JPS60237374A - Wire harness tester - Google Patents
Wire harness testerInfo
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- JPS60237374A JPS60237374A JP59094230A JP9423084A JPS60237374A JP S60237374 A JPS60237374 A JP S60237374A JP 59094230 A JP59094230 A JP 59094230A JP 9423084 A JP9423084 A JP 9423084A JP S60237374 A JPS60237374 A JP S60237374A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- setting
- memory circuit
- normal connection
- connection mode
- Prior art date
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の[1的〕
(産業上の利用分野)
本発明は例えば自動車並びに電気機器等に使用されるワ
イヤハーネスの導通試験装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object 1 of the Invention] (Field of Industrial Application) The present invention relates to a continuity testing device for wire harnesses used, for example, in automobiles and electrical equipment.
(従来の技術)
各種機器間を接続する接続線[用路、例えば自動車に搭
載されたヘッドライト、テ・−ルライI・、その他の電
子装置などの機器と電源との接続、或いは機器間の接続
に当っては、第1図のように各種機器の設置位置に対応
して配線された所謂ワイヤハーイ・ス(1)を作ってお
き、これを流れ作業で送られてくる車体(2)の所定位
置に固定したのち、その入出力端をコイ・フタ(3)な
どによって接続することが行われている。ところでワイ
ヤハーネスにおいては運転の信頼性の確保のためには各
接続線(4)が誤I)なく機器との接続に供するコネク
タに対し、正規に接続されることが重要である。(Prior art) Connection lines that connect various devices [for example, connections between devices such as headlights mounted on automobiles, taillights, and other electronic devices and power sources, or between devices To make the connections, as shown in Figure 1, make a so-called wire harness (1) that is wired according to the installation location of various devices, and then connect it to the vehicle body (2) that will be sent in the assembly line. After fixing it in a predetermined position, its input and output ends are connected using a carp lid (3) or the like. In the wire harness, in order to ensure reliability of operation, it is important that each connection line (4) is properly connected to a connector for connection to a device without any errors.
しかし接続線(4)の数は例えば自動車等の高機能化に
より益々犬となる傾向にある。このため例えば第2図(
a)に示すように、コネクタのコンタクトの■l〜01
と■3〜e3が接続線(4□)(43)によって単線接
続され、02〜02間が空線であるのが正規の接続状態
であるにもか\わらず、第2図(1))に示すように0
3〜03間が空線となるような誤接続の状態を生ずるの
を、稀であっても避けることができない。However, the number of connection lines (4) tends to increase more and more as automobiles and the like become more sophisticated. For this reason, for example, Figure 2 (
As shown in a), ■l~01 of the connector contact
Although it is a normal connection state that 3 to e3 are connected as a single line by the connection line (4□) (43), and the line between 02 and 02 is an empty line, as shown in Figure 2 (1) ) as shown in 0
Even if it is rare, it is impossible to avoid the occurrence of an erroneous connection such as a blank line between 3 and 03.
