JPS60217687A - Light-emitting electronic device - Google Patents

Light-emitting electronic device

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JPS60217687A
JPS60217687A JP59072822A JP7282284A JPS60217687A JP S60217687 A JPS60217687 A JP S60217687A JP 59072822 A JP59072822 A JP 59072822A JP 7282284 A JP7282284 A JP 7282284A JP S60217687 A JPS60217687 A JP S60217687A
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JP
Japan
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laser chip
chip
undercoat resin
foreign matter
laser
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JP59072822A
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Japanese (ja)
Inventor
Masaaki Sawai
沢井 雅明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Abstract

PURPOSE:To prevent the generation of a defective short circuit by obviating a movement and an adhesion to a P-N junction section of a conductive foreign matter by coating a surface section except the end surface of a resonator in a laser chip fixed to a support board with an insulating undercoat resin. CONSTITUTION:With a laser chip 1, a surface section except the end surface 5 of a resonator emitting laser beams 8 is coated with an undercoat resin 15. The undercoat resin 15 is attached adjoined to the end surface 5 of the resonator as much as possible, and considered so as to coat a P-N junction section exposed to the circumferential surface of the laser chip 1 as much as possible. A resist such as a photo-resist is applied to the end surface 5 section of the resonator in the laser chip 1 first, and dried, the undercoat resin 15 is applied automatically by a dispenser, etc., and the photo-resist is washed and removed by an organic solvent. Accordingly, a conductive foreign matter 6 is not in contact with most sections of the P-N junction even when the foreign matter 6 comes flying and adheres to the laser chip 1 after the laser chip is coated with the undercoat resin 15 from the outside.

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は発光電子装置、たとえば、端面の共振器端面か
らレーザ光を発光(出射)する半導体レーザ素子(レー
ザチップ)、あるいは半導体レーザ部を有する集積化光
デバイス(OEIC)等のチップを組み込んだ発光電子
装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Technical Field] The present invention relates to a light emitting electronic device, for example, a semiconductor laser element (laser chip) that emits (emits) laser light from a resonator end facet, or an integrated device having a semiconductor laser section. The present invention relates to a light emitting electronic device incorporating a chip such as an optical device (OEIC).

〔背景技術〕[Background technology]

光通信用光源あるいはディジタルオーディオディスク、
ビデオディスク等の情報処理装置用光源となる半導体レ
ーザ素子については、たとえば、Sem1conduc
tor World 、1982年、5月号。
Light sources for optical communications or digital audio discs,
Regarding semiconductor laser elements that serve as light sources for information processing devices such as video discs, for example, Sem1conduc
tor World, May 1982.

25頁における岡等による“半導体レーザの技術革新”
と題する文献において論じられている。
“Technological innovation of semiconductor lasers” by Oka et al. on page 25
Discussed in the literature entitled.

また、製造組立技術の先行技術として、(1)1日経エ
レクトロニクス、1981年、9月14日号。
In addition, as prior art of manufacturing and assembly technology, (1) 1 Nikkei Electronics, September 14, 1981 issue.

138−72頁における伐木等による°°オーディオ・
ディスクの要求に応える半導体レーザ” 、 12+。
°° Audio by felling etc. on pages 138-72
Semiconductor laser that meets the demands of disks”, 12+.

日経メカニカル、1982年、7月5日号、68〜77
頁における先山等による“可視光半導体レーザ、量産始
まる。電流を閉じ込める多層構造に工夫”、なる文献に
紹介されているように、半導体レーザ素子(以下、単に
レーザチ・ノブとも称する。)は、サブマウントの主面
に固定されている。
Nikkei Mechanical, July 5, 1982, 68-77
Semiconductor laser devices (hereinafter also simply referred to as laser chips) are introduced in the literature entitled "Visible light semiconductor laser begins mass production. Invention of multilayer structure to confine current" by Sakiyama et al. Fixed to the main surface of the submount.

しかし、これらの技術にはレーザチップが裸の状態でサ
ブマウントに固定されでいるととνCよる整置について
は、認識されていない。
However, these techniques do not recognize that the laser chip is fixed to the submount in a bare state and the alignment by νC is not recognized.

