた結果、シリ
コン原子を母体とし、水素原子(H)又はハロゲン原子
(X)のいずれか一方を少なくとも含有するアモルファ
ス材料、所謂水素化アモルファスシリコン、ハロゲン化
アモルファスシリコン、或いはハロダン含有水素化アモ
ルファスシリコン〔以後これ等の総称的表記としてr
a−8l (H、X)Jを使用する〕から構成され、光
導電性を示す光受容層を有する光導電部材の層構成を以
後に説明される様に特定化して設計され作成された光導
電部材は、実用上著しく優れた特性を示すばかりで々〈
従来の光導電部材と較べてみてもあらゆる点において凌
駕していること、殊に電子写真用の光導電部材として著
しく優れた特性を有していること、及び長波長側に於け
る吸収スペクトル特性に優れていることを見出した点に
基づいている。The present invention has been made in view of the above-mentioned points, and is characterized by its applicability and applicability to a-8T as a photoconductive member used in electrophotographic image forming members, solid-state imaging devices, reading devices, etc. As a result of comprehensive research and consideration from this point of view, we have discovered an amorphous material that uses silicon atoms as its base material and contains at least either a hydrogen atom (H) or a halogen atom (X), so-called hydrogenated amorphous silicon, and halogenated amorphous material. Silicon or halodane-containing hydrogenated amorphous silicon [hereinafter referred to as r
a-8l (H, Electrically conductive materials exhibit extremely excellent properties in practical use.
It is superior in all respects to conventional photoconductive materials, and has particularly excellent properties as a photoconductive material for electrophotography, as well as absorption spectrum characteristics on the long wavelength side. It is based on the points that have been found to be superior to
本発明は電気的、光学的、光導電的特性が常時安定して
いて、殆んど使用環境に制限を受けない全環境型であシ
、長波長側の光感度特性に優れると共に耐光疲労に著し
く長け、繰返し使用に際しても劣化現象を起さず、残留
電位が全く又は殆んど観測されない光導電部材を提供す
ることを主たる目的とする。The present invention has stable electrical, optical, and photoconductive properties at all times, is an all-environment type with almost no restrictions on usage environments, and has excellent photosensitivity on the long wavelength side and is resistant to light fatigue. The main object of the present invention is to provide a photoconductive member that is extremely durable, does not exhibit any deterioration phenomenon even after repeated use, and has no or almost no residual potential observed.
本発明の別の目的は、全可視光域に於いて光感度が高く
、殊に半導体レーザとのマツチングに優れ、且つ光応答
の速い光導電部材を提供することである。Another object of the present invention is to provide a photoconductive member that has high photosensitivity in the entire visible light range, has excellent matching with semiconductor lasers in particular, and has fast photoresponse.
本発明の他の目的は、支持体上に設けられる層と支持体
との間や積層される層の各層間に於ける密着性に優れ、
構造配列的に緻密で安定的であり、層品質の高い光導電
部材を提供することである。Another object of the present invention is to have excellent adhesion between a layer provided on a support and the support and between each layer of laminated layers,
It is an object of the present invention to provide a photoconductive member that is dense and stable in terms of structural arrangement and has high layer quality.
本発明の他の目的は、電子写真用の像形成部材として適
用させた場合、通常の電子写真法が極めて有効に適用さ
れ得る程度に、静電像形成の為の帯電処理の際の電荷保
持能が充分あシ、且つ多湿雰囲気中でもその特性の低下
が殆んど観測されない優れた電子写真特性を有する光導
電部材を提供することである。Another object of the present invention is to maintain charge retention during charging processing for electrostatic image formation to such an extent that ordinary electrophotography can be applied very effectively when applied as an image forming member for electrophotography. It is an object of the present invention to provide a photoconductive member which has sufficient performance and excellent electrophotographic properties with almost no deterioration of the properties observed even in a humid atmosphere.
本発明の更に他の目的は、濃度が高く、ハーフトーンが
鮮明に出て且つ解像度の高い、高品質画像を得る事が容
易に出来る電子写真用の光導電部材を提供することであ
る。Still another object of the present invention is to provide a photoconductive member for electrophotography that can easily produce high-quality images with high density, clear halftones, and high resolution.
本発明の更にもう一つの目的は、高光感度性。Yet another object of the present invention is high photosensitivity.
高SN比特性及び支持体との間に良好な電気的接触性を
有する光導電部材を提供することである。It is an object of the present invention to provide a photoconductive member having high signal-to-noise ratio characteristics and good electrical contact with a support.
本発明の光導電部材は、光導電部材用の支持体と、へ与
へへ箪子旭ゲルマニウム原子とを含む非晶質材料で構成
された第1の層領域とシリコン原子を含む非晶質材料で
構成され光導電性を示す第2の層領域とが前記支持体側
よシ順に設けられた層構成の光受容層とを有し、前記第
1の層領域中に伝導性を支配する物質が含有され、前記
光受容層には窒素原子が含有されていることを特徴とす
るO
上記した様な層構成を取る様にして設計された本発明の
光導電部材は、前記した諸問題の総てを殊に、電子写真
用像形成部材として適用させた場合には、画像形成への
残留電位の影響が全くなく、その電気的特性が安定して
おり高感度で、高SN比を有するものであって、耐光疲
労、繰返し使用特性に長け、濃度が高く、ハーフトーン
が鮮明に出て、且つ解像度の高い、高品質の画像を安定
して繰返し得ることができる。The photoconductive member of the present invention includes a support for the photoconductive member, a first layer region composed of an amorphous material containing germanium atoms, and an amorphous material containing silicon atoms. A second layer region composed of a material and exhibiting photoconductivity, and a photoreceptive layer having a layered structure provided in order from the support side, and a substance controlling conductivity in the first layer region. and the photoreceptive layer contains nitrogen atoms.The photoconductive member of the present invention, which is designed to have the above-mentioned layer structure, solves the above-mentioned problems. Especially when applied as an electrophotographic image forming member, there is no influence of residual potential on image formation, its electrical characteristics are stable, it is highly sensitive, and it has a high signal-to-noise ratio. It has excellent light fatigue resistance and repeated use characteristics, and can stably and repeatedly produce high-quality images with high density, clear halftones, and high resolution.
又、本発明の光導電部材は支持体上に形成される光受容
層が、層目体が強靭であって、且つ支持体との密着性に
著しく優れておシ、高速で長時間連続的に繰返し使用す
ることができる。In addition, the photoconductive member of the present invention has a photoreceptive layer formed on the support, which has a strong layer structure and excellent adhesion to the support, and can be continuously used at high speed and for a long time. Can be used repeatedly.
更に、本発明の光導電部材は、全可視光域に於いて光感
度が高く、殊に半導体レーザとのマツチングに優れ、且
つ光応答が速い。Further, the photoconductive member of the present invention has high photosensitivity in the entire visible light range, is particularly excellent in matching with semiconductor lasers, and has fast photoresponse.
以下、図面に従って、本発明の光導電部材に就で詳細に
説明する。Hereinafter, the photoconductive member of the present invention will be explained in detail with reference to the drawings.
第1図は、本発明の第1の実施態様の光導電部材の層構
成を説明するために模式的に示した構成図である。FIG. 1 is a diagram schematically showing the layer structure of a photoconductive member according to a first embodiment of the present invention.
第1図に示す光導電部材100は、光導電部材用として
の支持体101の上に、光受容層102を有し、該光受
容層102は自由表面105e−上、
で構成された第10層領域(G) 103とu−8t(
H。The photoconductive member 100 shown in FIG. 1 has a photoreceptive layer 102 on a support 101 for the photoconductive member, and the photoreceptive layer 102 has a tenth layer on a free surface 105e. Layer region (G) 103 and u-8t (
H.
X)で構成され光導電性を有する第2の層領域C3)1
04とが1国に積層された層構造を有する。A second layer region C3)1 composed of X) and having photoconductivity
It has a layered structure in which 04 and 04 are stacked in one country.
第1の層領域(G) 103中に含有されるゲルマニウ
ム原子は、該第1の層領域(G) 1030層厚方向及
び支持体1.01の表面と平行な面内方向に連続的で均
一に分布した状態と外る様に前記第1の層領域(G)
103中に含有される。The germanium atoms contained in the first layer region (G) 103 are continuous and uniform in the thickness direction of the first layer region (G) 1030 and in the in-plane direction parallel to the surface of the support 1.01. The first layer region (G)
Contained in 103.
本発明の光導電部材100に於いては、少なくとも第1
の層領域(G) 103に伝導特性を支配する物質(C
)が含有されておυ、第1の層領域CG)103に所望
の伝導特性が与えられている。In the photoconductive member 100 of the present invention, at least the first
The layer region (G) 103 contains a substance (C) that controls conduction characteristics.
) is included to give the first layer region CG) 103 the desired conductive properties.
本発明に於いては、第1の層領域(G) 103に含有
される伝導特性を支配する物質(C)は、第1の層領域
(G) 103の全層領域に刃側なく均一に含有されて
も良く、第1の層領域(G) 103の一部の層領域に
偏在する様に含有されても良い。In the present invention, the substance (C) that controls the conductive properties contained in the first layer region (G) 103 is uniformly distributed over the entire layer region of the first layer region (G) 103 without any edges. It may be contained or may be contained so as to be unevenly distributed in a part of the layer region of the first layer region (G) 103.
本発明に於いて伝導特性を支配する物質(C)″f:第
1の層領域(G)の一部の層領域に偏在する様に第1の
層領域(G)中に含有させる場合には、前記物質(C)
の含有される層領域(PN)は、第1の層領域(G)の
端部層領域として設けられるのが望ましいものである。In the present invention, a substance (C)″f that controls conduction characteristics: When contained in the first layer region (G) so as to be unevenly distributed in a part of the first layer region (G) is the substance (C)
The layer region (PN) containing is preferably provided as an end layer region of the first layer region (G).
殊に、第1の層領域(G)の支持体側の端部層領域とし
て前記層領域(PN)が設けられる場合には、該層領域
(PN)中に含有される前記物質(C)の種類及びその
含有量を所望に応じて適宜選択することによって支持体
から光受容層中への特定の極性の電荷の注入を効果的に
阻止することが出来る。In particular, when the layer region (PN) is provided as an end layer region on the support side of the first layer region (G), the substance (C) contained in the layer region (PN) By appropriately selecting the type and content thereof as desired, it is possible to effectively prevent charge of a specific polarity from being injected from the support into the photoreceptive layer.
本発明の光導電部材に於いては、伝導特性を制御するこ
との出来る物質(C)を、光受容層の一部を構成する第
1の層領域(G)中に、前記した様に該層領域(G)の
全域に刃側なく、或いは層厚方向に偏在する様に含有さ
せるものであるが、更には、第1の層領域(G)上に設
けられる第2の層領域(S)中にも前記物質(C)を含
有させても良いものである。In the photoconductive member of the present invention, the substance (C) capable of controlling conduction properties is added to the first layer region (G) constituting a part of the photoreceptive layer as described above. It is intended to be contained throughout the layer region (G) not on the blade side or unevenly distributed in the layer thickness direction, but furthermore, it is contained in the second layer region (S) provided on the first layer region (G). ) may also contain the substance (C).
第2の層領域(S)中に前記物質(C)を含有させる場
合には、第1の層領域(G)中に含有される前、記物質
(C)の種類やその含有量及びその含有の仕方に応じて
、第2の層領域(S)中に含有させる物質(C)の種類
やその含有量、及びその含有の仕方が適宜法められる。When the substance (C) is contained in the second layer region (S), the type, content and amount of the substance (C) must be determined before it is contained in the first layer region (G). Depending on the manner of inclusion, the type and amount of the substance (C) to be included in the second layer region (S), and the manner of inclusion are determined as appropriate.
本発明に於いては、第2の層領域(S)中に前記物質<
C>を含有させる場合、好ましくは、少なくとも第1の
層領域(G)との接触界面を含む層領域中に前記物質を
含有させるのが望ましいものである。In the present invention, the substance <
C>, it is preferable that the substance be contained in at least the layer region including the contact interface with the first layer region (G).
本発明に於いては、前記物質(C)は第2の層領域(S
)の全層領域に刃側なく含有させても良いし、或いは、
その一部の層領域に均一に含有させても良いものである
。In the present invention, the substance (C) is added to the second layer region (S
) may be contained in the entire layer area without the blade side, or,
It may be contained uniformly in a part of the layer region.
