JPS6029199B2 - radiation generator - Google Patents

radiation generator

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JPS6029199B2
JPS6029199B2 JP13808878A JP13808878A JPS6029199B2 JP S6029199 B2 JPS6029199 B2 JP S6029199B2 JP 13808878 A JP13808878 A JP 13808878A JP 13808878 A JP13808878 A JP 13808878A JP S6029199 B2 JPS6029199 B2 JP S6029199B2
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radiation
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sampling
circuit
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宏 菊地
賢二 町田
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、X線あるいは電子線等の放射線を発生する
線形電子加速装置を備えた放射線発生装置に関し、放射
線強度を検出することにより、装置の設定パラメータを
安定化を行うようにしたものである。
Detailed Description of the Invention The present invention relates to a radiation generation device equipped with a linear electron accelerator that generates radiation such as X-rays or electron beams, and stabilizes the setting parameters of the device by detecting radiation intensity. This is what I decided to do.

従釆この種の装置の例を第1図に示す。An example of this type of device is shown in FIG.

第1図の例においては、電子ビームを偏向する偏向電磁
石を搭載し、電子ビームを偏向する装置を用いたものを
示しており、そしてこの偏向角が90oの例を示してい
るが、偏向角はこの他110o,2700およびその他
のものも同様である。第1図において、1は電子ビーム
の加速部を示す。
In the example shown in Figure 1, a device is used that is equipped with a deflecting electromagnet that deflects the electron beam, and the deflection angle is 90 degrees. The same applies to 110o, 2700, and others. In FIG. 1, numeral 1 indicates an electron beam accelerating section.

この加速部には、電子ビームを発生する電子銃、加速機
能を有する加速管の他、加速するためのマイクロ波源、
およびそのための、高圧パルス変調器、マイクロ波伝送
系真空保持機構、冷却機構を有している。又、電子銃か
らの発生電子ビームを収束させるための電磁レンズビー
ム軌道補正用のステアリングコイル、加速された電子ビ
ームを収束させる四極電磁石等を備えていることもある
。2は偏向電磁石で、電子ビームを適宜の角度偏向させ
る機能を有している。
This acceleration section includes an electron gun that generates an electron beam, an acceleration tube that has an acceleration function, and a microwave source for acceleration.
For this purpose, it has a high-pressure pulse modulator, a microwave transmission system vacuum holding mechanism, and a cooling mechanism. It may also include an electromagnetic lens for converging the electron beam generated from the electron gun, a steering coil for correcting the beam trajectory, a quadrupole electromagnet for converging the accelerated electron beam, and the like. Reference numeral 2 denotes a deflecting electromagnet, which has the function of deflecting the electron beam at an appropriate angle.

3は偏向された電子ビームによりX線あるいは電子線等
の放射線を発生する放射線発生機構で、通常X線を発生
させる場合には重金属によるターゲットを用い、電子線
を発生させる場合には、スキャッタリングフオィルを用
いる。
3 is a radiation generation mechanism that generates radiation such as X-rays or electron beams using a deflected electron beam. Normally, when generating X-rays, a heavy metal target is used, and when generating electron beams, a scattering mechanism is used. Use foil.

4は電子ビームの軌道を示す。4 indicates the trajectory of the electron beam.

Aは放射線発生機構3により発生した放射線、5は平坦
化フィル夕で放射線AがX線の場合に用いられ、電子線
の場合には取除かれる。6は放射線Aの強度のを測定す
る放射線検出器で、通常放射線により電離電流を発生す
る透過形あるいは指頭形イオンチャンバが多く用いられ
る。7は放射線検出器6と同様の放射線検出器であるが
、放射線Aによる照射野内の異つた領域の強度を検出す
るためのもので7a,7bの様に2個又はそれ以上の数
が設置される。
A is the radiation generated by the radiation generating mechanism 3, and 5 is a flattening filter, which is used when the radiation A is an X-ray and is removed when it is an electron beam. Reference numeral 6 denotes a radiation detector that measures the intensity of radiation A, and a transmission type or fingertip type ion chamber that generates an ionizing current by radiation is usually used. 7 is a radiation detector similar to radiation detector 6, but it is for detecting the intensity of different areas within the irradiation field by radiation A, and two or more detectors are installed like 7a and 7b. Ru.

8は放射線検出器6の信号を増中する増中器、9は放射
線強度を安定化するための制御機構、10a,10bは
増中器8と同様の増中器、11は増中器10a,10b
の出力を差動増中する差動増中器である。
8 is an intensifier that intensifies the signal of the radiation detector 6, 9 is a control mechanism for stabilizing the radiation intensity, 10a and 10b are intensifiers similar to intensifier 8, and 11 is an intensifier 10a. ,10b
This is a differential multiplier that differentially multiplies the output of the

12は差動増中器11の出力により照射野の放射線強度
分布を一定に保っための制御機構で加速部1を制御する
12 is a control mechanism for keeping the radiation intensity distribution of the irradiation field constant using the output of the differential intensifier 11, and controls the accelerating section 1.

13a,13bは野射野限定機構で、13a,13bの
一対となり更にこの直角方向にも一対ある。
Reference numerals 13a and 13b are field limiting mechanisms, which form a pair of 13a and 13b, and there is also another pair in the right angle direction.

(図示せず)又、矩形以外の照射野を構成できる多分割
の限定機構もある。照射野限定機構13a,13bは主
にX線の場合に野射野を定める機能を有し、電子線の場
合には14の電子線照射筒(電子線用アプリケータ)を
用いる。次に従来の装置の動作について説明する。
(Not shown) There is also a multi-division limiting mechanism that can configure an irradiation field other than a rectangle. The irradiation field limiting mechanisms 13a and 13b mainly have the function of defining the irradiation field in the case of X-rays, and use 14 electron beam irradiation tubes (electron beam applicators) in the case of electron beams. Next, the operation of the conventional device will be explained.