すなわち、第1図の概略図に示されるように、レーザチ
ップ1は前述のように裸の状態でサブマウ)2にソルダ
ー3を介して固定されているが、レーザチップ1はその
局面にダブルへテロ接合部(pni合)4および共振器
端面5が露出しているため、移動性の導電性異物6がレ
ーザチップ1゜サブマウント2.ワイヤ7等に付着して
いたりすると、半導体レーザ装置の取扱時に異物が動き
、レーザチップ1のpn接合4部分および共振器端面5
に付着して、ショートを起こしたり、あるいはレーザ光
8を遮り、発光不良が生じることが本発明者によってあ
きらかとされた。特に、半導体レーザ装置がパッケージ
されない状態で出荷されるカスタム品等の場合は、その
取扱時に外部から導電性の異物6が飛来することも考え
られることから、前記pn接合4部分および共振器端面
5に付着する異物6の付着頻度が高くなることが予想さ
れることがわかった。
That is, as shown in the schematic diagram of FIG. 1, the laser chip 1 is fixed to the sub-mount (2) in a bare state via the solder 3 as described above, but the laser chip 1 is attached to the double Since the terror junction (pni joint) 4 and the resonator end face 5 are exposed, a movable conductive foreign object 6 may be attached to the laser chip 1° submount 2. If the foreign matter is attached to the wire 7 or the like, the foreign matter will move when the semiconductor laser device is handled, causing damage to the pn junction 4 portion of the laser chip 1 and the resonator end face 5.
The inventors have found that it adheres to the surface and causes a short circuit or blocks the laser beam 8, resulting in poor light emission. Particularly, in the case of a custom product, etc. in which the semiconductor laser device is shipped unpackaged, conductive foreign matter 6 may fly from the outside during handling. It was found that the frequency of foreign matter 6 adhering to the surface is expected to increase.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明の目的はショート不良が発生し難い信頼度の高い
発光電子装置を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a highly reliable light emitting electronic device in which short-circuit defects are unlikely to occur.

本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであ
ろう。
The above and other objects and novel features of the present invention include:
It will become clear from the description of this specification and the accompanying drawings.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本FIRにおいて開示される発明のうち代表的なものの
概要を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
A brief summary of typical inventions disclosed in this FIR is as follows.

すなわち、本発明の半導体レーザ装置は、支持板に固定
されたレーザチップは共振器端面を除く表面部分が絶縁
性のアンダーコートレジンで被われていることから、ア
ンダーコートレジンの塗布後には、レーザチップ等に付
着している移動性の導電性異物は固定されてpn接合部
分に移動付着しないこと、また、外部から侵入して来た
導電性の異物はアンダーコートレジンに遮られて共振器
端面部分を除<pn接合部分には接触しないことから、
ショート不良の発生が防止できることになるととも釦、
外方から異物が侵入して来てもアンダーコートレジンに
よって被われない共振器端面部分の面積は極めて小さい
ことから、異物が付着する確率は極めて少なく、異物が
レーザ光を遮蔽する遮蔽不良およびショート不良は発生
し難くなり、半導体レーザ装置の信頼度の向上が達成で
きる。
That is, in the semiconductor laser device of the present invention, the surface portion of the laser chip fixed to the support plate except for the resonator end face is covered with an insulating undercoat resin. Mobile conductive foreign matter attached to the chip etc. is fixed and does not move and adhere to the pn junction, and conductive foreign matter that enters from the outside is blocked by the undercoat resin and does not reach the resonator end face. Since there is no contact with the pn junction,
This will prevent the occurrence of short-circuit defects, and
Even if foreign matter enters from the outside, the area of the resonator end face that is not covered by the undercoat resin is extremely small, so the probability of foreign matter adhering is extremely low, resulting in poor shielding and short circuits where foreign matter blocks the laser beam. Defects are less likely to occur, and the reliability of the semiconductor laser device can be improved.

〔実施例1] 第2図は本発明の一実施例による可視光半導体レーザ装
置の要部を示す斜視図、第3図は同じくレーザチップの
固定状態を示す斜視図である。
[Embodiment 1] FIG. 2 is a perspective view showing the main parts of a visible light semiconductor laser device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a perspective view similarly showing a fixed state of a laser chip.

この実施例における半導体レーザ装置は第2図に示され
るように、それぞれアセンブリの主体部品となる板状の
支持板(ステム)9およびこのステム9の主面側に気密
固定されたキャップ】Oとからなっている。
As shown in FIG. 2, the semiconductor laser device in this embodiment includes a plate-shaped support plate (stem) 9, which is the main component of the assembly, and a cap 9 that is airtightly fixed to the main surface of the stem 9. It consists of

前記ステム9は数Iの厚さからなるFe−Ni系等の矩
形の金属板となっていて、その主面(上面)の中央部圧
は銅製のヒートシンク11が鑞材等で固定されている。
The stem 9 is a rectangular metal plate made of Fe--Ni or the like having a thickness of several I, and a heat sink 11 made of copper is fixed to the central part of the main surface (upper surface) with a solder material or the like. .