第10層領域(G)と第2の層領域(S)の両方に伝導
特性を支配する物質(C)を含有させる場合、第1の層
領域(G)に於ける前記物質(C)が含有されている層
領域と、第2の層領域(S)に於ける前記物質(C)が
含有されている層領域とが、互いに接触する様に設ける
のが望ましい。又、第1の層領域(G)と第2の層領域
(S)とに含有される前記物* (C)は、第1の層領
域(G)と第2の層領域(S)とに於いて同種類でも異
種類であっても良く、又、その含有量は各層領域に於い
て同じでも異っていても良い。When both the tenth layer region (G) and the second layer region (S) contain a substance (C) that controls conduction characteristics, the substance (C) in the first layer region (G) It is desirable that the layer region containing the substance (C) and the layer region containing the substance (C) in the second layer region (S) are provided so as to be in contact with each other. Further, the substance * (C) contained in the first layer region (G) and the second layer region (S) is contained in the first layer region (G) and the second layer region (S). They may be of the same type or different types, and their content may be the same or different in each layer region.
しかしながら、本発明に於いては、各層領域に含有され
る前記物質(C)が両者に於いて同種類である場合には
、第1の層領域(G)中の含有量を充分多くするか、又
は、電気的特性の異なる種類の物質(C) t−1所望
の各層領域に夫々含有させるのが好ましいものである。However, in the present invention, if the substance (C) contained in each layer region is the same in both, it is necessary to increase the content in the first layer region (G) sufficiently. , or substances (C) t-1 having different electrical properties are preferably contained in each desired layer region.
本発明に於いては、少なくとも光受容層f、構成する第
1の層領域(G)中に、伝導特性を支配する物質(C)
を含有させる仁とにょ9、該物質(C)の含有される層
領域〔第1の層領域(G)の一部又は全部の層領域のい
ずれでも良い〕の伝導特性を所望に従って任意に制御す
ることが出来るものであるが、この様な物質としては、
所謂、半導体分野で云われる不純物を挙げることが出来
、本発明に於いては、形成される光受容層を構成するa
−8IGe(H,X)に対して、p型伝導特性を与える
p型不純物及びn型伝導特性を与えるh型不純物を挙げ
ることが出来る。具体的にはp型不純物としては、周期
律表第■族に属する原子(第■族原子)、例えば、B(
硼素) 、 AA’ (アルミニウム) + Ga(ガ
リウム) 、 In (インジウム) 、 T/(タリ
ウム)等があシ、殊に好適に用いられるのは、B +
Gaである。n型不純物としては、周期律表第■族に属
する原子(第■族原子)、例えば、P(燐) 、 As
(砒素) 、 sb (アンチモン) 、 Bl (ビ
スマス)等であp、殊に、好適に用いられるのはP+A
sである。In the present invention, at least the photoreceptive layer f and the constituting first layer region (G) contain a substance (C) that controls conduction properties.
The conductive properties of the layer region containing the substance (C) (which may be part or all of the first layer region (G)) are controlled as desired. However, as such a substance,
The so-called impurities in the semiconductor field can be mentioned, and in the present invention, a constituting the photoreceptive layer to be formed is
For −8IGe(H, Specifically, p-type impurities include atoms belonging to Group ■ of the periodic table (Group ■ atoms), such as B(
(boron), AA' (aluminum) + Ga (gallium), In (indium), T/ (thallium), etc., and particularly preferably used are B +
It is Ga. Examples of n-type impurities include atoms belonging to Group ■ of the periodic table (Group ■ atoms), such as P (phosphorus) and As.
(arsenic), sb (antimony), Bl (bismuth), etc., and particularly preferably used is P+A.
It is s.
本発明に於いて、伝導特性を制御する物質が含有される
層領域(PN)に於けるその含有量は該層領域(PN)
に要求される伝導特性、或いは該層領域(PN)が支持
体に直に接触して設けらノLる場合には、その支持体と
の接触界面に於ける特性との関係等、有機的関連性に於
いて、適宜選択することが出来る。In the present invention, the content in the layer region (PN) in which the substance controlling conduction characteristics is contained is
If the layer region (PN) is provided in direct contact with the support, the conductivity properties required for the organic Depending on the relevance, it can be selected as appropriate.
又、前記層領域(PN)に直に接触して設けられる他の
層領域や、該他の層領域との接触界面に於ける特性との
関係も考慮されて、伝導特性を制御する物質の含有量が
適宜選択される。In addition, the relationship with other layer regions provided in direct contact with the layer region (PN) and the characteristics at the contact interface with the other layer regions is also considered, and the material that controls the conduction characteristics is determined. The content is selected appropriately.
本発明に於いて、層領域(PN)中に含有される伝導特
性を制御する物質(C)の含有量としては、好ましくは
、0.01〜5 X 10’ atomic ppm
% よシ好適には、0.5〜I X 10’ atom
ie ppm s最適には、1〜5 X 103ato
mi c ppmとされるのが望ましいものである。In the present invention, the content of the substance (C) that controls conduction properties contained in the layer region (PN) is preferably 0.01 to 5 x 10' atomic ppm.
% is preferably 0.5 to I x 10' atom
ie ppm s optimally 1-5 x 103ato
It is preferable that the amount is mic ppm.
本発明に於いて、伝導特性を支配する物質(C)が含有
される層領域(PN)に於ける該物質(C)の含有量を
、好ましくは30 atomic ppm以上、よシ好
適には50 atomic ppm以上、最適には10
0100ato pprn以上、とすることによって例
えば、該含有させる物質が前記のp型不純物の場合には
、光受容層の自由表面が■極性に帯電処理を受けた際に
支持体側からの光受容層中への電子の注入を効果的に阻
止することが出来、又、前記含有させる物質が前記のn
型不純物の場合には、光受容層の自由表面がθ極性に帯
電処理を受けた際に、支持体側から光受容層中への正孔
の注入全効果的に阻止することが出来る。In the present invention, the content of the substance (C) that governs the conduction characteristics in the layer region (PN) containing the substance (C) is preferably 30 atomic ppm or more, more preferably 50 atomic ppm or more. Atomic ppm or higher, optimally 10
For example, when the substance to be contained is the above-mentioned p-type impurity, when the free surface of the photoreceptive layer is subjected to polar charging treatment, by The substance to be contained can effectively prevent the injection of electrons into the n
In the case of type impurities, when the free surface of the photoreceptive layer is charged to θ polarity, the injection of holes from the support side into the photoreceptor layer can be completely blocked.
上記の様な場合には、前述したように、前記層領域(P
N)を除いた部分の1−領域(Z)には、層領域(PN
)に含有される伝導特性を支配する物質(C)の伝導型
の極性とは別の伝導型の極性の伝導特性を支配する物質
<c>’を含有させても良いし、或いは、同極性の伝導
型を有する伝導性を支配する物質(C)を、層領域(P
N)に含有させる実際の量よυも一段と少ない量にして
含有させても良いものである。In the above case, as mentioned above, the layer region (P
In the 1-region (Z) of the part excluding N), there is a layer region (PN
) may contain a substance <c>' which controls the conduction characteristics of a conduction type polarity different from the conduction type polarity of the substance (C) which governs the conduction characteristics contained in the substance (C), or may have the same polarity. A material (C) that controls conductivity and has a conductivity type of is added to a layer region (P
The actual amount υ contained in N) may also be much smaller.
この様な場合、前記層領域(Z)中に含有される前記伝
導特性を支配する物質の含有量としては、層領域(PN
)に含有される前記物質の極性や含有量に応じて所望に
従って適宜決定されるものであるが、好ましくは、0.
001〜1000 atomic ppm 。In such a case, the content of the substance controlling the conductive properties contained in the layer region (Z) is
) is determined as desired depending on the polarity and content of the substance contained in the substance, but preferably 0.
001-1000 atomic ppm.
より好適には0.05〜500 atomic ppm
%最適には0.1〜200 atomic ppmと
されるのが望ましいものである。More preferably 0.05-500 atomic ppm
% is desirably 0.1 to 200 atomic ppm.
本発明に於いて、層領域(PN)及び層領域(Z)に同
種の伝導性を支配する物質(C)を含有させる場合には
、層領域(Z)に於ける含有量としては、好ましくは、
30 atomie ppm以下とするのが望ましいも
のであ゛る。In the present invention, when the layer region (PN) and the layer region (Z) contain the same type of substance (C) that controls conductivity, the content in the layer region (Z) is preferably teeth,
It is desirable that the content be 30 ppm or less.
本発明に於いては、光受容層中に、一方の極性の伝導型
を有する伝導性を支配する物質を含有させた層領域と、
他方の極性の伝導型を有する伝導性全支配する物質を含
有させた層領域とを直に接触する様に設けて、該接触領
域に所謂空乏層を設けることも出来る。つまシ、例えば
、光受容層中に、前記のp型不純物を含有する層領域と
前記のn型不純物を含有する層領域とを直に接触する様
に設けて所謂p−n接合を形成して、空乏層を設けるこ
とが出来る。In the present invention, a layer region containing a substance controlling conductivity having one polar conductivity type in the photoreceptive layer;
It is also possible to provide a so-called depletion layer in the contact region by directly contacting a layer region containing a conductivity-dominant substance having a conductivity type of the other polarity. For example, the layer region containing the p-type impurity and the layer region containing the n-type impurity are provided in the photoreceptive layer so as to be in direct contact with each other to form a so-called p-n junction. Thus, a depletion layer can be provided.
本発明に於いては、第一の層領域(G)上に設けられる
第20層領域(S)中には、ダルマニュウム原子は含有
されておらず、この様な層構造に光受容層を形成するこ
とによって、可視光領域を含む比較的短波長から比較的
短波長迄の全領域の波長の光に対して光感度が優れてい
る光導電部材とし得るものである。In the present invention, the 20th layer region (S) provided on the first layer region (G) does not contain damanium atoms, and a photoreceptive layer is formed in such a layer structure. By doing so, it is possible to obtain a photoconductive member that has excellent photosensitivity to light of all wavelengths from relatively short wavelengths to relatively short wavelengths including the visible light region.
又、第1の層領域CG)中に於けるケ゛ルマニウム原子
の分布状態は、全層領域にゲルマニウム原子が連続的に
分布しているので、第1の層領域(G)と第2の層領域
(S)との間に於ける親和性に優れ半導体レーデ等を使
用した場合の、第2の層領域(S)では殆んど吸収し切
れない長波長側の光を第1の層領域(G)に於いて実質
的に完全に吸収することが出来、支持体面からの反射に
よる干渉を防止するととが出来る。In addition, the distribution state of germanium atoms in the first layer region (CG) is such that germanium atoms are continuously distributed in the entire layer region, so that the distribution state of germanium atoms in the first layer region (G) and the second layer region (G) is When using a semiconductor radar, etc., which has excellent affinity with (S), the first layer region ( G) can be substantially completely absorbed and interference due to reflection from the support surface can be prevented.
材料の夫々がシリコン原子という共通の構成要素を有し
ているので、積層界面に於いて化学的な安定性の確保が
充分成されている。Since each of the materials has a common constituent element of silicon atoms, chemical stability is sufficiently ensured at the laminated interface.
本発明において、第1の層領域(G)中に含有されるケ
゛ルマニウム原子の含有量としては、本発明の目的が効
果的に達成される様に所望に従って適宜法められるが、
好ましくは1〜l0XIOatomicPlum)よシ
好ましくは100〜95X10 atomle ppm
。In the present invention, the content of kermanium atoms contained in the first layer region (G) may be determined as desired so as to effectively achieve the object of the present invention.
Preferably 1-10XIO atomic Plum), preferably 100-95X10 atomic ppm
.
最適には、500〜8Xi Oatomle ppmと
されるのが望ましいものである。Optimally, it is desirable to set the content to 500 to 8Xi Oatomle ppm.
本発明に於いて第1のj層領域(G)と第2の層領域(
S)との層厚は、本発明の目的を効果的に達成させる為
の重要な因子の1つであるので形成される光導電部材に
所望の特性が充分与えられる様に、光導電部材の設計の
際に充分なる注意が払われる必要がある。In the present invention, the first J layer region (G) and the second layer region (
The layer thickness of the photoconductive member S) is one of the important factors for effectively achieving the object of the present invention. Great care must be taken during design.
本発明に於いて、第1の層領域(G)の層厚TBは、好
ましくは、301〜50μ、よシ好ましくは、401〜
40μ、最適には、501〜30μとされるのが望まし
い。In the present invention, the layer thickness TB of the first layer region (G) is preferably 301 to 50μ, more preferably 401 to 50μ.
It is desirable that the thickness be 40μ, most preferably 501 to 30μ.
又、第2の層領域(8)の層厚Tは、好ましくは、0.
5〜90μ、よシ好ましくは1〜801t、最適には2
〜50μとされるのが望ましい。Further, the layer thickness T of the second layer region (8) is preferably 0.
5 to 90μ, preferably 1 to 801t, optimally 2
It is desirable that the thickness be ~50μ.