そこで一般には接続の誤りを自動的かつ迅速確実に発見
して手直しができるようにするため、第3図に示すよう
な導通試験装置所謂ワイヤハーネスチェッカが用いられ
ている。この装置は、■ コネクタ群(5)、即ち試験
台(6)上に置かれ、かつ試験台(6)に設けたコネク
タ(3)に接続されたワイヤハーネス0)の入力端が■
コンタクト、出力端が○コンタクトに試験用中継線(6
)を用いて接続されるコネクタ(5□)(52)・・・
・(5n)からなるコネクタ群(5)、
■ 処理回路であるマイクロコンピュータ(7) (リ
、下マイコンと称す)、例えばコイ・フタのコンタクト
番号に対応したアドレス指定用キーボード(8)の、例
えば〔1〕を押したのち単線接続キー(9)を押すこと
によ【)、アドレスを指定して接続状態を1”、キーボ
ード(8)の例えば〔2〕を押したのち空線キーaαを
押すことによ1j、アドレスを指定して、前記第2図(
a)に示す正規の接続状態が設定される書込み読出し用
のメモリ回路Qll(RAM)と、後記するチェック用
切換回路群Q5)の切換指令送出、メモリ0Dの設定内
容とチェック用切換回路群0Sの出力との照合動作のた
めのプログラムステップアノブを行わせる動作管理用プ
ログラムが設定される読出し専用のメモリ回路0とを備
える。そして起動キー0着により動作を開始し、照合に
より異常が発生したとき動作を一旦停止し、復帰キー(
141が押されたとき、最初から再び動作を開始するマ
イコン(7)、■ チェック用切換回路群α9、例えば
第4図に示すように、コネクタ群(5)の■側コンタク
トを電ht、 Eの負極性に接続・するスイッチングト
ランジスタTr□と、e側コンタクトをスイッチングト
ランジスタTr2を介して電源Eの正極性側に接続する
と同時に、○側コンタクトに現われる電位を’1” ”
O“°の信号として検出するレベル検出器りとからそれ
ぞれなるチェック用切換回路(15□)(152)・・
・・(15n)を備える。そして上記スイッチングトラ
ンジスタTr□T、が、マイコン(7)からの切換信号
により■1−el、■2〜02コンタクトの順序で順次
オンされて、各接続線に電流を流すようにし、これによ
り第2図(b)のように■1〜○lコンタクト間が単線
接続のときレベル検出器りから°“1“、■2〜e2、
■3〜03のように空線のときには“O“の信号を送出
するチェック相切換filH一群住9、■ 表示回路α
e、例えばマイコン(7)からの指令によ番)、チェッ
ク用切換回路群αωの切換えと同期して歩進し、順次■
および○コンタクトの番号を表示し、例えば第2図fa
lのように03〜03間が単線接続状態であるのが正規
の接続状態にあるにもか5わらず、第2図(b)のよう
に空線であってチェック用切換回路(153)の出力が
○“のとき、照合動作により停止するマイコン(′7)
からの指令の送出停止により歩進を停止して、異常が発
生したコンタクト番号を表示すると同時に異常音を発生
する表示回路06)、
などから形成され、以上要するに第5図に示すフロー図
の如き一連の判定動作を行ってワイヤノ・−ネヌの導通
チェックを行うものである。Therefore, in order to automatically, quickly, and reliably discover connection errors and make repairs, a continuity testing device, so-called wire harness checker, as shown in FIG. 3 is generally used. This device consists of: ■ Connector group (5), that is, the input end of the wire harness 0) placed on the test stand (6) and connected to the connector (3) provided on the test stand (6);
Connect the test relay wire (6
) Connector (5□) (52)...
・A connector group (5) consisting of (5n), ■ A microcomputer (7) (referred to as the lower microcomputer) which is a processing circuit, for example, an address designation keyboard (8) corresponding to the contact number of the carp lid, For example, by pressing [1] and then pressing the single line connection key (9), specify the address and set the connection status to 1'', for example, by pressing [2] on the keyboard (8) and then pressing the blank line key aα 1j by pressing , specify the address, and select the address shown in Fig. 2 (
Sending switching commands for the write/read memory circuit Qll (RAM) in which the normal connection state shown in a) is set, and the checking switching circuit group Q5) to be described later, the setting contents of the memory 0D and the checking switching circuit group 0S The memory circuit 0 is provided with a read-only memory circuit 0 in which an operation management program for performing a program step-a-nob operation for checking the output of the controller is set. The operation starts when the start key is pressed to 0, and when an error occurs through verification, the operation is temporarily stopped and the return key is pressed.
When 141 is pressed, the microcomputer (7) starts operation again from the beginning, and the ■ check switching circuit group α9, for example, as shown in Fig. 4, connects the ■ side contacts of the connector group (5) to the electric ht, E At the same time, the switching transistor Tr□ connected to the negative polarity of the switching transistor Tr□ and the e side contact are connected to the positive polarity side of the power supply E via the switching transistor Tr2, and at the same time, the potential appearing at the ○ side contact is set to '1''.
Check switching circuits (15□) (152) each consisting of a level detector that detects a signal of O"°.