ヒートシンク11の内側面にはサブマウント2を介して
レーザチップ1が固定されている。レーザチップ1は、
たとえば、幅が400km、長さが300μm、高さが
100μmとなっていて、レーザ光を発光する共振器は
レーザチップ1の表面から3〜5μm程度の深さに位置
している。また、共振器端面の大きさは、たとえば、幅
2μm、厚さ0.7μmとなっている。
A laser chip 1 is fixed to the inner surface of the heat sink 11 via a submount 2. Laser chip 1 is
For example, the width is 400 km, the length is 300 μm, and the height is 100 μm, and the resonator that emits laser light is located at a depth of about 3 to 5 μm from the surface of the laser chip 1. Further, the dimensions of the resonator end face are, for example, 2 μm in width and 0.7 μm in thickness.

このようなレーザチップ1は、第3図に示されるように
、共振器端面がサブマウント2側(いわゆるP−dow
n)に近い状態でソルダー3によってサプマウト2に固
定されている。また、サブマウント2は鑞材によってヒ
ートシンク11に固定されている。なお、レーザチップ
1はレーザ光8をステム9側およびステム9から遠ざか
る方向に発光するように固定されている。また、前記ス
テム9の主面にはレーザチップ1の下端から発光される
レーザ光8を受光し、レーザ光8の光出力をモニターす
る受光素子12が固定されている。
In such a laser chip 1, as shown in FIG.
It is fixed to the supmount 2 by the solder 3 in a state similar to n). Furthermore, the submount 2 is fixed to the heat sink 11 with a solder material. Note that the laser chip 1 is fixed so as to emit laser light 8 toward the stem 9 and in a direction away from the stem 9. Furthermore, a light receiving element 12 is fixed to the main surface of the stem 9 for receiving the laser beam 8 emitted from the lower end of the laser chip 1 and monitoring the optical output of the laser beam 8.

一方、前記ステム9には3本のリード13が固定されて
いる。1本のリード13はステム9の裏面に電気的およ
び根株的に固定され、他の2本のリード13はステム9
を貝通し1、かつカラスのような絶縁体14を介してス
テム9に対し゛電気的に絶縁されて、固定されている。
On the other hand, three leads 13 are fixed to the stem 9. One lead 13 is electrically and fundamentally fixed to the back surface of the stem 9, and the other two leads 13 are fixed to the back surface of the stem 9.
It is electrically insulated and fixed to the stem 9 through the shell 1 and an insulator 14 like a crow.

前記ステム9上に突出−イーるリード13の上端はそれ
ぞれワイヤ7を介してレーザチップ1および受光素子1
2の各電極に接続されている。
The upper ends of the leads 13 protruding above the stem 9 are connected to the laser chip 1 and the light receiving element 1 via wires 7, respectively.
2 electrodes.

また、前記レーザチップ1は絶縁性のコーティング層(
アンダーコートレジン)15によって被われている。ず
なわち、レーザチップ1は第3図に示されるように、レ
ーザ光8を発光する共振器端面5を除く表面部分かアン
ダーコ−トレジン15で被われている。アンダ二コート
レジン15は共振器端面5の周縁にできるだけ近接して
設けられ、できるだけレーザチップ10周面に露出する
pn接合部分を被うように配慮されている。前記アンダ
ーコートレジン15によるコーティングは、たとえば、
最初にレーザチップ1の共振器端面5部分にホトレジス
トを塗布し、かつ乾燥(ベーキングはしない、)させた
後、ディスペンサー等によって自動的にアンダーコート
レジン15の塗布を行い、さらに、有機溶剤(たとえば
、アセトン)でホトレジストを洗浄除去することによっ
て行われる。また、前記アンダーコートレジン15は一
般的に用いられているアンダーコートレジンであれば良
いが、絶縁性であることが要求される他、その彼の製造
における加熱処理における熱および半導体レーザ装置の
使用時の熱に充分耐える耐熱性のレジンである必要があ
る。
The laser chip 1 also has an insulating coating layer (
It is covered with an undercoat resin (15). That is, as shown in FIG. 3, the surface of the laser chip 1 except for the resonator end face 5 that emits the laser beam 8 is covered with an undercoat resin 15. The undercoat resin 15 is provided as close as possible to the periphery of the resonator end face 5, and is designed to cover as much of the pn junction portion exposed on the peripheral surface of the laser chip 10 as possible. For example, the coating with the undercoat resin 15 may include:
First, a photoresist is applied to the cavity end face 5 of the laser chip 1, and after drying (do not bake), an undercoat resin 15 is automatically applied using a dispenser or the like, and then an organic solvent (e.g. , acetone). Further, the undercoat resin 15 may be any commonly used undercoat resin, but it is required to be insulating, and in addition, the undercoat resin 15 is required to be insulating, and the undercoat resin 15 is required to be insulating, and also to use heat and semiconductor laser equipment in the heat treatment in the manufacturing process. The resin needs to be heat resistant enough to withstand the heat of time.