第1の層領域(G)の層厚Tnと第2の層領域(S)の
層厚Tの和(TB + T )としては、両層領域に要
求される特性と光受容層全体に要求される特性との相互
間の有機的関連性に基づいて、光導電部材の層設計の際
に所望に従って、適宜決定される。The sum (TB + T) of the layer thickness Tn of the first layer region (G) and the layer thickness T of the second layer region (S) is based on the characteristics required for both layer regions and the characteristics required for the entire photoreceptive layer. It is suitably determined as desired when designing the layers of the photoconductive member, based on the organic relationship between the properties and the characteristics to be used.
本発明の光導電部材に於いては、上記の(TR+T)の
数値範囲としては、好ましくは1〜100μ、よシ好適
には1〜80μ、最適には2〜50μとされるのが望ま
しい。In the photoconductive member of the present invention, the numerical range of (TR+T) is preferably 1 to 100μ, more preferably 1 to 80μ, and most preferably 2 to 50μ.
なる関係を満足する狼、夫々に対して適宜適切な数値が
選択されるのが望ましい。It is desirable to select an appropriate numerical value for each wolf that satisfies the following relationship.
上記の場合に於ける層厚TB及び層厚Tの数値の選択に
於い”C1よυ好ましくは、TB / T≦0.9、最
適にはTB/T≦0,8なる関係が満足される様に層厚
TB及び層厚Tの値が決定されるのが望ましいものであ
る。In selecting the numerical values of the layer thickness TB and the layer thickness T in the above case, the relationship "C1" preferably satisfies TB/T≦0.9, optimally TB/T≦0.8. It is desirable that the values of layer thickness TB and layer thickness T be determined such that
本発明に於いて、第1の層領域(G)中に含有されるダ
ルマニウム原子の含有量がlXl0 atomicpp
m以上の場合には、第1の層領域(G)の層厚TBとし
ては成可く薄くされるのが望ましく、好ましくは30μ
以下、よp好ましくは25μ以下、最適には20μ以下
とされるのが望ましいものである。In the present invention, the content of dalmanium atoms contained in the first layer region (G) is lXl0 atomicpp
m or more, it is desirable that the layer thickness TB of the first layer region (G) be as thin as possible, preferably 30 μm.
Hereinafter, the thickness is preferably 25μ or less, most preferably 20μ or less.
本発明の光導電部材に於いては、高光感度化と高暗抵抗
化、更には、支持体と光受容層との間の1“iHf性の
改良を図る目的の為に、光受容層中には、酸素原子が含
有される。光受容層中に含有される酸素原子は、光受容
層の全層領域に刃側なく含有され°Cも良いし、或いは
、光受容層の一部の層領域のみに1有させて偏在させて
も良い。In the photoconductive member of the present invention, in order to increase photosensitivity and dark resistance, and further improve the 1"iHf property between the support and the photoreceptive layer, contains oxygen atoms.The oxygen atoms contained in the photoreceptive layer may be contained in the entire layer area of the photoreceptive layer without cutting edges, or may be contained in a part of the photoreceptive layer. One layer may be provided only in the layer region and may be unevenly distributed.
又、窒素原子の分布状態は、分布濃度C(N)が光受容
層の層厚方向に於いて均一であっても不均一であっても
良い。Further, regarding the distribution state of nitrogen atoms, the distribution concentration C(N) may be uniform or non-uniform in the layer thickness direction of the photoreceptive layer.
本発明に於いて、光受容層に設けられる窒素原子の含有
されている層領域(N)は、光感度と暗抵抗の向上を主
たる目的とする場合には、光受容層の全層領域を占める
様に設けられ、支持体と光受容層との間の密着性の強化
を図るのを主たる目的とする場合には、光受容層の支持
体側端部層領域を占める様に設けられる。In the present invention, when the main purpose of the layer region (N) containing nitrogen atoms provided in the photoreceptive layer is to improve photosensitivity and dark resistance, the entire layer region of the photoreceptive layer is When the main purpose is to strengthen the adhesion between the support and the light-receiving layer, the light-receiving layer is provided so as to occupy the support-side end layer region of the light-receiving layer.
前者の場合、層領域(N)中に含有される窒素原子の含
有量は、高光感度を維持する為に比較的少なくされ、後
者の場合には、支持体との密着性の強化を確実に図る為
に比較的多くされるのが望寸しいO
又、前者と後者の両方を同時に達成する目的の為には、
支持体側に於いて比較的高濃度に分布させ、光受容層の
自由表面側に於いて比較的低濃度に分布させるのか、或
いは、光受容層の自由表面側の表層領域には、窒素原子
を積極的には含有させない様な窒素原子の分布状態を層
領域(N)中に形成すれば良い。In the former case, the content of nitrogen atoms contained in the layer region (N) is kept relatively low in order to maintain high photosensitivity, while in the latter case, it ensures enhanced adhesion with the support. For the purpose of achieving both the former and the latter at the same time, it is desirable to have a relatively large number of
Either the nitrogen atoms are distributed at a relatively high concentration on the support side and the nitrogen atoms are distributed at a relatively low concentration on the free surface side of the photoreceptive layer. It is sufficient to form a distribution state of nitrogen atoms in the layer region (N) such that nitrogen atoms are not actively contained.
本発明に於いて、光受容層に設けられる層領域(N)に
含有される窒素原子の含有量は、層領域(へ)自体に要
求される特性、或いは該層領域(N)が支持体に直に接
触して設けられる場合には、該支持体との接触界面に於
ける特性との関係等、有機的関連性に於いて、適宜選択
することが出来る。In the present invention, the content of nitrogen atoms contained in the layer region (N) provided in the photoreceptive layer depends on the characteristics required for the layer region (N) itself, or when the layer region (N) is attached to the support. When provided in direct contact with the support, it can be appropriately selected depending on the organic relationship, such as the relationship with the properties at the contact interface with the support.
又、前記層領域(N)に直に接触して他の層領域が設け
られる場合には、該他の層領域の特性や、該他の層領域
との接触界面に於ける特性との関係も考慮されて、窒素
原子の含有量が適宜選択さ、れる。In addition, when another layer region is provided in direct contact with the layer region (N), the relationship with the characteristics of the other layer region and the characteristics at the contact interface with the other layer region The nitrogen atom content is appropriately selected with consideration given to the following.
層領域(N)中に含有される窒素原子の量は、形成され
る光導電部材に要求される特性に応じて所望に従って適
宜法められるが、好ましくは、OD、01〜50 at
omic %、よシ好ましくは、0.002”(Oat
omlc%、最適には0.003〜30 atomic
%とされるのが望ましいものである。The amount of nitrogen atoms contained in the layer region (N) is determined as desired depending on the properties required of the photoconductive member to be formed, but is preferably OD, 01 to 50 at.
omic%, preferably 0.002” (Oat
omlc%, optimally 0.003-30 atomic
% is preferable.
本発明に於いて、層領域(N)が光受容層の全域を占め
るか、或いは、光受容層の全域を占めなくとも、層領域
(N)の層厚TOの光受容層の層厚Tに占める割合が充
分多い場合には、層領域(N)に含有される窒素原子の
含有量の上限は、前記の値よυ充分小なくされるのが望
ましい。In the present invention, whether the layer region (N) occupies the entire area of the photoreceptive layer or even if it does not occupy the entire area of the photoreceptor layer, the layer thickness T of the photoreceptor layer is equal to the layer thickness TO of the layer area (N). When the proportion of nitrogen atoms in the layer region (N) is sufficiently large, it is desirable that the upper limit of the content of nitrogen atoms contained in the layer region (N) is set to be sufficiently smaller than the above value.
本発明の場合には、層領域(N)の層厚TOが光受容層
の層厚Tに対して占める割合が5分2以上となる様な場
合には、層領域(N)中に含有される窒素原子の量の上
限としては、好ましくは、30atomicチ以下、よ
り好ましくは20 atomic%以下、最適には10
atomic%以下とされるのが望ましいものである
。In the case of the present invention, if the ratio of the layer thickness TO of the layer region (N) to the layer thickness T of the photoreceptive layer is 2/5 or more, The upper limit of the amount of nitrogen atoms is preferably 30 atomic% or less, more preferably 20 atomic% or less, and optimally 10 atomic% or less.
It is desirable that it be atomic% or less.
第2図乃至第10図には、本発明における光導電部材の
層領域(N)中に含有される窒素原子の層厚方向の分布
状態の典型的例が示される。2 to 10 show typical examples of the distribution state of nitrogen atoms contained in the layer region (N) of the photoconductive member in the present invention in the layer thickness direction.
第2図乃至第10図において、横軸は窒素原子の分布濃
度Cを、縦軸は、層領域(N)の層厚を示し、tllは
支持体側の層領域(N)の端面の位置を、tTは支持体
側とは反対側の層領域(N)の端面の位置を示す。即ち
、窒素原子の含有される層領域(へ)はtl側よF)
tr側に向りて層形成がなされる。2 to 10, the horizontal axis shows the distribution concentration C of nitrogen atoms, the vertical axis shows the layer thickness of the layer region (N), and tll indicates the position of the end surface of the layer region (N) on the support side. , tT indicates the position of the end surface of the layer region (N) on the side opposite to the support side. In other words, the layer region containing nitrogen atoms is on the tl side (F)
Layer formation is performed toward the tr side.
第2図には、層領域(N)中に含有される窒素原子の層
厚方向の分布状態の第1の典型例が示される。FIG. 2 shows a first typical example of the distribution state of nitrogen atoms contained in the layer region (N) in the layer thickness direction.
第2図に示される例では、窒素原子の含有される層領域
(N)が形成される支持体の表面と該層領域(N)の表
面とが接する界面位置tBより tlの位置までは、窒
素原子の分布濃度CがC1なる一定の値を取りながら窒
素原子が形成される層領域(N)に含有され、位置t1
よシは濃度C2より界面位置11に至るまで徐々に連続
的に減少されている0界面位置tTにおいては窒素原子
の分布濃度CはC3とされる。In the example shown in FIG. 2, from the interface position tB where the surface of the support where the nitrogen atom-containing layer region (N) is formed and the surface of the layer region (N) contact, to the position tl, Nitrogen atoms are contained in the layer region (N) where the nitrogen atoms are formed while taking a constant value of C1, and the distribution concentration C of nitrogen atoms is at the position t1.
In other words, at the 0 interface position tT, where the concentration C2 is gradually and continuously reduced from the concentration C2 to the interface position 11, the distribution concentration C of nitrogen atoms is set to C3.
第3図に示される例においては、含有される窒素原子の
分布濃度Cは位置tBより位置tTに到るまでW%1i
tCsから徐々に連続的に減少して位置tTにおいて1
1度C5となる様な分布状態を形成している。In the example shown in FIG. 3, the distribution concentration C of the contained nitrogen atoms is W%1i from position tB to position tT.
1 at position tT by gradually decreasing continuously from tCs.
A distribution state is formed such that the temperature becomes C5 once.
第4図の場合には、位置tBよ多位置t2までは窒素原
子の分布濃度Cは濃度C6と一定値とされ位[t2と位
置t4との間において、徐々に連続的に減少され、位置
tTにおいて、分布濃度Cは実質的に零とされている(
ここで実質的に零とは検出限界量未満の場合である)。In the case of FIG. 4, the distribution concentration C of nitrogen atoms is kept constant at the concentration C6 from position tB to multiple positions t2; At tT, the distribution concentration C is substantially zero (
(Here, "substantially zero" means that the amount is less than the detection limit).
第5図の場合には、窒素原子の分布濃度Cは位置taよ
り位置tlに到るまで、濃度08より連続的に徐々に減
少され、位置t7において実質的に零とされている。In the case of FIG. 5, the distribution concentration C of nitrogen atoms is continuously and gradually reduced from the concentration 08 from the position ta to the position tl, and becomes substantially zero at the position t7.
第6図に示す例においては、窒素原子分布濃度Cは、位
置ti+と位置13間においては、濃度C9と一定値で
あシ、位置tTにおいては濃度C10される。In the example shown in FIG. 6, the nitrogen atom distribution concentration C is a constant value of concentration C9 between the position ti+ and the position 13, and is the concentration C10 at the position tT.
位置t3と位置tTとの間では、分布濃度Cは一次関数
的に位置t3よ多位置tTに至るまで減少されている。Between the position t3 and the position tT, the distribution density C is linearly decreased from the position t3 to the multiple positions tT.
第7図に示される例においては、分布濃度Cは位置t1
1よ多位置t4までは濃度C11の一定値を取り、位置
t4よ多位置tTまでは濃度C12よシ濃度C13まで
一次関数的に減少する分布状態とされている。In the example shown in FIG. 7, the distribution concentration C is at position t1.
The distribution state is such that the density C11 takes a constant value from the position t4 to the multi-position t4, and decreases linearly from the density C12 to the density C13 from the position t4 to the multi-position tT.