...(15n) is provided. Then, the switching transistors Tr□T are sequentially turned on in the order of ■1-el and ■2-02 contacts by a switching signal from the microcomputer (7), so that current flows through each connection line. As shown in Fig. 2 (b), when the ■1 to ○l contacts are connected by a single wire, the level detector indicates °“1”, ■2 to e2,
■ Check phase switching filH group housing 9, which sends an "O" signal when the line is empty like 3 to 03, ■ Display circuit α
e, for example, according to a command from the microcomputer (7)), steps in synchronization with the switching of the checking switching circuit group αω, and sequentially
and ○Display the contact number, for example in Figure 2 fa
Although the single wire connection state between 03 and 03 as shown in Figure 1 is a normal connection state, it is a blank wire as shown in Figure 2 (b) and the check switching circuit (153) When the output is ○, the microcomputer stops due to verification operation ('7)
A display circuit 06) that stops advancing in response to stopping the transmission of commands, displays the contact number in which the abnormality has occurred, and generates an abnormal sound at the same time; A series of determination operations are performed to check continuity between wires and wires.
(従来技術の問題点)
しかし以上のようにチェック用切換回路+151の出力
と、正規接続モード設定用メモリ回路Uυの設定内容と
を、プログラム(ソフト)により照合解析して合否を判
定するものでは、動作管理プログラム設定用メモリ回路
a2によるプログラムステップに要する時間を各コンタ
クト毎に必要とする。従って特にワイヤハーネス(1)
の接続線が多い場合には、処理に要する時間が長くなっ
て作業効率な低丁する。(Problems with the prior art) However, as described above, the output of the check switching circuit +151 and the settings of the memory circuit Uυ for setting the normal connection mode are collated and analyzed by a program (software) to determine pass/fail. , the time required for the program step by the operation management program setting memory circuit a2 is required for each contact. Therefore, especially the wire harness (1)
If there are many connection lines, the time required for processing will increase, reducing work efficiency.
(問題点を解決するための構成および作用)本発明の特
徴とするところは、前記第3図に示した導通試験装置に
、第6図の実施装置例図に示す外部回路を設けて、合否
の照合動作をハード的に行うようにし、チェ7・り用切
換回路群の切換え時間のみでプログラムステツプのため
の時間の必要をなくしたものである。即ち正規接続モー
ド設定用メモリ回路0υの設定内容を接続線毎に比較し
易いように解析して、起動キーの操作によ()転送設定
される正規接続モード転送設定用メモリ回路(2+1と
、起動キーによりスタートし所要の歩進速度で歩進して
、チェック用切換回路群o9の切換信号を送出すると共
に、これと同期して正規接続モード転送設定メモリ回路
(211のメモリ内容の読出し信号および表示回路Ql
19の歩進信号を送出するカウンタ回路(イ)、および
正規接続モード転送設定用メモリ回路の読出し出力と、
チェック用切換え回路群の出力とを比較照合する比較回
路(2zからなる外部回路(B)を導通試験装置区)に
設けて、これを正規接続モードの転送内容の設定のみに
使用して、従来のソフト処理に代えてハード処理にょ番
j照合するようにし、チェック時間の低減を図ったもの
である。次に詳細に説明する。(Structure and operation for solving problems) The present invention is characterized by providing the continuity test device shown in FIG. 3 with an external circuit shown in the example of the device in FIG. The checking operation is performed by hardware, and the time required for the program step is eliminated by only the switching time of the switching circuit group for checking. That is, the settings of the normal connection mode setting memory circuit 0υ are analyzed so that they can be easily compared for each connection line, and the normal connection mode transfer setting memory circuit (2+1 and It starts with the start key, advances at the required step speed, and sends out a switching signal for the checking switching circuit group o9, and in synchronization with this, a readout signal for the memory contents of the normal connection mode transfer setting memory circuit (211) is sent out. and display circuit Ql
A counter circuit (a) that sends out a step signal of No. 19, and a readout output of a memory circuit for setting normal connection mode transfer;
A comparison circuit (external circuit (B) consisting of 2z is installed in the continuity test equipment section) that compares and verifies the output of the switching circuit group for checking, and this is used only to set the transfer contents in the normal connection mode, compared to the conventional Instead of software processing, hardware processing is used to check the numbers, thereby reducing the check time. This will be explained in detail next.