他方、前記ステム9の主面には透明窓16を有する金属
製のキャップ10が気密的に固定され、レーザチップ1
およびヒートシンク11等を封止している。前記透明窓
16はキャップ10の天井部に設けた円形孔を透明ガラ
ス板17で塞ぐことによって形成されている。したがっ
て、レーザチップ1の上端から出射したレーザ光8は、
この透明ガラス板17を透過してステム9とキャップ1
0とによって形成されたパッケージ18外に放射される
。なお、ステム9にはこの半導体レーザ装置を各種機器
に取付ける際使用する取付孔19が設けられている。
On the other hand, a metal cap 10 having a transparent window 16 is hermetically fixed to the main surface of the stem 9, and the laser chip 1
and the heat sink 11 etc. are sealed. The transparent window 16 is formed by closing a circular hole provided in the ceiling of the cap 10 with a transparent glass plate 17. Therefore, the laser beam 8 emitted from the upper end of the laser chip 1 is
The stem 9 and the cap 1 are seen through this transparent glass plate 17.
It is radiated out of the package 18 formed by 0 and 0. Incidentally, the stem 9 is provided with a mounting hole 19 that is used when mounting this semiconductor laser device on various types of equipment.

〔効果〕 1、本発明の半導体レーザ装置では、レーザ光8を発光
する共振器端面5部分を除くレーザチップ1およびワイ
ヤ7の一部ならびにサブマウント2部分は絶縁性のアン
ダーコートレジン15で被われていることから、アンダ
ーコートレジン15で被われた後のレーザチップ1に外
部から導電性の異物6が飛来して付着しても、pn接合
の殆どの部分には異物6は接触しない。すなわち、レー
ザチップ1は幅が400μm、長さが300μm。
[Effects] 1. In the semiconductor laser device of the present invention, the laser chip 1 and part of the wire 7 and the submount 2 part, excluding the cavity end face 5 part that emits the laser beam 8, are covered with an insulating undercoat resin 15. Therefore, even if conductive foreign matter 6 flies from the outside and attaches to the laser chip 1 after being covered with the undercoat resin 15, the foreign matter 6 will not come into contact with most parts of the p-n junction. That is, the laser chip 1 has a width of 400 μm and a length of 300 μm.

高さが100μmとなっているの忙対して、pn接合を
構成する共振器端面5部分は、幅が2μm。
Although the height is 100 μm, the width of the resonator end face 5 portion forming the pn junction is 2 μm.

厚さが0.7μmと極めて小さく、かつアンダーコート
レジン15はこの共振器端面5を被わない程度罠共振器
端面5に近接して塗布されていることから、この露出し
た両弁振器端面5に異物6が接触する確率は極めて少な
く、ショート不良が発生し難くなるという効果が得られ
る。
Since the thickness is extremely small at 0.7 μm, and the undercoat resin 15 is applied close to the trap resonator end face 5 to the extent that it does not cover the resonator end face 5, the exposed end face of both valve resonators is The probability that foreign matter 6 comes into contact with 5 is extremely low, resulting in the effect that short-circuit defects are less likely to occur.