第8図に示す例においては、位置1.より位置11に至
るまで、窒素原子の分布濃度Cは濃度C14よシ実質的
に零に至る様に一次関数的に減少している。In the example shown in FIG. 8, position 1. Further up to position 11, the distribution concentration C of nitrogen atoms decreases in a linear function so as to reach substantially zero from the concentration C14.
第9図においては、位置tmよシ位置t5に至るまでは
窒素原子の分布濃度Cは、濃度C15よシ濃度C16ま
で一次関数的に減少され、位置t5と位置tTとの間に
おいては、濃度C16の一定値とされた例が示されてい
る。In FIG. 9, from position tm to position t5, the distribution concentration C of nitrogen atoms decreases linearly from concentration C15 to concentration C16, and between position t5 and position tT, the concentration An example in which C16 is set to a constant value is shown.
第10図に示される例においては、窒素原子の分布濃度
Cは位置tiにおいて濃度C17であシ、位Rt6に至
るまではこの濃度C+7よシ初めはゆっくυと減少され
、t6の位置付近においては、急激に減少されて位1t
t6では濃度Ctaとされる。In the example shown in FIG. 10, the distribution concentration C of nitrogen atoms is at the concentration C17 at the position ti, and this concentration C+7 is initially decreased slowly as υ until it reaches the position Rt6, and then it decreases as υ around the position t6. In the case of
At t6, the concentration is set to Cta.
位置t6と位置t7との間においては、初め急激に減少
されて、その後は、緩かに徐々に減少されて位置t7で
濃度自9となシ、位置t7と位置t8との間では、極め
てゆっくりと徐々に減少されて位置t8において、濃度
C20に至たる。位置t8と位置tTの間においては、
濃度020よシ実質的に零になる様に図に示す如き形状
の曲線に従って減少されている。Between position t6 and position t7, the concentration is first rapidly decreased, and then it is gradually decreased until the concentration reaches 9 at position t7, and between position t7 and position t8, the concentration is extremely low. It is slowly and gradually decreased to reach the concentration C20 at position t8. Between position t8 and position tT,
The density is reduced to substantially zero from 020 according to a curve shaped as shown in the figure.
以上、第2図乃至第10図にょシ、層領域(N)中に含
有される窒素原子の層厚方向の分布状態の典型例の幾つ
かを説明した様に、本発明においては、支持体側におい
て、窒素原子の分布濃度Cの高い部分を有し、界面LT
側においては、前記分布濃度Cは支持体側に較べて可成
り低くされた部分を有する窒素原子の分布状態が層領域
(N)に設けられている。As described above in FIGS. 2 to 10, some typical examples of the distribution state of nitrogen atoms contained in the layer region (N) in the layer thickness direction, in the present invention, the support side has a portion with a high distribution concentration C of nitrogen atoms, and the interface LT
On the side, a distribution of nitrogen atoms is provided in the layer region (N) in which the distribution concentration C is considerably lower than on the support side.
本発明において、光受容層を構成する窒素原子の含有さ
れる層領域(N)は、上記した様に支持体側の方に窒素
原子が比較的高濃度で含有されている局在領域(B)を
有するものとして設けられるのが望ましく、この場合に
は、支持体と光受容層との間の密着性をより一層向上さ
せることが出来る。In the present invention, the layer region (N) containing nitrogen atoms constituting the photoreceptive layer is the localized region (B) containing nitrogen atoms at a relatively high concentration on the support side as described above. It is desirable that the support be provided as having the following properties, and in this case, the adhesion between the support and the light-receiving layer can be further improved.
上記局在領域(B)は、第2図乃至第10図に示す記号
を用いて説明すれば、界面位ffttiよシ5μ以内に
設けられるのが望ましい。The localized region (B), explained using the symbols shown in FIGS. 2 to 10, is preferably provided within 5 μm from the interface position fftti.
本発明においては、上記局在領域(B)は、界面位置t
nよシ5μ厚までの全層領域(LT)とされる場合もあ
るし、又、層領域(LT)の一部とされる場合もある。In the present invention, the localized region (B) is located at the interface position t
It may be the entire layer region (LT) up to a thickness of n to 5 μm, or it may be a part of the layer region (LT).
局在領域を層領域(LT )の一部とするか又は全部と
するかは、形成される光受容層に要求される特性に従っ
て適宜法められる。Whether the localized region is a part or all of the layer region (LT) is determined as appropriate depending on the characteristics required of the photoreceptive layer to be formed.
局在領域(B)はその中に含有される窒素原子の層厚方
向の分布状態として窒素原子の分布濃度の最大値Cma
xが好脣しく 500 atomlc ppm以上、
よシ好適には800 atomic ppm JJ上、
最適にけ100゜atomic ppm以上とされる様
な分布状態となシ得る様に層形成されるのが望ましい。The localized region (B) has the maximum distribution concentration Cma of nitrogen atoms as the distribution state of the nitrogen atoms contained therein in the layer thickness direction.
x is preferably 500 atomlc ppm or more,
Preferably 800 atomic ppm above JJ,
It is desirable that the layer be formed in such a way that a distribution state of at least 100° atomic ppm can be obtained.
即ち、本発明においては、窒素原子の含有される層領域
0)は、支持体[からの層厚で5μ以内(1Bから5μ
厚の層領域)に分布濃度の最大値Cmaxが存在する様
に形成されるのが望ましい。That is, in the present invention, the layer region 0) containing nitrogen atoms has a layer thickness within 5 μm from the support (5 μm from 1B).
It is desirable to form the layer so that the maximum value Cmax of the distribution concentration exists in the thick layer region).
本発明において、必要に応じて光受容層中に含有される
ハロケ9ン原子(イ)としては、具体的にはフッ素、塩
素、臭素、ヨウ素が挙り′られ、殊にフッ1の層領域り
)を形成するには例えばグロー放雷、法、スパッタリン
グ法、或いはイオンブレーティング法等の放電現象を利
用する真突堆私法によって成は、例えば〜柚χ視〜彎寛
キ羽61鴬衿〜肩1水素原子θわ導入用の原料ガス又は
/及びハロゲン原子(イ)導入用の原料ガスを、内部が
減圧にし得る堆ft室内に所望のガス圧状態で導入して
、該堆積から力るR1を形成させれば良い。又、スパッ
タリング法で形成する場合には、例えばAr + He
等の不活性がヌ又はこれ等のガスをペースとした混合プ
fヌの雰囲気中でSiで構成されたター/r”、)、或
イpi 、;1lf=ターゲツトとGeで構成されたタ
ーケ9ットの二枚を使用して、又は、slとGeの混合
されたター々゛ットを使用して、必要に応じてT(e
l Ar等の稀釈プrスで稀釈されたGe供給用の原料
ガスを、必要に応じて、水素原子([υ又け/及びハロ
ゲンガスQC) ip導入用がスをス)9ツタリング用
の堆杷室に導入し、所望のガスのプラズマ雰囲気を形成
すると共に、前記Ge供給用の原料ガスのガス流量を所
望の変化率曲線に従って制御し乍ら、前記のクーグツト
をスパッタリングしてやれば良い。In the present invention, specific examples of the halokene atom (a) contained in the photoreceptive layer as necessary include fluorine, chlorine, bromine, and iodine, particularly in the layer region of fluorine. For example, to form a 2000 pores, it is possible to form a 100% polyurethane by a private method that utilizes a discharge phenomenon such as glow lightning, sputtering, or ion blating. ~ Shoulder 1 A raw material gas for introducing hydrogen atoms θ and/or a raw material gas for introducing halogen atoms (a) is introduced at a desired gas pressure into a deposition chamber whose interior can be reduced in pressure, and the pressure is removed from the deposition. It is sufficient to form R1. In addition, when forming by sputtering method, for example, Ar + He
A target composed of Si or a target composed of Si in an atmosphere of an inert atmosphere such as N or a mixture of gases such as If necessary, T(e
If necessary, the source gas for Ge supply diluted with a diluent gas such as Ar, hydrogen atoms ( The above-mentioned Kugut may be sputtered while introducing it into a deposition chamber and forming a plasma atmosphere of a desired gas, and controlling the gas flow rate of the raw material gas for supplying Ge according to a desired rate of change curve.
イオンブレーティング法の場合には、例えば多結晶シリ
コン又はル結晶シリコンと多結晶ゲルマニウム又は里結
晶rルマニウムとを、夫々蒸発源として蒸着ボートに収
容し、この蒸発源を和゛抗加熱法、或いは、エレクトロ
ンビーム法(FB法)等によって加熱蒸発さぜ、飛翔蒸
発物を・所望のガスプラズマ葵囲気吊を通過させる以外
は、ス4 ツタリング法の場合と同様にする牢で行うこ
とが出来る。In the case of the ion blating method, for example, polycrystalline silicon or crystalline silicon and polycrystalline germanium or solid-crystalline rumanium are housed in a deposition boat as evaporation sources, and these evaporation sources are used by the combined anti-heating method or This can be carried out in the same manner as in the case of the stumbling method, except that the evaporated material is heated and evaporated by the electron beam method (FB method) or the like, and the flying evaporated material is passed through the desired gas plasma.
本発明において使用されるS1供給用の原料ガスと成り
初る物質としては、S1■■4.Si2■■6.513
H8S14)T、。笠のガス状態の又はガス化し行る水
素化硅素(シラン類)が有効に使用されろものとして丞
げられ、殊に、層作成作聚時の取拶い易さ、Si供給効
率の良さ等の点でSiF4,812■■6が好オしいも
のとして岸げられる。The substances that become the raw material gas for supplying S1 used in the present invention include S1■■4. Si2■■6.513
H8S14)T. Silicon hydride (silanes) in a gaseous state or in the form of a gas is recommended for effective use, especially for its ease of handling during layer-forming operations and good Si supply efficiency. In this respect, SiF4,812■■6 is considered to be preferable.
Ge供給用の原料ガスと成シ彷る物aとしてけ、GeH
41Ge2H6h Gey、HB * G114H10
1Ge5H121Ge6Ht4.Ge、H161Ge6
H1+3 + GepT(28等のがス状態の又はガス
化し得る水素化ゲルマニウムが有効に使用されるものと
して挙げられ、殊に、層作成作拠時の取扱い易さ、Ge
供給効率の良さ等の点で、GeH4,Ge 2H6,G
e 3HBが好ましいものとして挙げられる。GeH
41Ge2H6h Gey, HB * G114H10
1Ge5H121Ge6Ht4. Ge, H161Ge6
Germanium hydride in a gaseous state or capable of being gasified, such as H1+3 + GepT (28), is mentioned as one that can be effectively used, especially for ease of handling during layer forming operations, Ge
GeH4, Ge 2H6, G
e 3HB is preferred.
本発明において使用されるハロゲン原子導入用の月1、
刺ガスとして有効なのは、多くのハロゲン化合物が左げ
られ、例えばハロゲンガス、ハロゲン化119η、ハロ
ケ9ン間化合物、ハロゲンで面′換されたシラン−導体
等のガス状態の又はガス化し得るハロゲン化合物が好ま
しく斯げられる。Month 1 for introducing halogen atoms used in the present invention,
Many halogen compounds are effective as stinging gases, such as halogen gases, halogenated 119η, halogenated inter9ine compounds, halogenated silane-conductors, and other halogenated compounds in a gaseous state or that can be gasified. is preferred.
又、[、+1には、シリコン原子とハロゲンガスとを構
成要素とするガス状態の又はガス化し得る、ハロゲンガ
スを含む水素化硅素化合物も有効々ものとして本発明に
おいては営げることが出来る。In addition, [, +1] can also be effectively used in the present invention as a silicon hydride compound containing a halogen gas, which is in a gaseous state or can be gasified and has a silicon atom and a halogen gas as constituent elements. .
本発明において好適に使用し得るハロゲン化合物として
は、具体的には、フッ素、塩素、臭素、ヨウp ツバr
y r :yがス、RrF 、 C1F 、 C1F、
。Specifically, halogen compounds that can be suitably used in the present invention include fluorine, chlorine, bromine, iodine,
y r: y is S, RrF, C1F, C1F,
.
BrF5. RrF3. IF3. IF、 # IC
1、IBr等のハtffゲン間化合物を挙げることが出
来る。BrF5. RrF3. IF3. IF, #IC
1, intergenic compounds such as IBr, etc. can be mentioned.
ハロゲン原子を含む硅素化合物、所謂、ハロゲン原子で
置俟されたシラン銹導体としては、具体的には例えばS
iF4.5t2F6.5ict4. SiBr4等のハ
ロゲン化硅素が好ましいものとして挙げることが出来る
。Examples of silicon compounds containing halogen atoms, so-called silane conductors containing halogen atoms, include, for example, S
iF4.5t2F6.5ict4. Silicon halides such as SiBr4 are preferred.
