JPS60258688A - Pattern recognizing method and device using the method - Google Patents
Pattern recognizing method and device using the methodInfo
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- JPS60258688A JPS60258688A JP59020329A JP2032984A JPS60258688A JP S60258688 A JPS60258688 A JP S60258688A JP 59020329 A JP59020329 A JP 59020329A JP 2032984 A JP2032984 A JP 2032984A JP S60258688 A JPS60258688 A JP S60258688A
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- pattern
- memory
- character
- scored
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)発明の技術分野
本発明はパターン認識方法及びこれを用いた装置に係り
、特に入力画像パターンの各画素をその周囲に存在する
パターン部分の状況に応じて点数化して入力画像パター
ンを認識するパターン認識方法及びこれを用いた装置に
関する。Detailed Description of the Invention (a) Technical Field of the Invention The present invention relates to a pattern recognition method and a device using the same, and particularly relates to a pattern recognition method and a device using the same. The present invention relates to a pattern recognition method for recognizing an input image pattern by converting it into a digitized image, and a device using the same.
(0)技術の背景
パターン認識装置においてはその認識率の向上が重要な
課題であり、そのためには、特徴点を首尾よく抽出し得
ることが必要である。(0) Background of the technology Improving the recognition rate of pattern recognition devices is an important issue, and for this purpose, it is necessary to be able to successfully extract feature points.
従来の特徴点の抽出法では、その抽出と共に不所望な要
素が混入する虞れが多分にあるという不具合があり、パ
ターン認識上の障害になっているので、このような不具
合を回避し得る技術手段の開発が要望されている。Conventional methods for extracting feature points have the drawback that there is a high possibility that undesirable elements may be mixed in with the extraction, which is an obstacle to pattern recognition.Therefore, a technology that can avoid such problems is needed. Development of a method is required.
(ハ)従来技術と問題点
従来における文字認識では、文字の特徴点抽出は文字の
骨格化処理後に行なっている。その骨格化処理において
、第1図の(1−1)に示すように文字の芯線以外にひ
げaが現われたり、第1図の(1−2)に示すように直
線の交点が2つの三分岐点として骨格化されたりするた
め、安定した文字認識に支障を来すという不具合がある
。(C) Prior Art and Problems In conventional character recognition, character feature points are extracted after character skeletonization processing. In the skeletonization process, as shown in (1-1) in Figure 1, whiskers a appear in areas other than the core line of the character, and as shown in (1-2) in Figure 1, the intersection of two straight lines becomes two triangles. There is a problem that stable character recognition is hindered because the characters are skeletonized as branching points.
(ニ)発明の目的
本発明は上述したような従来技法の有する欠点に鑑みて
創案されたもので、その目的は従来のような骨格化処理
を行なうことなしに特徴点の抽出を行ない、安定したパ
ターン認識を行ない得るパターン認識方法及びこれを用
いた装置を提供することにある。(d) Purpose of the Invention The present invention was devised in view of the drawbacks of the conventional techniques as described above. An object of the present invention is to provide a pattern recognition method capable of performing pattern recognition using the same method, and an apparatus using the same.