2、本発明の半導体レーザ装置は、レーザ光8を発光す
る共振器端面5部分を除くレーザチ・ンブ1およびワイ
ヤ7の一部ならびにサブマウント2部分は、絶縁性σ)
アンダーコートレジン】5で被われていることから、こ
れらの各表面部分に異物6が付着していても、これらの
異物6はアンダーコートレジン15によって被われ固定
されている。
2. In the semiconductor laser device of the present invention, the laser chimney 1, a portion of the wire 7, and a portion of the submount 2, excluding the portion of the cavity end face 5 that emits the laser beam 8, have an insulating property σ).
Since the foreign matter 6 is covered with the undercoat resin 5, even if foreign matter 6 is attached to each surface portion, the foreign matter 6 is covered with the undercoat resin 15 and fixed.

したがって、これらの異物6は、半導体レーザ装置の取
扱時の振動等によって移@することはないことから、特
性検査時に良品と判定された後には、異物6の付着によ
るショート不良は発生しなくなり、半導体レーザ装置の
信頼性が高くなるという効果が得られる。
Therefore, since these foreign substances 6 are not transferred due to vibrations etc. during handling of the semiconductor laser device, short-circuit defects due to adhesion of foreign substances 6 will no longer occur after the product is determined to be non-defective at the time of characteristic inspection. The effect is that the reliability of the semiconductor laser device is increased.

3、上記1および2から、あらかじめ付着していた異物
6はアンダーコートレジン15で固定されていて共振器
端面5部分には移動して来て付着することはないこと、
また、パッケージが施されていない状態等であって、外
方から異物6が飛来してきた場合であ−っても、アンダ
ーコートレジン15で被われていない共振器端面5部分
は極めて/hさい面積であることから、ショート不良お
よびレーザ光の遮蔽不良等の発生確率は極めて少なく、
半導体レーザ装置の信頼性の向上が達成できるという効
果が得らオ〔る。
3. From 1 and 2 above, the foreign matter 6 that had adhered in advance is fixed by the undercoat resin 15 and will not move and adhere to the resonator end face 5 portion;
In addition, even if a foreign object 6 flies in from the outside in a state where the package is not applied, etc., the portion of the resonator end face 5 that is not covered with the undercoat resin 15 is extremely small. Because of the small area, the probability of short-circuit defects and laser beam shielding defects is extremely low.
The effect is that the reliability of the semiconductor laser device can be improved.

4、上記1へ3により、本発明の半導体レーザ装置はそ
の製造における歩留りが向上するため、半導体レーザ装
置の製造コストが安くなるという相乗効果が得られる。
4. According to 1 to 3 above, the semiconductor laser device of the present invention has an improved manufacturing yield, so that a synergistic effect of reducing the manufacturing cost of the semiconductor laser device can be obtained.

5、 レーザチップに接続されたワイヤの一部がアンダ
ーコートレジンに包まれているため、ワイヤに多少力が
加っても、ワイヤはあまり久形しないため、信頼性の肯
い半導体レーザ装置が得られる。
5. Part of the wire connected to the laser chip is wrapped in undercoat resin, so even if some force is applied to the wire, the wire will not deform for a long time, making it possible to create a highly reliable semiconductor laser device. can get.

〔実施例2〕 郷4図に示すように、レーザチップ1等を透明レジンか
らなるパッケージ2oで封止した構造でも前記実施例と
同様な効果が得られる3、この実施例の半導体レーザ装
置は、レーザ光8をモニターしない構造の半導体レーザ
装置であって、一対のリード】3を有する構造となって
いる。すなわち、一方のリード13はその先端部分が幅
広くなっていて、この幅広部分にレーザチップ1をソル
ダー3によって固定したサブマウント2がソルダー21
によって固定されている。また、レーザチップ1等を含
む一方のリード13部分はアンダーコートレジン15に
よって被われている、アンダーコートレジン15は前記
実施例と同様にレーザチップ1の一方の共振器端面5部
分を被わないようになっている。さら妊、他方のり−ド
13の内端部分とレーザチップ1の上面電極(図示せず
)とはワイヤ7で接続されている。また、両リード13
の内端部分、レーザチップ1.ワイヤ7等は透明なレジ
ンからなるパッケージ20によって被われている。なお
、前記パッケージ20のレーザ光8が透過する表面部分
は窪み部22となっていて、パッケージ20が他のもの
と接触するようなことがあっても、その窪み故にレーザ
光透過表面23が汚染されないように配慮されている。
[Example 2] As shown in Fig. 4, the same effects as in the previous example can be obtained even with a structure in which the laser chip 1 etc. are sealed with a package 2o made of transparent resin3.The semiconductor laser device of this example has the following characteristics. , is a semiconductor laser device having a structure in which the laser beam 8 is not monitored, and has a structure having a pair of leads ]3. That is, one lead 13 has a wide end portion, and a submount 2 to which the laser chip 1 is fixed to this wide portion with a solder 3 is connected to the solder 21.
Fixed by Further, one lead 13 portion including the laser chip 1 etc. is covered with an undercoat resin 15, but the undercoat resin 15 does not cover one resonator end face 5 portion of the laser chip 1 as in the above embodiment. It looks like this. Furthermore, the inner end portion of the other board 13 and the upper surface electrode (not shown) of the laser chip 1 are connected by a wire 7. Also, both leads 13
The inner end portion of the laser chip 1. The wire 7 and the like are covered with a package 20 made of transparent resin. The surface portion of the package 20 through which the laser beam 8 passes is a recess 22, and even if the package 20 comes into contact with another object, the laser beam transmitting surface 23 will not be contaminated due to the recess. Care has been taken to ensure that this is not the case.