第6図において(/Jは導通試験装置を示し、第3図(
コよって前記したようにワイヤバー 4 ス(1) ノ
接続用コイ・フタ群(5)、マイクロコンピュータ(7
)、チェック用切換回路05)、表示回路Q5jなどか
らなる。In Figure 6, (/J indicates a continuity test device, and in Figure 3 (
Therefore, as mentioned above, the wire bars (1), the connection coil/lid group (5), the microcomputer (7),
), a check switching circuit 05), a display circuit Q5j, etc.
(Blは本発明装置の要部回路であって、このうちα力
はゲート回路、oQは起動信号入力端子、o9はクロッ
ク信号入力端子、(イ)はプリセット可能な2進カウン
タ回路、eυは正規接続モード転送設定メモリ回路、@
は比較回路であって、以」二の回路は以下のように動作
する。(Bl is the main circuit of the device of the present invention, of which α is a gate circuit, oQ is a start signal input terminal, o9 is a clock signal input terminal, (A) is a presettable binary counter circuit, and eυ is a Normal connection mode transfer setting memory circuit, @
is a comparison circuit, and the following two circuits operate as follows.
アドレス指定用キーボード(8)などを用いて設定され
た正規接続モード設定用メモリ回路0υに、正規接続モ
ード転送設定用メモリ回路c!1)を接続し、アドレス
指定信号、読出しおよび書込み信号を与えて、メモリ回
路01)の内容をマイコン(7)により接続線1本毎に
比較し易い形に変換して、メモリ回路eυに転送設定す
る。そしてスイッチS1によりメモリ回路01)から切
離すと同時に、チェック用切換回路群(1つの各切換回
路と表示回路0θの歩進回路をカウンタ回路(2ITl
に接続する。またカウンタ回路■に正規接続モード転送
設定用メモリ回路CH1+のメモリ領域から、必要とさ
れる最初のアドレス指定番号と、必要とされる最終のア
ドレス指定番号を設定して準備を完了する。しかるのち
起動信号入力端子0εに、起動キーによりスタート信号
P。を加えて、ゲート回路αηを開かせる。するとこ5
に加えられているクロック信号P1は、カウンタ回路■
に加えられてこれを1クロック信号毎に1歩1進させる
。すると歩進毎に正規接続モード転送設定用メモリ回路
01)の読出しアドレスは、1アドレス宛進められてそ
の内容が読出され、またこれと同時にカウンタ回路(2
)の切換信号により、チェック用切換回路群(151は
切換えられる。そしてその都度メモリ回路QIlの出力
とチェック用切換回路群051からの入力とが比較回路
曽に加えられて照合が行われ、異常がなければ終了信号
P、を送出してチェックの完了を知らせると同時に、表
示回路06)は最終のコンタクト番号を表示する。また
異常が発生すると、比較回路C2は異常信号P、をゲー
ト回路αηに加えてそのゲートを閉じさせ、クロック信
号の送出を停止させる。このためカウンタ回路f20)
は歩進を停止して、チェック用切換回路の切換えと表示
回路Q61の・参道の停止を行い、表示回路α6)は異
常を発生したコンタクト番号を表示する。The normal connection mode transfer setting memory circuit c! 1), give an address designation signal, read and write signals, convert the contents of the memory circuit 01) into a form that is easy to compare for each connection line by the microcomputer (7), and transfer it to the memory circuit eυ. Set. At the same time, the switching circuit group for checking (one switching circuit and the stepwise circuit of the display circuit 0θ) is disconnected from the memory circuit 01 by the switch S1.