(ロ)発明の構成
そして、この目的達成のため、本発明による方法は撮像
して得られた入力画像パターンの各画素毎にその周りに
存在するパターン箇所の数に応した点数を付与して点数
付パターンを発生し、該点数付パターンを上記入力画像
パターンの認識に用いるようになし、本発明の第1の装
置は撮像装置と、該撮像装置に接続された二値化回路と
、該二値化回路に接続されたフレームメモリと、該フレ
ームメモリに接続され画像パターンの最大線幅をめる最
大線幅測定回路と、上記フレームメモリ及び最大線幅測
定回路に接続され、上記最大線幅で決まる窓の中心を点
数化せんとする画素に位置決めして窓外周でのパターン
箇所数を計数し、その計数した点数を上記画素の点数と
した点数付パターンを発生する点数付パターン発生回路
と、該点数付パターン発生回路に接続された点数付パタ
ーンメモリと、辞書メモリと、上記点数付パターンメモ
リ及び辞書メモリに接続された認識論理装置とを備えて
構成し、本発明の第2の装置は撮像装置と、該撮像装置
に接続された二値化回路と、該二値化回路に接続された
フレームメモリと、該フレームメモリに接続され画像パ
ターンの最大線幅をめる最大線幅測定回路と、上記フレ
ームメモリ及び最大線幅測定回路に接続され、上記最大
線幅で決まる窓の中心を点数化せんとする画素に位置決
めして窓外周でのパターン箇所数を計数しその計数した
点数を上記画素の点数とした点数付パターンを発生する
点数付パターン発生回路と、該点数付パターン発生回路
に接続された点数付パターンメモリと、該点数付パター
ンメモリに接続され特徴領域の重心をめる重心決定回路
と、辞書メモリと、上記重心決定回路及び辞書メモリに
接続された認識論理装置とを備えて構成したものである
。(B) Structure of the Invention In order to achieve this objective, the method according to the present invention assigns a score corresponding to the number of pattern parts existing around each pixel of an input image pattern obtained by imaging. A first device of the present invention generates a scored pattern and uses the scored pattern to recognize the input image pattern, and a first device of the present invention includes an imaging device, a binarization circuit connected to the imaging device, and a binarization circuit connected to the imaging device. a frame memory connected to the binarization circuit; a maximum line width measuring circuit connected to the frame memory and measuring the maximum line width of the image pattern; and a maximum line width measuring circuit connected to the frame memory and the maximum line width measuring circuit, A scored pattern generation circuit that positions the center of the window determined by the width at the pixel to be scored, counts the number of pattern locations on the outer periphery of the window, and generates a scored pattern with the counted number of points as the score of the pixel. and a scored pattern memory connected to the scored pattern generation circuit, a dictionary memory, and a recognition logic device connected to the scored pattern memory and the dictionary memory, The device includes an imaging device, a binarization circuit connected to the imaging device, a frame memory connected to the binarization circuit, and a maximum line width connected to the frame memory that calculates the maximum line width of the image pattern. The measurement circuit is connected to the frame memory and the maximum line width measurement circuit, and the center of the window determined by the maximum line width is positioned at the pixel to be converted into points, and the number of pattern locations on the outer periphery of the window is counted. A scored pattern generation circuit that generates a scored pattern with the score as the number of the pixel, a scored pattern memory connected to the scored pattern generation circuit, and a scored pattern memory connected to the scored pattern memory that generates the center of gravity of the feature region. The center of gravity determining circuit includes a center of gravity determining circuit for determining the center of gravity, a dictionary memory, and a recognition logic device connected to the center of gravity determining circuit and the dictionary memory.
(→発明の実施例
以下、添付図面を参照しながら本発明の詳細な説明する
。(→Examples of the Invention The present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings.
第2図は本発販の1つの実施例を示す。この実施例のパ
ターン認識装置は撮像装置1、二値化回路2、フレーム
メモリ3、最大線幅測定回路4、窓外周文字箇所計数回
路5、点数付パターンメモリ6、辞書メモリ7、そして
、認識論埋装W8から成る。゛
次に、この構成になる本発明装置の動作を説明する。FIG. 2 shows one embodiment of this sale. The pattern recognition device of this embodiment includes an imaging device 1, a binarization circuit 2, a frame memory 3, a maximum line width measurement circuit 4, a window outer periphery character portion counting circuit 5, a pattern memory with points 6, a dictionary memory 7, and an epistemology. Consists of embedded W8. Next, the operation of the apparatus of the present invention having this configuration will be explained.
撮像装置1で撮像されたビデオ信号は二値化回路2で二
値化され、その二値化画像データ(入力画像バクーン)
はフレームメモリ3に格納される。The video signal captured by the imaging device 1 is binarized by the binarization circuit 2, and the binarized image data (input image Bakun) is
is stored in the frame memory 3.