この実施例は前記実施例と同様な効果を得ることができ
るとともに、パッケージ20が材料コストが安いレジン
であること、およびパンケージ20形成は量産性忙富ん
だトランスファ・モールディング技術が採用できること
から、半導体レーザ装置の低コスト化が達成できるとい
う効果が得られる。
This embodiment can obtain the same effects as the previous embodiment, the package 20 is made of resin with low material cost, and the transfer molding technology that is easy to mass-produce can be used to form the pancage 20. The effect is that the cost of the laser device can be reduced.

(1)半導体レーザチップの発光部分を除く部分がアン
ダーコートレジンで被われてるため、チップに多少トラ
ンスファモールドによって外力が加わってもチップは破
壊しないという効果が得られる。
(1) Since the portion of the semiconductor laser chip other than the light emitting portion is covered with an undercoat resin, the chip will not be destroyed even if some external force is applied to the chip due to transfer molding.

+21 (11より、量産性の高いトランスファ0モー
ルデイング技術が適用できるという効果が得られる。
+21 (From 11, it is possible to apply transfer 0 molding technology with high mass productivity.

+31 (2)より半導体レーザ装置の低コスト化がd
loれる。
+31 From (2), the cost reduction of semiconductor laser devices is d
I can fall.

(4)パッケージのレーザ出射面は窪み部となっている
ため、前記出射面は汚染されないという効果が得られる
(4) Since the laser emitting surface of the package is a recessed portion, the effect that the emitting surface is not contaminated can be obtained.

〔効果〕〔effect〕

14 本発明の半導体レーザ装置では、レーザ光8を発
光する共振器端面5部分を除くレーザチップ】およびワ
イヤ7の一部ならびにサブマウント2部分は絶縁性のア
ンダーコートレジン15で被われていることから、アン
ダーコートレジン15で被われた後のレーザチップ1に
外部から導電性の異物6が飛来して付着しても、pn接
合の殆どの部分には異物6は接触しない。すなわち、レ
ーザチップ1は幅が4000μm、長さが300μm。
14 In the semiconductor laser device of the present invention, the laser chip excluding the cavity end face 5 portion that emits the laser beam 8, a portion of the wire 7, and the submount 2 portion are covered with an insulating undercoat resin 15. Therefore, even if conductive foreign matter 6 flies from the outside and adheres to the laser chip 1 after being covered with the undercoat resin 15, the foreign matter 6 will not come into contact with most parts of the pn junction. That is, the laser chip 1 has a width of 4000 μm and a length of 300 μm.

高さが100μmとなっているのに対して、pn接合を
構成する共振器端面5部分は、幅が2μm。
While the height is 100 μm, the width of the resonator end face 5 portion forming the pn junction is 2 μm.

厚さが0.7μmと極めてlトさく−かつアンダーコー
トレジン15はこの共振器端面5を被わない程度に共振
器端面5に近接して塗布されていることから、この露出
した画集振器端面5に異物6が接触する確率は極めて少
なく、ショート不良が発生し難くなるという効果が得ら
れる、 2、本発明の半導体レーザ装置は、レーザ光8を発光す
る共振器端面5部分を除くレーザチップ1およびワイヤ
7の一部ならびにサブマウント2部分は、絶縁性のアン
ダーコートレジン15で被われていることから、これら
の各表面部分に異物6が付着していても、これらの異物
6はアンダーコートレジン15によって被われ固定され
ている。
The thickness is extremely thin at 0.7 μm, and the undercoat resin 15 is applied close to the resonator end face 5 to the extent that it does not cover the resonator end face 5, so that the exposed image collector The probability that a foreign object 6 comes into contact with the end facet 5 is extremely low, resulting in an effect that short-circuit defects are less likely to occur. Since the chip 1, part of the wire 7, and the submount 2 part are covered with an insulating undercoat resin 15, even if foreign matter 6 is attached to each surface part, these foreign matter 6 will be removed. It is covered and fixed with an undercoat resin 15.