加速部1で所定のエネルギーに加速された電子ビームは
そのエネルギーに対応して、所定の磁場を発生している
偏向電磁石2により偏向され、放射線発生機構3に導か
れ、X線あるいは電子線等の放射線Aを発生する。放射
線Aは照射野限定機構13a,13bあるいは電子線照
射筒で定められる照射野内に照射される。X線の場合に
は平坦化フィル夕5により放射線強度の分布を平坦にす
るが、電子線の場合には平坦化フィル夕5は照射野内か
ら取除かれる機構を有している。照射される放射線の強
度は、放射線検出器6で検出され、強度に比例した電離
電流が発生する。
The electron beam accelerated to a predetermined energy in the accelerator 1 is deflected by a deflecting electromagnet 2 which generates a predetermined magnetic field in accordance with the energy, and guided to a radiation generating mechanism 3, where it is emitted as an X-ray, an electron beam, etc. of radiation A is generated. The radiation A is irradiated within an irradiation field defined by the irradiation field limiting mechanisms 13a, 13b or the electron beam irradiation tube. In the case of X-rays, the distribution of radiation intensity is flattened by the flattening filter 5, but in the case of electron beams, the flattening filter 5 has a mechanism to be removed from within the irradiation field. The intensity of the irradiated radiation is detected by a radiation detector 6, and an ionizing current proportional to the intensity is generated.

これは増中器8により、電流−電圧変換されて、更に増
中される。通常この装置はパルス運転され、放射線強度
はこのパルス繰り返し周波数や、パルス中に依存するた
め、増中器8の出力で放射線強度の表示を行うと同時に
、放射線強度の制御機構9に信号を送り、パルス繰り返
し周波数又はパルス中を制御する機構を有している。所
で、偏向電磁石により電子ビームを偏向するため、加速
された電子ビームエネルギーが所定の値よりずれたり、
軌道がずれたりすると、放射線発生機構3への電子ビー
ムの入射角や、入射位置が、ずれる現象が通常現われる
This is converted into current-voltage by the intensifier 8 and further amplified. Normally, this device is operated in pulses, and the radiation intensity depends on the pulse repetition frequency and the duration of the pulse, so the output of the intensifier 8 displays the radiation intensity and at the same time sends a signal to the radiation intensity control mechanism 9. , has a mechanism for controlling the pulse repetition frequency or pulse duration. However, since the electron beam is deflected by a deflecting electromagnet, the accelerated electron beam energy may deviate from a predetermined value, or
If the trajectory deviates, the incident angle and the incident position of the electron beam on the radiation generating mechanism 3 usually deviate.

このため、照射野内の放射線強度の分布が、第1図に示
す様に、理想的な分布Bから放射線強度分布の平坦性が
失われるCの様な分布にずれる。Cは平坦性の失われた
場合の一例である。しかし、装置には平坦な分布Bの様
な平坦性を保つことが要求されるため、以下のような制
御機構が通常用いられている。即ち、野射野内の異った
領域の放射線強度を検出する放射線検出器7a,7bが
設置され、各々の領域の放射線強度を測定している。電
子ビームエネルギーが変化すると、偏向電磁石で偏向さ
れる時のビーム軌道が変わり、採用されている偏向電磁
石の系に特有の軌道変化のため、放射線発生機構3への
入射角あるいは入射位置又はその双方が変化するため放
射線が有する指向性の中心軸が変化するため第1図のC
に示す様な強度の不均一性が生じる。このため放射線検
出器7a,7bの各々の電離電流が増加又は減少するこ
とにより放射線検出装置7a,7bの出力に差が生じる
。これらが各々増中器10a,10bで増中され、差動
増中器11によって両者の差分が符号も含めて検出ある
いは増中これる。そこで差敷増中器11の出力が十分4
・さくなる様(±0)に制御機構9を動作ごせ元の平坦
な放射線強度分布に回復させる。この時電子ビームエネ
ルギーに強度平坦性を維持させる場合には、加速マイク
ロ波周波数、加速マイクロ波電力、加速ビーム電流等の
いずれかあるいは複数のもを制御対象として制御する。
加速電子ビーム軌道が変動する様な装置あるいは制御可
能な装置にあっては、加速管の出力部に軌道修正用のス
テアリングコイルを装備してこのステアリングコイルの
電流値を制御し、電子ビームの軌道を修正することもあ
る。この時は偏向電磁石2へのビームの入射位置が変化
し平坦性が失われたことに対する補正ができる。この制
御機構を用いる場合は通常電子ビームエネルギーの補正
のための制御機構と並行して運転する場合が多い。第2
図にその動作の基本となる関係を示す。第2図において
D。は放射線検出器6による検出値でD,,D2は各々
7a,7bによる検出値である。×は、制御対象となっ
ている電子ビームエネルギーを設定する量で装置が所定
の電子ビームエネルギーで加速するための最適状態に保
たれると、通常×mに設定されている。任意に設定でき
る放射線強度を調整する機構を不変に保った場合、通常
XmにおいてDoは最大値Dmを得る。この時、D,=
D2となって平坦性が得られている。XがXmから変化
するとDoはDmから減少すると同時に、D,≠D2と
なり平坦性が失われるため、D,=D2に復帰する様に
Xを制御するのである。従来の線形電子加速装置による
放射線発生装置においては以上の様な構成と動作を行う
ため、第1図のCの様な照射野の放射線強度の不均一性
を生じた場合、制御動作がいくつか並行するため、複雑
で相互に干渉し合う結果となり、安定な出力と平坦な放
射線強度分布を得るのに難しさがあり、第2図のD,.
D2がDoと相似の特性を示す装置や電子線にあっては
電子ビームエネルギーの制御は、放射線の出力により行
うことはできなくなる等の欠点があった。この発明は従
来の装置の上記のような欠点を除去するためになされた
もので、正規化した放射線強度の最大値制御を行なうも
のであり、微分回路を用いずに最大値制御を行わしめ、
電子ビームエネルギーと放射線出力の安定化を持たらす
ことのできる制御装置を提供することを目的としたもの
である。
For this reason, the distribution of radiation intensity within the irradiation field deviates from the ideal distribution B to a distribution C, in which the flatness of the radiation intensity distribution is lost, as shown in FIG. C is an example of a case where flatness is lost. However, since the device is required to maintain flatness such as the flat distribution B, the following control mechanism is usually used. That is, radiation detectors 7a and 7b are installed to detect the radiation intensity in different areas within the field of view, and measure the radiation intensity in each area. When the electron beam energy changes, the beam trajectory when deflected by the deflecting electromagnet changes, and due to the trajectory change specific to the system of the deflecting electromagnet used, the angle of incidence and/or the position of incidence on the radiation generating mechanism 3 changes. C in Figure 1 because the central axis of the directivity of the radiation changes.
This results in non-uniformity in strength as shown in . Therefore, the ionization current of each of the radiation detectors 7a, 7b increases or decreases, thereby causing a difference in the outputs of the radiation detection devices 7a, 7b. These are multiplied by multipliers 10a and 10b, respectively, and the difference between the two, including the sign, is detected or multiplied by differential multiplier 11. Therefore, the output of the adder booster 11 is sufficient to 4
- Operate the control mechanism 9 so that the radiation intensity distribution decreases (±0) to restore the original flat radiation intensity distribution. At this time, if the intensity flatness of the electron beam energy is to be maintained, one or more of the accelerating microwave frequency, accelerating microwave power, accelerating beam current, etc. is controlled as a control target.
In devices where the accelerated electron beam trajectory fluctuates or is controllable, a steering coil for trajectory correction is installed in the output section of the acceleration tube, and the current value of this steering coil is controlled to adjust the trajectory of the electron beam. may be modified. At this time, the incident position of the beam on the deflecting electromagnet 2 changes, and it is possible to correct for the loss of flatness. When this control mechanism is used, it is often operated in parallel with a control mechanism for correcting the electron beam energy. Second
The figure shows the basic relationship of its operation. D in Figure 2. is the detected value by the radiation detector 6, and D, , D2 are the detected values by 7a and 7b, respectively. x is an amount that sets the electron beam energy to be controlled, and is normally set to xm when the device is maintained in an optimal state for accelerating with a predetermined electron beam energy. When the mechanism for adjusting the radiation intensity, which can be set arbitrarily, is kept unchanged, Do normally obtains the maximum value Dm at Xm. At this time, D,=
D2 and flatness was obtained. When X changes from Xm, Do decreases from Dm and, at the same time, D,≠D2 and flatness is lost, so X is controlled so as to return to D,=D2. Conventional radiation generators using linear electron accelerators have the configuration and operation described above, so when non-uniformity of radiation intensity in the irradiation field occurs, as shown in C in Figure 1, several control operations are necessary. Because they are parallel, the result is complicated and they interfere with each other, making it difficult to obtain stable output and a flat radiation intensity distribution.
In devices and electron beams in which D2 exhibits similar characteristics to Do, there are drawbacks such as the fact that the electron beam energy cannot be controlled by the output of the radiation. This invention was made in order to eliminate the above-mentioned drawbacks of the conventional device, and it performs maximum value control of normalized radiation intensity, and performs maximum value control without using a differentiation circuit.
The object of the present invention is to provide a control device that can stabilize electron beam energy and radiation output.