この様なハロゲン原子を含む硅素化合物を採用してグロ
ー放電法によって本発明の特徴的なうY7層竿部材を形
成する場合には、Ge供給用の原料がスと共に5it−
供給し得る原料ガスとしての水素化硅素ゲスを使用し々
くとも、所望の支持体上にハロゲン原子を含むa−8i
Geから成る第1の層領域@)を形成する本が出来る。When forming the characteristic Y7 layer rod member of the present invention by the glow discharge method using such a silicon compound containing a halogen atom, the raw material for supplying Ge is 5it-
Even if silicon hydride gas is used as a raw material gas that can be supplied, a-8i containing halogen atoms can be formed on a desired support.
A book is produced in which the first layer region (@) consisting of Ge is formed.
グロー放電法に従って、ハロゲンガスを含む第1の層伸
城(G)を作成する場合、基本的には、例えばSt供給
用の原料ガスとなるハロダン化硅素とGe供給用の原料
ガスとなる水素化ゲルマニウムとAr * H2* T
Ie等のガス@を所定の混合比とガス流量になる様にし
て第1の層領域@)を形成する堆積室に導入し、グロー
放電を生起してこれ等のがスのプラズマ雰囲気を形成す
ることによって、所望の支持体上に第1の層領域(G)
を形成し得るものであるが、水素原子の導入割合の制御
を一層容易になる秤にする為にこれ等のガスに更に水素
ガス又は水素原子を含む硅素化合物のガスも所望量混合
して層形成しても良い。When creating the first layer (G) containing halogen gas according to the glow discharge method, basically, for example, silicon halide is used as a raw material gas for supplying St, and hydrogen is used as a raw material gas for supplying Ge. Germanium chloride and Ar*H2*T
A gas such as Ie is introduced into the deposition chamber for forming the first layer region at a predetermined mixing ratio and gas flow rate, and a glow discharge is generated to form a plasma atmosphere of these gases. A first layer region (G) is deposited on the desired support by
However, in order to make it easier to control the introduction ratio of hydrogen atoms, a desired amount of hydrogen gas or a silicon compound gas containing hydrogen atoms may be further mixed with these gases to form a layer. It may be formed.
又、各ガスは単独鍾のみで々く所定の混合比で複fly
Nt ?Fj合して使用しても差支えないものである
。In addition, each gas can be multi-flyed at a predetermined mixing ratio with just a single cylinder.
Nt? There is no problem even if it is used in conjunction with Fj.
スノやツタリング法、イオンブレーティング法の何れの
場合にも形成される層中にノ・ロダン原子を導入するに
は、前記のノ・ロダン化合物又は前Leのハロゲン化物
を含む硅素化合物のガスを堆庁室中に導入して該ガスの
プラズマ雰囲気を形成してや゛ れ1゛声いものである
ー
又、水素原子を導入する場合には、水素原子導入用の原
料がス、例えば、■I2、或いは前記したシラン類又は
/及び水素化ゲルマニウム等のガス類をス/l ツタリ
ング用の堆積室中に導入して該ガス類のプラズマπ囲気
を形成してやれば良い。In order to introduce rhodan atoms into the layer formed in any of the cases of snow, tuttering, and ion blating methods, a gas of a silicon compound containing the above-mentioned rhodan compound or a halide of Le is used. It is very effective to introduce hydrogen atoms into the deposition chamber to form a plasma atmosphere of the gas.Also, when introducing hydrogen atoms, the raw material for introducing hydrogen atoms is, for example, ■I2, Alternatively, gases such as the above-mentioned silanes and/or germanium hydride may be introduced into the deposition chamber for sintering to form a plasma π atmosphere of the gases.
本発明においては、ノ・ロダン原子導入用の原料がスと
して上記されたノ・ロゲン化合物或いはノ・ロケ9ンを
含む硅素化合物が有効にものとして使用されるものであ
るが、そのイ1しに、JTF 、 HCI 、 HBr
。In the present invention, the above-mentioned nitrogen compounds or silicon compounds containing nitrogen are effectively used as raw materials for introducing nitrogen atoms. , JTF, HCI, HBr
.
HI1等のハo )f 7化水素、5iiT2F2 #
5III2I2 。Hao such as HI1) f Hydrogen heptaide, 5iiT2F2 #
5III2I2.
5jH2C42,5IHCt、 、 SiHBr 、
5iHBr3等のハロ2
ゲン#換水素化硅素、及びGeHF3 * GeT(2
F2 。5jH2C42,5IHCt, , SiHBr,
Halo2 gen # substituted silicon hydride such as 5iHBr3, and GeHF3*GeT(2
F2.
GeH3F 、 GeHCl5 、 Ge112C12
,Ge3H1−、GeHBr5゜GeHBr5.GeH
Br5
の水素化ハロゲン化ゲルマニウム、等の水素原子を構成
要素の1つとするハロゲン化物、GeF41GeC14
1GeBr4.Gel4r Ge1i”2+GeCt2
1 GeBr2゜G6I2等のハロゲン化ゲルマニウム
、等々のガス状態の或いはがメ化し得る物質も有効な#
:1の層領域り)形成用の出発物質として挙げる列)が
出来る。GeH3F, GeHCl5, Ge112C12
, Ge3H1-, GeHBr5°GeHBr5. GeH
Halides containing hydrogen atoms as one of their constituent elements, such as hydrogenated germanium halide of Br5, GeF41GeC14
1GeBr4. Gel4r Ge1i”2+GeCt2
1 Germanium halides such as GeBr2゜G6I2, etc., or substances that can be converted into gases are also effective.
: 1 layer region) is formed).
これ等の物質の中水素原子を含む−・ロケ6ン原子は、
第1の層領域(G)形成の際に層中に・・ロダン原子の
導入と同時に電気的或いは光電的特性の制御に極めて有
効な水素原子も導入されるので、本発明においては好適
外ハロダン導入用の原料として使用される。The hydrogen atoms in these substances are as follows:
When forming the first layer region (G), hydrogen atoms, which are extremely effective in controlling electrical or photoelectric properties, are also introduced into the layer at the same time as the introduction of rodan atoms into the layer. Used as raw material for introduction.
水素原子を第1の層領域り)中に構造的に導入するには
、上Pの他にH2、或いは5IH4,Si2H6゜SI
H、5t4H,o等の水素化硅素をGoを供給する8
為のゲルマニウム又はrルマニウム化合物と或いは、G
eH4、Ge2H6、Ge3H81Ge4H4゜、 G
e5I(12゜Ge6H,4,Ge7H16* Ge3
H81ゲルマニウムとSlを供給する為のシリコン又は
シリコン化合物とを堆積室中に共存させて放電を生起さ
せる41でも行う事が出来る。In order to structurally introduce hydrogen atoms into the first layer region), in addition to the upper P, H2, 5IH4, Si2H6°SI
H, 5t4H, o and other silicon hydrides with germanium or rumanium compounds for supplying Go, or with G
eH4, Ge2H6, Ge3H81Ge4H4゜, G
e5I(12°Ge6H,4,Ge7H16*Ge3
41 can also be carried out in which H81 germanium and silicon or a silicon compound for supplying Sl coexist in the deposition chamber to generate a discharge.
本発明の好ましい例において、形成される光導電部相の
自T1の層領域(G)中に含有される水素原子QT)
(D m又は・・ロケ6ン原子(至)の景又は水素原子
とハロゲンルj、子の11の和(H十X ”)は好まし
くは0、01〜40 atomic ’Ir、よシ好適
には0.05〜30 atomic % 、9 Jiに
は0.1〜25 atomie %とされるのが望すし
い。In a preferred example of the present invention, hydrogen atoms (QT) contained in the layer region (G) of T1 of the photoconductive phase to be formed
(D m or...the sum of 11 of the hydrogen atom and the halogen atom (H x '') is preferably 0, 01 to 40 atomic 'Ir, more preferably It is desirable that the content be 0.05 to 30 atomic %, and 0.1 to 25 atomic % for 9 Ji.
中に含有される水素原子卸又け/及び・・ロケ゛ン原子
(3)の琶を制御するには、例えば支持体渦度又け/及
び水皐原子卸、或いは・・ロダン原子(3)を含有させ
る為に使用される出発物質の堆積装置系内へ導入する量
、放電1電力等をfljj制御してやれば良い。In order to control the hydrogen atom distribution/and the location atom (3) contained in the support, for example, the support vorticity distribution/and the hydrogen atom concentration or the rodan atom (3) can be controlled. The amount of the starting material used for inclusion into the deposition apparatus system, the electric power per discharge, etc. may be controlled by fljj.
本発明に於いて、a−81(H,X)で構成される第2
の層領域0)を形成するには、前記した第1の層領域り
)形成用の出発物質(I)の中よシ、Ge供給用の原料
ガスとなる出発物質を除いた出発物質〔第2の層領域(
S)形成用の出発物質(■)〕を使用して、第1の層側
v?0)を形成する場合と同様の方法と灸件に従って行
うことが出来る。In the present invention, the second
In order to form the layer region 0), the starting material (I) for forming the first layer region 0), excluding the starting material that will become the raw material gas for supplying Ge, is mixed into the starting material (I) for forming the first layer region 0). 2 layer area (
S) Using the starting materials for formation (■)], the first layer side v? It can be performed according to the same method and moxibustion conditions as in the case of forming 0).
即ち、本発明において、a−810T、X)で(&成さ
れる第2の層側域伯)を形成するには例えばグロー放電
法、ス/’Pツタリング法、或いはイオンプレーディン
グ法等の放電現象を利用する真空J11: fi’ti
法によって成される。例えば、グロー放電法によって、
A−8i()J、X)で構成される第2の層側岐(S)
を形成するには、基本的には前記したシリコン原子(、
Sl)を供給し得るSt供給用の原料ガスと共に、必要
に応じて水素原子の)導入用の又け/及び・・ロケ゛ン
原子(3)導入用の原料ガスを、内部が減圧にし得る堆
和室内に導入して、該堆積学内にグロー放電を生起させ
、予め所定位置に設置されである所定の支持表面上にa
−8t(T(、X)からなる層を形成させれば良い。又
、ス・(ツタリング法で形成する場合には、例えに3”
Ar + T(e等の不活性ガス又はこれ等のガスを
ペースとした混合ガスの雰囲気中でStで構成されたタ
ーゲットをスミ4ツタリングする際、水素原子θ■)又
は/及びハロケ゛ン原子(3)導入用のガスをヌ御する
物F (C)、例えげ、第m族胛子或いは第V族原子を
構造的に導入して前記物質(C)の含有された開領域(
PN) i形成するには、層形成の際に、第■族原子導
入用の出発物質或いは第V族原子導入用の出発物質をガ
ス状態で堆稍室中に光受容層を形成する為の他の出発物
質と共に導入してやれば良い。この梯々第■族原子導入
用の出発物質とpシ(するものとしてu1常温常圧でガ
ス状の又は、少なくとも層形成条件下で容易にガス化し
得るものが採用されるのが望ましい。その様な第■族原
子導入用の出発物質として具体的には硼素原子導入用と
してけ、B 2 K6 、B 4 H、。* B5H7
+ Bs)(+ 、。That is, in the present invention, in order to form (the second layer side area formed by &) with a-810T, Vacuum J11 using discharge phenomenon: fi'ti
done by law. For example, by the glow discharge method,
A-8i()J,X) The second layer side branch (S)
To form , basically the silicon atoms described above (,
In addition to the raw material gas for supplying St that can supply Sl), if necessary, the raw material gas for introducing hydrogen atoms)/and... the raw material gas for introducing location atoms (3) can be fed into a sedimentation chamber whose internal pressure can be reduced. is introduced into the chamber to create a glow discharge within the deposit, and onto a predetermined support surface that has been previously placed in place.
It is sufficient to form a layer consisting of −8t(T(,
Ar + T (hydrogen atoms θ■) or/and halogen atoms (3 ) A substance that controls the gas to be introduced (C), for example, an open region containing the substance (C) by structurally introducing atoms of group M or group V (
PN) i To form a photoreceptive layer, during layer formation, a starting material for introducing Group I atoms or a starting material for introducing Group V atoms is placed in a gaseous state in a deposition chamber to form a photoreceptive layer. It may be introduced together with other starting materials. It is desirable to use a starting material for the introduction of the ladder group (I) atoms that is gaseous at room temperature and pressure, or that can at least be easily gasified under layer-forming conditions. Examples of starting materials for introducing Group I atoms, such as B 2 K6, B 4 H, etc., include B 2 K6, B 4 H, etc. * B5H7
+Bs)(+,.