Connect to. Further, the required initial address designation number and the required final address designation number are set in the counter circuit (2) from the memory area of the normal connection mode transfer setting memory circuit CH1+ to complete the preparation. After that, a start signal P is input to the start signal input terminal 0ε by the start key. is added to open the gate circuit αη. Then 5
The clock signal P1 applied to the counter circuit ■
is added to and increments it by one step for each clock signal. Then, at each step, the read address of the normal connection mode transfer setting memory circuit 01) is advanced by one address and its contents are read out, and at the same time, the counter circuit (2
), the checking switching circuit group (151) is switched. Each time, the output of the memory circuit QIl and the input from the checking switching circuit group 051 are applied to the comparator circuit 051 for comparison. If there is no check, a completion signal P is sent to notify completion of the check, and at the same time, the display circuit 06) displays the final contact number. When an abnormality occurs, the comparator circuit C2 applies an abnormality signal P to the gate circuit αη to close the gate and stop sending out the clock signal. Therefore, the counter circuit f20)
stops advancing, switches the check switching circuit and stops the display circuit Q61, and the display circuit α6) displays the contact number where the abnormality has occurred.
(発明の効果)
以上のように本発明ではプログラムステップに要する時
間を必要とする、マイコンによる照合によることなく、
導通試験装置に付属させて設けた新たな外部回路により
、ハード的に照合を行わせるようにしている。従って従
来のようにプログラムステップに必要とする時間を必要
とすることがなく、処理時間はクロック信号によるカウ
ンタ回路の歩進速度によってのみ決定され、しかも原理
的にはカウンタ回路のil’進速変速度くすればする程
、処理時間を短かくできる。また照合動作が行われてい
る間はマイコンが遊んでいるので、その間において次に
試験する接続状態の異なるワイヤハーネスの試験のため
の、正規接続モード設定用メモリ回路への正規接続モー
ドの設定と、その正規接続モード転送設定用メモリ回路
への設定を行うことができる。従ってこれによっても処
理時間を少なくして導通チェックを迅速とし、作業能率
を向上できる。(Effects of the Invention) As described above, the present invention does not require verification by a microcomputer, which requires time for program steps.
A new external circuit attached to the continuity test equipment is used to perform hardware verification. Therefore, there is no need for the time required for program steps as in the past, and the processing time is determined only by the step speed of the counter circuit based on the clock signal. The faster the speed, the shorter the processing time. In addition, since the microcontroller is idle while the verification operation is being performed, during this time it is necessary to set the normal connection mode to the memory circuit for setting the normal connection mode in order to test the next wire harness with a different connection state. , the normal connection mode transfer setting memory circuit can be set. Therefore, this also reduces the processing time, speeds up the continuity check, and improves work efficiency.
第1図はワイヤハーイ・スの説明図、第2図(al(b
lはワイヤハーネスの正規接続状態および不正規接続状
態の一例図、第3図は従来の導通試験装置の回路図、第
4図はチェック用切換回路図、第5図は処理フロー図、
第6図は本発明の一実施装置例図である。
(11・・・・ワイヤハーネス、 (2)・・■自動車
・(3)・・・・コネクタ、 (4)・・・・接続線、
(6)・・・・ワイヤハーネス試験台、(A+・・・・
導通試験装置、 (5)・・・・コネクタ群、(51)
(52)〜(5n)・・・リネクタ、(7)・・・・マ
イクロコンピュータ、(8)・・・・アドレス指定用キ
ーボード、(9)・・・・単線接続キー、 αO)・・
・・空線接続キー、01)・・・・正規接続モード設定
用メモリ、θ2・・・・動作管理プログラム設定用メモ
リ回路、θ3・・・・起動キー、 04)・・・・復帰
キー、09・・・・チェック用切換回路群、
(15□)(152)〜(15n)・・・・チェック用
切換回路、06)・・・・表示回路、 (B)・・・・
外部回路、On・・・・ゲート回路、 Q81・・・・
起動信号入力端子、Qり・・・・比較回路。
代理人弁理士 犬 塚 箪
′I#J5図
第6図Figure 1 is an explanatory diagram of the wire hardware, Figure 2 (al(b)
1 is a diagram showing an example of a normal connection state and an irregular connection state of a wire harness, FIG. 3 is a circuit diagram of a conventional continuity test device, FIG. 4 is a check switching circuit diagram, and FIG. 5 is a processing flow diagram.
FIG. 6 is a diagram showing an example of an apparatus for implementing the present invention. (11...Wire harness, (2)...■Automobile, (3)...Connector, (4)...Connection wire,
(6)...Wire harness test stand, (A+...