先づ、本発明の原理について説明する。First, the principle of the present invention will be explained.

即ち第2図に示されるように、放射線強度の調整機構を
不変に保った場合、所定の電子ビームエネルギーを得る
最適状態にパラメータを保てば(第2図のXで代表され
る設定パラメータの量をX:×mに設定する)、放射線
検出器6で検出される放射線の強度Poは最大値Dmと
なり、かつD,=D2の様に放射線強度分布は平坦にな
るという性能を利用してDoがDmになる様な制御方式
を彩用する。
In other words, as shown in Figure 2, if the radiation intensity adjustment mechanism is kept unchanged, if the parameters are kept in the optimal state to obtain a predetermined electron beam energy (the setting parameters represented by X in Figure 2) By using the performance that the radiation intensity Po detected by the radiation detector 6 becomes the maximum value Dm, and the radiation intensity distribution becomes flat as D, = D2. A control method is used so that Do becomes Dm.

この時、Doは放射線強度調整機構で設定される量(こ
れをyで代表する)に無関係にするため、DN=Do/
yという正規化を行い、DNが最大値DNmになる様に
する。第3図はこれを達成するための基本的な構成を示
す。第3図において、放射線検出器6の出力を増中器8
で増中しその出力を正規化回路16で正規化する。
At this time, in order to make Do irrelevant to the amount set by the radiation intensity adjustment mechanism (represented by y), DN=Do/
Normalization by y is performed so that DN becomes the maximum value DNm. FIG. 3 shows the basic configuration for achieving this. In FIG. 3, the output of the radiation detector 6 is transferred to an intensifier 8.
The normalization circuit 16 normalizes the output.

正規化には放射線強度調整機構15で放射線強度を設定
する量により行われ、既に示したDN=Do/yとする
。これを微分回路17で微分し皿N/dtを発生させる
が、これは18のタイミング回路18で発生させるゲー
ート信号によって行い、このゲート信号は△tの間隔で
発生する。したがってdDN/dtは△t間隔で発生し
、△tの間維持される。19は微分回路17の出±幻D
N/dtを増中する増中器で、その出力を絶対値回路2
0に入力する。
Normalization is performed by the amount by which the radiation intensity is set by the radiation intensity adjustment mechanism 15, and DN=Do/y as already shown. This is differentiated by a differentiating circuit 17 to generate a disc N/dt, but this is done by a gate signal generated by an 18 timing circuit 18, and this gate signal is generated at intervals of Δt. Therefore, dDN/dt occurs at intervals of Δt and is maintained for Δt. 19 is the output ±phantom D of the differentiating circuit 17
This is an intensifier that increases N/dt, and its output is sent to the absolute value circuit 2.
Enter 0.

絶対値回路20はl山DN/dtlに相当する量を出力
し、制御量が定められる。一方増中器19の出力は制御
パラメータ変化率弁別回路22に入力され、皿N/dt
>0ならば、Xの変化する方向を維持し、皿N/dt<
0ならば、Xの変化する方向を反転する機能を有してそ
れに相当する信号を発生する。絶対値回路20の出力が
虹DN/dt=0となると制御弁別回路23のゲートを
閉じ、制御パラメータ変化率弁別回路22の出力を制御
信号発生回路25に伝達されるのを停止する。以上の様
に制御信号発生回路25は功DN/dt=0の時Xの変
化すべき方向と制御量をを発生し皿N/dt=0の時は
Xの現在の値を保持する様に動作してDN最大値となっ
ている。但照射を開始した初期においては山DN/dt
=0のため制御信号が発生しないので、初期条件設定回
路24により最初の△t間は絶対値回路2川こ適宜の制
御量を設定し、又制御パラメータ変化率弁別回路22の
変化の方向を設定する。同時に開始と同時にタイミング
回路18がゲート信号を発生する信号をタイミング回路
18に送る。以上のようにして制御信号発生回路25が
加速部の電子ビームエネルギー設定のパラメータを制御
することにより、第2図のXmに×を制御し、安定な電
子ビームエネルギーと放射線出力を得ようとするもので
ある。ここで第3図の回路では微分回路17を用いてい
るが、通常増中器を利用した微分回路はノイズが発生し
やすいため、装置が誤動作しやすいという危険性を内包
している。本発明は、正規化した放射線強度の最大値制
御を微分回路を用いずに達成するものである。
The absolute value circuit 20 outputs an amount corresponding to the l-mountain DN/dtl, and the control amount is determined. On the other hand, the output of the intensifier 19 is input to the control parameter change rate discrimination circuit 22,
If >0, maintain the changing direction of X and set the dish N/dt<
If it is 0, it has the function of reversing the direction in which X changes and generates a signal corresponding to it. When the output of the absolute value circuit 20 becomes rainbow DN/dt=0, the gate of the control discrimination circuit 23 is closed and the output of the control parameter change rate discrimination circuit 22 is stopped from being transmitted to the control signal generation circuit 25. As described above, the control signal generation circuit 25 generates the direction in which X should change and the control amount when DN/dt=0, and maintains the current value of X when N/dt=0. It is working and the DN is at its maximum value. However, at the beginning of irradiation, the mountain DN/dt
= 0, so no control signal is generated, so the initial condition setting circuit 24 sets an appropriate control amount for the absolute value circuit 2 during the first Δt, and also determines the direction of change of the control parameter change rate discrimination circuit 22. Set. Simultaneously with the start, the timing circuit 18 sends a signal for generating a gate signal to the timing circuit 18. As described above, the control signal generation circuit 25 controls the electron beam energy setting parameters of the accelerator, thereby controlling Xm in FIG. 2 to obtain stable electron beam energy and radiation output. It is something. Here, the circuit shown in FIG. 3 uses a differentiating circuit 17, but since a differentiating circuit using an intensifier is likely to generate noise, there is a risk that the device is likely to malfunction. The present invention achieves maximum value control of normalized radiation intensity without using a differentiation circuit.