したがって、これらの異物6は、半導体レーザ装置の取
扱時の振動等によって移動することはないことから、特
性検査時に良品と利足された後には、異物6の付着によ
るショート不良は発生しなくなり、半導体レーザ装置の
信頼性が高くなるという効果が得られる。
Therefore, since these foreign objects 6 do not move due to vibrations or the like during handling of the semiconductor laser device, short-circuit defects due to adhesion of foreign objects 6 will no longer occur after the product is determined to be non-defective at the time of characteristic inspection. The effect is that the reliability of the semiconductor laser device is increased.

3、上記】および2から、あらかじめ付層していた異物
6はアンダーコートレジン】5で固定すれていて共振器
端面5部分には移動して来て付層することはないこと、
また、パックー−ジが施さirでいない状態等であって
、外方から異物6がIk来1−てきた場合であっても、
アンダーコートレジン15で被われていない共振器端面
5部分は極めて小さい面積であることから、ショート不
良およびレーザ光の遮蔽不良等の発生確率は極めて少な
く、半導体レーザ装置の信頼性の向上が達成できるとい
う効果が得られる。
3. From [2] and [2] above, the foreign matter 6 that had been deposited in advance is fixed by the undercoat resin [5] and will not move and become a layer on the resonator end face 5.
Moreover, even if the foreign object 6 comes from outside, such as when the package is not applied and the IR is not applied,
Since the area of the resonator end face 5 that is not covered with the undercoat resin 15 is extremely small, the probability of occurrence of short circuit defects, laser beam shielding defects, etc. is extremely low, and the reliability of the semiconductor laser device can be improved. This effect can be obtained.

4、上記1〜3により、本発明の半導体レーザ装置はそ
の製造における歩留りが向上するため、半導体レーザ装
置の製造コストが安くなるという相乗効果が得られる。
4. According to 1 to 3 above, since the semiconductor laser device of the present invention has an improved manufacturing yield, a synergistic effect of reducing the manufacturing cost of the semiconductor laser device can be obtained.

5、 レーザチップKJ続されたワイヤの一部がアンダ
ーコートレジンに包まれているため、ワイヤに多少力が
加っても、ワイヤはあまり変形しないため、信頼性の高
い半導体レーザ装置が得られる。
5. A part of the wire connected to the laser chip KJ is wrapped in an undercoat resin, so even if some force is applied to the wire, the wire will not deform much, resulting in a highly reliable semiconductor laser device. .

6、半導体レーザチップの発光部分を除く部分がアンダ
ーコートレジンで被われてるため、チップに多少トラン
スファモールドによって外方が加わってもチップは破壊
しないという効果が得られる。
6. Since the parts of the semiconductor laser chip other than the light emitting part are covered with an undercoat resin, the chip will not be destroyed even if some external force is applied to the chip by transfer molding.

7.6.より、を産性の高いトランスファ・モールディ
ング技術が適用できるという効果が得られる。
7.6. As a result, transfer molding technology with high productivity can be applied.

8゜ 7.より半導体レーザ装量の低コスト化が計れる
3、 9 パッケージのレーザ出射面は窪み部となっているた
め、前記出射面は汚染されないという効果が得られる。
8゜7. 3.9 Since the laser emitting surface of the package is a recessed part, the effect that the emitting surface is not contaminated can be obtained.

以上本発明者によりてなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。たとえば、レーザチップ
は共振器端面がサブマウントから遠い位置になるような
、いわゆるP−u pの数句は構造としても、前記同様
な効果が得られる。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained based on Examples above, the present invention is not limited to the above Examples, and it should be noted that various changes can be made without departing from the gist of the invention. Not even. For example, the same effect as described above can be obtained even if the laser chip has a so-called P-up structure in which the resonator end face is located far from the submount.