Continuity test device, (5)... Connector group, (51)
(52) - (5n)... Line connector, (7)... Microcomputer, (8)... Keyboard for address specification, (9)... Single wire connection key, αO)...
...Empty wire connection key, 01)...Memory for setting regular connection mode, θ2...Memory circuit for setting operation management program, θ3...Start key, 04)...Return key, 09...Check switching circuit group, (15□)(152)-(15n)...Check switching circuit, 06)...Display circuit, (B)...
External circuit, On...Gate circuit, Q81...
Start signal input terminal, Q-reference circuit. Representative Patent Attorney Kano Inuzuka'I#J5Figure 6
Claims (1)
ード設定用メモリ回路を備えた処理回路とその動作管理
プログラムにより、切換えられて被試験接続線回路に順
次電流を流し、その接続状態の有無を示す信号を送出す
るチェック用切換回路群と、その出力を」二重動作管理
プログラム設定用メモリ回路の指令により、正規接続モ
ード設定用メモリ回路の正規の接続状態と順次照合して
、被試験接続線回路の異常を発見する導通試験装置にお
いて、前記重焼接続モード設定用メモリ回路の設定出力
を接続線毎にその接続を分析して転送記憶する正規接続
モード:′転送設定用メモリ回路と、起動スイッチによ
り送出されるクロック信号によ1)歩進して、上記正規
接続モード転送設定用メモリ回路の読出しを前記チェッ
ク用切換回路群の切換と同期して行う信号を送出するカ
ウンタ回路と、上記正規接続モード転送設定用メモリ回
路の読出し出力とチェック用切換回路の出力とを比較模
合する比較回路とからなる、外部回路を設けで処理時間
の短縮を図ったことを特徴とするワイヤハーイ・ス試験
装置。A processing circuit equipped with a memory circuit for setting an operation management program and a memory circuit for setting a normal connection mode, and its operation management program, are switched to sequentially apply current to the connection line circuit under test and output a signal indicating the presence or absence of the connection state. The checking switching circuit group to send out and its output are sequentially compared with the normal connection state of the memory circuit for setting the normal connection mode according to the commands of the memory circuit for setting the dual operation management program, and the connection line circuit under test is checked. In a continuity testing device for detecting abnormalities, a normal connection mode in which the setting output of the memory circuit for setting the heavy-fire connection mode is analyzed for each connection line and transferred and stored: 'The memory circuit for transfer setting and the start switch 1) a counter circuit that sends out a signal that is incremented by the sent clock signal and reads out the memory circuit for setting the normal connection mode transfer in synchronization with the switching of the checking switching circuit group, and the normal connection; A wire high speed test device characterized in that it is equipped with an external circuit consisting of a comparison circuit that compares and matches the readout output of the mode transfer setting memory circuit and the output of the check switching circuit, thereby reducing processing time. .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59094230A JPS60237374A (en) | 1984-05-11 | 1984-05-11 | Wire harness tester |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59094230A JPS60237374A (en) | 1984-05-11 | 1984-05-11 | Wire harness tester |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60237374A true JPS60237374A (en) | 1985-11-26 |
JPH0349392B2 JPH0349392B2 (en) | 1991-07-29 |
Family
ID=14104504
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59094230A Granted JPS60237374A (en) | 1984-05-11 | 1984-05-11 | Wire harness tester |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60237374A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007212249A (en) * | 2006-02-08 | 2007-08-23 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Conduction inspection method of wire harness |
CN107765130A (en) * | 2017-09-05 | 2018-03-06 | 上海地铁电子科技有限公司 | Embedded train Beam Detector based on FPGA |
-
1984
- 1984-05-11 JP JP59094230A patent/JPS60237374A/en active Granted
Cited By (3)
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JP2007212249A (en) * | 2006-02-08 | 2007-08-23 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Conduction inspection method of wire harness |
CN107765130A (en) * | 2017-09-05 | 2018-03-06 | 上海地铁电子科技有限公司 | Embedded train Beam Detector based on FPGA |
CN107765130B (en) * | 2017-09-05 | 2019-11-08 | 上海地铁电子科技有限公司 | Embedded train Beam Detector based on FPGA |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0349392B2 (en) | 1991-07-29 |
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