以下本発明の一実施例を図について説明する。第4図に
おいて、26は照射開始信号ゲート発生回路、27はタ
イミングパルス発生回路、28a,28b,28cは夫
々サンプリング・ホールド回路、29a,29b,29
cはサンプリング・ホールド回路28a,28b,28
cの出力をインピーダンス変換により出力を構成する増
中器で、サンプリング・ホールド回路28a,28b,
28cの各々に対応して設置されている。増中器29a
,29b,29cの入力側はサンプリング・ホールド回
路28a,28b,28cの出力を十分長い時間の間保
持できるように高入力インピーダンスとなっており、出
力側は低出力インピーダンスである。30は差動増中器
、31は増中器29cの出力の絶対値を構成するための
絶対値回路、32はフliッブフ。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIG. 4, 26 is an irradiation start signal gate generation circuit, 27 is a timing pulse generation circuit, 28a, 28b, and 28c are sampling/hold circuits, respectively, and 29a, 29b, 29
c is sampling/holding circuit 28a, 28b, 28
This is an amplifier that configures the output of c by impedance conversion, and includes sampling/holding circuits 28a, 28b,
28c. Multiplier 29a
, 29b, 29c have a high input impedance so that the outputs of the sampling/holding circuits 28a, 28b, 28c can be held for a sufficiently long time, and their output sides have a low output impedance. 30 is a differential multiplier, 31 is an absolute value circuit for configuring the absolute value of the output of the multiplier 29c, and 32 is a flip buffer.

ップで、照射開始信号ゲート発生回路26の出力ゲート
により、その出力は初期設定され、増中器29cの出力
が正の時は出力は反転せず、増中器29cの出力が負に
なった時、出力が反転する。23は、加速部の電子ビー
ムエネルギーを決定する制御対象となるパラメータの制
御部である。
The output is initialized by the output gate of the irradiation start signal gate generation circuit 26, and when the output of the intensifier 29c is positive, the output is not inverted and the output of the intensifier 29c becomes negative. When the output is reversed, the output is inverted. Reference numeral 23 denotes a parameter control unit to be controlled to determine the electron beam energy of the acceleration unit.

フリップフ。ップ32の出力によりこの制御対象となる
量の増加、減少の方向を決定すると共に絶対値回路31
の出力により制御量が定められる。次に本発明による装
置の動作を説明する。
Flipf. The output of the circuit 32 determines the direction of increase or decrease in the quantity to be controlled, and the absolute value circuit 31
The control amount is determined by the output of . Next, the operation of the apparatus according to the present invention will be explained.

X線又は電子線等の放射線が放射線発生機構3により発
生し、その出力強度が放射線検出器6で検出され、増中
器8で増中これ同時にパルス的に発生している検出値を
平均化する。この出力により放射線強度や積算の放射線
の量が表示できる。一方、放射線強度調整機構15によ
り設定されている放射線強度調整値に比例する量で増中
器8の出力が正規化される。
Radiation such as X-rays or electron beams is generated by the radiation generation mechanism 3, its output intensity is detected by the radiation detector 6, and the output intensity is increased by the intensifier 8. At the same time, the detected values generated in pulses are averaged. do. This output can display the radiation intensity and the cumulative amount of radiation. On the other hand, the output of the intensifier 8 is normalized by an amount proportional to the radiation intensity adjustment value set by the radiation intensity adjustment mechanism 15.

正規化された値又はそれに比例した値をDNとする。2
7はタイミングパルス発生回路27は周期△tの間にタ
イミングの異なる3種類のパルスを発生する。
Let DN be a normalized value or a value proportional to it. 2
7, a timing pulse generation circuit 27 generates three types of pulses with different timings during a period Δt.