86H,。、 B6Tl、2. H6N、4等の水素化
硼素、BF’3゜BCl2 、 BBr3等の)・ロゲ
ン化硼素折が挙げられる。86H,. , B6Tl, 2. Examples include boron hydrides such as H6N, 4, etc., and boron hydrides such as BF'3°BCl2, BBr3, etc.).
この他、AtC1,I GaCt31 Ga(Cl13
)、 、 InCl3゜TtC15等も挙げることが出
来る。In addition, AtC1,I GaCt31 Ga(Cl13
), , InCl3°TtC15, etc. can also be mentioned.
第■族原子導入用の出発物質として、本発明において有
効に使用されるのは、燐厚子導入用としては、FT(3
,P2IT4等の水床北隣、PT(4I 、 PF、
。In the present invention, effective starting materials for the introduction of Group Ⅰ atoms include FT (3
, P2IT4, etc., next to the water bed north, PT (4I, PF,
.
PF5. PCl5 、 PCj5 、 PBr3.
PBr3. PI3等ノハロゲン化燐北隣げられる。こ
の他、A8H,r AsF。PF5. PCl5, PCj5, PBr3.
PBr3. PI3 and other halogenated phosphorus are attached to the north. In addition, A8H, r AsF.
AlIC1,、AgBr3 、 AsF5 、5bH5
r SbF5.5bCL3゜5bC15,Bib3.
BiCl3. BfBr3等も第V族原子導入用の出発
物質の有効なものとして挙げることが出来る。AlIC1, AgBr3, AsF5, 5bH5
r SbF5.5bCL3゜5bC15, Bib3.
BiCl3. BfBr3 and the like can also be mentioned as effective starting materials for introducing Group V atoms.
本発明に於いて、光受容層に9素原子の含有された層側
域輌を設けるには、光受容層の形成の際に9素原子導入
用の出発物質を前記した光受容層形成用の出発物質と共
に使用して、形成される層中にその量を制御し乍ら含有
してやれば良い。In the present invention, in order to provide a layer side region containing 9 element atoms in the photoreceptive layer, the starting material for introducing 9 element atoms is added to the above-mentioned photoreceptor layer forming material during the formation of the photoreceptor layer. It may be used together with the starting materials and contained in the layer to be formed while controlling its amount.
層側域岐を形成するのにグロー放電法を用いる場合には
、前記した光受容層形成用の出発物質の中から所望に従
って逆折されたものに窒素原子導入用の出発物ηが加え
られる。その様な窒素原子導入用の出発物質としては、
少なくとも窒素原子を措ハ・、原子とするがス状の物質
又はガス化し得る物1717をガス化したものの中の大
概のものが使用され得る。When the glow discharge method is used to form the layer side branch, the starting material η for introducing nitrogen atoms is added to the starting materials for forming the photoreceptive layer that have been reversely refracted as desired. . As a starting material for such nitrogen atom introduction,
Although at least nitrogen atoms are used as atoms, most of the gaseous substances or gasified substances 1717 that can be gasified can be used.
例えばシリコン原子(si )を構成原子とする原料ガ
スと、窒素原子eJ) ’e 構成原子とする原子ガス
と、必四に応じて水p4原子(J)又は及びハロヶ°ン
原子(3)を構成原子とする原料ガスとをB[望の混合
比で混合して使用するが、又は、シリコン原子(Sl)
1f7’+成原子とする原料ガスと、窒素原子(へ)
及び水素原子συをIt゛、成R子とする原料がヌとを
、これも7所ρJの混合比で混合して使用することが出
来る。For example, a source gas containing silicon atoms (si), an atomic gas containing nitrogen atoms (eJ)'e, and water p4 atoms (J) or halocarne atoms (3) as necessary. B is used by mixing with the raw material gas as the constituent atoms at a desired mixing ratio, or silicon atoms (Sl)
1f7'+ raw material gas and nitrogen atom (to)
It is also possible to mix and use hydrogen atoms συ with It゛ and raw materials with R atoms at a mixing ratio of 7 points ρJ.
又、別には、シリコン原子(sl)と水素原子(I)と
k fj’j p’;原子とする片刺ガスに窒素原子(
へ))を構成原子とする原料ガスを混合して使用しても
良い。In addition, a silicon atom (sl), a hydrogen atom (I), and a nitrogen atom (
You may use a mixture of raw material gases having constituent atoms of (f)).
開領域(へ))を形成する際に使用される窒素原子導入
用の原料ガスに成り得るものとして有効に使用される出
発物質は、Nを構成原子とする或すはNとHとを構成原
子とする例えば窒素(N2) 、ア7−E−=7 (N
H3) 、 ヒP ? シン(H2NNII、、) 、
7 シ化水素()TN、) 、アジ化アンモニウム(
Ni14N3) 等のガス状の又はガス化し得る9素、
空化物及びアジ化物等の窒素化合物を誉げることが出来
る。この他に、9素原子(社)の導入に加えて、へロケ
゛ン原子へ)の導入も行えるという点から、三弗化窒素
(F3N)。The starting material that can be effectively used as a raw material gas for introducing nitrogen atoms used in forming the open region (to) is a starting material containing N as a constituent atom or containing N and H. For example, nitrogen (N2), a7-E-=7 (N
H3), HiP? Shin (H2NNII, ),
7 Hydrogen silicide ()TN, ), ammonium azide (
9 gaseous or gasifiable elements such as Ni14N3),
Nitrogen compounds such as vacancies and azides can be praised. In addition to this, nitrogen trifluoride (F3N) can be used because in addition to the introduction of 9 elemental atoms, it is also possible to introduce heloquine atoms).
四弗化窒素(F4N2)等のハロヶ゛ン化9素化合物1
を左げることが出来る。Non-halogenated compounds such as nitrogen tetrafluoride (F4N2) 1
can be left behind.
本ぞi−:、明に於いては、層領域(へ)中には窒素原
子で得られる効果を更に助長させる為に窒素原子に加え
て、更に酸素原子を含有することが出来る。酸素原子を
1・73領jψQ□□□に導入する為の酸素原子導入用
の原料ガスとしては、例えば酸素(02)、オゾン(0
,)、−re化窒素(No)、二酸化窒素(No2)
、−二酸化窒素(N20) 、三二酸化窒素(N20.
)、四三酸化窒素(N204)、五二酸化中素(N20
5)、二酸化窒素(No3) 、シリコン原子(Si)
と酸素原子1))と水素原子θJ)とを$j!7成原子
とする、例えば、ジシロキサン(n3S+osuI3)
、 トリシロキサン(H3S 1O8iH20S 1
H3)等の低級シロキサン等を挙げることが出来る。In this case, in order to further enhance the effect obtained by nitrogen atoms, oxygen atoms can be contained in the layer region in addition to nitrogen atoms. For example, oxygen (02), ozone (0
, ), -re nitrogen (No), nitrogen dioxide (No2)
, -nitrogen dioxide (N20), nitrogen sesquioxide (N20.
), trinitrogen tetraoxide (N204), pentoxide (N20
5), nitrogen dioxide (No3), silicon atom (Si)
and oxygen atom 1)) and hydrogen atom θJ) $j! Heptad atoms, for example, disiloxane (n3S+osuI3)
, trisiloxane (H3S 1O8iH20S 1
Examples include lower siloxanes such as H3).
スパッタリング法によって、窒素原子を含有する層領域
()I)を形成するには、単結晶又は多結晶のSlウェ
ーハー又はSI3N4ウェーハー又はSlと5ISN4
が混合されて含有されているウェーハーをターf、)と
して、これ等を踵々のガス雰囲気中でスパッタリングす
ることによって行えば良い。To form the layer region ()I) containing nitrogen atoms by sputtering, a monocrystalline or polycrystalline Sl wafer or a SI3N4 wafer or a Sl and 5ISN4
A wafer containing a mixture of .
例えば、Slウェーハーをターゲットとして使用すれば
、窒素原子と必要に応じて水素原子7社/及びハロゲン
原子を導入する為の原料ガスを、必要に応じて稀釈ガス
で稀釈して、ス・やツタ−用の堆積室中に導入し、とれ
等のガスのガスプラズマを形成して前記旧ウェーハーを
ス・母ツタリングすれば良い。For example, if a Sl wafer is used as a target, the raw material gas for introducing nitrogen atoms, hydrogen atoms if necessary, and halogen atoms can be diluted with a diluent gas as necessary, and the - The old wafer may be introduced into a deposition chamber to form a gas plasma of a sludge or the like to cause the old wafer to splatter.
又、別には、SIとS i 3N4とは別々のターゲッ
トとして、又は別と513N4の混合した一枚のターゲ
ットを使用することによって、スノキッター用のがスと
しての稀釈ガスの雰囲気中で又は少なくとも水素原子(
6)又は/及びハロゲン原子(3)を構成原子として含
有するガス雰囲気中でス、41ツタリングすることによ
って成される。窒素原子導入用の原料ガスとしては、先
述したグロー放電の例で示しだ原料ガスの中の書素原子
導入用の原料ガスが、ス・!ツタリングの場合にも有効
なガスとして使用され得る。Alternatively, SI and S i 3N4 can be used as separate targets, or by using a mixed target of 513N4 and 513N4 in an atmosphere of diluent gas or at least hydrogen as a gas for snow kitters. atom(
6) or/and by stumbling in a gas atmosphere containing halogen atoms (3) as constituent atoms. As the raw material gas for introducing nitrogen atoms, the raw material gas for introducing grapheme atoms in the raw material gas shown in the glow discharge example mentioned above is S! It can also be used as an effective gas in the case of vine ringing.
本発明に於いて、光受容屡の形成の際に、窒素原子の含
有される層領域1)を設ける場合、該層側域勤に含有さ
れる窒素原子の分布濃度CI)を層厚方向に変化させて
、所望の層厚方向の分布状態(depth profi
le)を有する層領域(へ)を形成するには、グロー放
電の場合には、分布濃度C(財)を変化させるべき窒素
原子導入用の出発物質のがスを、そのガス流量を所望の
変化率曲線に従って適宜変化させながら、堆積室内に導
入することによって成される。In the present invention, when forming a layer region 1) containing nitrogen atoms when forming a light-receiving layer, the distribution concentration CI) of nitrogen atoms contained in the side region of the layer is adjusted in the layer thickness direction. By changing the distribution state in the desired layer thickness direction (depth profile
In order to form a layer region (to) having a concentration of C (e), in the case of a glow discharge, the gas of the starting material for the introduction of nitrogen atoms whose distribution concentration C (good) is to be varied is adjusted to the desired gas flow rate. This is accomplished by introducing the material into the deposition chamber while changing it appropriately according to the rate of change curve.
例えば、手動あるいは外部駆動モータ等の通常用いられ
ている伺らかの方法によシ、ガス流路系の途中に設けら
れた所定のニードル・々ルブの開口を漸次変化させる操
作を行えば良い。このとき、流縫の変化率は線型である
必要はなく例えばマイコン等を用いて、あらかじめ股引
された変化率曲線に従って流用を制御し、所望の含有率
曲線を得ることもできる。For example, the opening of a predetermined needle/lube provided in the middle of the gas flow path system may be gradually changed by a commonly used method such as manual operation or an external drive motor. . At this time, the rate of change in flow stitching does not need to be linear; for example, a microcomputer or the like can be used to control the flow stitch according to a change rate curve drawn in advance to obtain a desired content rate curve.
要領JI IIIVJ)をス・やツタリング法によって
形成する場合、窒素ノ京子の層厚方向の分布濃度cHを
層厚方向で変化させて、窒素原子の層厚方向の所望の分
布状態(depth profile)を形成するには
、第一には、グロー放電法による場合と同様に、窒素原
子導入用の出発物質をガス状態で使用し、該ガスを堆積
室中へ導入する際のガス流fi>−を所望に従って適宜
変化させることによって成される。When forming the Nitrogen atoms by the sintering method (Procedure JI IIIVJ), the distribution concentration cH of nitrogen atoms in the layer thickness direction is changed in the layer thickness direction to obtain a desired distribution state (depth profile) of nitrogen atoms in the layer thickness direction. To form this, first, as in the glow discharge method, a starting material for introducing nitrogen atoms is used in a gaseous state, and the gas flow fi>- when introducing the gas into the deposition chamber is This can be done by appropriately changing as desired.
第二には、スパッタリング用のターゲットを例えばSt
とSi3N4との混合されたターケ9ットを使用するの
であれば、SIと513N4との混合比をターゲットの
層厚方向に於いて、予め変化させておくことによって成
される。Secondly, the target for sputtering is, for example, St
If a target mixed with 513N4 and Si3N4 is used, this can be done by changing the mixing ratio of SI and 513N4 in advance in the layer thickness direction of the target.
