JPS60206082A - Printed circuit substrate - Google Patents

Printed circuit substrate

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Publication number
JPS60206082A
JPS60206082A JP59060821A JP6082184A JPS60206082A JP S60206082 A JPS60206082 A JP S60206082A JP 59060821 A JP59060821 A JP 59060821A JP 6082184 A JP6082184 A JP 6082184A JP S60206082 A JPS60206082 A JP S60206082A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed circuit
circuit board
circuit section
tester
history
Prior art date
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Pending
Application number
JP59060821A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
川原 正夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP59060821A priority Critical patent/JPS60206082A/en
Publication of JPS60206082A publication Critical patent/JPS60206082A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、プリント回路基板の主回路にかかるテストや
修理済データなどの履歴データを書き込み、必要に応じ
て読み出しできるようにしたものに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a printed circuit board in which historical data such as test and repair data relating to the main circuit can be written and read out as needed.

〔発明の技術的背景とその問題点〕[Technical background of the invention and its problems]

従来のこの神のものとしては、主回路の履歴データをこ
の回路基板とは別個の装置に記録させ、これを必要に応
じて読み出し、故障原因の発見に供していた。
In the past, historical data of the main circuit was recorded in a separate device from the circuit board, and this data was read out as needed to help discover the cause of failure.

すなわち、これを第1図により説明すると、多数のIC
回路(1)・・・を配列して主回路を形成した回路基板
本体(2)上に変更記号記入マーク(3)。
That is, to explain this with reference to FIG.
A change symbol entry mark (3) is placed on the circuit board body (2) on which the main circuit is formed by arranging the circuits (1).

種別番号(4)0種別小変更記号(5)、改良記号(6
)が記入されるようになっている。前記変更記号記入マ
ーク(3)には、外形加工、孔明は加工1部品挿入、フ
ローンルダーなどの製造工程における履歴事項がマーク
付けされる。前記種別番号(4)は、主回路の種別番号
が表示されるものである。
Type number (4) 0 Type minor change symbol (5), improvement symbol (6
) is now entered. In the change symbol entry mark (3), history items in the manufacturing process such as external shape machining, drilling, machining, inserting one part, and flounder are marked. The type number (4) is a type number of the main circuit.

前記種別不変更記号(5)は1機能を追加した場合その
回数に従いアルファベット順に表示される。
The type unchanged symbols (5) are displayed in alphabetical order according to the number of times a function is added.

前記改良記号(6)は、前記回路機能の一部改善変更(
機能追加は含1ず)をその回数に応じて数字で表示され
るよう罠なっている。
The improvement symbol (6) indicates a partial improvement change (
(not including function additions) are displayed in numbers according to the number of times they have been added.

このようにしてプリント回路基板(7)が構成されるか
、その変更記号(3)については製造過程罠督いて、種
別番号(4)0種別小変更記号(5)、改良記号(6)
については設計過程において、上記履歴事項の表示をす
るものである。
In this way, the printed circuit board (7) is constructed, its change symbol (3) is determined by the manufacturing process, type number (4), type minor change symbol (5), improvement symbol (6).
The above-mentioned history items are displayed during the design process.

このように履歴事項の記入されたプリント回路基板(7
)をテストするにあたっては、第2図に示されるように
、インターフェース(8)、試験器19)、記録媒体f
i1をそれぞれ信号系ネットワークとして組んだ試験装
置によりテストされる。すなわち、プリント回路基板(
7)がその前記各種記号化された履歴に応じたテストプ
ログラムを記録媒体(11の表記とプリント回路基板の
種別番号の一致を目視により比較して一致性をめるよう
にしている。しかる後、試験器(9)によシ良品のチェ
ックをしていた。
Printed circuit board (7) with history information written in this way
), as shown in Figure 2, the interface (8), tester 19), recording medium
Tests are performed using a test device in which each i1 is configured as a signal network. i.e. printed circuit board (
7) tests the test program corresponding to the various encoded histories on the recording medium (11) and visually compares the correspondence between the notation of 11 and the type number of the printed circuit board to ensure consistency. The tester (9) was used to check for non-defective products.