パルス中は△tに対して十分小さく、かつサンプリング
・ホールド回路28a,28b,28cのサンプリング
ホールド‘こよりその入力が応答するのに十分長い値を
有している。最初のパルスS,が時刻し‘こおいて発生
するとこれに△t.遅れて次のパルスS2が時刻t2に
発生する。更に△t2遅れて第3のパルスS3が時刻t
3において発生しこの後△t3後に再びS,が発生する
。したがって1周期は△t:△ら+△t2十△らとなる
。これらS,,S2,S3の各パルスは各々サンプリン
グホールド回路28a,28b,28cに加えられ、各
々のパルスにより開かれたゲートの間、サンプリングホ
ールド回路28a,28b,28cはその入力の値を出
力側に伝達する。サンプリングホールド回路28a,2
8b,28cの出力の値を十分長い時間保つためその出
力側には高入力インピーダンスの増中器29a,29b
,29cが設置され周期△tの間この値を保っている。
増中器29a,29b,29cの出力を各々D側DN2
,DN3とする。DN・,DN2の出力は差動増中器3
0により両者の差が検出される。差動増中器30の出力
をDdとし、Ddは例えばDd=DN2−DN,とする
。Ddはサンプリング・ホールド回路28cにより再び
サンプリングホールドされ、高入力インピーダンスであ
る増中器29cにより出力が保持される。増中器29c
の出力がDN3である。そこでこれらの関係を第5図を
用いて説明する。
During the pulse, it has a value that is sufficiently small with respect to Δt and long enough that the inputs of the sampling and holding circuits 28a, 28b, and 28c respond to the sampling and holding circuits 28a, 28b, and 28c. When the first pulse S, occurs after a certain time, this causes Δt. After a delay, the next pulse S2 occurs at time t2. Further delayed by Δt2, the third pulse S3 arrives at time t.
3, and then S, occurs again after Δt3. Therefore, one cycle is △t: △ et al. + △t2 + △ et al. These pulses S, S2, and S3 are applied to sampling and holding circuits 28a, 28b, and 28c, respectively, and during the gates opened by each pulse, sampling and holding circuits 28a, 28b, and 28c output the values of their inputs. Communicate to the side. Sampling hold circuit 28a, 2
In order to maintain the output values of 8b and 28c for a sufficiently long time, high input impedance multipliers 29a and 29b are installed on their output sides.
, 29c are installed and maintain this value during the period Δt.
The outputs of the multipliers 29a, 29b, 29c are respectively connected to the D side DN2.
, DN3. The output of DN・, DN2 is the differential amplifier 3
0 allows the difference between the two to be detected. It is assumed that the output of the differential amplifier 30 is Dd, and Dd is, for example, Dd=DN2-DN. Dd is sampled and held again by the sampling and holding circuit 28c, and the output is held by the amplifier 29c having a high input impedance. Multiplier 29c
The output of is DN3. Therefore, these relationships will be explained using FIG. 5.

今、△tの周期が照射を開始してからn番目のにあった
とするとパルスS,,S2,S3は各々tn・,tn2
,tn3,の時刻に発生し次の(n+1)番目の周期で
はt(n川,,t(n+,)2,t(n川3の時刻に発
生するとする。今、制御対象Xが変化しており、正規化
された放射線強度DNが漸増しているとするのが第5図
のn番目の周期で、その結果最大値に十分近い位置にX
が変化してDNの変化がほとんどなくなったのが(n+
1)番目の周期である。
Now, if the period of △t is at the n-th period after the start of irradiation, the pulses S, , S2, and S3 are tn・, tn2, respectively.
, tn3, and in the next (n+1)th cycle, it occurs at the time t(n river, t(n+,)2, t(n river 3).Now, the controlled object X changes. It is assumed that the normalized radiation intensity DN gradually increases in the n-th period in Fig. 5, and as a result, X
changes and there is almost no change in DN (n+
1) It is the th period.

tn,の時刻に発生したパルスS,により、増中器29
aの出力はその時のDNの値DN,を読み込んで時刻t
(n川,までホールドしている。次にtn2の時刻に発
生したパルスS2により、増中器29bの出力はその時
のDNの値DN2を読み込んで時刻t(川,)2までホ
ールドしている。したがって、差動増中器30はDd=
DN2−DN,を出力するので、DNが増加している時
はDN2がt(n−,)2の時点の値が記憶されている
ため、△t,の間は負となり、t舵によりDN2が更新
されるとDN2>DN,となってDdは正の値に変化す
る。こうして時刻tn3においてDdの値がパルスS3
により増中器29cの出力DN3となって表われる。t
n3までは増中器29cの出力はt(n−,)3の時刻
のDdの値が記憶され、DNが増加しているため正であ
った。DNが最大値により近づいたためDN2とDN・
の差は次第に小さくなるため、tn3で更新されたDN
3の値はそれ以前に比して小さくなった。時刻tn3ま
でのDN3の値によりフリップフロップ32はDN3が
正のため制御対象Xの値をある方向に変化させており、
又絶対値回路31で制御量が定められ、制御部33が時
刻tn3まで制御駆動信号を発して来た。時刻tn3に
おいて新たにDN3が発生したが、依然正の値であるの
でフリップフロップ32はXの変化の方向を変えず、絶
対値回路31により定められた制御量で引き続きt(帆
)3まで制御部33は制御駆動信号を発生する。(n+
1)番目の周期も同じ様な方法でDN,,DN2,DN
3が発生するのであるが最大値に十分近くなったため、
△t,の間隔で検出されたDN,とDN2がほぼ等しい
値になるとt(n川3の時刻のDdはほぼDd=0とな
っているため、DN3=0となり、t(n川3以後は制
御量が0となって制御部33はXを変化させる駆動信号
を停止し、現在の値を保持するのである。
Due to the pulse S, generated at time tn, the intensifier 29
The output of a is obtained by reading the value of DN at that time, DN, at time t.
(It is held until time t(river,).Next, due to the pulse S2 generated at time tn2, the output of the multiplier 29b reads the value DN2 of DN at that time and is held until time t(river,)2. .Therefore, the differential intensifier 30 has Dd=
Since DN2-DN, is output, when DN is increasing, the value of DN2 at the time of t(n-,)2 is stored, so it becomes negative during △t, and DN2 is output by t rudder. When is updated, DN2>DN, and Dd changes to a positive value. In this way, at time tn3, the value of Dd changes to pulse S3.
This appears as the output DN3 of the multiplier 29c. t
Until n3, the output of the multiplier 29c was positive because the value of Dd at time t(n-,)3 was stored and DN was increasing. Since DN is closer to the maximum value, DN2 and DN・
Since the difference between
The value of 3 has become smaller than before. Due to the value of DN3 up to time tn3, the flip-flop 32 changes the value of the controlled object X in a certain direction because DN3 is positive.
Further, the control amount is determined by the absolute value circuit 31, and the control section 33 has been issuing control drive signals until time tn3. At time tn3, DN3 is newly generated, but since it is still a positive value, the flip-flop 32 does not change the direction of change in X, and continues to control until t (sail) 3 with the control amount determined by the absolute value circuit 31. Section 33 generates a control drive signal. (n+
1) DN,, DN2, DN in the same way for the th period.
3 occurs, but it is close enough to the maximum value, so
When DN, detected at the interval of △t, and DN2 become almost equal values, Dd at the time of t(n river 3 is almost Dd = 0, so DN3 = 0, and t(n river 3 and thereafter) When the control amount becomes 0, the control section 33 stops the drive signal that changes X and holds the current value.