そして、メモリ3の画像データを最大線幅測定回路4で
用いて最大線幅をめる(第3図のステンブSl)。これ
を第4図を参照して説明する。先ず、2×2の窓で画像
データ上を走査してゆき、その窓が文字部に完全に含ま
れてしまう点が検出されたならばその窓による走査を終
了し、窓を3×3にして同様の走査を行なう。このよう
にして、窓の大きさを1ビツト(画素)ずつ大きくして
ゆき、その窓が文字部に完全に含まれる場所がなくなっ
た時の窓の大きさが(n+1)X (n+1)であった
とすると、その文字部の最大文字幅をnと定義する。こ
れを第4図について云えば、3×3の窓は完全に文字部
に含まれるが、4×4の窓は文字部に完全に含まれるこ
とはないので、この文字部での最大線幅(最大文字幅)
は3であるということになる。Then, the maximum line width is determined by using the image data in the memory 3 in the maximum line width measuring circuit 4 (Stenbu Sl in FIG. 3). This will be explained with reference to FIG. First, a 2 x 2 window is scanned over the image data, and when a point is detected where the window is completely included in the text area, scanning with that window is finished and the window is changed to 3 x 3. and perform a similar scan. In this way, the size of the window is increased by 1 bit (pixel), and when there is no place where the window can be completely included in the character area, the size of the window is (n + 1) x (n + 1). If there is, the maximum character width of that character part is defined as n. Regarding Figure 4, the 3 x 3 window is completely included in the text area, but the 4 x 4 window is not completely included in the text area, so the maximum line width in this text area is (maximum character width)
is 3.
こうしてめられた最大文字幅を窓外周文字箇所計数回路
5で次のようにして用いてすべての文字ビットに点数を
付け、その結果を点数付パターンメモリ6へ出力する。The maximum character width determined in this way is used in the window outer periphery character place counting circuit 5 to score all character bits in the following manner, and the result is output to the scored pattern memory 6.
先ず、文字ビ・7トの点数化のために(最大文字幅)X
2+1の大きさの窓の中心を点数化せんとする文字ビッ
トに位置決めし、その窓内で該文字ビットと連続してい
ない文字ピントを消去する(第3図のステップS2、第
5図参照)。然る後に、窓の外周部の文字領域(パター
ン箇所)の数を計数する。その計数の仕方としては、第
6図に示すように、位置付けられた窓の外周上を右まわ
りに走査してゆき、背景部から文字部に移る時にカウン
タに1を加えるか、又は文字部から背景部に移る時にカ
ウンタに1を加えるようにするか、或いはこれら両者を
カウントし、その−巡後に2で割るようにしてもよい。First, in order to score the character bits and 7 bits (maximum character width)
Position the center of the 2+1 window at the character bit to be scored, and erase the character focus that is not continuous with the character bit within the window (see step S2 in Figure 3 and Figure 5). . After that, the number of character areas (pattern locations) on the outer periphery of the window is counted. As shown in Figure 6, the counting method is to scan the outer circumference of the positioned window clockwise and add 1 to the counter when moving from the background area to the character area, or to add 1 to the counter when moving from the background area to the character area. When moving to the background part, 1 may be added to the counter, or both of these may be counted and divided by 2 after the second cycle.
かくして得られた計数値を点数化せんとする文字ビット
(注目している文字ピント)の点数とする(第3図のス
テップS3)。The count thus obtained is used as the score of the character bit (character focus of interest) to be scored (step S3 in FIG. 3).
このようにして点数を付けると、第7図に示すように端
点には1、線上の点には2、三分岐点には3、・・・と
いうように、各文字ビットに点数が付けられて各領域を
定めることができ、特徴領域を抽出することができる。When points are assigned in this way, each character bit is assigned a score of 1 for an end point, 2 for a point on the line, 3 for a three-way junction, etc., as shown in Figure 7. It is possible to define each region using the following methods, and extract characteristic regions.
このような点数化処理を行なうと、四分岐点以上の枝を
もつn分岐点では、第8図に示すように、そのn点の領
域の周囲には(n−1>点の領域が必ず現われる。この
(n−1)点の領域はn点の領域の一部で、あるとみな
してn点に置き変える(第8図、第3図のステップS4
)。When such a scoring process is performed, for an n-junction point that has four or more branches, there is always an area of (n-1> points) around the n-point area, as shown in Figure 8. This (n-1) point area is considered to be a part of the n point area and is replaced with the n point (Fig. 8, step S4 in Fig. 3).
).
上述したようにして特徴領域の抽出が終了したなら(第
3図のステップS5)、その結果である点数付パターン
を点数付パターンメモリ6に出力する。その点数付パタ
ーンの例を第9図に示す。When the feature region extraction is completed as described above (step S5 in FIG. 3), the resulting scored pattern is output to the scored pattern memory 6. An example of the scoring pattern is shown in FIG.