本発明に於いて、形成される光受容1−をFM成する第
二の層領域(S)中に含有される水素原子θ■)の−閘
又はハロゲン原子Qc)の量又は水素原子とノ・ロダン
原子の量の和(H+X)は、好ましくは1〜40ato
mic % +より好適には5〜30 atomic%
、最適には5〜25 atomic係とされるのが望ま
しい。In the present invention, the amount of hydrogen atoms θ■) or halogen atoms Qc) contained in the second layer region (S) constituting the FM of the photoreceptor 1- to be formed, or the amount of hydrogen atoms and・The sum of the amounts of Rodan atoms (H+X) is preferably 1 to 40ato
mic% + more preferably 5 to 30 atomic%
, it is optimally desirable to set it to 5 to 25 atomic ratios.
本発明においそ使用される支持体としては、導電性でも
電気絶縁性であっても良い。導雷、性支持体としては、
例えばN N i Cr +ステンレス、 At。The support used in the present invention may be electrically conductive or electrically insulating. As a lightning conductor and sexual support,
For example, N N i Cr + stainless steel, At.
Cr、 Mo、 Au、 Nb+ Ta、 V、 T’
l、 Pt+ Pd等の金属又はこれらの合金が挙げら
れる。Cr, Mo, Au, Nb+ Ta, V, T'
1, Pt+Pd, or alloys thereof.
電気絶縁性支持体としては1.]?リポリテル 、19
リエチレン、ポリカーゼネート、セルローズ、アセテー
ト、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ぼり塩化ビニリ
デン1.4?リスチレン、醪リアミド等の合成4Jj脂
のフィルム又はシート、ガラスセラミック、紙等が通常
使用される。これ等の電気絶縁性支持体は、好適には少
なくともその一方の表面をうn電処理され、該ココ−電
処理された表面側に他の層が設けられるのが望ましい。As an electrically insulating support: 1. ]? Ripolitel, 19
Liethylene, polycarzenate, cellulose, acetate, polypropylene, polyvinyl chloride, polyvinylidene chloride 1.4? Films or sheets of synthetic 4JJ resins such as listyrene, mortaramide, glass ceramics, paper, etc. are commonly used. Preferably, at least one surface of these electrically insulating supports is subjected to electrostatic treatment, and another layer is preferably provided on the electroconductively treated surface side.
例えば、ガラスであれば、その表面に、N I Cr
+Atr Cr、 No、 Au+ Ir、 Nb、
Ta、 v、 ’rt、 Ptt Pd *In2O,
,SnO2,ITO(In、、0. + 5nO2)等
から成る薄膜を設けることによって導電性が付与され、
或いはポリエステルフィルム等の合成樹脂フィルムであ
れば、NiCr+ Atl Ago Pbn Zn+
Ni、 Au+ Cr、 Mo。For example, if it is glass, N I Cr is applied to the surface of the glass.
+Atr Cr, No, Au+ Ir, Nb,
Ta, v, 'rt, Ptt Pd *In2O,
, SnO2, ITO (In, 0. + 5nO2), etc. to provide conductivity.
Or if it is a synthetic resin film such as polyester film, NiCr+ Atl Ago Pbn Zn+
Ni, Au+Cr, Mo.
Ir、 N13. Ta、 V、 TI、 Pt @の
金属の薄膜を真空蒸着、電子ヒーム蒸着、ス・?ツタリ
ング等でその表面に設け、又は前HC金属でその表面を
ラミネート処理して、その表面に導電性が伺与される。Ir, N13. Thin films of Ta, V, TI, and Pt@ metals are deposited by vacuum evaporation, electron beam evaporation, and S-? Conductivity is imparted to the surface by providing the surface with vine ring or the like, or by laminating the surface with pre-HC metal.
支持体の形状としては、円債状、ベルト状、板状等任意
の形状としイ↓1、所望によって、その形状は決定され
るが、例えば、第1図の光導電部拐1ooを電子写真用
像形成部材として使用するのでちれば連続高速複写の」
、・1合には、無端ベルト状又は円筒状とするのが望す
しい。支持体のj:、4さは、所望通りの光導1ぜ1部
材が形成される押VCJ宜決定されるが、光導電部利と
して可焼性が要求される場合には、支持体としての枦f
ilが充分発揮される範囲内であノ′1.げ可能な限シ
薄くされる。面乍ら、この様な場合支持体の聾°l造上
及び取扱い」二、機械的強度等の点から、好ましくは、
10μ板上とされる。The shape of the support may be any shape such as a circular shape, a belt shape, a plate shape, etc.↓1.The shape is determined depending on the need, but for example, the photoconductive part 1oo in FIG. Since it is used as an image forming member for continuous high-speed copying.
,・For the first case, it is desirable to have an endless belt shape or a cylindrical shape. The length of the support is determined according to the pressure required to form the desired light guide member, but if burnability is required as a photoconductor, the support may be枦f
within the range where il is fully exhibited.1. It is thinned as much as possible. However, in such a case, from the viewpoint of the construction and handling of the support, it is preferable to
It is assumed to be on a 10μ plate.
次に本発明の光導電部利の製造方法の一例の概略につい
て説明する。Next, an outline of an example of a method for manufacturing a photoconductive part of the present invention will be explained.
第11図に光導電部Hの製造装置の一例を示す。FIG. 11 shows an example of a manufacturing apparatus for the photoconductive part H.
図中の1102〜1106のガスアI?ンベには、本発
明の光導電部材を形成するだめの原本1ガスが密封され
ており、その1例としてたとえば1102は、Ireで
稀釈されたSl、F(4ガス(純度99.999係。1102-1106 in the diagram I? The original gas for forming the photoconductive member of the present invention is sealed in the chamber. For example, 1102 is Sl, F (4 gas (purity: 99.999) diluted with Ire.
却下5IR4/TI(lと略す。)ボンベ、11 (1
3はIleで稀釈されたGoTI4がス(純度99.9
99% 、 IM下Ge114Aleと略ず。)デン4
.1104はHeで稀釈され九B2ll6ガス(純度9
9.99%、Lj下B2)(67fteと略す。)ボン
ベ、1105はNH3ガス(純度99.999% )s
e ンペ、11o6はH2カス(純度99.999チ
)パrンペである。Rejected 5IR4/TI (abbreviated as l) cylinder, 11 (1
3 is GoTI4 diluted with Ile (purity 99.9).
99%, abbreviated as IM Ge114Ale. ) den 4
.. 1104 is diluted with He and becomes 9B2ll6 gas (purity 9
9.99%, Lj lower B2) (abbreviated as 67ft) cylinder, 1105 is NH3 gas (purity 99.999%) s
e pump, 11o6 is H2 scum (99.999 purity)
) It is Palumpe.
これらのがスを反応室11o1に流入させるにはガスy
t? ンヘI 102〜110617)バルブ1122
〜112(i、リークパルプ1135が閉じられている
ことを確認し、又、流入バルブ1112〜1116、流
出バルブ1117〜1121.補助パルプ1132.1
133が開かれていることを確認して、先づメインパル
プ1134を開いて反応室1101及び各ガス配管内を
排気する。次に真空計1136の読みが約5 X 10
−’torrになった時点で補助パルプ1132,11
33、流出バルブ1117〜1121を閉じる。In order to cause these gases to flow into the reaction chamber 11o1, the gas y
T? 102-110617) Valve 1122
~112 (i, make sure the leak pulp 1135 is closed, and also check the inflow valves 1112 ~ 1116, the outflow valves 1117 ~ 1121. Auxiliary pulp 1132.1
After confirming that the main pulp 1133 is opened, the main pulp 1134 is first opened to exhaust the inside of the reaction chamber 1101 and each gas pipe. Next, the reading on the vacuum gauge 1136 is approximately 5 x 10
-'torr, auxiliary pulp 1132,11
33. Close the outflow valves 1117-1121.
次にシリンダー状基体1137上忙光受容層を形成する
場合の一例をあげると、ガスH?ンペ11o2よりS
1114/I[eガス、ガスg7ペ11o3よ’) G
eH4/)(eガス、ガスHrンペ11o4よりB 2
H6,”TIeI2ガスス*ンペ1105よ!7 NH
,ガスを、パルプ1122〜1125を開いて出口圧ゲ
ージ1127〜113゜の圧を1 kg/ cm”に調
整し、流入バルブ1J12〜1115を徐々に開けて、
4スフロコy)a−51107〜1110内に夫々流入
させる。引き続いて流出バルブ1117〜1120.補
助パ/l/7”1132を徐々に開いて夫々のガスを反
応室11o1に流入させる。このときのS I rli
、/rTe fス流景とGe H4//)Teガス流量
とB2H6/)Ieがス流借とN)I 3ガス流囲の比
が所望の値になるように流出バルブ1117〜1120
を調整し、又、反応室11o1内の圧力が所望の値にな
るように真空!+’ 113 fiの読みを見ながらメ
インバルブ1134の開口を調整する。そして基体11
37の温度が加熱ヒーター1138によシ50〜400
℃の範囲の温度に設定されていることを確認した後、電
源1140を所望の電力に設定して反応室11o1内に
グロー放電を生起させ所望時間グロー放電を維持して、
基体1137上に所望P厚に硼素原子(B)と窒素原子
輪とが含有され、a−8IGe(H,X)で構成された
層領域(B、N)が形成される。Next, an example of forming a light-receiving layer on the cylindrical substrate 1137 is as follows: gas H? S from Npe 11o2
1114/I [e gas, gas g7pe 11o3') G
eH4/) (e gas, gas Hr pump 11o4 B 2
H6, “TIeI2 gas pump 1105! 7 NH
, open the pulps 1122-1125, adjust the pressure of the outlet pressure gauges 1127-113° to 1 kg/cm'', gradually open the inlet valves 1J12-1115,
4 Flow Co. y) A-51107 to 1110 respectively. Subsequently, outflow valves 1117-1120. The auxiliary pump/l/7'' 1132 is gradually opened to allow each gas to flow into the reaction chamber 11o1.
, /rTe fS flow and Ge H4//)Te gas flow rate and B2H6/)Ie and N)I3 Outflow valves 1117 to 1120 so that the ratio of gas flow to a desired value is achieved.
Also, vacuum so that the pressure inside the reaction chamber 11o1 reaches the desired value! +' 113 Adjust the opening of the main valve 1134 while checking the fi reading. and the base 11
The temperature of 37 is set by heating heater 1138 to 50 to 400.
After confirming that the temperature is set within the range of °C, the power supply 1140 is set to the desired power to generate glow discharge in the reaction chamber 11o1 and maintain the glow discharge for a desired time,
A layer region (B, N) containing a-8IGe (H,
1−領域(B、N)が所望WJ厚に形成された段階に於
いて、流出バルブ1118.1119.H2Oの夫々を
完全に閉じること、及び必要に応じて放電条件を変える
こと堤外は、同様な条件と手順に従って所望時間グロー
放電を維持することで前記層領域(B、N)上に、硼素
原字(B)、窒素原子−、か含有されたケ゛ルマニウム
原子(Ge)が含有されてい々い、a −8i (H、
X)で構成された層領域(S)が形成されて、光受容層
の形成が終了される。1 - At the stage where the regions (B, N) are formed to the desired WJ thickness, the outflow valves 1118.1119. Completely closing each of the H2O and changing the discharge conditions as necessary A -8i (H,
A layer region (S) composed of X) is formed, and the formation of the photoreceptive layer is completed.
上記の光受容層の形成の際に、討層形成開始後所望の時
間が糺過した段階で、堆積室へのB2H6/Heがス或
いはNH3ガスの流入を止めることによって、硼素原子
の含有された層領域(B)及び窒素原子の含有された層
傾V軒)の各層厚を任意に制御することが出来る。During the formation of the above-mentioned photoreceptive layer, the boron atoms contained in the layer are stopped by stopping the flow of B2H6/He gas or NH3 gas into the deposition chamber after a desired period of time has elapsed after the start of layer formation. The thickness of each layer of the layer region (B) containing nitrogen atoms and the layer gradient V eave containing nitrogen atoms can be arbitrarily controlled.
又、所望の変化率曲線に従って、堆積室1101へのN
H3がスのガス流量を制御することによって層領域ぽ1
中に含有される窒素原子の7分布状態−を所望通りに形
成することが出来る。Also, according to the desired rate of change curve, N to the deposition chamber 1101 is
By controlling the gas flow rate of H3, layer region Po1
Seven distribution states of nitrogen atoms contained therein can be formed as desired.
層形成を行っている間は層形成の均一化を計るため基体
1137け、モータ1139により一定速度で回転させ
てやるのが望ましい。During layer formation, it is desirable that the base 1137 be rotated at a constant speed by a motor 1139 in order to ensure uniform layer formation.
以下実施例について説明する。Examples will be described below.