この後状態が変化しなければ、△tの周期を繰り返して
もDN3こ0でXを変化させる駆動信号が生じないので
最適状態が維持されている。もし、何らかの原因でDN
が変化し始めるとDN3がDN3≠0即ちDN3<0と
なってこれまでの状態で設定されていたフリップフロッ
プ32が指示するXの変化の方向は反転して、×が変化
させられる。この結果DNが増加してDN3が正になれ
ば再びDN3=0となるまでXを制御する。しかし、こ
の結果やはりDN3が負であると再びフリップフロップ
32が指示する×の変化の方向は反転して、DNが増加
する方向にXを変化させる駆動信号が発生する。この様
にして、DNが最大値となる制御が達成されるのである
。以上の説明は照射を開始した後にDNが一度変化し始
めた場合の動作である。開始時点においてDNが変化し
しない、即ちXが変化しなければその時のXの値が最大
値であるかどうかは判明しない。そこで初期条件を設定
する照射開始信号ゲート発生回路26が必要となる。第
6図において時刻ら,において照射が開始され、ら,か
ら△t後の時刻ら,から上記説明のパルス周期が繰り返
される。即ちt,.,t,2,L3において各々パルス
S,,S2,S3が発生する。時刻ら,から△tのパル
ス周期は開始されるのであるが照射開始信号ゲート発生
回路26のゲートSoをto,から△toの間遅らせて
S,,S2,S3が出力する様に開く。従ってto,に
おけるパルスS.はマスクされてサンプリング・ホール
ド回路28aには印加されない。ここで△to<△りこ
しておけばto2におけるパルスS2はサンプリング・
ホールド回路28bに印加されて、この時のDNが読み
込まれるのである。そしてS,,S2,S3は照射開始
前はゲートが開かれたままになっており、開始と同時に
ゲートを閉じる論理回路により制御されている。したが
って、照射開始前はDN,,DN2,DN3はいずれも
0にリセットされているので、照射開始後の最初の△t
の間はDNは造中器29Mこのみ読み込まれることにな
り、to3において、DN3には正の値が表われる。し
たがって×を変化させる駆動信号の制御量が得られた訳
で、この時照射開始信号ゲート発生回路26により照射
開始前のフリップフロップ32の出力を定められた方向
に設定しておけば、t■からt,3の間までの制御部3
3の制御信号が定められてXを変化させる。以後の制御
の動作については既に説明した通りである。以上の様に
して制御対象を制御する信号が得られることになり最適
状態にパラメータを制御する。
If the state does not change after this, even if the period Δt is repeated, no drive signal is generated to change X at DN3-0, so the optimum state is maintained. If for some reason DN
When DN3 starts to change, DN3 becomes DN3≠0, that is, DN3<0, and the direction of change in X indicated by the flip-flop 32, which has been set in the previous state, is reversed and x is changed. As a result, if DN increases and DN3 becomes positive, X is controlled until DN3=0 again. However, as a result of this, if DN3 is still negative, the direction of change in x indicated by flip-flop 32 is reversed again, and a drive signal is generated that changes x in the direction in which DN increases. In this way, control is achieved in which the DN reaches its maximum value. The above explanation is about the operation when DN starts to change once after starting irradiation. If DN does not change at the starting point, that is, if X does not change, it is not known whether the value of X at that time is the maximum value. Therefore, an irradiation start signal gate generation circuit 26 is required to set the initial conditions. In FIG. 6, irradiation is started at time .alpha., and the pulse period described above is repeated from time .alpha., which is Δt after .alpha. That is, t, . , t,2, and L3, pulses S, , S2, and S3 are generated, respectively. The pulse period Δt starts from time t, but the gate So of the irradiation start signal gate generation circuit 26 is delayed from to to Δt and opens so that S, , S2, and S3 are output. Therefore, the pulse S. is masked and not applied to the sampling/holding circuit 28a. Here, if △to < △, the pulse S2 at to2 will be the sampling
The signal is applied to the hold circuit 28b, and the current DN is read. The gates of S, S2, and S3 remain open before the start of irradiation, and are controlled by a logic circuit that closes the gates at the same time as the start of irradiation. Therefore, since DN, DN2, and DN3 are all reset to 0 before the start of irradiation, the initial Δt after the start of irradiation is
During this period, the DN is read only by the intermediate device 29M, and at to3, a positive value appears in DN3. Therefore, the control amount of the drive signal that changes x is obtained, and if the irradiation start signal gate generation circuit 26 sets the output of the flip-flop 32 in a predetermined direction before the start of irradiation, then t Control unit 3 between t and 3
Three control signals are defined to vary X. The subsequent control operations are as already described. As described above, a signal for controlling the controlled object is obtained, and the parameters are controlled to the optimum state.

しかも微分の原理を応用しながら、微分・回路を用いる
ことなく、通常使用されているパルス発生回路と、増中
器およびサンプリング・ホール‐ドのみで回路を構成し
たために、微分回路に付随するノイズによる誤動作を防
ぐことができるのである。以上述べたこの発明の実施例
では制御対象を電子ビームエネルギーとしているが電子
ビームエネルギーが他の制御方法で安定化できる装置に
あっては、電子ビーム軌道によっても同様な制御を行う
ことができ電子ビーム軌道修正のため、ステアリングコ
イルや、偏向電磁石電流を制御しても良い。
Moreover, while applying the principle of differentiation, the circuit was configured with only a commonly used pulse generation circuit, an intensifier, and a sampling hold without using a differentiation circuit, so noise accompanying the differentiation circuit was generated. This can prevent malfunctions due to In the embodiments of the present invention described above, the control target is the electron beam energy, but in devices where the electron beam energy can be stabilized by other control methods, similar control can be performed using the electron beam trajectory. In order to correct the beam trajectory, a steering coil or a bending electromagnet current may be controlled.

又、サンプリング・ホールド回路28a,28bを用い
たが、時定数の異なる遅延回路ををこれに代えて設けて
もよい。放射線発出器6は出力強度をモニタする検出器
を共有しているがこの制御回路のため別個の検出器を設
けても良く、例えば照射野の中心での放射線強度を検出
して制御回路の入力信号としても同様な効果が得られる
。更に、第4図においては、タイミングパルス発生回路
27から発生するパルスS,,S2,S3の発生するタ
イミングをt,,t2,上3の様にあたかも固定してあ
るかの様に実施例を示した。所で線形電子加速装置はパ
ルス運転されるのでこのパルスに同期させてS,,S2
,S3を発生することもできる。
Further, although the sampling and holding circuits 28a and 28b are used, delay circuits having different time constants may be provided instead. The radiation emitters 6 share a detector that monitors the output intensity, but a separate detector may be provided for this control circuit, for example, by detecting the radiation intensity at the center of the irradiation field and inputting it to the control circuit. A similar effect can be obtained as a signal. Furthermore, in FIG. 4, the embodiment is shown as if the timings at which the pulses S, , S2, and S3 generated from the timing pulse generation circuit 27 are fixed as t, , t2, and 3 above. Indicated. However, since the linear electron accelerator is operated in pulses, S, , S2 are synchronized with this pulse.
, S3 can also be generated.