この点数付パターンは辞書メモリ7の辞書点数付パター
ンと共に認識論理装置8に供給されてそのパターン認識
に供される。This scored pattern is supplied to the recognition logic device 8 together with the dictionary scored pattern in the dictionary memory 7 for pattern recognition.
第10図は本発明の他の実施例を示し、この実施例は点
数付パターンメモリ6までの構成を第2図の実施例と同
じくするが、点数付パターンメモリ6と認識論理装置8
゛との間に重心決定回路9を設け、該回路9の出力はそ
こから得られるパターンのための辞書パターンを予め、
格納している辞書メモリ7″の出力と共に認識論理装置
8′に接続して構成した点で第2図実施例と相違する。FIG. 10 shows another embodiment of the present invention, in which the structure up to the pattern memory 6 with scores is the same as that of the embodiment shown in FIG.
A center of gravity determining circuit 9 is provided between the circuit 9 and the output of the circuit 9.
This differs from the embodiment shown in FIG. 2 in that the output of the stored dictionary memory 7'' is connected to a recognition logic device 8'.
この重心決定回路9を設けることにより、各特徴領域の
重心をめ得ることとなり、特徴領域を点とした特徴点を
抽出することができる。By providing this center of gravity determination circuit 9, the center of gravity of each feature region can be determined, and feature points can be extracted with the feature regions as points.
なお、上記実施例においては、窓を正方形とする例につ
いて説明したが、上記の説明から明らかなようにこれに
限定されるものではない。In the above embodiment, an example in which the window is square has been described, but as is clear from the above description, the window is not limited to this.
(ト)発明の効果
以上述べたように、本発明によれば、パターン認識に供
される入力画像パターンに対し上述のような点数化処理
を施しているから、従来のような骨格化処理では回避す
ることが困難であった不具合を排除することができ、パ
ターンの安定した認識を行なうことができる。(G) Effects of the Invention As described above, according to the present invention, the above-mentioned scoring process is performed on the input image pattern used for pattern recognition, so it is not possible to use the conventional skeletonization process. Problems that were difficult to avoid can be eliminated, and patterns can be recognized stably.
第1図は従来の骨格化処理では生じてしまう不具合を説
明するだめの図、第2図は本発明の1つの実施例を示す
図、第3図は第2図実施例要部のためのフローチャート
、第4図はパターンの最大線幅測定の説明に用いる図、
第5図は点数化のため注目しているピントと連続してい
ない文字ビットの消去を図解する図、第6図は点数のカ
ウント方法を説明するのに用いる図、第7図は窓に対し
て占めるパターンの態様と点数の割当てとを図解する図
、第8図は四分岐点以上の枝を有する分岐点における点
数の修正を説明する図、第9図は点数化パターンの例を
示す図、第10図は本発明の他の実施例を説明する図で
ある。
図中、1は撮像装置、2は二値化回路、3はフレームメ
モリ、4は最大線幅測定回路、5は窓外周文字箇所計数
回路、6は点数付バクーンメモリ、7は辞書メモリ、8
は認識論理装置である。
第1図
(1−1)
(1−2)
ニイ直、亘L44号辷
q訃梧イtニイ象
*+ 本ナシ
第3図
第4図
第5図
klkしこいない文奪41孤。
第6図
第7図
11M燕 1.ぐ、 系tL1の浜、2点第8図
第10図
第
9図
窓サイズ′ 5Fig. 1 is a diagram for explaining problems that occur in conventional skeletonization processing, Fig. 2 is a diagram showing one embodiment of the present invention, and Fig. 3 is a diagram showing the main part of the embodiment shown in Fig. 2. Flowchart, Figure 4 is a diagram used to explain the maximum line width measurement of a pattern,
Figure 5 is a diagram illustrating the erasure of character bits that are not contiguous with the focused point for scoring, Figure 6 is a diagram used to explain the method of counting points, and Figure 7 is for windows FIG. 8 is a diagram illustrating the manner of the pattern occupied by a branch point and the allocation of points, FIG. , FIG. 10 is a diagram illustrating another embodiment of the present invention. In the figure, 1 is an imaging device, 2 is a binarization circuit, 3 is a frame memory, 4 is a maximum line width measurement circuit, 5 is a window outer circumference character position counting circuit, 6 is a Bakun memory with points, 7 is a dictionary memory, 8
is an epistemic logic device. Figure 1 (1-1) (1-2) Nii Nao, Wataru L44 No. 辷訃梧It Nii Elephant *+ This book is missing Figure 3 Figure 4 Figure 5 Figure 6 Figure 7 11M Swallow 1. Gu, Beach of system tL1, 2 points Figure 8 Figure 10 Figure 9 Window size' 5
Claims (1)
にその周りに存在するバクーン箇所の数に応じた点数を
付与して点数付パターンを発生し、該点数付パターンを
上記入力画像パターンの認識に用いるようにしたパター
ン認識方法。 (2) 撮像装置と、該撮像装置に接続された二値化回