ところが、近時このようなプリント回路基板はICの集
積度が向上すると同時機能的にも多様化し、上記の履歴
事項以外に、回路時定数を変えるため部品を変更したり
、特にインサーキットテスタといわれる自動試験器では
加工のための治具式変更やパターン部品の位置変更によ
る試験装置におけるアダプタピンの位置ずれのためプロ
グラムとの一致がとれず、良品でありながら不良の判定
がでる場合がある□また、逆に不良品のプリント回路基
板であるような場合には、客先の部品番号や符号の標準
化でプリント回路基板の部品番号、符号が変わる場合や
、部品調達の都合上、IC型名等の部品表示が変わって
いる場合がある。すなわち、機能上同じであるが型名が
異なるICのような部品の交換があった場合、部品表示
に変更がないものとして扱われる場合があり、このよう
な場合においてもグログラムの一致性がとれず故障の追
及の過程で混乱をきたすという欠点があった。
However, in recent years, as the degree of integration of ICs has improved, printed circuit boards have also become more diverse in terms of functionality. In automatic testers used for processing, the position of the adapter pins in the test equipment may shift due to changes in the jig type for processing or changes in the position of the patterned parts, which may cause the product to not match the program, resulting in a defective product even though it is a good product. □On the other hand, in the case of a defective printed circuit board, the part number or code of the printed circuit board may change due to the customer's standardization of part numbers or codes, or the IC type may change due to parts procurement. The display of parts such as names may have changed. In other words, if there is a replacement of a component such as an IC that is functionally the same but has a different model name, the component display may be treated as unchanged, and even in such cases, the consistency of the gramogram is not guaranteed. This method has the disadvantage of causing confusion in the process of investigating the problem.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は以上の点に鑑みてなされたもので、テストの結
果が影響すると思われる履歴事項を記録すると同時にプ
リント回路基板本体上の表示の読みとシによる誤認がな
いようにしたものである。
The present invention has been made in view of the above points, and it is an object of the present invention to record history items that are considered to have an influence on test results, and at the same time to prevent misinterpretation due to reading and writing of the display on the printed circuit board body.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

すなわち、プリント回路基板とテストプログラムとの一
致性を完全にするため、プリント回路基板KROMなど
の記憶素子を組込み、これにプリント回路基板の履歴情
報を記録するようにしたものである。
That is, in order to ensure complete consistency between the printed circuit board and the test program, a memory element such as a printed circuit board KROM is incorporated, and history information of the printed circuit board is recorded in this.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、第3図〜第4図に示される本発明の一実施例につ
いて説明すると、al)はプリント回路基板(以下基板
という)で、回路基板本体a2上の主要部にプリントし
た回路部(11a)及び端部にコネクタ部fi咎を設け
ているO (14)はすい時にデータを書き込み及び読
み出しできるROM(メモリー回路部)で、前記回路部
(ha)とは独立して設けられ前記回路部(lla)と
同様前記コネクタ部崗を通して外部と接続される0(L
9はプリント回路基板自動試験器(以下試験器という0
)で、比較器(図示せず)を内蔵し、前記回路部(4i
a)に対しテスト信号の授受を行なう0傾はROMIJ
−ダ&ライタで、前記試験器ttSに接続され、前記R
OMリーダ&ライタ(IQを介して。
Hereinafter, one embodiment of the present invention shown in FIGS. 3 and 4 will be described. Reference numeral al) is a printed circuit board (hereinafter referred to as a board), and a circuit portion (11a ) and a connector section at the end (14) is a ROM (memory circuit section) that can write and read data at any time, and is provided independently of the circuit section (ha). Similar to (lla), 0(L) is connected to the outside through the connector section.
9 is a printed circuit board automatic tester (hereinafter referred to as a tester)
) has a built-in comparator (not shown), and the circuit section (4i
The zero slope that sends and receives test signals to a) is ROMIJ.
- a reader & writer connected to the tester ttS, and connected to the R
OM reader & writer (via IQ.