通常、増中器8ではパルス的な放射線検出器6の出力電
離電流は平均化されて増中されることが多い。この平均
化により回路時定数で定められるリップルが生ずること
がある。したがって、装置の運転パルスに同期(運転パ
ルスに対して一定の時間遅れを持つものも同期として)
ごせてパルスS,,S2,S3を発生させれば、増中器
29a,29b,29cの出力はリップルによる変動を
除くことができる。第7図にその回路例を示す。
Usually, in the intensifier 8, the pulsed output ionizing current of the radiation detector 6 is often averaged and intensified. This averaging may result in ripples determined by the circuit time constant. Therefore, it is synchronized with the operating pulse of the device (even devices that have a certain time delay with respect to the operating pulse are considered synchronized)
If the pulses S, , S2, and S3 are generated after the delay, fluctuations due to ripples can be removed from the outputs of the multipliers 29a, 29b, and 29c. FIG. 7 shows an example of the circuit.

第7図ではS,,S2のみ示す。運転パルスのトリガパ
ルス発生回路34により線形電子加速装置運転パルスと
タイミングが一致したパルスあるいは一定の時間遅れの
あるパルスが発生する。タイミングトリガ発生回路35
からは△tの周期でし,t2のタイミングにトリガパル
スが発生している。勿論、S3用にt3のタイミングで
更にトリガパルスがここから発生してもよい。36a,
36bはフリツプフoツプ回路、37a,37bはゲー
ト回路であるが、これらは夫々S,,S2用に設けられ
ている。
In FIG. 7, only S, , S2 are shown. The driving pulse trigger pulse generation circuit 34 generates a pulse whose timing matches the linear electron accelerator driving pulse or a pulse with a certain time delay. Timing trigger generation circuit 35
From then on, the cycle is Δt, and a trigger pulse is generated at the timing t2. Of course, a trigger pulse may be further generated from here at timing t3 for S3. 36a,
36b is a flip-flop circuit, and 37a and 37b are gate circuits, which are provided for S, S2, respectively.

tlのタイミングでタイミングトリガ発生回路35から
発生したトリガパルスはフリツプフロツプ36aに印加
されて、これを動作させ、ゲート回路37aのゲートを
開く信号が発生する。ゲート回路37aのゲートが開か
れている時にトリガパルス発生回路34からパルスが入
力するとこれは出力側に伝達されてパルスS,となる。
パルスS,は同時にフリツプフロツプ36aに帰還され
、パルスS,の終了時にフリップフロップ36aはゲー
トを閉じる様に動作させる。したがって周期△tの間に
唯一のパルスがS,として発生する。一方t2のタイミ
ングでタイミングトリガ発生回路35から発生したトリ
ガパルスは以上と同様な機能を持ったフリップフロツプ
36b、ゲート回路37bによりS2が発生する。以上
の様にして周期△t間に線形電子加速装置の運転パルス
に周期したS,,S2が得られる。
A trigger pulse generated from the timing trigger generation circuit 35 at timing tl is applied to the flip-flop 36a to operate it and generate a signal to open the gate of the gate circuit 37a. When a pulse is input from the trigger pulse generation circuit 34 while the gate of the gate circuit 37a is open, this is transmitted to the output side and becomes a pulse S.
Pulse S, is simultaneously fed back to flip-flop 36a, and at the end of pulse S, flip-flop 36a is operated to close its gate. Therefore, during the period Δt only one pulse occurs as S,. On the other hand, the trigger pulse generated from the timing trigger generation circuit 35 at timing t2 is generated by the flip-flop 36b and gate circuit 37b having the same functions as described above. In the above manner, S, S2, which are periodic to the operating pulse of the linear electron accelerator during the period Δt, are obtained.