実施例1
第11図に示した製造装置により、シリンダー状のAt
基体上に、第1表に示す条件で層形成を行って電子写真
用像形成部材を得た。Example 1 A cylindrical At
Layers were formed on the substrate under the conditions shown in Table 1 to obtain an electrophotographic image forming member.
こうして得られた像形成部利を、帯電露光実験装置に設
置し■5.QkVでQ、 3 IIce間コロナ帯電を
行い、直ちに光像を照flf t、だ。光像はタングス
テンランプ光源を用い、2 Lux−sec の光量を
透過型のテストチャートを辿して叩射させた。The image forming section obtained in this way is installed in a charging exposure experiment apparatus; 5. Corona charging is performed between Q and 3 IIce at QkV, and the optical image is immediately illuminated. A light image was created by using a tungsten lamp light source and projecting a light amount of 2 Lux-sec along a transmission type test chart.
その後直ちに、θ荷電性の現像剤(トナーとキャリアー
を含む)を像形成部材表面をカスケードすることによっ
て、像形成部材表面上に良好なトナー画像を得た。像形
成部材上のトナー画像を、■5.0kVのコロナ帯電で
転写紙上に転写した所、確像力に優れ、階調再現性のよ
い鮮明な高54度の画像が得られた。Immediately thereafter, a good toner image was obtained on the surface of the imaging member by cascading a θ-charged developer (including toner and carrier) over the surface of the imaging member. When the toner image on the image forming member was transferred onto transfer paper by corona charging at 5.0 kV, a clear high 54 degree image with excellent image certainty and good gradation reproducibility was obtained.
実施例2
第11図に示した製造装置によ如、第2表に示ず条件に
しブζ堤外は実施例1と同様にして、層形成を行って電
子写真用像形成部材を得た。Example 2 An electrophotographic image forming member was obtained by forming layers using the manufacturing apparatus shown in FIG. 11 and using the same conditions as in Example 1 except for conditions not shown in Table 2.
こうして利られた像形威部利に就いて、帯電極性と現像
剤の荷電極性の夫りを実施例1と反対にした以外は丈が
1例1と同様の条件及び手順で転写紙上νこ画像を形成
したところ極めて鮮明な画質がイ4られた。The image shape obtained in this way was printed on transfer paper under the same conditions and procedures as in Example 1, except that the charge polarity and the charge polarity of the developer were opposite to those in Example 1. When the image was formed, the image quality was extremely clear.
実施例3
2p;z図に示しだ製造装置により、筑3表に示す条件
にしたJV外は実施例1と同様にして、層形成を行って
電子写真用像形成部材を得た。Example 3 Using the manufacturing apparatus shown in Figures 2p and z, layers were formed in the same manner as in Example 1 except for the JV under the conditions shown in Table 1, to obtain an electrophotographic image forming member.
こうして11ノられた像形成部材に就いて、実施例1と
同様の条件及び手順で転写紙上に画像を形成しだところ
極めて鮮明な画質が得られた。An image was formed on a transfer paper using the image forming member thus prepared under the same conditions and procedures as in Example 1, and an extremely clear image quality was obtained.
実が(1例4
実施例1に於いて、GeJT /rIaガスと5IT(
4/Heガスのが2スf4r、−jj比を変えて第1層
中に含有されるケ”ルマニウムJjλ子の含有Hを第4
表に示す様に変えだ以外は、実施例1と同様にして電子
写真用像形成部材を夫り作成した。Fruit (Example 4) In Example 1, GeJT/rIa gas and 5IT (
By changing the ratio of 4/He gas to
An electrophotographic image forming member was prepared in the same manner as in Example 1 except for the changes shown in the table.
こうして得られた像形成部材に就いて、実施例1と同様
の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ第4
表に示す結果が得られた。Regarding the image forming member thus obtained, an image was formed on a transfer paper under the same conditions and procedures as in Example 1.
The results shown in the table were obtained.
実施例5
実施例1に於いて、第1屡の層厚を第5表に示す様に変
える以外は、実施例1と同様にして各電子写真用像形成
部材を作成した。Example 5 Electrophotographic imaging members were prepared in the same manner as in Example 1, except that the first layer thickness was changed as shown in Table 5.
こうして得られた各像形成部材に就いて、実施例1と同
様の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ第
5表に示す結果が得られた。For each image forming member thus obtained, an image was formed on a transfer paper under the same conditions and procedures as in Example 1, and the results shown in Table 5 were obtained.
実施例6
第11図に示した製造装置によシ、シリンダー状のAt
基体上に、第6表乃至第8表に示す各条件で層形成を行
って電子写真用像形成部材の夫々(試料篇6o1,60
2,603)を得た。Example 6 A cylinder-shaped At
Layers were formed on the substrate under the conditions shown in Tables 6 to 8 to form electrophotographic image forming members (sample editions 6o1 and 60).
2,603) was obtained.
こうして得られた像形成部拐の夫々を、帯電rt光実験
装置に設置し05. OkVで0.3 see間コロナ
帯電を行い、直ちに光像を照射した。光像はタングステ
ンランプ光源を用い、2 b1x*gecの先月゛を透
過型のテストチャートを通して照射させた。Each of the image-forming particles thus obtained was placed in a charged RT light experimental device.05. Corona charging was performed at OkV for 0.3 see, and a light image was immediately irradiated. A light image was obtained using a tungsten lamp light source, and the last month of 2 b1x*gec was irradiated through a transmission type test chart.
その後直ちに、■荷電性の現像剤(トナーとキャリアー
を含む)を各像形成部材表面をカスケードすることによ
って、各像形成部材上面上に良好なトナー1面像を得た
。各像形成部材上のトナー画像を、05.OkVのコロ
ナ帯電で転写紙上に転写した所、解像力に優れ、階調再
現性のよい鮮明な高濃度の画像が得られた。Immediately thereafter, (1) a chargeable developer (containing toner and carrier) was cascaded over the surface of each image forming member to obtain a good one-plane toner image on the upper surface of each image forming member. The toner image on each imaging member is set to 05.05. When transferred onto transfer paper using OkV corona charging, a clear, high-density image with excellent resolution and good gradation reproducibility was obtained.
実施例7
第11図に示した製造装jにより、第9表及び第10表
に示す各条件にしたり外は実施例1と同様にして、層形
成を行って電子写真用像形成部材の夫h(試着I5.7
01 、702 )を得た。Example 7 Layer formation was carried out using the manufacturing apparatus shown in FIG. 11 under the conditions shown in Tables 9 and 10, and in the same manner as in Example 1, to form an electrophotographic image forming member. h (trying on I5.7
01,702) were obtained.
こうして得られた像形成部側の夫々に就いて、実施例1
と同様の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したとこ
ろ極めて鮮明な画質が得られた。For each image forming section side obtained in this way, Example 1
When an image was formed on transfer paper under the same conditions and procedures as described above, an extremely clear image quality was obtained.
実施例8
!W11図に示した製造装置によシ、第11表乃至第1
5表に示す条件にした以外は実施例1と同様にして、層
形成を行って電子写真用像形成部材の夫々(K料A30
1〜805)を得た。Example 8! According to the manufacturing equipment shown in Figure W11, Tables 11 to 1
Layer formation was carried out in the same manner as in Example 1 except that the conditions shown in Table 5 were used to form each electrophotographic image forming member (K material A30).
1-805) were obtained.
こうして得られた像形成部利に就いて、実施例1と同様
の条件及び手順で転写紙」二に両仰を形成したところ極
めて鮮明な画質が得られた。Using the thus obtained image forming area, a double-sided image was formed on a transfer paper under the same conditions and procedures as in Example 1, and an extremely clear image quality was obtained.
実施例9
実施例1に於いて、光源をタングスデンランプの代りに
810 nm0GaAs系半導体レーザ(10mW)を
用いて、静電像の形成を行った以外は、実施例1と同様
のトナー画像形成条件にして、実施例1と同様の条件で
作成した電子写真用像形成部材に就いてトナー転写画像
の画5!を評価を行ったところ解像力に優れ、階調再現
性の良い鮮明な高品位の画像が得られた。Example 9 Toner image formation was carried out in the same manner as in Example 1, except that an 810 nm GaAs semiconductor laser (10 mW) was used instead of the tungsden lamp as the light source to form an electrostatic image. Image 5 of a toner transfer image for an electrophotographic image forming member prepared under the same conditions as in Example 1! When evaluated, it was found that clear, high-quality images with excellent resolution and good gradation reproducibility were obtained.
以上の本発明の実施例に於ける共通の層作成東件を以下
に示す。Common layer creation conditions in the above embodiments of the present invention are shown below.
基体温度:ゲルマニウム原子(Ge )含有層・・・約
200℃ダルマニウム原子(Ge)非含有層・・・約2
50℃放電周波数: i 3.56 MHz
反応時反応室内圧: 0.3 TorrSubstrate temperature: Germanium atom (Ge) containing layer: approx. 200°C Dalmanium atom (Ge) non-containing layer: approx. 2
50℃ discharge frequency: i 3.56 MHz Reaction chamber pressure during reaction: 0.3 Torr
第1図は、本発明の光導電部濁の層構成を説明する為の
模式的層構成図、第2図乃至第10図は夫々層領域的)
中の窒素原子の分布状態を説明する為の説明図、第11
図は寮施例に於いて本発明の光導電部材を作製する為に
使用された装置の模式的説明図である。
100・・・光導電部材 101・・・支持体102・
・・光受容層
一一一→−C
−一一一一一伽−C
−一一一→−CFIG. 1 is a schematic layer structure diagram for explaining the layer structure of the photoconductive part of the present invention, and FIGS. 2 to 10 are layer area diagrams.)
Explanatory diagram for explaining the distribution state of nitrogen atoms in the 11th
The figure is a schematic explanatory diagram of an apparatus used to produce the photoconductive member of the present invention in a dormitory example. 100... Photoconductive member 101... Support body 102.
・・Photoreceptive layer 111→-C -11111ka-C -111→-C
Claims (5)
れ、與叛ヘメ気予どrルマニウム原子もを含む非晶質材
料で構成された第1の層領域とシリコン原子を含む非晶
質材料で構成され光導電性を示す第2の層領域とが前記
支持体側よシ順に設けられた層構成の光受容層とを有し
、前記第1の層領域に伝導性を支配する物質が含有され
、前記光受容層には窒素原子が含有されている事を特徴
とする光導電部材。(1) a support for a photoconductive member; a first layer region disposed on the support and composed of an amorphous material also containing rumanium atoms; and a first layer region comprising silicon atoms; A second layer region made of an amorphous material and exhibiting photoconductivity, and a light-receiving layer having a layered structure provided in order from the support side, and controlling conductivity to the first layer region. 1. A photoconductive member, characterized in that the photoreceptive layer contains a nitrogen atom.
れか一方に水素原子が含有されている特許請求の範囲第
1項に記載の光導電部材。(2) The photoconductive member according to claim 1, wherein at least one of the first layer region and the second layer region contains hydrogen atoms.
れか一方にハロダン原子が含有されている特許請求の範
囲第1項又は同第2項に記載の光導電部材。(3) The photoconductive member according to claim 1 or 2, wherein at least one of the first layer region and the second layer region contains halodan atoms.
原子である特許請求の範囲第1項に記載の光導電部材。(4) The photoconductive member according to claim 1, wherein the substance that controls conductivity is an atom belonging to Group Ⅰ of the periodic table.
原子である特許請求の範囲第1項に記載の光導電部材。(5) The photoconductive member according to claim 1, wherein the substance that controls conductivity is an atom belonging to Group Ⅰ of the periodic table.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58163433A JPS6055350A (en) | 1983-09-06 | 1983-09-06 | Photoconductive member |
US06/646,425 US4585721A (en) | 1983-09-05 | 1984-08-31 | Photoconductive member comprising amorphous germanium, amorphous silicon and nitrogen |
GB08422402A GB2148021B (en) | 1983-09-05 | 1984-09-05 | Photoconductive member |
DE19843432646 DE3432646A1 (en) | 1983-09-05 | 1984-09-05 | PHOTO-CONDUCTIVE RECORDING ELEMENT |
FR8413662A FR2551563B1 (en) | 1983-09-05 | 1984-09-05 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58163433A JPS6055350A (en) | 1983-09-06 | 1983-09-06 | Photoconductive member |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6055350A true JPS6055350A (en) | 1985-03-30 |
JPH0225169B2 JPH0225169B2 (en) | 1990-05-31 |
Family
ID=15773798
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58163433A Granted JPS6055350A (en) | 1983-09-05 | 1983-09-06 | Photoconductive member |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6055350A (en) |
-
1983
- 1983-09-06 JP JP58163433A patent/JPS6055350A/en active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0225169B2 (en) | 1990-05-31 |
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