前記ROM(14)に対して記録、情報の追加、訂正。Records, adds and corrects information to the ROM (14).

削除ができるよう罠なっている。住ηは磁器ディスクあ
るいはマグネットテープなどの各種プログラムを記録し
ている記録媒体で、前記ROMa養の記録情報がデータ
信号aまたはa′として入力される試験器α四からのテ
ストプログラム索引情報信号すに基きこれに対応したテ
ストプログラム情報信号Cを前記試験器俣9に出力する
ものである。前記試験器a!19は、前述のテストプロ
グラム索引情報信号すとテストプログラム情報信号Cの
一致性をチェックし、一致している場合には、このテス
トプログラムをこの試験器蝶[有]に一旦呼び出すと同
時に前記回路部(11a)からの回路情報を前記テスト
プログラムにかけて必要なテストができるようになる。
It is a trap so that it can be deleted. The storage medium η is a recording medium such as a magnetic disk or a magnetic tape that records various programs, and the test program index information signal from the tester α4 is inputted as the data signal a or a′ by which the recorded information of the ROMa is input. Based on this, a test program information signal C corresponding to this is output to the tester mata 9. Said tester a! 19 checks the match between the test program index information signal C and the test program information signal C, and if they match, calls this test program to this tester and at the same time calls the test program to the test program information signal C. Necessary tests can be performed by applying the circuit information from the section (11a) to the test program.

aυはタイグライタで試験器Q9.ROMリーグ&ライ
タ(lE9を介した信号系dKよj5ROMQ41の記
録内容を、ずい時書き換えあるいは書き込みができるよ
うになっておシ、試験器u9において不具合が発見され
た場合、この修理内容に対応した履歴記号のへ報を新規
に書き加えることができるようになっている。前記r(
、OM (14)には下記のような情報Cデータが記録
される。
aυ is a tie lighter and a tester Q9. ROM league & writer (signal system dK via lE9) Recorded contents of j5ROMQ41 can be rewritten or written at any time.If a malfunction is found in the tester U9, this repair can be done. It is now possible to add new information to the history symbol.
, OM (14) records the following information C data.

■基板本体の種別を示す形番号と、その小変更や改良記
号、 ■テストプログラムの種別を示すテストプログラム番号
、 ■試験結果のデータ、 ■故障年月日、故障状況、交換部品等の修理経歴、 ■上位ユニット(被組立ユニット)の製造番号や使用環
境等の使用経歴 なお、上記■及び■は基板本体(17Jと、これと対応
するテストグログラムとの一致をとるための情報である
。しかして、ある基板0υをテストするにあたっては、
先ず、この基板aυをコネクタ部(3)を介して試験器
(is及び几OMリーダ&ライタtteに対し接続する
。この接続には図示しないが試験器装置の所定の位置に
前記基板t1υを嵌め込むことKよりセットされるよう
にすればよい。これによりROM114)からの情報信
号aiたはa′及び記録媒体側からのテストプログラム
情報信号Cをこの試験器(1!9の比較器(図示せず)
により一致させ、この一致したテストプログラムに基い
てこの基板(lυをテストする。この際、前記ROM(
141情報の読み出しは、このR,OM(14)から直
接あるいはROMリーダ&ライタ(11を介して行なわ
れる。
■Model number indicating the type of the board body and minor changes and improvement symbols, ■Test program number indicating the type of test program, ■Test result data, ■Repair history including failure date, failure status, replacement parts, etc. , (2) Usage history such as serial number and usage environment of the upper unit (unit to be assembled) The above (2) and (2) are information for matching the board body (17J) and the corresponding test program. However, when testing a certain board 0υ,
First, this board aυ is connected to the tester (is and OM reader & writer tte) via the connector part (3). Although not shown in the drawings, for this connection, the board t1υ is fitted into a predetermined position of the tester device. By doing this, the information signal ai or a' from the ROM 114) and the test program information signal C from the recording medium side can be set by the comparator (1!9) of this tester (1!9). (not shown)
and test this board (lυ) based on this matched test program. At this time, the ROM (
Reading of the 141 information is performed directly from this R, OM (14) or via the ROM reader & writer (11).