路と、該二値化回路に接続されたフレームメモリと、該
フレームメモリに接続され画像パターンの最大線幅を測
定する最大線幅測定回路と、上記フレームメモリ及び最
大線幅測定回路に接続され、上記最大線幅で決まる窓の
中心を点数化せんとする画素に位置決めして窓外周での
パターン箇所数を計数し、その計数された点数を上記画
素の点数とした点数付パターンを発生する点数付パター
ン発生回路と、該点数付パターン発生回路に接続された
点数付パターンメモリと、辞書メモリと、上記点数付パ
ターンメモリ及び辞書メモリに接続された認識論理装置
とを備えて構成したことを特徴とするパターン認識装置
。 (3) 撮像装置と、該撮像装置に接続された二値化回
路と、該二値化回路に接続されたフレームメモリと、該
フレームメモリに接続され画像パターンの最大線幅を測
定する最大線幅測定回路と、上記フレームメモリ及び最
大線幅測定回路に接続され、上記最大線幅で決まる窓の
中心を点数化せんとする画素に位置決めして窓外周での
パターン箇所数を計数し、その計数した点数を上記画素
の点数とした点数付パターンを発生する点数付パターン
発生回路と、該点数付パターン発生回路に接続された点
数付パターンメモリと、該点数付パターンメモリに接続
され特徴領域の重心をめる重心決定回路と、辞書メモリ
と、上記重心決定回路及び辞書メモリに接続された認識
論理装置とを備えて構成したことを特徴とするパターン
認識装置。[Claims] +1) A scored pattern is generated by assigning points to each pixel of an input image pattern obtained by imaging in accordance with the number of Bakun points existing around it, and the scored pattern is A pattern recognition method in which the above is used to recognize the input image pattern. (2) An imaging device, a binarization circuit connected to the imaging device, a frame memory connected to the binarization circuit, and a maximum line connected to the frame memory for measuring the maximum line width of the image pattern. The width measuring circuit is connected to the frame memory and the maximum line width measuring circuit, and the center of the window determined by the maximum line width is positioned at the pixel to be scored, and the number of pattern locations on the outer periphery of the window is counted. a scored pattern generation circuit that generates a scored pattern with the counted number of points as the score of the pixel, a scored pattern memory connected to the scored pattern generation circuit, a dictionary memory, the scored pattern memory, and 1. A pattern recognition device comprising: a recognition logic device connected to a dictionary memory. (3) An imaging device, a binarization circuit connected to the imaging device, a frame memory connected to the binarization circuit, and a maximum line connected to the frame memory for measuring the maximum line width of the image pattern. The width measuring circuit is connected to the frame memory and the maximum line width measuring circuit, and the center of the window determined by the maximum line width is positioned at the pixel to be converted into points, and the number of pattern locations on the outer periphery of the window is counted. A scored pattern generation circuit that generates a scored pattern with the counted number of points as the score of the pixel, a scored pattern memory connected to the scored pattern generation circuit, and a scored pattern memory connected to the scored pattern memory that A pattern recognition device comprising: a center of gravity determining circuit for determining the center of gravity; a dictionary memory; and a recognition logic device connected to the center of gravity determining circuit and the dictionary memory.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59020329A JPS60258688A (en) | 1984-02-06 | 1984-02-06 | Pattern recognizing method and device using the method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59020329A JPS60258688A (en) | 1984-02-06 | 1984-02-06 | Pattern recognizing method and device using the method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60258688A true JPS60258688A (en) | 1985-12-20 |
Family
ID=12024094
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59020329A Pending JPS60258688A (en) | 1984-02-06 | 1984-02-06 | Pattern recognizing method and device using the method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60258688A (en) |
-
1984
- 1984-02-06 JP JP59020329A patent/JPS60258688A/en active Pending
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