S3に関しては同様に同期させても良いし、S2に適宜
の△らだけ遅れたパルスであっても良い。第8図でPは
トリガパルス発生回路34の出力パルス、○,,G2は
各々フリッブフロップ36a,36bの出力ゲート信号
で第8図により以上の動作が理解できる。又、この発明
による回路は放射線強度の最大値を求めるばかりでなく
、所定の線量を得るためにパルス繰り返し周波数、パル
ス中、ビーム電流等を最低にする様な制御を行う場合の
制御機構にも応用できる。この場合求める制御点が最大
点であるものを最低点にする様にフリップフロップ32
が反転出力となる時を増中器29cの出力が正となった
時とすれば良い。以上の様にこの発明によれば線形電子
加速装置を用いた放射線発生装置の放射線出力を正規化
して、その値の最大値(又は最小値)を求める制御回路
を備え、かつ微分回路を用いずパルス発生回路、増中器
サンプリングホールド回路等の通常使用している構成で
これと同等の機能を得る様に構成したため、微分回路特
有のノイズによる誤動作が防止でき、安定した動作を行
うため、電子ビームエネルギー放射線出力が安定で信頼
度の高い装置を提供できる効果が得られる。
Regarding S3, it may be similarly synchronized, or it may be a pulse delayed by an appropriate amount of Δ with respect to S2. In FIG. 8, P is the output pulse of the trigger pulse generation circuit 34, and .largecircle., , G2 are the output gate signals of the flip-flops 36a and 36b, respectively.The above operation can be understood from FIG. Furthermore, the circuit according to the present invention not only determines the maximum value of radiation intensity, but also serves as a control mechanism for controlling pulse repetition frequency, pulse duration, beam current, etc. to the minimum in order to obtain a predetermined dose. Can be applied. In this case, the flip-flop 32 is set so that the maximum control point to be sought becomes the lowest point.
The time when the output becomes an inverted output may be set as the time when the output of the multiplier 29c becomes positive. As described above, the present invention includes a control circuit that normalizes the radiation output of a radiation generation device using a linear electron accelerator and obtains the maximum value (or minimum value) of that value, and does not use a differentiating circuit. Since the configuration is configured to obtain the same functions as the normally used configurations such as the pulse generation circuit and the multiplier sampling and hold circuit, it is possible to prevent malfunctions due to noise peculiar to differentiating circuits, and to ensure stable operation, the electronic The effect of providing a highly reliable device with stable beam energy radiation output can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来の線形電子加速装置の一例を示すフロック
図、第2図は電子ビームエネルギーを定めるパラメー外
こ対する放射線出力の関係を示す説明図、第3図は本発
明の基本となる装置のブロック図、第4図はこの発明の
一実施例による装置を示すブロック図、第5図は第4図
の装置の通常の動作を示すタイミングチャート、第6図
は第4図の制御機構の初期条件を定める動作のタイミン
グチャート、第7図はこの発明の装置の一部の変形例を
示すブ。 ック図、第8図は第7図による回路の動作を示すタイミ
ングチャートである。図に於て、1・・・・・・加速部
、6…・・・放射線検出器、8…・・・増中器、15…
…放射線強度調整機構、16・・・・・・正規化回路、
26・・・・・・照射開始信号ゲート発生回路、27・
・・・・・タイミングパルス発生回路、28a,28b
,28c…・・・サンプリングホールド回路、29a,
29b,29c・・…・増中器、30…・・・差動増中
器、31・・・・・・絶対値回路、32・・・・・・フ
リップフロツプ、33・・・・・・制御部、34……運
転パルス用のトリトリガパルス発生回路、35・・・・
・・タイミングトリガ発生回路、36a,36b……フ
リツプフoツプ、37a,37b・・・・・・ゲート回
路である。尚、図中同一符号は同一又は相当部分を示す
。第1図 第2図 第7図 第3図 第5図 第4図 第6図 第8図
Fig. 1 is a block diagram showing an example of a conventional linear electron accelerator, Fig. 2 is an explanatory diagram showing the relationship between radiation output and parameters that define electron beam energy, and Fig. 3 is the basic device of the present invention. 4 is a block diagram showing a device according to an embodiment of the present invention, FIG. 5 is a timing chart showing the normal operation of the device in FIG. 4, and FIG. 6 is a diagram showing the control mechanism of FIG. 4. FIG. 7 is a timing chart of operations for determining initial conditions, and FIG. 7 is a diagram showing a partial modification of the apparatus of the present invention. FIG. 8 is a timing chart showing the operation of the circuit shown in FIG. In the figure, 1... accelerator, 6... radiation detector, 8... intensifier, 15...
... Radiation intensity adjustment mechanism, 16... Normalization circuit,
26...Irradiation start signal gate generation circuit, 27.
...timing pulse generation circuit, 28a, 28b
, 28c... Sampling hold circuit, 29a,
29b, 29c...Intensifier, 30...Differential intensifier, 31...Absolute value circuit, 32...Flip-flop, 33...Control Section 34...Trigger pulse generation circuit for driving pulses, 35...
. . . Timing trigger generation circuit, 36a, 36b . . . flip-flop, 37a, 37b . . . gate circuit. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or corresponding parts. Figure 1 Figure 2 Figure 7 Figure 3 Figure 5 Figure 4 Figure 6 Figure 8

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 電子ビームを加速する加速装置を備え、この加速装
置により加速された電子ビームにより放射線を発生する
ようにした装置に於て、放射線の出力強度を調整する調
整機構と、発生した放射線の強度を検出する放射線検出
器と、上記調整機構により設定された量に応じた値を基
準値として上記放射線検出器により検出された出力放射
線強度を正規化する正規化手段と、この正規化手段の出
力の任意の時点における値とその時点より前の時点にお
ける値との差分を検出し、この差分を用いて上記正規化
された量が最大値又は最小値となるように上記加速装置
を制御する制御装置とを備えたことを特徴とする放射線
発生装置。 2 正規化された量が最大値又は最小値となるように加
速装置を制御する制御装置は、正規化手段の任意の時点
における出力値を保持する第1のサンプリング・ホール
ド回路と、正規化手段の上記時点より後の時点における
出力値を保持する第2のサンプリング・ホールド回路と
、上記第1及び第2のサンプリング・ホールド回路の出
力の差に応じた出力を生ずる差動増巾器と、この差動増
巾器の出力値をサンプリングして保持する第3のサンプ
リング・ホールド回路とを有し、この第3のサンプリン
グ・ホールド回路の出力値が正となるよう加速装置を制
御するものであることを特徴とする特許請求の範囲第1
項に記載の放射線発生装置。 3 正規化された量が最大値又は最小値となるように加
速装置を制御する制御装置は、第1、第2、及び第3の
サンプリング・ホールド回路にサンプリング動作を行な
わせるタイミングパルスを与えるタイミングパルス発生
回路を有することを特徴とする特許請求の範囲第2項に
記載の放射線発生装置。 4 放射線発生の初期において第1又は第2のサンプリ
ング・ホールド回路が新たに正規化出段の出力をサンプ
リングしないように動作する手段を制御装置に備えたこ
とを特徴とする特許請求の範囲第2項又は第3項に記載
の放射線発生装置。
[Scope of Claims] 1. An adjustment mechanism that adjusts the output intensity of radiation in a device that includes an accelerator that accelerates an electron beam and generates radiation from the electron beam accelerated by the accelerator; a radiation detector that detects the intensity of the generated radiation; a normalizing means that normalizes the output radiation intensity detected by the radiation detector using a value corresponding to the amount set by the adjustment mechanism as a reference value; Detect the difference between the value of the output of the normalizing means at a given point in time and the value at a point before that point, and use this difference to accelerate the above normalized amount so that it reaches the maximum value or the minimum value. A radiation generating device comprising: a control device for controlling the device. 2. The control device that controls the accelerator so that the normalized quantity becomes the maximum value or the minimum value includes a first sampling and holding circuit that holds the output value at any point in time of the normalization means, and a normalization means. a second sampling/holding circuit that holds an output value at a time after the above-mentioned point in time, and a differential amplifier that produces an output according to the difference between the outputs of the first and second sampling/holding circuits; It has a third sampling and hold circuit that samples and holds the output value of this differential amplifier, and controls the accelerator so that the output value of this third sampling and hold circuit is positive. The first claim characterized in that
The radiation generating device described in . 3. The control device that controls the accelerator so that the normalized amount becomes the maximum value or the minimum value has a timing pulse that causes the first, second, and third sampling/hold circuits to perform sampling operations. 3. The radiation generating device according to claim 2, further comprising a pulse generating circuit. 4. Claim 2, characterized in that the control device is equipped with means for operating so that the first or second sampling and holding circuit does not newly sample the output of the normalization output stage at the initial stage of radiation generation. The radiation generating device according to item 1 or 3.
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