これにより、基板aυは履歴情報を加味した適ターン変
更など通常チェック項目にない事項をも履歴情報として
都度把握し、テストを実施するにあたり試験器を予め調
整することかで龜るからである。
This is because the board aυ is required to grasp items that are not included in the normal check items as history information each time, such as appropriate turn changes taking into account history information, and to adjust the test equipment in advance when conducting a test.

このテストの結果、不良品と判定された場合について説
明すると、 ■先ず履歴情報をチェックし、この履歴に基いて第1に
考えられる原因を調量する。(第1の原因が発見されな
いときは第2.第3の考えられる原因についてJ@次調
資する) ■原因に基き修理する。
The case where the product is determined to be defective as a result of this test will be explained: (1) First, history information is checked, and based on this history, the first possible cause is determined. (If the first cause is not found, investigate the second and third possible causes.) ■Repair based on the cause.

■修理内容を履歴事項として、タイグライタα樟を用い
て予め定められた手順により打ち込む。
■Enter the repair details as history items according to a predetermined procedure using Taigurita Alpha.

(これにより、ROM霞に新履歴事項がデータとして記
録される) このような一連の作業を経て、良品となった基板(1υ
は、再度不良品となって試験器aつにかかるときには、
前記の修理内容の履歴が更に加味されるようになり、適
正なテストとその結果、必要により適正な修理を行なう
(As a result, new history items are recorded as data in the ROM haze.) After a series of operations like this, the board (1υ
When the product becomes defective again and is sent to a tester,
The history of the above-mentioned repair details is further taken into account, and appropriate tests and results are used to perform appropriate repairs as necessary.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、以上のように基板本体と、この基板本
体にプリントされた主回路部と、この主回路部とは別個
の独立して設けたROMなどのメモリー回路部を有し、
前記メモリー回路部には前記主回路部における履歴デー
タをずい時書き込み、及び読み出しできるようにしたも
のであるから、テストにあたって、回路部とその履歴が
必ず一致するので従来のように履歴が基板とは別個のフ
ロッピーなどの記録媒体に記録させ、テスト毎に都匿一
致をさせるという人手による手間を省けると同時に基板
本体に対する記号の付記に要する記入の手間をもなくす
ことができ、すなわち、いわゆる履歴事項を直接メモリ
回路部に入力すればよい。
According to the present invention, as described above, there is a main circuit board, a main circuit section printed on the main circuit board, and a memory circuit section such as a ROM provided independently from the main circuit section.
Since the memory circuit section can write and read history data in the main circuit section at any time, the circuit section and its history always match during testing, so the history does not match the board as in the past. can be recorded on a separate recording medium such as a floppy disk, and can save the manual effort of matching data for each test. At the same time, it can also eliminate the trouble of writing symbols on the board itself. In other words, the so-called history It is sufficient to input the information directly into the memory circuit section.

そして、このデータは自動的に読みとる試験器を用いる
ことができるので、その一致が確実で良品であるにもか
かわらず、不一致により生ずる誤った故障の判定や、不
良品である場合において故障原因追求に混乱を招くなど
ということがなく極めて至便である。これにより、プリ
ント回路基板として、修理経歴、使用経歴の把握も容易
に彦り製品の信頼性1品質向上の維持にもつながるもの
である。
Since a tester that automatically reads this data can be used, it is possible to make incorrect judgments about failures caused by mismatches, even if the data match is certain and indicate that the product is good, or to investigate the cause of the failure if the product is defective. It is extremely convenient and does not cause any confusion. This makes it easy to understand the repair history and usage history of the printed circuit board, which also leads to maintaining improved reliability and quality of the product.