〔利用分野〕[Application field]

以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である可視光半導体レーザ
による情報処理用半導体レーザ技術に適用した場合につ
いて説明したが、それ忙限定されるものではなく、たと
えば、光通信用半導体レーザ技術、さらには、半導体レ
ーザ部を有する集積化光デバイス(OEIC)等のテ、
ブを組み込んだ発光電子装置製造技術などに適用できる
The above explanation has mainly been about the application of the invention made by the present inventor to semiconductor laser technology for information processing using visible light semiconductor lasers, which is the field of application that formed the background of the invention, but it is not limited to this application. , for example, semiconductor laser technology for optical communications, and technology such as integrated optical devices (OEICs) having semiconductor laser sections,
This method can be applied to manufacturing technology for light-emitting electronic devices incorporating LED lights.

本発明は少、なくとも半導体レーザ部を有するチップを
組入込んだ発光′電子装MK適用できる。
The present invention can be applied to a light-emitting electronic device MK incorporating at least a chip having a semiconductor laser section.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図に従来のレーザチップの固定状態を示す斜視図、 第2図は本発明の一実施例による半導体レーザ装置の要
部を示す斜視図、 第3図は同じくレーザチップの固定状態を示す斜視図、 第4図は本発明の他の実施例による半導体レーザ装置を
示す断面図である。 ■・・・レーザチップ、2・・・サブマウント、3・・
・ソルダー、4・・・ダブルへテロ接合部(pn接合)
、5・・・共振器端面、6・・・異物、7・・・ワイヤ
、8・・・レ−fL9・・・ステム、10・・・キャッ
プ、1】・・・ヒートシンク、12・・・受光素子、1
3・・・リード、14・・絶縁体、7・・・ワイヤ、1
5・・・コーティング層(アンダーコートレジン)、1
6・・・透明窓、17・・・透明ガラス板、18・・・
パッケージ、19・・・取付孔、2o・・・パッケージ
、21・・・ソルダー、22・・・窪み部、23・・レ
ーザ光透過表面−第1図 第 2 図 第 3 図 第 4 図
Fig. 1 is a perspective view showing a conventional laser chip in a fixed state, Fig. 2 is a perspective view showing main parts of a semiconductor laser device according to an embodiment of the present invention, and Fig. 3 similarly shows a laser chip in a fixed state. FIG. 4 is a sectional view showing a semiconductor laser device according to another embodiment of the present invention. ■... Laser chip, 2... Submount, 3...
・Solder, 4...Double heterojunction (pn junction)
, 5... Resonator end face, 6... Foreign matter, 7... Wire, 8... Le-fL9... Stem, 10... Cap, 1]... Heat sink, 12... Light receiving element, 1
3... Lead, 14... Insulator, 7... Wire, 1
5... Coating layer (undercoat resin), 1
6...Transparent window, 17...Transparent glass plate, 18...
Package, 19...Mounting hole, 2o...Package, 21...Solder, 22...Recess, 23...Laser light transmission surface - Fig. 1 Fig. 2 Fig. 3 Fig. 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、支持体と、前記支持体の主面に固定されかつ端面の
共振器端からレーザ光を発光する半導体レーザ部を有す
るチップと、前記チ佼プの共振器端を除いたチップ表面
を被うコーティング層と、を有することを特徴とする発
光電子装置。 2、支持体と、前記支持体の主面に固定さ第1かつ端面
の共振器端か[)レーザ光を発光する半導体レーザ部を
有するチップと、前記チップの共振器端を除いたチップ
表面を被うコーティング層と、前記チップおよびコーテ
ィング層ならびに支持体を被う透明なレジンからなるパ
ンケージと、を有することを特徴とする発光電子装置に
− 3、前記パッケージのチップ共振器端面に対応する表面
部分は窪んでいることを特徴とする特許請求の範囲第2
項記載の発光電子装置iit、。
[Claims] 1. A support body, a chip having a semiconductor laser portion fixed to the main surface of the support body and emitting laser light from a resonator end of the end face, and a resonator end of the chip. a coating layer covering the removed chip surface. 2. A support, a chip having a semiconductor laser section that emits laser light, and a chip surface other than the resonator end of the first and end face fixed to the main surface of the support. 3. A light emitting electronic device comprising: a coating layer covering the chip; and a pan cage made of transparent resin covering the chip, the coating layer, and the support. Claim 2, characterized in that the surface portion is recessed.
Light-emitting electronic device IIT, as described in Section 1.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62296593A (en) * 1986-06-17 1987-12-23 Nec Corp Semiconductor laser device
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