更にまた、使用中において故障した場合、これを試験器
にかけることにより、適正なテストの実施に加え履歴を
チェックすることができるので、その故障原因をより速
く正確に発見する本発明は以上の構造に限定されるもの
ではなく、第4図に示されるように、基板本体(2)上
に設けた回路部(至)及びコネクタ部(財)に対して全
く独立したROMなどのメモリー回路部(ハ)を設け、
このメモリー回路部(ハ)の情報を別個(図示せず)の
信号系により試験器に入力できるようにしてもよい。す
なわち、メモリー回路部(ハ)を基板本体(社)に物理
的に固定し、IC、クリップ類の治具でデータ信号を読
みとるようにすることができる。
Furthermore, in the event that a failure occurs during use, by applying it to a tester, it is possible to conduct a proper test and check the history, so the cause of the failure can be discovered more quickly and accurately. It is not limited to the structure, but as shown in Figure 4, a memory circuit section such as a ROM that is completely independent of the circuit section and connector section provided on the board body (2). (c) is established,
The information of this memory circuit section (c) may be input to the tester through a separate signal system (not shown). That is, it is possible to physically fix the memory circuit section (c) to the board main body (c) and read the data signal using a jig such as an IC or a clip.

特にこの場合には、上述実施例の場合に比べて、コネク
タ部のビン数が信号線の数だけ少なくすることができ1
回路設計延いては更に試験器の回路設計が容易となる。
Particularly in this case, the number of bins in the connector section can be reduced by the number of signal lines compared to the case of the above-mentioned embodiment.
The circuit design and furthermore the circuit design of the tester becomes easier.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、従来のプリント回路基板の平面図、第2図は
本発明のプリント基板の試験装置を示す図で、第3図は
本発明の他の実施例を示す図である。 住υ プリント回路基板、(11a)(2)・・・・回
路部、aり@・・・プリント回路基板本体、 Q3(至
)・・・コネクタ部、<141・・・FLOM (メモ
リー回路部)、Q!19・・・プリント回路基板自動試
験器、住e・・・ROMリーダ&ライタ、αη・・・記
録媒体、a樽・・・タイグライタ、(至)・・・メモリ
ー回路部。 佑3面
FIG. 1 is a plan view of a conventional printed circuit board, FIG. 2 is a diagram showing a printed circuit board testing apparatus of the present invention, and FIG. 3 is a diagram showing another embodiment of the present invention. Printed circuit board, (11a) (2)...Circuit section, a @...Printed circuit board body, Q3 (to)...Connector section, <141...FLOM (memory circuit section ), Q! 19...Printed circuit board automatic tester, e...ROM reader and writer, αη...recording medium, a barrel...tiger writer, (to)...memory circuit section. Yu 3

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)プリント回路基板本体と、このプリント回路基板
本体にプリントされた主回路部と、この主回路部とは別
個の独立して設けたメモリー回路部を具備し、前記メモ
リー回路部には、前記主回路部の履歴データがすい時書
き込み及び読み出しできるようにしたことを特徴とする
プリント回路基板。
(1) A printed circuit board body, a main circuit section printed on the printed circuit board body, and a memory circuit section provided independently from the main circuit section, and the memory circuit section includes: A printed circuit board characterized in that history data of the main circuit section can be written and read at any time.
(2)前記メモリー回路部は、前記主回路部とは独立し
て設けられ、これのデータ信号が前記主回路部とは別個
に取出すことができるようにしたことを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載のプリント回路基板。
(2) Claims characterized in that the memory circuit section is provided independently of the main circuit section, and data signals thereof can be taken out separately from the main circuit section. The printed circuit board according to item 1.
JP59060821A 1984-03-30 1984-03-30 Printed circuit substrate Pending JPS60206082A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59060821A JPS60206082A (en) 1984-03-30 1984-03-30 Printed circuit substrate

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JP59060821A JPS60206082A (en) 1984-03-30 1984-03-30 Printed circuit substrate

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JP59060821A Pending JPS60206082A (en) 1984-03-30 1984-03-30 Printed circuit substrate

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JP (1) JPS60206082A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02118812A (en) * 1988-10-28 1990-05-07 Nec Corp Information processor
US5867809A (en) * 1994-05-16 1999-02-02 Hitachi, Ltd. Electric appliance, printed circuit board, remained life estimation method, and system thereof

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